TWD175553S - 積體電路插座用探針引腳之部分 - Google Patents

積體電路插座用探針引腳之部分

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TWD175553S
TWD175553S TW104303280F TW104303280F TWD175553S TW D175553 S TWD175553 S TW D175553S TW 104303280 F TW104303280 F TW 104303280F TW 104303280 F TW104303280 F TW 104303280F TW D175553 S TWD175553 S TW D175553S
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case
integrated circuit
design
socket
probe pin
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TW104303280F
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English (en)
Inventor
Hirotada Teranishi
Takahiro Sakai
Original Assignee
歐姆龍股份有限公司
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Abstract

【物品用途】;本案設計之物品係積體電路插座用探針引腳，連接於積體電路之通電檢查所使用之積體電路插座。;【設計說明】;圖式所揭露之實線部分為本案主張設計之部分。圖式所揭露之虛線部分為本案不主張設計之部分。圖式中一點鏈線所圍繞者係界定本案所欲主張之範圍，該一點鏈線本身為本案不主張設計之部分。;本案設計係新穎獨特之樣式，藉由獨特地設計積體電路插座用探針引腳，可顯現出先前技藝所未有之視覺效果。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD983681S1 (en) * 2020-12-03 2023-04-18 Mpi Corporation Probe for testing device under test
TWD226028S (zh) * 2022-04-29 2023-06-21 南韓商普因特工程有限公司 半導體檢測針

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD400811S (en) * 1997-11-21 1998-11-10 Delaware Capital Formation, Inc. Test probe plunger tip
USD445350S1 (en) * 2000-11-14 2001-07-24 Sagab Electronic Ab Voltage detection stick
USD507197S1 (en) * 2004-11-22 2005-07-12 Fu-Cheng Sun Measure tape
JP4823617B2 (ja) * 2005-09-09 2011-11-24 日本発條株式会社 導電性接触子および導電性接触子の製造方法
WO2011036800A1 (ja) * 2009-09-28 2011-03-31 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置
KR101058146B1 (ko) * 2009-11-11 2011-08-24 하이콘 주식회사 스프링 콘택트 및 스프링 콘택트 내장 소켓
TWD138876S1 (zh) * 2010-01-27 2011-02-01 日本麥克隆尼股份有限公司 電接觸元件
TWM390564U (en) * 2010-03-18 2010-10-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical contact
JP4998838B2 (ja) * 2010-04-09 2012-08-15 山一電機株式会社 プローブピン及びそれを備えるｉｃソケット
JP5352525B2 (ja) 2010-04-28 2013-11-27 日本航空電子工業株式会社 プローブピン用コンタクト、プローブピンおよび電子デバイス用接続治具
USD665745S1 (en) * 2010-09-28 2012-08-21 Adamant Kogyo Co., Ltd. Optical fiber connector
USD665744S1 (en) * 2010-09-28 2012-08-21 Adamant Kogyo Co., Ltd. Optical fiber connector
JP5708430B2 (ja) * 2011-10-14 2015-04-30 オムロン株式会社 接触子
JP5699899B2 (ja) * 2011-10-14 2015-04-15 オムロン株式会社 接触子
USD699607S1 (en) * 2012-03-01 2014-02-18 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Contact probe
TWD157152S (zh) 2012-05-08 2013-11-11 日本麥克隆尼股份有限公司 電接觸元件
USD749968S1 (en) * 2014-01-24 2016-02-23 Danaher (Shanghai) Industrial Instrumentation Technologies R&D Co., Ltd. Electrical test lead
USD750987S1 (en) * 2014-01-24 2016-03-08 Danaher (Shanghai) Industrial Instruments Technologies R&D Co., Ltd. Interactive test probe for battery tester

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