TW546605B - Plasma display apparatus - Google Patents

Description

546605 五、發明說明（1) 發明背t 本發明係關於一種電漿顯示裝置以及其驅動方法。尤其 是，本發明係關於一種電漿顯示裝置，其顯示亮度以電路之 簡單修改及其驅動方法而被改進。 電漿顯示裝置（PDP裝置）已被作為平面顯示而實際地被 使用並且南度地被認為是一種薄且高亮度之顯示。在許多 PDP裝置型式之間，一種三電極表面放電Ac型式pDp裝 置一般最常被使用並且被使用作為下面將說明之一種範例。 第1圖是一種方塊圖，其展示習見的PDP裝置之概略結 構。視訊信號進入一組顯示灰階位準調整電路4，被調整至 適合於灰階位準顯示之一種位準，並且在視訊信號-子像框 匹配電路5中，產生成為子像框結構之資料，稍後將加以說 明。該視訊k號同時也被輸入平均亮度檢測電路7中並且其 平均亮度被檢測。子像框單元脈波數量設定電路8依據從同 步信號以及被檢測之平均亮度被計算之像框的週期長度而 決定各子像框持續放電脈波之數量。這被達成之原因是，因 為在PDP裝置中電力消耗有限制並且當平均亮度高時持續 放電脈波總數被減少以防止電力消耗超出限制值。稍後將說 明，依據利用子像框單元脈波數量設定電路8所決定之各子 像框持續放電脈波數量，子像框處理電路6產生使用於各操 作週期之切換時序信號，並且傳送其至驅動波形產生電路 9。驅動波形產生電路9依據上述切換時序信號產生將被施 加至持續放電電極之電壓波形並且傳送其至持續電極驅動 電路2。同時地，子像框處理電路6從視訊信號·子像框匹 4 546605 五、發明說明（2) 配電路5讀取各子像框之顯示資料並且傳送其至資料驅動 電路3。持續電極驅動電路2施加一組電壓，其波形稍後將 說明’至三電極表面放電AC型式電漿顯示面板1之放電電 極（X電極和Y電極），並且資料驅動電路3同步地施加一組 資料電壓至位址電極。在三電極表面放電Ac型式電漿顯示 面板1中’在一個方向延伸之χ電極和γ電極相鄰地輪流 被配置’此外在其垂直方向延伸之位址電極被配置，並且顯 示像素被形成在X電極和γ電極及各位址電極組對交叉 處。X電極和Υ電極構成一組持續放電電極，χ電極被共同 連接’並且接收一組相同的電壓波形，而持續放電脈波被共 同施加至Υ電極’以及一組掃猫脈波獨立地被施加在該處。 進一步地’位址電極被設計因而位址脈波可獨立地被施加在 該處。 第2圖是展示PDP裝置驅動波形之圖形。pdp裝置之軀 動順序包含其中所有的顯示胞被設定為相同狀態的一組重 置週期，其中顯示胞被設定為對應於顯示資料之狀態之一組 位址週期，並且其中顯示胞依據被設定之狀態而發射光之一 組持續放電週期。如圖所展示，在重置週期中，當γ位址 電極被保持在0V時，電壓Vaw之脈波被施加至位址電極並 且電壓Vw之脈波被施加X電極。以此方式，無視於先前的 顯示狀態，重置放電被導致而在所有的顯示胞中發生，所產 生之電荷被中性化，並且所有的顯示胞進入均勻的狀態。在 位址週期中，當電壓Vx被施加至X電極時，一組被施加至 Y電極之掃瞄脈波依序地被施加電壓-Vc。掃瞄脈波與電 546605 五、發明說明（3) 壓-Vc重疊並且成為電壓-Vy之脈波。與各掃瞄脈波之施加 同步地，一組資料電壓被施加至位址電極。該資料電壓在被 照亮的顯示胞中是Va並且在未被照亮的顯示胞中是〇ν。以 此方式’位址放電被導致而發生在被照亮的顯示胞中並且不 同的電何被聚積在X電極和Y電極上’而且沒有電荷被聚 積在未被照亮的顯示胞中，因為沒有發生放電。利用進行這 動作於每一 Y電極，所有的顯示胞進入對應至顯示資料之 狀態。在持續放電週期中，當電壓Ve被施加至位址電極時， 電壓Vs之持續放電脈波分別地被施加至Y電極和X電極。 當第一持續放電脈波被施加至Y電極時，一組持續放電被 導致發生在被照亮的顯示胞中，因為由於在位址週期被累積 電荷的電壓被添加至持續放電脈波，並且這持續放電導致電 荷，其具有相對於先前一組的相反極性，聚積在X電極和γ 電極上，因此，如果另一持續放電脈波被施加至X電極時， 一組持續放電被導致再次發生。這些動作之重覆導致持續放 電依序地發生。另一方面，因為沒有電荷被聚積在未被照亮 的顯示胞中，即使持續放電脈波被施加，亦沒有放電發生。 這持續放電是與顯示相關且子像框之亮度被持續放電次 數，亦即，持續放電週期之長度，所決定。 如上所述，可能僅控制一組顯示胞在PDP裝置中發射光 或者不發射光，並且對於各顯示胞，光發射強度無法被改 變。因此，當灰階位準顯示被進行時，一組顯示像框由多數 個子像框所構成。第3圖展示使用於灰階位準顯示之子像框 結構的圖形。如圖形之展示，一組顯示像框由多數個子像框 6 546605 五、發明說明（〇

SF1-SF4所構成（在這情況中是四個）。各子像框包含一組重 置週期R、一組位址週期A、以及一組持續放電週期s，並 且持續放電週期長度S，亦即，亮度，是不同的。例如，sfi-sf4 之亮度比率是8··4··2··1。各顯示胞之光發射所需的亮度可利 用選擇在顯示像框中發射光之子像框而被得到。這子像框結 構之範例可提供16位準，亦即，〇至15。對於位準7之顯示 胞，SF2、SF3、和SF4被照亮，並且對於位準12之顯示胞， SF1和SF2被照亮。 上述習見的PDP裝置和各種方法已被提出，在這裡將不 提供更詳細之說明，因為其詳細結構是一般習知的。 PDP裝置較差於CRT管TV之一特性是峰值亮度較低。 其一理由是顯示像框中相關顯示亮度之持續放電週期比例 小。如第3圖之展示，一組顯示像框是由多數個子像框所構 成並且各子像框具有相同長度之重置週期和位址週期而與 持續放電週期長度無關。在實際的PDP裝置中，一組顯示 像框具有八至十個子像框以便達到足夠之灰階位準顯示以 及抑制，例如色彩錯誤輪廓> 的問題。因此重置週期和位址 週期，其與顯示亮度不相關，以大的比例佔據顯示像框並且 導致峰值亮度無法足夠地被得到之問題，因為持續放電週期 無法充分地被延長。 為了解決這些問題，日本未審核專利公報（Kokai)編號 2000-347616已披露一種技術，其利用控制顯示影像解析度 上之資訊以實現影像品質之改進，例如灰階位準之改進。在 該技術中，對於在特殊的子像框中之n(n是等於2或較大之 546605 五、發明說明（5) 整數）條線，位址處理同時地被達成以縮短位址週期為1/n， 並且亮度利用分配被節省時間至各子像框之持續放電週期 而被改進。上述公開習知之文件同時也披露，利用在垂直方 向之各η顯示胞之間進行計算儘可能對於同時進行位址處 理之η條線保持影像資訊以達成點亮資訊資料之補償。 但是’為了製作日本未審核專利公報（K〇kai)編號 2000-347616所披露之技術，必須修改電路使n顯示線之位 址處理可同時地被達成，因此，導致這樣的修改將是複雜的 問題。 本發明概I 本發明之目的是改進峰值亮度而對於習見的pDp裝置電 路結構不需要大幅度的修改。 為了實現上述目的，在指定子像框中具有低亮度的一些顯 示線，在本發明電漿顯示裝置（PDP裝置）中不被顯示。在此 處之後，這程序被稱為細線化處理。這程序可縮短位址週期 並且被節省之時間可依下面兩步驟被分配給予持續放電週 期。 首先’因為具有低亮度之特定顯示區域之子像框中之亮 度’其已被進行細線化處理，被減低至大約l/n，節省時間 在第一步驟中被分配以至於這子像框之亮度分量（持續放電 脈波數量’亦即，持續放電週期長度）成為在細線化處理之 刖的大約η倍。結果，特定顯示區域中灰階位準之連續性可 被保持。 在第二步驟中，其餘節省時間以當第一步驟完成時亮度分 546605 五、發明說明（6) 量比率被分配至各子像框。結果亮度被改進。 如上所述，在PDP裝置中電力消耗被控制，並且當平均 亮度是高時，持續放電脈波總數被減少以至於電力消耗不超 出限制值。因為當本發明細線化處理被達成時亮度增加，故 消耗電力增加’其被設計以至於細線化處理是當平均亮度在 指定值之下時被達成。 雖然細線化處理在具有低亮度之子像框中被達成，被達成 細線化處理之子像框數量可以是一組或者多數組。 在細線化處理中，彼此相鄰之多數條顯示線之其中一條被 顯示並且其他的顯示線被細線化以至於它們不被顯示。但 是’在進行交錯顯示的PDP裝置中，分別地在奇數像框和 偶數像框中，彼此相鄰的顯示線之其中一條被顯示並且其他 者被細線化。因此，在交錯顯示的情況中，在相鄰奇數像框 和偶數像框中之兩組線分別地被顯示，並且其他的線被細線 化。 但是’在這樣的細線化方法中，其中資訊影像之某些部份 遺失之狀態繼續著，結果，影像品質可能受到影響。因此， 最好是在多數相鄰顯示線之中依序地改變將被顯示之顯示 線。 進一步地，當本發明細線化處理被應用時，電漿顯示面板 表面溫度可能局部地增加並且面板將被損壞，因此，其被設 計以便面板溫度可被檢測並且當溫度較高於指定溫度時細 線化處理將不被達成。 屬形概要說明

546605 五、發明說明（7) 本發明之特點和優點將從下面的說明與附圖而更清處地 了解，其中： 第1圖是一種方塊圖，其展示習見的電漿顯示裝置（PDP 裝置）之概略結構。 第2圖是展示PDP裝置驅動波形之圖形。 第3圖是展示PDP裝置中使用於灰階位準顯示之子像框 結構的圖形。 第4圖是一種方塊圖，其展示本發明第一實施例ρ〇ρ裝 置之概略結構。 第5圖是展示第一實施例中供細線化處理之子像框驅動 波形的圖形。 第ό圖是展示第一實施例中顯示線之圓形。 第7Α至7D圖展示第一實施例中亮度補償原理的圖形。 第8Α圖和第8Β圖展示第一實施例中子像框結構的圊形。 第9圖是一種方塊圖，其展示本發明第二實施例PDP裝 置之概略結構。 第10Α圖和第1〇Β圖展示第二實施例之顯示線的圖形。 第11圖是一種方塊圊，其展示本發明第三實施例PDP裝 置之概略結構。 第12圖展示第三實施例細線化處理時奇數子像框中驅動 波形的圖形。 第13圖展示第三實施例細線化處理時偶數子像框中驅動 波形的圖形。 第14Α圖至第14C圖展示第三貪施例之顯示線的圖形。 546605 五、發明說明（8) 第15圖展示第四實施例細線化處理時奇數子像框中驅動 波形的圖形。 第16圖展示第四實施例細線化處理時偶數子像框中驅動 波形的圖形。 第17A圖至第17D圖展示第四實施例之顯示線的圖形。 第18圖是一種方塊圖，其展示本發明第四實施例ρ〇ρ裝 置之概略結構。 較佳實施例説明 第4圖是一種方塊圖，其展示本發明第一實施例pDp裝 置之概略結構。與第1圖比較，明顯不同的是，在第一實施 例PDP裝置中一組細線化處理控制電路丨丨和細線化處理電 路12被添加至第1圖習見的結構中，並且其他的部份是相 同，因此，下面僅說明不同的部份。 平均亮度檢測電路7檢測將被輸入的視訊信號之平均亮 度，並且當平均亮度是在指定值（例如，2〇%)之下時，傳送 一組檢測信號至細線化處理控制電路1 J。 當從平均亮度檢測電路7接收檢測信號時，細線化處理控 制電路11導通細線化處理電路12，並且指定一組特殊子像 框作為處理之一物件。在這情況中，子像框數量可以是一組 或者更多組。 當細線化處理電路12被切斷時，在驅動波形產生電路9 產生之持續電極驅動波形經由持續電極驅動電路2被施加 至PDP1之持續電極（X電極和γ電極）。因此，如第2圓展 示的習見範例之相同波形被施加並且獲得一組如習見的相 546605 五、發明說明（9) 同顯示。當細線化處理電路12被導通時，一組偶數位址停 止電路13對於作為處理物件之子像框修改波形為第5圖之 展不。第2圖展示之波形被施加至除了處理物件子像框之外 的子像框。第5圖展示之波形對於奇數電極進行如習見的相 同位址處理但是跳過無位址處理之偶數電極。換言之，掃瞄 脈波在習見的相同週期時僅依序地被施加至奇數電極並且 位址處理僅在奇數顯示線上被達成。因此，位址週期成為習 見之一半。接著，如習見利用在持續放電週期中交錯地施加 持續放電脈波至X電極和γ電極，持續放電發生，導致在 點亮的顯示胞中發射光線❶雖然持續放電脈波被施加至奇數 Y電極和偶數Y電極，可接受的是，持續放電脈波不被施 加至偶數Y電極。但是，在這情況中，必須修改驅動電路 以便持續放電脈波可獨立地被施加至奇數γ電極和偶數γ 電極。 第6圖展示當細線化處理被進行時之顯示線。如圖之展 示’在以交又斜線展示之奇數顯示線LI，L3,…，之每一 子像框中’光線被發射，但是光線僅在被以一方向斜線展示 之偶數顯示線L2，L4，…，之上方子像框中被發射，但是 不在下方子像框中被發射。 利用進行上述細線化處理，位址週期在細線化處理物件之 子像框中被減半。利用分配被節省時間至持續放電週期，亮 度可被改進。但是，如果，被節省時間依據各子像框亮度分 量簡單地被分配，灰階位準中之連續性可能被中斷。因此， 當分配時間時必須考慮亮度補償。第4圖之脈波數量控制處 12 五、發明說明（10) 理電路14,考慮亮度補償，而分配時間至持續放電週期。 第7 A圖至第7D圖展示節省時間被分配之原理，並且展示 特定顯示區域中各子像框亮度之觀念。第7A圖展示在細線 化處理之刖各子像框之亮度。圖形展示其中子像框SFl-SH 之亮度比率是8:4:2:1的情況。 第7B圖展示作為處理物件之子像框SF3和SF4在細線化 處理被達成後之亮度。在子像框SF3和SF4中細線化處理 被進行，顯不線數量被減半，因此，亮度幾乎被減半並且 D3和D4展示之部份被移除。結果，子像框SF1_SF4之亮 度比率成為8:4:1:1/2。 如果SF3和SF4位址週期中之節省時間依據各子像框中 之分量被分配，則灰階位準連續性無法被保持。利用在兩步 驟中進行被節省時間之分配，如第7C圖和第71)圖之展示， 則灰階位準中之連續性可被保持。 在第一步驟中，如第7C圖之展示，被細線化的子像框之 持續放電脈波數目（持續放電週期）被加倍並且SF3和sf4亮 度分別地被增加C3和C4展示之數量，以保持灰階位準之 連續性。 接著，在第二步驟中，如第7〇圖之展示，其餘之被節省 時間依據各子像框亮度分量比率被分配。以此方式，E1_E4 展示< SF1-SF4亮度數量分別地增加。 細線化處理電路12中被補償之持續電極的驅動波形被供 應至持續電極驅動電路2。在細線化處理時，奇數列顯示資 料從視訊信號-子像框匹配電路5依序地被讀取並且經由子 546605

五、發明說明（11) 像框處理電路6被供應至資料驅動電路3。 第8 A和8B圖展示第一實施例子像框結構之圖形。如第 8A圖之展示，因為當平均亮度是在2〇%之上時不進行細線 化處理，子像框結構中得到之顯示相同於第3圖的習見方 式。換言之，子像框SF1-SF4之位址週期A具有相同長度。 相反地，當平均亮度是在20%之下時，細線化處理被達成， 如第8B圖之展示，並且SF1和SF2之位址週期是相同於第 8A圖之展示，但是SF3和SF4之位址週期成為第8A圖之 一半。SF3和SF4之持續放電週期更多於第8A圓之雙倍， 並且SF1和SF2持續放電週期也增加。 在第一實施例中，細線化處理物件子像框中之偶數線不被 顯示並且僅奇數線被顯示。換言之，細線化處理在兩組顯示 線範圍中被達成，但是可能在三列或者更多列的範圍中進 行。 進一步地’在第一實施例中，細線化處理物件子像框中之 偶數線顯示資料總是被遺失，因此，影像品質可能依據影像 内容而被惡化。在第二實施例中，將被細線化的顯示線位置 被變化以防止惡化。 第9圖是一種方塊圖，其展示本發明第二實施例ρ〇ρ裝 置之概略結構。比較第4圖，明顯地顯示，在第二實施例和 第一實施例PDP裝置之間，細線化處理電路12中存有差 異，並且其他部份之結構是相同的，因此，下面僅說明不同 的部份。 第二實施例之細線化處理電路（2,除了偶數位址停止電

1A 546605

15 546605 五、發明說明（u) 忠實於原始影像資料的顯示可被得到。 在第一和第二實施例之裝置中，其中所有的顯示線在相同 時間被顯示，但是被稱為交錯方法之顯示方法，其中奇數顯 示線和偶數顯示線交替地被顯示，被採用於例如TV接收 器。日本未審核專利公報（Kokai)編號9-160525，披露採用 被稱為ALIS方法的交錯方法之PDP裝置，其中顯示線數量 被加倍’而具有如習見相同數量之持續放電電極。這裡將說 明之實施例是本發明被應用至採用交錯方法的PDp裝置 上’而採用被披露在日本未審核專利公報（K〇kai)編號 9-160525中ALIS方法之PDP裝置作為範例。 第11圖展示採用ALTS方法之電漿顯示（pdp)結構以及其 驅動電路的圖形。如圖所展示，X電極被分成奇數X電極 和偶數X電極兩群並且它們被設計以便分別地被一組奇數 X驅動電路26和一組偶數X驅動電路27獨立地驅動。Y 電極驅動電路21包含一組移位暫存器22以及一組驅動器 23，並且被設計以至於在移位暫存器22中被產生之掃瞄脈 波可經由驅動器23依序地被施加至γ電極，並且在相同時 間在奇數Y之持續放電電路24及偶數γ之持續放電電路 25中被產生之持續放電脈波可經由驅動器23分別地被施加 至奇數Y電極和偶數Y電極之各群。在這結構中，顯示線 被形成在奇數X電極和奇數γ電極之間，並以ALIS方法被 形成在奇數像框之偶數X電極及偶數γ電極間，又在偶數 像框中，顯示線被形成在奇數γ電極及偶數χ電極之間並 且被形成在偶數Υ電極及奇數X電極之間。在上述公開之 16 546605 、發明說明（l4 習知文件中’㈣ALIS方法之PDP裝置已被詳細說明，這 裡將省略其說明。

本發明第三實施例之PDP裝置包含與第4圖第一實施例 之相同結構’並且其差異是電衆顯示面板丨和持續電極驅動 電路2採用如第U困展示之ALIS方法。持續電極驅動電 路2包含Y電極驅動電路2卜奇數γ持續放電電路24、偶 數Υ持續放電電路25、奇數X驅動電路26、以及偶數X 驅動電路27。偶數位址停止電路13停止至奇數像框和偶數 像框中之偶數顯示線的位址動作。

當平均亮度是在20%之下時，第三實施例之pop裝置在 才曰疋之子像框中進行細線化處理，如第一實施例。因此，當 平均亮度是在20%之上時，上述公開習知之文件所披露的驅 動方法被使用。在奇數像框中，第12圖展示之驅動波形被 施加至進行細線化處理之子像框中。以此方式，位址處理被 達成並且顯示線被形成在奇數X電極和奇數γ電極之間， 但是顯示線不被形成在偶數X電極和一個偶數γ電極之 間，因為位址處理未被進行。這表示在奇數像框中每兩組顯 示線被細線化。接著，節省時間以相似於第一實施例之方式 被分配於已被進行細線化處理之子像框中。第13圖展示之 驅動波形被施加至細線化處理在偶數像框中被達成之子像 框。位址處理被達成且顯示線被形成在奇數Υ電極和偶數X 電極之間，但是顯示線不被形成在偶數Υ電極及奇數X電 極之間，因為位址處理未被進行。因此，在偶數像框中每兩 組顯示線被細線化。接著節省時間以如第一實施例之已被進 17 546605 五、發明說明（is) 行之細線化處理之子像框相似方式被分配。 第14A圖至第14C圖展示第三實施例之顯示線，並且第 14A圖展示奇數像框中之顯示線，第14B圖展示偶數像框 中之顯示線，並且第14C圖展示奇數像框和偶數像框中整 體被組合的顯示線。如第14A圖之展示奇數顯示線〇1， 〇2，…，被顯示在奇數像框中，並且光線在每一子像框中 之顯示線Ο卜03，…，被發射，如以交又斜線所展示，但 光線在上方子像框中被發射，而不在下方子像框中之顯示線 02,04,…，被發射，如以一方向斜線所展示。如第ι4β 圖之展示，偶數顯示線m，E2, ···，被顯示在偶數像框中， 並且光線在每一子像框中之顯示線El，E3，…，被發射， 如以交又斜線展示，但是光線在上方子像框被發射，而不在 下方子像框中之顯示線E2 ’ E4，…，被發射，如以一方向 斜線所展示。當奇數像框和偶數像框交替地被重複時，如果 奇數像框和偶數像框被組合在一起，則如第14C圓所展示 之顯示線可被得到。結果，成對的兩組顯示線交錯地被配 置，其中，光線在每一子像框中之其中一組被發射，並且在 另一組中的光線在上方子像框中被發射，而不在下方子像框 中被發射。 如上所述之第三實施例，作為細線化處理物件之子像框 中，在四條顯不線一組之第三和第四顯示線之顯示資料總是 遺失，如第14C圖之展示，因此，影像品質可能依據影像 内谷而惡化。因此在第四實施例中，當細線化處理在奇數像 框和偶數像框中被進行時，利用變化顯示線位置，這問題可 546605

五、發明說明（l6 ) 被避免。 本發明第四實施例之PDP裝置具有如第9圖第二實施例 之相同結構，但是其差異是電漿顯示面板丨和持續電極驅動 電路2使用如第"圖展示之ALIS方法。偶數位址停止電 路13停止奇數像框和偶數像框中之偶數顯示線的位址動

作，並且奇數位址停止電路15停止奇數像框和偶數像框中 奇數顯示線之位址動作。 在第四實施例中，當平均亮度是在20%之下時，例如，偶 數位址停止電路13和奇數位址停止電路15之任何一組依據 某一組的奇數像框和偶數像框中之垂直同步信號V被選擇 電路16置換成一種作用狀態，並且偶數位址停止電路13 和奇數位址停止電路15的另一組在下一組之奇數像框和偶 數像框中被置換成一種作用狀態。當細線化處理被進行時， 在某一奇數像框中奇數位址停止電路15被切斷並且偶數位 址停止電路13被導通，並且細線化處理以如第三實施例利 用施加第12圖之驅動波形至細線化處理物件之子像框的相 同方式被達成。同時在下一偶數像框中，奇數位址停止電路 15被切斷，偶數位址停止電路13被導通，並且細線化處理 以如第三實施例利用施加第13圖之驅動波形至細線化處理 物件之子像框中之相同方式被達成。在下一奇數像框中，奇 數位址停止電路15被導通，偶數位址停止電路丨3被切斷， 並且細線化處理利用施加第15圖之驅動波形至細線化處理 物件之子像框中而被達成。同時在下一偶數像框中，奇數位 址停止電路15被導通’偶數位址停止電路13被切斷，並且

19 546605 五、發明說明（l7 ) 細線化處理利用施加第16圖之驅動波形至細線化處理物件 之子像框中而被達成。 第ΠΑ圖至第17D圖展示第四實施例之顯示線，並且第 17A圖展示第一奇數像框中之顯示線，第17B圖展示第一 偶數像框中之顯示線，第17C圖展示其後的第二奇數像框 中之顯示線，且第17D圖展示第二偶數像框中之顯示線， 並且 當平均亮度是在20%之下時，這四組像框依序地被重複。 如圖之展示，如果四組像框被組合在一起，則幾乎忠實於原 始影像資料的顯示可完整地被得到。 第18圖是一種方塊圖，其展示本發明第五實施例pDp裝 置之概略結構。在第五實施例中，其差異是一組溫度檢測電 路被添加至第9圖展示之第二和第四實施例之結構中。當存 取顯示線未被進行於如第一至第四實施例之部份子像框 中，並且利用被節省時間增加持續放電週期長度而改進其亮 度時，面板表面可能被毀壞，因為電漿顯示面板丨之溫度局 部地增加。為了避免這問題，在第五實施例中，溫度檢測電 路31監視面板表面溫度並且如果檢測到面板表面溫度已超 出指定值，則一組檢測信號被傳送至細線化處理控制電路 11。在接收到該檢測信號時，即使平均亮度是在20%之下， 細線化處理控制電路11將切斷細線化處理電路12。 依據本發明，幾乎不需修改現存之電路結構，電衆顯示面 板之峰值亮度即可被改進m由於亮度改進所導致 溫度增加引發之面板毁壞亦可被避免。 546605

五、發明說明（l8) 元件標號對照表 L··· ••電漿顯示面板 2"· ••持續電極驅動電路 3… ••資料驅動電路 4··· ••顯示灰階位準調整電路 5··· ••視訊信號-子像框匹配電路 6_·· ••子像框處理電路 7··· ••平均亮度檢測電路 8··· ••子像框單元脈波數量設定電路 9·.· ••驅動波形產生電路 11··· …細線化處理控制電路 12··· …··輸入/輸出埠 13… ‘…偶數位址停止電路 14··· …脈波數量控制處理電路 15··· …奇數位址停止電路 16··. …選擇電路 21··· …Y電極驅動電路 22··· …移位暫存器 23··· …驅動器 24··· …奇數Y電極持續放電電路 25··· …偶數Y電極持續放電電 26·" …奇數X驅動電路 27··· …偶數X驅動電路 31·· •…溫度檢測電路 21

Claims (1)

1. 546605 六、申請專利範圍 1· 一種利用子像框方法進行灰階位準顯示之電漿顯示 裝置，其中各子像框至少包含一組其中將被照亮的一組顯示 胞被選擇之位址週期以及一組其中被選擇之顯示胞被照亮 之持續放電週期，該裝置包含：一組改變一些子像框中將被 顯示之線數量的顯示線數量改變電路以及一組增加其中之 持續放電週期的亮度補償電路。 2·如申請專利範圍第1項之電漿顯示裝置，其包含一組 檢測輸入影像信號之平均亮度的平均亮度檢測電路以及一 組依據該平均免度而控制是否致動顯示線數量改變電路與 亮度補償電路之顯示線數量控制電路。 3·如申請專利範圍第1項之電漿顯示裝置，其包含一組 利用分配其餘時間而增加各子像框之持續放電週期的持續 放電週期改變電路，該時間是依據持續放電週期長度比率， 利用改變將被顯示線數量改變電路所顯示之線數量減去被 亮度補償電路所使用之線數量而被節省。 4*如申請專利範圍第1項之電漿顯示裝置，其在將被顯 示之線數量已被改變的一些子像框中，包含有一組子像框， 其在所有的子像框中具有一組相對較短的持續放電週期。 5. 如申請專利範圍第〗項之電漿顯示裝置，其中該顯示 線數量改變電路顯示多數相鄰顯示線之其中一組並且不顯 示其他的顯示線。 6. 如申請專利範圍第5項之電衆顯示裝置，其中該顯示 線數量改變電路依序地改變在該等多數相鄰顯示線中之將 被顯示之顯示線。 546605 六、申請專利範圍 7.如申請專利範圍第1項之電漿顯示裝置，其進行交錯 的顯不，其中顯示奇數列顯示線之奇數像框以及顯示偶數列 顯示線之偶數像框交替地被重複，其中該顯示線數量改變電 路分別地在奇數像框和偶數像框中顯示該等多數相鄰顯示 線之一組並且不顯示其他的顯示線。 8·如申請專利範圍第7項之電漿顯示裝置，其中該顯示 線數量改變電路依序地改變在該等多數相鄰顯示線之中將 被顯示之顯示線。 9. 如申請專利範圍第8項之電漿顯示裝置，其包含一組 檢測電漿顯示面板溫度之溫度檢測電路，其中當電漿顯示面 板溫度是在一組參考值之上時，該顯示線數量改變電路不改 變將被顯示之線數量。 10. —種驅動電漿顯示裝置之方法，其利用子像框方法進 行灰階位準顯示，其中各子像框包含有，其中將被照亮的一 組顯示胞被選擇之至少一組位址週期，以及其中被選擇的顯 不胞被照亮之一組持續放電週期，其中在一些子像框中將被 顯示之線數量被改變，且該子像框之持續放電週期，其中將 被顯示之線數量被改變，被增加。 11. 如申請專利範圍第10項之電漿顯示裝置驅動方法， 其中一組輸入影像信號之平均亮度被檢測，並且依據該被檢 測之平均亮度而決定是否改變將被顯示之線數量。 12·如申請專利範圍第1〇項之電漿顯示裝置驅動方法， 其中各子像框之持續放電週期利用分配其餘時間而被增 加，該時間是依據持續放電週期長度比率，利用改變在一些 六、申請專利範圍 子像框中將被顯示之線數量減去被使用以增加子像框中之 持續放電週期之線數量而被節省，該子像框中將被顯示之線 數量已被改變。 U·如申請專利範圍第10項之電漿顯示裝置驅動方法， 其中該特定子像框是在所有的子像框中具有一種相對較短 的持續放電週期之一組子像框。 14.如申請專利範圍第10項之電漿顯示裝置驅動方法， 其中當一些子像框中將被顯示之線數量被改變時，多數相鄰 顯示線之一組被顯示並且其他的顯示線不被顯示。 15·如申請專利範圍第14項之電漿顯示裝置驅動方法， 其中在該等多數相鄰顯示線之中將被顯示之顯示線依序地 被改變。 16·如申請專利範圍第1〇項之電漿顯示裝置驅動方法， 其進行交錯的顯示’顯示奇數列顯示線之奇數像框以及顯示 偶數列顯示線之偶數像框交替地被重複，其中分別地在奇數 像框和偶數像框中該等多數相鄰顯示線之其中一組被顯示 並且其他的顯示線不被顯示。 n.如申請專利範圍第16項之電漿顯示裝置驅動方法， 、中在該等夕數相鄰顯示線之中將被顯示之顯示線依序地 被改變。 18.如申請專利範圍第1〇項之電漿顯示裝置驅動方法，其 中組電漿顯不面板之溫度被檢測並且當電漿顯示面板溫度 疋在一組參考值之上時將被顯示之線數量不被改變。