TW318233B - - Google Patents

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TW318233B TW085115748A TW85115748A TW318233B TW 318233 B TW318233 B TW 318233B TW 085115748 A TW085115748 A TW 085115748A TW 85115748 A TW85115748 A TW 85115748A TW 318233 B TW318233 B TW 318233B
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經濟部中央標準局員工消費合作社印製 318233 A7 __B7_五、發明説明(1 ) 本發明係關於一種用以光學地掃描一在其上·儲存資訊之 資訊層的裝置,該裝置包含一輻射光源;一物鏡系統,用 以匯聚由此輻射光源發,射之輻射在此資訊層上:一對輻射 敏感的偵測系統,安置在一來自於此資訊層之輻射光束的 路徑中並提供偵測器信號;和一第一電子電路,用以由此 偵測器信號形成一第一聚焦誤差信號。 此一裝置已由美國專利第.4,665,3 10號得知。此裝置包含 二分離的偵測系統。此二偵測系統的偵須丄器信號被結合而 形成一聚焦誤差信號。此已知裝置的缺點是其不很適合用 於掃描一具有若干超近的資訊卒面。一般未被掃描的資訊 平面產生一干擾在此掃描平面的聚焦誤差信號,產生一焦 點補償誤差。 - 本發明的一個目的在於提供一光學掃描裝置,其不具有 此缺陷9 最後,根據本發明的光學掃描'裝置其特徵爲此第一電子 電路包含一低通濾波器用以過濾此偵測器信號的至少一個 ’以至於此偵測器信號的低頻分量被用來形成此第一聚焦 誤差信號:且其中此第一電子電路也包含至少一高通濾波 器以過濾該偵測器信號的至少一個,以至少此偵測器信號 的高頻部分被用來形成一第二聚焦誤差信號。本發明基於 洞察力’此第二聚焦誤差較少被來自於鄰近資訊層的干擾 影響比第一聚焦誤差信號,而此第一和第二聚焦誤差信號 二者在獲得和維持焦點在一資訊層是有用的。此外,相同 的偵測系統可以用以形成此二聚焦誤差信號,一個形成自 ---------_ 4 · 本紙張尺度_中gg緖準(CNS ) Α4規格(21GX297公慶) H. " I - I - I—I —1 I I 1 I - ! 1--1- I - I------ I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本I) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(2 ) 此偵測信號的低頻分量,而一個形成自此偵測-信號的高頻 分量,由此降低需要之偵測系統的數目。 因爲在此偵測器號的高頻分量主要由於在此資訊層中 記錄的資訊,此第二聚焦誤差信號最好形成自由於此記錄 的資訊而來的高頻分量。因此,此高通濾波器的通帶實際 上等於此資訊信號的頻帶。此造成其也可使用此電子電路 的部分以處理此偵測器信號來形成此第一聚焦誤差信號和 一表示此記錄的資訊的資訊信號。 此第一和第二聚焦誤差信號最好結合成一單獨组合的聚 焦誤差is號在第二電子電落中,其連接至此第一電子電路 以接收此第一聚焦誤差信號和第二聚焦誤差信號,在此組 合的聚焦誤差信號中第一聚焦誤差和第二聚焦誤差信號的 加權由此資訊信號的大小所決定。 本發明的這些和其他的面貌由關於此後描述之具體裝置 的説明會更明顯。 