TW589448B - Semiconductor apparatus, temperature detector and electronic machine using the detector - Google Patents
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- G01K7/01—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions
Description
589448 五、發明說明(l) [發明所屬的技術領域] 本發明係有關於溫度债知器’且特別有關於利用雙極 性電晶體(bipolar transistor)之基極(base) ·射極 (emitter)間電壓差,根據周圍溫度大致為直線化° 象之1C溫度偵知器。 £ [先前技術] 第2圖’係表示I C化溫度偵知器之一習 > 例 < 電路 圖。本圖上所示的1C化溫度偵知器ia,其構造為具有射極 面積相異之2個npn型電晶體Qi、q2(其面積比為i :'1〇), 而以在兩電晶體Ql、Q2之基極•射極間電壓差VBE1、vbe2 之電壓差,VF(=VBE1-VBE2)為基準,來執行周圍溫度τ之 出。 電晶體Ql、Q2之集極,各自透過定電流源丨丨、^,被 連接至電源線。在兩集極(c 0 1 1 e c t 〇 r )上,定電流源i C 1 1C2被供給。電晶體Q1之集極,亦被連接至npn型電'晶體 之基極。電晶體Ql、Q2之射極相互連接,其連接節點,透 過疋電流源I 3,被連接至地(g r 〇 U n d )。電晶體Q 1之基極, 被連接至電晶體Q 4之射極’又被連接至電阻r 1之一端電 晶體Q2之基極,被連接至電阻R1之另一端,而透過電阻 R2,被連接至地。電晶體q4之集極,被連接至電源線。 在此’本圖上所示的丨c化溫度偵知器丨a,為將電晶體 Q1之基極作為輸出端子T〇ut,而從該輸出端子丁0111:來獲得 輸出電壓Vout之構造。因而,輸出電壓v〇ut,成為以^ : 的式子來表示的值。
•(1) 589448 五、發明說明(2)
w R\-\-R2 Vout =--AVF m 在上式斤在上述(1)式之電壓差VF,基於二極體 方程式,被展開為如下面(2 )式之形式。 AVF = VBE] — VBE2 kTi\ /b1 k.T ic2 一 ---ln< Q kl q In lc2 1 + VCE2、 •⑵ 卜苦)j ,而,在上述(2)式中,k為波耳茲曼(Bol tzmann)常 為周圍溫度(絕對溫度),q為電子的電荷量,丨c工、 ic2為電晶體qi、q2之集極電流,VCE1、VCE2為電晶體 Qi、Q2之集極•射極間之電壓差,VA為電晶體…、⑽之厄 力(Ear ly )電壓’ is為電晶體Qi、Q2之漏電流。 由上述(2 )式了解到2個射極電流密度相異之2個電晶 體Ql、Q2之各個基極·射極間電壓差VBE1、VBE2之電壓差 VF成為按照周圍溫度T之變動值。基於在上述(!)式所表 示的相關關係,1C化溫度偵知器la之輸出電壓v〇ut,亦成 為按照周圍溫度T之變動值。 第3圖係表示對於周圍溫度τ之電壓差VF (或輸出電壓 Vout)之依存特性之相關圖。本圖之橫軸表示周圍溫度τ, 縱軸表示電壓差VF(或輸出電壓Vout)。然而,在電晶體
2119-5512-PF(Nl).ptci 第5頁 589448 五、發明說明(3)
Ql、Q2之集極電流i i c2及集極•射極間電壓差VCE1、 VCE2各自相等之情況下,電壓差Vf如以下第(3)式所表示 地,成為和周圍溫度T成比例之理想變動值(圖中虛線)。 A w_ k T t Δ V/~ =- In 10 . q _ ·⑶ 確實地’由上述構造而成的丨C化溫度偵知器丨a,能夠 以在輸出端子Tout所得到的輸出電壓vout為基準,而以某 種高精密度之程度來測出周圍溫度T。因而,可以適用於 各種機器之溫度測出裝置。 '
但是’在由上述構造而成的丨c化溫度偵知器丨a上,流 至電晶體Ql、Q2之集極之電流之變動方法,在電晶體Q1和 Q2上是不同的。因為兩電晶體…、Q2之集極電流比 icl/1C2及集極•射極間電壓差比VCE1/v(:E2 地,電壓i VF,有所謂的從第⑻ 規則地偏離之課題。因此,由 "^ 知器la,作為-種在:二=構造而成的IC化溫度偵 度之電子機器(例如搭載在線性度來測出周圍溫 器裝置或DVD驅動裝置)之和 态之硬式磁碟機驅動 溫产伯知号,Λ ' 制裝置或驅動裝置上所使用的
/皿度偵知裔,有其不適當的情況。 [發明内容]
2119-5512-PF(Nl).ptd 第6頁 589448 玉、發明說明(4) 為了達成上述目的,有關本發明之溫度偵知器,其構 造為在由具有射極電流密度相異之2個電晶體而成,而2個 電晶體之基極•射極間電壓差根據溫度來變動為基準,來 執行溫度偵知之溫度偵知器上,設置了為了控制兩電晶體 之集極電壓以及/或射極電流之反饋電路,使兩電晶體之 集極電壓具有相同的溫度特性來變動。 [實施方式] 實施例1
第1圖,係表示有關於本發明之IC化溫度偵知器之一 個實施例之電路圖。本實施例之I c化之溫度偵知器1,除 了第2圖之習知構造之外,又設置了為了控制電晶體Q1、 Q2之集極電壓VA、Vb及射極電流ie之反饋電路revi,使電 晶體Ql、Q2之集極電壓VA、VB具有相同的溫度特性來變 動。因此,關於和習知之IC化溫度偵知器1 a相同的部分, 因為附加了和第2圖相同的符號,所以省略其說明。以 下’將重點放在本實施例之特徵部分之反饋電路REV 1之構 造及動作,來作說明。
如本圖所示地,本實施例之反饋電路REV1,具有對應 電晶體Q4而設置的npn型電晶體Q5、形成一對之電流鏡電 路之pnp型電晶體Q6、Q7,同樣地形成一對之電流鏡電路 之npn型電晶體q8、Q9、形成決定在電源投入時反饋電路 REV1之動作狀態之起動電路之npn型電晶體qi〇、以及電阻 R4〜R10 〇 電晶體Q 5之集極’被連接至電源線。電晶體Q 5之基
2119-5512-PF(Nl).Ptd 第7頁 589448 五、發明說明(5) 極被連接至電0曰體Q2之集極。電晶體Q5之射極,被連接 至電晶體Q7之射極,另一方面,透過電阻R4、R5被連接至 地。電阻R4、R5,係具有和電阻R1、R2相同之電阻之電阻 元件。 電晶體Q6之射極,被連接至輸出端子T〇ut。電晶體 Q6、Q7之集極,各自被連接至電晶體㈧、Q9之集極。電晶 體Q6、Q7之基極,互相連接,其連接節點,被連接至電晶 體Q6之集極。 電晶體Q8、Q9之射極,各自透過電&R6、R7,被連接 至地。電晶體Q 8、Q 9之基極,互相連接,其連接節點,被 連接至電晶體Q9之集極。而電晶體q8、q9之基極,亦被連 接至構成定電流源13之npn型電晶體Q3之基極。電晶體Q3 之集極’各自被連接至電晶體Q 1、Q 2之射極。電晶體Q 3之 射極,透過電阻R3被連接至地。 電晶體Q 8 1 0之基極’被連接至電晶體q 6之集極及基 極,和電晶體Q8之集極之連接節點。電晶體…〇之集極, 被連接至電源線。電晶體Q 1 〇之射極,透過電阻r 8,被連 接至地。 於由上述構造而成的反饋電路上,在電晶體Q6之 射極上’知:照電aa體Q 1之集極電壓V A之電流i 1流過,而在 _ 電晶體Q7之射極上,按照電晶體Q2之集極電壓VB之電流i 2 流過。在此,於按照周圍溫度T,電晶體Q1之集極電壓 變動之情況下,首先,電晶體Q6之射極電流i 1變動,隨著 此變動,藉由電晶體Q 7之射極電流i 2變動,以決定電晶
2119-5512-PF(Nl).ptd 第8頁 589448
* κ. 體Q9、Q8之動作電壓,而藉由電晶體q3,各自來決定電晶 體Ql、Q2之射極電流ie。其結果,在本實施例之反饋電路 REV1上,造成電晶體Q2之集極電壓VB及電晶體Q1、q2之射 極電流i e被反饋控制(所謂的共態模式(c 〇 m m 〇 ^ m 〇 d e )反饋 控制)。 藉由如此的構造,在本實施例之I C化溫度偵知器1 中’電晶體Q1 ’ Q 2之集極電流比i c 1 / i c 2及集極•射極間 電壓比VCE1/VC E 2之電壓,不易產生誤差,所以造成可以 局精度與高線性度來測出周圍溫度T。
然而,在本實施例之IC化溫度偵知器i中,使電晶體 Q4和電晶體Q5 ’電晶體Q6和電晶體Q7,電晶體Qg和電晶體 Q9,及電阻6和電阻7,各自使用相同大小,相同特性的材 料。因而,電晶體Q1之集極電壓VA,藉由輸出電壓y〇ut和 電晶體Q4之動作電壓來決定,而電晶體q2之集極電壓VB, 藉由輸出電壓Vout和電晶體Q5、Q6、Q7之各動作電壓來決 定,所以集極電壓VA、VB任一個,皆比習知之溫度偵知、 器’更不容易受到電源變動之影響。因此,本實施例之j c 化溫度偵知器1,即使在不同的電源電壓(例如3V和…)被 施加之情況下,亦可以穩定地執行溫度測出。
在本發明之反饋電路REV1上,除了為了將電晶體卯之 射極電流,流至電晶體Q7之射極之電流路徑外,亦設置了 為了透過和電阻Rl、R2相同電阻值之電阻R4、R5,而將該 射極電流至地之電流路徑。藉由設置了如此的電流路徑, 能夠排除流入電晶體Q6、Q7之射極之電流i丨、i 2之誤差要
2119-5512-PF(Nl).ptd 第9頁 589448 五、發明說明(7) 3 ’所以成為可以更高精度高線性度來測出周圍溫度τ。 田然’在重視縮小晶片規模之情況下,亦可不須該電流經 路。 :又在本實施例之I C化溫度偵知器1中,電阻R丨、R2和 電阻R4、R5,其電阻值可以藉由雷射修整(laser t/ i mm i ng)等來凋整。藉由如此的構造,即使在電路形成 後’亦可以任意地來調整對於周圍溫度τ之輸出電壓v〇ut 之依存特性。 而在上述實施例,舉例說 電路’作為反饋電路REV1,使 發明之電路構造,並不限定於 例同樣的功能(反饋控制功能 壓VA、VB具有相同的溫度特性 知的有更高的精度。 [產業上之利用可能性] 如上述地,有關本發明之 體裝置,不易產生隨著電晶體 間電壓比之變動之測出誤差, ,來測知周圍溫度。因此,能 南線I*生度來測知周圍溫度之電 航器之硬式磁碟機驅動器裝置 或驅動裝i。而藉由併;有關 間隙(band gap)電路,能夠形 又因電路規模相對較小,所以 明了採用2段構造之電流鏡 其能有更局的精度,但是;| 此,如能實現和上述之實辦 ’使電晶體Ql、Q2之集極電 來變動。),則能期待比習 溫度偵知器及使用此之半 之集極電流比及集極•射, 所以能夠高精度且高線性 夠又更適用於須要高精度 子機器(例如搭載在車用導 或D V D驅動裝置)之控制裝 本發明之溫度偵知器和頻 成高精度之頻帶間隙電路 可以當成類比I P來流通使
_
589448
2119-5512-PF(Nl).ptd 第11頁 589448 圖式簡單說明 第1圖係表示有關於本發明之I C化溫度偵知器之一個 實施例之電路圖。 第2圖係表示I C化溫度偵知器之一習知例之電路圖。 第3圖係表示對於周圍溫度T之電壓差VF之依存特性 之相關圖。 [符號說明] 11、12、icl、ic2 定電流源,
Ql 、Q2、Q3、Q4、Q5、Q6、Q7、Q8、Q9 電晶體,
Rl 、 R2 、 R3 、 R4 、 R5 、 R6 、 R7 、 R8 電阻, i 1、i 2 電流,
Tout 輸出端子, VBE 基極•射極間電壓差,
Vout輸出電壓, VF 電壓差。
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Claims (1)
- 589448 六、申請專利範圍 1 · 一種半導體裝置,具有以2個射極面積相異之電晶 體來構成,而以兩電晶體之基極•射極間電壓差,根據溫 度來變動為基準,來執行溫度偵知之溫度偵知電路; 其特徵在於: 上述溫度偵知電路,具有反饋電路來構成,用以控制 兩電晶體之集極電壓以及/或射極電流,以使兩電晶體之 集極電壓具有相同的溫度特性來變動。 2 · —種溫度偵知器,包括: 射極電流密度相異之第1、第2電晶體;以及 反饋電路,用以控制兩電晶體之集極電壓以及/或射 極電流’以使兩電晶體之集極電壓具有相同的溫度特性來 變動; 其中以第1、第2電晶體之基極•射極間電壓差,根據 溫度來變動為基準,來執行溫度偵知。 3. 如申請專利範圍第2項所述的溫度偵知器,其中上 述反饋電路包括: # 第1電流鏡電路,由按照第1電晶體之集極電壓之電流 流至射極之第3電晶體,和按照第2電晶體之集極電壓之電 流流至射極之第4電晶體而成,而隨著第3電晶體之射極電 流之變動,使第4電晶體之射極電流變動;以及 第2電流鏡電路,隨著第4電晶體之射極電流之變動, 來決定動作電壓,而決定第1、第2電晶體之射極電流。 4. 一種溫度偵知器,包括: npn型第1電晶體,集極透過第1定電流源,被連接至2119-5512-PF(Nl).ptd 第13頁 589448電源線’基極被連接至輸出端子· npn型第2電晶體,集極 電源線,基極被連接至在上 連接之第1、第2電阻之連接 電晶體相異; 透過第2定電流源,被連接至 述輪出端子和地線之間被串聯 節點,而射極電流密度和第1 第2電晶體之兩 npn型第3電晶體’集極被連接至第1 射極,射極透過第3電阻被連接至地; npn型第4電晶體 至第1電晶體之集極, npn型第5電晶體 至第2電晶體之集極; 集極被連接至電源線,基極被連接 射極被連接至上述輸出端子;集極被連接至電源線,基極被連接 Pnp型第6電晶體,射極被連接至上述輸出端子,而集 極和基極相互連接; pnp型第7電晶體,射極被連接至第5電晶體之射極, 基極被連接至第6電晶體之基極; η ρ η型第8電晶體,集極被連接至第6電晶體之集極, 射極透過第6電阻被連接至地;以及 ηρη型第9電晶體,集極被連接至第7電晶體之集極, 集極和基極相互連接,而射極透過第7電阻被連接至地,基極被連接至第3電晶體及第8電晶體之基極。 5 ·如申請專利範圍第4項所述的溫度偵知器,其中第 6、第7電晶體,第8、第9電晶體,以及第6、第7電阻,各 自具有相同尺寸、相同特性。 6 ·如申請專利範圍第4項所述的溫度偵知器,又包括2119-5512-PF(Nl).ptd 第14頁 589448 六、申請專利範圍 被串聯連接在第5電晶體之射極和地線之間,而具有和第 I 第2電阻相同的電阻值之第4、第5電阻。 7 ·如申睛專利範圍第6項所述的溫度偵知器,其中第 1、第2電阻以及第4、第5電阻之電阻值,可修整調整。 8 ·如申請專利範圍第4項所述的溫度偵知器,其中又 i括η ρ η型第1 〇電晶體,集極被連接至電源線,基極被連 接至之第6電晶體之集極和第8電晶體之集極之連接 而射極透過第8電阻被連接至地。 ·· 9$種電子機器,具有溫度偵知器,作為周圍溫度測 置; 其特徵在於:皿度偵知益,由射極電流密度相異之2個電晶 二=反制路而成,上述反饋電路係用以 壓以及/或射極電流,以使上述使兩電:體電: 集極電壓具有相同的溫度特性來變動, 極·射極間電壓差,根據溫卢來 *日日體之基 偵知; 葆'皿度來變動為基準,來執行溫度 以上述溫度偵知器之測出結 控制以及/或驅動。 果為基準 來執行機器之
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