TWD209939S - 電性接觸子 - Google Patents

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岸康貴
若澤勝博
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日商日本麥克隆尼股份有限公司
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【物品用途】;本設計物品為一種電性接觸子，使用在半導體設備的檢測裝置中，用以檢測半導體晶片等的半導體元件的電子特性。;【設計說明】;本設計物品之設計要點在於物品的形狀。;圖式所揭露的實線為本案主張設計之部分；圖式所揭露的虛線為本案不主張設計之部分；圖式所揭露的一點鏈線為本案主張設計之部分與不主張設計之部分的邊界線。本設計物品的電性接觸子之總長度為幾毫米，因此在交易中，通常使用顯微鏡或物品的放大圖來對其進行觀察。

Description

電性接觸子
本設計物品為一種電性接觸子，使用在半導體設備的檢測裝置中，用以檢測半導體晶片等的半導體元件的電子特性。
本設計物品之設計要點在於物品的形狀。
圖式所揭露的實線為本案主張設計之部分；圖式所揭露的虛線為本案不主張設計之部分；圖式所揭露的一點鏈線為本案主張設計之部分與不主張設計之部分的邊界線。本設計物品的電性接觸子之總長度為幾毫米，因此在交易中，通常使用顯微鏡或物品的放大圖來對其進行觀察。
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