CN111324103B - 智能车辆系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种智能车辆系统，其涉及通过执行与车辆的可靠性相关的测试来提高车辆的驾驶稳定性的技术。智能车辆系统包括测试信息储存电路、控制器和测试电路。测试信息储存电路根据多个测试级别来对测试控制信息、测试条件信息和测试结果信息进行分类，并且将已分类的测试结果信息储存在其中。控制器响应于感测信息、测试控制信息和测试条件信息来确定用于执行可靠性测试的至少一个参数值，并且响应于所述参数值来产生测试使能信号。测试电路响应于测试使能信号来对储存设备的特性进行测试。

Description

智能车辆系统

相关申请的交叉引用

本申请要求2018年12月14日提交的申请号为10-2018-0161535的韩国专利申请的优先权，其公开内容通过引用整体合并于此。

技术领域

本公开的实施例总体而言可以涉及一种智能车辆以及操作智能车辆和智能车辆系统的方法，并且更具体地，涉及一种具有通过执行与可靠的车辆操作有关的测试来提高车辆的驾驶稳定性和可靠性的技术的智能车辆系统。

背景技术

近来，随着在全世界范围内广泛使用各种移动通信设备(诸如智能手机、平板电脑等)，对信息技术(IT)融合以及跨设备和平台的数字信息统一的需求也在增加。例如，对车辆内的资讯娱乐、远程信息处理等的需求正在迅速增加。因此，许多开发商和公司已经将注意力集中在智能车辆技术上，以使用可用于车辆行业的信息通信技术为驾驶员和乘客提供更高的安全性、可靠性、便利性和舒适性。

作为车辆的非限制性示例，智能车辆可以指应用和/或安装了各种信息和通信技术(ICT)的轿车、卡车或汽车。智能车辆可以组合或收集各种车载信息，可以管理统一的车载信息，并且可以为驾驶员和乘客提供各种内容和数据，例如娱乐相关内容、信息内容、便利相关内容等。

智能车辆通过将传统的基于机械的车辆技术与现代技术(例如，下一代电气和电子技术、信息通信技术、智能控制技术、人工智能技术等)相结合而开发。因此，智能车辆能够实时收集关于车辆本身、其内部环境和车辆周边区域的信息(其包括关于车载设备的信息)，使得这种信息可以提高智能车辆的操作可靠性和稳定性。此外，智能车辆包括能够利用所述信息而增强的操作和各种与便利相关或舒适相关的功能，从而提高用户满意度或舒适度。

发明内容

本公开的各种实施例旨在提供一种车辆中的智能车辆系统以及操作车辆和智能车辆系统的方法，该智能车辆系统基本上消除了由于现有技术的限制和缺点导致的一个或更多个问题。

本公开的实施例涉及一种具有智能车辆系统的智能车辆，所述智能车辆系统执行与智能车辆的操作可靠性或稳定性相关的测试、记录测试结果，目的是提高智能车辆的操作稳定性或可靠性，以及涉及操作智能车辆以实现目标的方法。虽然本文中的实施例是关于智能轿车描述的，但是应该理解，本公开的范围不限于此，并且包括本领域普通技术人员已知的其他智能车辆。

根据本公开的一个实施例，智能车辆系统包括：测试信息储存电路，其被配置为根据多个测试级别来对测试控制信息、测试条件信息和测试结果信息进行分类，以及将已分类的测试结果信息储存在其中；控制器，其被配置为响应于感测信息、测试控制信息和测试条件信息来确定用于执行可靠性测试的至少一个参数值，并且响应于所述参数值来产生测试使能信号；以及测试电路，被配置为响应于测试使能信号对储存设备的特性进行测试。

