TW455924B - Exposure method and apparatus - Google Patents
Exposure method and apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- TW455924B TW455924B TW089104613A TW89104613A TW455924B TW 455924 B TW455924 B TW 455924B TW 089104613 A TW089104613 A TW 089104613A TW 89104613 A TW89104613 A TW 89104613A TW 455924 B TW455924 B TW 455924B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- exposure
- substrate
- exposed
- field
- scanning
- Prior art date
Links
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61M—DEVICES FOR INTRODUCING MEDIA INTO, OR ONTO, THE BODY; DEVICES FOR TRANSDUCING BODY MEDIA OR FOR TAKING MEDIA FROM THE BODY; DEVICES FOR PRODUCING OR ENDING SLEEP OR STUPOR
- A61M5/00—Devices for bringing media into the body in a subcutaneous, intra-vascular or intramuscular way; Accessories therefor, e.g. filling or cleaning devices, arm-rests
- A61M5/178—Syringes
- A61M5/31—Details
- A61M5/32—Needles; Details of needles pertaining to their connection with syringe or hub; Accessories for bringing the needle into, or holding the needle on, the body; Devices for protection of needles
- A61M5/3205—Apparatus for removing or disposing of used needles or syringes, e.g. containers; Means for protection against accidental injuries from used needles
- A61M5/321—Means for protection against accidental injuries by used needles
- A61M5/3213—Caps placed axially onto the needle, e.g. equipped with finger protection guards
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70358—Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B27/00—Photographic printing apparatus
- G03B27/32—Projection printing apparatus, e.g. enlarger, copying camera
- G03B27/52—Details
- G03B27/54—Lamp housings; Illuminating means
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61M—DEVICES FOR INTRODUCING MEDIA INTO, OR ONTO, THE BODY; DEVICES FOR TRANSDUCING BODY MEDIA OR FOR TAKING MEDIA FROM THE BODY; DEVICES FOR PRODUCING OR ENDING SLEEP OR STUPOR
- A61M5/00—Devices for bringing media into the body in a subcutaneous, intra-vascular or intramuscular way; Accessories therefor, e.g. filling or cleaning devices, arm-rests
