TW202306326A

TW202306326A - 電路裝置

Info

Publication number: TW202306326A
Application number: TW111125388A
Authority: TW
Inventors: 藤井嵩大; 高橋精吾
Original assignee: 日商發那科股份有限公司
Priority date: 2021-07-30
Filing date: 2022-07-06
Publication date: 2023-02-01
Also published as: DE112021007305T5; WO2023007752A1; JPWO2023007752A1; CN117652102A; JP7111913B1; TWI813369B

Abstract

提供一種能以高速且以高解析度實現A/D轉換的電路裝置。電路裝置具備：增益調整電路，其調整從感測器輸出之類比輸出訊號的增益；偏移調整電路，其調整前述類比輸出訊號的偏移電壓；A/D轉換器，其將前述類比輸出訊號轉換成數位訊號；及控制部，其基於剛由前述A/D轉換器轉換而成之數位訊號的電壓值，來設定前述類比輸出訊號的增益及偏移電壓。

Description

電路裝置

發明領域

本發明是有關於一種電路裝置。

發明背景

進行類比-數位轉換(以下作A/D轉換)的電路裝置為了大的測定範圍且高精度的測定，而需要具有高解析度的A/D轉換器(參考例如專利文獻1)。專利文獻1所記載之積體電路裝置包含放大電路及A/D轉換器，前述A/D轉換器是進行針對放大電路之輸出訊號的A/D轉換，放大電路是藉由切換電容(switched capacitor)電路來構成，前述切換電容電路取消放大電路所具有之運算放大器的偏移(offset)電壓。先行技術文獻專利文獻

專利文獻1：日本特開2012-44347號公報

發明概要發明欲解決之課題

然而，由於具有高解析度的A/D轉換器耗費在A/D轉換的時間甚長，因此有時無法在期望的時間內將類比訊號轉換成數位訊號。因此，尋求一種能以高速且以高解析度實現A/D轉換的電路裝置。用以解決課題之手段

本揭示之一態樣的電路裝置具備：增益調整電路，其調整從感測器輸出之類比輸出訊號的增益；偏移調整電路，其調整前述類比輸出訊號的偏移電壓；A/D轉換器，其將前述類比輸出訊號轉換成數位訊號；及控制部，其基於剛由前述A/D轉換器轉換而成之數位訊號的電壓值，來設定前述類比輸出訊號的增益及偏移電壓。發明效果

若依據本發明，能以高速且以高解析度來實現A/D轉換。

用以實施發明之形態

以下說明本發明的實施形態的一例。圖1是表示本實施形態之電路裝置1的構成的方塊圖。如圖1所示，電路裝置1具備感測器11、增益調整電路12、放大電路13、A/D轉換器14、偏移調整電路15及微電腦16。

感測器11是以溫度感測器、壓力感測器、流量感測器等來構成，檢測任意的物理量，並作為檢測結果而輸出類比輸出訊號。

增益調整電路12是與感測器11、電阻R2、放大電路13及微電腦16電連接。增益調整電路12包含例如數位電位計(digital potentiometer)。增益調整電路12基於來自微電腦16的增益調整指令，藉由數位電位計來變更可變電阻R1的電阻值，藉此調整從感測器11輸出的類比輸出訊號的增益(放大率)。再者，於本實施形態，電阻值是相對於增益無歧異地決定。

放大電路13是與增益調整電路12、電阻R2、A/D轉換器14及偏移調整電路15電連接。放大電路13將由偏移調整電路15調整過的偏移電壓，添加於由增益調整電路12調整過的類比輸出訊號。然後，放大電路13將添加有偏移電壓的類比輸出訊號放大。放大電路13將已放大的類比輸出訊號輸出至A/D轉換器14。如此，可變電阻R1、電阻R2及放大電路13構成反相放大電路，可從可變電阻R1及電阻R2的電阻值來決定增益。

A/D轉換器14是與放大電路13及微電腦16電連接。A/D轉換器14將已由放大電路13放大的類比輸出訊號轉換成數位訊號(A/D轉換)。A/D轉換器14將已被A/D轉換的數位訊號輸出至微電腦16。

偏移調整電路15是與放大電路13及微電腦16電連接。偏移調整電路15具備例如D/A轉換器、數位電位計等。偏移調整電路15藉由D/A轉換器、數位電位計等來調整分壓，藉此基於來自微電腦16的偏移調整指令來調整類比輸出訊號的偏移電壓。

微電腦16是與增益調整電路12、A/D轉換器14及偏移調整電路15電連接，以執行各種控制功能。又、微電腦16具備控制部161，前述控制部161控制增益調整電路12、A/D轉換器14及偏移調整電路15。

控制部161基於剛由A/D轉換器14轉換而成之數位訊號的電壓值，來設定增益調整電路12之類比輸出訊號的增益及偏移調整電路15的偏移電壓。如此，本實施形態的電路裝置1動態地變更類比輸出訊號的增益及偏移電壓，將已變更的類比輸出訊號進行A/D轉換，藉此能以比增益固定時更高速且更高的解析度來實現A/D轉換。以下說明第1實施形態及第2實施形態之電路裝置1的具體處理。

[第1實施形態] 圖2是表示第1實施形態之電路裝置1的處理的流程圖。於步驟S1，電路裝置1進行第1次的增益及偏移電壓的調整。具體而言，控制部161向增益調整電路12輸出增益調整指令，以將類比輸出訊號的第1增益G ₁設定為G ₁=1。

進而，控制部161向偏移調整電路15輸出偏移調整指令，以將類比輸出訊號的第1偏移電壓V _off1設定為V _off1=V _{off_init}。

在此，增益G ₁為1時，A/D轉換的解析度為最小，A/D轉換的測定範圍為最大。又，V _{off_init}是例如工廠出貨時已設定之值。

然後，感測器11輸出類比輸出訊號V _a，增益調整電路12基於增益調整指令，來調整類比輸出訊號V _a的第1增益G ₁。偏移調整電路15基於偏移調整指令來調整第1偏移電壓V _off1。

於步驟S2，電路裝置1進行第1次A/D轉換。具體而言，放大電路13將由偏移調整電路15調整過的第1偏移電壓V _off1，添加於由增益調整電路12調整過增益的類比輸出訊號。然後，放大電路13將添加有第1偏移電壓V _off1的類比輸出訊號放大。放大電路13將已放大的類比輸出訊號輸出至A/D轉換器14。

A/D轉換器14將已由放大電路13放大的類比輸出訊號轉換成數位訊號。A/D轉換器14將已被A/D轉換的第1數位訊號V _b1輸出至微電腦16。又，A/D轉換器14亦可將與A/D轉換中之溢位及/或欠位的發生有關的資訊，輸出至微電腦16。

於步驟S3，電路裝置1取得第1次的計測資訊。具體而言，控制部161基於從A/D轉換器14輸出之第1數位訊號V _b1，來計算第1次測定的第1感測器電壓V _d1。第1感測器電壓V _d1可藉由使用下述式(1)來計算。

[數1]

在此，V _{upper_lim_max}及V _{lower_lim_min}分別是增益最小時(增益及偏移電壓為初始值時)之測定範圍的上限值及下限值，這些值是事前可知道之值。V _b1是從A/D轉換器14得到之電壓，V _b1是二進制之值。N是V _b1的位元數。再者，式(1)之(V _b1) ₁₀表示V _b1之十進制之值。

圖3是表示第1實施形態之將類比輸出訊號轉換成數位訊號的處理的圖。如圖3所示，類比輸出訊號V _a是由A/D轉換器14進行A/D轉換，第1感測器電壓V _d1是基於從A/D轉換器14輸出的第1數位訊號V _b1來計算。

返回圖2，於步驟S4，電路裝置1設定A/D轉換的第2增益G ₂及第2偏移電壓V _off2。具體而言，控制部161基於第1感測器電壓V _d1、式(2)及式(3)，來計算第2次測定之第2增益G ₂及第2偏移V _off2的設定值。 G ₂=2 ^K…(2) V _off2=V _d1…(3)

在此，式(2)是使解析度比第1次A/D轉換的解析度提高Kbit時之增益的設定。K是事前決定之值。式(3)將第2偏移電壓V _off2設定為第1感測器電壓V _d1。於第2次測定，提高了解析度，但測定範圍反而變窄。因此，只測定到在第1次測定所得到之第1感測器電壓V _d1附近的電壓。依據此，若假設A/D轉換器14原本的解析度為Nbit，得到之測定值的解析度則為N+Kbit。

圖4是表示第1實施形態之增益的定義的圖。如圖4所示，增益G定義為： G･(V _{upper_lim}-V _{lower_lim})=ΔV _ma(=一定)

又，如圖4所示，於第1次A/D轉換中，增益設定為G1=1，測定範圍是A/D轉換器14的最大可測定範圍(全範圍(full range))。然後，於第2次A/D轉換中，當式(2)中K=1時，增益設定為G2=2，解析度變得比第1次A/D轉換的解析度高，測定範圍為第1次A/D轉換的測定範圍的1/2。

返回圖2，於步驟S5，電路裝置1進行第2次的第2增益G ₂及第2偏移電壓V _off2的調整。具體而言，控制部161向增益調整電路12輸出增益調整指令，增益調整電路12基於增益調整指令，來將類比輸出訊號的第2增益G ₂調整為G ₂=2 ^K。進而，控制部161向偏移調整電路15輸出偏移調整指令，偏移調整電路15基於偏移調整指令，來將類比輸出訊號的第2偏移電壓V _off2調整為V _off2=V _d1。

於步驟S6，電路裝置1進行第2次A/D轉換。具體而言，放大電路13將由偏移調整電路15調整過的第2偏移電壓V _off2，添加於由增益調整電路12調整為第2增益G ₂的類比輸出訊號。然後，放大電路13將添加有第2偏移電壓V _off2的類比輸出訊號放大。放大電路13將已放大的類比輸出訊號輸出至A/D轉換器14。

A/D轉換器14將已由放大電路13放大的類比輸出訊號轉換成第2數位訊號V _b2。A/D轉換器14將已被A/D轉換的第2數位訊號V _b2輸出至微電腦16。又，A/D轉換器14是將與A/D轉換中之溢位及/或欠位的發生有關的資訊，輸出至微電腦16。

於步驟S7，電路裝置1取得第2次計測資訊。具體而言，控制部161是於步驟S6，基於從A/D轉換器14輸出之第2數位訊號V _b2，來計算第2次測定的第2感測器電壓V _d2。第2感測器電壓V _d2可藉由使用下述之式(4)至式(6)來計算。再者，式(4)之(V _b2) ₁₀表示V _b1之十進制之值。

[數2]

在此，V _{upper_lim}及V _{lower_lim}分別是第2次A/D轉換之測定範圍的最大值及最小值。V _{upper_lim}是使用式(5)來計算，V _{lower_lim}是使用式(6)來計算。如上述，V _{upper_lim}及V _{lower_lim}是基於第2次測定的增益G ₂及偏移V _off2來計算。

於步驟S8，控制部161將於步驟S7所計算出來之第2感測器電壓V _d2、於A/D轉換時設定之增益及偏移電壓、以及與A/D轉換中之溢位及/或欠位的發生有關的資訊，發送給上位系統。

如此，若依據第1實施形態，控制部161設定類比輸出訊號的第1增益G ₁及第1偏移電壓V _off1，來讓A/D轉換器14的測定範圍與類比輸出訊號的電壓範圍一致，A/D轉換器14將藉由第1增益G ₁及第1偏移電壓V _off1調整過的類比輸出訊號，轉換成數位訊號。

然後，控制部161基於由A/D轉換器轉換而成之第1數位訊號V _b1，來算出第1感測器電壓V _d1，基於第1感測器電壓V _d1，來算出偏移調整電路15之類比輸出訊號的第2偏移電壓V _off2，將增益調整電路12之類比輸出訊號的第2增益G ₂設定為大於第1增益G ₁之值。A/D轉換器14將藉由第2增益G ₂及第2偏移電壓V _off2調整過的類比輸出訊號，轉換成數位訊號。

依據此，第1實施形態之電路裝置1設定第1增益G ₁及第1偏移電壓V _off1，藉此於第1次A/D轉換，在A/D轉換器14的最大測定範圍內，將類比輸出訊號轉換成數位訊號。然後，電路裝置1設定第2增益G ₂及第2偏移電壓V _off2，藉此於第2次A/D轉換縮小A/D轉換器14的測定範圍，且以高解析度將類比輸出訊號轉換成數位訊號。

因此，電路裝置1可於第2次A/D轉換，提高A/D轉換器14的解析度且縮小測定範圍，因此例如電路裝置1可藉由使用低解析度且高速的A/D轉換器14，來高速地進行大範圍且高解析度的A/D轉換。

控制部161進一步基於由A/D轉換器14轉換而成之第2數位訊號V _b2、A/D轉換器14之測定範圍的上限值V _{upper_lim}及下限值V _{lower_lim}，來計算第2感測器電壓V _d2，並將計算出來的第2感測器電壓V _d2發送給上位裝置。藉此，電路裝置1可從藉由大範圍且高解析度的A/D轉換所得到之第2數位訊號V _b2，計算第2感測器電壓V _d2，並將第2感測器電壓V _d2發送給上位裝置。故，電路裝置1可將以高精度測定到之第2感測器電壓V _d2發送給上位裝置。

[第2實施形態] 圖5是表示第2實施形態之電路裝置1的處理的流程圖。第2實施形態的電路裝置1雖具有與圖1所示之電路裝置同樣的構成，但處理內容與第1實施形態的電路裝置1不同。具體而言，第2實施形態的電路裝置1是當從A/D轉換器14輸出之感測器電壓的變化量大時，較大地設定A/D轉換的測定範圍，當從A/D轉換器14輸出之感測器電壓的變化量小時，較小地設定A/D轉換的測定範圍。

於步驟S11，電路裝置1進行增益及偏移電壓的調整。具體而言，控制部161向增益調整電路12輸出增益調整指令，增益調整電路12基於增益調整指令，來調整類比輸出訊號的增益G ₁。

進而，控制部161向偏移調整電路15輸出偏移調整指令，偏移調整電路15基於偏移調整指令，來調整類比輸出訊號的偏移電壓V _off1。在此，增益G及偏移電壓V _off調整為上次測定(例如與圖2之步驟S4的處理相當的處理)中所使用的增益及偏移電壓。

於步驟S12，電路裝置1進行A/D轉換。具體而言，感測器11輸出類比輸出訊號V _a，增益調整電路12基於增益調整指令，來調整類比輸出訊號V _a的增益。放大電路13將由偏移調整電路15調整過的偏移電壓，添加於由增益調整電路12調整過的類比輸出訊號。然後，放大電路13將添加有偏移電壓的類比輸出訊號放大。放大電路13將已放大的類比輸出訊號輸出至A/D轉換器14。

A/D轉換器14將已由放大電路13放大的類比輸出訊號轉換成數位訊號。A/D轉換器14將已被A/D轉換的數位訊號V _b2輸出至微電腦16。又，A/D轉換器14是將與A/D轉換中之溢位及/或欠位的發生有關的資訊，連同數位訊號V _b一同輸出至微電腦16。

於步驟S13，電路裝置1設定測定值的計算、以及增益及偏移的指令值。具體而言，控制部161基於從A/D轉換器14輸出之數位訊號V _b(二進制)，來計算感測器電壓V _d、下次之A/D轉換時之增益G _next及偏移電壓V _{off_next}。

步驟S13的處理是使用圖6來詳細說明。圖6是表示第2實施形態之測定值的計算以及增益及偏移之指令值的設定處理的流程圖。

於步驟S131，控制部161判定A/D轉換中是否發生溢位。發生溢位時(是)，處理移到步驟S132。另，未發生溢位時(否)，處理移到步驟S133。

於步驟S132，控制部161是如下述之式(11)所示，將測定範圍的上限電壓V _{upper_lim}設定為感測器電壓V _d。 V _d=V _{upper_lim}…(11)

於步驟S133，控制部161判定A/D轉換中是否發生欠位。發生欠位時(是)，處理移到步驟S134。另，未發生欠位時(否)，處理移到步驟S136。

於步驟S134，控制部161是如下述之式(12)所示，將測定範圍的下限電壓V _{lower_lim}設定為感測器電壓V _d。 V _d=V _{lower_lim}…(12)

於步驟S135，控制部161計算下次之A/D轉換的增益及偏移電壓的設定值。當於本次的A/D轉換中發生溢位或欠位時，控制部161是如下述之式(13)及(14)所示，為了下次的A/D轉換而將增益G _next及偏移電壓V _{off_next}設定為初始值。 G _next=1…(13) V _{off_next}=V _{off_init}…(14)

於步驟S136，控制部161基於從A/D轉換器14輸出之數位訊號V _b(二進制)、下述式(15)、(16)及(17)來計算感測器電壓V _d。再者，式(15)之(V _b) ₁₀表示V _b之十進制之值。

[數3]

於步驟S137，控制部161計算下次之A/D轉換的增益及偏移電壓的設定值。控制部161使用下述之式(18)來計算增益G _next。

[數4]

亦即，控制部161比較上次之A/D轉換的感測器電壓V _d-1與本次之A/D轉換的感測器電壓V _d。然後，當感測器電壓V _d-1與感測器電壓V _d的變化量小於閾值α時，為了提高解析度，控制部161將增益G _next設定為大於上次的增益之值。

另，當感測器電壓V _d-1與感測器電壓V _d的變化量超過閾值β時，為了擴大測定範圍，控制部161將增益G _next設定為小於上次的增益之值。又，當變化量為閾值α以上或閾值β以下時，控制部161將增益G _next之值維持在上次之值，亦即不使增益G _next之值變化。再者，於式(18)，增益所乘以的係數(2及1/2)是任意值，不限定於上述之值。

進而，控制部161使用下述之式(19)來計算偏移電壓V _{off_next}。 V _{off_next}=V _d+(V _d-V _d-1)…式(19) 亦即，偏移電壓V _{off_next}是將上次的感測器電壓V _d-1與本次的感測器電壓V _d之差，添加於本次的感測器電壓V _d所得之值。藉此，設定為：當感測器電壓的變化量為一定時，感測器電壓會在測定範圍的中心。

於步驟S138，控制部161判定於步驟S137所計算出來之增益G _next是否在預定的範圍內。然後，當增益G _next未在預定的範圍內時，控制部161使用下述之式(20)，將增益G _next設定為增益的上限值(G _next=G _max)或下限值(G _next=1)。

[數5]

返回圖5，於步驟S14，控制部161將於步驟S132、步驟S134或步驟S136所計算出來之感測器電壓V _d、於A/D轉換時設定之增益及偏移電壓、以及與A/D轉換中之溢位及/或欠位的發生有關的資訊，發送給上位系統。

又，控制部161將感測器電壓V _d、於A/D轉換時設定之增益及偏移電壓記憶於微電腦16的記憶區域，以便在下次以後的測定中使用。

圖7是表示第2實施形態之數位訊號的電壓值的變化量與增益及偏移電壓的設定之關係的圖。

如圖7所示，當變化量小於閾值α時，控制部161將增益G _next設定為大於上次的增益之值。當變化量超過閾值β時，為了擴大測定範圍，控制部161將增益G _next設定為小於上次的增益之值。

當變化量為閾值α以上或閾值β以下時，控制部161將增益G _next之值維持在上次之值，亦即不使增益G _next之值變化。又，偏移電壓V _{off_next}是將上次的感測器電壓V _d-1與本次的感測器電壓V _d之差，添加於本次的感測器電壓V _d所得之值。

如此，若依據第2實施形態，控制部161比較基於藉由上次的A/D轉換所得到之數位訊號的感測器電壓V _d-1、與基於藉由本次的A/D轉換所得到之數位訊號的感測器電壓V _d，當從感測器電壓V _d-1到感測器電壓V _d的變化量小於閾值α時，將前述類比輸出訊號的增益G _next設定為大於上次的增益之值，當變化量超過閾值β時，將類比輸出訊號的增益G _next設定為小於上次的增益之值。

藉此，當感測器電壓的變化量小於閾值α時，第2實施形態的電路裝置1可藉由將增益設定為大於上次的增益之值來擴大解析度。另，當感測器電壓的變化量超過閾值β時，電路裝置1可藉由將增益設定為小於上次的增益之值來縮小解析度。因此，電路裝置1可因應感測器電壓的變化量，來設定解析度，高速地進行大範圍且高解析度的A/D轉換。

又，控制部161基於藉由上次的A/D轉換所得到之數位訊號的感測器電壓V _d-1、及基於藉由本次的A/D轉換所得到之數位訊號的感測器電壓V _d，來設定類比輸出訊號的偏移電壓V _{off_next}。藉此，電路裝置1可設定為：當感測器電壓的變化量為一定時，感測器電壓會在測定範圍的中心。

又，A/D轉換器14是連同數位訊號，將與A/D轉換中之溢位及/或欠位的發生有關的資訊一同輸出至控制部161。控制部161是當於A/D轉換中發生溢位時，將感測器電壓V _d作為A/D轉換器14之測定範圍的上限值來算出，當於A/D轉換中發生欠位時，將感測器電壓V _d作為A/D轉換器14之測定範圍的下限值來算出，當於A/D轉換中發生溢位或欠位時，將下次的A/D轉換的增益及偏移電壓設定為初始值。藉此，電路裝置1即使在發生溢位及/或欠位時，仍可將感測器電壓、增益及偏移電壓設定為適當的值。

又，上述各實施形態雖為本發明較佳的實施形態，但本發明的範圍不是只限定於上述各實施形態，能在不脫離本發明之要旨的範圍內以施以各種變更的形態來實施。

1:電路裝置 11:感測器 12:增益調整電路 13:放大電路 14:A/D轉換器 15:偏移調整電路 16:微電腦 161:控制部 G,G _next:增益 G ₁:第1增益 G ₂:第2增益 R1:可變電阻 R2:電阻 S1~S8,S11~S14,S131~S138:步驟 V _a:類比輸出訊號 V _b:數位訊號 V _b1第1數位訊號 V _b2第2數位訊號 V _d:感測器電壓 V _d1:第1感測器電壓 V _d2:第2感測器電壓 V _d-1,V _d-2:感測器電壓 V _{lower_lim}:下限值 V _off:偏移電壓 V _off1:第1偏移電壓 V _off2:第2偏移電壓 V _{off_next}:偏移電壓 V _{upper_lim}:上限值 V _{upper_lim_max}:上限值 V _{lower_lim_min}:下限值 α,β:閾值

圖1是表示本實施形態之電路裝置的構成的方塊圖。圖2是表示第1實施形態之電路裝置的處理的流程圖。圖3是表示第1實施形態之將類比輸出訊號轉換成數位訊號的處理的圖。圖4是表示第1實施形態之增益的定義的圖。圖5是表示第2實施形態之電路裝置的處理的流程圖。圖6是表示第2實施形態之測定值的計算以及增益及偏移之指令值的設定處理的流程圖。圖7是表示第2實施形態之數位訊號的電壓值的變化量、與增益及偏移電壓的設定之關係的圖。

1:電路裝置

11:感測器

12:增益調整電路

13:放大電路

14:A/D轉換器

15:偏移調整電路

16:微電腦

161:控制部

R1:可變電阻

R2:電阻

V_a:類比輸出訊號

V_b:數位訊號

V_d:感測器電壓

V_off:偏移電壓

Claims

一種電路裝置，其具備：增益調整電路，其調整從感測器輸出之類比輸出訊號的增益；偏移調整電路，其調整前述類比輸出訊號的偏移電壓； A/D轉換器，其將前述類比輸出訊號轉換成數位訊號；及控制部，其基於剛由前述A/D轉換器轉換而成之數位訊號的電壓值，來設定前述類比輸出訊號的增益及偏移電壓。
如請求項1之電路裝置，其中前述控制部設定前述類比輸出訊號的第1增益及第1偏移電壓，來讓前述A/D轉換器的測定範圍與前述類比輸出訊號的電壓範圍一致，前述控制部基於由前述A/D轉換器轉換而成之第1數位訊號，來算出第1感測器電壓，基於前述第1感測器電壓，來設定前述偏移調整電路之前述類比輸出訊號的第2偏移電壓，將前述增益調整電路之前述類比輸出訊號的第2增益設定為大於前述第1增益之值。
如請求項2之電路裝置，其中前述控制部是：進一步基於由前述A/D轉換器轉換而成之第2數位訊號、前述A/D轉換器之前述測定範圍的上限值及下限值，來計算第2感測器電壓，將計算出來的前述第2感測器電壓發送至上位裝置。
如請求項1之電路裝置，其中前述控制部是：比較基於藉由上次的A/D轉換所得到之前述數位訊號的第3感測器電壓、與基於藉由本次的A/D轉換所得到之前述數位訊號的第4感測器電壓，當從前述第3感測器電壓到前述第4感測器電壓的變化量小於第1閾值時，將前述類比輸出訊號的第3增益設定為大於上次的增益之值，當前述變化量超過第2閾值時，將前述類比輸出訊號的前述第3增益設定為小於上次的增益之值。
如請求項4之電路裝置，其中前述控制部根據基於藉由上次的A/D轉換所得到之前述數位訊號的前述第3感測器電壓、及基於藉由本次的A/D轉換所得到之前述數位訊號的前述第4感測器電壓，來設定前述類比輸出訊號的第3偏移電壓。
如請求項4或5之電路裝置，其中前述A/D轉換器是連同前述數位訊號，將與A/D轉換中之溢位或欠位的發生有關的資訊，輸出至前述控制部，前述控制部是：當於A/D轉換中發生溢位時，將前述第4感測器電壓作為前述A/D轉換器之測定範圍的上限值來算出，當於A/D轉換中發生欠位時，將前述第4感測器電壓作為前述A/D轉換器之測定範圍的下限值來算出，當於A/D轉換中發生溢位或欠位時，將下次的A/D轉換的增益及偏移電壓設定為初始值。