应理解，本公开的前述一般性描述和以下详细描述都是示例性和说明性的，并且旨在提供对要求保护的本公开的进一步说明。

附图说明

当结合附图考虑时，通过参考以下详细描述，本公开的上述和其他特征和优点将变得显而易见，其中：

图1是示出根据本公开的一个实施例的智能车辆中的智能车辆系统的示例的框图。

图2是示出根据本公开的一个实施例的图1中所示的控制器的示例的框图。

图3是示出根据本公开的一个实施例的图1中所示的测试信息储存电路的示例的框图。

图4是示出根据本公开的一个实施例的图3中所示的测试结果储存电路的示例的概念图。

图5是示出根据本公开的一个实施例的图3中所示的测试控制信息储存电路的示例的概念图。

图6是示出根据本公开的一个实施例的图3中所示的测试条件储存电路的示例的概念图。

图7和图8是示出根据本公开的实施例的操作具有图1中所示的智能车辆系统的智能车辆的方法的流程图。

具体实施方式

现在将详细参考本公开的实施例，其示例在附图中示出。只要有可能，在整个附图中使用相同的附图标记就表示相同或相似的部分。贯穿本公开的说明书，如果假设某个部件连接(或耦接)到另一个部件，则术语“连接或耦接”意指该特定部件直接连接(或耦接)到另一个部件和/或通过另一媒介电连接(或耦接)到另一部件。贯穿本公开的说明书，如果假设某个部件包括某个组件，则术语“包括”、“具有”或“包含”意指对应的组件还可以包括其他组件，除非写入了与对应的组件抵触的特定含义。如说明书和所附权利要求中所使用的，术语“一”、“一个”、“一种”、“所述”、“该”和其他类似术语包括单数和复数形式，除非上下文另有明确规定。本申请中使用的术语仅用于描述特定实施例，并不旨在限制本公开。除非在上下文中另有说明，否则单数的表达可以包括复数的表达。

图1是示出根据本公开的一个实施例的智能车辆的智能车辆系统10的框图。

参考图1，智能车辆包括智能车辆系统10，该智能车辆系统可以包括控制器100、传感器电路200、测试信息储存电路300、测试电路400和储存设备500。

控制器100可以控制智能车辆系统10的整体操作。控制器100可以响应于测试控制信息TCI、测试条件信息TTI和感测信息SEN来确定至少一个参数，所述参数具有用于与车辆的操作可靠性相关的测试的相关值。控制器100可以产生用于控制测试电路400的操作的测试使能信号TEN，所述测试使能信号与所确定的参数有关。另外，控制器100可以将从测试电路400接收的测试结果信息TRI储存在测试信息储存电路300中。

传感器电路200可以通过检测关于智能车辆的内部环境的信息(下文中，被称为“智能车内环境信息”)来获取感测信息SEN，并且可以将所获取的感测信息SEN输出到控制器100。智能车内环境信息可以包括例如环境舱温度信息和电压信息。当然，本公开还考虑了切换对其他参数的选择的其他感测信息。

传感器电路200可以检测智能车中的电子设备的温度或电压。例如，传感器电路200可以基于提供给电子设备的温度测量电阻元件(诸如热敏电阻)的电阻值或者基于根据由半导体的温度引起的特性变化而执行测量的温度测量方式来检测电子设备的温度。当诊断电路正在执行每个测试时，传感器电路200可以检测电子设备的温度。传感器电路200可以在电子设备的实际操作期间以恒定间隔检测温度变化并保持。

测试信息储存电路300可以预先储存测试控制信息TCI和测试条件信息TTI。测试控制信息TCI和测试条件信息TTI用于执行与车辆的操作可靠性或稳定性相关的测试，并且可以由智能车辆的用户或制造商从一开始或者基于通过测试积累的信息来预先设定或预先确定。在控制器100的控制下，测试信息储存电路300可以储存测试电路400的测试结果信息TRI。

作为非限制性示例，测试信息储存电路300可以被实施为电熔丝、非易失性存储器或寄存器等。电熔丝、非易失性存储器或寄存器可以采用特定的预定值来实施，或者它们可以被设置为作为测试结果的值。尽管为了便于描述和更好地理解本公开，本公开的实施例作为示例已经公开了测试信息储存电路300中的信息被储存在电熔丝、非易失性存储器和寄存器中的任意一种之中，但是本公开的范围或精神不限于此，并且应当注意，各种储存电路也可以根据需要或根据期望被用于本文的实施例中。

测试电路400可以响应于从控制器100接收的测试使能信号TEN来测试储存设备500的特性，诸如设备的操作和/或储存在设备中的数据。测试电路400可以测试储存设备500的特性，并且可以将测试结果信息TRI输出到控制器100。测试电路400可以使用嵌入式内建自测试(BIST)电路410来测试储存设备500的特性。

储存设备500可以用作智能车辆系统10的储存媒介。储存设备500可以实施为多个储存设备500，并且多个储存设备500可以通过多个相应的通道CN耦接到测试电路400。储存设备500可以被实施为易失性存储器、非易失性存储器等。

在本公开的实施例中，为便于描述并且更好地理解本公开，已经作为示例公开了储存设备500(作为用于储存信息的储存媒介)被实施为易失性存储器或非易失性存储器等。然而，根据本公开的实施例的储存设备500的范围或精神不限于此。

例如，作为非限制性示例，根据本公开的其他实施例的储存设备500可以包括各种非易失性存储器件，诸如电可擦除可编程ROM(EEPROM)、NAND快闪存储器、NOR快闪存储器、相变RAM(PRAM)、电阻式RAM(ReRAM)、铁电RAM(FRAM)和自旋扭矩转移磁性RAM(STT-MRAM)。

作为又一非限制性示例，根据本公开的又一实施例的储存设备500可以被实施为如下各种储存设备中的任意一种，诸如固态驱动器(SSD)、多媒体卡(MMC)、嵌入式MMC(eMMC)、缩小尺寸的MMC(RS-MMC)、微型MMC、安全数字(SD)卡、迷你安全数字(mini-SD)卡、微型安全数字(micro-SD)卡、通用串行总线(USB)存储器、通用闪存(UFS)设备、个人计算机存储卡国际协会(PCMCIA)卡型存储器、外围组件互连(PCI)卡型存储器、PCI快速(PCI-E)卡型存储器、紧凑型闪存(CF)卡、智能媒体(SM)卡和记忆棒。

此外，作为又一非限制性示例，根据本公开的又一实施例的储存设备500可以被实施为如下各种类型的封装体中的任意一种，诸如层叠式封装(POP)、系统级封装(SIP)、片上系统(SOC)、多芯片封装(MCP)、板上芯片(COB)封装、晶圆级制造封装(WFP)和晶圆级层叠封装(WSP)。

如上所述，根据本文中所公开的实施例的具有智能车辆系统10的智能车辆可以基于储存在测试信息储存电路300中的测试控制信息TCI、测试条件信息TTI和先前的测试结果来测试储存设备500的特性，并且可以累积测试结果信息TRI并将其储存在测试信息储存电路300中。所述测试对储存设备500的操作可靠性和储存在其中的用于控制或操作智能车辆的数据进行评估。另外，根据实施例的智能车辆系统10可以将测试电路400的测试结果信息TRI与储存在测试信息储存电路300中的先前的测试结果进行比较。控制器100可以将测试结果发送到外部设备，所述测试结果可以进一步用于改善或保持车辆的操作稳定性或可靠性。例如，主机、分析电路、光学储存媒介等可以用作外部设备。

图2是示出根据本公开的一个实施例的图1中所示的控制器100的框图。

参考图2，控制器100可以包括测试信息控制器110、参数判定电路120、测试控制器130和测试信息发送器140。

测试信息控制器110可以从测试信息储存电路300读取测试控制信息TCI和测试条件信息TTI，并且可以将测试信息TI输出到参数判定电路120。测试信息TI可以通过将测试控制信息TCI与测试条件信息TTI组合来获得。测试信息控制器110可以将从测试电路400接收的测试结果信息TRI储存在测试信息储存电路300中。测试信息控制器110可以从测试信息储存电路300读取测试结果信息TRI。测试信息控制器110可以基于来自测试信息储存电路300的测试结果信息TRI来判断是否执行测试。测试信息控制器110可以经由测试信息发送器140将输出信息TOUT发送到外部监测设备(未示出)。

测试信息控制器110可以包括比较器111。比较器111可以将储存在测试信息储存电路300中的先前测试结果信息TRI与从测试电路400接收的当前测试结果信息TRI进行比较。通过将储存在测试信息储存电路300中的先前测试结果信息TRI与从测试电路400接收的当前测试结果信息TRI进行比较，比较器111可以确定发生或未发生额外故障、错误或缺陷。如果已发生了额外故障，则比较器111可以将关于发生额外故障的信息累积在测试信息储存电路300中，使得所累积的信息被储存或写入测试信息储存电路300中。测试信息控制器110可以将由比较器111检测到的这种额外故障发生信息转换为输出信息TOUT，并且可以将输出信息TOUT发送到测试信息发送器140。

参数判定电路120可以响应于从测试信息控制器110接收的测试信息TI和从传感器电路200接收的感测信息SEN来确定具有执行测试所需的相关值PARA的参数。参数值PARA可以是与储存设备500的操作或特性相关联的参数。例如，当从传感器电路200获取的感测信息SEN是温度信息时，参数判定电路120可以根据与不同温度相对应的可靠性相关测试级别来确定与在储存设备500中储存的温度信息相关的数据保留时间。

测试控制器130可以响应于从参数判定电路120接收的参数值PARA来产生测试使能信号TEN以控制测试电路400的操作。例如，测试控制器130可以响应于参数值PARA来控制测试电路400的访问(AC)定时点(即，测试电路执行测试的访问时间点)。

图3是示出根据本公开的一个实施例的图1中所示的测试信息储存电路300的框图。

参考图3，测试信息储存电路300可以包括测试结果储存电路310、测试控制信息储存电路320和测试条件储存电路330。测试结果储存电路310可以储存从测试信息控制器110接收的测试结果信息TRI。另外，储存在测试结果储存电路310中的测试结果信息TRI可以由测试信息控制器110来读取或访问。

测试控制信息储存电路320可以储存测试控制信息TCI，所述TCI由控制器100用来控制测试电路400的操作。测试条件储存电路330可以储存测试条件信息TTI，所述TTI也可以由控制器100用来控制测试电路400。

图4是示出根据本公开的一个实施例的图3中所示的测试结果储存电路310的概念图。

参考图4，测试结果储存电路310可以根据测试级别而将各个测试用例(testcase)的测试结果信息TRI分类为多个测试结果信息区段。测试结果储存电路310可以以表格的形式构造或组织多个测试结果信息区段。表格形的测试结果信息区段可以储存在测试结果储存电路310中。通过根据各个测试用例来累积具有各种条件的测试结果，可以将测试级别预先建立为规范。

例如，针对测试用例CASE1～CASE5中的每个测试用例的测试级别可以被分类为低级别测试、中级别测试和高级别测试。表述“低级别”可以指如下的操作级别：不需要关于储存设备500的操作的高可靠性。表述“中级别”可以指如下的操作级别：关于储存设备500的操作的可靠性级别被认为是正常的或常规的，使得测试级别也被设置为正常级别或中间级别。表述“高级别”可以指如下的操作级别：需要关于储存设备500的操作的高可靠性，使得测试级别被设置为高。

参考图4，在该示例中，每个测试结果由“通过”表示的相同测试结果，可以被写入所有低级部分或低级区段(低级别)中；被写入相应的测试用例CASE1～CASE5的所有中级部分或中级区段(中级别)中；以及被写入第二用例CASE2、第三用例CASE3和第五用例CASE5的高级部分或高级区段(高级别)中。另一个测试结果“失败”可以被写入第一用例CASE1和第四用例CASE4的每个高级部分或高级区段(高级别)中。

参考以上说明，测试信息控制器110可以访问储存在测试结果储存电路310中的测试结果信息TRI的部分或区段，并判断是否存在与储存设备500的可靠性或稳定性相关的问题。对于每个测试用例，不仅可以在低级别进行判断，而且可以在中级别和高级别进行判断。在以上示例中，测试信息控制器110可以在第一用例CASE1和第四用例CASE4的高级别确定储存设备500的可靠性或稳定性存在问题。

图5是示出根据本公开的一个实施例的图3中所示的测试控制信息储存电路320的概念图。

参考图5，测试控制信息储存电路320可以针对每个所需要或期望的测试用例(例如，如图4所示)而将测试控制信息TCI分类或组织为针对每个相应测试级别的多个测试控制信息区段。测试控制信息储存电路320可以以表格的形式构造或组织多个测试控制信息区段。构成TCI的测试控制信息区段可以被储存在测试控制信息储存电路320中。

例如，针对测试用例CASE1～CASE5的每个测试用例的测试级别(类似于图4中的CASE1～CASE5)可以被分类为低级别测试、中级别测试和高级别测试。表述“低级别”可以指如下的测试用例：从测试用例CASE1～CASE5之中选择的第一用例CASE1、第二用例CASE2和第四用例CASE4。测试控制信息被储存在与处于低级别的第一用例CASE1、第二用例CASE2和第四用例CASE4相关联的选中部分或区段中。表述“中级别”可以指如下的测试用例：从测试用例CASE1～CASE5之中选择的第一用例CASE1和第二用例CASE2。测试控制信息被储存在与处于中级别的第一用例CASE1和第二用例CASE2相关联的选中部分或区段中。表述“高级别”可以指如下的测试用例：从测试用例CASE1～CASE5之中选择的第一用例CASE1、第二用例CASE2和第四用例CASE4。测试控制信息被储存在与处于高级别的第一用例CASE1、第二用例CASE2和第四用例CASE4相关联的选中部分或区段中。

在以上示例中，对处于每个级别的选中用例，测试是必需的或期望的。在从测试结果储存电路310接收到测试控制信息TCI之后，测试信息控制器110可以将关于选中的处于低级别和处于高级别的第一用例CASE1、第二用例CASE2和第四用例CASE4中的每个的测试信息TI输出到参数判定电路120。另外，测试信息控制器110可以将关于选中的处于中级别的第一用例CASE1和第二用例CASE2中的每个的测试信息TI输出到参数判定电路120。

图6是示出根据本公开的一个实施例的图3中所示的测试条件储存电路330的概念图。

根据实施例的测试条件储存电路330可以将用于每个测试用例的测试条件信息TTI分类为多个测试条件信息区段和测试级别。测试条件储存电路330可以以表格的形式构造或组织多个测试条件信息区段。构成测试条件信息TTI的测试条件信息区段可以被储存在测试条件储存电路330中。

在图6中所示的示例中，可以为每个测试用例分配温度信息。对于每个用例或温度信息，可以根据测试级别而对用于测试储存设备500中的刷新特性的条件进行分类。用于测试刷新特性的条件可以是来自多个可靠性相关或稳定性相关的条件之中的仅一个条件。

例如，测试级别可以被分类为针对不同温度条件A℃至E℃(即，图6中的A℃、B℃、C℃、D℃和E℃)的低级别测试、中级别测试和高级别测试。

从图6的“低级别”可以看出，与各个温度条件A℃、B℃、C℃、D℃和E℃相对应的刷新特性可以分别被设置为5**ms、2**ms、8*ms、4*ms和2*ms。从图6的“中级别”可以看出，与各个温度条件A℃、B℃、C℃、D℃和E℃相对应的刷新特性可以分别被设置为4**ms、1**ms、7*ms、3*ms和1*ms。从图6的“高级别”可以看出，与各个温度条件A℃、B℃、C℃、D℃和E℃相对应的刷新特性可以分别被设置为4**ms、1**ms、6*ms、3*ms和1*ms。

在以上示例中，可以通过累积具有各种条件的测试结果来预先建立与各个温度条件相对应的刷新特性作为规范。在图6中，每个星号(*)可以表示零“0”或高于零“0”的自然数。尽管为了便于描述和更好地理解本公开，本公开的该实施例已经示例性地公开了刷新特性的范围在两位数速度(例如，20ms/刷新(毫秒))到三位数速度(例如，599ms/刷新)，但是这种刷新特性的速度范围不限于此。

在从测试条件储存电路330接收到测试条件信息TTI之后，测试信息控制器110可以基于所接收的测试条件信息TTI来为每个低级别测试“低级别”中的刷新周期分配相对长的时段或时间，使得用于对与储存设备500相关的刷新特性进行测试的对应的相关测试信息TI可以被输出到参数判定电路120。在另一个示例中，测试信息控制器110可以为每个高级别测试“高级别”中的刷新周期分配相对短的时间或时段，使得用于对与储存设备500相关的刷新特性进行测试的对应的测试信息TI可以被输出到参数判定电路120。

尽管本公开的实施例已经示例性地公开了响应于基于温度的刷新周期而区别地建立测试条件信息TTI，但是本公开的范围或精神不限于此。例如，在另一个示例中，可以响应于基于由传感器电路200感测的电压的读取消耗时间(即，地址访问时间tAA)来建立测试条件信息TTI。本公开还考虑了可以响应于其他条件或信息而建立的其他测试条件。

图7是示出根据本公开的一个实施例的操作具有图1中所示的智能车辆系统10的智能车辆的方法的流程图。在下文中将参考图7描述根据本公开的一个实施例的操作具有智能车辆系统10的智能车辆的方法。

参考图7，测试信息控制器110可以读取储存在测试信息储存电路300中的先前的测试结果信息TRI(步骤S1)。测试信息控制器110可以判断关于每个测试用例CASE1～CASE5的先前的测试结果信息TRI是处于通过状态(PASS)还是处于失败状态(FAIL)。测试信息控制器110可以基于所确定的信息来判断是否执行与可靠性相关的测试或者与稳定性相关的测试(步骤S2)。

