TWI301800B - Droplet ejection apparatus - Google Patents

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TWI301800B
TWI301800B TW095122948A TW95122948A TWI301800B TW I301800 B TWI301800 B TW I301800B TW 095122948 A TW095122948 A TW 095122948A TW 95122948 A TW95122948 A TW 95122948A TW I301800 B TWI301800 B TW I301800B
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Takahito Sanekata
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Seiko Epson Corp
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Description

1301800 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 之二:1月係關於液滴噴出裝置,特別係關於包含噴出液滴 广曰糸、统、對噴出之液滴照射雷射光之光學系統之液滴 唷出裝置,JL中, ^ 纟其關於用於形成布線圖案之液滴喷出 裝置。 【先前技術】 在使用液的出技術之金屬布線之圖案之乾燥及锻燒步 驟中’有製程時間之縮短、低廉化或低能量化等之問題。 在現狀下,雖利㈣板及潔淨爐施行乾燥及烺燒’但由於 裝私時間長’在成本面及能量面仍有問題。因此,有人提 出利用液滴喷出形成金屬布線圖案後,利用雷射施行乾燥 及煅燒之製程。 ,、在專利文獻1中,所提案之裝置係在基板上,將導電性材 料=出至工件上而描繪導電層,利用燈或雷射光對描緣後 之前述導電層施行加熱處理之喷墨裝置。在此裝置中,分 別設有喷出導電性材料之喷墨處理室、與照射燈或雷射: 之照射室。工件係在喷墨處理室施行描綠處理後,被輸送 至照射室,以施行雷射光等之照射處理。 [專利文獻1]日本特開2〇〇4·24177〇號公報 (發明所欲解決之問題) 在專利文m之裝置中,由於分別設有喷出導電性材料之 描縿系統、與為乾燥或锻燒而對噴出之導電性材料昭射产 或雷射光之光學系統’故有關液滴喷出及雷射照射之^ 111514.doc 13〇18〇〇 數,例如液滴命中工件後至照射雷射為止所需之時間等難 :正確管理。又’在專利文獻以裝置中,由於插緣系統虚 光學系統位於不同之基準面上,故有所料之導電層與前 述雷射光之照射光點之對準相當費時之問題。另外,由於 ^須將卫件㈣墨處理室輸送至雷射照射室,故有需花費 輸送時間之問題。 、 本發明之目的在於提供容易管理有關㈣噴出及雷射照 射之參數’對工件噴出液滴之描繪系統、及可正確且迅速 地施行噴出之液滴與雷射光點之定位之液滴噴出裝置。 【發明内容】 本發明所提供之液滴噴出裝置之特徵在於包含··基台: 為繪系統,其係具備將功能液喷出成液滴之液滴喷出頭、 保持前述液滴喷出頭之支架、及保持前述液滴被描繪之工 件之工作台者;及光學系統,其係具備輸出雷射光之光源、 構成於前述光源與前述液滴之間且可供人射於該液滴之前 述雷射光通過之光程者;在前述基台i,皆以該基台上面 作為基準面而建構前述描繪系統與前述光學系、统,並透過 兩系統之聯合控制而施行圖案描繪及定影者。 在本發明之液滴噴出裝置中,其特徵在於:前述光程係 包含使前述雷射光對前述工作台由上方人射於前述液滴之 第1光程者。 在本I明之液滴噴出裝置中,其特徵在於:前述光程係 包合使前述雷射光對前述工作台由斜方向入射於前述液滴 之弟2光程者。 111514.doc 1301800 在本發明之液滴喷出裝置中, —a 、、 八特被在於··前述光程係 匕S使前述雷射光由與前述工作上伞/一 ^口十仃方向入射於前述液 滴之第3光程者。 在本發明之液滴喷出裝置中, ^ , 八特敛在於··包含於前述 苗射光中保護前述液滴喷出頭之保 y , 叉益則述保護蓋之側 面係在前述第3光程之光程調整時, ^ 」作為雷射光點位置確 認用之平面而使用者。 在本發明之液滴喷出裝置中,前述笫 ⑴化弟1先程可用來對命中 工件上之液滴照射雷射光。前述第2光程可㈣對飛行中之 液滴或命中工件上之液滴照射雷射光。前述第3光程 對剛噴出後之液滴、飛行中之液滴或命中工件上之液滴昭 射雷射光。又,前述光程可在前述基台上,利用配置㈣ 定位置之複數之透鏡等所構成。 在本發明之液滴噴出裝置中,包含設於前述基台上,用 於取得前述工件與前述描繪系統之對準之第】電子攝影 機、及用於取得前述描㈣統與前述光學系統之 二 電子攝影機。 · 一 、、在本發明之液滴喷出裝置中,在描緣中,前述支架及前 述液滴喷出頭係相對於前述基台而被固定位 置而稭由移 動則述工作台,以施行描繪。 在本發明之液滴喷出裝置中,被照射通過前述光程之雷 社區域係位於前述液滴沿著前述卫件之㈣Μ ^ 前述工件之區域之前方。 在本發明之液滴噴出裝置中,前述功能液係包含電元 lH514.doc 1301800 件、光元件或光電元件之材料;前述裝置係將前述液滴噴 /引述工件上而描繪特定圖案’將前述雷射光照射於前 述液滴,藉以使圖案定影而製造裝置。 、,在本發明之液滴噴出裝置中,前述功能液係包含導電性 粒子;前述裝置將前述液滴噴出於前述工件上而描繪特定 圖案,將前述雷射光照射於前述液滴,藉以乾燥該㈣, 燒結前述導電性粒子而形成布線圖案。 作為前述功能液,適合使用在溶媒中分散著金屬微粒子 之功能液。在本型態中,前述雷射光除了液滴之乾燥以外, 例如也為了執打布線之形成、或金屬微粒子之燒結而照射 ;液滴又所δ胃光電裝置,係指含可發揮電氣的作用、 光學的作用或光電的作用之元件之裝置,舉例說明時,為 半導體展置、布線基板、或有機EL、液晶、電場發光、電 泳等各種顯示裝置。 ' 本發明之液滴噴出裝置可使用於電氣布線、金屬布線、 有機EL兀件、彩色濾光器、光抗蝕劑、微透鏡陣列、電站 發光、或生體4勿f等之功能元件之圖案形&。所使用^ 能液例如包含形成前述圖案用之成分、與適合該成分之溶 媒0 ' 依據本發明,將描繪系統與光學系統設置於同一基準上 時,可透過兩系統之聯合控制簡單地確立描繪系統與光學 系統之定位,藉此,可將雷射光正確地照射於所噴出之液 滴,奋易官理有關液滴噴出及雷射照射之參數。 又,依據本發明,由於可正確對液滴照射雷射光,故可 111514.doc 1301800 頭噴出之後或剛 對液滴照射雷射 在嚴密之時間,例如在液滴剛由液滴噴出 附著工件後,或在液滴正在飛行之途中, 光使液滴乾燥,以縮小液滴徑及命中徑 【實施方式】 在本發明之理想之實施型態中,前述基台係防振台,以 防振台之上面為基準面而建構描㈣統及光學系統。又, 描繪系統及光學系統可利用習知 111疋手段,例如螺栓螺 巾目類、夾頭類、焊接、接著等手段安裝於基台上。 以下,參照圖式說明本發明之一實施例。 圖1係說明本發明之—音谂点丨>、士、+ + 之““列之液滴喷出裝置之控制構 成之概略之區塊圖。 參照圖15本發明之-實施例之液滴噴出裝置之基本的控 制構成係包含在基台1上,皆以該基μ上面作為基準面而 建構含液滴喷出頭31等(參照圖2)之描繪系統3、與含第卜 第3光耘等(參照圖2)而對喷出之液滴乃至於命中工件上之 液滴(圖案)施行雷射光照射之光學系統4,並施行液滴喷 出、雷射光照射之時間、液滴噴出之位置、雷射光照射位 置之全體的控制’透過㈣統(描繪系、統3及光學系、統句之聯 口控制而施仃圖案描繪及定影之控制部6〇、及被控制部 所控制,並確立描繪系統3與光學系統4之對準、及描繪系 統3與命中液滴後被圖案描繪及定影之工件w之對準之攝 衫系統5所構成。又’控制部6Q可由微電腦所構成,由描繪 系統3、光學系統4及攝影系統5,接收感測器信號、圖像信 號等,並輸出各種驅動控制信號而聯合控制此等系統。 111514.doc 1301800 圖2係詋明本發明之一眚竑加a > a鈿例之液滴噴出裝置之構成之 外觀圖。圖3係圖2之要部正面圖。 口蒼照圖2及圖3,本發明 之一實施例之液滴喷出裝置丨係 5丞σ 2、描繪系統3、弁 學系統4、及攝影系統5所構成。 基台2係防振台。在基台2上以 土 σ 2上面為基準面而建構 描繪糸統3、光學系統4、及攝影系統5。基台2上,在圖2 中左側配置含有描㈣統3之實驗區,在其右側配置含光學 糸統4之雷射箱區’實驗區與雷射箱區係被隔板55所區隔, 而在描繪系統3之旁邊配置對準用之攝影系統5。 描繪系統3係包含嗜ψ a At、十 、 、力月匕液作為液滴D之液滴喷出頭 3卜保持液滴噴出頭31之支架32、及保持被描緣前述液滴 之工件w之工作台3a<1液滴喷出頭31係從光學系統續輸出 之雷射光中受到未圖示之保護蓋所保護。保護蓋之侧面係 在後述之平㈣之第3光程4e之光程調整時,可作為雷射光 點位置確認用之平面而使用。 描繪時(連續噴出液滴而形成圖案液滴 機構及光學系統4祜因〜 w …貝-1·…之 子示、、死4被固疋,工作台3&側之機構向掃描軸方向 移動在工作台3a之移動方向前方’有光學系統惰出之雷 射光點之區域。 田 。光子系統4係以基台(防振台)2之上面為基準面被建構,故 可ηι精度地形成雷射光程,與建構在被驅動之構件,例如 支木32上之情形相比,不受驅動機構之影響,故雷射光點 位置較為穩疋。光學系統4具有輸出雷射光之光源s、構成 於光源S與液滴D之間而可供入射於該液滴之前述雷射光通 111514.doc -10- !3〇1800 過之第1〜第3光程4a、处、4ce第!〜第3光程物、外、乜可 ’ 任意被選擇’並可調整照射位置及照射角度而使雷射照射 至經由該光程而由液滴噴出頭3 1所噴出之液滴上。 • 第1光程私採取液滴噴出頭31之上空方向之路徑,可使雷 • 射光以90度之角度(可以90。為基準作角度調整)入射於工作 台3a而照射液滴。 第2光程4 b可使雷射光以4 5度之角度(可以4 5。為基準作 • 角度調整)入射於工作台3a而照射液滴。第2光程4b形成之 雷射光點呈橢圓形狀,雷射強度之分布狀態也會發生變化。 第3光程4c可使雷射光通過液滴噴出頭31與工作台%之 F“平行地入射於工作台3a,可用於照射雷射光於剛噴出 後或飛行中之液滴。通過第3光程4c之雷射光係被光束漫射 體56所接收。藉第3光程4c,液滴在飛行中通過雷射光程 時,可被執行乾燥處理。此結果,液滴命中工件後之直徑 會小於不適用此處理之情形。適用此處理時,可實現金: 布線之細線化。 第1〜第3光程4a、4b、4C可利用在基台2上,配置於特定 位:之反射鏡、透鏡、繞射光柵等之其他光學元件所形成。 • ^安全上,雷射光最好經由快Η進人位於描㈣統3之實驗 • 區。而且’施行光程調整與乾燥·煅燒用之雷射光強度判 疋並5又置連鎖。雷射光點直徑可利用光學元件之調整加 以改變,也可變更其形狀,光點位置也可向掃描軸方向(圖 、,工右方向)凋整。又,光點位置也可向進給軸方向(圖3 中前後方向)調整。 111514.doc 1301800 圖4係用於說明圖2所示之描"、統及攝影系統之模式 圖。圖5係用於說明圖2所示之描繪系統及光學系統之模式 圖。 參照圖4及圖5,圖2所*之描繪系統3係由液滴噴出頭31 側之機構與保持工件W之工作仏側之機構所構成。 、液滴噴出頭川狀機構除了前述液滴喷出頭31及支架Μ 以外’具有支架用0方向旋轉體之測角台33、向Θ方向旋 轉自如地安裝測角台33’在料前後被手動操作之支架用Z 軸方向移動體34、及向Z轴方向移動自如地安裝移動體% 之支架用進給方向移動體35。移動體35係向進給方向移動 自如地安裝於橋2a’橋23係被固定於圖2所示之基台2上。 2動體34係在描繪前後被手動所操作。測角台33係在對移 =34之安裝面前方具有假想之旋轉中心之台,與數種頭 以板組合使用時,可容易施行旋轉調整(〇。〜9〇。)。 滴嘖* ® 31 t卞Μ向4角台33之半徑方向外部突出配置液 而配^ %,在使雷射之光程極力接近於液滴喷出頭3! 置之際’可防止雷射干擾到裝置所佔之區域。 軸則之機構由下方依序由進給軸移動機構、掃描 私動機構、Θ轴移動機構所構 之機構除了上述之工作台加外, 側 Ά m , /、有工作口用0方向旋 給方向移^3 方向旋轉自如地安裝旋轉體%之工作台用進 之工作m二及向知描方向移動自如地安裝移動體3c 向移動自如地㈣於/動體满被可向掃描方 於圖2所不之基台2上。如此,由於可向 I11514.doc • 12· 1301800 • 工作台3 a側向進給軸及掃描軸方向移動,故在描繪中,可 • 固定液滴噴出頭31側,此結果,在描繪中,功能液之供廉 流路之位置不變,可穩定地將功能液供應至液滴噴出頭3丄。 _ 圖2所示之攝影系統5係具有取得工件貿與描繪系統3之 • 對準,即取得液滴命中位置與工件之對準用之第1CCD攝影 機51、向Z軸方向移動自如地安裝第1CCD攝影機5ι之第 1CCD攝影機用Z軸方向移動體52、及取得描繪系統3與光學 φ 系統4之對準,即取得液滴命中位置與經第1〜第3光程4a、 4b、4c而照射於工件w之雷射光之雷射光點s之對準用之第 2CCD攝影機53。移動體52係可向冰方向移動自如地安裝 ' 於支架用進給方向移動體35。 X ’以i說明之各種旋轉體及移動體係$宜地被未圖示 之馬達、直動機構、渦輪及齒條機構等所驅動。 其次,說明利用以上說明之液滴喷出裝置之布線圖案之 各種形成方法。 圖6⑷〜圖6(D)係用於說明在圖2所示之液滴喷出裝置中 :用第1光程之布線圖案之形成方法之步驟圖。依據此形成 方法’由液滴噴出頭31噴出在溶媒中分散著金屬微粒子之 :成液作為液滴,雷射光會經由第1光程4a由垂直方向入射 於工件W之表面。 麥照圖6(A),由液滴喷出 出頭31向垂直方向對工作台3a_ 牛贺出液滴D,使其命中於工件W上。 參照圖6(B),_ &处 續地使液滴D命中於工件〜作口广向知描方向移動,-面马 、 ’开》成未乾燥及未燒結之圖案p c I】⑸4.doc -】3- 1301800 一 ^照圖6(C),再使工作台掃描方向移動,使圖案p之 -端位於第】光程4a正下方,即雷射光點s,而照射雷射光。 茶照圖6(D),再使工作台㈣掃描方向移動,由圖案P之 :::射雷射光至他端。藉此’使溶媒揮發而乾燥,並使 至屬裰粒子彼此燒結而完成圖案p。 圖7(A)及(B)係用於說明在圖2所示之液滴喷出裝置中使 =第2光程之布線圖案之形成方法之步驟圖。依據此形成方 Γ 喷出頭31喷出在溶媒中分散著金屬微粒子之功 -液作為液滴,雷射光會經由第2光程扑由 件W之表面。 町y、工 之工件W噴出 同時,雷射光 溶媒揮發而乾 參照圖7(A),由液滴噴出頭3 j對工作台3 ^上 液滴D ’使其命中於工件W上之雷射光點s。 經由第2光程4b照射於液滴D,使液滴D中之 燥’並使金屬微粒子彼此燒結。 參照圖7(B),-面使工作台3a向掃描方向移動,一 續地使液滴D命中於工件w上之雷射光點s,同時= 經由第2光程4b照射於液滴D,使液❹中之溶 ^。
燥,並使金屬微粒子彼此燒結,形成圖案p。 、 " I 圖8⑷及(B)係用於說明在圖2所示之液滴喷 用第3光程之布線圖案之形成方法之步驟圖。、置中使 參照圖8⑷,雷射光經由第3光程&照射於液滴喷 與工件w之間。液滴噴出頭31穿越雷射光,而 液滴D在飛行中被雷射光所照射而揮發溶媒,並、次滴 徑之狀態命中於工件w上。 、’、5小液滴 111514.doc -14- 1301800 用第3光程之布線圖案之形成方法之步驟圖。 用於說明 雷射光點與 圖9(A)及(B)係在圖2所示之液滴噴出裝置中 對準標記製作步驟之步驟圖,特別係用於說明 /夜滴贺出頭之定位步驟之圖。 圖10(A)及(B)係在圖2所示之液滴噴出裝置中,用於 對準標記製作步驟之步驟圖’特別係⑷說明在工件製作對 準標記之步驟之圖,(B)說明使CCD攝影機辨識對準標記之 步驟之圖。 圖11(A)及(B)係用於說明使用圖2所示之液滴噴出裝置之 實驗結果之圖,(A)係無雷射照射之比較例之結果之說明 圖’(B)係有雷射照射之實施例之結果之說明圖。 圖12(A)及(B)係用於說明使用圖2所示之液滴喷出裝置 之實驗結果之圖,(A)係液滴喷出量多時之金屬布線圖案之 形成例,最右之圖案為有雷射照射之實施例,其他為無雷 射照射之比較例,(B)係液滴噴出量少時之金屬布線圖案之 形成例,上方圖案為有雷射照射之實施例,下方圖案為無 雷射照射之比較例。 【主要元件符號說明】 1 液滴喷出裝置 2 基台(防振台) 2a 橋 3 描繪系統 3a 工作台 3b 工作台用Θ方向旋轉體 111514.doc -18- 1301800
3c 工作台用進給方向移動體 3d 工作台用掃描方向移動體 4 光學系統 4a、4b ' 4c 第1〜第3光程 5 攝影系統 31 液滴喷出頭 32 支架 33 測角台 34 支架用Z軸方向移動體 35 支架用進給方向移動體 40 雷射光源 51 第1CCD攝影機(第1電子攝影機) 52 第1CCD攝影機用Z軸方向移動體 53 第2CCD攝影機(第2電子攝影機) 55 隔板 56 光束漫射體 60 控制部 D 液滴 P 布線圖案 S 雷射光束 111514.doc -19-

Claims (1)

1301800 十、申請專利範圍: L 一種_“裝4 ’其特徵在 基台: 描:日糸統’其係具備將功能液喷出成液 -之… 噴出頭之支架、及保持前述液滴被描 、、曰之工件之工作台者;及 7 <田 光學系統,其係具備輸出雷 光源與前述液滴之間且# #成於前述 通過之光程者; W Z、射於该液滴之前述雷射光 述述::以該基台上面作為基準面而建構前 而施行圖案描繪及::者系統,並透過兩系統之聯合控制 2·如請求項丨之液滴 雷射光對前述其中前述光程係包含使前述 者。 乍口由上方入射於前述液滴之第丨光程 3. 如請求項丨之液滴噴士 雷射光對前述1台由^方;;中前述光㈣包含使前述 程者。 "向入射於前述液滴之第2光 4. 如請求項丨之液滴噴出 雷射光由與前述卫作A^/、h述光程係包含使前述 光程者。 〇仃方向入射於前述液滴之第3 5·如請求項4之液滴噴出裝置,苴 護前述液滴喷出頭之^中包含於前述雷射光中保 述第3光程之光程調整/’财述保護蓋之側面係在前 可作為雷射光點位置確認用之 111514.doc 1301800 • 平面而使用者。 • 6 ·如請求項1之液滴嗜+ 置,其巾包含設於前述基台上, 用於取侍刖述工件‘ 卞興則述描繪系統之對準之第〗雷 影機、及用於取m+i 卡之弟1電子攝 • 于則述描繪系統與前述光學系統之對準 之弟2電子攝影機者。 + 7·如請求項1之液滴噴出驻 #丄丄 出破置,其中在描繪中,前述 前述液滴喷出頭係相於1 』乩克木及 十於刖述基台而被固定位置, ^ 由移動前述工作台,^ 而猎 φ 从施行描繪者。 8.如請求項1之液滴噴出奘 貝出凌置,其中被照射通過前 雷射之區域係位於前I、引述先程之 彳中之前述工件之仟之移動方向而 π域之前方者。 9·如請求項丨之液滴噴出裝置,其中 前述功能液係包含電元件、光元件或光 將前述液滴噴出於前述工件材料; 述雷射光照射於前述液滴,二〜定圖:’將前 • 者。 使圖案疋衫而製造裝置 1 〇·如請求項1之液滴噴出裝置,其中 前述功能液係包含導電性粒子· 將前述液滴噴出於前述工 ^射光照射於“液滴,葬μ繪料圖案,將前 /同,错以齡 導電性粒子而形成布線圖案者。…人心,燒結前述 111514.doc
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4442677B2 (ja) * 2007-10-11 2010-03-31 セイコーエプソン株式会社 液滴吐出装置の液滴乾燥方法及び液滴吐出装置
US8833921B2 (en) 2010-07-30 2014-09-16 Ricoh Company, Limited Thin-film forming apparatus, thin-film forming method, piezoelectric-element forming method, droplet discharging head, and ink-jet recording apparatus
CN102407665B (zh) * 2010-07-30 2015-03-04 株式会社理光 薄膜形成设备及方法、压电元件形成方法、排放头和设备
JP2013063371A (ja) * 2011-09-15 2013-04-11 Ricoh Co Ltd 薄膜製造装置のアライメント調整方法、薄膜製造装置、該薄膜製造装置により製造した電気機械変換膜、電気機械変換素子、液滴吐出ヘッド及び液滴吐出装置
CN107980022B (zh) * 2014-07-13 2020-12-04 斯特拉塔西斯公司 用于旋转三维打印的方法和系统
JP6390407B2 (ja) * 2014-12-16 2018-09-19 富士ゼロックス株式会社 乾燥装置、画像形成装置、及び乾燥プログラム
NL2016137B1 (en) * 2016-01-21 2017-07-25 Meyer Burger (Netherlands) B V Inkjet printing system and method for processing substrates.
CN111822256A (zh) * 2020-07-30 2020-10-27 重庆盛泰光电有限公司 基于转盘的摄像头模组点胶系统

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5132248A (en) 1988-05-31 1992-07-21 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Direct write with microelectronic circuit fabrication
GB2233928B (en) * 1989-05-23 1992-12-23 Brother Ind Ltd Apparatus and method for forming three-dimensional article
EP1223615A1 (en) 2001-01-10 2002-07-17 Eidgenössische Technische Hochschule Zürich A method for producing a structure using nanoparticles
GB2379413A (en) 2001-09-10 2003-03-12 Seiko Epson Corp Printhead alignment method
JP2003318193A (ja) 2002-04-22 2003-11-07 Seiko Epson Corp デバイス、その製造方法及び電子装置
JP2003326691A (ja) * 2002-05-09 2003-11-19 Konica Minolta Holdings Inc 画像記録方法、エネルギー線硬化インク及び画像記録装置
JP4741192B2 (ja) * 2003-01-17 2011-08-03 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP4225076B2 (ja) * 2003-02-19 2009-02-18 セイコーエプソン株式会社 液滴吐出装置
JP4244382B2 (ja) * 2003-02-26 2009-03-25 セイコーエプソン株式会社 機能性材料定着方法及びデバイス製造方法
JP2004337709A (ja) * 2003-05-14 2004-12-02 Seiko Epson Corp 液滴吐出装置、カラーフィルター製造装置、カラーフィルター及びその製造方法、液晶装置、電子機器
JP4232541B2 (ja) * 2003-06-04 2009-03-04 セイコーエプソン株式会社 マイクロレンズ装置の製造方法
JP2005040665A (ja) 2003-07-23 2005-02-17 Fuji Photo Film Co Ltd パターン形成方法およびパターン形成装置
JP2005081159A (ja) * 2003-09-04 2005-03-31 Ricoh Co Ltd 機能性基体製造装置ならびに製造される機能性基体
JP3941066B2 (ja) 2003-09-11 2007-07-04 俊次 村野 ライン状均一吐出装置、霧化装置、薄膜形成装置、パターン形成装置、三次元造形装置および洗浄装置。
JP2006035184A (ja) 2004-07-30 2006-02-09 Seiko Epson Corp 液滴塗布方法と液滴塗布装置及び電気光学装置並びに電子機器
JP4715147B2 (ja) 2004-09-28 2011-07-06 セイコーエプソン株式会社 導電膜の形成方法

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