TW295675B - The chip bonding system - Google Patents

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TW295675B TW084101771A TW84101771A TW295675B TW 295675 B TW295675 B TW 295675B TW 084101771 A TW084101771 A TW 084101771A TW 84101771 A TW84101771 A TW 84101771A TW 295675 B TW295675 B TW 295675B
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xing-sheng Wang
Shyh-Ming Jang
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Ind Tech Res Inst
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    • HELECTRICITY
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector

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  • Wire Bonding (AREA)

Description

Α7 Β7 五、發明説明(1.) 發明背景 隨著大型積體電路(LSI)技術的不斷演進,電子元件正朝向輕、薄、短、 小的方向發展,而電子元件的構裝技術,也有很大的變革,其中本發明案係 用於玻璃基板接合(Chip-on-Glass; COG)及翻轉式接合(Flip-Chip)的技術。 所謂玻璃基板接合技術,是將晶片上微凸塊與基板上電極緊密接觸,達 到接點導通的效果,因其多用於玻璃基板上,故稱爲玻璃基板接合。現有的 玻璃基板接合機。如圖一所示,係用一組攝影機1由下方取像,將晶片2上I/O 銲墊與基板3銲墊,一起顯示於顯示器上。由於基板爲透明玻璃,故可利用影 像之明暗’以人眼辨識晶片與基板,再利用人工調整晶片與基板的位置,完 成對位。此種設備結構雖然簡單,但由於晶片與基板的影像重疊,機器無法 辨識’在影像處理上無法自動化處理,耗費人工及時間。 翻接式接合技術是指接合時翻轉晶片,以便其上的球形銲錫凸塊,與基 板上的銲墊對位及融接,或再次流銲以融接晶片於基板上。現有的翻轉式接 合機如圖二所示,多利用分光折射鏡4伸入晶片2與基板3之間,同時由攝影機 1取出晶片與基板的影像,加以處理,然後對位。由於利用光折射原理,對光 學系統的精度要求很高,價格非常昂貴。 發明的簡要說明 本發明利用多架攝影機,分別攝取基板和晶片的影像,利用機器辨識處 理’可以自動得出彼此的偏差量,據此來進行基板和晶片間的對準。本案發 明可用於玻璃基板(如LCD)的接合,也可用於翻轉式接合,係一多用途的接合 系統。 本發明的另一特徵是具有一自動水平調整的放置頭,可調整晶片與基板 的平行度達1 /zm。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝- 、-ιτ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) A7 B7 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 五、發明説明(2.) 圖示及圖號的簡要說明 圖一及圖二是傳統的晶片接合機 圖三是本案發明的晶片接合系統的示意圖 圖四至圖七是本案發明的系統使用時,對準過程的示意圖 圖八是本案發明接合系統的實施例 圖九是本案發明接合系統的實施例中,放置頭的放大圖 圖十是本案發明接合系統的實施例中,放置頭的剖視圖 1 攝影機 2 晶片 3 基板 4 分光鏡 5 機架 6 機板 7 骨架 8 滑軌 81定位磁環 9 下壓裝置 9a壓桿 10放置頭 10a凸桿 11支撐板 110軸心 112支持架 114 7_K平調整螺絲 115固定螺絲 116環狀平板 118Α,118Β球狀軸承 12外套筒 121隔熱套筒 124氣室 13加熱頭 130隔熱孔 131 吸口 132加熱棒插入口 20晶片 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 、1Τ 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) Α4規格(210Χ297公簸) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(3 ) 30、40、45攝影機 50基板 60影像處理裝置 70 Χ-Υ-0三軸工作台 75基板置放台 78晶片置放台 動作原理_ 一 如圖三所示,在本發明中’放置頭10的機械動作是固定的,亦即在位置(1) 抓取待接合的晶片20後,移動固定的距離至位置(2),放下晶片20。而攝影機 30和攝影機4〇分別攝取晶片20與基板5〇的影像,送到影像處理裝置60(如電腦) 處理,計算出晶片與基板的偏移量後,即帶動χ_γ_θ三軸工作台70,使基板 50與晶片20對準。最後使放置頭降下,放下晶片20,加熱、加壓後完成接 合。當所用基板50不透明(如矽基板)時,就改用攝影機45來攝取基板50的影 像。 對準流程 本發明之接合系統對準時的動作流程如下: a. 放置頭1〇抓取晶片20至固定位置(1)取像後,移動固定距離,到位置(2)待 命, b. 攝影機30所取得晶片20的影像,由電腦60計算晶片影像的中心點與傾斜 角, c. 在進行b.的同時,攝影機40(或攝影機45)取得基板50的影像,計算其中心 點與傾斜角, d. 當b.,c.完成後,計算彼此的偏差量,轉換成X-Y- 0三個向度上需移動的 量,驅動Χ-Υ-0工作台7〇,使基板上的圖樣和晶片20對準, e. 使放置頭下降,放下晶片20,完成接合動作。 偏差量的計算 ί~~參考·,以校準後的放置頭10,分別於位置(1)、(2)在攝影機30及攝影 機40中之位置爲參考位置Prefl,,分別得到(Xrefl,Yrefl)及 (Xref2 ’ Yref2)的座標,與放置頭平行移動軸Al〇的夾角分別爲6refl ’ Θ ref2 ° 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 X' Cos6d Sin0d ' Xs -Χτ Y -Sin0d CosGd Ί A7 B7 五、發明説明(4 ) b. 本發明實施時’以攝影機30攝取晶片20的影像,參考圖五A ’在攝影機30 的影像範圍32中可看到晶片20的中心及其傾斜角^,晶 片20與參考位置Prefl的誤差量爲(X〇ffc,Y〇ffc),其中: xoffc=Xc—Xref 1 Y〇ffc=Yc—Yrefl 而晶片2〇與放置頭移動軸八1〇的夾角0(^01(}一01.^1 c. 再以攝影機4〇攝取基板30的影像,參考圖五b,在攝景多機40的影像範圍42 中可看到基板30的中心點PS = (XS ’ Ys)及其傾斜角0s,基板3〇與參考位 置pref2的誤差量爲(X〇ffs,Y〇ffs),其中: X〇ffs=Xs—Xref2
Yoffs=Ys—Yief2 而基板30與放置頭移動軸A10的夾角0 s = 0 is— 0 ref2 d. 當放置頭l〇由位置(1),移動到位置(2)時,如圖六所示晶片20與基板30上 弓丨腳圖形的傾斜角差(0d)爲: 0 d= 0 c— 0 s 而晶片20在攝影機30的座標(Xc,Yc)需換算爲在攝影機4〇的座標(Xc,, Yc〇。因參考位置Pren與參考位置pref2的位置現在重疊,晶片20的位置 等於參考位置Pref2加上原先的誤差量,所以
Xc -Xref2+X〇ffc-Xs—X〇ffs+X〇ffc=Xs—X〇ffcs Yc — Yref2 + Y〇ffc — Ys 一Y〇ffs + Yoffc^Ys 一Y〇ffcs e. 本發明系統之設計是抓取晶片20的放置頭不動,而由X_Y_ 0三軸工作台 70帶動基板’使其上的引腳圖形與晶片20對準。請參考圖七的說明,使 基亨5〇傾斜角與晶片2〇的傾斜角一致’亦即三軸工作台7〇以其 中心旋轉6>d,此時原來基板5〇中心點座標爲PS = (XS,Ys),旋轉後的^ 板52中心點變成了ps’=(xs’ ’ ys,)。若以χυ三軸工作台7〇的座標來表 示,則
Xs’=X + Xt ys’=y+Yt 其中’ Ρτ = (Χτ ’ γτ)是Χ-Υ-0三軸工作台70的中心點座標,p = (x,γ 貝㈣(Xs,Ys)對XU三軸工作台70中心旋轉心後的座標,即 f— _ —! Γ— __ 戶斤以^C-Y-0三軸工作台7〇需移動的量包括X、Y、0三個向度,分別爲: xc’—Xs’=(Xs—X0ffcs)—[Cos 0 d(xs—Xt) + Sin 0 d(Ys—γΤ)+χΤ] 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) I---------i 裝-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 Α7 Β7 五、發明説明(5) =(l—Cos 0 d)(Xs—XT)—Sin 0 d(Ys—YT)—x〇ffcs
Yc’—Ys’ = (Ys—Yoffcs)—[一 Sin Θ d(Xs—XT) + Cos 6» d( Ys—YT) + Υτ] = Sin Θ d(Xs—Χτ)+(1 - Cos 0 d)(Ys—γτ)—Y〇ffcs 0 d = Θ c— 0 s。 實施例 如圖八所示,本案發明的實施例中,系統的支持部份包含機架5、機板6 及骨架7。機架5承載整個系統’機板6是機架5的水平檯面,而骨架7則包含一 7_K平的上頂面以及上頂面兩側垂直機板6的側板。 機板5上有Χ-Υ-0三軸工作台70,此工作台上又安置基板置放台75,可用 來放置欲接合的基板50,使其可在X、Υ、0三軸上移動。機板丨上另有晶片 置放台78,用來放置欲接合的晶片20。基板置放台75的上下方各設置有攝影 機40,45 ’分別固定在機板6和骨架7上;晶片置放台π下方也設置一組攝影 機30,固定在機板6上。 骨架7的二側板之間有二橫桿作爲滑軌8,可供放置頭1〇左右移動,而骨 架7的上頂面則ί固定二具下壓裝置9,位於基板置放台乃與晶片置放台78的正 上方。當放置頭10移至晶片20上方,利用下壓裝置9使放置頭下壓,吸取晶片 20,經攝影機30取像後’將放置頭10移至基板50上方。待攝影機30所取晶片 20的影像’與攝影機45所取基板50之影像經電腦(未畫出)計算彼此之偏差量, 控制Χ-Υ- 0三軸工作台7〇帶動基板50與晶片20彼此對準後,則利用基板50上 方之下壓裝置9,壓住此放置頭10往下降以進行接合的步驟。 控制放置頭10下降的動作,可將下壓頭9分別與一座Ζ軸工作台相連,而 由電腦控制帶動。亦可直接在下壓頭9上加設壓桿9a,而以手動的方式控制。 圖中所繪一具下壓裝置與Z軸工作台91相連,係半自動的作法。 移動放置頭10,可利用其上之凸桿10a,以手動的方式,或者以馬達帶 動,以自動的方式移動。放置頭10移至定位後,可利用滑軌8兩側末端放置之 _磁性定位環81(如圖中所示),也可利用市面上自動定位系統以自動化的方式來 定位。 如圖九所示,放置頭10的主要組成部份,包含一支撐板11、外套筒12及 加熱頭13。其中支撐板11透過兩軸心110與一支持架112相連,此支持架112即 安置在橫桿滑軌8上,可帶動此放置頭在滑軌上移動。 請參考圖十的剖面圖,由於接合時有時需有加熱的步驟,爲避免熱的散 失,在此加熱頭13的周圍安有耐高溫的隔熱套筒121及外套筒12。此外,在加 熱頭13本身鑽有X,Y,Z三方向之數個多重隔熱孔130,而隔熱套筒121與外套筒 12間也設計許多的氣室124,均有助於達到隔絕熱散失的作用。加熱頭底部鑽 本紙張又度適用中困國家梂準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) 83. 3.10,000 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 訂· A7 B7 五、發明説明(6 ) 有吸口 131,另一端可接至眞空幫浦(未畫出),抽眞空後作爲眞空吸取晶片 20。而加熱棒插入口 132,則供插入加熱用之熱導線(未畫出)。 本案發明之放置頭,具有自動水平調整之功能,可調整所吸取晶片20與 基板50間的平行度達l#m。使用時先利用粗調用之水平調整螺絲114,將水平 精度調整至l〇〇#m〜50#m,然後以點膠115或調整螺絲II4背上再加一螺絲 (未畫出),利用雙螺絲予以固定。而且爲防止加熱頭13產生旋轉,可將上述水 平調整螺絲114的底端改用塑膠頭,利用此塑膠頭與環狀平板116上V型凹槽 的配合,來固定力卩熱頭13。在軸心117的兩側有球狀軸承118A,軸承座11SB ’ 利用它可在各方向移動的特性,在下壓時可使所吸取之晶片2〇與基板50之間 達到1/zm的水平精度。 I 「.裝 ^訂 if-νΛ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央搮準局貝工消费合作社印製 本紙張尺度逋用中國國家榡準(CNS ) A4規格(21〇x297公釐) 83.3.10,000

Claims (1)

  1. 經濟部中央梂準局貝工消费合作社印製 ·Λ8 Β8 C8 ^__2!_ I ---------- ----- -- '申請專利範圍 •:種接合系統,可將積體電路晶片接合至透明或不透明基板的接合銲墊 上,係包含: 〜放置頭,可供抓取需接合的積體電路晶片; 板置放台,放置基板用; 〜,一組攝影機’置於基板置放台上方,當所用基板爲不透明時,可向下 $@基板的接合銲墊位置的影像; 一第二組攝影機,置於晶片下方,待放置頭抓起晶片時,可向上攝取晶片 巧合銲墊位置的影像; 〜第三組攝影機,置於基板置放台下方,當所用基板爲透明的材料時,可 向上攝取基板接合銲墊的位置的影像; 一影像訊號處理裝置,接受第一及第二組,或者第三及第二組攝影機所傳 的影像訊號,計算兩者的偏差量,藉此調整所述基板置放台的位置,使 基板與晶片彼此對準。 2. 如申請專利範圍第丨項所述之接合系統,其中的影像訊號處理裝置係一電 腦。 3. 如申請專利範圍第丨項所述之接合系統,其中所述放置頭中包含一球形軸 承,下壓時可以自由調整放置頭下壓於基板的底面,使基板與放置頭所抓 取的晶片彼此平行。 4. 如申請專利範圍第〗項所述之接合系統,其中所述放置頭包含一加熱頭, &所述基板與積體電路晶片對準下壓後,可以加熱完成接合的動作。 5. 如申請專利範圍第4項所述之接合系統,其中所述放置頭在所含之加熱頭 外^隔熱用之套筒及最外面之外套筒,套筒與外套筒間有氣室,而所述加 熱頭尙鑽有Χ,Υ,Ζ三軸方向上之隔熱孔,使加熱頭的熱不致散失。 6. —種接合系統,可將積體電路晶片接合至透明或不透明基板的接合銲墊 上,係包含: 一支持用的工作檯,至少包含一水平的工作檯面; 一骨架,固定於所述水平檯面上,包含一水平的上頂面以及上頂面兩側垂 直所述水平檯面的側板; 一 Χ-Υ- 0三軸工作台,置於所述工作檯面上,其上有一基板置放台,可供 放置基板用; 一晶片置放台,置於所述工作檯面上; 一滑軌,固定在骨架之兩側板之間,而平行於工作檯面; 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > Α4规格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 裝. 、1Τ 經濟部中夬樑率局貞工消费合作社印*. • A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 —放置頭,固定在所述滑軌上,以便左右移動,可供抓取需接合 的積體電路晶片; —第一組攝影機,固定在骨架之上頂面,正對準於基板置放台, 當所用基板爲不透明,可向下攝取基板的接合銲墊位置影像; —第二組攝影機,固定於工作檯上,對準晶片置放台,待放置頭 抓起晶片時,可向上攝取晶片的接合銲塾位置的影像; —第三組攝影機,固定於工作檯上,對準基板置放台,當所用基 板爲透明,可向上攝取基板的接合舞墊位置的影像; 一影像訊號處理裝置,接受第一及第二組,或者第三及第二組攝 影機所傳的影像訊號,計算兩者的偏差,藉調整所述Χ-Υ-0三' 軸工作台及其上基板雛台的位置,使麵與晶片彼此對準。 7.如申請專利範圍第6項之接合系統,其中所述放置頭包含一眞空吸 口,可用以吸取晶片。 8_如申請專利範圍第7項之接合系統,其中所述放置頭尙包含一加熱 頭,在所述基板與積體電路晶片對準下壓後,可以加熱完成接合 的動作。 9. 如申請專利範圍第8項之接合系統,尙包含: —第一下壓裝置,固定於骨架之上頂面,對準晶片置放台; 一第二下壓裝置,固定於骨架之上頂面,對準基板置放台; 當吸取晶片時,待放置頭移至晶片置放台上方,由所述第一下壓 裝置壓下所述放置頭而吸取晶片,而當接合時,待放置頭與所吸 取晶片移至基板置放台上方,並且基板置放台調整位置,完成基 板與晶片間的對準後,可由所述第二下壓裝置壓下放置頭而完成 接合。 10. 如申請專利範圍第8項之接合系統,其中所述放置頭在所含之加熱 頭外有隔熱用之套筒及最外面之外套筒,套筒與外套筒間有氣 室,而所述加熱頭尙鐄有X»Y,Z三軸方向上之隔熱?L,使加熱頭的 熱不致散失。 11. 如申請專利範圍第6項之接合系統,其中所述放置頭包含一球形軸 承,下壓時可以自由調整放置頭下壓於基板的底面,使基板與放 置頭所抓取的晶片彼此平行。 12. 如申請專利範圍第11項之接合系統,其中所述之放置頭尙包含水 平調整螺絲,可用腫調水平精度。 逋用中國國家椹準(CNS ) Α4Λ#· ( 210X297公釐) --------I-丨裝------訂-----Γ線 (請先H讀背面之注f項再#寫本頁)
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