KR20200073417A - 스마트 카 시스템 - Google Patents

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KR20200073417A
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조호성
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Abstract

본 발명은 스마트 카 시스템에 관한 것으로, 차량의 신뢰성과 관련된 테스트를 수행하여 주행의 안정성을 향상시킬 수 있도록 하는 기술이다. 이러한 본 발명은 테스트 제어 정보, 테스트 조건 정보 및 테스트 결과 정보를 테스트 수준 별로 구분하여 저장하는 테스트 정보 저장부, 센싱정보와, 테스트 제어 정보 및 테스트 조건 정보에 대응하여 신뢰성 테스트를 수행하기 위한 파라미터 값을 결정하고, 파라미터 값에 따라 테스트 인에이블신호를 생성하는 제어부 및 테스트 인에이블신호에 대응하여 저장장치의 특성을 테스트하는 테스트부를 포함한다.

Description

스마트 카 시스템{Smart car system}
본 발명은 스마트 카 시스템에 관한 것으로, 차량의 신뢰성과 관련된 테스트를 수행하여 주행의 안정성을 향상시킬 수 있도록 하는 기술이다.
최근 스마트폰(smart phone), 스마트 패드(smart pad) 등과 같은 이동통신기기의 보급이 확대됨에 따라 차량에 대해서도 인포테인먼트, 텔레매틱스 등 정보통신기술(lT; Information Technology) 융합에 대한 요구가 높아지는 상황이다. 이에 따라, 자동차 산업에서 정보통신기술을 이용하여 운전자에게 안전 및 편의를 제공하는 스마트 카(Smart car)가 주목받고 있다.
통상적으로 스마트 카는 다양한 정보통신기술(ICT; Information and Communications Technologies)이 적용된 자동차를 일컫는다. 이러한 스마트 카는 차량 내 각종 정보들을 통합하여 관리하고 차량 내에서 운전자에게 오락, 정보, 편의기능 등 다양한 콘텐츠를 제공할 수 있다.
스마트 카는 기계 중심으로 발전해 온 자동차 기술에 차세대 전기전자, 정보통신, 지능제어 등의 기술을 접목하였다. 이에 따라, 스마트 카는 자동차 주변과 차량 내 장치들의 정보를 실시간으로 수집하여 차량의 안전성을 증가시키고, 다양한 편의 기능을 추가하여 사용자의 만족도를 높이고 있다.
본 발명의 실시예는 스마트 카의 신뢰성과 관련된 테스트를 수행하고 이를 기록하여 주행의 안전성을 높일 수 있도록 하는 스마트 카 시스템을 제공한다.
본 발명의 실시예에 따른 스마트 카 시스템은, 테스트 제어 정보, 테스트 조건 정보 및 테스트 결과 정보를 테스트 수준 별로 구분하여 저장하는 테스트 정보 저장부; 센싱정보와, 테스트 제어 정보 및 테스트 조건 정보에 대응하여 신뢰성 테스트를 수행하기 위한 파라미터 값을 결정하고, 파라미터 값에 따라 테스트 인에이블신호를 생성하는 제어부; 및 테스트 인에이블신호에 대응하여 저장장치의 특성을 테스트하는 테스트부를 포함한다.
본 발명의 실시예는 스마트 카의 신뢰성과 관련된 테스트를 수행하고 이를 기록하여 주행의 안전성을 높일 수 있도록 하는 효과를 제공한다.
아울러 본 발명의 실시예는 예시를 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 스마트 카 시스템의 구성도.
도 2는 도 1의 제어부에 관한 상세 구성도.
도 3은 도 1의 테스트 정보 저장부에 관한 상세 구성도.
도 4는 도 3의 테스트 결과 저장부에 관한 실시예.
도 5는 도 3의 테스트 제어 정보 저장부에 관한 실시예.
도 6은 도 3의 테스트 조건 저장부에 관한 실시예.
도 7 및 도 8은 도 1의 스마트 카 시스템의 동작을 설명하기 위한 도면.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해 상세히 설명하고자 한다. 본 발명의 실시예를 설명함에 있어서 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 또는 "구비"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함하거나 구비할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체의 기재에 있어서 일부 구성요소들을 단수형으로 기재하였다고 해서, 본 발명이 그에 국한되는 것은 아니며, 해당 구성요소가 복수 개로 이루어질 수 있음을 알 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 스마트 카 시스템의 구성도이다.
