CN114441811A - 一种应用于滤波器的综合测试机及测试方法 - Google Patents

一种应用于滤波器的综合测试机及测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种应用于滤波器的综合测试机，包括计算机、欧姆计、信号转换器、数字阻抗电桥和用于放置待测试滤波器的治具，所述的欧姆计、数字阻抗电桥均与信号转换器电性连接，所述的欧姆计、信号转换器、数字阻抗电桥均与计算机电性连接；所述的治具包括测试针，所述的测试针与信号转换器电性连接。本发明的测试机，大大地减少了连接测试夹的动作，减少了多台数字阻抗电桥测试机，避免了因人工测试时产生漏测试、误动作、低效率、高浪费。本发明还公开了一种应用于滤波器的综合测试方法。本发明的测试方法，可实现在一台机器上完成滤波器的成品测试，有效降低设备成本，并提高生产效率。

Description

一种应用于滤波器的综合测试机及测试方法
技术领域
本发明涉及滤波器测试技术领域，更具体地说，它涉及一种应用于滤波器的综合测试机及测试方法。
背景技术
成品测试是滤波器生产过程中最后把关的重要工序，各部件组装完成后要对电容值、电感值、电阻值进行测试。
目前，成品测试很多还是采用人工作业，多个项目值需要多台仪器进行分开测试，先使用多台数字阻抗电桥仪器分别测试多个电感值和多个电容值，再使用若干台欧姆计(电阻计)测试多个电阻值，导致仪器的使用没有发辉价值最大化，存在过多的浪费，不符合新时代下的企业追求的价值最大化。并且，人工用测试夹对产品进行测试，测试完成一个项目时再循环测试另外一个项目，如此循环测试在生产过程中存在漏测的风险。同时，使用人工测试的结果数据没有上传保存功能，不能在后台分析产品测试值数据。
发明内容
本发明要解决的技术问题是针对现有技术的上述不足，本发明的目的一是提供一种应用于滤波器的综合测试机，大大地减少了连接测试夹的动作，减少了多台数字阻抗电桥测试机，避免了因人工测试时产生漏测试、误动作、低效率、高浪费。
本发明的目的二是提供一种应用于滤波器的综合测试方法，实现在一台机器上完成滤波器的成品测试，有效降低设备成本，并提高生产效率。
为了实现上述目的一，本发明提供一种应用于滤波器的综合测试机，包括计算机、欧姆计、信号转换器、数字阻抗电桥和用于放置待测试滤波器的治具，所述的欧姆计、数字阻抗电桥均与信号转换器电性连接，所述的欧姆计、信号转换器、数字阻抗电桥均与计算机电性连接；所述的治具包括测试针，所述的测试针与信号转换器电性连接。
进一步地，所述欧姆计前方的NIPUT A端子与信号转换器前上方的输入端子通过数据线连接；所述数字阻抗电桥前方的测量端子与信号转换器前下方的输入端子通过数据线连接。
进一步地，所述计算机后方的测试仪器输入口通过数据线分别与数字阻抗电桥后方的第一GPIB数据口、欧姆计后方的第二GPIB数据口连接；所述计算机后方的PCI 7230数字信号卡与信号转换器后方的IO数据口连接。
进一步地，所述的治具还包括底板、固定座和活动座，所述的固定座和活动座分别安装在底板的两端，所述的测试针分别安装在活动座和固定座上。
进一步地，所述的固定座固定在底板的一端，所述的活动座滑动安装在底板的另一端，且所述底板上设有带动活动座靠近待测试滤波器的直线导轨，所述的活动座一端与直线导轨的滑块连接。
进一步地，所述活动座底部远离移动组件的一端还设有滑轮。
进一步地，所述的底板一侧还设有用于定位待测试滤波器的定位板。
进一步地，所述的测试针包括第一活动测试针、第二活动测试针、第三活动测试针和第一固定测试针、第二固定测试针、第三固定测试针，所述的第一活动测试针、第二活动测试针、第三活动测试针并列安装在活动座上，所述的第一固定测试针、第二固定测试针、第三固定测试针并列安装在固定座上，且所述的第一活动测试针、第二活动测试针、第三活动测试针和第一固定测试针、第二固定测试针、第三固定测试针均通过数据线与信号转换器前方的输出测量IO口连接。
为了实现上述目的二，本发明提供一种应用于滤波器的综合测试方法，包括下述步骤：
步骤1：将待测试滤波器放置在治具上，使治具的各个测试针与待测试滤波器的金属端子一一对应连接；
步骤2：分别测试得到待测试滤波器的电感值L1和电感值L2，电容值CX、电容值CY1和电容值CY2，以及电阻值RDC1和电阻值RDC2；
步骤3：将步骤2测试得到的电感值L1、电感值L2、电容值CX、电容值CY1、电容值CY2、电阻值RDC1和电阻值RDC2分别与预设的范围值一一比对，且将电感值L1与电感值L2之间的差值与预设的范围值比对，若电感值L1、电感值L2、电容值CX、电容值CY1、电容值CY2、电阻值RDC1和电阻值RDC2、以及电感值L1与电感值L2之间的差值全部在对应的预设范围值内，则判断待测试滤波器为合格品，若电感值L1、电感值L2、电容值CX、电容值CY1、电容值CY2、电阻值RDC1和电阻值RDC2、以及电感值L1与电感值L2之间的差值中任意一项不在对应的预设范围值内，则判断待测试滤波器为不合格品。
进一步地，所述的步骤2还包括以下步骤：
步骤2.1：计算机控制第一活动测试针与第一固定测试针导通，测试得到待测试滤波器线圈的第一组电感值L1；
步骤2.2：计算机控制第三活动测试针与第三固定测试针导通，测试得到待测试滤波器线圈的第二组电感值L2；
步骤2.3：计算机控制第一活动测试针与第三活动测试针导通，测试得到待测试滤波器的电容值CX；
步骤2.4：计算机控制第一活动测试针与第二活动测试针导通，测试得到待测试滤波器的电容值CY1；
步骤2.5：计算机控制第二活动测试针与第三活动测试针导通，测试得到待测试滤波器的电容值CY2；
步骤2.6：计算机控制第一活动测试针与第一固定测试针导通，测试得到待测试滤波器的电阻值RDC1；
步骤2.7：计算机控制第三活动测试针与第一固定测试针导通，测试得到待测试滤波器的电阻值RDC2。
有益效果
本发明与现有技术相比，具有的优点为：
本发明的测试机及测试方法，大大地减少了连接测试夹的动作，减少了多台数字阻抗电桥测试机，避免了因人工测试时产生漏测试、误动作、低效率、高浪费，实现在一台机器上完成滤波器的成品测试，有效降低设备成本，并提高生产效率。
附图说明
图1为本发明的结构示意图；
图2为本发明中治具的结构放大示意图；
图3为本发明中欧姆计、信号转换器和数字阻抗电桥的结构放大示意图；
图4为本发明中计算机的结构放大示意图。
其中：1-定位板、2-活动座、3-直线导轨、4-第一活动测试针、5-第二活动测试针、6-第三活动测试针、7-滑轮、8-待测试滤波器、9-固定座、10-第三固定测试针、11-第二固定测试针、12-第一固定测试针、13-金属端子、14-第二GPIB数据口、15-IO数据口、16-第一GPIB数据口、17-欧姆计、18-信号转换器、19-数字阻抗电桥、20-显示器、21-测试仪器输入口、22-PCI7230数字信号卡、23-计算机、24-NIPUT A端子、25-输入端子、26-测量端子、27-输出测量IO口、28-治具、29-底板。
具体实施方式
下面结合附图中的具体实施例对本发明做进一步的说明。
参阅图1-4，一种应用于滤波器的综合测试机，包括计算机23、欧姆计17、信号转换器18、数字阻抗电桥19和用于放置待测试滤波器8的治具28，其中，欧姆计17、数字阻抗电桥19均与信号转换器18电性连接，欧姆计17、信号转换器18、数字阻抗电桥19均与计算机23电性连接；治具28包括测试针，测试针与信号转换器18电性连接，测试机还包括显示器20，该显示器20通过数据线与计算机23电性连接。具体的，欧姆计17前方的NIPUT A端子24与信号转换器18前上方的输入端子25通过数据线连接；数字阻抗电桥19前方的测量端子26与信号转换器18前下方的输入端子25通过数据线连接。计算机23后方的测试仪器输入口21通过数据线分别与数字阻抗电桥19后方的第一GPIB数据口16、欧姆计17后方的第二GPIB数据口14连接；计算机23后方的PCI7230数字信号卡22与信号转换器18后方的IO数据口15连接，实现信号的连通。
优选的，治具28还包括底板29、固定座9和活动座2，其中，固定座9和活动座2分别安装在底板29的两端，测试针分别安装在活动座2和固定座9上。进一步地，固定座9固定在底板29的一端，活动座2滑动安装在底板29的另一端，且底板29上设有带动活动座2靠近待测试滤波器8的直线导轨3，活动座2一端与直线导轨3的滑块连接，可以调节活动座2与固定座9之间的距离，方便取放待测试滤波器8。更进一步的，在活动座2底部远离移动组件的一端还设有滑轮7，滑轮7与底板29相接触，起到支撑活动座2的作用，使得活动座2滑动更加平稳。更进一步的，底板29一侧还设有用于定位待测试滤波器8的定位板1，在使用的过程中，待测试滤波器8的侧面与定位板1的侧面相贴合，防止测试针与待测试滤波器8的金属端子13接触不良。
优选的，测试针包括第一活动测试针4、第二活动测试针5、第三活动测试针6和第一固定测试针12、第二固定测试针11、第三固定测试针10，所述的第一活动测试针4、第二活动测试针5、第三活动测试针6并列安装在活动座2上，所述的第一固定测试针12、第二固定测试针11、第三固定测试针10并列安装在固定座9上，第一活动测试针4、第二活动测试针5、第三活动测试针6和第一固定测试针12、第二固定测试针11、第三固定测试针10的位置与待测试滤波器8两端的金属端子13的位置相对应，且第一活动测试针4、第二活动测试针5、第三活动测试针6和第一固定测试针12、第二固定测试针11、第三固定测试针10均通过数据线与信号转换器18前方的输出测量IO口27连接，实现信号的连通。
本发明的测试机及测试方法，大大地减少了连接测试夹的动作，减少了多台数字阻抗电桥测试机，避免了因人工测试时产生漏测试、误动作、低效率、高浪费，实现在一台机器上完成滤波器的成品测试，有效降低设备成本，并提高生产效率。
一种应用于滤波器的综合测试方法，包括下述步骤：
步骤1：将待测试滤波器8放置在治具28上，使治具28的各个测试针与待测试滤波器8的金属端子13一一对应连接；
步骤2：分别测试得到待测试滤波器8的电感值L1和电感值L2，电容值CX、电容值CY1和电容值CY2，以及电阻值RDC1和电阻值RDC2；
步骤3：将步骤2测试得到的电感值L1、电感值L2、电容值CX、电容值CY1、电容值CY2、电阻值RDC1和电阻值RDC2分别与预设的范围值一一比对，且将电感值L1与电感值L2之间的差值与预设的范围值比对，若电感值L1、电感值L2、电容值CX、电容值CY1、电容值CY2、电阻值RDC1和电阻值RDC2、以及电感值L1与电感值L2之间的差值全部在对应的预设范围值内，则判断待测试滤波器8为合格品，若电感值L1、电感值L2、电容值CX、电容值CY1、电容值CY2、电阻值RDC1和电阻值RDC2、以及电感值L1与电感值L2之间的差值中任意一项不在对应的预设范围值内，则判断待测试滤波器8为不合格品。
步骤1包括以下具体步骤：
步骤1.1：待测试滤波器8放在底板29上，使待测试滤波器8的侧面与定位板1的侧面贴合，实现对待测试滤波器8的定位；
步骤1.2：:直线导轨3工作带动活动座2向待测试滤波器8移动，使得活动座2上的第一活动测试针4、第二活动测试针5、第三活动测试针6接触到待测试滤波器8一端的金属端子13，并推动待测试滤波器8直线移动，直至待测试滤波器8另一端的金属端子13与第一固定测试针12、第二固定测试针11、第三固定测试针10接触，即可实现治具28的各个测试针与待测试滤波器8的金属端子13一一对应连接。
步骤2还包括以下步骤：
步骤2.1：计算机23控制第一活动测试针4与第一固定测试针12导通，测试得到待测试滤波器8线圈的第一组电感值L1；
步骤2.2：计算机23控制第三活动测试针6与第三固定测试针10导通，测试得到待测试滤波器8线圈的第二组电感值L2；
步骤2.3：计算机23控制第一活动测试针4与第三活动测试针6导通，测试得到待测试滤波器8的电容值CX；
步骤2.4：计算机23控制第一活动测试针4与第二活动测试针5导通，测试得到待测试滤波器8的电容值CY1；
步骤2.5：计算机23控制第二活动测试针5与第三活动测试针6导通，测试得到待测试滤波器8的电容值CY2；
步骤2.6：计算机23控制第一活动测试针4与第一固定测试针12导通，测试得到待测试滤波器8的电阻值RDC1；
步骤2.7：计算机23控制第三活动测试针6与第一固定测试针10导通，测试得到待测试滤波器8的电阻值RDC2。
以上仅是本发明的优选实施方式，应当指出对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。

Claims (10)

1.一种应用于滤波器的综合测试机，其特征在于，包括计算机(23)、欧姆计(17)、信号转换器(18)、数字阻抗电桥(19)和用于放置待测试滤波器(8)的治具(28)，所述的欧姆计(17)、数字阻抗电桥(19)均与信号转换器(18)电性连接，所述的欧姆计(17)、信号转换器(18)、数字阻抗电桥(19)均与计算机(23)电性连接；所述的治具(28)包括测试针，所述的测试针与信号转换器(18)电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种应用于滤波器的综合测试机，其特征在于，所述欧姆计(17)前方的NIPUT A端子(24)与信号转换器(18)前上方的输入端子(25)通过数据线连接；所述数字阻抗电桥(19)前方的测量端子(26)与信号转换器(18)前下方的输入端子(25)通过数据线连接。
3.根据权利要求1所述的一种应用于滤波器的综合测试机，其特征在于，所述计算机(23)后方的测试仪器输入口(21)通过数据线分别与数字阻抗电桥(19)后方的第一GPIB数据口(16)、欧姆计(17)后方的第二GPIB数据口(14)连接；所述计算机(23)后方的PCI7230数字信号卡(22)与信号转换器(18)后方的IO数据口(15)连接。
4.根据权利要求1或2或3所述的一种应用于滤波器的综合测试机，其特征在于，所述的治具(28)还包括底板(29)、固定座(9)和活动座(2)，所述的固定座(9)和活动座(2)分别安装在底板(29)的两端，所述的测试针分别安装在活动座(2)和固定座(9)上。
5.根据权利要求4所述的一种应用于滤波器的综合测试机，其特征在于，所述的固定座(9)固定在底板(29)的一端，所述的活动座(2)滑动安装在底板(29)的另一端，且所述底板(29)上设有带动活动座(2)靠近待测试滤波器(8)的直线导轨(3)，所述的活动座(2)一端与直线导轨(3)的滑块连接。
6.根据权利要求5所述的一种应用于滤波器的综合测试机，其特征在于，所述活动座(2)底部远离移动组件的一端还设有滑轮(7)。
7.根据权利要求4所述的一种应用于滤波器的综合测试机，其特征在于，所述的底板(29)一侧还设有用于定位待测试滤波器(8)的定位板(1)。
8.根据权利要求4所述的一种应用于滤波器的综合测试机，其特征在于，所述的测试针包括第一活动测试针(4)、第二活动测试针(5)、第三活动测试针(6)和第一固定测试针(12)、第二固定测试针(11)、第三固定测试针(10)，所述的第一活动测试针(4)、第二活动测试针(5)、第三活动测试针(6)并列安装在活动座(2)上，所述的第一固定测试针(12)、第二固定测试针(11)、第三固定测试针(10)并列安装在固定座(9)上，且所述的第一活动测试针(4)、第二活动测试针(5)、第三活动测试针(6)和第一固定测试针(12)、第二固定测试针(11)、第三固定测试针(10)均通过数据线与信号转换器(18)前方的输出测量IO口(27)连接。
9.一种应用于滤波器的综合测试方法，其特征在于，包括下述步骤：
步骤1：将待测试滤波器(8)放置在治具(28)上，使治具(28)的各个测试针与待测试滤波器(8)的金属端子(13)一一对应连接；
步骤2：分别测试得到待测试滤波器(8)的电感值L1和电感值L2，电容值CX、电容值CY1和电容值CY2，以及电阻值RDC1和电阻值RDC2；
步骤3：将步骤2测试得到的电感值L1、电感值L2、电容值CX、电容值CY1、电容值CY2、电阻值RDC1和电阻值RDC2分别与预设的范围值一一比对，且将电感值L1与电感值L2之间的差值与预设的范围值比对，若电感值L1、电感值L2、电容值CX、电容值CY1、电容值CY2、电阻值RDC1和电阻值RDC2、以及电感值L1与电感值L2之间的差值全部在对应的预设范围值内，则判断待测试滤波器(8)为合格品，若电感值L1、电感值L2、电容值CX、电容值CY1、电容值CY2、电阻值RDC1和电阻值RDC2、以及电感值L1与电感值L2之间的差值中任意一项不在对应的预设范围值内，则判断待测试滤波器(8)为不合格品。
10.根据权利要求9所述的一种应用于滤波器的综合测试方法，其特征在于，所述的步骤2还包括以下步骤：
步骤2.1：计算机(23)控制第一活动测试针(4)与第一固定测试针(12)导通，测试得到待测试滤波器(8)线圈的第一组电感值L1；
步骤2.2：计算机(23)控制第三活动测试针(6)与第三固定测试针(10)导通，测试得到待测试滤波器(8)线圈的第二组电感值L2；
步骤2.3：计算机(23)控制第一活动测试针(4)与第三活动测试针(6)导通，测试得到待测试滤波器(8)的电容值CX；
步骤2.4：计算机(23)控制第一活动测试针(4)与第二活动测试针(5)导通，测试得到待测试滤波器(8)的电容值CY1；
步骤2.5：计算机(23)控制第二活动测试针(5)与第三活动测试针(6)导通，测试得到待测试滤波器(8)的电容值CY2；
步骤2.6：计算机(23)控制第一活动测试针(4)与第一固定测试针(12)导通，测试得到待测试滤波器(8)的电阻值RDC1；
步骤2.7：计算机(23)控制第三活动测试针(6)与第一固定测试针(10)导通，测试得到待测试滤波器(8)的电阻值RDC2。
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