JP7155902B2 - 電子制御装置 - Google Patents
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Description
BISTが実行される複数のBIST対象(21,22,31,32,40,71,72,81,82,90,100)と、
マイコンの起動時に、複数のBIST対象の一部についてBISTを実行する起動時実行部(S10)と、
起動時にBISTが実行されない残りのBIST対象について、シャットダウン時にBISTを実行するシャットダウン時実行部(S15)と、を備え、
複数のBIST対象が、論理回路部(21,31,71,81,90,100)と、メモリ部(22,32,40,72,82)と、を有し、
起動時には、論理回路部がBISTの対象とされ、
シャットダウン時には、メモリ部がBISTの対象とされ、
プログラムが格納され、BISTの対象外である対象外メモリ(50)を備え、
メモリ部として、プログラムを一時的に保管する命令キャッシュ(221,321)及びプログラムの処理対象となるデータを一時的に保管するデータキャッシュ(220,320)を含むキャッシュメモリ(22,32)を含み、
シャットダウン時実行部は、シャットダウン時に、命令キャッシュを無効化するとともに、対象外メモリの値を直接読み出して、キャッシュメモリの命令キャッシュおよびデータキャッシュを含むメモリ部についてBISTを実行する。
先ず、図1に基づき、電子制御装置(ECU:Electronic Control Unit)の概略構成について説明する。
Claims (4)
- ハードウェアセルフテスト(以下、BIST)機能を有するマイコン(11)を備えた電子制御装置であって、
BISTが実行される複数のBIST対象(21,22,31,32,40,71,72,81,82,90,100)と、
前記マイコンの起動時に、前記複数のBIST対象の一部についてBISTを実行する起動時実行部(S10)と、
起動時にBISTが実行されない残りの前記BIST対象について、シャットダウン時にBISTを実行するシャットダウン時実行部(S15)と、を備え、
前記複数のBIST対象が、論理回路部(21,31,71,81,90,100)と、メモリ部(22,32,40,72,82)と、を有し、
前記起動時には、前記論理回路部がBISTの対象とされ、
前記シャットダウン時には、前記メモリ部がBISTの対象とされ、
プログラムが格納され、BISTの対象外である対象外メモリ(50)を備え、
前記メモリ部として、前記プログラムを一時的に保管する命令キャッシュ(221,321)及び前記プログラムの処理対象となるデータを一時的に保管するデータキャッシュ(220,320)を含むキャッシュメモリ(22,32)を含み、
前記シャットダウン時実行部は、前記シャットダウン時に、前記命令キャッシュを無効化するとともに、前記対象外メモリの値を直接読み出して、前記キャッシュメモリの前記命令キャッシュおよび前記データキャッシュを含む前記メモリ部についてBISTを実行する電子制御装置。 - 前記メモリ部として、スタック領域(220a,320a)が設けられたメモリを含み、
前記シャットダウン時実行部は、関数を使用しないプログラムにより、前記スタック領域を含む前記メモリ部についてBISTを実行する請求項1に記載の電子制御装置。 - 前記論理回路部が、CPU(210,310)を有し、
前記メモリ部としてのメモリ領域を有し、前記CPUを介さずにデータを転送するダイレクトメモリアクセス(以下、DMA)コントローラ(70)を備え、
前記シャットダウン時実行部は、前記シャットダウン時に、前記DMAコントローラを停止させてから、前記DMAコントローラのメモリ領域を含む前記メモリ部についてBISTを実行する請求項1または請求項2に記載の電子制御装置。 - 前記メモリ部としてのメモリ領域を有し、時間計測可能なタイマユニット(80)を備え、
前記シャットダウン時実行部は、前記シャットダウン時に、前記タイマユニットを停止させてから、前記タイマユニットのメモリ領域を含む前記メモリ部についてBISTを実行する請求項1~3いずれか1項に記載の電子制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102018222199.5A DE102018222199A1 (de) | 2017-12-21 | 2018-12-18 | Elektronische steuerungsvorrichtung |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017245300 | 2017-12-21 | ||
JP2017245300 | 2017-12-21 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019114244A JP2019114244A (ja) | 2019-07-11 |
JP7155902B2 true JP7155902B2 (ja) | 2022-10-19 |
Family
ID=67222753
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018212258A Active JP7155902B2 (ja) | 2017-12-21 | 2018-11-12 | 電子制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7155902B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210101799A (ko) | 2020-02-11 | 2021-08-19 | 삼성전자주식회사 | 메모리 테스트 장치 및 테스트 방법 |
JP7476638B2 (ja) | 2020-04-15 | 2024-05-01 | 株式会社デンソー | マルチプロセッサシステム |
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JP2017091442A (ja) | 2015-11-17 | 2017-05-25 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH02128260A (ja) * | 1988-11-09 | 1990-05-16 | Hitachi Ltd | 電源オン/オフ時のメモリデータチェック方式 |
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-
2018
- 2018-11-12 JP JP2018212258A patent/JP7155902B2/ja active Active
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JP2017091442A (ja) | 2015-11-17 | 2017-05-25 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019114244A (ja) | 2019-07-11 |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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