TWI403892B - 電子元件、主機裝置、通信系統以及程式 - Google Patents

電子元件、主機裝置、通信系統以及程式 Download PDF

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Description

電子元件、主機裝置、通信系統以及程式
本發明是關於一種電子元件、主機裝置、通信系統以及程式。本發明特別是關於一種在通過主機裝置和網路而進行通信的機器中所安裝的電子元件，通過該機器和網路而進行通信的主機裝置，包括該機器及該主機裝置在內的通信系統，以及使計算機作為該主機裝置而發揮機能的程式。
近年來，半導體晶片等電子元件迅速普及。例如，計算機、可携式電話等的運算裝置、記憶裝置等都使用電子元件。因此，電子元件要在多種多樣的環境下使用。
半導體晶片的特性依據使用情况會產生劣化。而且，半導體晶片每個個體的特性參差不齊。因此，在半導體晶片等的設計中，有時為了能够吸收該特性的劣化、特性的參差不齊，須使特性具有規定的容限(margin)。而且，在半導體晶片的出貨測試等中，有時要對各個半導體晶片的特性是否具有規定的容限進行測試(例如參照專利文獻1)。而且，有時還要對半導體晶片的劣化速度進行測試。
專利文獻1：日本專利早期公開之特開2006－3216號公報
但是，上述的測試只是在一定的測試條件下，對半導體晶片發生了何種程度的劣化，或者產生了何種程度的特性的參差不齊等進行測定。因此，難以精度良好地知道在 多種多樣的實際使用環境下，所使用的半導體晶片的特性發生了何種程度的劣化或者劣化程度的分布。而且，對今後設計的半導體晶片，難以精度良好地决定應具有何種程度的容限。
因此，本發明的目的是提供一種能够解决上述課題的電子元件、主機裝置、通信系統以及程式。該目的是藉由申請專利範圍中的獨立項中所記述之特徵的組合而達成。而且，從屬項規定本發明的更加有利的具體例子。
為了解决上述課題，本發明的第1形態提供一種電子元件，為一種在通過主機裝置和網路而進行通信的機器中所安裝的電子元件，包括：動作電路，其在電子元件的安裝時動作；診斷電路，其對動作電路進行測試；結果發送部，其將診斷電路的測試結果，通過網路而發送到主機裝置。
本發明的第2形態提供一種主機裝置，為一種通過安裝有電子元件的機器和網路而進行通信的主機裝置，且該電子元件內置著診斷電路；該主機裝置包括：測試資訊存儲部，其預先存儲用於表示該診斷電路應執行的測試內容之測試資訊；以及測試資訊發送部，其在電子元件要求測試資訊的情况下，對電子元件發送該測試資訊。
本發明的第3形態提供一種通信系統，為一種包括主機裝置和電子元件的通信系統，該電子元件是安裝在通過主機裝置和網路而進行通信的機器中；其中，電子元件包 括：動作電路，其在電子元件的安裝時進行動作；診斷電路，其對動作電路進行測試；結果發送部，其將診斷電路的測試結果通過網路而發送到主機裝置；而且，主機裝置包括：測試資訊存儲部，其預先存儲用於表示診斷電路應執行的測試內容之測試資訊；以及測試資訊發送部，其在電子元件要求測試資訊的情况下，將測試資訊發送到電子元件。
本發明的第4形態提供一種程式，是使計算機作為通過安裝了電子元件的機器和網路以進行通信之主機裝置而發揮機能的程式，其中，電子元件內置著診斷電路；該程式是使計算機發揮下述的機能：測試資訊存儲部，其預先存儲用於表示該診斷電路應執行的測試內容之測試資訊；以及測試資訊發送部，其在電子元件要求測試資訊的情况下，將測試資訊發送到電子元件。
另外，上述的發明的概要並未列舉本發明的必要特徵的全部，這些特徵群的子集也可又形成發明。
以下，通過發明的實施形態來對本發明進行說明，但以下的實施形態並不對關於申請專利範圍的發明進行限定，而且，實施形態中所說明之特徵的組合的全部也未必是發明的解决方法所必須的。
圖1所示為關於本發明的實施形態之通信系統10的構成的一個例子。通信系統10包括主機裝置200、網路20及多個用戶機器100。
用戶機器100可為通過主機裝置200和網路而進行通信的機器。用戶機器100例如為計算機，可通過網際網路或電話線路等網路20，而與主機裝置200進行通信。而且，用戶機器100例如可為可携式電話，可通過無線通信的網路20而與主機裝置200進行通信。而且，用戶機器100可為具有通信機能的其它機器。
主機裝置200可為通過網路20而與多個用戶機器100通信的裝置。主機裝置200可為與例如網路20相連接的伺服器。主機裝置200可使該用戶機器100中所設置的電子元件內的動作電路，利用電子元件內的診斷電路來進行測試，並接收其測試結果。藉此，主機裝置200可對多個電子元件，取得實際使用環境下的特性的劣化等。
圖2所示為用戶機器100之構成的一個例子。用戶機器100包括通信部110及電子元件300。而且，用戶機器100可還具有對應其機能及用途的其它的構成要素。例如，用戶機器100可還具有顯示部等。通信部110通過網路20而與主機裝置200通信。而且，通信部110也可通過網路20而與其它的用戶機器100進行通信。
電子元件300實現用戶機器100的至少一部分的機能。例如，電子元件300可作為用戶機器100的運算裝置而發揮機能，也可作為用戶機器100的記憶裝置而發揮機能，也可作為其它的裝置而發揮機能。
電子元件300具有動作電路310、診斷電路320、診斷控制部330、結果發送部340、測試資訊要求部350、控制 資訊存儲部360及結果存儲部370。動作電路310是在用戶機器100中安裝有電子元件300的狀態下進行動作，以實現用戶機器100的至少一部分的機能。動作電路310也可與用戶機器100中的其它電路交換數據(data)。動作電路310可為運算裝置、記憶裝置等。
診斷電路320是在電子元件300安裝在用戶機器100中的狀態下，對動作電路310進行測試。診斷電路320可為所謂的BIST(Built In Self Test，內建自我測試)。例如，診斷電路320可為測試該動作電路310是否正常地進行動作的電路，也可為測定該動作電路310的特性的電路。在動作電路310不是為了實現用戶機器100的機能而動作時，診斷電路320可對動作電路310進行測試。例如，診斷電路320可在用戶機器100的起動時、關閉時等，對動作電路310進行測試。
