TW202209037A - C型通用串列匯流排轉接板 - Google Patents
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Abstract
一種C型通用串列匯流排轉接板,透過與C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器電性連接的電路板,使得C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的接地引腳形成接地線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的資料輸出引腳形成資料輸出線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的資料輸入引腳形成資料輸入線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的時鐘引腳形成時鐘線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的測試模式選擇引腳形成測試模式選擇線網。
Description
本發明涉及一種轉接板,特別是C型通用串列匯流排轉接板。
目前,市面常見的C型通用串列匯流排轉接板是由C型通用串列匯流排母連接器、信號轉接電路板與插針端所構成,C型通用串列匯流排母連接器透過信號轉接電路板與插針端的多個插針電性連接。C型通用串列匯流排母連接器連接對應線纜接入信號,插針端透過杜邦線引出使用者所需的信號,相對於直接在引腳密集的C型通用串列匯流排母連接器引出使用者所需的信號,十分方便。但是,在實際生產應用時,C型通用串列匯流排轉接板每次與線纜進行連接時,需先對插針端的該些插針進行信號定義的核對(即先確定每一插針所引出的信號是何種信號),十分影響效率,且杜邦線與插針的連接極易鬆動,容易造成接觸不良,會造成應用時極大的不便。
綜上所述,可知先前技術中長期以來一直存在傳統C型通用串列匯流排轉接板在每次與線纜連接時需要核對每一插針的信號定義是否正確所造成的耗時問題,以及因杜邦線與插針的連接所造成連接容易鬆動之問題,因此實有必要提出改進的技術手段,來解決此一問題。
為解決上述先前技術所存在的問題,本發明揭露一種C型通用串列匯流排轉接板。
本發明揭露一種C型通用串列匯流排轉接板,其包括:電路板、C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組(Joint Test Action Group,JTAG)連接器,C型通用串列匯流排連接器電性連接於電路板的一側,JTAG連接器電性連接於電路板的另一側。C型通用串列匯流排連接器包括第一左接地引腳、第一右接地引腳、第一時鐘(Test Clock,TCK)引腳、第一資料輸入(Test Data In,TDI)引腳、第一資料輸出(Test Data Out,TDO)引腳、第一測試模式選擇(Test Mode Select,TMS)引腳、第二左接地引腳、第二右接地引腳、第二時鐘引腳、第二資料輸入引腳、第二資料輸出引腳與第二測試模式選擇引腳;JTAG連接器包括多個第三接地引腳、第三時鐘引腳、第三資料輸入引腳、第三資料輸出引腳與第三測試模式選擇引腳。其中,第一左接地引腳、第一右接地引腳、第二左接地引腳、第二右接地引腳與該些第三接地引腳透過電路板連接在一起,以形成接地線網;第一資料輸入引腳、第二資料輸入引腳與第三資料輸入引腳透過電路板連接在一起,以形成資料輸入線網;第一資料輸出引腳、第二資料輸出引腳與第三資料輸出引腳透過電路板連接在一起,以形成資料輸出線網;第一測試模式選擇引腳、第二測試模式選擇引腳與第三測試模式選擇引腳透過電路板連接在一起,以形成測試模式選擇線網;第一時鐘引腳、第二時鐘引腳與第三時鐘引腳透過電路板連接在一起,以形成時鐘線網。
在一實施例中,C型通用串列匯流排連接器支援USB 3.0的傳輸規格。
在一實施例中,JTAG連接器為帶鎖扣的連接器或防呆連接器。
在一實施例中,當C型通用串列匯流排轉接板應用在邊界掃描(Boundary Scan)的測試環境下時,C型通用串列匯流排連接器用以連接介面轉接板,介面轉接板為治具檢測雙列直插式記憶體模組插槽(DIMM slot)時所使用的轉接板;JTAG連接器用以連接測試存取埠(Test Access Port,TAP)主控板卡。
在一實施例中,C型通用串列匯流排連接器為母連接器。
本發明所揭露之C型通用串列匯流排轉接板如上,與先前技術的差異在於本發明是透過與C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器電性連接的電路板,使得C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的接地引腳形成接地線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的資料輸出引腳形成資料輸出線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的資料輸入引腳形成資料輸入線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的時鐘引腳形成時鐘線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的測試模式選擇引腳形成測試模式選擇線網。
透過上述的技術手段,本發明不僅可引出C型通用串列匯流排連接器所需的信號,還可節省了傳統C型通用串列匯流排轉接板因需核對每一插針的信號定義是否正確所耗費的時間,更可提高連接穩定性。此外,當JTAG連接器為帶鎖扣的連接器或防呆連接器時,可以保證JTAG連接器與線纜進行連接時插接方向是固定的,預防插接錯誤,且自帶鎖扣的JTAG連接器也保證了線纜連接的穩固性。
以下將配合圖式及實施例來詳細說明本發明之實施方式,藉此對本發明如何應用技術手段來解決技術問題並達成技術功效的實現過程能充分理解並據以實施。
請參閱「第1圖」,「第1圖」為本發明C型通用串列匯流排轉接板之一實施例外觀示意圖。在本實施例中,C型通用串列匯流排轉接板100可包括:電路板110、C型通用串列匯流排連接器120與聯合測試行動組(Joint Test Action Group,JTAG)連接器130,C型通用串列匯流排連接器120可電性連接於電路板110的一側,JTAG連接器130可電性連接於電路板110的另一側。其中,C型通用串列匯流排連接器120可支援USB 3.0的傳輸規格(即C型通用串列匯流排連接器120可支持市售USB 3.0 type-C的線材)。在本實施例中,C型通用串列匯流排連接器120可為但不限於母連接器,換句話說,在另一實施例中,C型通用串列匯流排連接器120可為公連接器。
此外,在本實施例中,C型通用串列匯流排連接器120對外的連接方向為圖面的左右方向,JTAG連接器130對外的連接方向為垂直圖面的方向(即遠離圖面或接近圖面),但本實施例並非用以限定本發明,可依據實際需求進行調整。
請參閱「第2圖」,「第2圖」為「第1圖」的C型通用串列匯流排連接器之一實施例示意圖。在本實施例中,C型通用串列匯流排連接器120可包括第一左接地引腳21、第一右接地引腳22、第一時鐘(Test Clock,TCK)引腳23、第一資料輸入(Test Data In,TDI)引腳24、第一資料輸出(Test Data Out,TDO)引腳25、第一測試模式選擇(Test Mode Select,TMS)引腳26、第二左接地引腳27、第二右接地引腳28、第二時鐘引腳29、第二資料輸入引腳30、第二資料輸出引腳31與第二測試模式選擇引腳32。其中,C型通用串列匯流排連接器120為標準C型通用串列匯流排連接器。
請參閱「第3圖」,「第3圖」為「第1圖」的JTAG連接器之一實施例示意圖。在本實施例中,JTAG連接器130可包括多個第三接地引腳51、第三時鐘引腳52、第三資料輸入引腳53、第三資料輸出引腳54與第三測試模式選擇引腳55。其中,第三接地引腳51的數量可為但不限於五個,JTAG連接器130可為具有2X5個引腳的連接器。
在本實施例中,C型通用串列匯流排連接器120的第一左接地引腳21、第一右接地引腳22、第二左接地引腳27與第二右接地引腳28以及JTAG連接器130的該些第三接地引腳51可透過電路板110連接在一起,以形成接地線網;C型通用串列匯流排連接器120的第一資料輸入引腳24與第二資料輸入引腳30以及JTAG連接器130的第三資料輸入引腳53可透過電路板110連接在一起,以形成資料輸入線網;C型通用串列匯流排連接器120的第一資料輸出引腳25與第二資料輸出引腳31以及JTAG連接器130的第三資料輸出引腳54可透過電路板110連接在一起,以形成資料輸出線網;C型通用串列匯流排連接器120的第一測試模式選擇引腳26與第二測試模式選擇引腳32以及JTAG連接器130的第三測試模式選擇引腳55可透過電路板110連接在一起,以形成測試模式選擇線網;C型通用串列匯流排連接器120的第一時鐘引腳23與第二時鐘引腳29以及JTAG連接器130的第三時鐘引腳52可透過電路板110連接在一起,以形成時鐘線網。
因此,C型通用串列匯流排轉接板100不僅可引出C型通用串列匯流排連接器120所需的信號,還可節省了傳統C型通用串列匯流排轉接板因需核對每一插針的信號定義是否正確所耗費的時間,更可提高連接穩定性。
此外,JTAG連接器130可為帶鎖扣的連接器或防呆連接器,因此,可以保證JTAG連接器130與線纜進行連接時插接方向是固定的,預防插接錯誤,且自帶鎖扣的JTAG連接器130也保證了線纜連接的穩固性。
另外,當C型通用串列匯流排轉接板100應用在邊界掃描(Boundary Scan)的測試環境下時,C型通用串列匯流排連接器120可用以連接介面轉接板(未繪製),介面轉接板可為治具檢測雙列直插式記憶體模組插槽(DIMM slot)時所使用的轉接板;JTAG連接器130可用以連接測試存取埠(Test Access Port,TAP)主控板卡(未繪製)。
綜上所述,可知本發明與先前技術之間的差異在於透過與C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器電性連接的電路板,使得C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的接地引腳形成接地線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的資料輸出引腳形成資料輸出線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的資料輸入引腳形成資料輸入線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的時鐘引腳形成時鐘線網,C型通用串列匯流排連接器與聯合測試行動組連接器的測試模式選擇引腳形成測試模式選擇線網。因此,本發明不僅可引出C型通用串列匯流排連接器所需的信號,還可節省了傳統C型通用串列匯流排轉接板因需核對每一插針的信號定義是否正確所耗費的時間,更可提高連接穩定性。
此外,當JTAG連接器為帶鎖扣的連接器或防呆連接器時,可以保證JTAG連接器與線纜進行連接時插接方向是固定的,預防插接錯誤,且自帶鎖扣的JTAG連接器也保證了線纜連接的穩固性。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何熟習相像技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。
21:第一左接地引腳
22:第一右接地引腳
23:第一時鐘引腳
24:第一資料輸入引腳
25:第一資料輸出引腳
26:第一測試模式選擇引腳
27:第二左接地引腳
28:第二右接地引腳
29:第二時鐘引腳
30:第二資料輸入引腳
31:第二資料輸出引腳
32:第二測試模式選擇引腳
51:第三接地引腳
52:第三時鐘引腳
53:第三資料輸入引腳
54:第三資料輸出引腳
55:第三測試模式選擇引腳
100:C型通用串列匯流排轉接板
110:電路板
120:C型通用串列匯流排連接器
130:聯合測試行動組連接器
第1圖為本發明C型通用串列匯流排轉接板之一實施例外觀示意圖。
第2圖為第1圖的C型通用串列匯流排連接器之一實施例示意圖。
第3圖為第1圖的JTAG連接器之一實施例示意圖。
100:C型通用串列匯流排轉接板
110:電路板
120:C型通用串列匯流排連接器
130:聯合測試行動組連接器
Claims (5)
- 一種C型通用串列匯流排轉接板,其包括: 一電路板; 一C型通用串列匯流排連接器,電性連接於該電路板的一側,該C型通用串列匯流排連接器包括一第一左接地引腳、一第一右接地引腳、一第一時鐘(Test Clock,TCK)引腳、一第一資料輸入(Test Data In,TDI)引腳、一第一資料輸出(Test Data Out,TDO)引腳、一第一測試模式選擇(Test Mode Select,TMS)引腳、一第二左接地引腳、一第二右接地引腳、一第二時鐘引腳、一第二資料輸入引腳、一第二資料輸出引腳與一第二測試模式選擇引腳;以及 一聯合測試行動組(Joint Test Action Group,JTAG)連接器,電性連接於該電路板的另一側,該JTAG連接器包括多個第三接地引腳、一第三時鐘引腳、一第三資料輸入引腳、一第三資料輸出引腳與一第三測試模式選擇引腳; 其中,該第一左接地引腳、該第一右接地引腳、該第二左接地引腳、該第二右接地引腳與該些第三接地引腳透過該電路板連接在一起,以形成一接地線網;該第一資料輸入引腳、該第二資料輸入引腳與該第三資料輸入引腳透過該電路板連接在一起,以形成一資料輸入線網;該第一資料輸出引腳、該第二資料輸出引腳與該第三資料輸出引腳透過該電路板連接在一起,以形成一資料輸出線網;該第一測試模式選擇引腳、該第二測試模式選擇引腳與該第三測試模式選擇引腳透過該電路板連接在一起,以形成一測試模式選擇線網;該第一時鐘引腳、該第二時鐘引腳與該第三時鐘引腳透過該電路板連接在一起,以形成一時鐘線網。
- 如請求項1項所述之C型通用串列匯流排轉接板,其中,該C型通用串列匯流排連接器支援USB 3.0的傳輸規格。
- 如請求項1項所述之C型通用串列匯流排轉接板,其中,該JTAG連接器為帶鎖扣的連接器或防呆連接器。
- 如請求項1項所述之C型通用串列匯流排轉接板,其中,當該C型通用串列匯流排轉接板應用在邊界掃描(Boundary Scan)的測試環境下時,該C型通用串列匯流排連接器用以連接一介面轉接板,該介面轉接板為一治具檢測一雙列直插式記憶體模組插槽(DIMM slot)時所使用的轉接板;該JTAG連接器用以連接一測試存取埠(Test Access Port,TAP)主控板卡。
- 如請求項1項所述之C型通用串列匯流排轉接板,其中,該C型通用串列匯流排連接器為母連接器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW109128348A TW202209037A (zh) | 2020-08-20 | 2020-08-20 | C型通用串列匯流排轉接板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW109128348A TW202209037A (zh) | 2020-08-20 | 2020-08-20 | C型通用串列匯流排轉接板 |
Publications (1)
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Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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TW109128348A TW202209037A (zh) | 2020-08-20 | 2020-08-20 | C型通用串列匯流排轉接板 |
Country Status (1)
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TW (1) | TW202209037A (zh) |
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- 2020-08-20 TW TW109128348A patent/TW202209037A/zh unknown
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