当先前的测试结果信息TRI处于失败状态(FAIL)时，测试信息控制器110不执行可靠性测试。测试信息控制器110可以经由测试信息发送器140将指示先前测试结果的失败状态(FAIL)的输出信息TOUT发送到外部设备，然后可以完成测试(步骤S3)。如下所示，可以使用用于判断是否执行与可靠性相关的测试或者与稳定性相关的测试的各种工具。

例如，测试信息控制器110可以根据如图4所示的储存在测试结果储存电路310中的测试结果信息TRI中的处于中级别(INTERMEDIATE LEVEL)的失败状态(FAIL)存在或不存在来判断是否执行与可靠性相关的测试或者与稳定性相关的测试。在另一个示例中，测试信息控制器110可以基于如图4所示的在所储存的测试结果信息TRI中的处于中级别(INTERMEDIATE LEVEL)的失败状态(FAIL)的数量来判断是否执行与可靠性相关的测试或者与稳定性相关的测试。

在又一示例中，当针对每个测试级别所储存的测试结果信息TRI处于通过状态(PASS)时，测试信息控制器110可以从测试信息储存电路300读取测试控制信息TCI和测试条件信息TTI。在步骤S4中，测试信息控制器110可以基于所读取的测试条件信息TTI来将关于将执行那些与可靠性相关的测试或与稳定性相关的测试的测试信息TI发送到参数判定电路120。

此后，在步骤S5中，测试信息控制器110可以响应于测试控制信息TCI和测试条件信息TTI来改变测试用例CASE1～CASE5。尽管为了便于描述和更好地理解本公开，本公开的示例性实施例包括通过从CASE1至CASE5顺序地改变测试用例来执行测试的测试信息控制器110，但是本公开的范围或精神不限于此，并且执行测试用例CASE1～CASE5的顺序也可以根据需要被改变为不同的顺序。

响应于测试信息TI和感测信息SEN，参数判定电路120可以改变用于对每个测试用例CASE1～CASE5执行测试的参数值PARA。测试控制器130可以响应于从参数判定电路120接收的参数值PARA来选择性地激活测试使能信号TEN。

在步骤S6中，在测试使能信号TEN的激活期间，测试电路400可以针对每个测试用例CASE1～CASE5来测试储存设备500。随后，测试电路400可以将与每个测试操作相对应的测试结果信息TRI输出到测试信息控制器110。

此后，在步骤S7中，测试信息控制器110可以判断测试结果信息TRI是处于通过状态(PASS)还是处于失败状态(FAIL)。当测试结果信息TRI处于失败状态(FAIL)时，在步骤S8中，测试信息控制器110可以累积测试结果信息TRI并将将其储存在测试信息储存电路300中，然后可以进行到下一步骤S9。相反，当测试结果信息TRI处于通过状态(PASS)时，测试信息控制器110可以判断是否已在所有测试用例CASE1～CASE5中执行了测试操作(步骤S9)。

在根据步骤S5至S9而已经完全测试了所有测试用例CASE1～CASE5之后，在步骤S10中，比较器111可以将储存在测试信息储存电路300中的先前的测试结果信息TRI与从测试电路400接收的测试结果信息TRI进行比较。如果尚未在所有测试用例CASE1～CASE5中执行测试操作，则测试信息控制器110返回到步骤S5，使得在步骤S5中测试信息控制器110可以将当前测试用例改变为另一个测试用例。

在步骤S11中，测试信息控制器110可以基于从比较器111获取的比较结果来判断失败用例的数量是否已经增加了。当在步骤S11中失败用例的数量已增加时，在步骤S12中，测试信息控制器110可以经由测试信息发送器140将指示失败用例的数量已经增加的输出信息TOUT发送到外部设备。当在步骤S11中失败用例的数量已增加时，在步骤S13中，测试信息控制器110可以将关于已增加的失败用例的信息储存在测试信息储存电路300中。相反，当在步骤S11中失败用例的数量未增加时，测试信息控制器110可以完成测试。

图8是示出根据本公开的一个实施例的操作具有图1所示的智能车辆系统10的智能车辆的方法的流程图。为了便于描述和更好地理解本公开，在下文中将通过将储存电路300应用于与自动驾驶和驾驶辅助相关的各种操作来详细描述图8的实施例。