본 발명의 실시예에 따른 스마트 카 시스템(10)은 제어부(100), 센서부(200), 테스트 정보 저장부(300), 테스트부(400) 및 저장장치(500)를 포함한다.
여기서, 제어부(100)는 스마트 카 시스템(10)의 전반적인 동작을 제어할 수 있다. 즉, 제어부(100)는 테스트 제어 정보(TCI), 테스트 조건 정보(TTI) 및 센싱정보(SEN)에 대응하여 신뢰성 테스트를 수행하기 위한 파라미터 값을 결정한다. 그리고, 제어부(100)는 결정된 파라미터 값에 따라 테스트부(400)의 동작을 제어하기 위한 테스트 인에이블신호(TEN)를 생성한다. 또한, 제어부(100)는 테스트부(400)로부터 인가되는 테스트 결과 정보(TRI)를 테스트 정보 저장부(300)에 저장한다.
그리고, 센서부(200)는 스마트 카 내의 환경 정보를 센싱하여 센싱정보(SEN)를 제어부(100)에 출력한다. 여기서, 스마트 카 내의 환경 정보는 온도 정보, 전압 정보 중 적어도 어느 하나 이상의 정보를 포함할 수 있다.
테스트 정보 저장부(300)는 스마트 카의 신뢰성 테스트시 필요한 테스트 제어 정보(TCI), 테스트 조건 정보(TTI)를 미리 저장한다. 여기서, 테스트 제어 정보(TCI), 테스트 조건 정보(TTI)는 테스트를 통해 누적된 정보를 토대로 사용자에 의해 미리 세팅될 수 있다. 그리고, 테스트 정보 저장부(300)는 제어부(100)의 제어에 의해 테스트부(400)의 테스트 결과 정보(TRI)를 저장할 수 있다.
본 발명의 실시예에서 테스트 정보 저장부(300)는 전기 퓨즈(Electrical fuse), 비휘발성 메모리, 레지스터 등으로 구현될 수 있다. 전기 퓨즈(Electrical fuse), 비휘발성 메모리 또는 레지스터는 테스트를 통해 결정된 특정 값을 세팅하기 위해 사용될 수 있다. 본 발명의 실시예에서는 테스트 정보 저장부(300)의 정보를 전기 퓨즈, 비휘발성 메모리 또는 레지스터에 저장하는 것을 일 예로 설명하였으나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되는 것이 아니며 저장부의 종류는 충분히 변경될 수 있다.
또한, 테스트부(400)는 제어부(100)로부터 인가되는 테스트 인에이블신호(TEN)에 대응하여 저장장치(500)의 특성을 테스트한다. 그리고, 테스트부(400)는 저장장치(500)의 특성을 테스트하여 테스트 결과 정보(TRI)를 제어부(100)에 출력한다. 여기서, 테스트부(400)는 내장형 자체 테스트(BIST; Built-In Self Test) 회로(410)를 통해 저장장치(500)의 특성을 테스트할 수 있다.
또한, 저장장치(500)는 스마트 카 시스템(10) 내의 정보를 저장하는 저장 매체로 사용될 수 있다. 여기서, 저장장치(500)는 복수개 포함될 수 있으며, 복수의 저장장치(500)는 각각의 채널(CN)을 통해 테스트부(400)와 연결될 수 있다. 그리고, 저장장치(500)는 휘발성 메모리, 비휘발성 메모리 등으로 구현될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 저장장치(500)는 정보를 저장하기 위한 저장 매체가 휘발성 메모리, 비휘발성 메모리 등으로 이루어진 것을 일 예로 설명하였다. 하지만, 본 발명의 실시예에 따른 저장장치(500)의 종류는 이에 국한되지는 않는다.
