TW202228098A - 片狀製品之製造方法、片狀製品、素材及中間體 - Google Patents

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Abstract

本發明之課題在於提供一種可有助於查明於片狀製品發生異常時之原因、及提高片狀製品之良率之片狀製品的製造方法。 本發明係將捲繞成棍狀之長條形之素材S1放出、搬送並切斷,或者將捲繞成棍狀之長條形之素材S1放出、搬送並切出大型片狀之中間體,且切斷中間體,而製造複數個片狀製品S2之方法,且包含:第1標記步驟ST1,其對於素材,於藉由檢查素材所檢測出之缺陷F存在之位置標記第1標識M1;及第2標記步驟ST2,其對於素材或複數個片狀製品,標記表示素材中之位置資訊之第2標識M2;於第2標記步驟中,以於切斷後之複數個片狀製品之各者存在複數個第2標識之方式,對素材標記第2標識。

Description

片狀製品之製造方法、片狀製品、素材及中間體
本發明係關於一種製造偏光膜或相位差膜等之片狀製品之方法、使用該製造方法製造之片狀製品、及用以製造該片狀製品之素材及中間體。尤其,本發明係關於一種有助於查明於片狀製品發生缺陷等異常產生時之原因,或提高片狀製品之良率之片狀製品的製造方法、片狀製品、素材及中間體。
先前,偏光膜或相位差膜等之片狀製品係藉由將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送並切斷,或,將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送並切出大型片狀之中間體,且切斷該中間體,而作為複數個片狀製品製造。且,藉由將製造之各片狀製品貼合於液晶面板等之光學顯示單元,而製造液晶顯示裝置等之光學顯示裝置。
此處,若知曉貼合於光學顯示單元後之片狀製品位於切斷前之素材或切出中間體前之素材之哪個位置,則可有助於查明於片狀製品發生缺陷等之異常產生時之原因,或提高片狀製品之良率。 因此,例如,於專利文獻1中提案有一種對切斷前之素材,標記表示素材中之位置資訊之標識之方法。 具體而言,於專利文獻1中提案有一種對切斷成片狀製品(於專利文獻1中為光學膜)前之素材(於專利文獻中為輥素材),標記表示片狀製品在素材中之位置資訊(於專利文獻中為輥資訊)之標識(於專利文獻中為輥資訊保持機構)之方法(例如,參照專利文獻1之段落0131~0133等)。 根據專利文獻1記載之方法,認為可有助於查明片狀製品發生異常時之原因,或提高片狀製品之良率。
另一方面,如專利文獻2所記載,先前來亦廣為實施對於切斷前之素材,於藉由對素材進行檢查而檢測出之缺陷存在之位置標記標識之方法(例如,參照專利文獻2之段落0051~0053)。
若並用如專利文獻1所記載,對素材標記表示片狀製品在素材中之位置資訊之標識之方法、與如專利文獻2所記載,於藉由檢查素材所檢測出之缺陷存在之位置標記標識之方法,則因無法控制缺陷存在之位置,故有兩者之標識重疊標記於素材之虞。若兩者之標識重疊,則無法讀取表示位置資訊之標識,有無法幫助查明片狀製品發生異常時之原因,或提高片狀製品之良率之虞。 該問題係於並用對於切斷後之片狀製品標記表示素材中之位置資訊之標識之方法、與於藉由檢查素材而檢測出之缺陷存在之位置上標記標識之方法之情形時,亦可能同樣地產生。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2009-294645號公報 [專利文獻2]日本專利特開2005-114624號公報
[發明所欲解決之問題]
本發明係為了解決如上所述之先前技術之問題點而完成者,其課題在於提供一種對切斷成片狀製品前之素材或切出中間體前之素材,並用於藉由檢查素材而檢測出之缺陷存在之位置標記標識之步驟、與對於切斷成片狀製品前之素材、切出中間體前之素材、或切斷後之片狀製品標記表示素材中之位置資訊之標識之標記步驟之情形時,亦可有助於查明片狀製品發生異常時之原因,或提高片狀製品之良率之片狀製品的製造方法、片狀製品、素材及中間體。 [解決問題之技術手段]
為了解決上述課題,本發明提供一種片狀製品的製造方法,其係將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送並切斷,或者將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送並切出大型片狀之中間體,且切斷上述中間體,而製造複數個片狀製品者,且該方法包含:第1標記步驟,其對於切斷前之上述素材、切出上述中間體前之上述素材、或上述中間體,於藉由檢查上述素材而檢測出之缺陷存在之位置標記第1標識;及第2標記步驟,其對於切斷前之上述素材、切出上述中間體前之上述素材、上述中間體、或切斷後之上述複數個片狀製品,標記表示上述素材中之位置資訊之第2標識;於上述第2標記步驟中,以於切斷後之上述複數個片狀製品之各者存在複數個上述第2標識之方式,對切斷前之上述素材、切出上述中間體前之上述素材、上述中間體、或切斷後之上述複數個片狀製品標記上述第2標識。