更具體地說，診斷電路320可藉由對動作電路310輸入了規定的測試信號時動作電路310所輸出的被測定信號，來和與測試信號相對應的期待值信號相比較，而判定該動作電路310是否正常地動作。此時，診斷電路320可藉由變更測試條件並判定後動作電路310是否正常地進行動作，而測定該動作電路310正常地進行動作之測試條件的範圍(容限)。
診斷電路320可將例如給予動作電路310的測試信號的頻率、測試信號的時序等特性、動作電路310中的主要信號傳送路徑的信號時序、電源電壓或者時脉信號的頻率 等予以變更以作為上述的測試條件。而且，診斷電路320也可將用戶機器100的電源電壓等予以變更。藉此，診斷電路320可測定該動作電路310能够正常動作之測試信號的頻率、電源電壓等的範圍(容限)。
診斷電路320可在每次接到來自主機裝置200的指示時，依據該指示而變更測試條件，以測試該動作電路310是否正常地進行動作。在這種情况下，結果發送部340可對主機裝置200發送下述的測試結果，亦即，與動作電路310是否正常地進行動作的結果、測試條件相對應之測試結果。主機裝置200可依據所取得的測試結果，生成用於表示該測試電路320隨後應實行的測試的測試條件之測試資訊。
而且，診斷電路320可進行一系列的容限測試，亦即，在從主機裝置200接收到進行容限測試之意思的指示時，依次變更測試條件，並在每一測試條件下判定該動作電路310是否正常地進行動作。控制資訊存儲部360可存儲用於執行該容限測試的程式等的控制資訊。
診斷控制部330對使診斷電路320進行什麽樣的測試來進行控制。例如，診斷控制部330可對診斷電路320輸入控制該診斷電路320的控制資訊。該控制資訊可為例如使診斷電路320發揮機能的測試程式。而且，該控制資訊可含有例如應存儲在診斷電路320內所設置的暫存器中的設定值。而且，在診斷電路320可實行多個測試的情况下，該控制資訊可為指定某個測試的資訊。
診斷控制部330從主機裝置200，通過通信部110及網路20，以接收用於表示診斷電路320對動作電路310應執行的測試內容之測試資訊。診斷控制部330可藉由對診斷電路320輸入與該測試資訊相對應的控制資訊，而使診斷電路320執行與該測試資訊相對應的測試。
該測試資訊可為控制資訊本身，亦可為用於指定該控制資訊的資訊。例如，在控制資訊存儲部360存儲多個測試程式等而作為與多個測試內容相對應的多個控制資訊之情况下，診斷控制部330可從控制資訊存儲部360，抽出由接收的測試資訊所指定的測試程式等。診斷控制部330利用從控制資訊存儲部360所抽出的測試程序等控制資訊，使診斷電路320執行試驗。
結果存儲部370存儲該診斷電路320的測試結果。診斷控制部330可從診斷電路320接收測試結果，並存儲在結果存儲部370中。結果發送部340將診斷電路320的測試結果，通過網路20而發送到主機裝置200。而且，結果發送部340可將該測試結果與電子元件300的識別資訊一起發送。電子元件300的識別資訊可為例如電子元件300的順序號等那樣，將電子元件300的個體從其它的個體中識別出來的資訊。例如，也可將該個體固有的資訊，記錄在電子元件300的內部所設置的熔絲(fuse)ROM或者EPROM部中。
而且，電子元件300的識別資訊也可為用戶機器100的IP地址或者MAC地址等網路地址等。在這種情况下， 電子元件300可分別預先記錄各用戶機器100所搭載的電子元件300的順序號和用戶機器100的IP地址等固有號碼之對應值，且從該記錄和用戶機器100的固有號碼而導出電子元件300的順序號。或者，在製造用戶機器100時，可將該機器100所搭載的電子元件的順序號等個體固有的資訊，記錄在用戶機器100所具有的記錄媒體中。在這種情况下，用戶機器100所具有的記錄媒體可為快閃型記憶體、硬碟等。結果發送部340可利用該用戶機器100的通信機能(例如通信部110)，向主機裝置200發送測試結果。
電子元件300也可保持固有的識別資訊，及測試控制資訊的要求目標和測試結果的發送目標(結果的返回目標)的資訊(例如伺服器的IP地址等)。搭載了電子元件300的用戶機器100可以下述資訊為基礎，即，取得必要的測試資訊，執行測試，並將伴隨識別資訊的測試結果向必要的位置進行發送。
結果發送部340設置為在電子元件300安裝於用戶機器中的情况下，可通過通信部110來進行通信較佳。結果發送部340可設置為將從診斷控制部330所接收的測試結果的數據與主機裝置200的地址數據，輸入到通信部110中。主機裝置200的地址數據可在電子元件300的出貨時等，預先寫入到結果發送部340中。而且，在動作電路310具有通過通信部110而與外部進行通信的機能之情况下，診斷控制部330可使動作電路310作為結果發送部340而 發揮機能。
測試資訊要求部350對主機裝置200，通過網路20而要求發送測試資訊。可在電子元件300的出貨時等，將主機裝置200的地址數據寫入至測試資訊要求部350。而且，測試資訊要求部350可利用通信部110而對主機裝置200要求測試資訊。例如，測試資訊要求部350可要求主機裝置200發送測試資訊，其中，該測試資訊用於表示應利用該控制資訊存儲部360所存儲的控制資訊中的某個控制資訊來執行測試。而且，測試資訊要求部350可預先向主機裝置200要求測試資訊，其中，該測試資訊表示診斷電路320接著應實行的測試內容。而且，測試資訊要求部350可將電子元件300的識別資訊通知主機裝置200，並要求對該電子元件300的測試資訊。
藉由這種構成，電子元件300可在各個電子元件300的實際使用環境下，進行各個動作電路310的動作測試、容限測定等。而且，藉由將主機裝置200的地址預先寫入到電子元件300中，可從各個電子元件300，對主機裝置200要求確立通信。
圖3所示為主機裝置200之構成的一個例子。主機裝置200包括測試資訊存儲部210、測試資訊發送部220、通信部230、測試資訊生成部240及測試結果存儲部250。主機裝置200與安裝有電子元件300的用戶機器100通過網路20而進行通信，其中，電子元件300內置著診斷電路320。
通信部230通過網路20而與用戶機器100進行通信。通信部230可與多個用戶機器100同時進行通信較佳。而且，通信部230可在從各個電子元件300要求確立通信的情况下，接收各個電子元件300的識別資訊及地址數據。通信部230可將各個識別資訊及地址數據對應地進行存儲。而且，通信部230可利用所存儲的識別資訊及地址數據，對各個電子元件300要求確立通信。
測試資訊存儲部210預先存儲用於表示用戶機器100應執行的測試內容之測試資訊。測試資訊存儲部210可將例如使診斷電路320發揮機能的測試程式作為測試資訊而存儲，也可將用於指定該控制資訊存儲部360所存儲的控制資訊之數據，作為測試資訊而存儲。
測試資訊發送部220在電子元件300要求測試資訊的情况下，從測試資訊存儲部210讀出測試資訊，並發送到電子元件300。測試資訊發送部220可通過通信部230而與電子元件300進行通信。而且，測試資訊發送部220可從測試資訊存儲部210讀出測試資訊，其中，該測試資訊是與測試資訊的要求一起收取之電子元件300的識別資訊相對應的測試資訊。藉由這樣的動作，可使各個電子元件300進行測試。
測試結果存儲部250存儲從電子元件300所接收的測試結果。測試結果存儲部250可通過通信部230而接收測試結果。測試結果存儲部250可將電子元件300的識別資訊與測試結果對應地進行存儲。
測試資訊生成部240根據所接收的測試結果，生成電子元件300的診斷電路320接著應執行的測試資訊，並存儲在測試資訊存儲部210中。例如，測試資訊生成部240可為了使診斷電路320執行圖2所說明的容限測試，而依次生成測試資訊。在這種情况下，測試資訊生成部240可對照測試條件而從電子元件300接收該動作電路310是否正常地進行動作之資訊。然後，測試資訊生成部240依次生成依據所接收的測試結果而變更了測試條件之測試資訊，以作為診斷電路320接著應執行的測試資訊。
而且，測試資訊生成部240在所接收的測試結果中判定該動作電路310不是正常地進行動作之情况下，生成下一測試資訊，該下一測試資訊是進行用於特定該動作電路310的故障位置之測試。例如，測試資訊生成部240可生成進行該動作電路310的掃描測試之資訊，以作為下一測試資訊。所說的動作電路310的掃描測試，可為利用掃描鏈而將圖案數據輸入到各正反器中的測試，其中，掃描鏈是利用與實際動作時的連接路徑不同的路徑而將動作電路310所包含的正反器予以連接。測試資訊生成部240可對生成的測試資訊附以與測試結果相對應的電子元件300的識別資訊，並存儲在測試資訊存儲部210中。
而且，測試資訊生成部240可預先存儲對各電子元件300應共同執行的多個測試資訊的順序。在這種情况下，測試資訊生成部240可根據所接收的測試結果，管理在各個電子元件300中要執行到多個測試資訊中的哪一個。然 後，測試資訊生成部240可在每次接收測試結果時，生成對各個電子元件300接著應執行的測試資訊，並存儲在測試資訊存儲部210中。而且，測試資訊生成部240也可為了在每一預先確定的期間於各個電子元件300中執行而生成該多個測試資訊。而且，測試資訊生成部240也可使表示使用者等所指示的測試內容之測試資訊，作為對各電子元件300接著應執行的測試資訊而插入。
藉由這種構成，主機裝置200可管理在多個電子元件300中應執行的測試。而且，由於是將在各電子元件300中接著存儲應執行的測試資訊，並在有要求時對用戶機器100發送測試資訊，所以可在各用戶機器成為適合於測試資訊的通信之狀態時，發送該測試資訊。因此，可對多個電子元件300適當地發送測試資訊。而且，主機裝置200可統計由多個電子元件300所執行的測試結果。因此，能够精度良好地解析電子元件300的實際使用環境下之容限的參差不齊等。
圖4所示為電子元件300及主機裝置200的動作的一個例子之圖示。首先，電子元件300的測試資訊要求部350向主機裝置200要求測試資訊(S500)。主機裝置200的測試資訊發送部220依據測試資訊的要求，從測試資訊存儲部210讀出測試資訊，並對該電子元件300發送測試資訊(S502)。測試資訊存儲部210預先存儲測試資訊。
電子元件300的診斷控制部330根據所接收的測試資訊，生成測試圖案等的控制資訊(S504)。診斷電路320 根據控制資訊而執行測試(S506)。然後，結果發送部340向主機裝置200發送測試結果(S508)。
主機裝置200的測試結果存儲部250存儲所接收的測試結果。而且，測試資訊生成部240根據所接收的測試結果，生成下一測試資訊(S510)。測試資訊存儲部210存儲下一測試資訊(S512)。藉由反復進行這種處理，主機裝置200可管理各個電子元件300中的測試。
而且，測試資訊要求部350可在結果發送部340向主機裝置200發送測試結果的情况下，要求接著應實行的測試資訊。而且，診斷控制部330可在測試資訊要求部350要求測試資訊之前，使診斷電路320執行與已經給子的測試資訊相對應的測試。
測試資訊要求部350可將該測試結果和測試資訊的要求合在一起，向主機裝置200發送。如上所述，主機裝置200可依據測試結果而生成如下的測試資訊。利用這種處理，主機裝置200可使各個電子元件300進行測試，並統計其測試結果。
圖5所示為電子元件300及主機裝置200之另外的動作例子的圖示。本例中的診斷電路320是在可進行該動作電路310的測試之時序預先進行測試(S510)。例如診斷電路320可在用戶機器100的起動時、關閉時等的該動作電路310不進行實際動作的時序時進行測試。而且，診斷電路320針對於多個測試內容來預先對動作電路310進行測試。例如，診斷電路320可針對於能够測試的全部的測 試內容，預先對動作電路310進行測試，也可關於預先指定的多個測試內容來對動作電路310進行測試。結果存儲部370將這些測試結果，與測試內容(例如測試資訊、控制資訊等)對應地進行存儲(S512)。
而且，主機裝置200生成在各個電子元件300中應執行的測試資訊(S514)並進行存儲(S516)。在這裏，測試資訊可為用於指定該控制資訊存儲部360所存儲的某個控制資訊之資訊。
在結果存儲部370存儲測試結果之後，測試資訊要求部350向主機裝置200要求測試資訊的發送(S518)，其中，該測試資訊表示應將結果存儲部370所存儲的測試結果中的哪個測試結果發送到主機裝置200。例如，測試資訊要求部350可在適於測試資訊的收發、測試結果的收發之時序下要求測試資訊的發送。更具體地說，測試資訊要求部350可在用戶機器100的起動時、關閉時等的於電子元件300及主機裝置200之間不進行其它的資訊收發之時序下要求測試資訊的發送。
主機裝置200的測試資訊發送部220依據測試資訊的發送要求，向電子元件300發送測試資訊(S520)。結果發送部340從結果存儲部370讀出與該測試資訊相對應的測試結果(S522)。結果發送部340將所讀出的測試結果發送到主機裝置200(S524)。藉由這種處理，主機裝置200可不對各個用戶機器100的動作產生影響地在各個電子元件300中進行測試並統計其測試結果。
圖6所示為電子元件300及主機裝置200之另外的動作例子的圖示。本例中的電子元件300是安裝在作為用戶機器100的計算機中，並在用戶機器100的起動時對動作電路310進行測試。
主機裝置200預先生成用於表示在各個電子元件300中應執行的測試內容之測試資訊(S600)並進行存儲(S602)。電子元件300的測試資訊要求部350要求主機裝置200發送測試資訊(S604)。主機裝置200的測試資訊發送部220依據測試資訊的發送要求，向電子元件300發送測試資訊(S606)。電子元件300及主機裝置200可在用戶機器100的上次關閉時解除電子元件300及主機裝置200間的通信之前，進行測試資訊的發送要求及測試資訊的發送。電子元件300可將所接收的測試資訊存儲在非揮發性記憶體中。
診斷電路320在用戶機器100的起動時，對動作電路310進行與預先所接收的測試資訊相對應的測試(S608)。例如，診斷電路320可在動作電路310作為用戶機器110的一部而開始實際動作之前，對動作電路310進行測試。而且，診斷電路320也可在用戶機器100和主機裝置200確立通信的期間，對動作電路310進行測試。
結果發送部340向主機裝置200發送測試結果(S610)。而且，診斷電路320在動作電路310的測試結束之後，將動作電路310初始化(S612)。例如，診斷電路320可藉由測試該動作電路310，而將動作電路310的 各暫存器中所設定的值進行初始化。藉此，可利用在測試時於動作電路310中所設定的資訊，來防止實際動作時動作電路310進行錯誤動作。
而且，主機裝置200的測試結果存儲部250存儲所接收的測試結果(S614)。藉由這種處理，可不對各個用戶機器100的動作產生影響，而在各個電子元件300中進行測試並統計其測試結果。
圖7所示為電子元件300及主機裝置200之另外的動作例子的圖示。本例中的電子元件300是安裝在作為用戶機器100的計算機中，並在用戶機器100的關閉時對動作電路310進行測試。
主機裝置200預先產生用於表示各個電子元件300中應執行的測試內容之測試資訊(S700)並進行存儲(S702)。電子元件300的測試資訊要求部350要求主機裝置200發送測試資訊(S704)。主機裝置200的測試資訊發送部220依據測試資訊的發送要求，對電子元件300發送測試資訊(S706)。電子元件300存儲所接收的測試資訊(S708)。電子元件300及主機裝置200可在用戶機器100的起動時確立電子元件300及主機裝置200間的通信之後，進行測試資訊的發送要求及測試資訊的發送。而且，這些測試、測試資訊的取得和發送也可依據需要，由機器的使用者或者為了保養而進行檢查、整修的人士任意地執行。
診斷電路320在用戶機器100的關閉時，對動作電路 310進行測試(S710)。診斷電路320對動作電路310，進行與預先所接收的測試資訊相對應的測試。例如，診斷電路320可在動作電路310結束作為用戶機器100的一部的實際動作之後，對動作電路310進行測試。結果存儲部370將測試結果進行存儲(S712)。結果存儲部370為非揮發性的記憶體較佳，在不對用戶機器100供給電源電力的情况下，也可保持所存儲的資訊。
然後，結果發送部340在用戶機器100的起動時，讀出該結果存儲部370所存儲的測試結果，並向主機裝置200進行發送(S714)。此時，測試資訊要求部350也可要求發送下一測試資訊。藉由這種處理，可不對各個用戶機器100的動作產生影響而在各個電子元件300中進行測試並統計其測試結果。
圖8所示為電子元件300的另外的構成例子。本例的電子元件300除了利用圖2所說明的電子元件300的構成以外，還包括動作時間計測部380及溫度偵測部390。其它的構成可與圖2所說明的電子元件300相同。
溫度偵測部390對電子元件300的溫度進行偵測。例如，溫度偵測部390可根據利用特性變化的溫度測定裝置而對電子元件300的溫度進行偵測，其中，該特性變化是由電子元件300中所設置的熱敏電阻等的測溫用電阻元件的電阻值或者半導體的溫度所造成。而且，溫度偵測部390可偵測該診斷電路320進行各個測試時的電子元件300的溫度。而且，也可每隔一定周期，對電子元件處於實際動 作狀態時的溫度變化進行偵測並保持著。或者也可將最高溫度、最低溫度等進行記錄。
結果發送部340可將診斷電路320的測試結果，和其測試時溫度偵測部390所偵測的電子元件300的溫度，對應地發送到主機裝置200中。藉此，主機裝置200可在電子元件300的每一溫度來統計測試結果。因此，可在動作電路310的每一實際使用環境中統計測試結果，並解析所要求的容限等。另外，也可依據需要，而取得電子元件300之動作狀態下的溫度變化的履歷並用於解析。
而且，動作時間計測部380對動作電路310的總動作時間進行計測。所說的動作電路310的總動作時間，可為例如對動作電路310投入電源電力之時間的累計。而且，所說的動作電路310的總動作時間，也可為例如從用戶機器100向動作電路310輸入信號開始，到從動作電路310向用戶機器100輸出信號為止之時間的累計。而且，動作時間計測部380也可計測從用戶機器100起動開始到關閉為止之時間的累計，以作為動作電路310的總動作時間。
結果發送部340可將診斷電路320的測試結果，和到開始其測試為止的動作電路310的總動作時間，對應地發送到主機裝置200。藉此，主機裝置200可在電子元件300的每一溫度來統計測試結果。因此，可在動作電路310的每一實際使用環境，統計該測試結果並解析該動作電路310的劣化速度等。
而且，用戶機器100可具有例如GPS機能那樣的、對 設置著用戶機器100的位置進行偵測的機能。在這種情况下，結果發送部340也可使診斷電路320的測試結果和用戶機器100的位置建立對應，並發送到主機裝置200。而且，如以上所說明的溫度、工作時間、位置等資訊，是用於評價使用環境之資訊的一個例子，除了這些以外，也可並用濕度感測器、凝結感測器、放射線感測器、加速度感測器、電場感測器等而取得關於使用環境的資訊。
圖9所示為主機裝置200的另外的構成例。本例的主機裝置200除了圖3所說明的主機裝置200的構成以外，還具有使用環境通知部260。其它的構成可與利用圖3所說明的主機裝置200相同。
而且，測試結果存儲部250接收各個電子元件的測試結果，及與該測試結果一起收到的溫度、總動作時間等資訊。測試結果存儲部250可作為對應存儲部而發揮機能，將溫度或總動作時間的至少一方的資訊與測試結果對應地進行存儲。
測試資訊生成部240根據測試結果存儲部250中與各個電子元件300的測試結果對應地進行存儲的溫度資訊，生成用於表示該電子元件300的診斷電路320接著應執行的測試內容之測試資訊，並存儲在測試資訊存儲部210中。例如，在電子元件300的溫度超出規定的溫度範圍之情况下，測試資訊生成部240可生成使動作電路310中的溫度依存性更高的位置進行動作之測試資訊。而且，在電子元件300的溫度大於等於規定的溫度之情况下，測試資 訊生成部240可優先生成使診斷電路320執行該動作電路310所消耗的電力比較小的測試之測試資訊。藉由這種構成，可進行與各個電子元件300的實際動作環境相稱的測試。
使用環境通知部260在溫度資訊所示的電子元件300的溫度不在規格等所預先確定的溫度範圍內之情况下，將該意思通知電子元件300或用戶機器100。用戶機器100藉由將該意思進行顯示等，而將該意思通知使用者。藉此，用戶機器100的使用者可知道電子元件300的溫度异常之情况。而且，用戶機器100也可在接到電子元件300的溫度不在規定的溫度範圍內之意思的通知時，停止向電子元件300供給電源電力。藉此，可防止來自電子元件300的加熱和起火等。
圖10所示為主機裝置200之另外的構成例子。本例的主機裝置200除了利用圖3所說明的主機裝置200的構成以外，還包括平均劣化計算部270、個別劣化計算部280及通知部290。其它的構成與圖3所說明的主機裝置200相同。
平均劣化計算部270通過通信部230而從同種的多個電子元件300，接收各個電子元件300的測試結果及總動作時間。平均劣化計算部270根據各個電子元件300的測試結果及總動作時間，來計算對動作時間之該種電子元件300的平均劣化。
例如，主機裝置200可使各個電子元件300的診斷電 路320，進行用於測定該動作電路310的位元錯誤率之測試。所說的測定位元錯誤率的測試，可為當向動作電路310輸入規定的測試圖案時，用於測定該動作電路310所輸出的數據圖案未與期待值圖案一致之位元比例的測試。在該測定中，可使電子元件300中所設置的錯誤更正電路的機能無效。
平均劣化計算部270可計算出這樣的直線，亦即，將例如以橫軸為總動作時間，以縱軸為位元錯誤率，並使各個電子元件300的測試結果曲線化所形成之曲線，利用最小二乘法等來進行近似的直線。該直線的傾斜度是與該種類的電子元件300之位元錯誤率的平均劣化速度相對應。
圖11所示為平均劣化計算部270所計算之平均劣化速度的一個例子的說明圖。圖11是使橫軸為總動作時間，縱軸為位元錯誤率，並將各個電子元件300的測試結果曲線化所形成之曲線。如上所述，平均劣化計算部270可計算出將這些曲線點近似為直線之直線的傾斜度。
而且，個別劣化計算部280從各個電子元件300的測試結果及總動作時間，計算出各個電子元件300的劣化速度。例如，個別劣化計算部280可從穿過表示該種電子元件300的平均劣化的直線的切片和圖11的曲線點A之直線的傾斜度，而計算出與曲線點A相對應的電子元件300的劣化速度。
通知部290在個別劣化計算部280所計算的劣化速度，相對於平均劣化計算部270所計算的平均劣化速度為 大於等於規定比例的值之情况下，將該意思通知該電子元件300或用戶機器100。在這裏，所說的規定比例包括個別的劣化速度除以平均劣化速度時的值大於1的情况。亦即，通知部290可將該意思，通知以平均劣化速度規定的倍率以上的較快速度而劣化之電子元件300。用戶機器100在接到該通知的情况下，可藉由將該意思進行顯示等而通知使用者。
而且，個別劣化計算部280可計算出表示平均劣化速度的直線與曲線點A之距離D，以作為與曲線點A相對應的電子元件300的劣化速度。通知部290在距離D大於等於規定值的情况下，將該意思通知該電子元件300或用戶機器100。
另外，診斷電路320進行的測試並不限定於對動作電路310的位元錯誤率進行測定的測試。診斷電路320可進行用於測定該動作電路310的規定特性的測試。在這種情况下，平均劣化計算部270可計算關於該特性的劣化速度。
例如，診斷電路320可藉由依次變更輸入到動作電路310內所包含的正反器中的數據信號及時脉信號的相對相位，並在每一相對相位判定正反器所輸出的數據是否與期待值相一致，而進行該動作電路310的時序容限測試。在這種情况下，診斷電路320可根據正反器所輸出的數據是與期待值一致之相對相位的範圍，而計算該動作電路310的時序容限。
而且，診斷電路320可藉由依次變更輸入到動作電路 310的時脉信號的頻率，並在每一時脉信號的頻率判定該動作電路310是否正常地動作，而進行時脉頻率的容限測試。在這種情况下，診斷電路320可根據該動作電路310能够正常地進行動作之時脉信號的頻率範圍，而計算時脉信號的頻率容限。
而且，診斷電路320藉由依次變更供給到動作電路310的電源電壓，並在每一電源電壓判定該動作電路310是否正常地動作，而進行電源電壓的容限測試。在這種情况下，診斷電路320可根據動作電路310能够正常地進行動作的電源電壓的範圍，而計算電源電壓的容限。而且，主機裝置200可對這些動作容限的劣化進行解析。
例如，個別劣化計算部280可從電子元件300，接收動作容限和電子元件的總動作時間，並根據總動作時間及動作容限，而計算出動作容限的劣化速度。個別劣化計算部280可根據從該電子元件300上次所接收的動作容限及總動作時間，和本次所接收的動作容限及總動時間之差分，而計算該電子元件300的動作容限的劣化速度。
而且，個別劣化計算部280根據所算出的劣化速度和現在的動作容限，而計算該電子元件300的動作容限較預先所確定的值還小之動作不良發生時期。所說的預先所確定的值，可為例如對該電子元件300預先確定的規格值。個別劣化計算部280可將算出的動作不良發生時期，通知主機裝置200的使用者或用戶機器100的使用者等。利用這種處理，可通知用戶應進行維修等的時期，或者，能够 在適當的時期進行用戶機器100的維修等。
圖12所示為關於本發明的一實施形態之計算機1900的硬體構成的一個例子。計算機1900可根據所給予的程式，而作為圖1至圖11所說明的主機裝置200以發揮機能。另外，計算機1900作為主機裝置200而進行控制和收集的測定結果，可通過連接有計算機1900的網路而利用上級的主機裝置來收集、管理和控制。亦即，多個電子元件300的測試結果也可利用具有階層式構造的主機裝置群而進行管理。
在計算機1900作為主機裝置200而發揮機能的情况下，程式可使計算機1900作為圖1至圖11所說明的測試資訊存儲部210、測試資訊發送部220、通信部230、測試資訊生成部240、測試結果存儲部250、使用環境通知部260、平均劣化計算部270、個別劣化計算部280及通知部290中的至少某個而發揮機能。例如，程式可使硬碟驅動器2040作為測試資訊存儲部210及測試結果存儲部250而發揮機能。而且，程式可使CPU2000作為測試資訊生成部240、平均劣化計算部270及個別劣化計算部280而發揮機能。而且，程式可使I/O控制器2084，作為測試資訊發送部220、使用環境通知部260及通知部290而發揮機能。而且，程式可使通信介面(I/F)2030作為通信部230而發揮機能。
計算機1900包括CPU周邊部、輸出入部及傳統(legacy)輸出入部。CPU周邊部具有利用主控制器2082 而相互連接的CPU2000、RAM2020、圖形控制器2075及顯示裝置2080。輸出入部具有利用輸出入控制器2084而與主控制器2082相連接的通信介面2030、硬碟驅動器2040及CD－ROM驅動器2060。傳統輸出入部具有與輸出入控制器2084相連接的ROM2010、軟碟驅動器2050及輸出入晶片2070。
主控制器2082將RAM2020和以高傳送速率來存取RAM2020的CPU2000及圖形控制器2075進行連接。CPU2000根據ROM2010及RAM2020所存儲的程式而動作，並進行各部的控制。圖形控制器2075取得CPU2000等在RAM2020內所設置的訊框－緩衝裝置上所生成的圖像數據，並在顯示裝置2080上進行顯示。也可代之以使圖形控制器2075在內部包含訊框－緩衝裝置，其中，該訊框－緩衝裝置用於存儲CPU2000等所生成的圖像數據。
輸出入控制器2084將主控制器2082和作為比較高速的輸出入裝置之通信介面2030、硬碟驅動器2040、CD－ROM驅動器2060進行連接。通信介面2030是通過網路而與其它的裝置進行通信。硬碟驅動器2040存儲著計算機1900內的CPU2000所使用的程式及數據。CD－ROM驅動器2060從CD－ROM2095讀取程式或數據，並通過RAM2020而提供給硬碟驅動器2040。
而且，在輸出入控制器2084上，連接有ROM2010、軟碟驅動器2050及輸出入晶片2070這些比較低速的輸出入裝置。ROM2010存儲著計算機1900起動時所執行的起 動(boot)程式、依存於計算機1900的硬體的程式等。軟碟驅動器2050從軟碟2090讀取程式或數據，並通過RAM2020而提供給硬碟驅動器2040。輸出入晶片2070通過軟碟驅動器2050、並行板、串行板、鍵盤板、滑鼠板等而，將各種輸出入裝置進行連接。
通過RAM2020提供給硬碟驅動器2040的程式存儲在軟碟2090、CD－ROM2095或IC卡等記錄媒體中而由利用者所提供。程式是從記錄媒體中讀出，並通過RAM2020而安裝在計算機1900內的硬碟驅動器2040中且在CPU2000中執行。
該程式被安裝在計算機1900中。該程式對CPU2000等發生作用，使計算機1900作為前述主機裝置200的各構成要素而發揮機能。
以上所示的程式也可存儲在外部的記錄媒體中。作為記錄媒體除了軟碟2090、CD－ROM2095以外，還可使用DVD及CD等光學記錄媒體、MO等光磁記錄媒體、帶式媒體、IC卡等的半導體記憶體等。而且，也可將與專用通信網路或者網際網路連接的伺服器系統中所設置的硬碟或RAM等記憶裝置，作為記錄媒體來使用，並通過網路而向計算機1900提供程式。
以上利用實施形態來對本發明進行說明，但本發明的技術範圍並不限定於上述實施形態所記述的範圍。在上述實施形態上可施加多種多樣的變更或改良。由申請專利範圍的記述可知，這種施加了變更或改良的形態也可包含在 本發明的技術範圍中。
如以上所說明，如利用本發明的主機裝置200及電子元件300，則可進行各個電子元件300的實際使用環境下的測試，並對其結果進行統計。而且，在各個電子元件300中，可進行與實際使用環境相對應的測試。
而且，如利用主機裝置200及電子元件300，則可測定多個電子元件300的動作容限及由動作環境所導致的動作容限的變化等，並統計此測定結果。因此，可在例如電子元件300發生錯誤動作等之前，偵測到動作容限的减少等。而且，由於可偵測到動作容限的减少速度，所以能够預測在電子元件300中發生錯誤動作等的時期。因此，可在適當的時期進行用戶機器100的維護等，或者，能够將應進行維護等的時期通知用戶。
這樣，能够偵測到電子元件300的新的劣化模式或者劣化模式與環境的相關性。而且，為了對新的劣化模式或者劣化模式與環境的相關性進行更加詳細的測定，可從主機裝置200來對各電子元件300指出測試內容。因此，在發生動作不良的可能性比較高之電子元件300的個體以外，也可采用與各電子元件300的劣化相對應的對策。另外，這樣所得到的數據可用於更加正確的信賴性設計。
10‧‧‧通信系統
20‧‧‧網路
100‧‧‧用戶機器
110‧‧‧通信部
200‧‧‧主機裝置
210‧‧‧測試資訊存儲部
220‧‧‧測試資訊發送部
230‧‧‧通信部
240‧‧‧測試資訊生成部
250‧‧‧測試結果存儲部
260‧‧‧使用環境通知部
270‧‧‧平均劣化計算部
280‧‧‧個別劣化計算部
290‧‧‧通知部
300‧‧‧電子元件
310‧‧‧動作電路
320‧‧‧診斷電路
330‧‧‧診斷控制部
340‧‧‧結果發送部
350‧‧‧測試資訊要求部
360‧‧‧控制資訊存儲部
370‧‧‧結果存儲部
380‧‧‧動作時間計測部
390‧‧‧溫度偵測部
1900‧‧‧計算機
2000‧‧‧CPU
2010‧‧‧ROM
2020‧‧‧RAM
2030‧‧‧通信介面(I/F)
2040‧‧‧硬碟驅動器
2050‧‧‧FD驅動器
2060‧‧‧CD－ROM驅動器
2070‧‧‧I/O晶片
2075‧‧‧圖形控制器
2080‧‧‧顯示裝置
2082‧‧‧主控制器
2084‧‧‧I/O控制器
2090‧‧‧軟碟
2095‧‧‧CD－ROM
圖1所示為關於本發明的實施形態之通信系統10的構成的一個例子。
圖2所示為用戶機器100的構成的一個例子。
圖3所示為主機裝置200的構成的一個例子。
圖4所示為電子元件300及主機裝置200之動作的一個例子的圖示。
圖5所示為電子元件300及主機裝置200之其它動作例子的圖示。
圖6所示為電子元件300及主機裝置200之其它動作例子的圖示。
圖7所示為電子元件300及主機裝置200之其它動作例子的圖示。
圖8所示為電子元件300之其它的構成例子。
圖9所示為主機裝置200之其它的構成例子。
圖10所示為主機裝置200之其它的構成例子。
圖11為平均劣化計算部270所算出之平均劣化速度的一個例子的說明圖。
圖12所示為關於本發明的一個實施形態之計算機1900的硬體構成的一個例子。
10‧‧‧通信系統
20‧‧‧網路
100‧‧‧用戶機器
200‧‧‧主機裝置

Claims (26)

  1. 一種電子元件，為一種在通過主機裝置和網路而進行通信的機器中所安裝的電子元件，包括：動作電路，在前述電子元件的安裝時進行動作；診斷電路，對前述動作電路進行測試；結果發送部，將前述診斷電路的測試結果，通過前述網路而發送到前述主機裝置，其中前述診斷電路藉由變更測試條件並判定前述動作電路是否正常地進行動作，而測定前述動作電路正常地進行動作之前述測試條件的範圍。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件，其中，前述結果發送部在前述電子元件安裝於具有通過前述網路的通信機能之機器中的情况下，利用前述機器的通信機能而向前述主機裝置發送前述測試結果。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件，更包括診斷控制部，由前述主機裝置通過前述網路以接收用於表示應對前述動作電路所執行的測試內容之測試資訊，並使前述診斷電路執行與接收的前述測試資訊相對應的測試。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之電子元件，更包括測試資訊要求部，通過前述網路以要求前述主機裝置發送前述測試資訊。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之電子元件，更包括控制資訊存儲部，預先存儲與多個前述測試內容相對應之前述診斷電路的多個控制資訊； 前述診斷控制部利用與所接收的前述測試資訊相對應的前述控制資訊，使前述診斷電路執行測試。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之電子元件，其中，前述測試資訊要求部向前述主機裝置要求用於表示應利用哪個前述控制資訊之前述測試資訊的發送。
  7. 如申請專利範圍第4項所述之電子元件，其中，前述診斷控制部在前述測試資訊要求部要求前述測試資訊的發送之前，使前述診斷電路執行預先所確定的測試內容；前述測試資訊要求部向前述主機裝置發送前述診斷電路執行前述預先所確定的測試內容之測試結果，並向前述主機裝置要求發送用於表示依據該測試結果接著應實行的前述測試內容之前述測試資訊。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件，其中，前述診斷電路根據多個測試內容，預先測試前述動作電路；前述電子元件還包括：結果存儲部，存儲關於多個前述測試內容的測試結果；以及測試資訊要求部，向前述主機裝置要求發送用於表示應發送哪個前述測試結果之測試資訊；前述結果發送部由前述結果存儲部讀出與前述主機裝置所發送的前述測試資訊相對應之前述測試結果，並發送到前述主機裝置。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件，其中，前述電子元件安裝在計算機中，前述診斷電路在前述計算機的起動時對前述動作電路進行測試，並在測試後進行前述動作電路的初始化。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之電子元件，更包括測試資訊要求部，在前述計算機的起動時，要求前述主機裝置發送用於表示應對前述動作電路所執行的測試內容之測試資訊；前述診斷電路執行與由前述主機裝置所接收的前述測試資訊相對應的測試。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之電子元件，其中，前述電子元件安裝在計算機中；前述診斷電路在前述計算機的關閉時對前述動作電路進行測試。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之電子元件，更包括非揮發性的結果存儲部，用於存儲前述診斷電路的測試結果；前述結果發送部在前述計算機的起動時，讀出在前述結果存儲部中所存儲的前述測試結果，並發送到前述主機裝置。
  13. 一種電子元件，為一種在通過主機裝置和網路而進行通信的機器中所安裝的電子元件，包括：動作電路，在前述電子元件的安裝時進行動作；診斷電路，對前述動作電路進行測試； 結果發送部，將前述診斷電路的測試結果，通過前述網路而發送到前述主機裝置；以及溫度偵測部，用於偵測前述電子元件的溫度，前述結果發送部向前述主機裝置發送前述診斷電路的測試結果、和執行與該測試結果相對應的測試時的前述電子元件的溫度。
  14. 一種電子元件，為一種在通過主機裝置和網路而進行通信的機器中所安裝的電子元件，包括：動作電路，在前述電子元件的安裝時進行動作；診斷電路，對前述動作電路進行測試；結果發送部，將前述診斷電路的測試結果，通過前述網路而發送到前述主機裝置；以及動作時間計測部，其用於計測前述動作電路的總動作時間；前述結果發送部除了向前述主機裝置發送前述診斷電路的測試結果以外，還發送前述總動作時間。
  15. 一種主機裝置，為一種通過安裝有電子元件的機器和網路而進行通信的主機裝置，且該電子元件內置著診斷電路；該主機裝置包括：測試資訊存儲部，預先存儲用於表示前述診斷電路對前述電子元件的動作電路應執行的測試內容之測試資訊；以及測試資訊發送部，在前述電子元件要求前述測試資訊 的情况下，對前述電子元件發送前述測試資訊，其中前述診斷電路藉由變更測試條件並判定前述動作電路是否正常地進行動作，而測定前述動作電路正常地進行動作之前述測試條件的範圍。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之主機裝置，更包括測試資訊生成部，通過前述網路而接收前述診斷電路的測試結果，並根據前述測試結果，生成用於表示前述診斷電路接著應執行的測試內容之前述測試資訊，且存儲在前述測試資訊存儲部中。
  17. 一種主機裝置，為一種通過安裝有電子元件的機器和網路而進行通信的主機裝置，且該電子元件內置著診斷電路；該主機裝置包括：測試資訊存儲部，預先存儲用於表示前述診斷電路應執行的測試內容之測試資訊；測試資訊發送部，在前述電子元件要求前述測試資訊的情况下，對前述電子元件發送前述測試資訊；以及測試資訊生成部，通過前述網路而接收前述診斷電路的測試結果，並根據前述測試結果，生成用於表示前述診斷電路接著應執行的測試內容之前述測試資訊，且存儲在前述測試資訊存儲部中，前述診斷電路在與所給予的前述測試資訊相對應的測試條件下，進行測試以判定前述電子元件是否正常地進行動作； 前述測試資訊生成部藉由依次生成依據前述測試結果而變更前述測試條件之前述測試資訊、作為前述診斷電路接著應執行的前述測試資訊，而使前述診斷電路執行容限測試，該容限測試用於測定前述電子元件正常地進行動作之前述測試條件的範圍。
  18. 如申請專利範圍第17項所述之主機裝置，更包括對應存儲部，其由前述電子元件接收用於表示前述診斷電路執行測試時的前述電子元件的溫度之溫度資訊，並將前述測試結果和前述溫度資訊對應地進行存儲。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之主機裝置，其中，前述測試資訊生成部根據與前述測試結果相對應的前述溫度資訊，生成用於表示前述診斷電路接著應執行的測試內容之前述測試資訊，並存儲在前述測試資訊存儲部中。
  20. 如申請專利範圍第18項所述之主機裝置，更包括使用環境通知部，在前述溫度資訊所示的溫度不是預先所確定的溫度範圍之情况下，將該意思通知前述電子元件。
  21. 一種主機裝置，為一種通過安裝有電子元件的機器和網路而進行通信的主機裝置，且該電子元件內置著診斷電路；該主機裝置包括：測試資訊存儲部，預先存儲用於表示前述診斷電路應執行的測試內容之測試資訊； 測試資訊發送部，在前述電子元件要求前述測試資訊的情况下，對前述電子元件發送前述測試資訊；測試資訊生成部，通過前述網路而接收前述診斷電路的測試結果，並根據前述測試結果，生成用於表示前述診斷電路接著應執行的測試內容之前述測試資訊，且存儲在前述測試資訊存儲部中；以及平均劣化計算部，從同種的多個前述電子元件接收各個測試結果和各個前述電子元件的總動作時間，並根據前述總動作時間及前述測試結果，計算出對動作時間之該種類的前述電子元件的平均劣化。
  22. 如申請專利範圍第21項所述之主機裝置，還包括：個別劣化計算部，其從各個前述電子元件的前述測試結果及前述總動作時間，計算各個前述電子元件的劣化速度；以及通知部，其在前述個別劣化計算部所算出的劣化速度，相對於前述平均劣化計算部所算出的平均劣化速度在規定的比例以上之情况下，將該意思進行通知。
  23. 一種主機裝置，為一種通過安裝有電子元件的機器和網路而進行通信的主機裝置，且該電子元件內置著診斷電路；該主機裝置包括：測試資訊存儲部，預先存儲用於表示前述診斷電路應執行的測試內容之測試資訊；以及測試資訊發送部，在前述電子元件要求前述測試資訊 的情况下，對前述電子元件發送前述測試資訊，前述診斷電路進行容限測試，亦即，依次變更前述測試條件，並將前述電子元件能够正常地進行動作的前述測試條件的範圍，作為動作容限來進行測定；前述主機裝置還具有個別劣化計算部，其由前述電子元件，接收前述動作容限和前述電子元件的總動作時間，並根據前述總動作時間及前述動作容限，而計算前述動作容限的劣化速度。
  24. 如申請專利範圍第23項所述之主機裝置，其中，前述個別劣化計算部根據所算出的前述劣化速度，而計算前述電子元件的前述動作容限變得較預先所確定的值還小的時期。
  25. 一種通信系統，為一種包括主機裝置和電子元件的通信系統，該電子元件是安裝在通過前述主機裝置和網路而進行通信的機器中；其中，前述電子元件包括：動作電路，其在前述電子元件的安裝時進行動作；診斷電路，其對前述動作電路進行測試；以及結果發送部，其將前述診斷電路的測試結果通過前述網路而發送到前述主機裝置；而且，前述主機裝置包括：測試資訊存儲部，其預先存儲用於表示前述診斷電路應執行的測試內容之測試資訊；以及測試資訊發送部，其在前述電子元件要求前述測試資 訊的情况下，將前述測試資訊發送到前述電子元件，其中前述診斷電路藉由變更測試條件並判定前述動作電路是否正常地進行動作，而測定前述動作電路正常地進行動作之前述測試條件的範圍。
  26. 一種使計算機作為通過安裝了電子元件的機器和網路以進行通信之主機裝置而發揮機能的程式，其中，電子元件內置著診斷電路；該程式是使前述計算機發揮下述的機能：測試資訊存儲部，其預先存儲用於表示前述診斷電路對前述電子元件的動作電路應執行的測試內容之測試資訊；以及測試資訊發送部，其在前述電子元件要求前述測試資訊的情况下，將前述測試資訊發送到前述電子元件，其中前述診斷電路藉由變更測試條件並判定前述動作電路是否正常地進行動作，而測定前述動作電路正常地進行動作之前述測試條件的範圍。
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