由于近来已经给智能车添加了与自动驾驶和驾驶辅助相关的各种功能，因此对储存车辆信息和周边环境信息所需的储存设备500的需求正在迅速增加。特别是，当在诸如自动驾驶和驾驶辅助的功能中发生意外故障(或缺陷)时，可能发生性命丢失和财产损失。

用于智能车辆的自动驾驶功能或驾驶辅助功能使用储存在储存设备500中的信息。因此，对于在这些功能中由智能车辆使用的信息而言高可靠性对于储存设备500是重要的。然而，随着用于实施储存设备500的制造工艺持续集中于小型化，越来越难保证关于储存设备500的操作的高可靠性或稳定性。

因此，在步骤S20中，根据本公开的实施例的具有智能车辆系统10的智能车辆可以首先使用储存在测试信息储存电路300中的测试控制信息TCI、测试条件信息TTI等来测试与自动驾驶相关联的设备(例如，储存设备500)的特性。在智能车辆中，可以在使用或执行自动驾驶功能、驾驶辅助功能等之前执行根据实施例的用于对储存设备500的可靠性或稳定性进行测试的操作。

如果在步骤S21中可靠性测试的结果表明所有设备被认为是正常的(即，通过状态PASS)，则在步骤S22中，智能车辆的驾驶模式被改变为自动驾驶模式，因此可以执行自动驾驶模式。

根据实施例的智能车辆系统10可以将测试结果信息TRI与先前的测试结果信息进行比较，并且可以将测试结果发送到外部设备。即，在步骤S23中，智能车辆系统10可以将与故障或有缺陷的设备相关联的信息发送到外部设备。

根据本文的实施例，智能车辆系统10可以允许用户(即，驾驶员)在执行智能车辆操作之前预先识别故障或有缺陷状态的发生。智能车辆系统10可以判断是否执行智能车辆的要求高度可靠性的操作。也就是说，智能车辆系统10可以对智能车辆中的设备(例如，自动驾驶设备、驾驶辅助设备等)中的故障、错误或缺陷的发生或不发生进行测试，该智能车辆依赖于那些设备的储存器中的高度稳定或高度可靠的信息集。如果在那些设备中的储存器中发生故障，则在步骤S24中，智能车辆系统10可以从驾驶模式改变为自动驾驶禁止模式。该变化可以被智能车辆的用户识别为与禁止的自动驾驶相关。

从以上描述显而易见的是，根据本公开的实施例的智能车辆可以执行与操作智能车辆的可靠性相关的测试，并且可以记录测试的结果，这可以导致智能车辆的驾驶稳定性的提高。

本领域技术人员将理解，在不脱离本公开的精神和基本特征的情况下，可以以除了本文中所阐述的那些方式之外的其他特定方式来实施所述实施例。因此，上述实施例应在所有方面被解释为说明性的而非限制性的。本公开的范围应由所附权利要求及其合法等同物来确定，而不是由以上描述来确定。此外，在所附权利要求的含义和等同范围内的所有变化都旨在被包含在其中。另外，对于本领域技术人员显而易见的是，在所附权利要求中未明确彼此引用的权利要求可以作为实施例组合地呈现或者在提交申请之后通过随后的修改被包括为新的权利要求。

尽管已经描述了多个说明性实施例，但是应该理解，本领域技术人员可以设计出落入本公开的原理的精神和范围内的许多其他修改和实施例。特别地，在本公开、附图和所附权利要求的范围内的组成部件和/或布置中可以有多种变化和修改。除了组成部件和/或布置的变化和修改之外，替代使用对于本领域技术人员而言也将是显而易见的。

附图中每个元件的附图标记

100：控制器

200：传感器电路

300：测试信息储存电路

400：测试电路

500：储存设备

Claims (20)

1.一种智能车辆系统，包括：

测试信息储存电路，其被配置为根据多个测试级别来对测试控制信息、测试条件信息和测试结果信息进行分类，并且将已分类的结果储存在其中，其中，所述测试控制信息被预先设定以控制针对每个所需要的测试用例的测试电路的操作，在所述测试条件信息中针对每个所需要的测试用例而预先设定关于所述测试电路要在其之下被测试的条件的信息，所述测试结果信息读取所述测试电路基于所述测试控制信息和所述测试条件信息的测试结果；

