TW313628B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TW313628B
TW313628B TW085112869A TW85112869A TW313628B TW 313628 B TW313628 B TW 313628B TW 085112869 A TW085112869 A TW 085112869A TW 85112869 A TW85112869 A TW 85112869A TW 313628 B TW313628 B TW 313628B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
correction
measurement
digital filter
item
value
Prior art date
Application number
TW085112869A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Fluke Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fluke Corp filed Critical Fluke Corp
Application granted granted Critical
Publication of TW313628B publication Critical patent/TW313628B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H17/00Networks using digital techniques
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H21/00Adaptive networks
    • H03H21/0012Digital adaptive filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/28Provision in measuring instruments for reference values, e.g. standard voltage, standard waveform
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/12Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will
    • G01R15/125Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will for digital multimeters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Filters That Use Time-Delay Elements (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

經濟部中央梂準局貝工消費合作社印袋 313628 A7 B7 五、發明説明(1) 本發明係大致有鼷於適醮性數位濂波器,且特別是有 m 醑於一種霄子儀器改良拥量精確度用之適應性數位濾波器/ 現存有測童電子倍諕之各種電子儀器彡在一典型的電 子儀器中,,該信甓被稱合於類比的「前端J或输入電路,, 其可包含放大器、^衰滅器、,濾波器、,電壓保護設施與其他 電路,用於在一類比至數位轉換器(ADC)前之_入信號作 業。*一健普遍可用之電子儀器的倒子為數位多悬程測量儀 表,.其澜量d.c.(直流)與a.c.(交滾)電壓wd.c.鬣阻、t Μ 及a.c.輿d.c.電流?該前皭電路箱被用於就這些測董棋態 來構建該數位多董程測量儀表及用於提供一種Μ可被該ADC m路測量為形式之修正倍號ί 該前端《路一般係被用於鬣壓位準移動/例如將低m 壓位準放大至ADC測量能接受之位準Μ及將高電壓位準 衰減為ADC測量能接受之位準。,該前端電路亦可被用於提 供保護該電子儀器免於偶發地合至可能造成毁損之高m 壓位準,μ將該倍號過濾去除在所需測量範圍外可能有寄 地影響精確度之不想要的頻率成份%或者用於在各種放大 器、•衮減器與數位間切換倍號,,Μ構建各種測*棋態用之 電子儀器,。 拥量精確度常為電子儀器之一重要的參數《。電子儀器 在特定頻率範國上拥量a.c.信號時.典型地須維持特定的精 確度水準t理想上i m子儀器内之前嬙m路舆adc在該恃 定的頻率範園内對任何倍號均平等地回應然而,真實的 4 * 前端霣路舆ADC並不具有理想的頻率回應,.因而須有頻率 本紙張尺度逡用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X297公釐) _ 4 - (请先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ^----裝-------—訂-1---^ 線! nn nn vul tflam 經濟部中央揉準局員工消費合作社印裝 313628 五、發明説明(2 ) 補償Μ獲得可接受的精確度/ 習知的電子儀器已應用數種方法Μ在選擇的頻率範圍 上維持測量精確度*。類比補儻技術涉及生產差異實質上小 於設計容差水準之設計上的「過度燏正」_或須手動地調整 電路參數以使前端霄路之頻率回臁形狀符合所需的頻率回 應與精確度丨當這棰類bh補儂技術有效時《,其實施需有額 外的元件成本舆製造時間t;因而對該產品之壽年上增加產 品之製造成本輿雒修及校正成本^ 在允許簡化前端電路之霜子儀器內獲取所霈精確度水 準的另一種方法,,為在一頻率範園上使用一已知振幅之校 正信號並將測量結果記錄在一檢核表上來测量該前端镲路 « 之頻率回應,。在此方式下丨信轚之澜量结果可針對檢核表 之值加Μ檷準化獲取具有加強精確度之檫準化測量,此 技術只要在正被澜量之倍號的頻率為已知使得檢核表內之 正確值可被選擇Μ使測*檷準化時便爲有效的, 因此\其便欲於在所霈的澜量頻率範圍上/ Η不須調 整其頻率回應之簡化前端霄路未獲取改良的潮量精確度,。 其將更進一步欲於提供一種不須知道在所需拥量頻率範園 内將被測董之輪入信號頻率的頻率補償方法: . · 依據本發明,種適應性數位濾波器、被提供以《取在 一電子儀器中之改良的測量精確度L在該m子儀器内之一 前靖霣路就耩合輪入倍號至一 ADC用Μ測置提供所襦之所 有衰減 >放大、,濾波、,保護與切換功能1該ADC產生Μ數 位資料為形式之測量值其然後可被儲存舆數學地操縱, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210'〆297公麓) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ----------Μ--—裝------:。