- A61M5/178—Syringes
- A61M5/31—Details
- A61M5/32—Needles; Details of needles pertaining to their connection with syringe or hub; Accessories for bringing the needle into, or holding the needle on, the body; Devices for protection of needles
- A61M5/3205—Apparatus for removing or disposing of used needles or syringes, e.g. containers; Means for protection against accidental injuries from used needles
- A61M5/321—Means for protection against accidental injuries by used needles
- A61M5/3213—Caps placed axially onto the needle, e.g. equipped with finger protection guards
- A61M2005/3215—Tools enabling the cap placement
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Anesthesiology (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Hematology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Vascular Medicine (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
Description
經濟部智慧財產局員工消費合作社印契 455924 A7 _____ _ B7___ 五、發明說明(1 ) 發明背景 1. 發明領域 本發明一般係有關曝光方法及裝置,且更特別地 係有關使嵌板形成圖案之曝光方法及裝置,諸如,用於半 導體製備之光學方法之線網或平嵌板顯示器。 藉由使用雷射光東之曝光裝置,一掃描内之以光束 輻射之區域被限制。以一掃描曝光之區域被稱為場,且圊 案係藉由數個連續形成之場形成之。為達高精確性之生產 ,其需降低場之間之中間區域之誤差及容納較大之曝光區 域。 2. 相關技藝之描述 於使諸如電漿顯示嵌板之平嵌板顯示器之嵌板之曝 光之傳統雷射曝光裝置中,雷射光束藉由光束分裂器分成 數個光束元素。開關控制依據曝光資料藉由光學調節器於 每一雷射光束上施行β開關控制之雷射光束被施用於旋轉 之多角形*然後多角形反射之雷射光束經由聚光透鏡施用 至曝光基材。曝光基材於具多角形旋轉之同步化作用掃瞄 如第1圓所示’於42-英吋之電漿顯示嵌板(PDP).,.垂 直線(Y方向)可藉由具有600mm直徑之聚光透鏡於一掃瞄 中拉伸。日本特許公開專利申請案第7_35994號案揭示此 一雷射曝光裝置。 曰本特許公開專利申請案第62-26819號案一種用於製 備線網之雷射曝光裝置。於此雷射曝光裝置中,曝光基材 本紙張尺度適用?iiiKT^s)A4規格⑵〇 χ 297 公Μ ) 4 1ΙΙΙ.1ΙΙ1 — — — ! - 1 I I I I ! I 11111111 , (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局秦'工消費合作社£.戈
AT B7___ 五、發明說明(2 ) 上之形成圖案之區域被曝光兩次、四次或八次’以便於形 成圖案中改良準確性。 因電漿顯示嵌板已變得更大,曝光基材亦已變得更 大;從42英叶至55英吋,從55英吋至6〇英吋3例如,為使 55英吋曝光基材曝光,其需具有75〇mm直徑之聚光透鏡’ 如第2圖所示。即使以第1圖所示之6〇〇〇1111之聚光透鏡,透 鏡周圍之解析度係太低。 第3圖顯示設計規則與誤差間之關係。如圖所示,於 相對應至透鏡周圍之掃瞄開始點及掃瞄結束點之誤差係比 相對應至透鏡中心區域之掃瞄中心點之誤差大。因此,以 具有600mm或更大直徑之聚光透鏡之正確形成圖案係非常 困難。即使場於掃描方向被連續形成,其於場之間之中間 部份會具偏差。第4A圖顯示其中於γ方向之二場之間造成 之偏差之情況’且第4B圖顯示其中偏差於X方向造成之情 況。需瞭解X-方向之偏差及Y-方向偏差會同時造成。第4C 圖顯示其中於二場間之中間區域造成之寬度之大偏差之情 況。 X-方向之偽差及Y-方向之偏差可藉由干涉器或光學 調節器改良精確性而校正。但是,寬度差異因透鏡解析度 而變大,因而係難以除去。 以傳統曝光裝置(其係使曝光基材曝光數次),其亦具 有曝光裝置所需之曝光時間係比一般曝光時間大數倍之問 題 發明綜述 I — I — — — — — — t — I I ---I I I I I « — — — It--- {請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印ίΛ 455924 A7 -----------B7_____ 五、發明說明(3 ) 本發明之一般方法係提供曝光方法及裝置,其中上 述缺點可被除去。 本發明之更特別之目的係提供一種能避免中間區域 之尺寸及寬度之差異及不規則性而且不會延長曝光時間之 曝光方法及曝光裝置。 本發明之上述目的係藉由包含下述之曝光裝置達成 :可旋轉之多角形物,其使雷射光束經透鏡反射至曝光基 材;及不連續之曝光單元,其係於在曝光基材上被掃瞄之 第一場内使掃瞄結束點被不連續曝光,及於在該曝光基材 上被掃瞄之第二場内使掃瞄開始點被不連續曝光。在此, 曝光基材被移動,於第一場内之掃瞄結束點及第二場内之 掃瞄起始點彼此重疊而形成中間區域。 藉由此結構,第一場之曝光及第二場之曝光於中間 區域内被平均。因此,中間區域内之寬度差異及不規則性 可被避免。 本發明之上述目的亦可藉由包含下述之曝光裝置達 成:可旋轉之多角形物,其經由透鏡使雷射光束反射而掃 瞄基材;及旋轉單元,其於在曝光基材上掃瞄之第一場被 曝光後經由180°角使曝光基材旋轉。在此,於曝光基材 上被掃瞄之第二場係於曝光基材經由180°旋轉後被曝光 ,如此,第一場内之掃瞄結束點變成與第二場内之掃瞄起 始點連績。 藉由此結構,第一場内之掃瞄結點及第二場内之掃 瞄起始點可以透鏡之相同部份曝光。因此,因於透鏡之不 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ,!----ί ^---I---I ^ i I 1 I I--- (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁> 經濟部智慧时產局員工湞費合作社印Κ A7 _____Β7_____ 五、發明說明(4 ) 規則解析之尺寸及寬度之差異可於中間區域内被避免。 本發明之上述目的亦可藉由包含下述之曝光裝置達 成:可旋轉多角形物,其係經由透鏡反射雷射光東以掃瞄 曝光基材:第一透鏡,其被用以以掃瞄方向使曝光基材内 之中間之主要圖案曝光;及第二及第三透鏡*其被用以使 鄰近曝光基材中心内之主要圖案之掃猫起始點及掃描結束 點之周圍圖案曝光。 藉由此結構,曝光係以每一透鏡中心部份施行之。 因此1因透鏡之不規則解析而產生之尺寸及寬度之差異可 於中間區域被避免。 本發明之上述目的亦可藉由包含下述步驟之曝光方 法達成之: 經由透鏡以自可旋轉多角物反射之雷射光束輻射曝 光基材; 於在曝光基材上被掃瞄之第一場内使掃瞄結東點被 不連續曝光; 移動曝光基材使第一場内之掃瞄結束點及被掃瞄之 第二場内之掃瞄起始點彼此重疊以形成被曝光之中間區域 :及 於在該曝光基材上被掃瞄之第二場内使掃瞄開始點 被不連續曝光。 藉此方法,第一場之曝光及第二場之曝光被平均。 因此'尺寸及寬度之差異於中間區域内可被避免。 本發明之上述目的亦可藉由包含下述步驟之方法達 ----.--------*裝--------訂----------線 <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 4559 24 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(5 ) 成: 經由透鏡以自可旋轉多角形物反射之雷射光束輻射 曝光基材; 使於曝光基材上被掃瞄之第一場被曝光; 經180°角使曝光基材旋轉,如此,第一場内之掃猫 結束點變成與在曝光基材上被掃瞄之第二場内之掃瞄起始 點呈連續;及 使曝光基材上之第二場曝光。 藉由此方法,第一場内之掃瞄結點及第二場内之掃 瞄起始點可以透鏡之相同部份曝光。因此,因於透鏡之不 規則解析之尺寸及寬度之差異可於中間區域内被避免。 本發明之上述目的可藉由包含下述步驟之曝光方法 達成: 經由透鏡以自可旋轉多角形物反射之光束輻射曝光 基材; 以第一透鏡使掃瞄方向之曝光基材中心内之主要圖 案曝光;及 以第二及第三透鏡使曝光基材之周圍部份曝光,周 圍圖案係鄰近曝光基材中間之主要圖案之個別之掃瞄起始 點及掃瞄結束點。 藉由此方法,曝光係藉由每一透鏡之中間部份施行 之。因此’因於透鏡之不規則解析之尺寸及寬度之差異可 於中間區域内被避免。 本發明之上述及其它目的及特徵可由結合附圖之丁 本紙張又度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (諳先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) * 丨 i I I ! I 訂-!------ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印,;氏 A7 ________B7 五、發明說明(6 ) 列描述而變得更明顯。 