在此圖例中 圖1表示根據本發明的第一種掃描裝置; 圖2表示在圖1之裝置中偵測器的方位; 圖j表示用以形成一聚焦誤差信號的第一電子電路: 圖4表示用以處理聚焦誤差信號的第二電子電路: 圖5圖示地表示各種信號爲此聚焦誤差的—函數: 圖6表示根據本發明的第二種掃描裝置; 圖7表示圖6之裝置中偵測器的方位: 圖8表示根據本發明的第三種掃描裝置; __ -5- _ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(2i〇x297公瘦) - ·_. - :| - - 11 - I «II - IJ— - 士衣- I (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、νβ 線 318233 五、發明説明(3 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 圖9表示圖7之裝置中偵測系統的前視圖:· 在不同圖中相同的參考數字表示相同的元件。 圖1表示根據本發明的第一種裝置用以光學地掃描一資 訊層。此圖表示一具有輻射反射資訊層2之光學記錄載體夏 的一小部分之徑向橫截面。位於此資訊層中的軌道3延伸 垂直於圖1之圖的平面。此資訊儲存於安排在軌道形式中 ^光學可讀的標記。此資訊層被發射自—輻射光源4之輻 射光束5所掃描,例如二極體雷射,此光_表被一物鏡系統6 所聚,,:、用早—透鏡概略地表示,以在此資訊層上形成 一小的聚焦點7。當此記錄載體—繞一轴8旋轉時,轨道3被 此聚焦的點掃描,且反射自此資訊層的輻射被包含於此軌 迢中的資訊所調制。由移動此記錄載體和掃描單元,包含 光源4和物鏡系統6,在相對於彼此的徑向方向中,可以掃 描整個資訊層。 反射自資訊層的輻射藉由一分光元件從輻射光束5分離, 其可以具有如圖1所示之光柵9的形式或一棱鏡。光柵9包 含二子光柵10和11。每—個佔有在光柵位置處大約反射輻 射之橫截面的一半。子光柵1〇和11具有大約相同的光栅週 期,但其光栅線1 3和1 4個別地在對立的角度延伸至介於子 光柵10和11之間的邊界線26。在圖2中此光柵是以前視圖 表示。由於此光柵線13和14有不同的方向,在圖1中的子 光束5a和5b繞射在不同的方向。在圖2中,這些方向概略 地由虚線15a和15b來表示。 在子光束5 a和5 b的路徑中二對輻射敏感的偵測系統,每 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} .-JI II Ϊ*· 裝. 訂 線 -6- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210x2^^ 經濟部中央樣準局員工消費合作衽印製 A7 __B7 五、發明説明(4 ) 一個都個別地包含二偵測器1 6,1 7和1 8,1 9·,以此—方 法安排,在此資訊層2上之光束5的正確聚焦之情況中,由 子光束5 a和5 b所形成的輻射光點2 0和2 1個別地相對於偵 測器1 6,1 7和1 8,1 9對稱地放置,且置於读測器丨6和】7 之間的邊線22上及偵測器18和19之間的邊線23上。此偵 測器對16 ’ 17和18 ’ 19可以安排得彼此靠近,使得這四 個偵測器可以集合在一單一的基板25上,最好與輻射光源 4在一起《偵測器1 6,1 7,1 8和1 9個別返產生偵測器信號 Si,S2,S3*S4。這些信號用於一第一電子電路26,如 圖1中概略地以單線連接元件25和26來表示。此第—電子 電路由偵測信號形成一表示儲存於此資訊層之軌道中資訊 的資訊信號s丨。此電路也形成一個以上聚焦誤差信號Sf, 表示焦點7和資訊層2的平面之間沿此物鏡6之光轴測量的 距離。此聚焦誤差信號應用於第二電子電路27,在其他之 中,其包含形成一聚焦補助迴路的電路。此第二電子電路 2 7的輸出信號送至一焦點傳動裝置,其可以是一線性馬達 ,用以沿此光軸移動物鏡6。 圖3表示此第电子電路的概要佈局。一加法器3 0將個別 地最外邊的偵測器16和19的信號51和%相加,而一加法 奋3 1個別地將最内部之偵測器丨7和丨8的信號s 2和s 3相加 :此加法器3 0和3】的輸出信號個別地被濾波器3 2和3 3作 问通遽波。二;慮波器的截止頻率最好低於此資訊信號s i的 頻率帶’該頻率帶可以是由_至數百萬赫茲。此截止頻率 最好高於數十個千赫’高於包含擾動的頻率帶。此高通濾
Wit適用中园國家楼: --------------裝-- (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 -線-----------
-i -I A7 B7 31S233 五、發明説明( 波器由偵測器信號移去任何:)(:的内容。濾波器32和3 3的 輸出信號應用於偵測器3 4和3 5。此偵測器可以在其輸入處 決定此高頻信號的平均功率或峰値功率。此偵測器的輸出 。魂送至一.減法器:6用以由一輸入信號形成差値信號。此 差值信號在濾波器3 7中低通的過濾。此濾波器的截止頻率 最好剛好高於聚焦補助迴路的頻寬,其通常會是在從大約 幾個千赫至大約十個千赫的範圍。濾波器3 7通過D c分量 s遽波器37的輸出信號是高頻推導的聚皂誤差信號Sf(ηF) ο 此南頻遽波器3 2和3 3的輸出寸以在一加法器3 8中結合, 由此從四個偵測器信號形成高頻和信號,其爲表示儲存於 此資訊層中之資訊的資訊信號S丨。 力法器3 0和。1的輸出可以結合在一減法器3 9中,且其後 被濾波器4 0作低通的濾波。濾波器4 〇通過D C分量。此 濾波器7和4 〇的特性可以是類似的。因爲減法器3 9的輸 入在问通濾波器3 2和3 3之前從信號路徑中除去,此濾波器 4 〇,輸出會被D c内容所影響表示於偵測信號s 1至s 。濾 波器4 〇的輪出信號是低頻聚焦誤差信號S f (L F)。 曰表1於圖3中之第二電子電路的具體裝置,需要一相當小 量的刀量以由偵測信號形成三個不同的信號。此高頻信號 也可以用一 AL ^ I, % r產式的万法,咼頻相位測量法或時間間隔測 量法來形成—徑向追跡誤差信號。 ^电子電路2 6的其他组成是可能的。此電路更可進—
步間4匕’ 丨JL σ ’如果信號或Sf(LF)不需要,或形成 --------------裝------訂------線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製
A7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(6 ) 在—不同的電路中,當Sf(LF)不需要時,減法器3 9和濾波 咨4〇疋不需要的。在此情況中,高通濾波器32和33也可 乂安排在加法器3 〇和3 i的輸入之前,例如以一介於偵測器 和附屬加法器輸入之間之耦合電容的形式。當Sf(HF)和 Sf(LF)都需要時,加法器30和3 1必須是DC耦合高頻加法 姦。然而,加法器3〇和31可以由一低頻DC耦合加法器產 生,入仏號給減法器39和—高頻AC耦合加法器產生輸入 L U波器〕2和3 3來替換。在該情況,高頻A c耦合 加去益可以結合於濾波器3 2和3 3。低通濾波器3 7可以形 成聚焦傳動裝置的部分,例如使用在此傳動裝置中一馬達 的自感應。低通遽波器3 7和4 〇可以個別地結合於減法器 〇、6和j 9。濾波器3 7可以用兩個低通濾波器所取代,其中 =女排於偵測器3 4和減法器3 6之間,而另一個介於偵測 态J 5和減法器3 6之間3同樣地,濾波器* 〇可以被兩個安 排於減法器3 9的輸出之前的低通濾波器所取代。當此低通 濾波器37和40被個別地安排在減法器36和39之前時,此 減法器可以是相當便宜的低頻減法器。偵測器34和35可以 ’·σ p在一玄排於減法器3 6之後的單一偵測器中。在該情況 中’減法器必須工作在高頻帶中,然而在表示於圖3中的 成中減法器僅需要工作在此聚焦補助迴路之低頻頻寬 中。
I 丄f上面描述之第—電子電路26的具體裝置中,聚焦誤差 ί。號由稱爲雙佛科法所开;成。一類似的電路可以用以形成 4焦祆差信號由所謂的單佛科法,其中僅一對偵測器 ------ -9- 本紙張尺度·巾兩標隼( 裝------訂------線 (诗先閱讀背面之注意事項再填寫本育) 五、發明説明( 7 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 。當使用偵測器對1 6,丨7時,偵測器信號s i和s 2個別地 取代加法器30和31的輸出信號,因此加法器本身是不需要 白勺〇 此外’其可能不推導由相同之一或兩對偵測器而來之導 出的HF和LF聚焦誤差信號,而推導自一對偵測器而來之 導出的H F聚焦誤差信號,和由另一對偵測器而來之導出的 L F聚焦誤差彳s號〇例如,當偵測器16,17用以產生導出 之H F聚焦誤差信號時,偵測器信號s 1 2必須個別地送 主濾波益3 2和3 3 ;然而偵測器對丨8,丨9的偵測器信號s 3 和S 4必須用於減法器3 9。很明顯地,在此替換的具體裝置 中,導出的L F聚焦誤差信號可以用任何已知的方法形成, 像由美國專利第3,876,841 (PHN 6 295 )號所得知的傾斜光 束法》 弟一電子電路26的輸出信號Sf(HF),Sf(LF)和~應用 於第一私子電路27。圖4表示此第二電子電路27之部分的 一種具體裝置《此聚焦誤差信號Sf(LF)和Sf(HF)應用於 歸一化電路4 1和4 2,個別地。每一歸—電路可以是一除法 器的形式,其中-所謂的中心孔徑信號Μ分割此輸入信 號至此電路,其表示在此四個偵測器丨6,i 7,丨8和1 9上 輻射光照射的總量。信號Sca可以由相加在囷3中之加法 器30和31的二輸出信號來形成。此資訊信號^在偵測器 43中被整流,其具有像輸出錢此平均功率,此峰値功率 在此信號中或此資訊信號的最大振幅中。其後此輪出俨號 在一歸一化電路44被歸一化,其具有如輸出—信號具^丄 -10- 卜紙張尺度適用中國固家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐 (请先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝 訂 經濟部中央標準局貞工消費合作社印裂 A7 ---------- 五、發明説明(8 ) 介於零和-最大値之間的振幅’零表示在5丨中·資訊的缺乏 ’而最大値表示在資訊層2中—資訊包含的轨道上輻射光 束5的正確聚焦。使此最大値與資訊層2的反射率及其中資 訊被編碼之記號的形式無關,此歸_化電路44可以具有二 控制輸入,一個給信號SCA和—個給信號SC。信號Sca可 以修正偵測器43的輸出信號用以改變反射自記錄載1之 輻射的量。信號SC是一校準信號,—旦當開始掃描一記錄 載Ba時藉由移動此焦點沿光轴通過此置訊層2的平面時 監控此整流的資訊信號的振幅其被校準。信號Sc A是此記 錄載體之反射率的測量。當此反射率在整個資訊層的表面 是相對地常數時,此歸—電路44可以沒有信號“A。此歸 一電路44的歸一輸出信號5{^應用於電路45,其形成二輸 出信號SN和(S(max)-SN),其中s(max)是最大値,其可 由SN獲得。 ’ 此歸一化電路41的輸出連接至一乘法器46的輸入。來自 電路45的信號(S(max)-SN)應用於此乘法器的另—輸入。 ‘/又有任何資訊出現在此資訊信號中時,S n會是零,而乘 法器4 6會通過歸一電路4 i的輸出信號至一加法器4 7的輸 入。當焦點7正確地位於此資訊層2上時,sN會具有其最大 値S(max) ’而歸一電路41的輸出不會通至加法器47。 歸一化電路42的輸出連接至一乘法器48的輸入。來自電 路4 5的信號S n應用於乘法器的另一輸入。當沒有任何資訊 出現在資訊信號中時,SN會是零,而乘法器46不會通過此 歸一化電路4 2的輸出信號至加法器4 7的一輸入。當焦點7 -11 - 本纸乐尺度適用中國國家標隼(CNS ) A4規格(210X 297公釐) _~批衣------.玎------0 (請先閱讀背面之注意審.項再填寫本頁) A7 B7 116233 五、發明説明(9 正確地位於此資訊層2上時,SN會具有其最大値S (max), 而此歸一電路4 2的輸出會通過至加法器4 7。加法器4 7的 輸出是組合的聚焦誤差信號S f( C ),其可用以控制此掃描 裝置的聚焦補助迴路。此组合的聚焦誤差信號是此H F推導 的聚焦誤差信號和L F推導的聚焦誤差信號的線性組合, 帶有決定自此資訊信號的加權:
Sf(C) = (S(max)-SN)*SF-(LF) + SN*Sf'(HF), 其中由電路4 1和4 2之聚焦誤差-信號的歸一化已由s f加一 來表示。 圖5表示在圖4中各種信號的値是聚焦誤差之函數的圖示 ’亦即焦點7和資訊層2的平面之間的距離z。Z = 0是正確 聚焦的點。最上面的圖表示L F推導之聚焦誤差信號的變量 是一聚焦誤差的函數。此函數具有_ S形聚焦誤差信號的 特徵。一由此誤差信號所控制的焦點補助迴路會導引聚焦 傳動裝置至Z的位置,其中S曲線具有一零交又點。此零交 又點在Z = 〇位置之後’因爲散光落在偵測器丨6至丨9上。在 圖5中的下一個圖表示H F推導之聚焦誤差信號s f( H F )的S 曲線。此S曲線的寬度遠小於L F推導之聚焦誤差信號之S 曲線的寬度9此外’此S曲線在Ζ = 0具有其零交叉點,因 爲此聚焦誤差信號Sf(HF)很難被散光影響。在圖中第三圖 表示此高頻資訊信號Sj的正和副振幅。在z方向中資訊信 號的寬度大略地相當於Sf(HF)之S曲線的寬度。第四圖表 -12 表紙張尺度適用中g國家標準(CNS > Α4規格(BOX 297公釐) ---------裝------II------Μ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 五、發明説明(10 ) 的振幅是此資訊信號的歸-化。其最大値·等於S(maX) 。最後一圖表示信號(S(max)_SN)的振幅。 請 先 聞 讀 背 面 | 之I I 1 事I 項 I 再 填I I裝 頁 訂 因馬第二電子電路27以此信號乘hf*lf推導之聚焦誤 差住號在最後及前_圖t,其會很清楚,遠離焦點 (丨Z | >> 〇)此聚焦補助迴路會被此L F推導之聚焦誤差信號 所控制’提供一寬的補捉範圍;而接進焦點,此聚焦補助 迴路會被HF推導之聚焦誤差信號所控制,提供一小的補捉 範圍。在焦點Z = 0處,LF推導之聚焦誤羡信號在此補助迴 路上'又有任何影響,由此除去在此補助迴路上任何散光的 影響。此由一個至另一個聚焦诶差信號的交叉是平順的, 由於切換函數SN的平順變化。此避免了焦點補助迴路之控 制中的跳開,其可能造成迴路中的不穩定。 經濟部中央標準局員工消費合作社印家 當在零交叉點處的二聚焦誤差信號之s曲線的斜率是不 同的時,此補助迴路轉換函數的〇_(18頻率改變,當由一聚 焦誤差信號改變控制至另一聚焦誤差信號。此改變應該避 免’因爲其可造成在此補助迴路中的不穩定性。因此,在 電路4 1和4 2中的聚焦誤差信號的歸一化應該最好以在零交 又點處之二聚焦誤差信號的斜率相等的方法來執行,而不 用使此二聚焦誤差信號的最大振幅相等。 在第二電子電路27的一不同的具體裝置中,電路45檢杏 是否信號SN超過一預定的位準。當此情況發生時,—信號 產生器產生一信號中的逐漸的改變,由一零的位準至一特 定的振幅,該信號控制此乘法器4 8。然後此信號產生器也 在另一信號中產生一逐漸的減少,從一特定位準降至—零 13- 本紙浪尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 318233 A7 B7 11 五、發明説明( 位準Us號控制乘法器46。注匕改變發生在一.預地的時間 區間’其可設定在幾個毫秒。 由第電子電路27的描述,其會很清楚,此電路可以用 來結合任何兩個聚焦誤差信號。取代結合—lf推導和一 H F推導的聚焦疾差信號,此電路也可以用來結合二^ f推 導的聚焦誤差信號。 圖6表示一根據本發明的第二種掃描裝置,其共用於掃 描具有不同基板厚度之二種記綠載體的也式。一記錄載體 「包含二資訊層2,和2",相間隔—相當小的距離,例如5〇 "m。一發射自輻射光源4_的輻射光束5被一分光器5〇反射 ,例如一半透明平板,並被一物鏡系統6聚焦於一資訊層 上的焦點7。反射自資訊層的輕射被物鏡系統聚焦,並由 分光鏡50部分地穿透照射在—偵測系統51上。此分光鏡具 有此一厚度,此聚焦光束穿透其帶來—定量的像散。 圖7表示偵測系統51的前視®,包含四個❹!器52 , 53 ,5 4和55安排在一直角座標系統的四個象限中。此偵測器 5 1.,二’,3和54將照射在制器上的輕射轉換成個別的 :/、測4號Sl ’ s3 ’ s>s2。這四個偵測器信號供給如圖 3所π㈣-電子電路26’在該電路中由此信號形成一 推導之聚焦誤差信號Sf(HF卜當由_資訊層改變掃描至另 一資訊層時,例如由資訊層2,至2,,,焦點必須作一相當短 的跳躍’亦即幾十個微米的數量級,0爲此一短的跳;此 聚焦傳動裝置的速度不會㈣高,而當使用HF推導之聚隹 誤差信號時獲得此相當小的補捉範圍足以使此傳到 -14 - 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇χ 297公釐 ------:---„-I ^------.玎------^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7
車,而當在焦點時將其帶至停止。此hf推導之-聚焦、、. 號的使用,當掃描多層光學記錄載體時是非常有用、灰差信 爲此聚焦誤差信號比L F推導之聚焦誤差信號遠爲小、因 來自於目前未讀取的資訊層的散光所影響。 、被 凡术目於目前 未讀取之資訊層的散光在此偵測系統上形成—相卷大自、· 射光點,因爲此未讀取之資訊層離焦大约幾個勺轉 〇說糸統的 ,.·、深s此大的光點幾乎不包含任何高頻資訊,由於離焦 因此,此大光點在HF推導的聚焦誤差信號會有很小的影響 ,其可作成只使用此資訊信號的頻帶3 當開始讀取一圮錄載體時,土聚焦傳動裝置總是必須行 過一相當的距離以帶此焦點7與一資訊層2,或2,,重入。此 H F推導之聚焦誤差信號的小捕捉範圍則可能太小以至於不 能適當地剎住此傳動裝置’當接近焦點時。在該情況中, 第二種裝置中的第一電子電路26最好也形成一具有寬捕捉 範圍的LF推導之聚焦誤差信號以帶此焦點接近此資訊層在 開動期間。當足夠接近焦點時,此第二電子電路2 7可以切 換此聚焦補助迴路的控制由LF推導之聚焦誤差信號至hF 推導的聚焦誤差信號。 經濟部中央橾準局員工消費合作社印製 圖8表示根據本發明的第三種掃描裝置。一記綠載體1包 含一資訊層2安排在一透明基板60上,透過此掃描此資訊 層。發射自41射光源4的輕射光束5被一物鏡系統6聚焦至 此資訊層2上的焦點7。反射自資訊層的輻射光束被物鏡系 統聚焦並被一分光鏡61部分地繞射,形成二子光束62a和 6 2 b ’其向一偵測系統6 3匯聚。此分光鏡6 1可以包含二重 _____ — -15- 本紙浪尺度適用中國國家標準(CN.S ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央榡準局員工消費合作.社印製 A7 B7 五、發明説明(13 ) " 叠的光柵’其一形成子光束6 2 a,剛好聚焦在偵測系統6 3 之輻射敏感表面的上面:另一光栅形成子光束62b,剛好 聚焦在此偵測系统6 3之輕射敏感表面的下面,使焦點7位 於資訊層上。在另一具體裝置中,二子光束62 3和621)可以 聚焦在相同平面,然而偵測系統63具有二偵測器安排在此 二子光束的不同高度處。 圖9表示偵測器6 3的前視圖,和一第一電子電路2 6,的二 輸入電路。此偵測系統包含二群三個平行j立長的偵測器6 4 ’65 ’66和67, 68, 69。當焦點7位於資訊層2中時,子 光束6 2 a和6 2 b形成相等大小的-二光點7 〇和7 1在此偵測系 統上。偵測器6 4,6 6和6 8的偵測器信號供給一加法器7 2 :偵測器65,6 7和69的偵測器信號供给一第二加法器73 笔路26的加法器72和73取代圖3中所示之電路26的加 法器:>0和。電路26和26'的其他元件可以相同。電路 26和與其相連的電路27的操作和參考圖3和4所描述之電 路2 6和2 7的操作是相同的。 表示於圖8 _之第二種裝置的物鏡系統6被設計用來形成 一適當的焦點在資訊層2上通過基板6〇。此意味由輻射光 束在通過基板的通道中所產生的球面像差在此物鏡系統中 被具有正號之等量的球面像差所補償。圖8也表示一不 =形式心圮錄載體75之一小部分的橫截面。一資訊層”被 安排在—厚度比基板6〇大的基板77上,例如1 取代 〇.6 mm。記錄載體75被包含元件4,6,6丨和。的光學系 斤掃仰,s此聚焦補助迴路安排使得輻射光束5的最 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. ,?! 線---Γ. A7 A7 經濟部中央標率局員工消費合作杜印製 ,五、發明説明(14 ) 焦點位於負訊層2上和在貝訊層7 6的近轴焦點上。在後者 的情況中’輻射光束5的邊緣光線會造成在偵測系統6 3上 之散光的一大光點。此邊緣光線之大的球面像差會降低在 此散光中的高頻内容。形成自偵測器信號中高頻分量之H F 推導的聚焦誤差is號S f( H F )因此幾乎不會被散光所影響。 對應地,已知的L F推導強烈地被散光所影響,造成—相當 大的焦點補償。在LF推導之聚焦誤差信號中的補償僅能被 當掃描记錄載體7 5時截斷此邊緣光線而连低a顯示於圖8 中的裝置不需要截斷裝置。當掃描記錄載體1時,Lf推導 之聚焦疾差彳§號可以被使珣在每動相位期間’和接近焦點 ,可以使用不是LF推導的就是HF推導的聚焦誤差信號。 因爲近軸和邊緣光線二者都包含高頻分量,當掃描記錄載 子1時,HF推導之聚焦誤差會由近軸和邊緣光線二者所形 成,並造成焦點7正確地定位於資訊層2上^當掃描記錄載 體75時,在起動相位期間LF推導之聚焦誤差信號可以再 次被使用’由於其寬的捕捉範圍。接近焦點時,可以使用 HF推導之聚焦誤差信號。因爲只有近軸光線包含高頻分量 备掃描圮錄載體7 5時,此H F推導之聚焦誤差信號僅含由 進軸光線所形成,且造成焦點7正確地定位於資訊層7 6上 〇 雖然一多層i己綠載體的掃描參考表示於圖7中的裝置被討 :t和參考圖8中之裝置帶有不同基板厚度之記錄載體的 掃描,其他描述的裝置同樣適用於掃描這些記錄載體和這 些裝置達成相同的優點。 ._.1^------,订------0 (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁)

Claims (1)

  1. ABCD 018233 π'申請專利範圍 I用以光學地掃描一儲存資訊之資訊層的裝置·;該裝置包 含—輻射光源;一物件系統用以匯聚發射自輻射光源的 輻射光在資訊層上;一對輻射敏感的偵測系統配置在來 自於資訊層之輻射光束的路徑中並提供偵測器信號;和 一第一電子電路用以由此偵測器信號形成一第一聚焦誤 差信號,其特徵爲此第一電子電路包含至少—低通遽波 器用以過渡該偵測器信號之至少一個,以使此偵測器信 號的低頻分量用以形成此第一聚焦誤差信號且此第一電 子電路也包含一高通濾波器用以過濾該偵測器信號之至 少一個,以使此偵測器信號的高頻分量用以形成一第二 聚焦誤差信號。 2_根據申請專利範圍第1項的裝置,其中該第一電子電路 運作以形成一表示儲存於此資訊層中之資訊的資訊信號 ’而孩高通濾波器的通帶實際上等於此資訊信號的頻帶 〇 根據申請專利範圍第2項的裝置,其中一第二電子電路 連接至第一電子電路用以接收第—聚焦誤差信號和第二 聚焦誤差信號,該第二電子電路形成一組合的聚焦誤差 信號,在此组合的聚焦誤差信號中之第一聚焦誤差信號 和第二聚焦誤差的加權由資訊信號的大小來決定3 -18- 本紙乐尺度適用中國國豕標準(CNS〉A4規格(210X297公整—~~ ^ . 裳 訂 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消费合作社印製
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