-訂 Μ Τ 5 313628 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 五、發明説明(3 ) 該ADC具有之取樣率必須至少為所需頻率範園的最高頻率 之兩倍丨Μ允許適當的時間分析來計算該適應性數位濾波 器的數位濾波器值^較高的取樣率提供較大的翰入信號時 間分析與該测量倍號依比例較大的精確度彳其原因在於一 適應性數位濂波器之頻率樓準化爲較精確,。 在一校正階段之際β —锢具有已知霣®舆頻率特擞的 校正信號來源在該前端《路之樓準化將被實施時被提供 該檁準化倍號被拥量且數位濾波器值被最佳化/ Μ去除該 前端電路之頻率回應效應。,在一測量階段之際,,將被測董 之翰入倍號被耩合至該前靖霄路之蠄入丨且一 ADC所產生 之測量值流被該適應性數位濾波器使用時間域褶稹被蓮箄, ,以獲取檩準化测量值之流;。 該等數位濂波器值係利用將檷準化倍號來源耩合至該 前端電路之輪入、.測量該樓準化信號來源Μ獲取一組回應 該標準化倍號之檷準化测量值ίΚ及將該組檫準化拥量值 針對一组理想的檷準化測量值加Μ比較Μ獲取一誤差值/ 而被計算f 使用包括了有限脈衝回應(FIR)的數橱測量數位濾波 器技術之一,,則該等測量值被該適應性數位濾波器使用褶 積處理運算i以去除該前端電路之頻率失真效應。.與此褶 積處理等值之頻率域將把該等拥童值乘Μ該前端電路頻率 回醮之倒數以使其效應檁準化。4由於由該時間域轉換成頻 率域Μ便檷準化及然後回復到時間域實在是後雜地離譜且 需密集的運黧丨其欲於實施在時間域内之测董值上作業的 本紙張尺度適用中國國家樣半(CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先鬩讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝-------Tfr *- il- 線. -6 - A7 B7 313628 五、發明説明(4 ) 數位濾波器。、 在使用宿積下,該適應性數位濾波器可完全在時間域 內資施等值的檁準化丨資施褶積所需的適應性數位濾波器 值被計算、,以使估計信蘩舆依據適朦性法則之所需信號間 的差異減到最小?就FIR濾波器而言i該等數位濾波器值 可依據習知的適臁性法則被計算並被應用至FIR濾波器,。 在較佳實施例中,.最小均方(LMS)適臁性法則因其簡單及 易於應用而被選用f在該技δ中習知的其他適應性法則可 備於替代。一旦計算後i該等數位濾波器值便被該適應性 數位濾波器使用Μ在該等瀰量值上當其在澜量值之滾被收 集逹到已知之抽樣率時蓮算4。然後測董值之流在該適應性 數位濾波器內與其本身依據該等數位濂波器值被褶積Μ 形成已檁準化的测董值之流,,其所具有之該前端霄路的頻 率失真效率已減到最少/ 經濟部中央梂準局員工消費合作社印製 該等測量值被提供給適應性數位濾波器』其數學式地 在每一該等測景值上作業,,以使用一組數位濾波器值來去 除前端《路之頻率回應效應。由於該等測量值係依據由該 等校正潮量值被計算之適醮性數位濾波器內的數位濾波器 值被浬算i在所需頻率範圍内的輪入倍號之頻率不須被決 定丨該適應性數位濂波器在達到已知抽樣率的測最值上作 業丨由於該前端《路的鑕率回應補求因添加補償變異的適 應性數位濾波器而已被簡化1所以具有較少元件之較簡單 前端電路可被親用〜手動調整該前端電路頻率回應之處理 過程因該適應性數位濾波器可處置任何待殊前端電路之變 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4洗格(210X297公釐) 7 經 央 樣 準 局 Ά X. 消‘ 費 合 作 社 印 % 五、發明説明(5) A7 B7 異而被消除, ψ 本發明之一目榡為要提供一種使用適應性數位濾波器 Μ獲取電子儀器改良測Μ精確度之方法。 本發明之另一目檷為要提供一種使用適《性數位濾波 器在時間域内蓮算,4 Μ去除該前靖電路之頻率回應效應^ 來獲取電子儀器改良澜董精確度之方法。 .嘩 本發明之另一目檷為要提供一種使用適應性數位濾波 器Μ去除該前端電路之頻率回應效應\而獲取不須諷整電 子儀器内其頻率回應的簡化前端電路之方法 本發明之添加目檷為要提供一種使用一 FIR濾波器在 時間域内蓮算Μ去除該前端霄路之頻率回應效應,.而獲取 不須調整電子儀器内其頻率回應的簡化前靖電路之方法.。 其他的特色:達成輿益處將由熟習該技藝者在配合附 画讀取下列描述而變得明白。 第1圏為依據習知技《之蓮用具有頻率補償的前端霣 路之電子儀器的簡化方塊圔J 第2A-C圖為圖示理想的相對於實際的頻率回醱、..t調整 後頻率回臁、、Μ及依據習知技S之前端霉路的測量後頻率 檢核表頻率j 第3画為使用依據本發明之適醮性數位濾波器的具有 頻率補償的前靖電路之電子儀器的簡化方塊圖,; 第4匾為到達抽樣率之獮量值#被該適應性數位瀘波 器在其上作業Μ獲取第3圈之電子儀器的棲準化測董值之 時間圏(未依實際比例)ι; (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) Τ 裝-----"Τ"訂 1 本紙張尺度適用中國國家操準(CNS ) A4规格(210X 297公釐) 8
經濟部中央揉準局貝工消費合作社印I 313628 五、發明説明(6) 第5園為一有限脈衝回應(FIR)濾波器被用作爲依據 本發明在第3圖中的電子儀器內之適應性數位濾波器的簡 化方塊圖;tM及 第6圖為使用依據本發明之第5画的適*性數位濾波 器Μ獲取改良測量精確度的處理遇程的流程圏 在第1團中,、其顯示依據習知技藝之一電子儀器10的 簡化方塊圖%電子儀器10可包含任何各式的霣子測試與 拥I童儀器,》其基本功能為澜量典型在低於一百萬赫茲之頻 率範圍内的各種頻率之霣氣信號=數位多董程測量儀表^ 資料擷取設備與數位倍號分析儀為逭類儀器之例?输入信 號為任何各種電氣信號,,包括電壓舆霄流位準Μ及各種 慼知器之ϋ出信號f。 一對测試導線12將輸入信號耩合至霜子儀器10。一前 端霄路14被_合至測試導線12M接收翰入信號並將之轉換 成測董可接受的位準。如是所應用之前端電路14可例如將 * 低霣壓位準信號放大至ADC澜量能接受的位準丨並將高電 麽位準信號衰減至ADC測量能接受的位準丨前端電路14亦 就m子儀器ίο提供保護,,μ免意外地耦合至可能造成毀損 之高位準1壓、,過濾綸入信號Μ去除可能不利地影礬測量 精確度之在測量範圍外的不想要之頻率成份、,或者就各種 測量棋態在構成電子儀器10之各式放大器、,衰減器間切換 該_人倍號.。 一類比數位轉換器(ADC) 16被耩合至前端電路14Μ接 收該輸入倍號並將之轉換成數位資料形式的測置值溁,。一 t * 本紙張尺度逍用中國國家梂準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事養再填寫本頁) 裝· 9 A7 B7 响 Λ ίΛψΜ 經
央 標 準 局 貝 X. 消 費 合 作 社 印 % 五、發明説明(7 ) 撤處理器18被耩合至ADC16M接收該等測量值而進一步在 數位記憶《中處理舆儲存丨一顯示器20被賴合至該徹處理 器18 % Μ就蓮用電子儀器10之適合的數值或圈形格式在視 覺上顯示該等拥量值t。 ,在執行將鎗入倍轚遇濾、,切換、_放大與衮滅之多重工 作時,《由於前端電路14在對輪入倍號所需之_入範園上有 1其-y·«之變化而會導致輸入倍號測量之不欲有的頻率 失真s頻率失真之數量最終會影馨罨子儀器ίο對翰入信铖 之测量精確度%因而須被修正並減到最小‘ 電子儀器ίο具有二俪絕然不同的作業階段丨包括校正 階段與測量階段2在校正階段之際,.電鼷校正佶號來源22 (不論為霄子儀器10之内部或外部者)提供各種頻率之已 知振幅的校正信號至前靖霣路14之_入,其被取代輪入信 號之地位。, 第2A-C圖為團示理想的相對於實際的頻率i應、調整 後頻率回應、K及依據習知技S之前端電路的測量後頻率 檢核表頻率; 參照第2A圖 '其顯示振輻對頻率之圖,.圏中全部各點 即為習知頻率回應特徽,。其所顯示者為二頻率特擞i包括 一理想的頻率回應50g —實際的頻率回應52每一頻率回 應特戡係Μ供應對所需頻率範園下之已知振幅的校正倍號 至前端電路14之輪入;計算在一頻率範圍上拥量振幅對校 正信號實際振幅之比值、ΤΜΙ在圏上就振幅對頻率之函數 點出比值結果而做成理想頻率回應50就該等測置值係由 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210'乂297公釐) -Ο) - 經濟部中央標準局員工消费合作社印裝 A7 -B7 五、發明説明(8 ) ADC16在舆校正倍號實際拫幅於擴大至截止頻率(fc)之所 論及的頻率範圍上實質相同的論及頻率範圍上所被送回而 言 '其為所欲有的。v因而丨就頻率範園由0赫玆至fc赫玆 內的輪入信號而言乂具有理想頻率回應50之前端電路14實 質上不會導致失真4。 ,實際的頻率回應52被顯示於第2A圖,,作潙前端電路14 中更典型會遭遇的頻率回應之例。實際頻率回應52之形狀 被出現於前端電路14信號路徑中任何反應元件之物理現象 所左右。如所顯示者,實際頻率回應52在其通帶具有「波 ► ψ 纹」及實質低於截止頻率fc之脔頻率向上轉移。由於實際 頻率回應52與理想頻率回應50有所差異,電子儀器10M實 ψ 際頻率回應52產生之测量值將包含随著W入信號之頻率成 ♦ 份改變的不精確度> 第2B圖為圖示依據習知技®調整前端電路14 (顯示於 第1圖中)Μ獲取改良测量精確度之方法f實際頻率回應 52於例如在霄子儀器10的校正階段之際可易於測量/且以 + 耩合校正倍號來源22至前端霄路14之_入取代_入倍號爲 特擞。,補儂元件可被設計至該包括有霄阻器、4電容器舆感 應器之前端霣路14内,,而Μ其值被選擇成可被使得實際頻 率回朧52更近似於理想頻率回應50 ?其調整處理可Μ是完 全手動的/ Μ —運箄員來監澜實際鑕率回醵52而又同時手 動地調整補償元件4獲取調整後之頻率回應i該調整處理 \ * ' 也可以是自動的Μ速成相同的結果。5在各種慵形中/調整 必須就毎一徧別的儀器實施,#形成較商製造成本及提高複 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) (請先聞讀背面之注意事項#'填寫本頁)
-11 - Α7 Β7 313628 五、發明説明(9 ) 雜性。*第2B圖顯示實際頻率回應52Λ在一調整後之頻率回 應54上,其已利用將波紋弄平及提高向上轉移頻率而被調 龜 整成更近似理想頻率回應50 第2C匾覼示利用测量實際頻率回應52與將測童值儲存 於一檢核表56M獲取改良測董精確度之方法5現在該檢核 表56可被參用;Μ將一 _入倍號之測量值檷準化並去除前 端電路14之頻率失真效應。,此技術只要該_入信號具有該 霄子儀器之已知的所需頻率範匾内之頻率成份時便為有效 的。每一頻率成份可針對在檢核表内的對醱值被檷準化; 以去除實際頻率回應52之效應i此檢核表技術只要該輪入 信號具有該霄子儀器之已知旦為數不多的所需頻率範圍內 (例如為正弦波之情形)之頻率成份時便為有效的, f 經濟部中央標準局貝工消費合作社印策 第3_爲使用依據本發明之適應性數位濾波器蓮用獲 取改良測量精確度之方法的電子儀器110之簡化方塊圖。 一對测試導線112可被耦合至輸入信號丨一前端電路114被 耦合至測試導線112以接收該輸入信號並將該輸入信號 轉換成測量可接受的位準丨,如此所應用之前端電路Π4可 與習知技蓊之前端«路114相同方式般地放大低電壓位準 倍號、,褒減髙電®位準倍號、4爲電子儀器110提供保護< 遇濾該輪入倍號或切換該鑰入倍號丨然而,實際頻率回應 觯 省 52與理想頻率回應50非常近似之須;在前端電路114中將 如在下面更詳細解釋般地已大大地消除了> 一過度取樣類比數位轉換器116被耦合至前皭霣路114 Μ接收該輪入信諕並Μ —抽樣率將之轉換為澜量值滾,。再 本紙張尺度適用中國國家梯準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -12 - 五、發明説明(10 A7 B7 經濟部中央標準局員κ消费合作社印製 生正被抽樣之一信號所需的最小抽樣率一般係為Nyqui St 率,其為該翰入倍號最大頻率成份的兩倍,該過度取樣ADC ♦ ♦ 116被選擇成實質高於Nyquist率之抽樣率。,過度取樣ADC 116之最小抽樣率被速成頻率補僂之適當精確度所須的時 間分析所左右。,一適應性數位濾波器117被絹合至該過度 取樣ADC 116M接收該等測董值。 « 轚子儀器110具有二個絕然不同的作業階段,,包括校 正階段與测量階段。在校正階段之際,校正倍號來源122 看 I 被耦合至前端電路114之鑰入取代输入信號之地位卩校正 、 倍號來源122提供具有已知频率與搌幅特擻之校正倍號 校正信號可具有如方形波之簡單波形丨其在其基本頻率之 奇數諧波具有顯著的諧波含貴5或者,,校正信號用之較衩 雜波形可被選用iΜ獲取在所選頻率範園上所需之信號能 量位準,,此包括具有可變任務遇期之方形波、t «移頻率之 正弦波輿播跨一寬廣頻譜上提供均一信號能量之隨機或假 隨機雜訊之所謂的「白色雜訊」=為了維持該使用由校正 信轚測Μ導出之一組數位濾波器常數的適臞性數位濾波器 117 %在該所需頻率範函上所實施的補儍精確度,在所選 的頻率範圍上獲取所需的信號能量位準是所欲的|。 該等適應性數位濾波器值之計算係利用將校正信號來 源耩合至前端霄路之輪入、4拥量該校正信號來源以獲取回 醮於該校正信號之一組校正測量值、,以及針對一組理想校 正测量值比較該組校正測量值Μ獲取一誤差向景而得.。數 位濂波器值係依據能使該誤差向量為最小者加Μ選取,,Μ (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) V ....... 1
I 裝-- mt m« nn · 訂
1— τι——— ^tn —^n* T 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(210 X 297公釐) 13 經濟部中央梯準局員工消費合作社印裝 A7 B7 ____—---- —- 五、發明説明(u ) 而使該前端霄路導致之頻率補償誤差減到最小。 j» 在適應性階段之際,,適應性數位濾波器117在該等测 量值上作業,,以根據在校正階段之際被計算之數位濾波器 值或變數,,如下面更完整解釋般地獲取檷準化之测量值/ 然後檫準化測童值被耦合f 一撤處理器118 ;其儲存及進 一步處理再被耦合至顯示器120M視覺顯示之禊準化测量 值? 利用將依據本發明之前端《路114所導致的頻率補儍 誤差加Μ降低,對該前端《路114之要求Μ數種方式被實 争 質地降低。,首先;前端電路114之設計頻率補償本須如前 述所需地如此近似第2Α圃之理想頻率補償50 >因而降低元 件數目與電路複雜性。,其次單元間之製造容差被實際地 放鬆或消除丨消除手動綱整前靖霄路114之須/並降低包含 有該前*電路114之成份元件的容差/因而降低製造成本, 0 第4 _為到達抽樣率之測量值萍被該適應性數位濾波 器117在其上作樂以獲取第3圈之電子儀器的棲準化浦量 值之時間園,未依賁際比例)。該過度取樣ADC116M該 抽樣率連續地抽樣而提供测量值流Ϊ包含在蝓入佶號內之 頻率資訊#由該測量值滾所形成之時間記錄為形式被捕取> 。適應性數位濾波器117在由該流而來的多重數目之測量 L- 值同時地以一般習知為褶積之方式作赛J测董值滾之每一 测量值_被乘以一組數位濾波器值,,並被加到在該流内之其 他测量值纟以產生第二個標準化测量值滾2同時被適應性 本紙張尺度逍用中國國家梂準(CNS ) Α4规格(210Χ297公嫠) ml·· fn^— i mV (請先网讀背面.之注意事項再填寫本頁) --^訂 Λ-- —^卜線 14 A7 B7 五、發明説明(12 ) 數位濾波器117在其上被蓮算的测置值之數目係Μ其長度 或所包含的分接數目所決定丨適應性數位濂波器117之長 度>則以考《校正测量值所需之精確度水準^與大數量適應性 濾波器值解法之計算複雜度而決定 該適應性數位濾波器117可包含任何數目之不同型式 * 1» ' ,包括有限脈衝補儂(FIR)與有限臃衝補償(IIR)濾波器/ 其被習知在該技蓊中係使用之適應性濾波的用途Ϊ雖然, 1 4 每種適應性數位濾波器在其將测量值相乘與組合的精確方 法上可能有所不同,、但每一種均在使用習知濾波器蓮算法 則與不昂貴的《子儀器,於時間域內褶稹澜童值上享有共 同的特色 第5圖画示依據本發明之作為FIR薄:波器的適應性數 位濾波器117之一實施例纟該FIR濾波器構造可被實施成操 縱儲存於記憶體位置之資料的軟《蓮黧法則t或於FI R濾波 器作業所採用之可程式數位邏輯霣路的檷準格陣列之硬體 裝置。
就如第5圖顯示者7测量值流於檫為MEASUREMENT 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 VALUES之節點進入FIB濾波器$包含有加法元件200、t乘法 元件210與延遲元件212之FIR的每一段可被耩合在鍵結中 % 更下一面的分段Μ參生檷準化測量值流卩延遲元件212對 應於遇度取樣ADC 116之抽樣率施加一値抽樣期間之延遲丨. 。每一乘法元件110接收一舾對應的數位濾波器值纟因而 適應性數位濾波器117包含在滾中的最新近测董值Μ產生 對臁的檫準化測暈值滾*。 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -15 一 313628 Α7 Β7 五、發明説明(13 請 先 聞 S 背 面 之 注 意 事 項/ 再 填 寫 本 頁 在测量階段之際的一値褶積處理中4包含於每一段內 之測量值被乘Μ—組數位濾波器值之對應的數位濾波器值_ ,然後此乘積被加至其他段所產生的乘積,。褶積被普逋地 瞭解為在時間域内與頻率域内乘法等值f 由於鑰入信號被轉換成在時間域內的溯量值,使用 Four i er乘法變換轉換為頻率域及隨後轉換回到時間域將
A 是必須的,f此為密集的計箄。> 適應性數位濾波器典型上係 使用時間域褶稹丨因其在實作上實質地較為簡單;僅在測 量該校正倍諕K完成樓準化作用時,須有一組最適數位濂波 器值被計算,。 在校正階段之際/一個具有已知振幅舆頻率特徼之校 正信號取代該輪入信號>。一組代表該輪入信號之期望值已 被儲存 >。一鏑代表在测量該校正倍號時由過度取樣ADC 116 接收之估計信%與該组期望值間差異之誤差倍號被計算,。 經濟部中央揉準局貝工消費合作社印製 然後在該組數位濾波器值上蓮算之交互式數學方法被蓮用 以使包含在誤差信號内之整體誤差水準降到最低/在此方 式下i包含於估計信號内之值會最近似地符合所儲存的期 望值%且由前端電路114來之測量值的誤差因而被減到最 小.。 導出該組數位濾波器值之數學方法可為數値有鼷適應 性數位濾波器技藝中習知的數種方法之一纟在適應性數位 濾波器117被實作成較佳實施例之FIR濾波器形式下,該等 數位濾波器值係依據該較佳實施例中之最小均方(LMS)法 被計算1該LMS法須就該组數位濾波器值做依序的多重重 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -Λ C - 16 313628 Α7 Β7 經濟部中央椟準局貝工消費合作社印策 五、發明説明(14) ' 覆Μ收斂至會使誤差信號為最小的最適解^該组中的數位 濾波器值傾數增加Μ及FIR濾波器内對應分接儐數增加會 提高FIR濾波器内檁準化處理之精確度,。然而#,蓮用漸增 的較大组之數位濾波器值在校正階段之際需有計算該組數 > ‘ 位濾波器值的實質較長之計算時間丨 第6圖為使用依據本發明之適應性數位濾波器Μ獲取 改良测量精確度的處理滾程画丨在檷為「將校正倍號耩合 至前端電路」的遇程600中/校正倍號來源122 (顯示於第 3圖)被耦合至前端電路114之鎗入Μ取代該蠄入信號。 μ 該校正信號具有跨越所論及之頻率範園的已知振幅與頻率 成份,,其接著可被测量 在禊為「測量校正信II」之遇程610中;校正信號被 I 稱合至該過度取樣ADC 116'且校正測量值滾被產生/其 構成一估計信號, 在檷為「將適«性數位濂波器值最佳化」之遇程620 中,該等適慝性數位適應性值Μ使用一蓮算法則被最佳化 。由於數位濾波器有很多的可能之實作/在特殊應用採用 數位適應性時,相對應的也是很多的蓮算法則用以計算所 須的數位濾波器值丨在較佳實施例中,一般配合FIR濾波 器之LMS運算法則被使用 >校正信號與估計信號間之差異 > 為一誤差信號纟依據LMS運算法則,合理近似於該組最佳 餐 4 數位濾波器值之預定起始值被提供给LMS運算法則,,Μ降 低該法則收斂至所霈數位濾波器值所》之時間,笛整體誤 差佶號為最小時,該组數位灌波器便為最佳化者· (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) Γ: '裝- 、?TU— -^ 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) -£5- 經濟部中央橾準局員工消費合作社印策 A7 B7__五、發明説明(15) 過程600 , 610與620—起組成該電子儀器110之蓮算的 校正階段ί該校正階段於必要時可被實施數次彳Μ補傖前 端電路114之頻率回應的短期變異4。 在檷為「測量_入信號」之過程630中j校正倍號來 源由前端電路114被箱開耦合且輸入倍號在正常测置狀 況下再次被使用^然後測量值溁依據過度取樣ADC 116之 抽樣率被產生: 在棟為「數位式地過濾测量值」之過程640中/該組 最佳數位濾波器值被施加至適應性數位濾波器117 t。然後 適應性數位濾.波器1Π對該測量值流Μ褶積蓮算4,以根據 可去除前端霣路114之頻率失真效應的最佳數位濾波器值, 提供棲準化拥量值滾丨而逹成在所論及之頻率範圍上所欲 的拥量精確度水準。 遇程630舆640—起包含«子儀器110之蓮黧的測量階 段。*該浦量階段代表電子儀器110之正常蓮算狀態,,其中 該輪入信號必須在一特定精確度水準内被拥量及顯示, 此對具有該技S中一般技術者很明顯的是丨本發明上 逑較佳實施例之細節可被進行許多改變而不致镉離本發明 在其寬泛層面內之精神&很多棰數位濾波器型式可Μ用共 同的特色被運用,其精確度過濾蓮算係Μ時間域內之褶積 被進行而非在頻率域内之乘法Μ使前端霣路之頻率回應檷 準化<不同的校正信號型式可被蓮用Μ在獮躉頻率範圍内 所論及之頻率提供之己知數董的信餮霣壓。因此,本發明 f 之領域將被下列申請專利範函所決定。 —.— :_^^-- 严V (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝----
、1T Ϊ m* I....... ------- f 本紙張又度逍用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -18 - A7 B7 五、發明説明(16) 元件檫號對照 10 . ...電子儀器 117 ....適應性數位濂波器 請 先 閲 讀 背 1 1 I 12 . ...測試導線 118 ....撤處理器 1 1 I 14 . ...前端霄路 120 ....顯示器 之 注 1 叫 16 . ...類比數位轉換器,ADC 122 ....校正信號來源 意 事 1 1 负,| 18 . ...微處理器 200 ....加法元件 ίν 勹丨 20 . ...顯示器 210 ....乘法元件 寫 本 頁 裝 1 22 . ...校正信號來源 212 ....延遲元件 1 1 50 . ...理想的頻率回應 600 ....「將校正信狨耦合至前 1 1 1 52 . ...實際的頻率回應 端m路」過程 1 * 1 54 . ..·調整後頻率回應 610 ....「測量校正信號」過程 訂 »1 56 . ...檢核表 620 ....「將適應性數位濾波器 1 I 110 ....電子儀器 值最佳化」過程 1 1 112 ....測試導線 630 ....「测量輸入信號j過程 i 114 ....前端電路 640 ....「數位式地過濾測置值 線 I 116 ·.過度取樣類比數位轉換器 」過程 •1 1 經濟部中央梂準局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS ) A4.规格(210Χ297公釐) 19

Claims (1)

  1. 313628 Α8 Β8 C8 D8 申請專利範国 經濟部中央梂準局員工消費合作杜印製 1.一種改良一電子儀器內测董精確度之方法v包含: U)將具有已知搌幅與頻率特擞之一校正信號於 一校正階段之際繙合至一前端電路 (b) Μ—饀經由該前端電路接收該校正信號並在 一校正階段之際產生形成一估計信號之校正測量值的 過度取樣類比數位轉換器來拥鼉該校正佶號; % (c>將一組數位濾波器值最佳化|,Μ使該校正信 號與該估計信號間的整體差異滅到最小、; (d) 在一測童階段Μ—將被澜量之輪入佶號取代 該校正倍號; * (e) Μ該經由該前端霣路接收該校正信號並產生 测量值流之過度取樣類比數位轉換器來測童該输入倍 號及 (f〉Μ—锢使用該等數位濾波器值之適醮性數位 濾波器數位式地過濾該等测暈值/ 2·如申請專利範園第1項所述之一棰改良一霄子儀器内 測最精確度之方法,,其中該適應性數位濾波器包含一 姻有限脈衝補償濾波器/ 3_如申誚專利範画第2項所述之一種改良一電子儀器内 測量精確度之方法;更進一步包含依據最小均方之數 學蓮算法則將該組數位濾波器值最佳化, 4.如申請專利範園第2項所述之一種改良一電子儀器內 测量精確度之方法,•其中該有限脈衝補僂濾波器使用 時間域内之宿積對該等测量值蓮篝 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) •I叫: (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) >\)4 裝---- ^ Is-- '線—1--一 20 _ Ο Π - ΑΒ Β8 C8 D8 313628 、申請專利範圍 5. 如申請專利範圍第1項所述之一種改良一電子儀器内 拥童精確度之方法/其中該校正信號包含一方形波。 6. 