圖示簡要說33 第1圖顯示習知技藝之電漿顯示嵌板之形成圖案之技 術; 第2圖顯示習知技藝之電漿顯示嵌板之形成圖案之技 術; 第3圖顯示設計規則及差異間之關係; 第4A至4C圊例示於被曝光之中間區域内造成之偏差 % 第5圖係依據本發明之雷射曝光裝置之實施例之方塊 圖; 第6圖係依據曝光資料之雷射光束之開關控制方法; 第7A及7B圖例示依據本發明之曝光方法之第一實施 例; 第8 A及8 B圖係例不依據本發明之曝光方法之第一實 施例之個別之光束輻射態及形成圖案之狀態; 第9A及9B圖例示習知技藝之個別之光束輻射態及形 成圖案之狀態; 第10圖例示依據本發明之曝光方法之第二實施例; 第11圖係依據本發明之曝光方法之第二實施例之流程 圖:及 第12圖例示依據本發明之曝光方法之第三實施例。 較怯营施制之描...1 下述係參考附圖描述本發明之實施例 \ :¾ 'P ·> 3 g 'v; f® ΐ· ι:NS^^ ^ \ Κ) ' :'97 « ---------- 裝--------訂---I -----線 (請先閱讀背面之泫意事項再填寫本頁> 9 Α7 Β7 五、發明說明(7 ) 第5圖係依據本發明之雷射曝光裝置之實施例之方塊 圖。此裝置係使諸如電漿顯示嵌板之平嵌板顯示器之嵌板 形成圖案》 亦如第5圖所示者,自氬雷射裝置1〇釋出之電射光東 藉由光束分裂器分割成光元素,且開關控係藉由scousto-光學調節器(AOM)於光元素之每一雷射光束上施行。此方 法係於第6圖之方塊圖上更詳細描述。資料控制單元15a自 曝光資料記憶體15c讀取對應於每一光元素之曝光資料(位 元圖資料),且依曝光資料控制RF控制器15b以產生相對 應於每一光元素之曝光資料之頻率之超音波。然後,此超 音波被供應至聲光調節器14,其依個別之超音波步頻率偏 移每一光元素。因此,開關控制可於每一光元素上施行》 用以控制每一光流量之雷射光束經由透鏡16被施用 至旋轉多角形物18。然後,自多角形物18反射之雷射光束 經由聚光透鏡29施用至置於平台22上之曝光基材24,藉此 ,以與多角形物18之旋轉同步掃瞄曝光基材24。掃描係藉 由使用聚光透鏡20之周圍部份施行之,其中解析度未被非 常地降低·' 第7A及7B圖例示依據本發明之曝光方法之第一實施 例。為使如第7A圖所示之曝光基材形成圖案,掃瞎係藉 由旋轉多角形物18以Y方向從A點施行至C點,且平台22 係以固定速率於X方向向左移,如此,完成第一場曝光。 A點至C點之距離藉由聚光透鏡20之直徑決定,且聚光透 鏡20之周圍部份(其中解析度未被大量降低)被作為掃描。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
V - -----—訂 if----I 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 10
At B7 經濟耶智慧財產局員工消費含作祍印发 五、發明說明(8 如第7B圖所示,資料控制單元1 5a使用一般曝光資料( 位元圖資料)自A點至B點施行聲光調節器14之開關控制。 但是’資料控制器元1 5a僅使用,例如,奇數之曝光資料, 自B點至C點施行聲光調節器14之開關控制。 平台22以Y方向向上移動,然後,以X方向向右移至 起始位置。其次,藉由旋轉多角形物1 8於γ方向從b點至 D點施行掃瞄,且平台於X方向向左移動以使下一個場曝 光。如第7B圖所示’資料控制器元1 5a僅使用偶數曝光資 料(位元圖資料)以從B點至C點施行聲光調節器丨4之不連續 開關控制。資料控制單元15a使用一般曝光資料以從^點 至D點施行聲光調節器14之開關控制。 因為聚光透鏡之性質,透鏡周圍部份之掃瞄結束點 之光束直徑係相同於透鏡中間部份,但掃瞄起始點之光束 直位係比透鏡中間部份小。於此實施例之方法中,每一光 東B 1. B2及B3之光東直徑係於八點及c點之間(即如第8八圖 所不之於B點與C點間之中間區域)之掃瞄之掃瞄結束點處 具有正常尺寸。即使光東34及則之每一者之光束直徑 點與D點間(即,B點與C點間之中間區域)之掃睡之掃猫起 始點變小,光束B1至B5被平均,如此,於中間區域内, 形成圖案之光阻物不會變得比正常光阻物寬度窄,如第 圖所示。 但是,於傳統曝光方法中,於E點及F點間之掃瞄之 掃猫結束點之光東直徑具有正常尺寸,如第从圖所示, 但是"光袭直徑於F點與G,點間之掃瞄之掃瞄起始點變得 Π -----.In---I---------—訂------ Γ请先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ^ 5. 5 9 2 4 A7 __B7___ 五、發明說明(9 ) 較小。結果’形成圊案之光阻物於F點與G點之間具有窄 部份,如第9B圖所示。 第10圖例示本發明之曝光方法之第二實施例,且第! ! 圖係曝光方法之流程圖。 為如第10圖所示使曝光基材24形成圖案,掃皤係先 藉由多角形物18之旋轉於Y方向從A點至B點施行,且平 台22係以固定速率於X方向向左移動以於si〇步驟内使a區 域曝光(第一掃瞄場)。A點至B點之距離係藉由聚光透鏡2〇 之直徑決定。聚光透鏡20之周圍部份(其不具降低解析度) 被用於掃瞄。從A位置至B位置,依據規則之曝光資料, 開關控制對聲光調節器14施行之。 其次。於步驟S12中’其上固定曝光基材之平台22以 箭頭Θ方向經180°角旋轉,如此,曝光基材上之b區域 之C及D點個別置放至A區域之A及匕點。 於S14步驟中’掃瞄係藉由多角形物18之旋轉於γ方 向從C點至D點施行’且平台22以固定速度於X方向向左 移動以使B區域曝光(第二掃瞄場)。然後,開關控制從^點 至D點依據規則曝光資料對聲光調節器14施行之β於此, 曝光資料需於掃瞄方向或平台移動方向重新配置,或讀取 順序需與平台移動方向之掃瞄方向一致。 若於聚光透鏡20之周圍上掃瞄起始點2〇a之光束直徑 不同於掃瞄結束點20b之光束直徑,A區域與B區域間之邊 界區域於聚光透鏡20之掃描結束點2〇b曝光以使曝光基材 24之A區域曝光。為使曝光基材24之B區域曝光,A區域 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公楚) 12 — I — I .1 — — — — — — — , - - 1 I - - - - > - - — II - - , {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 _______B7_ 五、發明說明(10 ) 與B區域間之邊界區域亦於聚光透鏡20之掃瞄結束點20b 曝光。因此,聚光透鏡20之解析度於曝光基材24之A區域 與B區域間之邊界區域内係固定。因此,由於透鏡解析度 差異之光阻物寬度之差異可被避免。 為使諸如電漿顯示嵌板之平嵌板顯示嵌板形成圖案 ’掃瞄方向之曝光基材中間之主要顯示圖案被作為顯示圖 案區域,且令間之主要顯示圖案之掃瞄起始點及掃瞄結束 點之周圍區域被作為接線圖案區域。於此一實施例中,其 具有二組聲光調節器14、透鏡16、多角形物及聚光透鏡20 ,其等比顯示於第5圖。第一組係用以使顯示圖案區域曝 光,而第二組被用以使接線圖案區曝光。 第12圖例示依據本發明之曝光方法之實施例(第三實 施例)。第12圖顯示第二紐聚光透鏡20B及20C,其係鄰近 用以使顯示圖案區域曝光之第一組聚光透鏡20A。聚光选 鏡20B及20C被用以使接線圖案區域24b及24c曝光。聚光 透鏡20B及20C於X方向自聚光透鏡20A位移。 首先,顯示圖案區域24a係藉由使用聚光透鏡20A曝 光,然後,接線圖案區域24b及24c藉由使用個別之聚光透 鏡20B及20C曝光。在此,所獲得之曝光資料被分成顯示 圖案區域24a之資料及接線圖案區域24b及24c之資料。聚 光透鏡20 A至20C可彼此整體固定。曝光係藉由使用每一 透鏡之_心施行之’其間解析度係實質上相同。 作為本發明之進一步實施例,掃瞄係藉由第一及第 二組之每--者之多角形物18之旋轉於Y方向從A點至B點 ".CN'iiAJ ; 13 ----.1 --------裝--------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 455924 A7 B7 五、發明說明(11 ) 施行之,且平台22以固定速率於X方向向左移動,如此, 聚光透鏡20A至20C掃瞄方向之曝光基材24中心之顯示圖 案區域24a及鄰近顯示圖案區域24a之接線圖案區域24b及 24c曝光。以顯示圖案之曝光資料作聲光調節之時間及以 接線圖案之曝光資料作聲光調節之時間係依第一組聚光透 鏡20A及第二組聚光透鏡20B及20C之配置位置間之偏移彼 此調整之。在此,曝光資料被分成顯示圖案區域24a之資 料及接線圖案區域24b及24c之資料。 於此實施例中,顯示圖案區域24a及接線圖案區域24b 及24c藉由使用每一聚光透鏡20A至20C之中心曝光之,其 間解析度係實質上均一。因此,每一透鏡之解析度於顯示 圖案區域24a及接線圖案區域24b及24c間之每一邊界係實 質上固定。因此’光阻物寬度之差異及不規則性可被避免 〇 本發明並非限制於特定揭露之實施例,各種變化及 改良可在未偏離本發明範圍下為之。 本發明係以日本優先申請案11-069002號案(1999年3 月15曰申請)為主’其全部内容在此被併入以供參考。 <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I- ·1----11 訂·!1!"^ 經濟郤智慧財產局員工消费合作社印製 14 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(2扣x 297公釐) A7 B7 五、發明說明(丨2) 元件標號對照 10.. .氬雷射裝置 14.. .聲光調節器 15a...資料控制單元 15b...RF控制器 15c...曝光資料記憶體 ί 6...透鏡 18.. .多角形物 20.. .聚光透鏡 20a...掃瞄起始點 20b...掃瞄結束點 20A,20B,20C...聚光透鏡 22…平台 ----.---------裝--------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 24...曝光基材 24a...顯不圊案區域 24b,24c,.,接線圖案區域 2 9...聚光透鏡 經濟部智慧財產局I工消費合作ith-ii:!;; 15 .Λ-S規格
