JP3664812B2 - 歪み率測定方法およびその装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子機器等の計測に用いるディジタル信号処理を用いた歪み率測定方法およびその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図2は従来の歪み率測定方法およびその装置の構成を示している。図2において、1はアナログ低域通過フィルタ、2はAD変換器である。3はディジタル低域通過フィルタ、4はダウンサンプラ、5はディジタル帯域除去フィルタ、6はレベル測定器であり、これらにより歪みレベル測定部7が構成されている。8は入力レベル測定部、9は歪み率演算部である。
【0003】
上記構成において、アナログ低域通過フィルタ1は、基本成分である正弦波信号x(t)と高調波およびノイズ成分v(t)からなる被測定信号x(t)+v(t)をAD変換器2によりAD変換する際の折り返し成分を除去する。AD変換器2によってディジタルデータに変換された披測定信号x(n)+v(n)は、歪みレベル測定部7のディジタル低域通過フィルタ3とダウンサンプラ4を経由して、被測定信号の基本波成分である正弦波x(n)を除去するディジタル帯域除去フィルタ5によって処理され、高調波成分あるいはノイズ成分からなる歪み成分v(n)を抽出し、その電力eを歪みレベル測定器6により測定する。ディジタル帯域除去フィルタ5は、被測定信号の基本波x(n)の周波数に対応して除去する周波数を可変できる構成となっている。また、ディジタル低域通過フィルタ3とダウンサンプラ4によって、ディジタル帯域除去フィルタ5において処理されるデータのサンプリング周期を可変する構成となっている。
【0004】
被測定信号の基本波周波数がAD変換器2のサンプル周期に対して低くなると、ディジタル帯域除去フィルタ5の係数の精度が必要となってくる。ディジタル帯域除去フィルタ5のフィルタ係数語長とAD変換器2のサンプル周波数から測定できる周波数範囲が決定される。周波数範囲より低い周波数の被測定信号を測定する場合、AD変換器2から出力されたデータを、ディジタル低域通過フィルタ3とダウンサンプラ4によって、ディジタル帯域除去フィルタ5において処理可能なサンプリング周期に変換し、歪みレベルを測定する。
【0005】
また、AD変換器2でディジタルデータに変換された被測定信号x(n)+v(n)は、ダウンサンプルされることなしに入力レベル測定部8に入力され、被測定信号の全体の電力Eが測定される。測定された入力レベルEと歪みレベルeから、歪み率Dは、式(1)または式(2)によって求められる。
【0006】
【数1】
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の歪み測定装置では、基本波成分x(n)の周波数が低い被測定信号x(n)+v(n)の測定する場合、ディジタル帯域除去フィルタで処理されるデータのサンプル周期を下げる必要があり、それに伴って折り返し歪み除去を目的とする低域通過フィルタにより、被測定信号x(n)+v(n)の帯域が制限されてしまい、低域通過フィルタのカットオフ周波数より高い歪み成分が披測定信号の歪み成分v(n)に含まれている場合、正確な歪み成分として測定できないという問題があった。
【0008】
本発明は、このような従来の問題を解決するものであり、簡単な回路構成で歪み率を高精度かつ高速に測定できる歪み率測定方法およびその装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するために、従来の歪み率測定方法およびその装置に帯域制限後の信号の電力を測定する手段と、帯域制限しない電力との差を演算する手段と、その差を測定した歪み成分の電力に加算する手段を追加したものであり、広帯域にわたって高い精度で歪み率を測定できるという有効な効果が得られる。
【0010】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項1に記載の発明は、被測定信号であるオーディオ帯域の信号をAD変換器にてディジタルデータに変換し、測定の対象とする時系列データを、ダウンサンプルを行わずに全帯域の電力を測定するとともに、必要に応じて帯域制限とダウンサンプルを行うと同時に被測定信号の基本波成分をディジタル帯域除去フィルタによって除去し抽出した歪み成分の電力を測定し、さらに歪みレベルの測定において帯域制限とダウンサンプルを行なった時系列データの電力を求め、ダウンサンプルを行なわない時系列データの全帯域の電力との差を演算し、その結果を歪み成分の電力に加算することを特徴とする歪み率測定方法であり、これにより、歪みレベル測定時の帯域制限によって除去された高域歪み成分の電力を特別なフィルタ処理を行なうことなく求めることができ、従来の歪み率測定方法では測定できなかった広帯域の歪み成分の測定が簡単な構成の追加によって可能となる。
【0011】
本発明の請求項2に記載の発明は、被測定信号であるオーディオ帯域の信号をAD変換器にてディジタルデータに変換し、測定の対象とする時系列データを、ダウンサンプルを行わずに全帯域の電力を測定する入力レベル測定部と、必要に応じて帯域制限とダウンサンプルを行うと同時に被測定信号の基本波成分をディジタル帯域除去フィルタによって除去し抽出した歪み成分の電力を測定する歪みレベル測定部と、を備えた歪み率測定装置において、さらに歪みレベル測定部で帯域制限とダウンサンプルを行なった時系列データの電力を求める手段と、前記入力レベル測定部で測定された被測定信号の全帯域の電力と、歪みレベル測定部で帯域制限とダウンサンプルを行なった時系列データの電力との差を演算する手段と、前記入力レベル測定部で測定された被測定信号の全帯域の電力と、前記歪みレベル測定部で帯域制限とダウンサンプルを行なった時系列データの電力との差を演算した結果を、歪みレベル測定部において測定された結果に加算する手段を備える歪み率測定装置であり、これにより、帯域制限された時系列データの電力を得ることができ、また、帯域制限によって除去された高域の歪み成分の電力を求めるとともに、帯域制限しない歪み成分の電力をも得ることができ、簡単な回路構成で歪み率を高精度かつ高速に測定することができる。
【0014】
(実施の形態)
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態における歪み率測定装置の構成を示すものである。図1において、11はアナログ低域通過フィルタ、12はAD変換器である。13はディジタル低域通過フィルタ、14はダウンサンプラ、15はディジタル帯域除去フィルタ、16はレベル測定器であり、これらにより歪みレベル測定部17が構成される。18は入力レベル測定部、19は帯域制限信号レベル測定手段、20は差分演算手段、21は加算手段、22は歪み率演算部である。
【0015】
上記構成において、アナログ低域通過フィルタ11は、基本成分である正弦波信号x(t)と高調波およびノイズ成分v(t)からなる被測定信号x(t)+v(t)をAD変換器12によりAD変換する際の折り返し成分を除去する。AD変換器12によってディジタルデータに変換された披測定信号x(n)+v(n)は、歪みレベル測定部17のディジタル低域通過フィルタ13とダウンサンプラ14を経由して、被測定信号の基本波成分である正弦波x(n)を除去するディジタル帯域除去フィルタ15によって処理され、高調波成分あるいはノイズ成分からなる歪み成分v(n)を抽出し、その電力eを歪みレベル測定器16により測定する。ディジタル帯域除去フィルタ15は、被測定信号の基本波x(n)の周波数に対応して除去する周波数を可変できる構成となっている。また、ディジタル低域通過フィルタ13とダウンサンプラ14によって、ディジタル帯域除去フィルタ15において処理されるデータのサンプリング周期を可変する構成となっている。
【0016】
被測定信号x(n)+v(n)の基本波成分x(n)の周波数がAD変換器11のサンプル周期に対して低くなると、ディジタル帯域除去フィルタ15の係数の精度が必要となってくる。ディジタル帯域除去フィルタ15のフィルタ係数語長とAD変換器10のサンプル周波数から測定できる周波数範囲が決定される。ディジタル低域通過フィルタ13とダウンサンプラ14によってディジタル帯域除去フィルタ15において処理されるデータのサンプリング周期を可変する構成となっているので、周波数範囲より低い周波数の基本波成分x(n)を持つ被測定信号を測定する場合、AD変換器11で出力されたデータを、ディジタル低域通過フィルタ13とダウンサンプラ14によって,ディジタル帯域除去フィルタ15において処理可能なサンプリング周期の時系列データx’(n)+v’(n)に変換する。
【0017】
ダウンサンプルされた被測定信号x’(n)+v’(n)は、基本波成分x’(n)を除去するディジタル帯域除去フィルタ15によって処理され、ディジタル低域通過フィルタ14の通過帯域内の高調波あるいはノイズからなる歪み成分v’(n)のみ抽出され、その電力eが歪みレベル測定器16にて測定される。
【0018】
また、AD変換器11でディジタルデータに変換された被測定信号x(n)+v(n)は、ダウンサンプルされることなしに入力レベル測定部18に入力され、被測定信号の全体の電力Eが測定される。
【0019】
一方、帯域制限信号レベル測定手段19によってディジタル低域通過フィルタ13とダウンサンプラ14を経由し、ディジタル帯域除去フィルタ15に入力されるのと同じ信号x’(n)+v’(n)の電力E' の測定を行なう。
【0020】
次に、差分演算手段20により入力レベル測定部18の測定結果Eと、帯域制限信号レベル測定部19の測定結果E' との差E−E' を演算する。これは、歪みレベル測定部17のディジタル低域通過フィルタ15で除去された歪み成分の電力に相当する。
【0021】
さらに、加算手段21において差分演算手段20の結果と歪みレベル測定部17で測定された歪みレベルeに加算することにより、帯域制限しない被測定信号x(n)+v(n)の歪み成分v(n)の電力を求めることができる。
【0022】
歪み率演算部22は、加算手段21で加算された結果e+(E−E’)と、入力レベル測定部18で測定された結果Eを入力とし、各入力の比を算出した結果Dを出力する。関係式は以下の(3)または(4)で示される。
【0023】
【数2】
【0024】
なお、上記構成において、AD変換器 12 で出力されたディジタルデータをメモリに格納し、メモリに格納されたデータを入力レベル測定部18、歪みレベル測定部7のそれぞれに入力するようにしてもよい。その場合、各測定で利用するデータを共通で利用するため、測定時間を短縮することができる。
【0025】
以上のように、本実施の形態によれば、ディジタル低域通過フィルタ13とダウンサンプラ14を経由した信号の電力と、それらを経由しない信号の電力との差分を取り、それを補正値として歪み成分の電力に加算することによって、測定時間を延ばすことなしにアナログ低域通過フィルタ11の通過帯域内で一様な精度で歪み率を測定することが可能となる。
【0026】
【発明の効果】
上記の実施の形態から明らかなように、本発明によれば、従来の歪み率測定方法およびその装置に帯域制限後の信号の電力を測定する手段と、帯域制限しない電力との差を演算する手段と、その差を測定した歪み成分の電力に加算する手段を追加することによって、広帯域にわたって高い精度で歪み率を測定できるという有効な効果が得られる。これによって、高い歪み成分を含む低周波信号の歪み率を正確に測定することが可能となる。また、追加した手段に関しては、歪み測定部のフィルタの特性や測定する信号によって調整や係数の設定などの作業は一切不要であり、メンテナンスの必要がないという効果が得られる。さらに、従来の歪み率測定方法およびその装置に必要な処理時間を延ばすことなく広帯域の歪み成分を測定できるという効果も得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態における歪み率測定装置の構成を示すブロック図
【図2】従来例における歪み率測定装置の構成を示すブロック図
【符号の説明】
11 アナログ低域通過フィルタ
12 AD変換器
12 ディジタル低域通過フィルタ
14 ダウンサンプラ
15 ディジタル帯域除去フィルタ
16 歪みレベル測定器
17 歪みレベル測定部
18 入力レベル測定部
19 帯域制限信号レベル測定手段
20 差分演算手段
21 加算演算手段
22 歪み率演算部
Claims (2)
- 被測定信号であるオーディオ帯域の信号をAD変換器にてディジタルデータに変換し、測定の対象とする時系列データを、ダウンサンプルを行わずに全帯域の電力を測定するとともに、必要に応じて帯域制限とダウンサンプルを行うと同時に被測定信号の基本波成分をディジタル帯域除去フィルタによって除去し抽出した歪み成分の電力を測定し、さらに歪みレベルの測定において帯域制限とダウンサンプルを行なった時系列データの電力を求め、ダウンサンプルを行なわない時系列データの全帯域の電力との差を演算し、その結果を歪み成分の電力に加算することを特徴とする歪み率測定方法。
- 被測定信号であるオーディオ帯域の信号をAD変換器にてディジタルデータに変換し、測定の対象とする時系列データを、ダウンサンプルを行わずに全帯域の電力を測定する入力レベル測定部と、必要に応じて帯域制限とダウンサンプルを行うと同時に被測定信号の基本波成分をディジタル帯域除去フィルタによって除去し抽出した歪み成分の電力を測定する歪みレベル測定部と、を備えた歪み率測定装置において、
さらに歪みレベル測定部で帯域制限とダウンサンプルを行なった時系列データの電力を求める手段と、前記入力レベル測定部で測定された被測定信号の全帯域の電力と、歪みレベル測定部で帯域制限とダウンサンプルを行なった時系列データの電力との差を演算する手段と、前記入力レベル測定部で測定された被測定信号の全帯域の電力と、前記歪みレベル測定部で帯域制限とダウンサンプルを行なった時系列データの電力との差を演算した結果を、歪みレベル測定部において測定された結果に加算する手段を備えることを特徴とする歪み率測定装置。
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JP15989296A JP3664812B2 (ja) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | 歪み率測定方法およびその装置 |
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JP15989296A JP3664812B2 (ja) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | 歪み率測定方法およびその装置 |
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JPH1010169A JPH1010169A (ja) | 1998-01-16 |
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1996
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