예를 들어, 본 발명의 실시예에 따른 저장장치(500)는 EEPROM(Electrically Erasable and Programmable ROM), 낸드(NAND) 플래시 메모리, 노어(NOR) 플래시 메모리, PRAM(Phase-Change RAM), ReRAM(Resistive RAM) FRAM(Ferroelectric RAM), STT-MRAM(Spin Torque Transfer Magnetic RAM) 등과 같은 다양한 비휘발성 메모리 소자를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 저장장치(500)는 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive; SSD), 멀티 미디어 카드(Multi Media Card; MMC), 내장 멀티 미디어 카드(Embedded MMC; eMMC), RS-MMC(Reduced Size MMC), 마이크로(micro)-MMC 형태의 멀티미디어 카드(multimedia card), SD(Secure Digital), 미니(mini)-SD, 마이크로(micro)-SD 형태의 시큐어 디지털(secure digital) 카드, USB(universal storage bus) 저장 장치, UFS(universal flash storage) 장치, PCMCIA(personal computer memory card international association) 카드 형태의 저장 장치, PCI(peripheral component interconnection) 카드 형태의 저장 장치, PCI-E(PCI-express) 카드 형태의 저장 장치, CF(compact flash) 카드, 스마트 미디어(smart media) 카드, 메모리 스틱(memory stick) 등과 같은 다양한 종류의 저장 장치들 중 어느 하나로 구성될 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 저장장치(500)는 다양한 종류의 패키지(package) 형태들 중 어느 하나로 제조될 수 있다. 예를 들어, 저장장치(500)는 POP(package on package), SIP(system in package), SOC(system on chip), MCP(multi-chip package), COB(chip on board), WFP(wafer-level fabricated package), WSP(wafer-level stack package) 등과 같은 다양한 종류의 패키지 형태들 중 어느 하나로 구현될 수 있다.
이상에서와 같이, 본 발명의 실시예는 테스트 정보 저장부(300)에 저장된 테스트 제어 정보(TCI), 테스트 조건 정보(TTI) 등에 기반하여 저장장치(500)의 특성을 테스트하고, 저장장치(500)의 테스트 결과 정보(TRI)를 테스트 정보 저장부(300)에 누적하여 저장함으로써, 저장장치(500)의 신뢰성을 테스트할 수 있다. 또한, 본 발명의 실시예는 테스트부(400)의 테스트 결과 정보(TRI)를 이전의 테스트 결과와 비교하여 테스트 결과를 외부에 전송할 수 있다.
도 2는 도 1의 제어부(100)에 관한 상세 구성도이다.
제어부(100)는 테스트 정보 제어부(110), 파라미터 결정부(120), 테스트 제어부(130) 및 테스트 정보 전송부(140)를 포함한다.
여기서, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 정보 저장부(300)로부터 테스트 제어 정보(TCI), 테스트 조건 정보(TTI)를 리드하여 테스트 정보(TI)를 파라미터 결정부(120)에 출력한다. 그리고, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트부(400)로부터 인가되는 테스트 결과 정보(TRI)를 테스트 정보 저장부(300)에 저장한다. 그리고, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 정보 저장부(300)의 테스트 결과 정보(TRI)를 리드하여 신뢰성 테스트 동작의 실행 여부를 결정한다. 또한, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 정보 전송부(140)를 통해 출력 정보(TOUT)를 외부 모니터링 장치(미도시)에 전송할 수 있다.
또한, 테스트 정보 제어부(110)는 비교부(111)를 포함할 수 있다. 비교부(111)는 테스트 정보 저장부(300)에 저장된 기존의 테스트 결과 정보(TRI)와 테스트부(400)로부터 인가되는 테스트 결과 정보(TRI)를 비교한다. 비교부(111)는 테스트 정보 저장부(300)에 저장된 기존의 테스트 결과 정보(TRI)와 테스트부(400)로부터 인가되는 테스트 결과 정보(TRI)를 비교하여 추가적인 불량이 발생한 경우 이 정보를 테스트 정보 저장부(300)에 누적하여 기록한다. 그리고, 테스트 정보 제어부(110)는 비교부(111)를 통해 검출된 추가적인 불량 발생 정보를 출력 정보(TOUT)로 변환하여 테스트 정보 전송부(140)에 전달할 수 있다.
또한, 파라미터 결정부(120)는 테스트 정보 제어부(110)로부터 인가되는 테스트 정보(TI)와 센서부(200)로부터 인가되는 센싱정보(SEN)에 대응하여 신뢰성 테스트를 수행하기 위한 파라미터 값(PARA)을 결정한다. 여기서, 파라미터 값(PARA)는 저장장치(500)의 동작과 관련된 파라미터일 수 있다. 일 예로, 파라미터 결정부(120)는 센서부(200)의 센싱정보(SEN)가 온도 정보인 경우, 각 온도에 대응하여 신뢰성 수준 별로 저장장치(500)의 데이터 유지 시간을 결정할 수 있다.
그리고, 테스트 제어부(130)는 파라미터 결정부(120)에서 결정된 파라미터 값(PARA)에 따라 테스트부(400)의 동작을 제어하기 위한 테스트 인에이블신호(TEN)를 생성한다. 예를 들어, 테스트 제어부(130)는 파라미터 값(PARA)에 대응하여 테스트부(400)의 AC 타이밍(테스트부가 테스트 동작을 수행하는 액세스 타이밍)을 제어할 수 있다.
도 3은 도 1의 테스트 정보 저장부(300)에 관한 상세 구성도이다.
테스트 정보 저장부(300)는 테스트 결과 저장부(310), 테스트 제어 정보 저장부(320) 및 테스트 조건 저장부(330)를 포함한다.
여기서, 테스트 결과 저장부(310)는 테스트 정보 제어부(110)로부터 인가되는 테스트 결과 정보(TRI)를 저장한다. 그리고, 테스트 정보 제어부(110)의 제어에 따라 테스트 결과 저장부(310)에 저장된 테스트 결과 정보(TRI)가 리드될 수 있다.
그리고, 테스트 제어 정보 저장부(320)는 테스트부(400)를 제어하기 위한 테스트 제어 정보(TCI)가 저장된다. 또한, 테스트 조건 저장부(330)는 테스트부(400)를 어떤 상태로 제어할지에 대한 테스트 조건 정보(TTI)를 저장한다.
도 4는 도 3의 테스트 결과 저장부(310)에 관한 실시예이다.
본원발명의 실시예에서 테스트 결과 저장부(310)는 각 테스트 케이스에 대해 테스트 결과 정보(TRI)를 테스트 수준 별로 구분하여 테이블 형태로 저장할 수 있다. 여기서, 테스트 수준은 여러 가지 조건의 테스트 결과를 누적하여 스펙(Specification)으로 미리 설정할 수 있다.
예를 들어, 각 테스트 케이스(CASE1~CASE5)에 대응하여 테스트 수준을 '저수준', '중수준', '고수준'으로 구분할 수 있다. 여기서, '저수준'은 신뢰성 수준이 높을 필요가 없는 경우 테스트 수준을 낮게 설정한 것을 의미한다. 그리고, '중수준'은 신뢰성 수준이 보통인 경우 테스트 수준을 노말하게 설정한 것을 의미한다. 또한, '고수준'은 높은 신뢰성을 필요로 하는 경우 테스트 수준을 높게 설정한 것을 의미한다.
도 4의 실시예를 참조하면, 각 테스트 케이스(CASE1~CASE5)에 대응하여 '저수준', '중수준'에서는 모두 '패스(PASS)'된 테스트 결과를 기록할 수 있다. 그리고, 각 테스트 케이스(CASE1~CASE5) 중 케이스 2,3,5(CASE2, CASE3, CASE5)에 대해서는 '고수준'에서 '패스' 된 테스트 결과를 기록하고, 케이스 1,4(CASE1, CASE4)에 대해서는 '고수준'에서 '패일(FAIL)' 된 테스트 결과를 기록할 수 있다.
이에 따라, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 결과 저장부(310)에 저장된 위의 테스트 결과 정보(TRI)를 토대로 '저수준', '중수준' 레벨에서는 저장장치(500)의 신뢰성에 문제가 없는 것으로 판단할 수 있다. 그리고, 테스트 정보 제어부(110)는 '고수준' 레벨에서는 케이스 1,4(CASE1, CASE4)의 경우에 저장장치(500)의 신뢰성에 문제가 발생한 것으로 판단할 수 있다.
도 5는 도 3의 테스트 제어 정보 저장부(320)에 관한 실시예이다.
본원발명의 실시예에서 테스트 제어 정보 저장부(320)는 각 테스트 케이스에 대해 테스트가 필요한 테스트 제어 정보(TCI)를 테스트 수준 별로 구분하여 테이블 형태로 저장할 수 있다.
예를 들어, 각 테스트 케이스(CASE1~CASE5)에 대응하여 테스트 수준을 '저수준', '중수준', '고수준'으로 구분할 수 있다. 그리고, '저수준'에서는 테스트 케이스(CASE1~CASE5) 중 케이스 1,2,4(CASE1, CASE2, CASE4)를 선택하여 필요한 테스트 정보를 저장할 수 있다. 그리고, '중수준'에서는 테스트 케이스(CASE1~CASE5) 중 케이스 1,2(CASE1, CASE2)를 선택하여 필요한 테스트 정보를 저장할 수 있다. 또한, '고수준'에서는 테스트 케이스(CASE1~CASE5) 중 케이스 1,2,4(CASE1, CASE2, CASE4)를 선택하여 필요한 테스트 정보를 저장할 수 있다.
이에 따라, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 결과 저장부(310)에서 리드된 테스트 제어 정보(TCI)를 토대로 '저수준', '고수준' 레벨에서는 테스트가 필요한 케이스 1,2,4(CASE1, CASE2, CASE4)에 대한 테스트 정보(TI)를 파라미터 결정부(120)에 출력할 수 있다. 그리고, 테스트 정보 제어부(110)는 '중수준' 레벨에서는 테스트가 필요한 케이스 1,2(CASE1, CASE2)에 대한 테스트 정보(TI)를 파라미터 결정부(120)에 출력할 수 있다.
도 6은 도 3의 테스트 조건 저장부(330)에 관한 실시예이다.
본원발명의 실시예에서 테스트 조건 저장부(330)는 각 테스트 케이스에 대해 테스트 조건 정보(TTI)를 테스트 수준 별로 구분하여 테이블 형태로 저장할 수 있다. 도 6의 실시예에서는 각 테스트 케이스를 온도로 설정하고, 신뢰성에 관련된 조건 중 리프레쉬 특성을 테스트하기 위한 조건을 테스트 수준 별로 구분한다.
예를 들어, 각 온도 조건(온도 A~온도 E)에 대응하여 테스트 수준을 '저수준', '중수준', '고수준'으로 구분할 수 있다. 그리고, '저수준'에서는 각 온도 조건(온도 A~온도 E)에 대응하여 리프레쉬 특성을 5**ms, 2**ms, 8*ms, 4*ms, 2*ms 속도로 설정할 수 있다. 그리고, '중수준'에서는 각 온도 조건(온도 A~온도 E)에 대응하여 리프레쉬 특성을 4**ms, 1**ms, 7*ms, 3*ms, 1*ms 속도로 설정할 수 있다. 또한, '고수준'에서는 각 온도 조건(온도 A~온도 E)에 대응하여 리프레쉬 특성을 4**ms, 1**ms, 6*ms, 3*ms, 1*ms 속도로 설정할 수 있다.
여기서, 온도 조건에 대응하는 리프레쉬 특성은 여러 가지 조건의 테스트 결과를 누적하여 스펙(Specification)으로 미리 설정할 수 있다. 그리고, *의 표시는 숫자 0 또는 숫자 0 보다 큰 자연수(Natural number)를 나타낼 수 있다. 본 발명의 실시예에서는 리프레쉬 특성을 두 자리수의 속도(예를 들어 20ms) 부터 세 자리수 속도(예를 들어, 599ms)의 범위까지로 설명하였으나, 이는 일 예일 뿐, 리프레쉬 특성에 대한 속도 범위는 한정되지 않는다.
이에 따라, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 조건 저장부(330)에서 리드된 테스트 조건 정보(TTI)를 토대로 '저수준' 레벨에서는 리프레쉬 주기를 비교적 길게 설정하여 리프레쉬 특성을 테스트 하기 위한 테스트 정보(TI)를 파라미터 결정부(120)에 출력할 수 있다. 그리고, 테스트 정보 제어부(110)는 '고수준' 레벨에서는 리프레쉬 주기를 비교적 짧게 설정하여 리프레쉬 특성을 테스트 하기 위한 테스트 정보(TI)를 파라미터 결정부(120)에 출력할 수 있다.
본 발명의 실시예에서는 테스트 조건 정보(TTI)를 온도에 따른 리프레쉬 주기에 대응하여 설정하였다. 하지만, 본 발명의 실시예는 이에 한정되는 것이 아니며, 테스트 조건 정보(TTI)가 전압에 따른 리드 소요 시간, 즉, tAA(어드레스 액세스 타임)에 대응하여 설정될 수도 있고, 다른 조건에 의해 설정될 수도 있다.
도 7은 도 1의 스마트 카 시스템(10)의 동작을 설명하기 위한 도면이다. 도 7의 흐름도를 참조하여 스마트 카 시스템의 동작을 상세히 설명하기로 한다.
먼저, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 정보 저장부(300)에 저장된 이전의 테스트 결과 정보(TRI)를 리드한다.(단계 S1) 그리고, 테스트 정보 제어부(110)는 각각의 테스트 케이스(CASE1~CASE5)에 대해 이전의 테스트 결과 정보(TRI)가 정상(PASS)인지의 여부를 판단하여 신뢰성 테스트의 실행 여부를 결정한다.(단계 S2)
테스트 정보 제어부(110)는 이전의 테스트 결과 정보(TRI)가 패일(FAIL)인 경우 신뢰성 테스트를 실행하지 않는다. 그리고, 테스트 정보 제어부(110)는 이전의 테스트 결과가 패일(FAIL)임을 나타내는 출력 정보(TOUT)를 테스트 정보 전송부(140)를 통해 외부에 전송하고 테스트 동작을 종료한다.(단계 S3) 여기서, 테스트 정보 제어부(110)가 신뢰성 테스트의 실행 여부를 판단하기 위한 기준은 여러 가지로 설정될 수 있다.
예를 들어, 테스트 정보 제어부(110)는 도 4에서와 같이 테스트 결과 저장부(310)에 저장된 테스트 결과 정보(TRI) 중 '중수준'에서 패일의 존재 여부에 따라 신뢰성 테스트의 실행 여부를 결정할 수 있다. 다른 예로, 테스트 정보 제어부(110)는 도 4에서와 같이 테스트 결과 저장부(310)에 저장된 테스트 결과 정보(TRI) 중 '중수준'에서 패일(FAIL)의 개수를 기준으로 신뢰성 테스트의 실행 여부를 결정할 수 있다.
반면에, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 결과 정보(TRI)가 정상(PASS)인 경우 테스트 정보 저장부(300)로부터 테스트 제어 정보(TCI), 테스트 조건 정보(TTI)를 리드하여 어떠한 신뢰성 테스트를 수행할지에 대한 테스트 정보(TI)를 수집한다.(단계 S4)
이후에, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 정보 저장부(300)로부터 리드된 테스트 제어 정보(TCI), 테스트 조건 정보(TTI)에 대응하여 테스트 케이스(CASE1~CASE5)를 순차적으로 변경한다.(단계 S5) 본 발명의 실시예에서는 테스트 정보 제어부(110)가 테스트 케이스(CASE1~CASE5)를 순차적으로 변경하여 테스트를 수행하는 것을 일 예로 설명하였다. 하지만, 본 발명의 실시예는 이에 한정되는 것이 아니며, 테스트 케이스의 실행 순서는 충분히 변경이 가능하다.
그리고, 파라미터 결정부(120)는 테스트 정보(TI)와 센싱정보(SEN)에 대응하여 각 테스트 케이스(CASE1~CASE5) 별로 테스트를 위한 파라미터 값(PARA)을 변경한다. 테스트 제어부(130)는 파라미터 결정부(120)로부터 인가되는 파라미터 값(PARA)에 대응하여 테스트 인에이블신호(TEN)를 선택적으로 활성화시킨다.
그리고, 테스트부(400)는 테스트 인에이블신호(TEN)의 활성화시 각 테스트 케이스(CASE1~CASE5) 별로 저장장치(500)를 테스트한다.(단계 S6) 이어서, 테스트부(400)는 테스트 동작에 대응하는 테스트 결과 정보(TRI)를 테스트 정보 제어부(110)에 출력한다.
다음에, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 결과 정보(TRI)가 정상(PASS) 상태인지 패일(FAIL) 상태인지의 여부를 판단한다.(단계 S7) 만약, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 결과 정보(TRI)가 정상이 아니고 패일(FAIL) 상태인 경우 테스트 정보 저장부(300)에 테스트 결과 정보(TRI)를 누적하여 저장하고(단계 S8) S9 단계로 진입한다. 반면에, 테스트 정보 제어부(110)는 테스트 결과 정보(TRI)가 정상(PASS) 상태인 경우, 모든 테스트 케이스(CASE1~CASE5)에 대해 테스트 동작이 수행되었는지의 여부를 판단한다.(단계 S9)
만약, 모든 테스트 케이스(CASE1~CASE5)에 대해 테스트 동작이 완료된 경우, 비교부(111)는 테스트 정보 저장부(300)에 저장된 이전의 테스트 결과 정보(TRI)와 테스트부(400)로부터 인가되는 테스트 결과 정보(TRI)를 비교한다.(단계 S10) 반면에, 테스트 정보 제어부(110)는 모든 케이스에 대해 테스트 동작이 수행되지 않은 경우 단계 S5로 피드백하여 테스트 케이스를 변경한다.
테스트 정보 제어부(110)는 비교부(111)의 비교 결과를 판단하여 패일(FAIL)이 된 케이스가 증가하였는지의 여부를 판단한다.(단계 S11) 테스트 정보 제어부(110)는 패일(FAIL)이 된 케이스가 증가한 경우 테스트 정보 전송부(140)를 통해 패일이 된 케이스가 증가하였다는 출력 정보(TOUT)를 테스트 정보 전송부(140)를 통해 외부에 전송한다.(단계 S12) 그리고, 테스트 정보 제어부(110)는 패일(FAIL)이 된 케이스가 증가한 경우 이에 대한 정보를 테스트 정보 저장부(300)에 저장한다.(단계 S13) 반면에, 테스트 정보 제어부(110)는 패일(FAIL)이 된 케이스가 증가하지 않은 경우 테스트 동작을 종료한다.
도 8은 도 1의 스마트 카 시스템(10)의 동작을 설명하기 위한 도면이다. 도 8의 실시예에서는 저장장치(500)가 자동 주행, 주행 보조와 관련된 동작에 적용되는 것을 일 예로 설명하기로 한다.
스마트 카에서 자동 주행, 주행 보조와 관련된 기능이 부가되면서 차량 및 주변 환경에 대한 정보를 저장하기 위한 저장장치(500)의 수요도 증가하고 있다. 특히, 자동 주행, 주행 보조 등의 기능이 오동작 되는 경우 인명 피해나 큰 재산 피해를 유발할 수 있다.
스마트 카에서 자동 주행이나 주행 보조 등의 기능은 저장장치(500)에 저장된 정보를 기반으로 제어하게 된다. 이에 따라, 스마트 카에서 사용되는 저장장치(500)는 높은 신뢰성이 요구된다. 그런데, 저장장치(500)를 구현하기 위한 공정이 미세화됨에 따라 저장장치(500)가 높은 신뢰성을 확보하는 것이 어려워지고 있는 실정이다.
이에, 본 발명의 실시예는 테스트 정보 저장부(300)에 저장된 테스트 제어 정보(TCI), 테스트 조건 정보(TTI) 등에 기반하여 자동 주행과 관련된 디바이스(예를 들어, 저장장치(500)의 특성을 먼저 테스트한다.(단계 S20) 본 발명의 실시예에서 저장장치(500)의 신뢰성을 테스트 하는 동작은 스마트 카에서 자동 주행, 주행 보조 등이 실행되기 이전에 수행될 수 있다.
만약, 신뢰성 테스트 결과 모든 다비이스가 정상인 경우(단계 S21), 스마트 카의 운행 모드가 '자동 주행 모드'로 변경되어 자동 주행 동작이 실행될 수 있다.(단계 S22) 본 발명의 실시예는 테스트부(400)의 테스트 결과 정보(TRI)를 이전의 테스트 결과와 비교하여 테스트 결과를 외부에 전송할 수 있다. 즉, 본 발명의 실시예는 불량이 발생한 디바이스에 관련된 정보를 외부에 전송할 수 있다.(단계 S23)
이에 따라, 본 발명의 실시예는 스마트 카의 동작이 실행되기 이전에 불량이 발생하고 있는 상태를 사용자가 미리 인지하도록 하여, 신뢰성이 요구되는 동작의 실행 여부를 결정할 수 있도록 한다. 즉, 자동 주행, 주행 보조 등 신뢰성과 관련된 디바이스의 불량을 테스트하여 불량이 발생한 경우 스마트 카의 운행 모드가 '자동 주행 불가 모드'로 변경되어 자동 주행이 불가능하다는 것을 판단할 수 있다.(단계 S24)
본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있으므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

Claims (20)

  1. 테스트 제어 정보, 테스트 조건 정보 및 테스트 결과 정보를 테스트 수준 별로 구분하여 저장하는 테스트 정보 저장부;
    센싱정보와, 상기 테스트 제어 정보 및 상기 테스트 조건 정보에 대응하여 신뢰성 테스트를 수행하기 위한 파라미터 값을 결정하고, 상기 파라미터 값에 따라 테스트 인에이블신호를 생성하는 제어부; 및
    상기 테스트 인에이블신호에 대응하여 저장장치의 특성을 테스트하는 테스트부를 포함하는 스마트 카 시스템.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 테스트 정보 저장부는
    전기 퓨즈, 비휘발성 메모리 및 레지스터 중 어느 하나를 포함하는 스마트 카 시스템.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 테스트 정보 저장부는
    상기 테스트 결과 정보를 저장하는 테스트 결과 저장부;
    상기 테스트 제어 정보를 저장하는 테스트 제어 정보 저장부; 및
    상기 테스트 조건 정보를 저장하는 테스트 조건 저장부를 포함하는 스마트 카 시스템.
  4. 제 3항에 있어서, 상기 테스트 결과 저장부는
    상기 각각의 테스트 케이스에 대해 상기 테스트 수준을 저수준, 중수준, 고수준으로 구분하여 상기 테스트 결과 정보를 저장하는 스마트 카 시스템.
  5. 제 3항에 있어서, 상기 테스트 제어 정보 저장부는
    상기 각각의 테스트 케이스에 대해 상기 테스트 수준을 저수준, 중수준, 고수준으로 구분하여 상기 테스트 제어 정보를 저장하는 스마트 카 시스템.
  6. 제 3항에 있어서, 상기 테스트 조건 저장부는
    상기 각각의 테스트 케이스에 대해 상기 테스트 수준을 저수준, 중수준, 고수준으로 구분하여 상기 테스트 조건 정보를 저장하는 스마트 카 시스템.
  7. 제 1항에 있어서, 상기 제어부는
    상기 테스트부로부터 인가되는 상기 테스트 결과 정보를 상기 테스트 정보 저장부에 저장하는 스마트 카 시스템.
  8. 제 1항에 있어서, 상기 제어부는
    상기 테스트 제어 정보, 상기 테스트 조건 정보를 리드하여 테스트 정보를 생성하고, 상기 테스트부로부터 인가되는 상기 테스트 결과 정보를 상기 테스트 정보 저장부에 저장하는 테스트 정보 제어부;
    상기 테스트 정보와 상기 센싱정보에 대응하여 상기 파라미터 값을 결정하는 파라미터 결정부; 및
    상기 파라미터 값에 따라 상기 테스트 인에이블신호를 생성하는 테스트 제어부를 포함하는 스마트 카 시스템.
  9. 제 8항에 있어서, 상기 테스트 정보 제어부는
    상기 테스트 정보 저장부에 저장된 이전의 테스트 결과 정보를 리드하여 테스트 결과가 모두 정상인 경우 상기 신뢰성 테스트를 실행하는 스마트 카 시스템.
  10. 제 8항에 있어서, 상기 테스트 정보 제어부는
    상기 테스트 정보 저장부에 저장된 이전의 테스트 결과 정보를 리드하여 테스트 결과가 패일인 경우 상기 신뢰성 테스트를 패스하고 상기 이전의 테스트 결과 정보를 외부로 전송하는 스마트 카 시스템.
  11. 제 8항에 있어서, 상기 테스트 정보 제어부는
    상기 테스트 결과 정보 중 특정 테스트 수준에서 패일의 존재 여부, 패일의 개수 중 적어도 어느 하나의 정보에 따라 상기 신뢰성 테스트의 실행 여부를 결정하는 스마트 카 시스템.
  12. 제 8항에 있어서, 상기 테스트 정보 제어부는
    상기 테스트 정보 저장부에 저장된 상기 테스트 결과 정보와 상기 테스트부로부터 인가되는 테스트 결과를 비교하는 비교부를 더 포함하는 스마트 카 시스템.
  13. 제 8항에 있어서, 상기 테스트 정보 제어부는
    상기 비교부의 비교 결과를 상기 테스트 정보 저장부에 누적하여 기록하고 상기 비교 결과를 외부로 전송하는 스마트 카 시스템.
  14. 제 8항에 있어서, 상기 테스트 정보 제어부는
    상기 각각의 테스트 케이스를 순차적으로 변경하는 스마트 카 시스템.
  15. 제 8항에 있어서, 상기 제어부는
    상기 테스트 정보에 대응하는 출력정보를 외부에 출력하는 테스트 정보 전송부를 더 포함하는 스마트 카 시스템.
  16. 제 1항에 있어서,
    상기 차량의 환경에 대응하는 정보를 센싱하여 상기 센싱정보를 생성하는 센서부를 더 포함하는 스마트 카 시스템.
  17. 제 1항에 있어서,
    상기 센싱정보는 온도, 전압 중 어느 하나의 정보를 포함하는 스마트 카 시스템.
  18. 제 1항에 있어서,
    상기 테스트부는 내장형 자체 테스트(BIST; Built-In Self Test) 회로를 포함하는 스마트 카 시스템.
  19. 제 1항에 있어서, 상기 저장장치는
    휘발성 메모리, 비휘발성 메모리 중 적어도 어느 하나를 포함하는 스마트 카 시스템.
  20. 제 1항에 있어서, 상기 저장장치는
    복수개 포함될 수 있으며 각각의 채널을 통해 상기 테스트부와 연결되는 스마트 카 시스템.
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