控制器，其被配置为响应于感测信息、所述测试控制信息和所述测试条件信息来确定用于执行可靠性测试的至少一个参数值，并且响应于所述参数值来产生测试使能信号；以及

所述测试电路，其被配置为响应于所述测试使能信号来对储存设备的特性进行测试。

2.根据权利要求1所述的智能车辆系统，其中，所述测试信息储存电路包括电熔丝、非易失性存储器和寄存器中的至少一种。

3.根据权利要求1所述的智能车辆系统，其中，所述测试信息储存电路包括：

测试结果储存电路，其被配置为储存所述测试结果信息；

测试控制信息储存电路，其被配置为储存所述测试控制信息；以及

测试条件储存电路，其被配置为储存所述测试条件信息。

4.根据权利要求3所述的智能车辆系统，其中，所述测试结果储存电路被配置为将针对多个测试用例中的每个测试用例的测试级别分类为低级别测试、中级别测试和高级别测试，并且根据已分类的测试结果信息来储存所述测试结果信息。

5.根据权利要求3所述的智能车辆系统，其中，所述测试控制信息储存电路被配置为将针对多个测试用例中的每个测试用例的可靠性测试的级别分类为低级别测试、中级别测试和高级别测试，并且储存所述测试控制信息。

6.根据权利要求3所述的智能车辆系统，其中，所述测试条件储存电路被配置为将针对多个测试用例中的每个测试用例的可靠性测试的级别分类为低级别测试、中级别测试和高级别测试，并且储存所述测试条件信息。

7.根据权利要求1所述的智能车辆系统，其中，所述控制器被配置为将从所述测试电路接收的所述测试结果信息储存在所述测试信息储存电路中。

8.根据权利要求1所述的智能车辆系统，其中，所述控制器包括：

测试信息控制器，其被配置为通过结合所述测试控制信息和所述测试条件信息来产生测试信息，并且将从所述测试电路接收的所述测试结果信息储存在所述测试信息储存电路中；

参数判定电路，其被配置为响应于所述测试信息和所述感测信息来确定所述参数值；以及

测试控制器，其被配置为根据所述参数值来产生所述测试使能信号。

9.根据权利要求8所述的智能车辆系统，其中，所述测试信息控制器还被配置为读取在所述测试信息储存电路中储存的先前的测试结果信息，并且当所述测试的结果为指示通过状态的正常时，执行可靠性测试。

10.根据权利要求8所述的智能车辆系统，其中，所述测试信息控制器还被配置为读取在所述测试信息储存电路中储存的先前的测试结果信息，并且当所述测试结果为失败状态时，在省略可靠性测试之后，将所述先前的测试结果信息发送到外部设备。

11.根据权利要求8所述的智能车辆系统，其中，所述测试信息控制器还被配置为根据特定测试级别中的一个或更多个失败状态的发生或不发生以及根据所述特定测试级别中的所述一个或更多个失败状态的数量来判断是否执行所述可靠性测试。

12.根据权利要求8所述的智能车辆系统，其中，所述测试信息控制器还包括：

比较器，其被配置为将储存在所述测试信息储存电路中的所述测试结果信息与从所述测试电路接收的所述测试结果信息进行比较。

13.根据权利要求12所述的智能车辆系统，其中，所述测试信息控制器被配置为累积来自所述比较器的比较结果并将其储存在所述测试信息储存电路中，并且将所述比较结果发送到外部设备。

14.根据权利要求8所述的智能车辆系统，其中，所述测试信息控制器还被配置为响应于接收所述测试控制信息和所述测试条件信息而顺序地改变各个测试用例。

15.根据权利要求8所述的智能车辆系统，其中，所述控制器还包括：

测试信息发送器，其被配置为将与所述测试信息相对应的输出信息发送到外部设备。

16.根据权利要求1所述的智能车辆系统，还包括：

传感器电路，其被配置为在检测到与车辆的环境相对应的信息之后产生所述感测信息。

17.根据权利要求1所述的智能车辆系统，其中，所述感测信息包括温度和电压中的任意一种。

18.根据权利要求1所述的智能车辆系统，其中，所述测试电路包括内建自测试BIST电路。

19.根据权利要求1所述的智能车辆系统，其中，所述储存设备包括易失性存储器和非易失性存储器中的任意一种。

20.根据权利要求1所述的智能车辆系统，其中，所述储存设备被实现为多个储存设备，并且所述多个储存设备经由各自的通道耦接到所述测试电路。

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