Claims (1)
- 455924 A8 B8 C8 ___ D8 々、申請專利範圍 ι· 一種曝光裝置,包含: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 可旋轉之多角形物,其使雷射光束經透鏡反射至 曝光基材:及 不連續之曝光單元,其係於在曝光基材上被掃瞄 之第一場内使掃瞄結束點被不連續曝光,及於在該曝 光基材上被掃瞄之第二場内使掃瞄開始點被不連續曝 光, 其中,該曝光基材被移動,如此,於該第一場内 之該掃瞄結束點及該第二場内之該掃瞄起始點彼此重 疊而形成中間區域。 2. 如申請專利範圍第1項之曝光裝置,其中該不連續曝光 單元於掃瞄方向依據奇數或偶數之曝光資料使該第一 場内之掃瞄結束點之該曝光基材不連續地曝光,且於 掃瞄方向依據偶數或奇數之曝光資料於該第二場内之 該掃瞄起始點使該曝光基材不連續曝光。 3. —種曝光裝置,其包含: 可旋轉之多角形物,其經由透鏡使雷射光束反射 而掃瞄曝光基材:及 經濟部智慧时4苟3(工消費合作社印製 旋轉單元,其於在該曝光基材上掃瞄之第一場被 曝光後經由180°角使該曝光基材旋轉, 其中,於該曝光基材上被掃瞄之第二場係於該曝 光基材經由180°旋轉後被曝光,如此,該第一場内之 掃瞄結束點變成與該第二場内之掃瞄起始點連續。 4. 一種曝光裝置,其包含: 本紙張尺度適用中國國家標率(CNS ) Μ规格(2丨〇><297公釐) 16 A8 B8 C8 D8 5 ‘ 申請專利範圍 可旋轉之多角形物,其經由透鏡反射雷射光束而 掃瞄曝光基材: 第一透鏡,其被用於以掃瞄方向使該曝光基材之 中心内之主要圖案被曝光;及 第二及第三透鏡,其被用以使鄰近該曝光基材中 心内之主要圖案之個別之掃瞄起始點及掃瞄結束點之 周圍圖案曝光。 —種曝光方法,其包含下述步驟: 經由透鏡以自可旋轉多角物反射之雷射光束輻射 曝光基材; 於在該曝光基材上被掃瞄之第一場内使掃瞄結束 點被不連續曝光; 移動該曝光基材使該第一場内之掃瞄結束點及被 掃描之該第二場内之掃瞄起始點彼此重疊以形成被曝 光之中間區域;及 於在該曝光基材上之該第二場内使掃瞄開始點被 不連續曝光。 6'如申請專利範圍第5項之曝光方法,其中該第一場内之 該掃瞄結束點於掃瞄方向依據奇數或偶數之曝光資料 被不連續地曝光,且該第二場内之該掃瞄起始點於掃 瞄方向依據偶數或奇數之曝光資料被不連續曝光。 7,一種曝光方法,其包含下述步驟: 經由透鏡以自可旋轉多角形物反射之雷射光束輻 射曝光基材: ----------^------1T------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經 部 .Ϊ- 4_ X ff 'ΐ fi Γυ J) 5 5 4 8 88 8 ABCD 六、申請專利範圍 使於該曝光基材上被掃瞄之第一場被曝光; 經180°角使該曝光基材旋轉,如此,該第一場内 之掃瞄結束點變成與在該曝光基材上被掃瞄之第二場 内之掃瞄起始點呈連續:及 使該曝光基材上之該第二場曝光。 8. —種曝光方法,其包含下述步驟: 經由透鏡以自可旋轉多角形物反射之光束輻射曝 光基材; 以第一透鏡使掃瞄方向之該曝光基材中心内之主 要圖案曝光;及 以第二及第三透鏡使該曝光基材之周圍部份曝光 ,周圍圖案係鄰近該曝光基材中間之主要圖案之個別 之掃瞄起始點及掃瞄結束點。 衣纸張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 18 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11069002A JP2000267295A (ja) | 1999-03-15 | 1999-03-15 | 露光方法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW455924B true TW455924B (en) | 2001-09-21 |
Family
ID=13389969
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW089104613A TW455924B (en) | 1999-03-15 | 2000-03-14 | Exposure method and apparatus |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6388737B1 (zh) |
JP (1) | JP2000267295A (zh) |
KR (1) | KR20000062701A (zh) |
TW (1) | TW455924B (zh) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6625181B1 (en) * | 2000-10-23 | 2003-09-23 | U.C. Laser Ltd. | Method and apparatus for multi-beam laser machining |
JP4726173B2 (ja) * | 2001-08-23 | 2011-07-20 | 学校法人東京電機大学 | 液晶マトリックス投影露光装置および液晶マトリックス投影露光方法 |
JP4486323B2 (ja) * | 2003-06-10 | 2010-06-23 | 富士フイルム株式会社 | 画素位置特定方法、画像ずれ補正方法、および画像形成装置 |
JP2006030966A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-02-02 | Fuji Photo Film Co Ltd | 描画方法および装置 |
JP2006351263A (ja) * | 2005-06-14 | 2006-12-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法 |
US7605907B2 (en) * | 2007-03-27 | 2009-10-20 | Asml Netherlands B.V. | Method of forming a substrate for use in calibrating a metrology tool, calibration substrate and metrology tool calibration method |
DE102012217800A1 (de) * | 2012-09-28 | 2014-04-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Diffraktives optisches Element sowie Messverfahren |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2918283C2 (de) * | 1979-05-07 | 1983-04-21 | Carl Baasel, Lasertechnik KG, 8000 München | Gerät zur Substratbehandlung mit einem Drehspiegel od. dgl. |
JPS589319A (ja) * | 1981-07-10 | 1983-01-19 | Hitachi Ltd | パターン露光装置 |
USRE33931E (en) * | 1981-12-21 | 1992-05-19 | American Semiconductor Equipment Technologies | Laser pattern generating system |
JPH02299220A (ja) | 1989-05-15 | 1990-12-11 | Matsushita Electron Corp | 荷電ビーム描画方法 |
JPH04176114A (ja) | 1990-11-08 | 1992-06-23 | Jeol Ltd | ステップアンドリピート方式荷電粒子ビーム描画方法 |
US5386221A (en) * | 1992-11-02 | 1995-01-31 | Etec Systems, Inc. | Laser pattern generation apparatus |
JP3246099B2 (ja) | 1993-06-30 | 2002-01-15 | キヤノン株式会社 | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 |
DE69519221T2 (de) * | 1995-02-22 | 2001-06-13 | Barco Graphics, Zwijnaarde | Abtastgerät |
US5834766A (en) * | 1996-07-29 | 1998-11-10 | Ricoh Company, Ltd. | Multi-beam scanning apparatus and multi-beam detection method for the same |
US6069723A (en) * | 1996-08-26 | 2000-05-30 | Ricoh Company, Ltd. | Multi-beam scanning apparatus with controlled scan line bow |