根據本發明,雖並用對於切斷前之素材、切出中間體前之素材、或中間體,於藉由檢查素材而檢測出之缺陷存在之位置標記第1標識的第1標記步驟、與對於切斷前之素材、切出中間體前之素材、中間體、或切斷後之複數個片狀製品,標記表示素材中之位置資訊之第2標識的第2標記步驟,但於第2標記步驟中,以於切斷後之複數個片狀製品之各者存在複數個第2標識(即,於每一片狀製品存在複數個而非單個第2標識)之方式進行標記。因此,第1標識與複數個第2標識全部重疊之可能性大幅下降。因此,藉由讀取標記於切斷後之各片狀製品之第2標識(未與第1標識重疊之第2標識),可有助於查明於片狀製品發生異常時之原因,或提高片狀製品之良率。
另,於本發明中,第2標識表示之「素材中之位置資訊」意指至少包含素材之搬送方向上之位置之資訊。素材之搬送方向上之位置可由與素材之搬送方向前端(搬送方向下游端)之距離表示,亦可根據與素材之搬送方向前端之距離而以由連續之編號標註之編號表示。於第2標識表示之「素材中之位置資訊」,除了素材之搬送方向上之位置外,亦可包含素材之寬度方向(與搬送方向正交之方向)上之位置。又,於第2標識中,亦可表示出用以互相識別複數個素材之素材相關之資訊。再者,於第2標識中,亦可表示其他隨附之資訊。 又,於本發明中,標記於各片狀製品之複數個第2標識表示之位置資訊可為全部相同之位置資訊(例如,各片狀製品之中心位置之資訊),亦可為不同之位置資訊(例如,標記有各第2標識之位置之資訊)。 再者,於本發明中,第1標識與第2標識可使用通常之有色墨水或後述之透明墨水進行標記,亦可藉由雷射刻印進行標記。
較佳為,於上述第2標記步驟中,以切斷後之上述複數個各片狀製品中之複數個上述第2標識位置包含上述素材之寬度方向上互不相同者之方式標記上述第2標識。
根據上述較佳之方法,例如,即使於因搬送素材之壓送輥等之缺陷引起,沿著素材之搬送方向週期性發生缺陷(因此,沿著素材之搬送方向週期性標記第1標識)之情形時,亦因各片狀製品中之複數個第2標識之位置包含素材之寬度方向(與搬送方向正交之方向)上互不相同者,故第1標識與複數個第2標識全部重疊之可能性大幅下降。
作為上述第2標識,可例示1維碼(條碼)或2維碼。作為2維碼,可例示資料矩陣(DataMatrix)(註冊商標)或QR碼(註冊商標)。
較佳為,於上述第2標記步驟中,於對於切斷前之上述素材、或切出上述中間體前之上述素材,標記上述第2標識之情形時,以不與上述素材之預先決定之切斷預定線重疊之方式標記上述第2標識。
根據上述之較佳方法,於切斷後之各片狀製品中,可為確實地標記有複數個第2標識之狀態。
較佳為,於上述第1標記步驟中,使用透明墨水標記上述第1標識,及/或於上述第2標記步驟中,使用透明墨水標記上述第2標識。
於上述較佳之方法中,「透明墨水」係於通常之照明下人之眼睛無法視認,且藉由照射特定波長之光而蛍光發光,變得能夠視認之墨水。作為透明墨水,可例示藉由照射紫外線而蛍光發光之UV墨水。 根據上述較佳方法,因使用透明墨水標記第1標識及/或第2標識,故具有於通常之照射下,第1標識及/或第2標識不可視,而無損片狀製品之外觀之優點。
較佳為,於上述第2標記步驟中,以將上述切斷預定線作為基準之切斷後之上述複數個片狀製品中之上述第2標識之位置包含互不相同者之方式標記上述第2標識。
於上述之較好之方法中,所謂「以上述切斷預定線為基準之切斷後之上述複數個片狀製品中之上述第2標識之位置包含互不相同者」意指於比較自切斷後之複數個片狀製品中選擇之任意一枚片狀製品中之複數個第2標識之位置(以切斷預定線為基準之位置)、與任意其他片狀製品之複數個第2標識之位置(以切斷預定線為基準之位置)之情形時,有於與一枚片狀製品中之複數個第2標識中之任一者之位置相同的位置,不存在其他片狀製品之第2標識之情形。 根據上述較佳方法,例如,具有於積層複數個片狀製品彼此而使用之情形時,可降低因各片狀製品之第2標識重疊,而於該重疊部分產生凹痕之虞之優點。
於本發明中,例如,上述第1標識由於上述素材之搬送方向排列之複數個點狀標識構成。 且,例如,將構成上述第1標識之上述複數個點狀標識之至少1者設為上述第2標識。尤其,於將構成第1標識之複數個點狀標識全部設為第2標識之情形時,可將用以執行第1標記步驟之標記裝置作為執行第2標記步驟之標記裝置兼用。
又,為了解決上述課題,本發明亦提供一種片狀製品,其係藉由將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送並切斷,或藉由將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送並切出大型片狀之中間體,且切斷上述中間體,而製造複數個者,於藉由檢查上述素材而檢測出之缺陷存在之位置標記有第1標識,且標記有複數個表示上述素材中之位置資訊之第2標記。
又,為了解決上述課題,本發明提供一種素材,其係用以藉由放出、搬送並切斷,而製造複數個片狀製品之捲繞成棍狀之長條形者,於藉由檢查上述素材而檢測出之缺陷存在之位置標記第1標識,且標記表示上述素材中之位置資訊之第2標識,以於切斷後之上述複數個片狀製品之各者存在複數個上述第2標識之方式,標記上述第2標識。
再者,為了解決上述課題,本發明亦提供一種中間體,其係用以藉由將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送、切出並切斷,而製造複數個片狀製品之大型片狀中間體,於藉由檢查上述素材而檢測出之缺陷存在之位置標記第1標識,且標記表示上述素材中之位置資訊之第2標識,以於切斷後之上述複數個片狀製品之各者存在複數個上述第2標識之方式,標記上述第2標識。 [發明之效果]
根據本發明,即使對於切斷成片狀製品前之素材或切出中間體前之素材,並用於藉由檢查素材而檢測出之缺陷存在之位置標記標識之步驟、與標記表示素材中之位置資訊之標識之標記步驟之情形時,亦可有助於查明於片狀製品發生異常之原因,或提高片狀製品之良率。
以下,適當參照隨附圖式,且就本發明之一實施形態之片狀製品的製造方法,舉對於切斷前之素材標記第1標識、對於切斷前之素材標記第2標識之情形為例,進行說明。 作為由本實施形態之製造方法製造之片狀製品,例如,可例示偏光膜、相位差膜、視覺補償膜、亮度提高膜、積層2種以上該等膜之積層膜等。因各膜之構成為周知,故此處省略其詳細說明。
圖1係顯示用以執行本發明之一實施形態之片狀製品的製造方法之製造裝置之概略構成之圖。於圖1中,箭頭X意指用以製造片狀製品S2之素材S1之搬送方向(水平方向),箭頭Y意指素材S1之寬度方向(與搬送方向正交之水平方向),箭頭Z意指素材S1之表面之法線方向(鉛直方向)。 如圖1所示,本實施形態之製造裝置100具備:檢查裝置1、第1標記裝置2、第2標記裝置3、切斷裝置4、及控制裝置5。控制裝置5電性連接於檢查裝置1、第1標記裝置2、第2標記裝置3及切斷裝置4。又,本實施形態之製造裝置100具備:放出棍R1、壓送輥R2、及輸送帶R3。 本實施形態之製造裝置100係放出棍狀捲繞於放出棍R1之長條形之素材S1,藉由壓送輥R2或輸送帶R3等於X方向搬送,藉由切斷裝置4切斷,而製造複數個片狀製品S2之裝置。
檢查裝置1係藉由檢查切斷前之素材S1而檢測存在於素材S1之缺陷之裝置。圖1所示之檢查裝置1具備:光源11,其相對於素材S1配置於Z方向之一側(於圖1所示之例中為素材S1之下方),朝素材S1出射光;攝像機構12,其相對於素材S1配置於Z方向之另一側(於圖1所示之例中為素材S1之上方),藉由接受透過素材S1之光並成像(攝像)而產生透過圖像;及圖像處理機構13,其藉由對自攝像機構12輸入之透過圖像,應用擷取亮度值與其他像素區域不同之像素區域之2值化等周知之圖像處理,而檢測缺陷。於本實施形態中,雖控制裝置5亦發揮作為檢查裝置1之圖像處理機構13之功能,但亦可與控制裝置5獨立地設置圖像處理機構13。
另,作為檢查裝置1,並非限定於如上所述基於透過圖像檢測缺陷之構成者,亦可採用基於藉由將光源及攝像機構相對於素材S1配置於Z方向之一側而產生之反射圖像,來檢測缺陷之構成。 又,於素材S1(片狀製品S2)為偏光膜之情形時,作為檢查裝置1,亦可採用如下之構成:將光源及檢查用偏光膜相對於素材S1配置於Z方向之一側,將攝像機構相對於素材S1配置於Z方向之另一側,或,將光源相對於素材S1配置於Z方向之一側,將檢查用偏光膜及攝像機構相對於素材S1配置於Z方向之另一側,基於藉此而產生之正交尼科耳圖像,檢測缺陷。 再者,作為檢查裝置1,亦可採用藉由組合透過圖像、反射圖像及正交尼科耳圖像中之2個以上之圖像,而檢測缺陷之構成。
第1標記裝置2係對切斷前之素材S1,於藉由以檢查裝置1等檢查素材S1而檢測出之缺陷存在之位置標記標識(第1標識)之裝置。具體而言,藉由以檢查裝置1等檢查素材S1而檢測出之缺陷存在之位置由控制裝置5辨識,由控制裝置5控制第1標記裝置2,藉此於缺陷存在之位置標記第1標識。 本實施形態之第1標記裝置2係使用透明墨水(具體而言為UV墨水)之噴墨方式之標記裝置,且為藉由自沿著Y方向排列之多個噴嘴噴出透明墨水,標記第1標識之構成。但,作為第1標記裝置2,亦可採用通常以使用有色墨水之噴墨方式進行標記之構成,或藉由雷射刻印進行標記之構成。又,於使用墨水之情形時,不限於噴墨方式,亦可採用以筆方式進行標記之構成。因該等標記裝置之具體構為周知,故此處省略其詳細說明。
第2標記裝置3係對切斷前之素材S1,標記表示素材S1中之位置資訊之標識(第2標識)之裝置。具體而言,控制裝置5藉由控制第2標記裝置3,以於切斷後之複數個片狀製品S2之各者存在複數個第2標識之方式,標記第2標識。 本實施形態之第2標記裝置3與第1標記裝置2同樣,係使用透明墨水(具體而言為UV墨水)之噴墨方式之標記裝置,且為藉由自沿著Y方向排列之多個噴嘴噴出透明墨水,標記第2標識之構成。但,作為第2標記裝置3,亦可採用通常以使用有色墨水之噴墨方式進行標記之構成,或藉由雷射刻印進行標記之構成。
切斷裝置4係藉由沖孔加工或雷射加工等周知之加工方法切斷素材S1,藉此製造複數個片狀製品S2之裝置。具體而言,藉由控制裝置5控制切斷裝置4,而沿著預先決定之切斷預定線切斷素材S1。
以下,就使用具有上述構成之製造裝置100之本實施形態之製造方法進行說明。 圖2係顯示本實施形態之製造方法之概略順序之流程圖。如圖2所示,本實施形態之製造方法包含第1標記步驟ST1與第2標記步驟ST2。又,本實施狀態之製造方法包含切斷步驟ST3與回收步驟ST4。 圖3係說明本實施形態之製造方法之素材S1及片狀製品S2之狀態之說明圖。圖3(a)係模式性顯示執行第1標記步驟ST1後之素材S1之狀態之圖。圖3(b)係模式性顯示執行第2標記步驟ST2後之素材S1之狀態之圖。圖3(c)係模式性顯示執行切斷步驟ST3後之素材S1(片狀製品S2)之狀態之圖。圖3(d)係模式性顯示於執行回收步驟ST4過程中之片狀製品S2之狀態之圖。 以下,就各步驟ST1~ST4依序說明。
<第1標記步驟ST1> 如圖3(a)所示,於第1標記步驟ST1中,對於切斷前之素材S1,於藉由檢查素材S1而檢測出之缺陷F(圖3(a)中,為方便起見,任何缺陷F皆以星形狀圖示)存在之位置,藉由第1標記裝置2標記第1標識M1。本實施形態之第1標識M1係排列於素材S1之搬送方向(X方向)之複數個圓形之點狀標識。更具體而言,本實施形態之第1標識M1係包含排列於素材S1之搬送方向(X方向)之複數個圓形之點狀標識之圖案,隔著缺陷F成對地排列於素材S1之寬度方向(Y方向)者。由點狀之標識之個數決定之各圖案之長度(X方向之尺寸),例如根據缺陷F之長度(X方向之尺寸)而決定。但,本發明並非限定於此者,只要於缺陷F存在之位置進行標記,則作為第1標識M1,可採用各種形態之標識。
對藉由檢查裝置1進行檢查而檢測出之缺陷F,標記第1標識M1之情形時,構成檢查裝置1之控制裝置5(圖像處理機構13)係可辨識透過圖像內之缺陷F之位置(XY坐標)。因此,例如,控制裝置5基於所辨識出之透過圖像內之缺陷F之位置(X坐標)、檢查裝置1與第1標記裝置2之X方向之間隔距離L1、及藉由安裝於壓送輥R2之編碼器(未圖示)等測定出之素材S1之搬送量,可運算檢測出之缺陷F到達第1標記裝置2之時點。且,例如,控制裝置5以於檢測出之缺陷F到達第1標記裝置2之時點,以自與辨識出之透過圖像內之缺陷F之位置(Y坐標)對應之第1標記裝置2之噴嘴噴射透明墨水之方式,控制第1標記裝置2。藉此,於缺陷F存在之位置標記第1標識M1。
另,於第1標記步驟ST1中,亦可對於檢查裝置1之檢查前,藉由以其他檢查裝置(未圖示)檢查素材S1而檢測出之缺陷F,標記第1標識M1。於該情形時,於控制裝置5中,預先輸入由其他檢查裝置檢測出之缺陷F之位置(例如,以素材S1之搬送方向前端為基準之XY坐標)。且,例如,控制裝置5基於輸入之缺陷F之位置(X坐標)、放出棍R1及第1標記裝置2之X方向之間隔距離L2、及藉由安裝於壓送輥R2之編碼器(未圖示)等測定出之素材S1之搬送量,可運算由其他檢查裝置檢測出之缺陷F到達第1標記裝置2之時點。且,例如,控制裝置5於檢測出之缺陷F到達第1標記裝置2之時點,以自與由其他檢查裝置檢測出之缺陷F之位置(Y坐標)對應之第1標記裝置2之噴嘴噴射透明墨水之方式,控制第1標記裝置2。藉此,於缺陷F存在之位置標記第1標識M1。 又,為了運算由其他檢查裝置檢測出之缺陷F到達第1標記裝置2之時點,例如,如專利文獻2所記載,亦可採用藉由於素材S1之寬度方向(Y方向)端部(不可作為片狀製品S2使用之端部),預先記錄表示素材S1之搬送方向之位置之識別資訊,讀取該識別資訊並輸入至控制裝置5,而運算上述時點之構成。
<第2標記步驟ST2> 如圖3(b)所示,於第2標記步驟ST2中,對於切斷前之素材S1,藉由第2標記裝置3,標記表示素材S1中之位置資訊之第2標識M2。第2標識M2表示之位置資訊意指至少包含素材S1之搬送方向(X方向)上之位置之資訊。素材S1之搬送方向上之位置可由與素材S1之搬送方向前端之距離而表示,亦可根據與素材S1之搬送方向前端之距離,以由連續之編號標註之編號表示。於第2標識M2表示之位置資訊中,除了素材S1之搬送方向上之位置外,亦可包含素材S1之寬度方向(Y方向)上之位置。再者,於第2標識M2中,亦可表示出用以相互識別複數個素材S1之素材S1相關之資訊。 本實施形態之第2標識M2係2維碼之一種即數據矩陣(DataMatrix)(註冊商標)。但,本發明係並非限於此者,除QR(Quick Response:快速回應)碼(註冊商標)等其他2維碼、或1維碼(條碼)外,只要可表示素材S1中之位置資訊,則作為第2標識M2,可採用各種形態之標識。
於第2標記步驟ST2中,藉由第2標記裝置3,以於切斷後之複數個片狀製品S2之各者存在複數個第2標識M2之方式,對切斷前之素材S1標記第2標識M2。具體而言,根據片狀製品S2之尺寸/形狀,預先決定圖3(b)中以虛線顯示之切斷預定線CL,記憶於控制裝置5。切斷預定線CL並非實際描繪於素材S1者,而例如以素材S1之搬送方向前端為基準之XY坐標記憶。於圖3(b)所示之例中,切斷預定線CL係格子狀,位於由切斷預定線CL劃分之各矩形(於圖3(b)中,圖示出18個矩形)內之素材S1之部位於切斷後分別成為片狀製品S2。因此,於第2標記步驟ST2中,藉由第2標記裝置3,以於由切斷預定線CL劃分之各矩形內存在複數個第2標識M2之方式,且,不與切斷預定線CL重疊之方式,標記第2標識M2。於圖3(b)所示之例中,於各矩形內標記4個第2標識M2,以切斷預定線CL為基準之4個第2標識M2之位置於任一矩形中皆同一設定。具體而言,於圖3(b)中,存在於各矩形內之4個第2標識M2之位置於任一矩形中,皆為矩形之左上之頂點附近、右上之頂點附近、左下之頂點附近及右下之頂點附近。位於矩形之左上之頂點附近之第2標識M2之位置與位於右上之頂點附近之第2標識M2之位置於素材S1之寬度方向(Y方向)上互不相同。又,位於矩形之左下之頂點附近之第2標識M2之位置與位於右下之頂點附近之第2標識M2之位置於素材S1之寬度方向(Y方向)上互不相同。
於執行第2標記步驟ST2時,例如,控制裝置5基於放出棍R1及第2標記裝置3之X方向之間隔距離L3、及藉由安裝於壓送輥R2之編碼器(未圖示)等測定之S1之搬送量,可運算素材S1之特定部位到達第2標記裝置3之時點。且,例如,控制裝置5於具有以切斷預定線CL為基準之特定之XY坐標之部位(分別標記各矩形內之4個第2標識M2之部位)到達第2標記裝置3之時點,以自與上述特定之XY之坐標之Y坐標對應之第2標記裝置3之噴嘴噴射透明墨水之方式,控制第2標記裝置3。藉此,於各矩形內之4個部位分別標記第2標識M2。
<切斷步驟ST3> 如圖3(c)所示,於切斷步驟ST3中,將標記有第1標識M1及第2標識M2之素材S1藉由切斷裝置4沿著切斷預定線CL(參照圖3(b))切斷,製造複數個片狀製品S2。於應用沖加工裝置作為切斷裝置4之情形時,於素材S1之切斷預定線CL到達切斷裝置4之時點,將素材S1之搬送暫時停止,切斷素材S1。於應用雷射加工裝置作為切斷裝置4之情形時,可不停止素材S1之搬送,而一面搬送素材S1一面切斷。 於執行切斷步驟ST3時,例如,控制裝置5基於放出棍R1及切斷裝置4之X方向之間隔距離L4、與藉由安裝於壓送輥R2之編碼器(未圖示)等測定出之素材S1之搬送量,可運算記憶於控制裝置5之素材S1之切斷預定線CL到達切斷裝置4之時點。且,控制裝置5於素材S1之切斷預定線到達切斷裝置4之時點,控制並驅動切斷裝置4。藉此,沿著切斷預定線Cl切斷素材S1,而製造複數個片狀製品S2。
<回收步驟ST4> 如圖3(d)所示,於回收步驟ST4中,一面將切斷之素材S1由輸送帶R3搬送,一面將未成為片狀製品S2之無用部分S11(參照圖3(c))藉由周知之去除裝置(未圖示)予以去除。其後,由輸送帶R3搬送片狀製品S2,使其自輸送帶R3之搬送方向下游端重力落下,藉此回收片狀製品S2。
根據以上說明之本實施形態之製造方法,雖並用對於切斷前之素材S1,於藉由檢查素材S1而檢測出之缺陷存在之位置標記第1標識M1之第1標記步驟ST1、與對於切斷前之素材S1,標記表示素材S1中之位置情報之第2標識M2之第2標記步驟ST2,但於第2標記步驟ST2中,以於切斷後之複數個片狀製品S2之各者存在複數個第2標識M2(即,於每一片狀製品S2,存在複數個而非單個第2標識)之方式進行標記。因此,第1標識M1與複數個第2標識M2全部重疊之可能性大幅下降。因此,藉由讀取標記於切斷後之各片狀製品S2之第2標識M2(未與第1標識M1重疊之第2標識M2),可有助於查明片狀製品S2發生異常之原因,或提高片狀製品S2之良率。
又,根據本實施形態之製造方法,於第2標記步驟ST2中,以切斷後之複數個各片狀製品S2中之複數個第2標識M2之位置包含素材S1之寬度方向(Y方向)上互不相同者之方式標記第2標識M2。具體而言,位於由切斷預定線CL劃分之各矩形之左上之頂點附近之第2標識M2的位置與位於右上之頂點附近之第2標識M2之位置,於素材S1之寬度方向上互不相同,位於矩形之左下之頂點附近之第2標識M2之位置與位於右下之頂點附近之第2標識M2之位置,於素材S1之寬度方向上互不相同。因此,例如,即使因壓送輥R2等之缺陷,沿著素材S1之搬送方向(X方向)週期性發生缺陷(因此,沿著素材S1之搬送方向週期性標記第1標識M1)之情形時,因各片狀製品S2中之複數個第2標識M2之位置包含於素材S1之寬度方向上不互相同者,故第1標識M1與複數個第2標識M2全部重疊之可能性大幅下降。
又,根據本實施形態之製造方法,於第2標記步驟ST2中,以不與素材S1之預先決定之切斷預定線CL重疊之方式標記第2標識M2。因此,於切斷後之各片狀製品S2中,可為確實地標記有複數個第2標識M2之狀態。 又,根據本實施形態之製造方法,於第1標記步驟ST1及第2標記步驟ST2之各者中,以使用透明墨水之噴墨方式,標記第1標識M1及第2標識M2。因此,具有於通常之照明下,第1標識M1及第2標識M2不可見,而無損片狀製品S2之外觀之優點。
另,於本實施形態中,已對於第2標記步驟ST2中,如圖3(b)所示,於由切斷預定線CL劃分之各矩形內標記4個第2標識M2,且以切斷預定線CL為基準之4個第2標識M2之位置於任一矩形中皆同一設定的例進行說明,但本發明並非限於此者。
圖4係說明第2標記步驟ST2之變化例之圖。具體而言,圖4係模式性顯示執行第2標記步驟ST2之變化例後之素材S1之狀態之圖。另,於圖4中,與圖3(b)不同,省略缺陷F及第1標識M1之圖示。 如圖4所示,於第2標記步驟ST2之變化例中,亦與於圖3(b)所示之情形同樣,於由切斷預定線CL劃分之各矩形內標記4個第2標識M2,於任一矩形中,皆將最靠近矩形之左上之頂點之第2標識M2設為M21,將最靠近矩形之右上之頂點之第2標識M2設為M22,將最靠近矩形之左下之頂點之第2標識M2設為M23,將最靠近矩形之右下之頂點之第2標識M2設為M24。且,將以切斷預定線CL為基準之(以切斷預定線CL之交叉之各頂點為基準)第2標識M21~M24之位置(XY坐標)分別設置為(X1,Y1)、(X2,Y2)、(X3,Y3)、(X4,Y4)。
於該情形時,於圖3(b)所示之第2標記步驟ST2中,各矩形內之4個第2標識M2(與圖4所示之M21~M24對應)之位置於任一矩形中皆相同,即,X1~X4及Y1~Y4於任一矩形中皆同一設定。然而,於圖4所示之第2標記步驟ST2之變化例中,各矩形內之4個第2標識M21~M24之位置以包含互不相同者之方式設定。即,於將自所有矩形中選擇之任意之一矩形中之4個第2標識M21~M24之位置,與任意之其他矩形之4個第2標識M2~M24之位置比較之情形時,設定為有於與一矩形中之4個第2標識M21~M24之任一位置相同之位置,不存在其他矩形之4個第2標識M21~M24之情形。尤其,於圖4所示之例中,作為較佳之例,4個第2標識M21~M24之所有位置以因矩形而異之方式設定。即,於圖4所示之例中,第2標識M21之位置(X1,Y1)因矩形而異,第2標識M22之位置(X2,Y2)因矩形而異,第2標識M23之位置(X3,Y3)因矩形而異,第2標識M24之位置(X4,Y4)因矩形而異。
並非限定於圖4所示之例,作為變化例,例如,亦可為僅一個矩形中之4個第2標識M2之位置,與其餘之矩形之4個第2標識M2之位置不同,其餘之矩形中之4個第2標識M2之位置相同。 又,作為變化例,例如,亦可為僅一個矩形之1個第2標識M2(例如,第2標識M4)之位置,與其餘之矩形中對應之1個第2標識(例如,第2標識M24)之位置不同,其餘之第2標記(例如,第2標識M21、第2標識M22及第2標識M23)之位置於所有矩形中相同。
如以上般,於第2標記步驟ST2之變化例中,因各矩形內之4個第2標識M2之位置以包含不互相同者之方式設定,故切斷後之複數個片狀製品S2中之上述第2標記之位置M2包含互不相同者。因此,例如,於積層複數個片狀製品S2彼此而使用之情形時,具有降低因各片狀製品S2中之第2標識M2重疊,而於該重疊部分產生凹痕之虞之優點。
又,於本實施狀態中,於第1標記步驟ST1中,如圖3(a)所示,雖已就標記由排列於素材S1之搬送方向(X方向)之複數個圓形之點狀之標記所構成之第1標識M1之例進行說明,但本發明係並非限於此者。
圖5係說明第1標記步驟ST1之變化例之圖。具體而言,圖5係模式性顯示執行第1標記步驟ST1之變化例後之素材S1之一部分之狀態之圖。 如圖5所示,於第1標記步驟ST1之變化例中,構成第1標識M1之複數個點狀標識之至少1者(於圖5所示例中為全部)為第2標識M2。即,複數個點狀標識之至少1者並非圓形之標識,而為表示素材S1中之位置資訊之2維碼等之第2標識M2。尤其,如圖5所示,於將構成第1標識M1之複數個點狀標識全部設為第2標識M2之情形時,亦可將用於執行第1標記步驟ST1之第1標記裝置2,作為用於執行第2標記步驟ST2之第2標記裝置3兼用。
又,於本實施形態中,雖已舉於第2標記步驟ST2中,以於切斷後之複數個片狀製品S2之各者存在4個第2標識M2之方式,對切斷前之素材S1標記第2標識M2之情形為例進行說明,但本發明係並非限於此者。只要以於切斷後之複數個片狀製品S2之各者存在複數個(即,2個以上)第2標識M2之方式,對切斷前之素材S1標記第2標識M2,則其個數無限制。
又,於本實施形態中,雖已舉將捲繞成棍狀之長條形之素材S1放出、搬送並切斷,而製造複數個片狀製品S2之情形為例進行說明,但本發明係並非限於此者。可採用將捲繞成棍狀之長條形之素材S1放出並搬送,於標記第1標識M1及第2標識M2之後暫時切出大型片狀之中間體(較複數個片狀製品S2尺寸大之片狀中間體),且切斷該中間體,製造複數個片狀製品S2之態樣。中間體之切斷可藉由輸送帶R3搬送並切斷,亦可以載置於特定之切斷台之狀態下切斷。
又,於本實施形態中,雖已舉對於切斷前之素材S1標記第1標識M1之情形為例進行說明,但本發明係並非限於此者,亦可對於自素材S1切出之中間體標記第1標識M1。又,於本實施形態中,雖已舉對於切斷前之素材S1標記第2標識M2之情形為例進行說明,但本發明係並非限於此者,亦可對自素材S1切出之中間體、及切斷後之複數個片狀製品S2標記第2標識M2。
圖6係顯示用於執行本發明之變化例(對於切斷後之複數個片狀製品S2標記第2標識之構成)之片狀製品S2之製造方法之製造裝置之概略構成之圖。於圖6中,對與圖1所示之製造裝置100同樣之構成要素,標註相同符號。 如圖6所示,於變化例之製造裝置100'中,第2標記裝置3配置於較切斷裝置靠下游側(片狀製品S2之搬送方向下游側)之輸送帶R3上,於回收片狀製品S2之前,第2標記裝置3對於片狀製品S2,標記第2標識M2。
具體而言,例如,控制裝置5可基於放出棍R1與第2標記裝置3之X方向之間隔距離L3'、藉由安裝於壓送輥R2之編碼器(未圖示)等而測定出之素材S1之搬送量、及藉由安裝於輸送帶R3具備之棍之編碼器(未圖示)等而測定出之片狀製品S2之搬送量,來運算出素材S1之特定部位於切斷成片狀製品S2後,到達第2標記裝置3之時點。且,例如,控制裝置5如下控制第2標記裝置3:於具有以素材S1之切斷預定線CL(於切斷成片狀製品S2後,成為片狀製品S2之周邊之切斷線)為基準之特定之XY坐標之部位(於圖3所示之例中,為分別標記各矩形內之4個第2標識M2之部位)到達第2標記裝置3之時點,自與上述特定之XY坐標之Y坐標對應之第2標記裝置3之噴嘴噴射透明墨。藉此,於圖3所示之例中,於各矩形內(片狀製品S2內)之4個部位分別標記第2標識M2。
又,作為標記第2標識M2之方法,亦可採用使用專利文獻2所記載之識別資訊之方法。 具體而言,如專利文獻2所記載,於素材S1之寬度方向(Y方向)端部(不可作為片狀製品S2使用之端部),預先記錄表示素材S1之搬送方向之位置之識別資訊,例如,以配置於切斷裝置4之前方的特定之讀取裝置讀取該識別資訊並輸入至控制裝置5。控制裝置5可基於讀取到之識別資訊、與藉由安裝於輸送帶R3具備之棍之編碼器(未圖示)等測定出之片狀製品S2之搬送量,辨識切斷後之片狀製品S2之位於素材S1之搬送方向之位置,運算切斷後依序搬送之片狀製品S2之具有以周邊為基準之特定之XY坐標之部位(於圖3所示之例中,分別標記各矩形內之4個第2標識M2之部位)到達第2標記裝置3之時點。且,控制裝置5亦可以於上述之時點,自與上述特定之XY之坐標之Y坐標對應之第2標記裝置3之噴嘴噴射透明墨水之方式,控制第2標記裝置3。
又,於本實施形態中,雖已舉於單一之製造裝置100(換言之,單一之生產線)中執行第1標記步驟ST1、第2標記步驟ST2、切斷步驟ST3及回收步驟ST4之情形為例進行說明,但本發明係並非限於此者。例如,可採用執行第1標記步驟ST1及第2標記步驟ST2後,將標記有第1標識M1及第2標識M2之素材S1暫時捲取於捲取棍(未圖示),搬送到另一生產線,執行切斷步驟ST3及回收步驟ST4之態樣。換言之,可將第1標記步驟ST1、第2標記步驟ST2、切斷步驟ST3及回收步驟ST4之一系列步驟於第2標記步驟ST2與切斷步驟ST3之間分斷。此外,亦可將一系列步驟ST1~ST4於任意之步驟之間分斷,如於第1標記步驟ST1與第2標記步驟ST2之間分斷等。
再者,於本實施形態中,雖已舉依序執行第1標記步驟ST1、第2標記步驟ST2之情形為例進行說明,但本發明係並非限定於此者,可採用先執行第2標記步驟ST2,之後執行第1標記步驟ST1之態樣。
1:檢查裝置 2:第1標記裝置 3:第2標記裝置 4:切斷裝置 5:控制裝置 11:光源 12:攝像機構 13:圖像處理機構 100:製造裝置 CL:切斷預定線 F:缺陷 L1~L4:間隔距離 L3':間隔距離 M1:第1標識 M2:第2標識 M21:第2標識 M22:第2標識 M23:第2標識 M24:第2標識 R1:放出棍 R2:壓送輥 R3:輸送帶 S1:素材 S2:片狀製品 S11:無用部分 ST1:步驟 ST2:步驟 ST3:步驟 ST4:步驟
圖1係顯示用以執行本發明之一實施形態之片狀製品的製造方法之製造裝置之概略構成的圖。 圖2係顯示本發明之一實施形態之製造方法之概略順序之流程圖。 圖3(a)~(d)係說明本發明之一實施形態之製造方法之素材及片狀製品之狀態之說明圖。 圖4係說明圖2所示之第2標記步驟ST2之變化例之圖。 圖5係說明圖2所示之第2標記步驟ST1之變化例之圖。 圖6係顯示用於執行本發明之變化例之片狀製品之製造方法之製造裝置之概略構成之圖。
CL:切斷預定線
F:缺陷
M1:第1標記
M2:第2標記
S1:素材
S2:片狀製品
S11:無用部分

Claims (11)

  1. 一種片狀製品的製造方法,其係將捲繞成棍狀之長條形之素材放出搬送並切斷,或者將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送並切出大型片狀之中間體,且切斷上述中間體,而製造複數個片狀製品的方法,且該片狀製品的製造方法包含: 第1標記步驟,其對於切斷前之上述素材、切出上述中間體前之上述素材、或上述中間體,於藉由檢查上述素材而檢測出之缺陷存在之位置標記第1標識;及 第2標記步驟,其對於切斷前之上述素材、切出上述中間體前之上述素材、上述中間體、或切斷後之上述複數個片狀製品,標記表示上述素材中之位置資訊之第2標識;且 於上述第2標記步驟中,以於切斷後之上述複數個片狀製品之各者存在複數個上述第2標識之方式,對於切斷前之上述素材、切出上述中間體前之上述素材、上述中間體、或切斷後之上述複數個片狀製品標記上述第2標識。
  2. 請求項1之片狀製品的製造方法,其中 於上述第2標記步驟中,以切斷後之上述複數個各片狀製品中之複數個上述第2標識位置,包含上述素材之寬度方向上互不相同者之方式,標記上述第2標識。
  3. 請求項1或2之片狀製品的製造方法,其中 上述第2標識為1維碼或2維碼。
  4. 請求項1或2之片狀製品的製造方法,其中 於上述第2標記步驟中,於對於切斷前之上述素材、或切出上述中間體之前之上述素材,標記上述第2標識之情形時,以不與上述素材之預先決定之切斷預定線重疊之方式,標記上述第2標識。
  5. 請求項1或2之片狀製品的製造方法,其中 於上述第1標記步驟中,使用透明墨水標記上述第1標識,及/或於上述第2標記步驟中,使用透明墨水標記上述第2標識。
  6. 請求項1或2之片狀製品的製造方法,其中 於上述第2標記步驟中,以將上述切斷預定線作為基準之切斷後之上述複數個片狀製品中之上述第2標識之位置,包含互不相同者之方式,標記上述第2標識。
  7. 請求項1或2之片狀製品的製造方法,其中 上述第1標識由排列於上述素材之搬送方向之複數個點狀標識構成。
  8. 請求項7之片狀製品的製造方法,其中 構成上述第1標識之上述複數個點狀標識之至少1者,為上述第2標識。
  9. 一種片狀製品,其係藉由將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送並切斷,或者藉由將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送並切出大型片狀之中間體,且切斷上述中間體,而製造複數個者,且 於藉由檢查上述素材所檢測出之缺陷存在之位置標記有第1標識,且標記有複數個表示上述素材中之位置資訊之第2標識。
  10. 一種素材,其係用於藉由放出、搬送、切斷來製造複數個片狀製品之捲繞成棍狀之長條形者,且 於藉由檢查上述素材所檢測出之缺陷存在之位置標記第1標識,且標記表示上述素材中之位置資訊之第2標識, 以於切斷後之上述複數個片狀製品之各者存在複數個上述第2標識之方式,標記上述第2標識。
  11. 一種中間體,其係用於藉由將捲繞成棍狀之長條形之素材放出、搬送、切出並切斷來製造複數個片狀製品之大型片狀中間體,且 於藉由檢查上述素材所檢測出之缺陷存在之位置標記第1標識,且標記表示上述素材中之位置資訊之第2標識, 以於切斷後之上述複數個片狀製品之各者存在複數個上述第2標識之方式,標記上述第2標識。
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Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08106153A (ja) * 1994-10-05 1996-04-23 Toppan Printing Co Ltd 識別マーク付ガラス基板
JP2005114624A (ja) 2003-10-09 2005-04-28 Nitto Denko Corp シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
JP5104233B2 (ja) * 2007-11-09 2012-12-19 凸版印刷株式会社 保護フィルム及び積層体
JP2009294645A (ja) 2008-05-07 2009-12-17 Nitto Denko Corp 光学表示装置製造システムに適用される製造管理システム及び製造管理方法
KR101512142B1 (ko) * 2013-12-31 2015-04-14 (주)엔에스 필름 제조 장치
KR102030009B1 (ko) * 2016-02-02 2019-10-08 (주)엔에스 필름 제조 장치 및 방법
KR102033697B1 (ko) * 2016-04-01 2019-10-17 주식회사 엘지화학 광학 필름 마킹 시스템 및 광학 필름 마킹 방법
KR102475056B1 (ko) * 2017-03-03 2022-12-06 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트

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