TWI399530B - 電子體溫計及其動作控制方法 - Google Patents

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TWI399530B
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Description

電子體溫計及其動作控制方法
本發明係關於電子體溫計者。
先前電子體溫計的領域中,使用單一之輸入積分型A/D變換回路,作為測定隨溫度變化而改變之熱敏電阻的技術。
所謂單一輸入積分型A/D變換回路,是一種電路,其係印加設定電源電壓時,可以積蓄比例於熱敏電阻之電阻變化的電荷,同時當該積蓄的電荷放電時,可以輸出比例於電阻變化之時間ON信號者。電子體溫計可利用計時器計測該電路所輸出之ON信號的ON時間,以算出溫度值。
然而於使用單一輸入積分型A/D變換回路的電子體溫計時,具有由於電源電壓變化之影響,致產生誤差之特性。爰此,從來為了實現高精度的溫度計測,例如裝配調壓器,以儘量抑制所施加電壓之變動,以資對應。
但是如果利用裝配調壓器等的構成,由於調壓器的洩漏電流,致電池消耗加快,妨礙電子體溫計壽命的延長問題。又,如果採用裝配調壓器等的構成,即不可避免電子體溫計成本的增加。
鑑於上述課題,本發明採用廣泛使用之LSI,而避免使用調壓計,藉此提供壽命長,價格低,而且計測精度高的電子體溫計,做為本發明之目的。
為了達成上述目的,本發明的電子體溫計具備以下之構成,亦即:串聯於電容器的熱敏電阻;串聯於該電容器的基準電阻體;經該熱敏電阻或該基準電阻體,對該熱敏電阻或該基準電阻體,以切換方式施加電壓而積蓄電荷於該電容器的電壓切換機構;檢出透過該熱敏電阻或該基準電阻體積蓄於該電容器之電荷放電時隨放電而生之電壓變化,於該電容器保持設定電壓以上電壓之間,輸出設定信號的輸出機構;藉計測輸出該設定信號間之時間,以計測該電容器放電時間的計測機構;及透過該熱敏電阻積蓄於該電容器之電荷放電之放電時間,及於該放電之前及之後,透過該基準電阻體積蓄於該電容器放電時的各放電時間,使用其平均值以算出該熱敏電阻周圍溫度的算出機構。
本發明因使用廣泛使用之LSI,而不利用調壓器,故可提供壽命長,價格低而且計測精度高的電子體溫計。
其他特徵及優點,請參照所附圖面,即可從下述說明而得以明瞭。又,所附圖面中,若有同樣之構成物,則賦予相同之標號。
下文中依照所需,參照附圖來詳細說明本發明的實施形態。
〔第一實施形態〕
<1.電子體溫計的外觀構成>
第1圖表示本發明之一實施形態中電子體溫計100的外觀構成圖。第1圖之1a表示平面圖,第1圖之1b表示側面圖。101為本體外殼,收納有後述之演算控制部220等電子回路,電池(電源部)250等。
102為不銹鋼製之金屬帽,其內部收納有計測溫度用之熱敏電阻(後文中詳述)等。103為電源ON/OFF開關,按一次電源部就ON,再按時電源部變OFF。
104為顯示部,可表示受測者之體溫。105為音聲輸出部,依據演算控制部220之處理,輸出音聲。
<2.電子體溫計之功能構成>
第2圖為表示本實施例中電子體溫計100之功能構成的內部方塊圖。
電子體溫計100依據輸出比例於溫度之時間長短之ON信號的溫度計測部210,及溫度計測部210所輸出之ON信號,進行各種處理,以演算被測者的體溫,並具有用以控制電子體溫計100全體動作的演算控制部220;用以顯示經演算後被測者體溫的顯示部230;用以輸出音聲數據的音聲輸出部240;及電源部250。
溫度計測部210具有互相並聯的熱敏電阻(測定用電阻元件)與基準電阻元件;及單輸入積分型A/O變換回路,以輸出比例於溫度時間長短的ON信號(比例於溫度而改變ON時間的數位信號)。此外,關於溫度計測部210的詳細構成及溫度計測處理的流程將說明於後。
演算控制部220具有用以計測溫度計測部210所輸出數位信號之ON時間的計時器222。
又,具有依據計時器222所計測時間而算出溫度數據,同時收納依據所算出溫度數據之時間變化,預測演算被測體體溫之程式的ROM224;用以按時序列計憶所算出溫度數據的RAM 226;收納設定音聲數據的EEPROM 225;及輸出依照收納於ROM 224之程式所做演算與音聲數據的演算處理部223。
更且,具有用以控制演算處理部223所做演算結果之顯示部230的顯示控制部227。
更且,演算控制部220具有用以控制上述之計時器222;顯示控制部227;演算處理部223;溫度計測部210的控制回路221。
<3.電子體溫計之體溫計測處理流程>
其次說明電子體溫計之體溫計測處理流程。又,於此雖然就平衡溫度預測式電子體溫計100的體溫計測處理流程予以說明,但本發明並不限定於此,亦可適用於實測式電子體溫計,及預測/實測式電子體溫計。
一旦裝設於被測體的計測部位,電子體溫計100就開始以所定週期計測溫度,依據所取得溫度數據之時間變化,預測演算被測體的體溫。
第3圖為表示電子體溫計100之體溫計測處理流程圖。下文中利用第3圖來說明電子體溫計100的體溫計測處理之流程。
電子體溫計100的電源部250 ON時,步驟S301中進行電子體溫計100的初期化(歸零),開始由熱敏電阻進行溫度計測。例如在演算處理部223中,以所定間隔,例如每隔0.5秒鐘進行溫度數據的演算。
在S302中,判斷體溫計測開始條件是否已成立。具體上判斷從前次溫度計測演算所得溫度數據值(亦即0.5秒前的溫度數據值)的上昇度,是否達到所定值(例如1℃)以上。
如經判斷上昇度已達所定值以上,即判斷體溫計測開始條件已成立,將計測該溫度數據之時機,當做預測體溫演算基準點(t=0),予以設定。亦即於電子體溫計100,如測得急劇的溫度上昇,則視為被測者裝設電子體溫計100於所定之計測部位(例如腋下)。
在S302中,如判斷體溫計測開始條件已成立時,即進入S303,開始收集溫度數據。具體上將所輸出溫度數據,與計測該溫度數據之時機,做為時序列數據記憶於RAM 226中。
在S304中,利用S303中所記憶的溫度資料,藉所定預測式,演算預測體溫。
在S305中,於自基準點(t=0)經所定時間(例如25秒)後,判斷在S304中算出之一定時間區(例如t=25~30秒)之預測值,是否滿足預先設定之預測成立條件。具體上判斷是否收納於所定範圍(例如1℃)以內。
在S305中,如經判斷為滿足預測成立條件時,即進入S306,終止溫度之計測,並進入S307,輸出表示預測體溫演算終了意旨的音聲,並於顯示部230顯示所演算之預測體溫。
另一方面,在S305中,如經判斷未滿足預測成立條件時,即進入S309。在S309中,判斷是否自基準點(t=0)已經過了所定時間(例如45秒),如經判斷業已經過,即強制終止溫度計測。又,如經強制終止,則將此時演算所得預測體溫顯示於顯示部230(S307)。
在S308中,判斷是否已接受體溫計測終止指示。在S308中,如判斷尚未接受體溫計測終止指示時,即返回S302。
另一方面,在S308中,如經判斷業經接受了體溫計測終止指示時,即將電源部OFF。
<4.溫度計測部之詳細構成及溫度計測處理流程>
其次說明溫度計測部210之詳細構成及在S301中所開始的溫度計測處理流程。又當說明溫度計測處理時,為了使本實施形態之溫度計測處理特徵更加明確,先就一般性溫度計測處理流程加以說明。
<4.1溫度計測部之詳細構成>
第4圖為溫度計測部210的詳細構成圖。如第4圖所示,在溫度計測部210中,其互相並聯的熱敏電阻401及基準電阻元件402,分別串接於電容器403。而且包含熱敏電阻401與電容器403之系統兩端,及包含基準電阻元件402與電容器403之系統兩端,透過電壓切換部410,成為可分別交互施加電壓V而放電的構成。
於此,不管周圍溫度如何變動,基準電阻元件402之電阻值恆為一定。因此,如果電壓V為一定,透過基準電阻元件402而放電時,其放電時間也一定。
另一方面,熱敏電阻401係隨周圍溫度變動而變動其電阻值的電阻元件。因此,如透過熱敏電阻401放電時,其放電時間隨周圍溫度之變動而變動。
亦即電壓V如維持一定,透過基準電阻元件402放電時,其放電時間恆為一定。如透過熱敏電阻401而放電時,其放電時間隨周圍溫度而變動。
積蓄於電容器403的電荷量,係透過A/D變換部420檢出。構成A/D變換部420的比較器421,於透過電壓切換部410施加電壓V時,電容器403於擁有該電壓所定比率電壓(此處為0.25 V)以上之電壓值期間,可輸出所定之信號。由是,從A/D變換部420輸出ON信號,做為數位信號。
如此,電容器403與A/D變換部420,係形成單一輸入積分型A/D變換回路。
經放電而電容器403之兩端電壓徐徐降低,到了所定電壓(0.25 V)以下時,從A/D變換部420輸出之數位信號成為OFF信號。
在計時器222則計測從A/D變換部420輸出之數位信號的ON時間(放電時間)。
於此,如上述情形,透過基準電阻元件402充電而放電時,放電時間成為一定。另一方面,透過熱敏電阻401而充電與放電時,由於其電阻值隨周圍溫度而變動,故放電時間也會變動。
於是在電子體溫計100,預先於周圍溫度為已知之狀態(基準溫度)下,將透過熱敏電阻401放出積蓄於電容器403的電荷之放電時間,與透過基準電阻元件402而放出積蓄於電容器403的電荷之放電時間,分別予以計測。
結果,只要比較透過基準電阻元件402而放出積蓄於電容器403的電荷之放電時間,與透過熱敏電阻401而放出積蓄於電容器403的電荷之放電時間,即可算出對基準溫度之變動比,並可算出周圍溫度之溫度數據。
具體上是依據下式算出溫度數據T。
T=37℃×(Tth/Tref)×(Tref37/Tth37)又,於上式溫度中,基準溫度定為37℃。
又,Tref37係表示當該基準溫度下,在基準電阻元件402與電容器403之系統兩端施加電壓V,及放電時所計測而得的放電時間。又,Tth37係表示於該基準溫度下,在熱敏電阻401與電容器403之系統兩端施加電壓,及放電時所計測而得的放電時間。
再者,Tref係表示於溫度計測處理中,在基準電阻元件402與電容器403之系統兩端施加電壓V,及放電時所計測而得的放電時間。又,Tth係表示於溫度計測處理中,在熱敏電阻401與電容器403之系統兩端施加電壓V,及放電時所計測而得的放電時間。
<4.2一般性的溫度計測處理流程>
第5圖為表示一般溫度計測處理的流程圖。第6圖為表示電容器403兩端之電壓時間變化及由A/D變換部420輸出之數位信號時間變化圖。茲利用第5圖及第6圖說明一般的溫度計測處理流程。
在S501中,將電壓V施加於包含基準電阻元件402與電容器403之兩端。第6圖之601表示由此在電容器403徐徐積蓄電荷之期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S502中進行電容器403的放電(放電期間602)。此時從A/D變換部420輸出ON信號(603),因此計時器222計測ON信號的時間。由是計測放電開始後,電容器403之電壓降至所定電壓(此處為0.25V)以下所經之時間(放電時間604)Tref(參照第6圖之602)。
電容器403之放電完畢後,在S503中,將電壓V施加於包含熱敏電阻401與電容器403之系統兩端。第6圖之605表示由此在電容器403徐徐積蓄電荷之期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S504中,進行電容器403的放電(放電期間606)。此時從A/D變換部420輸出ON信號(607),因此計時器222計測ON信號的時間。由是計測放電開始後電容器403之電壓降至所定電壓(於此為0.25V)以下所經之時間(放電時間608)Tth。又,Tth係隨熱敏電阻401之周圍溫度而變動。
電容器403之放電完畢後,在S505中,計算T=a×Tth/Tref(但a為係數,於此a=37℃×(Tref37/Tth37)),繼而求得對基準溫度的變動比而算出溫度。再者,在S506中,以算出結果T設定為溫度測定結果。
由是,完成了一次溫度計測。該溫度計測處理係重複進行,直到有溫度計測終了之指示。
<4.3一般性的溫度計測處理的問題>
於此在第6圖所示例中,施加於基準電子元件402與電容器403系統兩端之電壓,與施加於熱敏電阻401與電容器403系統兩端之電壓,視為相等。
但是,施加於基準電子元件402與電容器403系統兩端之電壓,與施加於熱敏電阻401與電容器403系統兩端之電壓不一定相同。
一般說來,使用電池做為電源部250時,因A/D變換部420動作而產生的消費電流之影響,使電池內部電阻變大,致有電源部250電壓降下之特性。為此,如重複計測放電時間,則每次電源部250電壓都降下(具體上說,於計測第一次之放電時間時,電源部250之電壓大幅度降下,第二次以後,每次重複計測時,電源部250之電壓更為徐徐降下,不久收歛於所定之電源電壓)。
亦即對施加於基準電阻元件402與電容器403系統兩端之電壓,與施加於熱敏電阻401與電容器403系統兩端之電壓而言,其電壓值相異,後一施加之電壓較低。
此結果表示所計測之放電時間含有電源部250之電壓降下分成為誤差。
為了規避這樣的現象,可配置調壓器等以穩定電源部電壓才有效,但上節本發明之內容中已說明,調壓器的使用有種種問題。
為此,於本實施形態中,做成一種不使用調壓器,而極力排除被計測之放電時間所含電源部250之電壓降下分誤差的構成,藉以實現計測精度的維持,壽命的延長與價格的抑制。下文中詳細說明本實施形態的溫度計測處理。
<4.4本實施形態的溫度計測處理流程>
第7圖為本實施形態的溫度計測處理流程圖,第8圖為表示電容器403兩端之電壓時間變化及A/D變換部420輸出之數位信號時間變化的說明圖。茲使用第7圖及第8圖來說明本實施形態中溫度計測處理之流程。
在S701中,施加電壓V於包含基準電阻元件402與電容器403之系統兩端。第8圖的801表示由此電容器403徐徐積蓄電荷的期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S702中,電容器403進行放電。此時計時器222計測從放電開始至電容器403之電壓降至所定電壓(0.25V)以下之時間(放電時間802)Tref0。
電容器403之放電完畢後,在S703中,再度施加電壓V於包含基準電阻元件402與電容器403之系統兩端。第8圖之803表示由此電容器403徐徐積蓄電荷的期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S704中,進行電容器403的放電。此時計時器222計測從放電開始至電容器403之電壓降下至所定電壓(0.25V)以下之時間(放電時間804)Tref1。
電容器403之放電完畢後,在S705中,施加電壓V於包含熱敏電阻401與電容器403之系統兩端。第8圖之805表示由此電容器403徐徐積蓄電荷的期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S706中,進行電容器403之放電。此時計測從放電開始至電容器403之電壓降至所定電壓(0.25V)以下之時間(放電時間806)Tth。又,Tth隨熱敏電阻之周圍溫度而變動。
電容器403之放電完畢後,在S707中,再度施加電壓V於包含基準電阻元件402與電容器403之系統兩端。第8圖之807表示由此電容器403徐徐積蓄電荷的期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S708中,進行電容器403之放電。此時計時器222計測從放電開始至電容器403之電壓降下至所定電壓(0.25V)以下之時間(放電時間808)Tref2。
電容器403之放電完畢後,在S709中計算Tref=(Tref1+Tref2)/2。
更且於S710中,經計算T=a×Tth/Tref(但a為係數),求出對基準溫度之變動比,並算出溫度數據。
而且,在S711中,設定計算結果T為溫度計測結果。
由是完成一次溫度計測。該溫度計測處理係重複進行,直至有溫度計測終了之指示為止。
如此,本實施形態的電子體溫計,係做成不使用第1次的放電時間Tref0來算出溫度數據之構成。結果得以減低隨第一次放電時電源部250的大幅度電壓降下影響。此外,亦可做成將第一次的放電認為熱敏電阻的放電,而不採用第一次放電時間Tth0來算出溫度數據的構成,自不待言。
又,本實施形態的電子體溫計,其形成的構成為計測透過熱敏電阻放出積蓄於電容器的電荷時之放電時間之前與之後,分別透過基準電阻元件積蓄電荷於電容器,而計測所積蓄電荷放電時間之放電時間Tref1、Tref2。而且將放電之前與之後分別所計測之放電時間Tref1、Tref2的平均值,用以算出溫度數據。
如此,以算出溫度數據時使用放電時間平均值之構成,可極力減小反覆計測放電時間造成的電源部電壓降下影響。
亦即,即使於不使用調壓器的場合,亦可實現高 精度之溫度計測。結果得以提供壽命長、價廉而計測精度高的電子體溫計。
〔第二實施形態〕
上揭第一實施形態中,其構成為從開始溫度計測處理直後,電容器的充電/放電重複四次,視為完成了一次溫度計測處理。但本發明並不限定如此而已。例如亦可做成電容器充電/放電重複三次,視為完成一次溫度計測處理的構成。
具體上說,將充電的順序定為第一次:基準電子元件,第二次:基準電子元件,第三次:熱敏電阻,第一次的放電時間Tref0不使用於溫度數據的算出,另一方面,比較第二次的放電時間Tref1與第三次放電時間Tth,藉以算出溫度數據,這樣的構成亦可。
或者將充電的順序定為,第一次:基準電阻元件,第二次:熱敏電阻,第三次:基準電阻元件,將第一次的放電時間Tref0用於溫度數據之算出,另一方面,將第二次的放電時間Tth,與第三次放電時間Tref1之平均值,用於溫度數據的算出。這樣的構成亦可。
〔第三實施形態〕
上揭第一實施形態中,從溫度計測處理開始直後起,電容器之充電/放電重複四次,由此完成一次溫度計測處理之構成,但本發明並不限定如此而已。例如反覆計測放電時間引起之電源部電壓降下收斂於 一定臨界值以內後,反覆進行電容器之充電/放電,由此完成一次溫度計測處理,這樣的構成亦可。
第9圖為本實施形態中的溫度計測處理流程圖,第10圖為表示電容器403兩端之電壓時間變化及由A/D變換部420輸出之數位信號時間變化的說明圖。茲參照第9圖及第10圖說明本實施形態中溫度計測處理的流程。
首先在S901中輸入1於計時器n中。在S902中施加電壓V於包含基準電阻元件402與電容器403之系統兩端。第10圖的1001表示由此電容器403徐徐積蓄電荷的期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S903中進行電容器403的放電。此時計時器222計測放電開始後至電容器403之電壓降至所定電壓(0.25V)以下的時間(放電時間1002)Tref0。
電容器403之放電完畢後,在S904中,再度施加電壓V於包含基準電阻元件402與電容器403之系統兩端。第10圖之1003表示由此電容器403徐徐積蓄電荷之期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S905中,進行電容器403的放電。此時計時器222計測放電開始後至電容器403之電壓降至所定電壓(0.25V)以下所經之時間(放電時間1004)Tthf1。
電容器403之放電完畢後,在S906中,比較計 測Tref0時之電壓V0,與計測Tref1時之電壓V1,並計算電壓V0與電壓V1之差異(實際上為計算Tref0與Tref1之差異)。於是如果判定電壓V0與電壓V1之差異不在所定值以下時,則在S907中將n值增量後返回S904。
此時再度施加電壓V於包含基準電阻元件402與電容器403系統之兩端,第10圖之1005表示由此電容器403徐徐積蓄電荷的期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S905中,進行電容器403的放電。此時計時器222計測放電開始後至電容器403之電壓降至所定電壓(0.25V)以下所經之時間(放電時間1006)Tthf2。
電容器403之放電完畢後,在S906中,比較計測Tref1時之電壓V1,與計測Tref2時之電壓V2,並計算電壓V1與電壓V2之差異(實際上為計算Tref1與Tref2之差異)。於是如果判定電壓V1與電壓V2之差異不在所定值以下時,則在S907中將n值增量後返回S904。
以下反覆進行施加電壓V於包含基準電阻元件402與電容器403系統兩端之處理,及透過基準電阻元件402將積蓄於電容器403之電荷放電之處理,直至因反覆計測放電時間而引起之電壓降下達於所定值以下時為止。
於是如果判定因反覆計測放電時間而引起之電 壓降下(1007)達於所定值以下時,則進入S908。
在S906中,施加電壓V於包含熱敏電阻401與電容器403之系統兩端。第10圖之1008表示由此電容器403徐徐積蓄電荷之期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S909中,透過熱敏電阻401進行電容器403之放電。此時計測放電開始後電容器403之電壓降至所定電壓(0.25V)以下之時間(放電時間1009)Tth。
電容器403之放電完畢後,在S910中,再度施加電壓V於包含基準電阻元件402與電容器403系統之兩端。第10圖之1010表示由此電容器403徐徐積蓄電荷之期間(充電期間)。
電容器403之充電完畢後,在S911中,透過基準電阻元件402進行電容器403之放電。此時計時器222計測放電開始後電容器403之電壓降至所定電壓(0.25V)以下之時間(放電時間1011)Tref_n+1。
電容器403之放電完畢後,在S912中,計算Tref=(Tref_n+Tref_n+1)/2。
更且,在S913中,計算T=a×Tth/Tref(但a為係數),由此求得對基準溫度的變動比,算出溫度數據。
再者,在S914中,將算出結果T設定為溫度計測結果。
由是完成了一次溫度計測。該溫度計測處理係反 覆進行,直至有溫度計測終了之指示時為止。
如此,本實施形態的電子體溫計,其構成形態為透過基準電阻元件對電容器反覆進行充電/放電,直至因反覆計測放電時間而致電壓部的電壓降下收斂於一定之臨界值以內為止。由是得以減少隨放電引起之電源部的大幅度電壓降下影響。
又,本實施形態的電子體溫計,於透過熱敏電阻放出積蓄於電容器之電荷之際,計測放電時間之直前與直後,分別透過基準電阻元件積蓄電荷於電容器,而計測放出所積蓄電荷時之放電時間Tref_n、Tref_n+1,為其構成形態。而且,分別於直前與直後所計測之放電時間Tref_n、Tref_n+1的平均值,用於計測溫度。
如此,因形成利用放電時間之平均值的構成,得以極力減低由於反覆計測放電時間而引起之電源部電壓降下的影響。
亦即不使用調壓器的場合,亦可實現高精度之溫度計測。結果,得以提供長壽命,廉價而高計測精度的電子體溫計。
本發明並不受限於上揭實施形態,在不逸脫本發明精神及範圍下,可做種種變更及變形。爰特為公開本發明之範圍,添附以下之申請專利範圍。
100‧‧‧電子體溫計
101‧‧‧電子體溫計本體外殼
102‧‧‧金屬帽
103‧‧‧電源ON/OFF開關
104‧‧‧顯示部
105‧‧‧音聲輸出部
210‧‧‧溫度計測部
220‧‧‧演算控制部
221‧‧‧控制回路
222‧‧‧計時器
223‧‧‧演算處理部
224‧‧‧ROM
225‧‧‧EEP ROM
226‧‧‧RAM
227‧‧‧顯示控制部
230‧‧‧顯示部
240‧‧‧音聲輸出部
250‧‧‧電池(電源部)
401‧‧‧熱敏電阻
402‧‧‧基準電阻元件
403‧‧‧電容器
410‧‧‧電壓切換部
420‧‧‧A/D變換部
601、605‧‧‧充電期間
602、606‧‧‧放電期間
603、607‧‧‧輸出ON信號
604、608‧‧‧放電時間
801、803、805、807‧‧‧充電期間
802、804、806、808‧‧‧放電時間
1001、1003、1005、1008、1010‧‧‧充電期間
1007‧‧‧因反覆計測放電時間而引起之電壓降下
1002、1004、1006、1009、1011‧‧‧放電時間
第1圖為本發明一實施形態中電子體溫計100的外觀構成圖。
第2圖為電子體溫計100之功能構成的內部方塊圖。
第3圖為電子體溫計100之體溫計測處理流程圖。
第4圖為溫度計測部210的詳細構成圖。
第5圖為一般溫度計測處理的流程圖。
第6圖為電容器403兩端之電壓時間變化及尤A/D變換部420輸出之數位信號時間變化的說明圖。
第7圖為第一實施形態中的溫度計測處理流程圖。
第8圖為電容器403兩端之電壓時間變化及由A/D變換部420輸出之數位信號時間變化的說明圖。
第9圖為第三實施型態中的溫度計測處理流程圖。
第10圖為電容器403兩端之電壓時間變化及由A/D變換部420輸出之數位信號時間變化的說明圖。
100...電子體溫計
101...外殼
102...金屬帽
103...電源ON/OFF開關
104...顯示部
105...音聲輸出部

Claims (7)

  1. 一種電子體溫計,包含:串聯於電容器的熱敏電阻;串聯於該電容器的基準電阻體;對於該熱敏電阻或該基準電阻體以切換方式施加電壓,藉透過該熱敏電阻或該基準電阻體之任一項積蓄電荷於該電容器的電壓切換機構;檢出透過該熱敏電阻或該基準電阻體而積蓄於該電容器之電荷,其隨著放電時之電壓變化,在該電容器具有所定電壓以上之電壓期間,輸出所定信號的輸出機構;藉計測該所定信號在輸出期間之時間,計測該電容器放電時間的計測機構;使用透過該熱敏電阻積蓄於該電容器之電荷放電之放電時間,與於該放電之前及之後,透過該基準電阻體,放出積蓄於該電容器之電荷時之各自放電時間的平均值,算出該熱敏電阻周圍溫度的算出機構。
  2. 一種電子體溫計,包含:串聯於電容器的熱敏電阻;串聯於該電容器的基準電阻體;對於該熱敏電阻或該基準電阻體以切換方式施加電壓,藉透過該熱敏電阻或該基準電阻體之 任一項積蓄電荷於該電容器的電壓切換機構;檢出透過該熱敏電阻或該基準電阻體而積蓄於該電容器之電荷其隨著放電時之電壓變化,在該電容器具有所定電壓以上之電壓期間,輸出所定信號的輸出機構;藉計測該所定信號在輸出期間之時間,計測該電容器放電時間的計測機構;以及使用透過該熱敏電阻積蓄於該電容器之電荷放電的放電時間,與於該放電之前及之後,透過該基準電阻體,放出積蓄於該電容器之電荷時之各自放電時間之平均值,算出該熱敏電阻周圍溫度的算出機構;該算出機構至少有一次透過該熱敏電阻,或該基準電阻體積蓄電荷於該電容器,進行該積蓄電荷的放電後,進行該周圍溫度之算出。
  3. 如申請專利範圍第1項或第2項之電子體溫計,其中所述算出機構,係在已知周圍溫度下,施加預定之電壓,透過該基準電阻體積蓄電荷於該電容器後予以放電之放電時間,與在已知周圍溫度下,施加預定之電壓,透過該熱敏電阻積蓄電荷於該電容器後予以放電之放電時間,利用關於以上放電時間之資訊,算出該周圍溫度。
  4. 如申請專利範圍第1項或第2項之電子體溫計,更具備有一機構,該機構係用於判定在反覆進行 複數次透過該基準電阻體對該電容器電荷的積蓄及該電荷的放電時,前一次透過該基準電阻體之對該電容器之電荷積蓄量,與本次透過該基準電阻體之對該電容器之電荷積蓄量的差額是否在所定值以內;藉該上述之機構,如經判斷該差額在所定值以內時,該算出機構即進行該周圍溫度之算出。
  5. 如申請專利範圍第1項或第2項之電子體溫計,其中所述輸出機構為A/D變換器。
  6. 一種電子體溫計的動作控制方法,係具備有串聯於電容器的熱敏電阻;串聯於該電容器的基準電阻體;及對該熱敏電阻或該基準電阻體以切換方式施加電壓,以透過該熱敏電組或該基準電阻體之一積蓄電荷於該電容器的電壓切換機構的電子體溫計控制方法,該方法包含的過程有:檢出透過該熱敏電阻或該基準電阻體而積蓄於該電容器的電荷放電時隨著放電時的電壓變化,在該電容器保持有所定電壓以上之電壓期間,輸出所定信號的輸出過程;藉計測輸出該所定信號期間之時間,以計測該電容器之放電時間的計測過程;以及使用透過該熱敏電阻積蓄於該電容器之電荷放電之放電時間,與於該放電之前及之後,放出 透過該基準電阻體積蓄於該電容器之電荷時之各自放電時間的平均值,算出該熱敏電阻周圍溫度的算出過程。
  7. 一種電子體溫計的動作控制方法,係具備有串聯於電容器的熱敏電阻;串聯於該電容器的基準電阻體;及對該熱敏電阻或該基準電阻體以切換方式施加電壓,以透過該熱敏電組或該基準電阻體之一積蓄電荷於該電容器之電壓切換機構的電子體溫計控制方法,該方法包含的過程有:檢出透過該熱敏電阻或該基準電阻體而積蓄於該電容器的電荷,其隨著放電時的電壓變化,在該電容器保持有所定電壓以上之電壓期間,輸出所定信號的輸出過程;藉計測輸出該所定信號期間之時間,以計測該電容器之放電時間的計測過程;以及使用透過該熱敏電阻積蓄於該電容器之電荷放電的放電時間,與於該放電之前及之後,放出透過該基準電阻體積蓄於該電容器之電荷時之各自放電時間的平均值,算出該熱敏電阻周圍溫度的算出過程;該算出過程,至少有一次為透過該熱敏電阻或該基準電阻體積蓄電荷於該電容器,進行該積蓄電荷的放電後,進行該周圍溫度的算出。
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5736744B2 (ja) * 2010-01-26 2015-06-17 セイコーエプソン株式会社 熱センサーデバイス及び電子機器
TWM398899U (en) * 2010-03-09 2011-03-01 Mesure Technology Co Ltd Motion powered thermometer
TWM398898U (en) * 2010-03-09 2011-03-01 Mesure Technology Co Ltd Thermometer without power switch
JP5432066B2 (ja) * 2010-06-01 2014-03-05 テルモ株式会社 電子体温計及びその制御方法
JP5620303B2 (ja) * 2011-02-22 2014-11-05 テルモ株式会社 電子体温計及び表示制御方法
WO2012132211A1 (ja) 2011-03-25 2012-10-04 テルモ株式会社 光画像診断装置及び画像処理方法
TW201319532A (zh) * 2011-11-14 2013-05-16 Mesure Technology Co Ltd 具有電壓開關之體溫計
US8974115B2 (en) * 2012-04-27 2015-03-10 Kinsa, Inc. Temperature measurement system and method
US9545310B2 (en) 2013-04-26 2017-01-17 New York Society For The Ruptured And Crippled Maintaining The Hospital For Special Surgery Multi-component non-biodegradable implant, a method of making and a method of implantation
KR101615435B1 (ko) * 2014-06-09 2016-04-26 한국과학기술원 센서 저항을 이용한 온도 측정 장치 및 그 방법
CN204909403U (zh) * 2015-07-01 2015-12-30 深圳市谷玛鹤健康科技有限公司 一种电子体温计
US9903766B2 (en) 2015-11-30 2018-02-27 Infineon Technologies Ag Remote temperature sensing
BR112020002311A2 (pt) * 2017-08-07 2020-09-08 DePuy Synthes Products, Inc. sensores implantáveis no corpo de um paciente, sistemas e métodos de uso dos mesmos
US11309091B2 (en) 2020-03-18 2022-04-19 Kinsa Inc. Systems and methods for contagious illness surveillance and outbreak detection

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6403949B1 (en) * 1999-11-23 2002-06-11 Cidra Corporation Method and apparatus for correcting systematic error in a wavelength measuring device
TWM322234U (en) * 2006-12-20 2007-11-21 Actherm Inc Electronic clinical thermometer with capability of measuring temperature precisely

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59208472A (ja) * 1983-05-13 1984-11-26 Hitachi Ltd インピ−ダンス変化測定回路
JPS60113536A (ja) * 1983-11-25 1985-06-20 Oki Electric Ind Co Ltd A/d変換器
JPS63163178A (ja) * 1986-12-25 1988-07-06 Canon Inc 抵抗値測定回路
US4910689A (en) * 1986-12-25 1990-03-20 Canon Kabushiki Kaisha Resistivity value measuring circuit
JPH01287431A (ja) * 1988-05-13 1989-11-20 Seiko Epson Corp 半導体装置
FR2679339B1 (fr) * 1991-07-18 1994-12-09 Sagem Methode de mesure d'une resistance par evaluation de temps de charge d'un condensateur.
JP3721119B2 (ja) * 2001-11-08 2005-11-30 株式会社東芝 温度センサ
CN100552397C (zh) * 2005-03-30 2009-10-21 西铁城控股株式会社 电子体温计
US7413343B2 (en) * 2005-09-16 2008-08-19 Kyocera Wireless Corp. Apparatus for determining a temperature sensing element
CN101118190A (zh) * 2007-06-15 2008-02-06 杨如祥 一种温度测量装置及利用该装置测量温度的方法
US8979362B2 (en) * 2012-02-15 2015-03-17 Infineon Technologies Ag Circuit and method for sensing a physical quantity, an oscillator circuit, a smartcard, and a temperature-sensing circuit
DE102012208125A1 (de) * 2012-05-15 2013-11-21 E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH Temperaturmesseinrichtung, elektrisches Gerät mit einer solchen Temperaturmesseinrichtung und Verfahren zur Temperaturmessung

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6403949B1 (en) * 1999-11-23 2002-06-11 Cidra Corporation Method and apparatus for correcting systematic error in a wavelength measuring device
TWM322234U (en) * 2006-12-20 2007-11-21 Actherm Inc Electronic clinical thermometer with capability of measuring temperature precisely

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