如申請專利範圍第5項所述之一種改良一電子儀器內 测量精確度之方法f,其中該方形波具有一可變任務週 期·〇 7·如申請專利範圍第1項所述之一種改良一電子儀器内 测量精確度之方法_,其中該校正倍號包含一偏移頻率 正弦波。, 8·如申請專利範圍第1項所述之一棰改良一鬣子儀器内 测童精確度之方法,,其中該校正倍號包含隨機雜訊。 9. 一種改良一電子儀器內拥董精確度之方法,_包含: (a) 將具有已知振幅輿頻率特擞之一包含有一方 形波的校正信號於一校正階段之際耦合至一前端電路, 9 (b) Μ —健經由該前端《路接收該校正信號產生 形成一估計信號之校正湧I量值的遇度取樣類比數位轉 換器來拥量該校正信號^ (c) 依據最小均方數學蓮算法則將一組數位濾波 器值最佳化使該校正倍號與該估計信號間的整髅 差異減到最小,; (d) 在一測量階段以一將被測董之轜入信號取代 該校正信號;. (e) Μ該經由該前纗電路接收該校正倍號並產生 潮量值滾之過度取樣類比數位轉換器來漪量該_入信 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝-------、tT·-*-----^ * 線一i--- 經濟部中央揉準局舅工消費合作社印製 21 申請專利範圍 A8 B8 C8 D8 經濟部中央梂準局負工消費合作社印製 號;Μ及 (f〉Μ—個使用該組數位濾波器值之有限脈衝補 僮瀘波器數位式地過濾該等测量值, 如申請專利範圍第9項所述之一種改良一電子儀器内 測貴精確度之方法,τ其中該有限脈衝補償濾波器使用 時間域内之褶積對該等澜量值運算,。 11.如申誚專利範圍第9項所述之一種改良一電子儀器内 測量精確度之方法,,其中該方形波具有一可變任務週 期。* 12· —種具有改良測量精確度之電子儀器,,包含j (a) —前靖電路〆具有一輸入用Μ耩合至一翰入 倍號,,該前端霣路具有一頻率補償/ (b) —過度取樣類比數位轉換器被耩合至該前端 電路接收該_入倍轚及產生一澜纛後信號.,其包 含Μ該_入倍號最高頻率至少為兩倍的抽樣率之測量 值流;· (c) 一校正信號來源^用Μ在一校正階段之際賴 合一個具有已知振幅與頻率特擻之校正倍號至該前端 電路之輪入,(其中一组數位濾波器值被最佳化Μ使該 测量信號與該校正信號間之差異減到最小i; Μ及 (d) —適應'性數位濾波器被耩合至該遇度取樣類 比數位轉換器Μ接收該等獮量值,,該適醱性數位濾波 器在一拥量階段之際依據該组數位濾波器值對該测貴 值流蓮算ηΜ提供具有該頻率補償效應被實質降低之 ί---- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ...... I..... 1..... JBI In n n —^ΜΎΚ— 線 --1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4规格(210Χ297公釐) 22 -Ο Ο - A8 B8 C8 D8 經濟部中央揉準局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 禊準化測量值。 * 13. 如申請專利範園第12項所述之具有改良测量精確度之 霄子儀器,,其中該適應性數位濾波器包含一有限脈衝 補僂濾波器*。 14. 如申請專利範圍第13項所述之具有改良测量精確度之 霜子儀器%其中該组數位濾波器值依據一最小均方教 學運算法則被最佳化f。 15·如申請專利範圍第13項所述之一種改良一電子儀器内 测量精確度之方法,,其中該有限脈衝補償濾波器使用 時間域内之褶稹對該等拥置值邇算。 m 16.如申讅專利範蘭第12項所述之一種改良一霣子儀器内 測量精確度之方法,,其中該校正信號包含一方形波。 17·如申請專利範圍第16項所述之一種改良一電子儀器內 測量精確度之方法,*其中該方形波具有一可變任務遇 期。· 18.如申請專利範園第12項所述之一種改良一電子儀器内 测量精確度之方法〆其中該校正信號包含一偏移頻率 正弦波。* 19_如申請專利範園第12項所述之一棰改良一電子儀器内 測量精確度之方法%其中該校正倍號包含隨機雜訊。 (請先鬩讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝-- 訂— ----,線 —---- 本紙浪尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4规格(210X297公釐) -23 -
TW085112869A 1996-01-30 1996-10-21 TW313628B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/594,065 US5698984A (en) 1996-01-30 1996-01-30 Adaptive digital filter for improved measurement accuracy in an electronic instrument

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW313628B true TW313628B (zh) 1997-08-21

Family

ID=24377367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW085112869A TW313628B (zh) 1996-01-30 1996-10-21

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5698984A (zh)
EP (1) EP0787997B1 (zh)
JP (1) JP3050825B2 (zh)
KR (1) KR0185511B1 (zh)
DE (1) DE69627465T2 (zh)
HK (1) HK1002076A1 (zh)
TW (1) TW313628B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI391676B (zh) * 2004-12-17 2013-04-01 Texaco Development Corp 動態截止頻率改變之濾波器之方法及裝置

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3325456B2 (ja) * 1996-05-22 2002-09-17 株式会社アドバンテスト メモリリペア方法ならびにそのメモリリペア方法が適用される電子ビームメモリリペア装置およびメモリ冗長回路
US5930745A (en) * 1997-04-09 1999-07-27 Fluke Corporation Front-end architecture for a measurement instrument
DE19757296C2 (de) * 1997-12-22 2002-12-05 Rohde & Schwarz Verfahren zum Bestimmen der Übertragungsfunktion eines Meßgerätes
US6392402B1 (en) * 1998-07-30 2002-05-21 Fluke Corporation High crest factor rms measurement method
DE19926101B4 (de) * 1999-06-08 2004-04-08 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Anordnung zur Fehlerkompensation bei der Umsetzung von Hochfrequenzsignalen ins Basisband
US6493329B1 (en) * 1999-08-23 2002-12-10 Qualcomm Incorporated Adaptive channel estimation in a wireless communication system
US6542914B1 (en) 2000-09-01 2003-04-01 Lecroy Corporation Method and apparatus for increasing bandwidth in sampled systems
US6501329B1 (en) * 2000-11-16 2002-12-31 Linear Technology Corporation Adaptive filtering for improved RMS-to-DC signal conversion
JP2003078462A (ja) 2001-08-31 2003-03-14 Sanyo Electric Co Ltd 無線装置、その信号受信方法、そのフィルタ係数測定方法、およびそのフィルタ係数測定プログラム
US6842012B2 (en) * 2001-11-07 2005-01-11 Aware, Inc. Modeling and calibrating a three-port time-domain reflectometry system
US6772079B2 (en) * 2001-12-07 2004-08-03 Guzik Technical Enterprises Method and apparatus for equalization of a signal acquisition system
US6701335B2 (en) 2002-02-27 2004-03-02 Lecroy Corporation Digital frequency response compensator and arbitrary response generator system
US6798139B2 (en) * 2002-06-25 2004-09-28 General Electric Company Three electrode ceramic metal halide lamp
TW595108B (en) * 2003-09-17 2004-06-21 Spirox Corp Apparatus and method for measuring data converters
US7034517B2 (en) * 2004-03-15 2006-04-25 Fluke Corporation Multimeter with filtered measurement mode
TWI336168B (en) * 2004-04-13 2011-01-11 Realtek Semiconductor Corp Method and apparatus for tuning a digital filter
JP5140915B2 (ja) * 2005-09-29 2013-02-13 富士通セミコンダクター株式会社 ノイズフィルタ及びフィルタリング方法
KR100714554B1 (ko) * 2006-05-24 2007-05-07 삼성전기주식회사 필터 캘리브레이션 회로
US7573408B2 (en) * 2006-09-21 2009-08-11 Analogic Corporation Method and system for correcting switched input A/D converters
US7382292B1 (en) * 2006-11-10 2008-06-03 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Method and apparatus for efficient signal interpolation
TWI361281B (en) * 2008-04-17 2012-04-01 Cyrustek Co A measurement unit including an auto switch low-pass filter
US8278940B2 (en) * 2009-09-30 2012-10-02 Tektronix, Inc. Signal acquisition system having a compensation digital filter
DE102013221394A1 (de) * 2013-10-22 2015-04-23 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Messgerät und Verfahren zur Messung eines Hochfrequenzsignals mit Deembedding
CN106018955B (zh) * 2016-05-07 2018-11-13 天津大学 快速卷积可调滤波器组的低速率端频率估计方法
CN106556736A (zh) * 2016-10-25 2017-04-05 嘉兴职业技术学院 一种多功能分析仪
US11687474B2 (en) 2021-02-23 2023-06-27 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Signal processing system and signal processing method

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1271995A (en) * 1984-07-05 1990-07-24 Nec Corporation Method and apparatus for converting an analog signal to a digital signal using an oversampling technique
US4943807A (en) * 1988-04-13 1990-07-24 Crystal Semiconductor Digitally calibrated delta-sigma analog-to-digital converter
US5257026A (en) * 1992-04-17 1993-10-26 Crystal Semiconductor, Inc. Method and apparatus for calibrating a multi-bit delta-sigma modular
US5557267A (en) * 1993-04-23 1996-09-17 Ade Corporation Apparatus and methods for measurement system calibration
US5463893A (en) * 1994-05-16 1995-11-07 General Electric Company Sensor matching through real-time output compensation
US5594612A (en) * 1994-08-24 1997-01-14 Crystal Semiconductor Corporation Analog-to-digital converter with digital linearity correction

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI391676B (zh) * 2004-12-17 2013-04-01 Texaco Development Corp 動態截止頻率改變之濾波器之方法及裝置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09214291A (ja) 1997-08-15
JP3050825B2 (ja) 2000-06-12
DE69627465D1 (de) 2003-05-22
HK1002076A1 (en) 1998-07-31
KR0185511B1 (ko) 1999-04-15
DE69627465T2 (de) 2004-02-26
KR970060683A (ko) 1997-08-12
US5698984A (en) 1997-12-16
EP0787997B1 (en) 2003-04-16
EP0787997A3 (en) 1998-07-08
EP0787997A2 (en) 1997-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW313628B (zh)
BRPI0905760B1 (pt) Equipamento e método para a computação de informações de controle para um filtro de supressão de ecos e equipamento e método para a computação de um valor de retardo
US8825415B2 (en) Methods and apparatuses for estimation and compensation on nonlinearity errors
WO2005094548A2 (en) Reduced complexity nonlinear filters for analog-to-digital converter linearization
CN110907827B (zh) 一种马达瞬态失真测量方法及系统
JP3819589B2 (ja) Ad変換器の評価装置
US11262429B2 (en) Method, apparatus and device for detecting abnormity of energy metering chip, and medium
JP2020025257A (ja) 時間インタリーブ・デジタル・アナログ・コンバータ・システム及びそのための前置処理フィルタを校正する方法
CN100462725C (zh) 用于计量电功率的计量仪
CN104569675B (zh) 一种电能计量芯片中的闪变检测电路及检测方法
Hessling A novel method of dynamic correction in the time domain
CN107040214B (zh) 一种基于多点补偿方案的低杂散正弦信号发生器
CN114691437A (zh) 一种测试校正装置及方法
JPH0221712A (ja) 標本化周波数変換装置
JP2000338148A (ja) 電子式電力量計
JPH10122860A (ja) 津波計
Resende et al. Adaptive Channel Equalization for Frequency Response Correction of Instrument Transformers
CN111487476B (zh) 一种准峰值检波方法和准峰值检波器
JP3474914B2 (ja) 自動平衡装置
US20030021487A1 (en) Digital fir filter for CCD imaging systems
CN117538588B (zh) 一种幅频响应和相频响应的补偿装置、补偿方法及示波器
US20060061394A1 (en) Quasi-peak detector with inductor
JP3664812B2 (ja) 歪み率測定方法およびその装置
JPH0611370A (ja) 電磁流量計
WO2022243342A1 (en) Measurement apparatus and method for electronic transformer

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees