JP2010097432A - Ram診断装置、そのプログラム - Google Patents
Ram診断装置、そのプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010097432A JP2010097432A JP2008267863A JP2008267863A JP2010097432A JP 2010097432 A JP2010097432 A JP 2010097432A JP 2008267863 A JP2008267863 A JP 2008267863A JP 2008267863 A JP2008267863 A JP 2008267863A JP 2010097432 A JP2010097432 A JP 2010097432A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ram
- data
- diagnosis
- processing
- diagnostic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title claims abstract description 205
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 188
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 claims abstract description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 161
- 238000007726 management method Methods 0.000 claims description 45
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 14
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 10
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 21
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 10
- 238000012631 diagnostic technique Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
【解決手段】RAM診断管理テーブル11には、RAM1内の各エリア毎に、そのエリアに格納するデータのデータ種別、ポインタ、診断トリガー、診断手法、診断間隔(診断周期)やタスクレベル等の各種属性情報等からなる管理情報が記憶される。特に、各データ種別毎に適切な診断手法が予め決定されて登録されている。割込関連データ処理部12等の各種機能部は、RAM診断管理テーブル11が示す内容に応じた診断処理を実行する。また、診断処理にはタスクレベルが割り当てられ、診断処理中であってもよりタスクレベルが高い処理が発生した場合には、割り込みを行わせる。
【選択図】 図1
Description
特許文献1の従来技術では、オンライン中に所定の周期で割込み禁止をした状態でメモリの診断を時間的に分割して全領域をおこなっている。
致である場合には異常有りと判定して、所定の異常対応処理を実行する。
データ書き込みの際に、該スタックデータの反転データを生成し、該スタックデータとその反転データとを前記スタックデータに関する格納エリアに格納し、該格納エリアからスタックデータを読み出す際には、前記スタックデータとその反転データを用いる反転二重化処理により該格納エリアのRAM診断処理を実行する。
図1は、本例のRAM診断システムの構成ブロック図である。
図1において、RAM1は、本例のRAM診断システムの診断対象であるRAMを示すものである。
を記憶している。CPU20が、これら各種アプリケーションプログラムを読出・実行することにより、これら各種処理部12〜15の後述する機能処理が実現される。その意味で、これら各種処理部12〜15は、CPU20内に示しても良い。以下の説明では、これら各種処理部12〜15は、CPU20によって読出・実行されるものであることを前提とする。つまり、これら各種処理部12〜15は、ROM10に記憶されたアプリケーションプログラム自体を意味するものではなく、これらプログラムがCPU20によって読出・実行されてなる各種処理機能部を意味するものとする。
図2(a)は、RAM診断管理テーブル11のデータ構成例である。
領域種別とポインタ32(以下の説明ではポインタ32と記す)は、RAM1における
各種データ記憶領域(エリア)の領域種別と先頭アドレスである。例えば、番号31=1のレコードにおいては領域種別(=スタックエリア)とその先頭ポインタが格納され、番号31=2のレコードにおいては領域種別(=反転スタックエリア)とその先頭ポインタが格納される。これより、以下の説明では逐一述べないが、RAM診断管理テーブル11において処理対象のデータ(場合によってはその反転データ)に対応するレコードは、ポインタ32を参照することで判別する。
領域サイズ33は、上記各種データ記憶領域(エリア)のサイズである。
まず、例えばリアルタイムオペレーティングシステム等においては、各タスクに優先度が割り当てられ、タスクの優先度(ここではレベルという)に基づいてタスク実行スケジューリングを行うことが知られている。あるタスクレベルのタスクを実行中に、これよりもレベルが高いタスクを実行可能となった場合には、即座にタスク切替を行うものである。
示す。同図に示す1,2,3等の番号は番号31に相当し、よって例えば図示の番号1はスタックエリア先頭ポインタの位置を意味する。
図3Aは、上記割込関連データ処理部12の処理フローチャート図である。
・DMA終了割込
・スタック割込
・定周期時間割込
まず、本処理が上記何れの割込で起動したものであるのかをステップS1,S6,S8により判定する。すなわち、例えば、スタック割込か否かを判定し(ステップS1)、スタック割込の場合は(ステップS1,YES)ステップS2の処理へ進み、スタック割込でない場合は(ステップS1,NO)ステップS6の処理へ進む。
のタスクを優先して実行させる。
尚、スタック返却の場合におけるステップS5の処理は、上記獲得の場合における同処理とは逆に、例えば現在のスタックポインタが新スタックポインタの位置である場合、これを旧スタックポインタの位置へと移動させるものである。これは反転スタックエリアについても同様である。
DMA終了割込の場合(ステップS6,YES)、ステップS7の処理を行う。違う場合は(ステップS6,NO)ステップS8へ進む。
診断間隔を不図示の各タイマにセットして、何れかのタイマがタイムアップすることで上記定周期時間割込が発生する構成とした場合には、上記ステップS8の判定は必要なく、代わりに例えば「定周期時間割込か?」等の判定を行う。但し、図3Aの処理は、上記3つの割り込みの何れかによって起動されるので、ステップS1,S6の判定がNOで且つ「定周期時間割込か?」の判定がNOとなることは、基本的にあり得ないと考えてよい。尚、「定周期時間割込か?」の判定がYESの場合、ステップS9以降の処理を実行するが、これら処理が完了したら、タイムアップしたタイマを再びセットする必要がある。
スタック割込で図3Aの処理を実行させることで、スタックの獲得処理/返却処理が行われると共に、反転データの生成・書き込みも行われる。そして、上記データ読込処理部14は、アプリケーションデータ/スタックデータの読み出しを行うと共にその際にRAM診断処理を行うものであり、スタックデータの読出しの際にも、上記アプリケーションデータの場合と同様に、反転二重化方式のRAM診断処理を行う。この様に、本装置では、スタックエリアに関しても、反転二重化方式のRAM診断処理を行うことができる。
当該処理は、アプリケーション関数とするか、またはアプリケーションのプログラム内にインライン展開している。
上記の通り、この処理は、アプリケーションによるアプリケーションデータまたはスタックデータの読出し処理の際に実行され、当該処理はアプリケーション関数とするか、またはアプリケーションのプログラム内にインライン展開する。
まずイニシャライズ処理としてRAMにおける診断対象エリアの全Cellを‘0’にする。そして、まず、全CellをビットONした後(‘1’にする)にリード処理を行うことで、全て‘1’であるか否かをチェックする。続いて、全CellをビットOFFした後(‘0’にする)にリード処理を行うことで、全て‘0’であるか否かをチェックする。これらを2度繰り返す。
以上、アブラハム方式について説明したが、上述してあるように、「メモリ読み書き」診断手法はこの例に限るものではない。
がRAM診断処理によって妨害されず、更にリアルタイム性を保って実行することができ、RAM診断に伴う処理性能の低下を防止することができるという効果が得られる。すなわち、本例のRAM診断装置によれば、特にアプリケーションが読み書きするデータであるアプリケーションデータの格納エリア以外にも、各DMAデータ、スタックデータ、固定データ等の各種データ毎の格納エリアを有するRAMに対するRAM診断処理を実行する場合において、上記RAM診断管理テーブル11等に予め登録される上記各種管理情報に基づいて、各格納エリア毎に個別のタイミングで適切な診断手法により診断処理を行うことができ、それによってリアルタイム性が必要な処理がRAM診断処理によって妨害され難くでき、更にRAM診断処理中であっても割り込みを可能とすることで、上記リアルタイム性が必要な処理をリアルタイム性を保って実行させることができる。
つまり、RAM診断管理テーブル11でRAM診断方式と適用RAM領域のサイズが管理されることにより、RAM診断方式から機能安全に係る自己診断率(DC: Diagnostic
Coverage)が予め分かるので、これを上記の通りテーブル11の属性36に登録しておくことで、適用RAM領域のサイズからRAM全体に対する当該診断方式の比率を求めることにより、RAM全体の自己診断率を求めることが容易に可能となる。
RAM全体の自己診断率 = Σ自己診断率i×(領域サイズi/RAM全体領域サイズ)
尚、上記式におけるRAM全体領域サイズは、当然、予め分かっているものであり、予め登録等しておく。また、上記式における“i”は、テーブル11における番号31を意味する。つまり、上記“領域サイズi”、“自己診断率i”とは、番号31=iのレコードにおける領域サイズ33に登録されている領域サイズ、及び属性36に登録されている自己診断率を意味する。例えばi=1であれば、図2(a)に示す例では、領域サイズ=1kバイト、自己診断率=99%である。この様に、テーブル11に予め登録されたデータに基づいて、例えばCPU20等が上記テーブル11のデータや上記の式に基づいてRAM全体の自己診断率の算出処理を行うことができ、RAM全体の自己診断率を容易に求めることができる。
10 ROM
11 RAM診断管理テーブル
12 割込関連データ処理部
13 アプリケーションデータ書込処理部
14 データ読込処理部
15 RAM診断処理部
20 CPU
31 番号
32 領域種別とポインタ
33 領域サイズ
34 診断トリガー
35 診断手法
36 属性
Claims (5)
- アプリケーションが読み書きするデータであるアプリケーションデータの格納エリア以外にも、各DMAデータ、スタックデータの各種データ毎の格納エリアを有するRAMに対するRAM診断処理を実行するRAM診断装置であって、
各種管理情報に基づいて、前記各格納エリア毎にその格納データのリード/ライト制御を行うと共に、前記各格納エリアに対して、その格納エリアのRAM診断を行うものと判定したときに、その格納エリアに対応するRAM診断手法を用いてその格納エリアに対するRAM診断処理を実行するRAM制御/診断処理手段と、
前記RAM制御/診断処理手段に関する前記各種管理情報を予め前記各格納エリアに記憶しておくRAM診断管理情報記憶手段と、
を有することを特徴とするRAM診断装置。 - 前記RAM診断処理手段は、前記RAM診断処理に対して所定のタスクレベルを割り当てて実行し、該RAM診断処理実行中に該RAM診断処理のタスクレベルよりも高いレベルのタスクが発生した場合には、該RAM診断処理を中断して該タスクを実行させることを特徴とする請求項1記載のRAM診断装置。
- 前記各格納エリアのうち前記スタックデータに関する格納エリアは、任意のスタックデータと該スタックデータの反転データである反転スタックデータを格納するものであり、
前記RAM制御/診断処理手段は、スタック割り込み処理によるスタックデータ書き込みの際に、該スタックデータの反転データを生成し、該スタックデータとその反転データとを前記スタックデータに関する格納エリアに格納し、該格納エリアからスタックデータを読み出す際には、前記スタックデータとその反転データを用いる反転二重化処理により該格納エリアのRAM診断処理を実行することを特徴とする請求項1または2記載のRAM診断装置。 - 前記RAM制御/診断処理手段による前記各DMAデータを格納する各格納エリアである各DMAエリア対するRAM診断処理に関しては、前記管理情報に応じて、チェックコードによるRAM診断処理を行うDMAエリアと、定期的に「メモリ読み書き」によるRAM診断処理を行うDMAエリアとがあることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載のRAM診断装置。
- アプリケーションが読み書きするデータであるアプリケーションデータの格納エリア以外にも、各DMAデータ、スタックデータの各種データ毎の格納エリアを有するRAMに対するRAM診断処理を実行するRAM診断装置のコンピュータを、
予め前記各格納エリアに対するRAM制御/診断処理に関する各種管理情報を記憶するRAM診断管理情報記憶手段と、
該各種管理情報に基づいて、前記各格納エリア毎にその格納データのリード/ライト制御を行うと共に、前記各格納エリアに対して、その格納エリアのRAM診断を行うものと判定したときに、その格納エリアに対応するRAM診断手法を用いてその格納エリアに対するRAM診断処理を実行するRAM制御/診断処理手段、
として機能させるためのプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008267863A JP5504604B2 (ja) | 2008-10-16 | 2008-10-16 | Ram診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008267863A JP5504604B2 (ja) | 2008-10-16 | 2008-10-16 | Ram診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010097432A true JP2010097432A (ja) | 2010-04-30 |
JP5504604B2 JP5504604B2 (ja) | 2014-05-28 |
Family
ID=42259063
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008267863A Active JP5504604B2 (ja) | 2008-10-16 | 2008-10-16 | Ram診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5504604B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012104064A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Fuji Electric Co Ltd | Ram故障診断装置、そのプログラム |
JP2014056396A (ja) * | 2012-09-12 | 2014-03-27 | Denso Corp | 電子制御装置 |
US9009549B2 (en) | 2011-02-18 | 2015-04-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Memory diagnostic apparatus and memory diagnostic method and program |
JP2019114244A (ja) * | 2017-12-21 | 2019-07-11 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
JP2021086470A (ja) * | 2019-11-29 | 2021-06-03 | 日立Astemo株式会社 | 電子制御装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62189545A (ja) * | 1986-02-14 | 1987-08-19 | Toshiba Corp | 計算機システムのスタ−ト処理装置 |
JPH03100736A (ja) * | 1989-09-13 | 1991-04-25 | Fujitsu Ltd | パトロール診断装置 |
JPH03149629A (ja) * | 1989-11-07 | 1991-06-26 | Fujitsu Ltd | メモリ試験方式 |
JPH04330549A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-11-18 | Toshiba Corp | 制御装置 |
JPH09293028A (ja) * | 1996-04-26 | 1997-11-11 | Toyota Motor Corp | 半導体記憶装置 |
JPH11136845A (ja) * | 1997-10-31 | 1999-05-21 | Toshiba Corp | ディジタル保護継電器 |
JPH11259374A (ja) * | 1998-03-12 | 1999-09-24 | Nec Corp | メモリ試験装置及び方法及び記録媒体 |
JP2003323353A (ja) * | 2002-05-01 | 2003-11-14 | Denso Corp | メモリ診断装置及び制御装置 |
-
2008
- 2008-10-16 JP JP2008267863A patent/JP5504604B2/ja active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62189545A (ja) * | 1986-02-14 | 1987-08-19 | Toshiba Corp | 計算機システムのスタ−ト処理装置 |
JPH03100736A (ja) * | 1989-09-13 | 1991-04-25 | Fujitsu Ltd | パトロール診断装置 |
JPH03149629A (ja) * | 1989-11-07 | 1991-06-26 | Fujitsu Ltd | メモリ試験方式 |
JPH04330549A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-11-18 | Toshiba Corp | 制御装置 |
JPH09293028A (ja) * | 1996-04-26 | 1997-11-11 | Toyota Motor Corp | 半導体記憶装置 |
JPH11136845A (ja) * | 1997-10-31 | 1999-05-21 | Toshiba Corp | ディジタル保護継電器 |
JPH11259374A (ja) * | 1998-03-12 | 1999-09-24 | Nec Corp | メモリ試験装置及び方法及び記録媒体 |
JP2003323353A (ja) * | 2002-05-01 | 2003-11-14 | Denso Corp | メモリ診断装置及び制御装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012104064A (ja) * | 2010-11-12 | 2012-05-31 | Fuji Electric Co Ltd | Ram故障診断装置、そのプログラム |
US9009549B2 (en) | 2011-02-18 | 2015-04-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Memory diagnostic apparatus and memory diagnostic method and program |
JP2014056396A (ja) * | 2012-09-12 | 2014-03-27 | Denso Corp | 電子制御装置 |
JP2019114244A (ja) * | 2017-12-21 | 2019-07-11 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
JP7155902B2 (ja) | 2017-12-21 | 2022-10-19 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
JP2021086470A (ja) * | 2019-11-29 | 2021-06-03 | 日立Astemo株式会社 | 電子制御装置 |
WO2021106353A1 (ja) * | 2019-11-29 | 2021-06-03 | 日立Astemo株式会社 | 電子制御装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5504604B2 (ja) | 2014-05-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8862953B2 (en) | Memory testing with selective use of an error correction code decoder | |
US20080016415A1 (en) | Evaluation system and method | |
JP2011165164A (ja) | サービス品質に基づくストレージ階層化及び移動技法のためのシステム及び方法 | |
JP5815388B2 (ja) | メモリアクセス制御装置および方法 | |
JP5504604B2 (ja) | Ram診断装置 | |
JP6102515B2 (ja) | 情報処理装置、制御回路、制御プログラム、および制御方法 | |
US20150220394A1 (en) | Memory system and method of controlling memory system | |
US20140164724A1 (en) | Method and apparatus for processing system command during memory backup | |
JP5981906B2 (ja) | 画像形成装置 | |
WO2017162049A1 (zh) | 驱动模块内存数据监测方法及装置 | |
JP5883284B2 (ja) | 半導体メモリ制御装置及び制御方法 | |
JP6306548B2 (ja) | メモリー管理回路、記憶装置、メモリー管理方法、及びメモリー管理プログラム | |
JP5915490B2 (ja) | 電子制御装置 | |
US20150370635A1 (en) | Implementing enhanced wear leveling in 3d flash memories | |
US8516310B2 (en) | Information processing device equipped with write-back cache and diagnosis method for main memory of the same | |
JP4902427B2 (ja) | 履歴情報管理方法及び履歴情報管理システム | |
CN113470725A (zh) | 一种动态随机存储器的测试方法及装置 | |
JP2013149112A (ja) | 記憶媒体の管理方法 | |
JP2010015477A (ja) | フラッシュメモリ制御装置及びフラッシュメモリ制御方法 | |
US9773562B2 (en) | Storage apparatus, flash memory control apparatus, and program | |
US8503241B2 (en) | Electronic apparatus and data reading method | |
JP4562641B2 (ja) | コンピュータシステム、動作状態判定プログラムおよび動作状態判定方法 | |
JP2012203642A (ja) | メモリシステム | |
KR102283739B1 (ko) | 파티션 간 데이터 공유장치 및 공유방법 | |
JP4061911B2 (ja) | メモリチェック方法,方式およびメモリチェックプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110913 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130305 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130426 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130611 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130906 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130913 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131203 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140130 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140218 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140303 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5504604 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |