TW527851B - Thin-film electro-luminescent element and its manufacturing method - Google Patents

Thin-film electro-luminescent element and its manufacturing method Download PDF

Info

Publication number
TW527851B
TW527851B TW090116164A TW90116164A TW527851B TW 527851 B TW527851 B TW 527851B TW 090116164 A TW090116164 A TW 090116164A TW 90116164 A TW90116164 A TW 90116164A TW 527851 B TW527851 B TW 527851B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
layer
film
dielectric layer
thin
electrode layer
Prior art date
Application number
TW090116164A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukihiko Shirakawa
Original Assignee
Tdk Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tdk Corp filed Critical Tdk Corp
Application granted granted Critical
Publication of TW527851B publication Critical patent/TW527851B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/12Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
    • H05B33/22Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of auxiliary dielectric or reflective layers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/10Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Description

527851 A7 _B7_ ________ 五、發明説明(1) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 有關於具有電氣絕緣性之基板,和於前述基板上具有 圖案之電極層,和於前述電極層上至少堆積有介電質層, 和發光層及透明電極層的構造的薄膜電激發光元件。 【背景技術】 電激發光元件係做爲液晶顯示器C L C D )或時鐘之 背光被加以實用化。電激發光元件係經由電場之施加物質 發光之現象,即使用電激發光(E L )現象的元件。於電 激發光元件中,有使用將粉末發光體分散於有機物或琺瑯 ,於上下具有設置電極層之構造的分散型E L元件,和於 電氣絕緣性之基板上,以挾於2個之電極層和2個之薄膜 絕緣體間的形式所形成的薄膜發光體的薄膜E L元件。又 ,對於以上,驅動方式有直流電壓驅動型、交流電壓驅動 型。分散型E L元件自以前即爲所知,有在製造上容易的 優點,但因亮度爲低,壽命爲短之故,其利用則被限制。 另一方面,薄膜E L元件係具有高亮度、超長壽命的特性 之故,近年以來被廣爲使用。 經濟部智慧財產¾員工消費合作社印製 於圖2,顯示做爲以往之薄膜E L元件代表性之雙重 絕緣型薄膜E L元件之構造。此薄膜E L元件係於使用於 液晶顯示器或P D P等之藍板玻璃等之透明基板(2 1 ) 上,堆積具有膜厚0 · 2//m〜l//m程度之ιτ〇等所 成所定之條紋狀之圖案的透明電極層(2 2 )、薄膜透明 第1絕緣體層(23) 、0 · 2//m〜l//m程度之膜厚 之發光層(2 4 )、薄膜透明第2絕緣體層(2 5 ),更 ^紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ^ ' 527851 A7 B7 五、發明説明(2) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 且正交透明電極層(2 2 )地,形成圖案化條紋狀之A 1 薄膜等之電極層(26),於透明電極層(22)和電極 層(2 6 )所構成之矩陣所選擇之特定發光體,經由將電 壓選擇性地施加,發光特定畫素之發光體,將該發光自基 板側取出。如此薄膜絕緣體層係賦予具有限制流動於發光 層內之電流的機能,可抑制薄膜E L元件之絕緣破壞,可 得安定之發光特性,此構造之薄膜E L元件在於商業上亦 被廣爲實用化。 上述薄膜透明絕緣體層(2 3 )、( 2 5 )係將 Y2〇3、Ta2〇5、A13N4、BsTi〇3等之膜透明 介電質薄膜,經由濺鍍或蒸著等,以約〇 . 1〜1 # m程 度之膜厚,各別加以形成。 經濟部智慧財產alT員工消費合作社印製 做爲發光體材料由成膜的容易性,發光特性之觀點, 主要使用顯示黃橙色發光之添加Μη之Z n S。而製作彩 色顯示器時,發光爲紅色、綠色、藍色之3原色的發光體 材料之採用是不可獲缺的。做爲此等之材料,有藍色發光 之添加C e的S r S或添加Tm之Zn s、紅色發光之添 加S m的Z n s或添加E u之C a S,綠色發光之添加 Tb之Zn e或添加Ce的Ca S等。 又’於月刊顯示器’ 9 8 4月號「最近之顯示器之技 術動向」之田中省作之P 1〜P 1 〇中,做爲得紅色發光 之材料,揭示有ZnS、Mn/CdSSe等,做爲得綠 色發光之材料,揭示有ZnS : Tb〇F、ZnS : Tb 等,做爲得藍色發光之材料,揭示有SrS:Cr、( 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 _B7_ 五、發明説明(3)
SrS : Ce/ZnS) n、Ca2Ga2S4: Ce、 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) S r 2 G a 2 S 4 : Ce等的發光材料。又,做爲得白 色發光者,揭示有SrS:Ce/ZnS:Mn等之發光 材料。 更且,上述材料內,將S r S : C e用於具有藍色發 光層之薄膜E L元件,則揭示於I D W ( International Display Workshop)’97 X.Wu”Muliticolor Thin-Film Ceramic Hybrid EL Displays”p593 to 596。更且,於此文獻中,揭示 有形成SrS : Ce之發光層之時,於H2S氣氛下,經由 電子束蒸著法形成時,可得高純度之發光層。 經濟部智慧財產笱員工消費合作社印製 但是,如此之薄膜E L元件中,仍然存在有構造上的 問題。即,絕緣體層以薄膜形成之故,當成爲大面積之顯 示器時,難以排除透明電極之圖案邊緣之階差部,或製造 工程所產生塵埃等之薄膜絕緣體之缺陷,經由局部性之絕 緣耐壓之下降,而產生發光層之破壞。如此缺陷就做爲顯 不器裝置爲致命的問題之故,薄膜E L元件係較液晶顯示 器或電槳顯不器而言,爲做爲大畫面之顯示器資爲實用化 上,存在有很大的問題。 爲解決產生如此薄膜絕緣體之缺陷的問題,於日本特 開平7 - 50 1 97公報或日本特公平7 -44072公 報,揭示有做爲基板使用電氣絕緣性之陶瓷基板,代替發 光體下部之薄膜絕緣體,使用厚膜介電質之薄膜E L元件 。如圖3所示,此薄膜E L元件係於陶瓷等之基板(3 1 )上,成爲堆積下部厚膜電極層(32)、厚膜介電質層 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ' 527851 A7 B7 五、發明説明(4) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) (33)、發光層(34)、薄膜絕緣體層(35)、上 部透明電極層(3 6 )的構造。如此地,與圖2所示之薄 膜E L元件的構造變得不同,發光體之發光由與基板相反 之上部側取出之故,透明電極層係構成於上部。 於此薄膜E L元件中,厚膜介電質層係數1 〇 //m〜 數1 0 0 //m,形成成爲薄膜絕緣體層之數1 〇 〇〜數 1 ◦ 0 0倍之厚度。爲此,起因於經由電極之階差或製造 工程之塵埃等所形成之針孔的絕緣破壞則變少,具有獲得 高可靠性和製造時之高產率的優點。又,經由使用此厚膜 介電質層雖會產生施加於發光層之實效電壓下降的問題, 但經由於介電質層使用高介電率材料改善如此之問題。 但是,形成於厚膜介電質層上之發光層係只有數 1 0 0 n m,爲厚膜介電質層之1 / 1 〇 〇程度的厚度。 爲此,厚度介電質層係雖於發光層之厚度以下之位準,該 表面雖必需爲平滑,但難以將於通常之厚膜工程所製造之 介電質表面使之充分平滑。 經濟部智慧財產^員工消費合作社印製 即,厚膜介電質層係本體上爲使用粉體示料之陶瓷所 構成之故,爲了緊密加以燒結,雖通常會產生3 0〜4 0 %程度之體積收縮,但對於通常之陶瓷於燒結時,成爲3 次元體積收縮地加以緊密化,形成於基板上之厚膜陶瓷之 時,厚膜係受限於基板之故,於基板之面內方向無法收縮 ,僅能向厚度方向1次元地進行體積收縮。因此,厚膜介 電質層之燒結則在不充分的狀態下,本質上會成爲多孔質 體0 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 527851 A7 _____B7_ 五、發明説明(5) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 又,緊密化之過程,因具有一定粒度分布的粉體之陶 瓷固相反應,易於形成異常磊晶或巨大空洞之形成等之燒 結異常的部分。更且,厚膜之表面粗糙度係不會成爲多結 晶燒結體之結晶粒尺寸以下之故,即使沒有上述之缺陷, 該表面亦會成爲次// m尺寸以上之凹凸形狀。 如此,介電質層之表面之缺陷或膜質爲多孔質或凹凸 形狀時,於其上,以蒸著法或濺鍍法所形成之發光層,則 伴隨表面形狀,無法均勻地加以形成。爲此,於形成於如 此基板之非平坦部的發光層部,無法有效施加電場之故, 有著減少有效發光面積,或由於膜厚之局部不均勻性,發 光層被部分絕緣破壞而產生發光亮度之下降的問題。又, 膜厚於局部上有大變動之故,有著施加於發光層之電場強 度在局部上大爲參差,無法得明確發光電壓臨限値的問題 爲此’以往之製造步驟中,需要將厚膜介電質層之表 面的大凹凸經由硏磨加工除去之後,更將微細之凹凸經由 溶膠凝膠工程除去的作業。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 但是’爲硏磨顯示器用等之大面積之基板在技術上爲 困難,而成爲成本提高之要因。然後,附加溶膠凝膠工程 ,更成爲成本提高的要因。又,於厚膜介電質層存在異常 燒結點,產生硏磨所無法處理的大凹凸時,於該溶膠凝膠 工程之附加中,無法進行處理,而成爲產率下降之要因。 爲此,將以低成本’且無發光缺陷的介電質層,以厚膜介 電質層加以形成者極爲困難。 又,厚膜介電質層係以陶瓷之粉體材料燒結步驟加以 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21GX297公羞) 527851 A7 B7 五、發明説明(6) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 形成之故,該燒成溫度爲高。即,做爲燒成溫度與通常之 陶瓷同樣,需8 0 0 °C以上,通常係需8 5 0 °C,尤其爲 得緊密之厚膜燒結體,需要9 0 0 °C以上之燒成溫度。做 爲形成如此之厚膜介電質層之基板,由耐熱性及介電質層 的反應性問題,限定於氧化鋁陶瓷或氧化锆陶瓷基板,使 用便宜之玻璃基板爲困難。前述陶瓷基板係做爲顯示器用 加以使用時,具有大面積良好之平滑性爲必要之條件,但 爲得如此之條件之基板,在於技術上極爲困難,成爲高成 本的要因。 更且,做爲下部電極層使用之金屬膜,由於該耐熱性 需使用鈀或白金等之高價貴金屬,而成爲成本提高之要因 〇 本發明之目的係爲解決以往之薄膜E L元件之問題, 即,解決 (1 )絕緣體層以薄膜加以形成之時,經由起因於絕 緣體層之缺陷的局部性絕緣配壓之下降,產生發光層之破 壞,做爲顯示器,會產生致命缺陷, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (2 )使用陶瓷厚膜介電質層時,起因於介電質層表 面之缺陷或膜質爲多孔質或凹凸形狀的發光特性之不良, (3 )附加厚膜介電質層表面之硏磨加工之困難工程 所造成之高成本化,和更加上溶膠凝膠工程的高成本化的 問題, (4 )起因於厚膜介電質層之燒成溫度的基板和電極 層材料之選擇限制的問題等。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 _ B7 五、發明説明(7) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 又,提供無基板選擇之限制,可使用容易大面積化之 玻璃基板等,經由簡便之方法,修正電極層或工程之塵埃 等所成介電質層之非平坦部,無絕緣耐壓之下降,更且, 介電質層表面之平滑性爲良好地,無高成本化得高顯示品 質之薄膜E L元件和該製造方法。 上述課題係經由以下之(1 )〜(5 )之本發明所解 決。 (1 )至少具有於具有電氣絕緣性之基板,和於前述 基板上具有圖案之電極層,和於前述電極層上,堆積介電 質層,和發光層及透明電極層之構造的薄膜E L元件中, 前述介電質層係經由複數次重覆溶液塗佈燒成法形成 成爲多層狀之多層狀介電質層, 此多層狀介電質層之膜厚爲前述電極層之膜厚的4倍 以上,且爲4//m以上1 6 um以下之薄膜EL元件。 (2 )前述多層構造之介電質層則經由3次以上重覆 溶液塗佈燒成法所形成之(1 )的薄膜E L元件。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (3 )前述多層狀介電質層之每一層之膜厚爲前述電 極層之膜厚之1 / 2以上之薄膜E L元件。 (4 )於製造至少備有於具有電氣絕緣性之基板,和 於前述基板上具有圖案之電極層,和於前述電極層上,堆 積介電質層’和發光層及透明電極層之構造的薄膜E L元 件之製造方法中,
於前述電極層上經由複數次重覆介電質之前驅體溶液 之塗佈燒成’將前述介電質層形成成爲多層狀之薄膜E L -10- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公董) 527851 A7 B7 五、發明説明(9) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 2 :下部電極層 1 3 :多層狀介電質層 1 4 :發光層 1 5 :絕緣體層 1 6 :透明電極層 21:透明基板 2 2 :透明電極層 2 3 :薄膜透明第1絕緣體層 2 4 :發光層 2 5 :薄膜透明第2絕緣體層 2 6 :電極層 3 1 :基板 3 2 :下部厚膜電極層 33:厚膜介電質層 3 4 :發光層 3 5 :薄膜絕緣體層 3 6 :上部透明電極層 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 1 :基板 4 2 :下部電極層 43 - 1 :介電質層第1層 43-2:介電質層第2層 43 - 3 :介電質層第3層 4 3 - 4:介電質層第4層 4 4 :圖案邊緣附近 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 B7 五、發明説明(ιό 4 5 :塵埃 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 6 :針孔 4 7 :龜裂 4 8 :缺陷 較佳之形態之說明 本發明之薄膜E L元件係於具有電氣絕緣性之基板, 形成具有圖案之電極層,更且做爲介電質層,經由複數重 覆溶液塗佈燒成法,形成成爲多層狀之後,發光層及透明 電極層被堆積,前述多層狀介電質層之膜厚爲前述電極層 之膜厚的4倍以上,且前述多層狀介電質層之膜厚爲4 β m以上1 6 u m以下者。 圖1係本發明之薄膜E L元件之構造圖。本發明之薄 膜E L元件係構成將於具有電氣絕緣性之基板(1 1 )上 ’具有所定之圖案之下部電極層(12)、和於其上複數 次重覆溶液塗佈燒成法所形成之多層狀介電質層(1 3 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ’和更且於介電質層上,堆積發光層(i 4 )、薄膜絕緣 體層(1 5 )、透明電極層(1 6 )之構成。然而,絕緣 體層(1 5 )可省略。下部電極層和上部透明電極層係各 別形成成爲條紋狀,配置於相互正交之方向。各別選擇此 下部電極層和上部電極層,於兩電極之正交部之發光層, 經由選擇性施加電壓’可得特定晝素之發光。 基板係具有電氣絕緣性,不會污染到於其上形成之下 部電極層、介電質層,可維持所定之耐熱強度者時,則不 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公羡) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 527851 A7 _________B7 五、發明説明(1) 需特別加以限定。 做爲具體之材料,可使用氧化鋁(A 1 2〇3 ),石英 玻璃CSi〇2)、氧化鎂(Mg〇)、鎂橄欖石( 2 M g 0 · S i 0 2 )、塊滑石(Mg〇.Si〇2)、多 鋁紅柱石(3 A 1 2〇3 · 2 S i〇2 )、氧化鈹耐火材料 CBe〇)、氧化鉻(zr〇2)、氮化鋁(A1N)、氮 化砂(S i N)、碳化砂(S i C)等之陶瓷基板或炉:曰 * 口曰白 化玻璃或,高耐熱玻璃、藍板玻璃等即可,又可使用進行 琺瑯處理之金屬基板等。 其中,尤其是結晶化玻璃、高耐熱玻璃、或可取得與 形成介電質之燒成溫度的整合,藍板玻璃由於該低成本性 、表面性、平坦性、大面積基板製作的容易性來看,爲較 佳者。 下部電極層係具有複數之條紋狀之圖案地加以形成, 該線寬成爲1畫素之寬度,線間峙空間係成爲非發光範圍 之故,極力將線間之空間變小者爲佳。雖亦攸關於目的之 顯示器之解析度,但需要例如線寬2 0 0〜5 〇 〇 m、 空間2 Ο β m的程度。 做爲下部電極層之材料,可得高導電性、且於介電質 層形成時不會受到損傷,更且與介電質層或發光層的反應 性低的材料者爲佳。做爲如此之下部電極層材料,將A u 、Pt 、Pd、I r 、Ag 等之貴金屬,或 Au — Pd、 Au — P t 、Ag— Ag、Ag — P t等貴金屬合金,或 A g - P d - C u等之貴金屬爲主成分,添加賤金屬元素 . Ι.Φ —、玎------Φ— {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} i紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ^ 14 ' 527851 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明( 的電極材料,對於介電質層燒成時之氧化氣氛的耐氧化性 可被容易獲得者爲佳。又,使用I 丁 ◦,或Sn〇2 (透明 導電膜)、Ζ η〇一 A 1等之氧化物導電性材料亦可。或 者,使用N i 、C u等之賤金屬,將燒成介電質層時氧分 壓,設定於此等之賤金屬不被氧化之範圍加以使用亦可。 做爲下部電極層之形成方法,可使用濺鍍法、蒸著法、電 鍍法等之公知之技術。 介電質層係以高介電率高耐壓之材料加以構成者爲佳 。在此,令介電質層和發光層之比介電率各成爲e 1、 e 2,膜厚爲d 1、d 2,於上部電極層和下部電極層間 ,施加電壓V 〇時,施加於發光層之電壓V 2係以下式顯 示 V2/Vo = (el xd2)/(el xd2 + e2><dl).........(1) 假定發光層之比介電率e 2 = 1 〇時,將膜厚d 2 = 1 // m 時, V2/Vo = el/(el + l〇xdl).........(2) 於發光層實效施以之電壓係至少施加電壓之5 Ο %以 上,較佳爲8 0 %以上,更佳爲9 0 %以上,是故經由上 式, 50% 以上時 e 1-lOxdl-----(3) 80%以上時el-4〇xdl-----(4) 9〇%以上時61-90乂己1-----(5) 即,介電質層之比介電率係需要至少將單位以// m加 以表示時之膜厚的1 0倍以上,較佳爲4 0倍以上,更佳 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) • 衣------、玎------Φ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 527851 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明( 爲9 0倍以上。例如介電質層之膜厚有5 # m時,該比介 電率需要50〜2〇〇〜45〇以上。 做爲如此咼介電率材料,可使用例如;B a T i 0 3、( Γ) a x C a 1 - χ ) T i 〇 3 , ( B a x S r i - x ) T i 0 3 ^
PbTi〇3、Pb (zrxTii-x)〇3等之鈣鈦礦構 造(強)介電質材料’或代表P b ( M g i 3 N i 2 3 ) 0 3等之複合鈣鈦礦利勒克沙型鐵電體材質,或代表 B 1 4 T 1 3 ◦ 1 2、s r B i 2 T a 2〇9等之鉍層狀化合物 、代表CSrxBai — x) Nb2〇6、PbNb〇6等之鎢 青銅型鐵電體材質。其中,又以具有B a T i〇3或P ZT 等之鈣鈦礦構造的鐵電體材料,其比介電率爲高,可容易 在較低溫下合成的因素較佳。 前述介電質係經由溶膠凝膠法或Μ ◦ D法等之溶液塗 佈燒成法加以形成。丨谷膠凝膠法一般而言’於溶解於溶媒 的金屬醇鹽,加上所定量之水,將具有水解、聚縮合反應 所成Μ - ◦- Μ結合的溶膠之前驅體溶液,經由塗佈於基 板加以燒成,進行膜形成之方法。又,Μ〇D法係,將具 有Μ - ◦結合之羧酸之金屬鹽等,溶於有機溶媒,形成前 驅體溶液,經由塗佈於基板加以燒成,進行膜形成之方法 。在此前驅體溶液係指於溶膠凝膠法、Μ ◦ D法等之膜形 成法中,包含原料化合物溶解於溶媒生成之中間化合物的 溶液。 洛膠凝膠法和Μ ◦ D法非完全個別之方法,相互組合 使用爲一般的。例如形成Ρ Ζ Τ膜時,做爲p b源使用醋 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇X297公釐) ------ir------Aw (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 527851 A7 B7 五、發明説明(作 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 酸鉛,做爲τ i 、z !·源使用醇鹽調整溶液爲一般的。又 ’雖然總稱溶膠凝膠法和Μ〇D法之二個方法,稱之爲溶 膠凝膠時,在任何時將前驅體溶液塗佈於基板,經由燒成 ’形成膜之故,本發明中稱爲溶液塗佈燒成法。又,混合 次"m之介電質粒子和介電質之前驅體溶液的溶液中,包 S於本發明之介電質之即驅體溶液’將該溶液塗佈燒成於 基板時,包含於本發明之溶液塗佈燒成法。 溶液塗佈燒成法係溶膠凝膠法、Μ 0 D法之任何情形 時’以構成介電質之元素以次// m以下之規則,,均句混 合之故,較使用厚膜法所成介電質形成之本質性之陶瓷少 粉體燒結的手法,於極低之溫度,可合成介電質。 例如’以B a T i〇3或P Z T等鈣鈦礦構造的鐵電體 爲例,於通常之陶瓷粉體燒結法,需9 0 〇〜1 〇 〇 〇 °C 以上之高溫步驟,使用溶液塗佈燒成法時,可以5 0 0〜 7 0 0 °C程度之低溫形成。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 如此地,經由溶液塗佈燒成法形成介電質層,於以往 之厚膜法中,可使用於耐熱性之觀點不可能的高耐熱玻璃 或結晶玻璃、或藍板玻璃等之使用的優點。 首先,於圖4 A中,於基板(4 1 )上形成有成爲條 紋狀圖案化之下部電極層(4 2 )的介電質層第1層( 4 3 - 1 )。溶液塗佈燒成法所成膜形成法係對於階差, 無均勻之膜厚形成(階層性)之故,下部電極之圖案邊緣 部附近(4 4 )膜厚呈薄狀地形成。又’於基板上,存在 起因於製造工程之塵埃(45)。此塵埃附近介電質層層 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 _B7 五、發明説明(1矣 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 之膜厚亦薄,又經由如此之塵埃於燒成前後的剝離,形成 針孔(4 6 )。然後,於溶液塗佈後之燒成時,於介電質 層會因某種原因形成龜裂(4 7 ),此部分則成爲針孔, 而成爲介電質層之絕緣不良點。如此龜裂係特別於金屬電 極層上易於產生,此係主要於介電質層燒成時,經由金屬 電極層之再結晶或微少小丘之形成,於介電質層有過大的 應力被施加爲其示因之一。如此介電質層之缺陷係成爲介 電質層之絕緣耐壓下降的原因。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 接著,於圖4 B中,介電質層經由4次重覆溶液塗佈 燒成法形成成爲多層狀。改善產生於介電質層第1層形成 時之下部電極的圖案邊緣部附近、塵埃附近、針孔、龜裂 係經由介電質層第2層(4 3 - 2 )埋入之介電質層之表 面缺陷之故,絕緣耐壓則明顯改善。於介電質層第2層之 形成時,雖可能產生工程中之塵埃附著所成之針孔等,此 第2層之缺陷(4 8 )產生於與第1層之缺陷同位置的可 能性極低之故,經由此等之缺陷部分所產生之介電質層第 1層、第2層之膜厚下降部係至少可確保介電質層1層分 之厚度。 又,關於產生於介電質層第2層(4 3 - 2 )之龜裂 時,尤其產生原因爲起因於下部金屬電極層之介電質層的 應力時,第1層之介電質層做爲下部金屬電極層之夾片層 工作,緩和對第2層以後之應力傳達。爲此第2層以後之 龜裂產生機率則明顯減少,可避免此種缺陷堆積所成介電 質層之絕緣耐壓的下降。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 B7 五、發明説明(1隹 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 於圖4B中,更形成介電質第3層(44 一 3)、第 4層(4 4 - 4 )。如此地,經由重覆溶液塗佈燒成法, 可完全抑制伴隨下部電極之圖案邊緣部附近,或介電質層 中之缺陷所成介電質層之膜厚的減少的絕緣耐壓缺陷部。 更且,將構成多層狀介電質層之各層之膜厚相等地力口 以形成亦可,或以各層不同之膜厚加以形成亦可。然後, 此各層係可自同一之材質加以構成亦可,或自不同之材質 加以構成亦可。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 接著,爲明確本發明之作用,對於不將介電質層使用 本發明所成溶液塗佈燒成法形成於多層狀介電質層,經由 濺射法形成之時,使用電子顯微鏡照片加以說明。圖5係 形成3 v m以下之下部電極層,於圖案之基板上,以濺射 法將B a T i〇3薄膜形成8 # m時之電子顯微鏡照片。由 圖5可知,經由濺射法形成介電質層時,介電質膜之表面 係將基板之階差以強調之形式加以形成之故,介電質表面 產生明顯之凹凸和突起。如此之表面形狀之凹凸現象係除 濺射法以外,以蒸著法形成介電質層之時,亦同樣發現。 於如此介電質層上,完全不可能使用形成如E L發光層之 機能性薄膜。如此地,將在以以往之濺射法等之手法形成 之介電質層不可能的下部電極層之階差或塵埃等所成缺陷 ,本發明係經由重覆複數次溶液塗佈燒成法地完全被覆, 介電質層表面被平坦化。 本發明人所成詳細檢討之結果,上述之效果係於以下 之條件中,特別有其效果。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -19- 527851 A7 B7 五、發明説明(炒 第1 ,將介電質層經由至少複數重覆溶液塗佈燒成法 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 加以形成。此效果係如記述上述者。尤其,重複次數爲3 次以上之時,於單層之介電質層由於塵埃等之示因所產生 之缺陷部之膜厚,可至少成爲多層狀鉛系介電質層之平坦 膜厚的2 / 3以上。做爲通常介電質之絕緣耐壓之設計値 ,爲予產生預定施加電壓之5 0 %程度的餘力,於經由上 述缺陷所產生之局部性耐壓下降部中,亦可避免絕緣破壞 等之問題。 第2,將介電質層之膜厚,成爲下部電極層之膜厚之 4倍以上。由本發明人之實驗檢討,形成於下部電極之圖 案邊緣部之介電質層膜厚之減少部分係可得知下部電極層 膜厚成爲介電質層之平坦膜厚之1/4以下,幾近成爲平 坦膜厚之2 / 3以上。又,此時此階差部之平坦化亦進行 ,並不充分。經由此平坦化效果,形成於介電質層上部之 薄膜發光層亦均勻地形成。 第3,令多層狀介電質層之膜厚成爲4 #ηι以上, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 6 ^ m以下。根據本發明之檢討,於通常之潔淨室內的 工程所產生之麈埃等之粒子尺寸爲0 · 1〜2 //m,尤其 ,集中於1厂m前後,將平坦膜厚經由成爲4 # m以上, 較佳爲6 # m以上,可令塵埃等之缺陷所造成介電質層缺 陷部的絕緣耐壓成爲平坦耐壓的2 / 3以上。 膜厚成爲1 6 " m以上時,溶液塗佈燒成法之重覆次 數會太多之故,成本會增大。更且,如式(3)〜(5) 所示,當介電質層之膜厚變大時,介電質層之比介電率本 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇X;297公釐) 527851 A7 ______ B7 五、發明説明(1矣 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 身有變大之必要,例如膜厚爲1 6 // m以上時,必需之比 介電率爲1 60〜640〜1 440以上。但是,一般而 言’使用溶液塗佈燒成法形成比介電率1 5 0 0以上之介 電質層在技術困難性爲大。又,於本發明中,,可容易形 成耐壓爲高’無缺陷之介電質層之故,無需形成1 6 #ηι 以上之介電質層。爲此,膜厚之上限爲1 6 # m以下,較 佳爲1 2 # m以下。 第4,將前述介電質層之每1層之厚度,成爲前述下 部電極層之膜厚之1 / 2以上。根據本發明人之檢討,介 電質層之每1層之厚度爲電極層之膜厚之1/2以下時, 於圖案邊緣附近,易於產生介電質層之龜裂,更且此龜裂 形成下個介電質層時亦難以修復,又於下個介電質層亦易 於產生新的龜裂。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 又,於不產生龜裂之時,介電質層所成下部電極之圖 案邊緣部之被覆部於此介電質層每1層膜厚爲電極層之 1 / 2以下時和以上之時’ g周整堆積次數,構成同一^之最 終之膜厚時,每一層之膜厚之電極層之1 / 2以下時之電 極圖案邊緣部之被覆性明顯不佳。 此現象係約莫每1層之介電質層膜厚爲小之時,圖案 邊緣部之介電質層極薄之故,經由介電質層燒成時之熱疲 勞,影響產生於下部電極層之應力。 做爲發光層之材料,雖未特別加以限制,可使用攙雜 前述Μη之Z n S等之公知之材料。於此等之中,S r S :C e可得優異特性之故,特別爲佳。做爲發光層之膜厚 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X29*7公釐)
i、發明説明(作 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ’雖未特別加以限制,過厚時驅動電壓會上昇,太薄時發 光效率會下降。具體而言,雖依發光體材料有所不同,但 較佳爲1 0 0〜2 Ο ο ο n m程度。 發光層之形成方法係可使用氣相堆積法。做爲氣相堆 積法,較佳爲濺鍍法或蒸著法等之物理性氣相堆積法或 c V D法等之化學性氣相堆積法。又,如前述,尤其形成 S r S : C e之發光層時,經由H2S氣氛下,電子束黑著 法成膜中之基板溫度保持於5 0 0 °C〜6 0 0 t加以形成 時,可得高純度之發光層。 發光層之形成後,較佳爲進行加熱處理。加熱處理係 自基板側堆積電極層、介電質層、發光層後加以進行亦可 ’自基板側形成電極層、介電質層、發光層、絕緣體層或 於此形成電極層後加以進行加熱處理(覆蓋退火)亦可。 熱處理之溫度會根據形成發光層有所不同,於S r S : C e時,於5 0 0 t〜6 0 0 t以上,介電質層之燒成溫 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 度以下,處理時間爲1 0〜6 0 0分者爲佳。做爲加熱處 理時之氣氛,經由發光層之組成、形成條件選擇空氣、N 2 、A r、H e等即可。 形成於發光層上之絕緣體層雖可如前述省略亦可’但 具有此者爲佳。此薄膜絕緣體層係做爲阻抗率,爲 1 08Qcm以上,尤其1 01。〜1 018ncm程度爲佳 。又,具有較高之比介電率之物質爲佳。做爲該比介電率 芒,較佳爲e = 3〜1 0 0 0程度。做爲此薄膜絕緣體層 之構成材料,例如可使用氧化矽(S i〇2 )、氮化矽( 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 B7_ 五、發明説明(20 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) S 1 μ )、氧化鉅(T a 2 0 5 )、鈦酸總(S r τ i〇 )、氧化釔(Y 2〇3 )、鈦酸鋇(B a T i〇3 )、鈦酸 鉛(PbTi〇3)、氧化鉻(Zr〇2)、氮氧化砂( S 1 〇 n )、氧化鋁(A 1 2〇3 )、鈮酸鉛( p b N b 2 〇 6 )等。 做爲形成薄膜絕緣體層’與上述發光層相同。做爲此 時絕緣體層之膜厚,較佳爲5 0〜1 0 0 0 n m,尤其更 佳爲50〜200nm程度。 透明電極層係使用膜厚0 · 〜lem之1丁〇 或Sn〇2 (透明導電膜)、Zn ◦- A 1等之氧化導電性 材料等。做爲透明導電膜之形成方法,除濺鍍法外,可使 用公知之蒸著法等。 然而,上述薄膜E L元件僅具有單一發光層,本發明 之薄膜E L元件係非限定於此等之構成,於膜厚方向複數 堆積發光層亦可’成爲矩陣狀地組合各種類之不同發光層 (晝素),配置成爲平面性之構成亦可。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 又,本發明之薄膜E L元件係經由電子顯微鏡可容易 觀察識別。即,於本發明中,經由複數重覆溶液塗佈燒成 法所形成之多層狀的介電質層與經由其他之方法所形成之 介電質層,不但是在於介電質層形成爲多層狀,在於膜質 上之不同亦可被觀察。更且,有介電質層表面之平滑性極 佳的特徵。 如上所述,本發明之薄膜E L元件係堆積發光層之介 電質層表面之平滑性極佳,絕緣耐壓爲高且無缺陷,更且 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 B7 五、發明説明(幻 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 可完全防止以往問題之介電質層的過剩鉛成分所成之發光 層的損害之故,可容易構成亮度爲高,亮度之長期可靠性 爲高’高性能、高精細之顯示器。又,製造工程爲容易, 可抑制在低的製造成本。 實施例 以下將本發明之實施例具體加以顯示,再更加地詳細 說明。 (實施例1 ) 表面硏磨9 9 · 6 %純度之氧化鋁基板,於該基板上 經由濺鍍法添加之微量添加物的A u薄膜形成爲1 # m之 厚度’於7 0 0 °C進行熱處理而安定化。將此a u薄膜使 用光触刻法,圖案化成爲寬3 0 0 // m,空間3 0 // m之 多數條紋狀。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 於此基板使用溶液塗佈燒成法,形成鈴系介電質層之 P Z T介電質。做爲溶液塗佈燒成法所成介電質層的形成 方法’將以下方法所製造之溶膠凝膠液,做爲P Z T前方 口 7體溶液,於基板以旋轉塗佈法加以塗佈,令7 〇 〇 1 5分鐘之燒成以所定次數重覆。 基本之溶膠凝膠液之製作方法係將8 · 4 9 g之酷酸 錯三水合物和4 · 1 7 g之1 ,3丙二醇加熱攪拌約2小 時’得透明之溶液。除此之外,將3 · 7 0 g之7 0 w t %锆·正丙氧基1 一丙醇溶液和1 · 5 8g之二乙醯甲院 ,於乾燥氮氣氛中,加熱攪拌3 0分鐘,於此加上 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) —— 527851
1、發明説明(线 3 · 14g之75wt%鈦.二異丙氧基·雙二乙醯甲烷 2〜丙醇溶液和2 . 3 2g之1 ,3 -丙二醇,更加熱攪 拌2小時。將此等2個溶液於8 0 °C混合,於乾燥氮氣氛 中,加熱攪拌2小時,製作褐色透明之溶液。將亥溶液於 1 3 〇。(:經由數分鐘的保持’除去副生成物,更加熱攪拌 3小時,製作P Z T前驅體溶液。 溶膠凝膠液之粘度調整係經由使用n 一丙醇稀釋進行 。每單層之介電質層之膜厚係經由調整旋轉塗佈條件及溶 膠凝膠液之粘度,1層爲0 · 4 # m、0 · 7 e m。將上 述溶膠凝膠液做爲P Z T前驅體溶液,經由重覆旋轉塗佈 及燒成,形成表1所示之介電質層。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 試料 全膜厚 膜構造 耐壓 誘電率 電子顯微鏡寫真 備註 1 β m) (ν) 」1 2.0 0·4χ 5 0 圖6 比較例 12 2.1 0·7χ 3 30 500 圖7 比較例 13 3.5 0_7χ 5 140 520 — 比較例 14 4.2 0·7χ 6 220 540 圖8 本發明 15 4.4 0.4χ 11 170 530 —— 本發明 16 7.0 0.7χ 10 320 600 — 本發明 17 14.0 0.7χ 20 430 620 — 本發明 18 16.4 0.7χ 22 450 620 — 比較例 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 B7 五、發明説明(2》 表1中之膜構造係顯示膜厚X堆積次數。例如試料 14之膜構造係0 , 6層堆積之構造。由表1可知 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ,多層狀介電質層之膜厚爲不足4 時,耐壓爲低,適 用於薄膜E L元件爲不充分。又,每1層之膜厚不足電極 層膜厚(l#m)之1/2的0 · 4//m時,耐壓明顯下 降,可得良好之結果。 圖6、7、8係各試料1 1、1 2、1 4之介電質層 表面之電子顯微鏡照片。如圖可知,每一層爲0 · 4 // m 厚度,形成全膜厚爲2 // m之介電質層的試料1 1係雖無 法埋入介電質層之龜裂,存在於表面,每一層之0·7 V m厚之試料1 2係幾近與試料1 1同樣的全膜厚爲 2 · l#m時,表面之龜裂之痕跡雖會留下,但完全被封 閉。更且,全膜厚爲4 · 2 # m之試料1 4係龜裂之痕跡 則完全消失。如此地,對於電極薄膜,每1層之介電質層 之膜厚爲不足1 / 2時,無法充分抑制電極層應力所成介 電質層之龜裂產生,有無法得耐壓之傾向。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 又,對於下部電極膜厚,多層狀介電質層之膜厚爲沒 有4倍以上時,無法得充分之耐壓。 於做爲與表1之試料1 3〜1 8同樣之構成所形成之 介電質層,加熱至2 0 0 t之狀態,使用攙雜Μ η之 ZnS蒸著源,經由將ZnS發光體薄膜成爲厚0 · 8 β m之蒸著法加以形成之後,於真空中,於6 0 0 °C,進 行1 0分鐘熱處理。 接著,將做爲絕緣體層之S i 3 N 4薄膜和做爲上部電 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 ______B7 五、發明説明(2灰 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 極層之I T〇薄膜經由濺鍍法順序形成,而成薄膜e二元 件。此時,上部電極層之I T〇薄膜係經由將金屬光罩使 用於成膜時,於寬度1 m m之條紋上圖案化。發光特性係 自所得元件構造之下部電極、上部透明電極引出電極,於 1kHz之脈衝寬度50//S ,發光亮度直至飽和地,施 加電場加以測定。 結果’使用試料1 3之薄膜E L元件於施加發光臨限 値附近(1 4 0〜1 6 Ο V )之電壓時,產生絕緣破壞而 破壞。做爲此原因,應爲耐壓爲低。對此,形成於試料 1 4、1 6、1 7、1 8上的薄膜E L元件係皆可得最高 亮度6 0 00〜1 0 0 〇 〇 c d/m2,且於此時之施加電 壓,不會產生絕緣破壞。 (實施例2 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 使用方鈉石基礎高耐熱玻璃基板(軟化點8 2 0 °C ) ’於此基板上,經由濺射法,做爲薄膜下部電極層,將 Ag/Pd/Cu薄膜形成成爲〇 · 5u/^m之厚度,於 7 0 0 °C進行熱處理安定化。將此薄膜下部電極層使用光 鈾刻法,成爲寬5 0 0 // m、空間5 0 // m之多數之條紋 狀地圖案化。 於此基板,使用溶液塗佈燒成法形成介電質層。做爲 溶液塗佈燒成法所成之介電質層之形成方法,將以下方法 所形成之溶膠凝膠液,做爲B a T i 0 3前驅體溶液,於基 板,於深塗佈加以塗佈,於最高溫度7 0 〇 t,所定次數 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 B7 五、發明説明(2务 重覆1 -分鐘之燒成。此時,每一餍之介電質層之膜厚爲 1 · 5 # m 〇 做爲B a T i〇3前驅體溶液之製作方法,將分子量 63萬之PVP (聚乙烯吡咯烷酮),完全溶解於2-丙 醇,將醋酸及異四丙氧基鈦邊攪拌邊進行添加,得透明之 溶液。於此溶液攪拌純水和醋酸鋇之混合溶液加以滴下, 於此狀態邊加以攪拌地,進行所定時間之老化。各起始原 料之組成比係醋酸鋇:異四丙氧基鈦:P V P :醋酸:純 水:2 -丙醇=1:1:0.5:9:20:20。由此 可得B a T i〇3前驅體溶液。 經由重覆上述B a T i ◦ 3前驅體溶液之塗佈和燒成’ 形成表2所示之介電質層。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 2 試料 全膜厚(β m) 膜構造 耐壓(ν) 誘電率 備註 21 1.5 1.5x 1 0 — 比較例 22 3.0 1·5χ 2 80 350 比較例 23 4.5 1·5χ 3 250 370 本發明 24 7.5 1_5χ 5 350 380 本發明 一2 5 12.0 1·5χ 8 390 380 本發明 26 15.〇 1·5χ 10 450 390 本發明 27 19.5 1.5χ 13 460 400 比較例 知 可 2 表 由 ο 數 次 積 r一三 堆 X 厚 膜 示 顯 係 造 構 膜 之 中 2 表 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) --28- 527851 A7 B7 _ 五、發明説明(2多 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ’此時’對於電極膜厚,多層狀介電質層之膜厚爲不足4 倍時’無法得耐壓’又多層狀介電質層之膜厚爲不足4 β m時’耐壓爲低,做爲E l用基板爲不充分。 如此地所形成之g式料2 2〜2 7,與實施例1同樣, 形成發光層、絕緣體層、上部透明電極,評估發光特性。 結果’使用試料2 2之薄膜E L元件於施加發光臨限 値附近(1 4 0〜1 6 Ο V )之電壓時,產生絕緣破壞而 破壞。形成於基板2 3〜2 6上的薄膜E L元件係皆可得 最高亮度6 0 0 0〜1 〇 〇 〇 〇 c d/m2,不會產生絕緣 破壞。又’形成於基板2 7 1之薄膜E L元件係施加使用 於評估之電源之最大施加電壓的3 5 Ο V,亦無法得最大 売度。 【發明之效果】 由上述所述,本發明之效果爲明確的。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 根據本發明時,解決如產生於以往之薄膜E L元件之 問題的絕緣體膜以薄膜形成時,經由起因於絕緣體層之缺 陷的局部性絕緣耐壓之下降,做爲產生發光層之破壞的顯 不益,產生致命性缺陷,使用陶瓷厚膜介電質層之時,介 電質層表面之缺陷或膜質爲多孔質或起因於凹凸形成之發 光不良,厚膜介電質層表面之硏磨加工之困難工程之附加 所產生之高成本化,和溶膠凝膠工程之附加所產生之更高 成本化,起因於厚膜介電質層之燒成溫度之基板和電極層 材料之選擇之限制,可無基板選擇之限制,可使用便宜大 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 527851 A7 __B7 五、發明説明(力 面積化容易之玻璃基板等,經由簡便之方法,修正電極層 或工程之塵埃等所成之介電質層之非平坦部,可無絕緣耐 可法 供方 提造 , 製 , 該 好和 良件 爲元 性 L 滑 E 平膜 之薄 面之 表質 層品 質示 電顯 介高 且得 更化 ,本 降成 下高 之需 壓無 。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐)

Claims (1)

  1. 527851 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 1、 一種薄膜電激發光元件,屬於至少具有於具有電 氣絕緣性之基板,和於前述基板上具有圖案之電極層,和 於前述電極層上,堆積介電質層,和發光層及透明電極層 之構造的薄膜E L元件中, 前述介電質層係經由複數次重覆溶液塗佈燒成法形成 成爲多層狀之多層狀介電質層, 此多層狀介電質層之膜厚爲前述電極層之膜厚的4倍 以上,且爲4" m以上1 6 um以下者。 2、 如申請專利範圍第1項之薄膜電激發光元件,其 中,前述多層構造之介電質層則經由3次以上重覆溶液塗 佈燒成法所形成者。 3、 如申請專利範圍第1項之薄膜電激發光元件,其 中,前述多層狀介電質層之每一層之膜厚爲前述電極層之 膜厚之1 / 2以上者。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4、 一種薄膜電激發光元件之製造方法,屬於於製造 至少備有於具有電氣絕緣性之基板,和於前述基板上具有 圖案之電極層,和於前述電極層上,堆積介電質層,和發 光層及透明電極層之構造的薄膜E L元件之製造方法中, 其特徵係於前述電極層上經由複數次重覆介電質之前驅體 溶液之塗佈燒成,將前述介電質層形成成爲多層狀者。 5、 如申請專利範圍第4項之薄膜電激發光元件之製 造方法,其中,前述介電質之前驅體溶液之塗佈燒成經由 3次以上重覆加以形成者。 · -31 - 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
TW090116164A 2000-09-29 2001-07-02 Thin-film electro-luminescent element and its manufacturing method TW527851B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000299352A JP2002110344A (ja) 2000-09-29 2000-09-29 薄膜el素子及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW527851B true TW527851B (en) 2003-04-11

Family

ID=18781169

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW090116164A TW527851B (en) 2000-09-29 2001-07-02 Thin-film electro-luminescent element and its manufacturing method

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6809474B2 (zh)
EP (1) EP1194014A3 (zh)
JP (1) JP2002110344A (zh)
KR (1) KR20020025656A (zh)
CN (1) CN1178558C (zh)
CA (1) CA2352527C (zh)
TW (1) TW527851B (zh)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6707230B2 (en) * 2001-05-29 2004-03-16 University Of North Carolina At Charlotte Closed loop control systems employing relaxor ferroelectric actuators
KR100497213B1 (ko) * 2001-10-29 2005-06-28 더 웨스타임 코퍼레이션 복합기판 및 이를 사용한 el패널과 그 제조방법
JP2003347062A (ja) * 2002-05-24 2003-12-05 Tdk Corp El素子の製造方法およびel素子
US7038377B2 (en) * 2002-01-16 2006-05-02 Seiko Epson Corporation Display device with a narrow frame
JP2004178930A (ja) * 2002-11-26 2004-06-24 Sony Corp 発光素子およびこれを用いた表示装置
US6977806B1 (en) * 2003-02-26 2005-12-20 Tdk Corporation Multi-layered unit including electrode and dielectric layer
US6958900B2 (en) * 2003-02-26 2005-10-25 Tdk Corporation Multi-layered unit including electrode and dielectric layer
US20050253510A1 (en) * 2004-05-11 2005-11-17 Shogo Nasu Light-emitting device and display device
FR2893611B1 (fr) * 2005-11-23 2007-12-21 Commissariat Energie Atomique Procede de realisaion d'un revetement a base d'une ceramique oxyde conforme a la geometrie d'un substrat presentant des motifs en relief
US7622859B2 (en) * 2006-07-31 2009-11-24 Motorola, Inc. Electroluminescent display having a pixel array
CN101163356B (zh) * 2007-11-28 2011-11-30 上海广电电子股份有限公司 提高电致发光显示器中介质层绝缘性能的方法
CN107998905B (zh) * 2017-12-20 2020-11-13 绍兴凯达纺织装饰品有限公司 一种修复陶瓷膜表面大孔或者裂纹的方法
CN112309280B (zh) * 2019-07-31 2022-04-29 北京梦之墨科技有限公司 一种具有可控图案的冷光片及其制作方法、发光装置
EP3863059B1 (de) * 2020-02-04 2024-07-31 Siemens Healthineers AG Perowskit-basierte detektoren mit erhöhter adhäsion
CN114497243B (zh) * 2022-01-21 2022-11-29 中山德华芯片技术有限公司 一种红外探测器芯片及其制作方法与应用

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5652438B2 (zh) * 1973-07-10 1981-12-11
US3919577A (en) * 1973-09-21 1975-11-11 Owens Illinois Inc Multiple gaseous discharge display/memory panel having thin film dielectric charge storage member
US4188565A (en) * 1977-09-16 1980-02-12 Sharp Kabushiki Kaisha Oxygen atom containing film for a thin-film electroluminescent element
JPS5652438A (en) 1979-10-05 1981-05-11 Graphtec Corp Decoding circuit
EP0111568B1 (en) * 1982-05-28 1986-10-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Thin film electric field light-emitting device
DE3476624D1 (en) * 1983-10-25 1989-03-09 Sharp Kk Thin film light emitting element
EP0267377B1 (en) * 1986-09-16 1993-02-03 Hitachi, Ltd. Electroluminescent display apparatus and process for producing the same
JPS6445085A (en) * 1987-08-14 1989-02-17 Alps Electric Co Ltd Manufacture of film type el display element