US5930019A (en) * | 1996-12-16 | 1999-07-27 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Light scanning device, optical device, and scanning method of optical device |
JPH10274819A (ja) * | 1997-03-31 | 1998-10-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | 感光材料の走査露光方法及び感光材料の露光装置 |
-
1999
- 1999-03-15 JP JP11069002A patent/JP2000267295A/ja active Pending
-
2000
- 2000-03-02 KR KR1020000010321A patent/KR20000062701A/ko active IP Right Grant
- 2000-03-09 US US09/522,445 patent/US6388737B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-03-14 TW TW089104613A patent/TW455924B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20000062701A (ko) | 2000-10-25 |
JP2000267295A (ja) | 2000-09-29 |
US6388737B1 (en) | 2002-05-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW434678B (en) | Multiple image reticle for forming layers | |
JP4126096B2 (ja) | 感光性被覆を有する基板上に集束レーザ放射により構造物を製作する方法と装置 | |
TWI497231B (zh) | 以超越繞射極限光子直接寫入之裝置及方法 | |
US6886154B2 (en) | Multiple-exposure drawing apparatus and method thereof | |
JP5258226B2 (ja) | 描画装置および描画方法 | |
JP2718421B2 (ja) | 画像投射装置 | |
US9158190B2 (en) | Optical imaging writer system | |
JP2001135562A (ja) | リソグラフィ装置 | |
JP2019197219A (ja) | パターン描画装置 | |
JPH10112579A (ja) | レジスト露光方法及びその露光装置 | |
TW455924B (en) | Exposure method and apparatus | |
JP5336036B2 (ja) | 描画システム | |
JP4211252B2 (ja) | パターン露光方法及びその装置 | |
US6178006B1 (en) | Photoplotting method and an arrangement for plotting a computer-stored raster image on a plane, photosensitive record carrier | |
US20050157286A1 (en) | Method and system for detecting sensitivity of photosensitive materials and exposure correcting method | |
JP4179477B2 (ja) | 描画データ取得方法および装置並びに描画方法および装置 | |
CN110716398B (zh) | 一种数字曝光机的控制方法及装置 | |
KR101653213B1 (ko) | 디지털 노광 방법 및 이를 수행하기 위한 디지털 노광 장치 | |
JPH0274022A (ja) | 露光装置およびパターン形成方法 | |
JP2014056167A (ja) | パターニング装置、パターニング方法及び表示用パネル基板の製造方法 | |
JP4081606B2 (ja) | パターン描画装置およびパターン描画方法 | |
JP4448075B2 (ja) | 描画データ取得方法および装置並びに描画方法および装置 | |
JP6690214B2 (ja) | パターン描画装置 | |
WO2024149307A1 (zh) | 一种多光学头并行的快速光刻系统及方法 | |
JP2007079383A (ja) | 描画データ取得方法および装置並びに描画方法および装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |