TWI307117B - Heater - Google Patents

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TWI307117B
TWI307117B TW095129772A TW95129772A TWI307117B TW I307117 B TWI307117 B TW I307117B TW 095129772 A TW095129772 A TW 095129772A TW 95129772 A TW95129772 A TW 95129772A TW I307117 B TWI307117 B TW I307117B
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heating element
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TW095129772A
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TW200717609A (en
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Okajima Hisakazu
Goto Yoshinobu
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Ngk Insulators Ltd
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00Ohmic-resistance heating
    • H05B3/10Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor
    • H05B3/12Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor characterised by the composition or nature of the conductive material
    • H05B3/14Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor characterised by the composition or nature of the conductive material the material being non-metallic
    • H05B3/141Conductive ceramics, e.g. metal oxides, metal carbides, barium titanate, ferrites, zirconia, vitrous compounds
    • H05B3/143Conductive ceramics, e.g. metal oxides, metal carbides, barium titanate, ferrites, zirconia, vitrous compounds applied to semiconductors, e.g. wafers heating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
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Description

1307117 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是關於加熱裝置。 【先前技術】 過去,在半導體製程和液晶製程中,使用用來加熱基 板的加熱裝置。此種加熱裝置包括多使用腐蝕性氣體 PVD(Physical Vapor Depositi〇n)裝置、CVD(Chemicai > Vapor Deposition)裝置、乾蝕刻裝置等。在此種加熱裝置 的基體上,基於耐腐蝕性的觀點,一般使用陶瓷。 在此種半導體製程和液晶製程中,在設於加熱裝置的 基板加熱元件上的基板加熱面載置基板,有時會在在基板 的外周部堆積反應膜。在此,基板不和基板加熱面接合, 而反應膜有時會和基板加熱面接合。因此,當將基板從基 板加”,、面卸下時,反應膜會從基板加熱面脫落,有時會因 為在反應膜和基板加熱Φ之間所產±的應力,在反應膜上 產生缺陷、裂痕等。而且,有時會在基板上產生缺陷、裂 痕等。 因此,有人嘗試在基板加熱面上設置複數個氣體噴出 口’藉由從氣體喷出口喷出氣體,防止在基板的外周部堆 積反應膜(例子可參照專利文獻1)。 [專利文獻i]特開2002-93894號公報 【發明内容】
7066-8043-PF 5 1307117 【發明所欲解決的課題】 然而,若增加來自氣體噴出口的氣體喷出量, 反應膜的堆積,可是會對基板的成長膜的成二 響,所以無法簡單地增加氣體喷出 貝α里因此,宜減少來自 各個氣體喷出口的氣體喷出量,並且,宜為不對成長膜的 成長造成影響的量。 X我勝的 不過,在上述的習知技術中,藉由在燒好的陶曼製加 熱裝置内打孔來形成複數個氣體通路,所以,會因為切削 時使一部分的陶竞崩壞這種情況而導致難以提高氣體通路 的尺寸精度。換言之,對基板加熱面喷出的氣體喷出 有離散情況產生。 因此,本發明的目的在提供一種加熱裝置,其可減少 對基板加熱面喷出的氣體喷出量的離散情況,並可在不對 基板之成長膜之成長等有影響的情況下,抑制反應膜在基 板加熱面上堆積。 【用以解決課題的手段】 本發明之加熱裳置包括:具有載置於基本的基板加熱 面及位於上述基板加熱面之相反侧的加熱元件背面且埋設 有電阻發熱體的板狀加熱元件及配置於上述加熱元件之上 述加熱元件背面且與具有上述加熱元件背面相向之相向面 的輔助兀件’在上述加熱元件背面和上述相向面之間,形 成向上述基板加熱面噴出的氣體通路,其為面狀氣體通路。 根據此種加熱裝置,在加熱元件上形成加熱元件背 面’在辅助元件上形成相向面,在加熱元件背面和相向面 7066-8043-pf 6 1307117 之間形成面狀氣體通路。 又,加熱元件背面及相向面為單純的面狀,所以,可 藉由使用模具等的成型方式或燒結方式輕易形成。 所以,如同習知,相較於藉由開孔加 的情況,可提高在加熱元件背面和相向面 體通路的尺寸。 工形成氣體通路 之間形成面狀氣 換言之,可減少對基板加熱面喷出的氣體喷出量的離 散情況’並可在不對基板之成長膜之成長等有影響的情況 下,抑制反應膜在基板加熱面上堆積。 相向面宜從上述加熱元件背面向外側突出,在相向面 上,形成沿著加熱元件之側面配置且約略和相向面呈垂直 方向而突出的連續延伸的相向壁部。 :康此’在加熱元件之側面和沿著加熱元件之側面而設 的t目向”之間’形成從面狀氣體通路連通至基板加熱 的孔體嘴出通路。換言之,涵蓋基板加熱面的整個外周 來形成氣體噴出的喷出口。 口所卩’相較於在基板加熱面之外周部設置複數個喷出 口的情況’可有效抑制反應膜在基板加熱面上堆積。 宜包括從加熱元件背面支持上述加熱元件的第一支持 從位於和相向面相反側之輔助㈣的那面亦即輔助 70 # Φ支持輔助元件的第二支持元件。 輔助餘件的相向壁部宜包括比加熱元件之基板加熱面 據此, 輔助7C件之相向壁部及加熱元件可將圓環等周 7066~8〇43-ρρ 7 1307117 圍元件準確地载置於基板加熱面 面上。 比基板加熱面低的 加熱7C件宜具有從基板加熱面連通至 :复數個連通孔,複數個連通孔宜沿著基板加 相隔專間距而形成。 據此’藉由加熱元件具有從基板加熱面連通 體通路的複數個連通孔,在加熱褒置的製程中,正確對齊 加熱兀件和輔助元件的位置變得容易。又,藉 沿著基板加熱面的外周部以等間隔形成,可有效抑制^ 膜在基板加熱面上堆積》 … ,宜包括從加熱元件背面支持加熱元件的第—支持元件 :從位於和相向面相反側之輔助元件的那面亦即輔助元件 :面支持輔助元件的第二支持元件,在加熱元件背面和相 °面之間,形成從面狀氣體通路和連通孔匯合之部分連通 至加熱裝置之外側的間隙,間隙具有規範氣體之流動的形 狀。 據此,在加熱元件之加熱元件背面和輔助元件之相向 面之間所形成的間隙從面狀氣體通路和連通孔匯合的部分 連通至加熱裝置的外側。換言之,加熱元件背面和輔助元 件的相向面不相互連接。 所以,在加熱元件背面和輔助元件之相向面之間所形 成的間隙可吸收第-支持元件及第二支持元件誤 差。 又,在加熱元件之加熱元件背面和輔助元件之相向面 8 7 066-8043-pp 1307117 之間所形成的間隙具有規範氣體 喷出至基献" 4動的形狀’ s此可抑制 $ κ至基板加熱面側的氣體由間隙漏出。 :匕外,所謂規範氣體流動的形狀,是指剖面面積㈣ 比面狀氣體通路的形狀或曲軸形狀等。 ‘ 且包括從加熱元件背面支拷 _ 又持加熱凡件的第一支持元 1,在相向面上’設置配置於連通孔之外側的連續延伸的 周壁和配置於連通孔内側的連續延伸的内周壁,外周壁 及内周壁和相向面呈約略垂直 -α 且万向的長度大略相等,輔助 70件固定於加熱元件上。 :此,藉由將輔助元件固定於加熱元件上並 及内周壁的高度約略相等,可 & j徒同在加熱兀件之加埶元侔 背面和辅助元件之相向面之間 ”、、牛 斤幵乂成的面狀氣體通路的尺 ' 又,可抑制從面狀氣體通路漏出氣體。 輔助元件不需要支持元件,所以,裝置 輕、,裝置的變得容易掌握。又,台座的直徑也可以變小, 所以’可透過台座將裝置所安裝的部位設計得更緊實。 輔助元件宜藉由烊接或螺釘固定於加熱元件。 /康此’可簡單地將輔助元件固定於加熱元件上。又, 當藉由螺釘將辅助元件固定於加熱元件時,可輕易變更從 …兀件之間的距離。所以,可簡單地調整面 狀氣體通路的氣體流量。 167 連通孔宜朝向和基板加熱面約略垂直的方向延伸。 孰而吏來自連通孔的氣體以約略垂直的角度向基板加 ,,,、面喷出,可進一步減少反應膜的堆積。
7066-8043-PF 9 1307117 加熱7L件宜在基板加熱面之外側具有比基板加熱面低 的面。 據此,辅助元件之相向壁部及加熱元件可將圓環等周 圍兀件準確地載置於基板加熱面的外周比基板加熱面低的 面上。 【發明效果】 根據本發明,可提供一種加熱裝置,其可減少對基板 加熱面噴出的氣體喷出量的離散情況,並可在不對基板之 成長臈之成長等有影響m τ,抑制反應膜在基板加熱 【實施方式】 接著’參照圖面說明本發明的實施型態。此外,在以 :的圖面的記載中,同一或類似的部分附加同一或類似的 n不過’貞留意圖面僅表示出模式,各個尺寸的 等和現實中的不同》 、 所以’關於具體尺寸等,應參酌以τ的說明來作判斷。 又,在圖面之間也含有彼此之間的尺寸關係和 部分。 卞卜丨j的 [第1實施型態] (加熱裝置) Μ 卜 遠爹照圖面 —邊說明本發明第丨實施型皞 ^裝置⑽第1圖為表示整個本發明第!實施型態之加妖; 置1〇0的立體圖。加熱裝置⑽受到第—支持元件3〇支;
7066-8043-PF 10 .1307117 包括具有基板加熱面1 〇a的加熱元件丨〇、受到第二支持元件 50支持的輔助元件2〇、供氣體喷出的喷出口 ι^、支持第一 支持70件30和第二支持元件50的台座40。加熱裝置1〇〇加熱 載置於加板加熱面1 Oa的基板。 加熱元件1〇具有基板加熱面l〇a、加熱元件背面i〇b、 側面10c。在基板加熱面1〇a上,載置有矽基板、玻璃基板 一員的基板基板加熱面10a的表面粗度(Ra)應為 〜6. 3 " m為宜。
加熱元件1 〇藉由從後述之供電元件丨2對電阻發熱體11 轭加電力’對基板加熱面1〇a加熱,並對載置於基板加熱面 的基板加熱。加熱元件j 〇可使用圓盤狀之類的板狀材 ;斗 …、元件10由陶究或陶竞和金屬的複合材料等構成。 •'、、、疋件1〇可由氮化鋁(A1N)、氧化鋁(A1z〇3)、氮化 r、s;二碳切(Sic)、siai〇n陶曼(siAi〇N)之類的燒結 鋁σ金、鋁合金—氮化鋁複合物、鋁合金-碳 :石夕複合物等來構成。加熱元件i〇可含有氧化纪作為燒. 劑。不過,形成加熱元Μ。的上述主成 : 分總量應為5%以下Α^ it叶(外的成 支持。 為且。加熱元件10受到第一支持元件30 支持凡件30為中空形狀的圓 收納供電元件12。坌^在其管内 熱元件背面1〇b。第—立牲寺疋件3〇接合至加熱元件10的加 鋁等形成。第—支持_杜件3〇由氮化鋁、氮化矽、氧化 相同的種類為宜。、30的材質疋和加熱元件1。的材質
7066-8043-PF 11 1307117 輔助元件2〇具有設置後述之相向壁部21的相向面 2〇a、輔助元件背面20d。輔助元件2〇由和加熱元件1〇相同 的陶瓷、陶瓷和金屬的複合材料等構成為宜。 相 的加熱元件1 〇的外 向壁部21設置於相向面2〇a上
側,沿著加熱元件的侧面10c持續延伸而形成。相向壁部21 具有相向壁部側面20b和載置面20〇相向壁部21和加熱元 件10的側面10c相向。載置面20c為比加熱元件1〇的基板加 熱面l〇a低的面。輔助元件20受到第二支持元件5〇支持。 第二支持元件50和第-支持元件3〇相@,由氮化鋁、 氮化石夕、氧化銘等形成。第二支持元件5〇的材質是和輔助 元件20的材質相同的種類為宜。 々辅助元件20和第一支持元件5〇以一體化接合或密封接 合等方式來接合。此外,若為密封接合,可使用〇環、金屬 填密等。X ’由輔助元件20及第二支持元件5〇所形成的形 狀亦可為一體成型。 第二支持元件50及第一支持元件3〇受到台座4〇支持。 台座40及第二支持元件5〇、台座4()及第—東持元件藉由 螺釘等來固^。台座4G的接合部藉由Q環等來形成密封構 造。又,台座40可由鋁、SUS、鎳等金屬來形成。 氣體通路14在上述加熱元件1〇和輔助元件2〇之間形 成0 具體來說,氣體通路14由面狀氣體通路14a及連通至面 狀氣體通路14a的氣體噴出通路14b來形成。 面狀氣體通路14a在加熱元件1〇的加熱元件背面1〇b和 7066-8043-PF 12 1307117 辅助元件20的相向面2〇a之間形成。 氣體喷出通路14b在加熱元件10的側面10c和相向壁部 21之間形成。氣體喷出通路Ub從面狀氣體通路…連通至 基板加熱面1〇a。藉由此種氣體通路14,涵蓋基板加熱面10a 的整個外周,形成使氣體噴出的喷出口Μ。氣體通路Μ 、寬度亦即通路寬度! 4W為從加熱元件1 〇的側面^ &到相向 壁部21的距離。 以下將進一步說明上述的氣體通路14。 第2圖表示第1圖的分解圖的一部分。 如第2圖所示,在輔助元件2〇上形成通過第一支持元件 3〇的孔’党到第二支持元件5〇支持。χ,加熱元件受到 第一支持元件30支持。第一支持元件30和加熱元件10的連 接面藉由位置比辅助元件2〇的相向面⑽高,形成面狀氣體 通路14a ^ 辅助元件2 0的相向面2 〇 a和加熱元件丨〇的加熱元件背 面i〇b相向。又,相向面20a突出至加熱元件背面i〇b的外側。 相向壁部21沿著相向面2〇a的外周延續延伸而形成。藉 此’可在加熱兀件10的側面1〇c和相向壁部21之間形成氣體 噴出通路14b。 第3圖表示第丄圖的la_la剖面圖。如第3圖所示,藉由 來自台座40的第-支持元件3〇和第二支持元件5〇的長^的 關’決定從相向面2_加熱元件背面1〇b的距離亦即面 狀氣體通路14a的寬度。又,加熱元件1〇在内部埋設電阻發 熱體11,具有用來插入供電元件12的孔。 7066-8043-PF 13 1307117 。電阻發熱體11 a埋設於加熱元件i 〇内部。電阻發熱體i丄 :使用銳、翻、鶴等。電阻發熱體i i可使I線狀、線圈狀、 帶狀、網狀、膜狀等物體。 第支持元件30為中空形狀的圓筒等構造,在其管内 收納供電元件丨2。 供電疋件12對電阻發熱體11供給電力。供電元件12和 電阻發熱體η連接。供電元件12以錄、銘、銅、合金等形 成i、電元件12的形狀為桿狀、圓柱、境線、平板、線狀 織物、圓筒狀等。供電元件12藉由焊接、溶接、共晶焊接、 填隙、嵌合、螺釘和電阻發熱體u連接。供電元件12以絕 緣疋件13覆蓋。絕緣元件13可藉由形成陶竟等而具有絕緣 性、隔熱性。 。座40包括氣體導人孔15。藉此,氣體從氣體導入孔 15供給’通過第二支持元件5〇和第一支持元件3。之間的空 間,再通過氣體通路14’形成傳送至基板加熱面.的通路。 〃此外’氣體方面,使一般周知的氣體如氮氣、氦氣、 風乳、氦氣和氬氣的混合氣體等以! atm、換算之後為 U〜20L/Inin的速度流動為宜。根據此種加熱裝置⑽,加 熱裝置1。0在加熱元件!。形成加熱元件背面_,在輔助元 件20形成相向面20a,在加熱元件背面⑽和相向面心之間 形成面狀氣體通路14a。 根據上述之本發明第!實施型態之加熱裳置ι〇〇,加執 及相向面20a為單純的面狀,所以,可藉由使 用杈具專的成型方法及燒成方法輕易形成。 7066-8043-PP 14 1307117 於是,如同習知,相較於藉由開孔加工形成氣體通路 14的情況,可提高在加熱元件背面1〇b和相向面2〇a之間所 形成的面狀氣體通路14a的尺寸精度。 換言之,可減少冑基板加熱面1〇a嘴出的氣體喷出量的 離散情況,並可在不對基板之成長膜之成長等有影響的情 況下,抑制反應膜在基板加熱面1 Q a上堆積。 又,藉由涵蓋基板加熱面整個外周形成使氣體喷 出的噴出口 14h,相較於在基板加熱面丨〇a的外周部設置複 數個喷出π的情況,可有效地抑制反應膜在基板加熱面上 堆積。 輔助元件20的相向壁部21在基板加熱面心的外周包 括比基板加熱面10a低的載置面2〇c,藉此,可在基板加熱 面l〇a的外周載置圓環等周圍元件。 … 輔助元件20由和加熱元件10相同的陶瓷、陶瓷和金屬 的複合材料等構成,藉此,可使加熱裝置1GG在高溫處理時 的熱收縮行為相同。 基板加熱面10a的表面粗度(Ra)為〇〇l63#m,藉 此’可使基板加熱面l〇a和基板適當地接觸,使基板溫度維 持均勻分佈。 第-支持元件3 0的材質和加熱元件! 〇的材質為相同種 類’藉此’可防止熱膨脹係數差等所引起的熱應力在加熱 7G件10和第—支持凡件3G的接合部分產生,並可堅固地接 合第一支持元件30。 第二支持元件50的材質和輔助元件20的材質為相同種 7066-8043-pp 15 1307117 類’藉此,可防止熱膨脹 元件20釦帛士杜 ’、數差4所引起的熱應力在輔助 二=持元件5〇的接合部分產生,並可堅固地接 σ弟一支持元件50。 (加熱裝置的製造方法) 埶元:=裝置1〇°可藉由形成具有電阻發熱體η之加 加::形成辅助元件20的製程、在加熱元件. 之間加熱元件背面⑽和辅助元件2。之相向面心 >成軋體通路14的製程來製造。 _=二下面的方式來製作加熱元件1〇。在加熱元件 =竟原料粉末上,根據需要添加有機溶劑、分散劑來 此δ接合劑,製作砂漿。 的陶# μ ^ 』尤原科杨末可含有作為主成分 主成㈣末、燒結劑和接合劑。譬如,以氮化銘粉末為 料:二Γ:氧化記粉末等作為燒結劑。不過,主成分原 原料粉末。 為且。以球磨機等來混合陶究 粒妙使用喷霧造粒法對所得到的砂漿造粒,得到造粒顆 法1後’二吏用模具成型法、CIP(cold isostatlc Press㈣ 加工鱗造法等成型方法對所得到的造粒顆粒進行成型 接著,在成型體上形诸雷 有高炫點材料之粉末的;=發=。譬如,調整含 刷坏膏,在成型體上藉由絲網印 =4印刷成㈣的圓案形狀,形成電阻發熱體ιΐ2。在此 在P刷焊β上,宜混合加熱元件^ 〇的陶瓷原料粉 末。藉此,電阻可拉近電阻發熱體u和加熱元件1〇的熱膨 7066-8043-pf 16 1307117 脹係數並提高密合度。 在形成電阻發熱體u的成型體上,積層以同樣的方式 得到的成型體,將其燒成一體。譬如,設置在模具等之上 开y成電阻發熱體丨丨的成型體。在電阻發熱體丨丨及成型體 上’填充以和製作成型體時相同的方式來預備的造粒顆 粒’同時進行成型及其積層。 然後,藉由熱壓法、常壓燒結法等燒成方法將埋設有 電阻發熱體U的成型體燒成一體,製作燒結成-體的加熱 兀件10 4如,可根據陶瓷的種類來選擇周圍氣體、燒成 /皿度燒成時間、燒成方法燒成所得到的成型體。又譬如, 在陶竟原料粉末使用氮化銘粉末的情況下使用熱塵法=,並 使用氮氣、氬氣等惰性氣體為周圍氣體,使溫度為 維持此條件約卜10小時的時間來燒成。在燒 成過程中所加入㈣力可為2(M Wkgf/em2。藉m 加熱凡件10和電阻發熱體11的密合度良好。燒成溫度宜在 ㈣韻η:之間,廢力宜在50〜纖gf/cm2之間。在 的平=在所得到的加熱元件1〇上’施以基板加熱隱 元:二?、將供電元件12連接至電阻發熱體η的供電 部分。 的開孔加工’並預先露出電阻發熱體以的一 此外接二:和加熱元件1〇同樣的方式製作辅助元終 並使力:-件成型體時,形成通過第一支持元件30的孔, 為 件的外側具有相向壁部21、向加埶元件i〇的加 件背面㈣的外側突出的相向面心。在相向壁部_
7066-8043-PF 17 1307117 外周部上,宜形成比加 面2°c。載置面20c除了藉2 熱面1〇德的載置 使用研磨加工㈣成。模具成型之外’也可在燒成後 =進行此種加熱元件1〇及輔助元件 第支持兀件30及第二支梏开杜性 表卞 作加熱元件1〇 寺凡件5。。第-支持元件30和製 譬如在氮氣中藉由粒顆粒,製作f狀的成型體, 支持元㈣宜==製作所得到的成型體。第- 原料粉末相同的原料粉末來製作:们〇時所使用的陶究 顆粒,5G和製作辅助元件20時相同,預備造粒 寸冑由液均壓法等製作 *藉由常壓燒成法製作所得到的成型:體 宜使用材質和製作辅助元件 第-支持-件5。 同的原料粉末來製作。 、使用的陶瓷原料粉末相 接著,可藉由填隙、熔接、 件10的加熱元件背面105和第_ 4來接合加熱元 加熱面的捿合面和楚 、70牛30。具體來說,在 ^。面和第_切元件3G的接 者上,塗佈根據加熱元件10、 U- 擇的接合劑。然後,可藉由黏M /70件30的材質來選 件30的接合面,採…件10和第-支持元 休用根據加熱π件J 0、 材質來選擇的周圍氣體、溫度進行熱處理 70件30的 時’從和接合面垂直的方向塵下純’完成接合。此 件30,以此方式對其加壓。 4件10和第-支持元 在加熱元件10及第一支持元件30為氮化銘燒結體的情
7066-8043-PF 18 1307117 =性2: 土類化合物等作為接合劑,使用氮氣、氬氣 等青生:體為周圍氣體’採用150。〜2電的溫 1〜10小時,藉此進行接合。 ^ΜηΛ . 牙面1〇b第一支持元件30相同的方式接 ,著’使用螺釘等將第一支持元件3〇及第二支持元件 疋於口座40上。此時,以在輔助元件2〇和加熱元件以 :s形成氣體通路“的方式來固定…座之間的接合部
猎由0環等來構成來扭★塞、A 成在封構&。在台座40上,預先藉由開工加 …成用來貫通供電元件12的貫通孔及用來使氣體流過 亂體通路14的氣體導入孔15。 、根據上述之本發明第1實施型態之加熱裝置m之製造 方法’藉由包含形成具有電阻發熱_之加熱元件i。的製 程:形成輔助元件20的製程,可分別形成加熱元件1〇和辅 助凡件2G。加熱疋件1()及輔助元件2G可藉由單純的面來構 成並使用模具等來形成,所以,可輕易形成。 一又,藉由包含在加熱元件10的加熱元件背面10b和輔助 元件2 0的相向面2 〇 a之間形成氣體通路i 4的製程,相較於以 過去的方式藉由開孔加工形成氣體通路的情況,可提高在 加熱元件背面1〇b和相向面2〇a之間形成的面狀氣體通路 14a的尺寸精度。 換s之,可製造出一種加熱裝置1〇〇,其其可減少對基 板加熱面噴出的氣體喷出量的離散情況,並可在不對基板 之成長膜之成長等有影響的情況下,抑制反應膜在基板加 7066-8043-PF 19 .1307117 熱面上堆積。 [第2實施型態] (加熱裝置) 以下將一邊參照圖面,一邊說明本發明第2實施型態之 加熱裝置1 〇〇 ^此外,主要將說明和上述之第1實施型態之 間的不同點。 具體來說,在第1實施型態中,使用輔助材料20,其具 有向加熱元件10的加熱元件背面1 Ob的外側突出的相向面 2 〇 a °藉由形成沿著加熱元件1 〇的侧面1 〇 c繼續延伸而配置 且和相向面20a約略呈垂直而突出的相向壁部21,在側面 10CC和相向壁部21之間,形成從面狀氣體通路i4a連通至基 板加熱面l〇a的氣體喷出通路14b。 相對於此,在第2實 —/L* ΓΓ丄U丄7Γ夕力乂攸 面狀氣體通路14a連通至基板加熱面1〇a的連通孔14(^。 第4圖為表示整個本發明第2實施型態之加熱裝置ι〇〇 的立體圖。此外,t阻發熱㈣、供電元件12、絕緣元件 13 第一支持元件30、台座40、筮- σ厓4U第一支持το件50和第1實施 .。中的相同,所以在此省略說明。同樣地,第 ::及第二支持元件5°的形狀、材料等和第1實施型態中的 相同,所以在此亦省略說明。 的 如第4圖所示,第9音说;丨% 第2實施型態之加熱裝置1〇〇 且 板加熱面10a之加熱元件1〇、 ,、有基 -支持元件30、第二支持 、噴出口咐、第 支持元件50固定於台座4G上。 —支持元件3G及第二
7〇66-8043-PF 20 1307117 輔助元件20包括從相向面2〇a的外周部向和相向面2〇a 約略垂直的方向突出的外周壁22。加熱元件1〇包括寬度比 外周壁22之外壁厚度22w之距離大的凹溝丨7。關於此外周壁 22及凹溝17’將會在後面的第7圖中敘述。 加熱元件10於内部包括電阻發熱體丨丨、基板加熱面 l〇a、加熱元件背面i〇b。又,加熱元件1〇形成複數個連通 孔14c,包括載置面1 〇d。在加熱元件背面丨〇b,形成具有溝 寬17w的凹溝17。載置面10d為比加熱元件1〇的基板加熱面 > 10a低的面。 辅助元件20包括從相向面20a的外周部向和相向面2〇& 約略呈垂直的方向突出的相向壁部2卜相向面2〇a和加熱元 件1 0的加熱元件背面1 0b相向。 氣體通路14由面狀氣體通路14a和連通至面狀氣體通 路14a的連通孔14c所形成。 面狀氣體通路14a由加熱元件1〇的加熱元件背面1〇b和 > 辅助元件20的相向面2〇a所形成。 連通孔14c藉由喷出口 14h喷出氣體。連通孔14c從基板 加,、,、面10a連通至面狀氣體通路Ha。連通孔i4c宜以等間隔 在基板加熱面10a的外周部形成複數個。連通孔i4c宜為朝 和基板加熱面1 〇3約略垂直的方向延伸的形狀。 第5圖表示第4圖的分解圖的一部分。如第4圖所示,加 熱元件10受到第-支持元件30支持。又,輔助元件2〇形成 通過第一支持元件3 0的孔,受到第二支持元件5 0支持。 第6圖表示第4圖的4a-4a剖面圖。 7066-8043-PF 21 .1307117 在加熱元件10的加熱元件背面1〇b和辅助元件2〇的相 向面20a之間,宜形成從面狀氣體通路Ua和連通孔i4c匯合 的部分連通至加熱裝置⑽的外側且具有可規範氣體流動 之形狀的間隙。所謂可規範氣體流動之形狀,是指剖面的 面積顯著比面狀氣體通路14a小的形狀或曲軸形狀等。其具 體的例子為,由在加熱元件10的加熱元件背面⑽形成:凹 溝Π和在輔助元件20的相向面,上形成的外周壁^所形 成的曲軸形狀.。 將在第7圖進一步說明由凹溝17和外周壁以所形成的 曲軸形狀。 第7圖為在加熱元件1 〇的加熱元件背面丨〇 b形成的凹溝 Π及在輔助元件20的相向面20a形成的外周壁22的放大圖。 如第7圖所示,藉由凹溝17及外周壁22,在加熱元件1〇 的加熱元件背面1 Ob和辅助元件20的相向面2〇a之間所形成 的間隙從面狀氣體通路14 a和連通孔i 4 c匯合的部分連通至 加熱裝置1 00的外側。換言之,加熱元件背面i 〇b和輔助元 件20的相向面20a不相互連接。 根據本發明第2實施型態之加熱裝置丨〇〇,藉由使加熱 凡件10具有從基板加熱面l〇a連通至面狀氣體通路14a的複 數個連通孔14c,在加熱裝置1〇〇的製程中,可輕易對準加 熱兀件1 0和輔助元件20的位置。又,藉由沿著基板加熱面 1 〇 a的外周部以等間隔形成連通孔丨4 c,可有效地抑制反應 膜在基板加熱面l〇a上堆積。 藉由以和來自連通孔14之基板加熱面i〇a呈約略垂直 7066-8043-PF 22 1307117 、弋來形成,並藉由以使氣體和基板加熱面)0a呈約略垂 直的方式噴出’可進一步減少反應膜的堆積。 又,加熱7C件10受到第一支持元件3〇支持。又,輔助 -件2。形成通過第一支持元件3〇的孔,受到第二支持元件 5〇支持。在加熱元件1〇的加熱元件背面i〇b和輔助元件別 的相向面20a之間所形成的間隙從面狀氣體通路】仏和連通 孔14c匯合的部分連通至加熱裝置1〇〇的外側,加埶元件背 面l〇b和辅助元件2。的相向面20a不相互連接。於是,在加 熱兀件背面10b和輔助元件2〇的相向面施之間所形成的間 隙可吸收第—支持元件別及第二支持元件50的尺寸誤差。 又藉由使在加熱元件丨〇的加熱元件背面i 〇b和輔助元 件20的相向面2Ga之間所形成的間隙具有規範氣體流動的 形狀,可抑制對基板加熱面丨〇a喷出的氣體從間隙漏出。 [第3實施型態] (加熱裝置) 以下一邊參照圖面,一邊說明本發明第3實施型態之加 熱裝置100。&外,纟要說明和上述之第以施型態之間的 不同點。 * 具體而言,在第i實施型態中,加熱元件1〇受到第—支 持兀件30支持,輔助元件2〇受到第二支持元件5〇支持。亦 即,加熱元件10和辅助元件2〇分別受到支持。相對於此, 在第3實施型態中,輔助元件2〇直接固定於受到第—支持元 件30支持的加熱元件上。 第8圖為表示整個本發明第3實施型態之加熱裝置1〇〇 7066-8043-PF 23 1307117 =體圖。如第8圖所示’第3實施型態之加熱裝置ι〇〇中的 ^件20固定於加熱元㈣上。第3實施型態之加熱裂置 口苐2實施型態相同’包括具有基板加熱面工一加埶元 件1〇、辅助元件2〇、氣體通路14和第二支持元件5〇。…、 第9圖表示第8圖的分解圖的一部分。如第9圖所示,加 第一支持元件51支持…輔助元件2。形成 通過第一支持元件51的孔。 第10圖表示第8圖的8a-8a剖面圖。 加熱元件10和第2實施型態相同,在内部包括電阻發熱 體11、基板加熱面1 0a和加熱元件背面丨〇b。又,加熱元件 1〇形成複數個連通孔14c和氣體通路14d,並包括載置面 1 0d。
輔助7L件20具有相向面2〇a、外周壁和内周壁。辅助元 件20宜固定於加熱元件1〇上。在第3實施型態中,藉由螺釘 7〇將輔助元件2〇固定於加熱元件1()上。輔助元件2〇宜由材 料和加熱元件10相同的陶竟、陶究和金屬的複合材料等構 成。相向面20a和加熱元件10的力σ熱元件背面⑽相向。 外周壁在形成加熱元件10的連通孔14。的外側上,以和 相向面2〇a約略垂直的方向突出於相向面,的外周部。 内周壁在連通孔14c的内側,以和相向面2〇&約略垂直 的方向突出。外周壁及内周壁的高度宜約略相等。又外 周壁和加熱元件背面10b之間、内周壁和加熱元件背面⑽ 之間緊密接合’亦可在緊密接合的面上以載置時⑽的方式 來接合。 7066-8043-PF 24 1307117 氣體通路14由面狀氣體通路i4a、連通至面狀氣體通路 14a的連通孔14c、連通至面狀氣體通路14a的氣體通路l4d 所形成。 面狀虱體通路14a由加熱元件的加熱元件背面i〇b、輔 助元件20的相向面20a、外周壁和内周壁所形成。 氣體通路14d形成於加熱元件1〇内,連通至面狀氣體通 路 14a。
第一支持元件51支持加熱元件10。第一支持元件“為 中空形狀的圓筒之類的構造,在其管内收納供電元件1 2 : 又,在第一支持元件51的内部,形成氣體通路Ue。第—支 持元件51接合至加熱元件丨〇的加熱元件背面丨〇b。第一支持 元件51的材料、接合方法等和第丨實施型態的第一支持元件 30相同’在此省略說明。 氣體通路14e連通至氣體通路Hd。 此外,有關電阻發熱體U、供電元件12、絕緣元件Μ 台座4〇等,和第1實施型態相同,所以在此省略說明。 根據此種加熱裝置100’輔助元件2〇固定於加熱元㈣ 上’外周壁及内周壁的高度宜約略㈣,藉此,可提高在 加熱…〇的加熱元件背面10b和輔助元件2。的相向面2〇a 之間所形成的面狀氣體通路14a的尺寸精度。又,可抑制氣 體從面狀氣體通路14a漏出。 元件,所以’裝置的重量 座的直徑也可以變小,所 位設計得緊實。 變輕 以, 又,辅助元件20不需要支持 ,可輕易掌握裝置。又,台 可透過台座將安裝裝置的部 7066-8043-PF 25 • 1307117 [其他實施型態] (加熱裝置) 已藉由上述實施型態記述了本發明,但不應將作為此 揭示的一部分的論述及圖面理解為限定本發明的範圍。熟 悉相關技術領域者可從此揭示了解到各種可替代的實施型 態、實施例及運用技術。
譬如,在第3實施型態中,當將輔助元件2〇固定於加熱 兀件1 0上時,藉由螺釘固定輔助元件,不$,如第】ι圖所 不,畲將辅助元件20固定於加熱元件1〇上時,可藉由焊接 來將輔助元件2G固定於加熱元件1〇上。 又,在第2實施型態中,在規範氣體流動的形狀方面, 說明了第7圖所示的曲軸形狀’不過,在加熱元件背面10b 和辅助兀件20的相向面2〇3之間所形成的間隙可吸收第一 支持7C件3G及第二支持元件5()的尺寸誤差。例如,可為剖 面的面積顯著比面狀氣體通路14a小的形狀,亦可在加^ =背面1Gb和辅助元㈣的相向面施之間於面狀氣體通路 14a的外侧以陶瓷形成曲軸形狀。 接著,將藉由實施例進一步詳細地說明本發明,不過 本發明不受到下面的實施例的任何限定。 首先,以下面的方式製作加熱元件1〇 的陶竟原料粉末方面,可在氮化銘粉末上加入作 劑、燒結劑的氢芥打m 作马接口 匕釔,使用球磨機來混合。藉由 ㈣來對所得到的砂㈣粒,得到造粒顆粒。藉== 里髮將所得到的造粒顆粒成型成板狀。又,藉由液均壓法
7066-8043-PF 26 1307117 將造粒顆粒成型成第一支持元件30用的管狀。在氮氣中使 用常>1燒成法並在1 800 c的溫度條件下維持約2小時,燒成 所得到的管狀成型體。 另一方面,進一步將預先形成線圈狀的鉬製電阻發熱 體Π配設於板狀成型體上,在其上再度填充上述造粒顆 粒,進行壓模成型。 …、:後電阻發熱體11將一體成型的氮化鋁成型體設置 為碳製的外殼,藉由熱壓法來燒成。具體來說,一邊以 2〇〇kgf/cm加壓,一邊在氮氣加壓周圍氣體中維持 的條件兩小時,燒成一體。 對所知到的加熱凡件i 〇,施以基板加熱面】〇的平坦化 力 仏電疋件12用小孔的開孔加工等,並預先露出電阻 發熱體11的一部分。有關加熱元件1〇的大小,直徑設為 237關,厚度設為18随。有關第一支持元件3〇的大小,外徑 設為55咖,内徑設為45韻,長度設為169随。 在加熱兀件10和第一支持元件30的接合面上塗佈接合 齊J將兩者黏合,在氮氣的周圍氣體中,以丨7 〇 〇的條件 設置2小時,進行熱處理’以接合加熱元件10和第一支持元 件30藉由焊接將供電元件12接合至電阻發熱體11上。此 卜將第支持元件3。的端部加工成凸緣形狀。 如第6圖所示,在基板加熱面l〇a上以開孔加工形成直 徑3_的連通孔14c。連通孔⑷沿著基板的外周,以直徑3_ 的丨j等配置於基板加熱面i 上的】2個位置。 —X下面的方式製作輔助元件20。在輔助元件2〇
7066-8043-PF 27 1307117 的陶兗原料粉末方面,可在f 氮化紹粉末上加入作為接合 d、燒、、,。劑的氧化釔,使用球 、土笙办似&, 機來〜合。藉由喷霧造粒 =來到的砂裂造粒,得到造粒顆粒。藉由模具成 將造粒顆粒成型成第1捭藉由液均壓法 狀…r 件5°用的管狀。所得到的板 體係使用熱壓法,在氮氣中,刪。C約保持在2小時 而加以燒成。在氮氣中 a燒纽並在18GG°C的溫度 條件下維持約2小時,燒成所得到的管狀成型體。 力工^所^的㈣元件2G上’施以提升銷用小孔的開孔 二專。有關輔助元件20的大小,直徑設為228_,厚度設 。有關第二支持元件5Q的大小,外徑設為L §又為88mm ’長度設為161隨。 劑件2〇和第二支持元件5°的接合面上塗佈接合 =兩者黏合,在氮氣的周圍氣體甲,以崎的條件 二小時’進行熱處理,以接合辅助元件2()和第二支持元 彳:外’將第二支持元件5〇的端部加工成凸緣形狀。 接者,在紹製的台座40上使用螺釘固定第一支持元件 30及第二支捭开杜μ iL ± 又付兀1干 持70件50 °此時’使用〇環,使第-支持元件30 及第-支持元件50的凸緣部和台座之間為密封構造。在台 座二上’藉由開口加工設置對第一支持元件30和第二支持 兀“°之間的空間導入氣體的氣體導入孔15。 如此’得到-加熱裝置1〇〇,其在氣體通路14方面,包 ^面狀氣體通路l4a和連通至面狀氣體通路…的連通孔 心氧體從氣體導入孔15傳送至第一支持元件別和第二支 7066-8043-pp 28 1307117 持&件50之間的空間、面狀氣體通路…、連通孔n 在作為比較例的樣本3中,燒成加熱元件丨〇後,為了從 兀件側面至加熱面形成平行氣體通路,施以開孔加工,不 過’欲加工的氣體小孔長度較長,所以,在加工切削的過 程中’會在小孔的側壁產生經削,孔徑變得不—致,在氣 體通路的尺寸方面產生離散情況。 (評價方法) 針對所得到的加熱裝置1〇〇進行以下樣本丨、樣本2的 價。 在加熱裝置1 0 〇上載置矽晶圓,加熱至4 2 〇,從矽晶 圓上面導入高純度六氟化鎢,在矽晶圓上藉由CVD裝置形成 鎢薄膜。 樣本1從氣體導入孔15導入氮氣,使氮氣從基板加熱面 l〇a的連通孔14c喷出,藉由CVD裝置形蒙鎢薄膜。 樣本2不導入氣體,藉由CVD裝置形成鎢薄膜。 (評價結果) 在樣本1十,不在矽基板的外周部形成鎢薄膜。又亦 不在在基板加熱面丨〇a和矽基板的邊界上形成鎢薄膜。 在樣本2中,在矽基板的外周部形成鎢薄膜。又,在在 基板加熱面1 〇a和矽基板的邊界上形成鎢薄膜。 、在樣本1中,是為了藉由使氮氣從基板加熱面10a的連 通孔14c噴出,氮氣以不在在矽基板的外周部形成高純度六 氟化鎢所組成的鎢薄膜的方式來作為氣體障壁。 藉此,在樣本1中,可使矽基板輕易和基板加熱面i〇a 7066-8043-PF 29 1307117 刀隔開來。此外,在樣本2中,當使矽基板和基板加熱面】〇a 刀隔開來時,鎢薄膜難以從基板加熱面1 剝落,因在鎢薄 膜和基板加熱面m之間所產生應力而在鶴薄膜上產生裂 :。再者,以此裂痕為起點,在石夕基板上的鶴薄膜再產生 其他的裂痕。 圖式簡單說明】
第1圖為表示本發明第 第2圖為表示本發明第 圖。 弟3圖為表示本發明 (a) 1 a- 1 a剖面圖。 第 4圖為表示 本發 明 第 圖。 第 5圖為表示 本發 明 第 圖。 第 6圖為表; 不本 發 明 (a)4a- 4a咅丨J面圖〇 第 7圖為表示 本發 明 第 圖。 第 8圖為表示 本發 明 第 圖。 第 9圖為表示 本發 明 第 1實施型態之加熱裝置的立體 1實施型態之加熱裝置的分解 第1實施型態之加熱裝置的 2實施型態之加熱裝置的立體 2實施型態之加熱裝置的分解 第2實施型態之加熱裝置的 2實施型態之加熱裝置的剖面 3實施型態之加熱裝置的立體 3實施型態之加熱裴置的分解
7066-8043-PF 30 1307117 圖。 第1 0圖為表示本發明第3實施型態之加熱裝置的 (a)8a-8a剖面圖。 第11圖為表示本發明實施型態之加熱裝置的立體圖。 【主要元件符號說明】 1 0加熱元件 1 0 a基板加熱面 10b加熱元件背面 # 10c側面 10d載置面 11電阻發熱體 1 2供電元件 1 3絕緣元件 14,14a,14b,14c, 14d 氣體通路 14h噴出口 14w通路寬度 • 1 5氣體導入孔 16連通孔 17凹溝 20輔助元件 2 0a相向面 2 0b相向壁部側面 20c載置面 20d輔助元件背面 7066-8043-PF 31 1307117 21相向壁部 22外周壁 30, 51第一支持元件 40台座 50第二支持元件 60 0環 70螺釘 100加熱裝置_ • 7066-8043-PF 32

Claims (1)

1307^^ 修正日期:97.11.20
129772號中文申請專利範圍修正本 十、申請專利範圍: 1 · 一種加熱裝置,包括: 板狀加熱元件,具有载置於基板的基板加熱面及位於 上述基板加熱面之相反側的加熱元件背面且埋設有電阻發 熱體;及 辅助兀件,配置於上述加熱元件之上述加熱元件背面 且具有與上述加熱元件背面相向之相向面,
其特徵在於: 向面之間,形成向上述 面狀氣體通路; 在上述加熱元件背面和上述相 基板加熱面喷出的氣體通路,其為 氣體喷 從上述面狀氣體通路連通至上述基板加熱面的 出通路更被形成。 . 吻專利範圍第1項之加熱裝置,其中,上述相 面從上述加熱元件背面向外側突出,在上述相向面上 熱元件之侧面配置且約略和上述相向面呈垂 上过二::出的連續延伸的相向壁部’在上述加熱元件之 側面和上述相向壁部之間’形成上述氣體喷出通路 、3.如申請專利範圍第2項之加熱裝置,其中,勺 述加熱元件背面支持上述加熱元件的第 :攸上 U向面相反側之上述辅助元件㈣面^卩 奇面支持上述辅助元件的第二支持元件。 凡 4.如申專利範圍第2項之加熱裝置,並 壁部包括比上述基板加熱面低的面。'、 述相向 .女申》月專利範圍第1項之加熱裝置,其… 上述加熱 7066-8043-PF1 33 的複數 之外周
1307117 元件具有從上述基板加熱面連通上述面狀氣 固連通孔,上述複數個連通孔沿著上述基板加 部相隔等間距而形成。 “、、面 如申請專利範圍第5項之加熱裝置 述加熱元件背面古i主μ <+、μ I括從上 …兀仵月面支持上述加熱元件的第一 於和上述相向面相反側之上述輔助元件的那面亦=位 件背面支持上述辅助元件的第二支持元件,在上元 =面和上述相向面之間’形成從上述面狀氣體通二η: =通孔匯合之部分連通至上述加熱装置之外 上述間隙具有規範上述氣體之流動的形狀。 7·如申請專利範圍第5項之加熱裝置,其中 述加熱元件背面支持上述加熱元件的第一支持元件,:上 :才目向面上’設置配置於上述連通孔之外側的連續延伸的 、、周壁和配置於上述連通孔内側的連續延伸的内周壁,上 述外周壁及内周壁和上述相向面呈約略垂直方向的長度大 略相等,上述辅助元件固定於上述加熱元件上。 如申請專利範圍第7項之加熱裝置,其中,上述辅助 凡件藉由焊接或螺釘固定於上述加熱元件。 9.如申請專利範圍第5項之加熱裝置,其中,上述連通 孔朝向和上述基板加熱面約略垂直的方向延伸。 1 0.如申請專利範圍第5項之加熱裝置,其中,上述加 …、元件在上述基板加熱面之外側具有比上述基板加熱面低 的面。 7066-8043-PF1 34
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