JPH0254895A (ja) * 1988-08-20 1990-02-23 Mitsubishi Mining & Cement Co Ltd エレクトロルミネセンス発光素子の製造方法
DE4019988A1 (de) 1989-06-23 1991-01-10 Sharp Kk Duennfilm-eld
JP2689661B2 (ja) 1989-12-18 1997-12-10 松下電器産業株式会社 光干渉フィルタを含む薄膜エレクトロルミネセンス装置
JPH0461791A (ja) * 1990-06-26 1992-02-27 Sharp Corp 薄膜エレクトロルミネッセンス素子
US5444268A (en) 1990-11-02 1995-08-22 Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Thin film el device
JPH04171697A (ja) * 1990-11-02 1992-06-18 Fuji Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス表示パネル
US5432015A (en) * 1992-05-08 1995-07-11 Westaim Technologies, Inc. Electroluminescent laminate with thick film dielectric
JP3274527B2 (ja) * 1992-09-22 2002-04-15 株式会社日立製作所 有機発光素子とその基板
JP3578786B2 (ja) 1992-12-24 2004-10-20 アイファイアー テクノロジー インク Elラミネート誘電層構造体および該誘電層構造体生成方法ならびにレーザパターン描画方法およびディスプレイパネル
JP3187186B2 (ja) 1993-02-03 2001-07-11 モトローラ株式会社 Tdma方式の通信方法及びその装置の送受信機
JP3250879B2 (ja) 1993-07-26 2002-01-28 株式会社リコー 画像支持体の再生方法および該再生方法に使用する再生装置
JP2888741B2 (ja) * 1993-09-27 1999-05-10 日本ペイント株式会社 薄膜パターン形成法
JP2846571B2 (ja) * 1994-02-25 1999-01-13 出光興産株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子
US5786664A (en) * 1995-03-27 1998-07-28 Youmin Liu Double-sided electroluminescent device
US5736754A (en) * 1995-11-17 1998-04-07 Motorola, Inc. Full color organic light emitting diode array
US5856029A (en) * 1996-05-30 1999-01-05 E.L. Specialists, Inc. Electroluminescent system in monolithic structure
JPH11273873A (ja) * 1998-03-20 1999-10-08 Nec Kansai Ltd 電界発光灯
US6242858B1 (en) * 1998-09-14 2001-06-05 Planar Systems, Inc. Electroluminescent phosphor thin films
US6514891B1 (en) * 1999-07-14 2003-02-04 Lg Electronics Inc. Thick dielectric composition for solid state display
KR100595501B1 (ko) * 1999-10-19 2006-07-03 엘지전자 주식회사 반도체 표시소자의 제조방법
US6650046B2 (en) * 2000-11-17 2003-11-18 Tdk Corporation Thin-film EL device, and its fabrication process
US6577059B2 (en) * 2000-11-17 2003-06-10 Tdk Corporation Thin-film EL device, and its fabrication process

Also Published As

Publication number Publication date
US20020041147A1 (en) 2002-04-11
EP1194014A3 (en) 2003-12-10
CN1178558C (zh) 2004-12-01
JP2002110344A (ja) 2002-04-12
US6809474B2 (en) 2004-10-26
CN1347270A (zh) 2002-05-01
CA2352527C (en) 2004-06-22
KR20020025656A (ko) 2002-04-04
EP1194014A2 (en) 2002-04-03
CA2352527A1 (en) 2002-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI238022B (en) Composite substrate, EL panel using the same, and making method
TW527851B (en) Thin-film electro-luminescent element and its manufacturing method
CN1192686C (zh) 电致发光元件及其制造方法
US20020130616A1 (en) Thin-film el device, and its fabrication process
JP2002063987A (ja) 複合基板の製造方法、複合基板およびel素子
WO2004008424A1 (ja) フラットパネルディスプレイ用基板および薄膜el素子
TW538652B (en) Thin film EL element and its manufacturing method
JP4685253B2 (ja) El素子
JP3970152B2 (ja) 複合基板およびそれを用いたelパネルとその製造方法
JP4749536B2 (ja) 薄膜el素子及びその製造方法
JP4308501B2 (ja) 電界発光素子及びその製造方法、並びに電界発光ディスプレイ
JP4267868B2 (ja) パターン化された誘電体層の形成方法、薄膜el素子の製造方法および薄膜el素子
JP2004356024A (ja) 複合基板とel素子の製造方法、および複合基板とel素子の製造装置
JP3958960B2 (ja) El素子
JP4669621B2 (ja) 複合基板の製造方法、この製造方法により得られた複合基板、el素子
JP3914067B2 (ja) Elディスプレイ
JP3979844B2 (ja) 複合基板の製造方法、複合基板、およびこれを用いたel表示パネル
JP2003347062A (ja) El素子の製造方法およびel素子
JP2003249374A (ja) 薄膜el素子
JP2004006288A (ja) 薄膜el素子および複合基板
JP2004079372A (ja) El素子及びその製造方法
JP2003288982A (ja) El素子の製造方法および厚膜形成用スクリーン
JP2002216954A (ja) 薄膜el素子及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees