TW202201132A - 平坦化方法及可光固化組成物 - Google Patents

平坦化方法及可光固化組成物 Download PDF

Info

Publication number
TW202201132A
TW202201132A TW110122384A TW110122384A TW202201132A TW 202201132 A TW202201132 A TW 202201132A TW 110122384 A TW110122384 A TW 110122384A TW 110122384 A TW110122384 A TW 110122384A TW 202201132 A TW202201132 A TW 202201132A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
curable composition
liquid curable
substrate
liquid
meth
Prior art date
Application number
TW110122384A
Other languages
English (en)
Inventor
伊藤俊樹
千葉啓子
堤墨希 史塔維克
山下敬司
Original Assignee
日商佳能股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商佳能股份有限公司 filed Critical 日商佳能股份有限公司
Publication of TW202201132A publication Critical patent/TW202201132A/zh

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16Coating processes; Apparatus therefor
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/06Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation
    • B05D3/061Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation using U.V.
    • B05D3/065After-treatment
    • B05D3/067Curing or cross-linking the coating
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/12Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by mechanical means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D5/00Processes for applying liquids or other fluent materials to surfaces to obtain special surface effects, finishes or structures
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/028Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/09Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
    • G03F7/094Multilayer resist systems, e.g. planarising layers
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16Coating processes; Apparatus therefor
    • G03F7/168Finishing the coated layer, e.g. drying, baking, soaking
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D1/00Processes for applying liquids or other fluent materials
    • B05D1/36Successively applying liquids or other fluent materials, e.g. without intermediate treatment

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Architecture (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Polymerisation Methods In General (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

一種基材表面之平坦化方法包括呈以下順序之步驟:將液態可固化組成物配置在不平坦之基材表面上的配置步驟,等待直到該液態可固化組成物之層表面變為平滑的等待步驟,及施加光以固化該液態可固化組成物之層的曝光步驟。該配置步驟包括配置由含有至少一可聚合化合物(a1)之第一液態可固化組成物(A1)所製成之層的第一配置步驟,藉由離散地滴下含有至少一可聚合化合物(a2)之第二液態可固化組成物(A2)之液滴以將該等液滴配置在該由第一液態可固化組成物(A1)所製成之層上的第二配置步驟。

Description

平坦化方法及可光固化組成物
本發明係關於一種平坦化方法及可光固化組成物。
在用於製造半導體裝置之光微影步驟中,需要使該基材平滑。例如,在極紫外線曝光技術(EUV)(其為近年來已受注意之光微影技術)中,待經光阻劑塗覆之基材表面的不平坦度需要保持在4nm或更小,因為微型化減低在經投射之影像形成點上之焦點深度。並且,在作為另一光微影技術之奈米銘印微影(NIL)技術中,也需要使平坦化程度與EUV者相當以改良填充性和線寬精確度。
在該半導體工業中最普遍的平坦化技術是化學機械拋光(CMP)。已經發展以主要用於硬材料諸如金屬或介電材料的CMP具有數項缺點。將CMP施加至軟材料諸如有機材料需要嚴格的處理條件控制。還有一問題是:對於比數μm寬之凹面而言,過度的拋光產生凹面,因此導致不完全的平坦化。
另一平坦化技術是普遍用於45nm結點(node)及新近的半導體裝置的旋轉塗覆碳(spin-on-carbon,SOC)技術。在該SOC技術中,光微影步驟係藉由下述進行:將經溶於有機溶劑中之碳材料的前驅物溶液旋轉塗覆在基材上,將旋轉塗覆玻璃(SOG)層旋轉塗覆在該SOC上,且將光阻劑塗覆在該SOG上。當該液態碳材料之前驅物溶液被旋轉塗覆在該不平坦之基材上之時,該不平坦度係藉由該液體步驟之覆蓋效應所減低。該SOC技術對深度/寬度比率(A.R.)約1或更高的凹面(例如深度100nm且寬度100nm之凹面)有優越效果,但該效果隨著凹面之A.R.減低至小於1(例如當該深度是100nm且該寬度是1000nm時)而弱化。這是因為待經旋轉塗覆之液態膜具有試圖形成與該基材表面平行的液態表面的性質。 [引用文件之列舉] [非專利文獻]
NPL 1:N. IMAISHI/Int. J. Microgravity Sci. No.31 Supplement 2014(S5-S12)
[技術問題]
鑒於以上,本發明之目的是要提供一種平坦化方法及可光固化組成物,其也能平坦化具有寬度比深度大之凹面的不平坦基材。 [問題的解決方法]
根據本發明,提供一種平坦化方法,其包括呈以下順序之步驟:將液態可固化組成物配置在不平坦之基材上的配置步驟,等待直至該液態可固化組成物之層的表面變平滑的等待步驟,及施加光以固化該液態可固化組成物之層的曝光步驟,且其中該配置步驟包括配置由含有至少可聚合化合物(a1)之第一液態可固化組成物(A1)所製成之層的第一配置步驟,及藉由離散地滴下含有至少一可聚合化合物(a2)之第二液態可固化組成物(A2)之液滴以將該等液滴配置在該由第一液態可固化組成物(A1)所製成之層上的第二配置步驟。
並且,根據本發明,提供一種平坦化方法,其包括呈以下順序之步驟:配置液態可固化組成物在不平坦之基材上的配置步驟;使對所施加之光為透明且具有平滑表面的模具與在該基材表面上之該液態可固化組成物接觸的模製步驟;從該模具側施加光以固化該液態可固化組成物的曝光步驟;及由該經固化組成物脫開該模具的脫離步驟,且其中該配置步驟包括配置由含有至少一可聚合化合物(a1)之第一液態可固化組成物(A1)所製成之層的第一配置步驟,及藉由離散地滴下含有至少一可聚合化合物(a2)之第二液態可固化組成物(A2)之液滴以將該等液滴配置在該由第一液態可固化組成物(A1)所製成之層上的第二配置步驟。
再者,根據本發明,提供該第一液態可固化組成物(A1)、該第二液態可固化組成物(A2)及用於該平坦化方法之包含這些組成物的套組。 [本發明之有利效果]
根據本發明,可能提供一種平坦化方法和光可固化組成物,其能使具有寬度比深度大的凹面的不平坦基材平坦化。
本發明之進一步的特徵在參照附圖下,將藉由以下例示性具體例的描述來顯明。
[具體例之描述]
在合適地參照圖式下,本發明之具體例將在以下詳細地被描述。要注意:本發明不限於將在以下描述之具體例。再者,本發明之範圍也涵蓋基於精於此技術者之一般認知,在不偏離本發明之主旨下,藉由對以下描述之具體例合適地進行改變、改良及類似者所得之具體例。
[可固化組成物] 根據本具體例之液態可固化組成物(A1)是具有至少成分(a1)(其為可聚合化合物)及成分(d1)(其為溶劑)的化合物。根據本具體例之液態可固化組成物(A1)可進一步含有成分(b1)(其為光聚合起始劑)及非可聚合化合物(c1)。
根據本具體例之液態可固化組成物(A2)是具有至少成分(a2)(其為可聚合化合物)的化合物。根據本具體例之液態可固化組成物(A2)可進一步含有成分(b2)(其為光聚合起始劑)、非可聚合化合物(c2)、及成分(d2)(其為溶劑)。
並且,在此說明中,經固化膜是指藉由在基材上聚合且因此固化液態可固化組成物所得之膜。
每一成分將在以下詳細說明。
<成分(a):可聚合化合物> 成分(a1)和(a2)是可聚合化合物。在以下,將該成分(a1)和(a2)總稱為成分(a)。在此,在此說明中,可聚合化合物是其與從成分(b1)或(b2)(其為光聚合起始劑)所產生之聚合因子(諸如自由基)反應以由於鏈反應(聚合反應)而形成由聚合物化合物所製成之膜化合物。
此一可聚合化合物之實例包括自由基可聚合化合物。成分(a)(其為可聚合化合物)可僅由一類可聚合化合物製成或由多類可聚合化合物製成。
該自由基可聚合化合物較佳是具有一或多個丙烯醯基或甲基丙烯醯基之化合物,亦即(甲基)丙烯酸系化合物。因此,較佳是:根據本具體例之可固化組成物含有(甲基)丙烯酸系化合物作為該成分(a)。更佳是:該成分(a)之主成分是該(甲基)丙烯酸系化合物。最佳是:整個成分(a)是該(甲基)丙烯酸系化合物。要注意:當該成分(a)之主成分是在此所述之(甲基)丙烯酸系化合物時,就是指該成分(a)中90wt%或更多是該(甲基)丙烯酸系化合物。
當該自由基可聚合化合物是由多類具有一或多個丙烯醯基或甲基丙烯醯基之化合物所製成時,較佳是:該自由基可聚合化合物含有單官能之(甲基)丙烯酸系單體及多官能(甲基)丙烯酸系單體。這是因為具有高機械強度之經固化膜能藉由組合單官能(甲基)丙烯酸系單體和多官能(甲基)丙烯酸系單體而獲得。
具有一個丙烯醯基或甲基丙烯醯基之單官能(甲基)丙烯酸系化合物的實例包括但不限於(甲基)丙烯酸苯氧基乙酯、(甲基)丙烯酸苯氧基-2-甲基乙酯、(甲基)丙烯酸苯氧基乙氧基乙酯、(甲基)丙烯酸3-苯氧基-2-羥基丙酯、(甲基)丙烯酸2-苯基苯氧基乙酯、(甲基)丙烯酸4-苯基苯氧基乙酯、(甲基)丙烯酸3-(2-苯基苯基)-2-羥基丙酯、經EO改質之(甲基)丙烯酸p-異丙苯基酚酯、(甲基)丙烯酸2-溴苯氧基乙酯、(甲基)丙烯酸2,4-二溴苯氧基乙酯、(甲基)丙烯酸2,4,6-三溴苯氧基乙酯、經EO改質之(甲基)丙烯酸苯氧酯、經PO改質之(甲基)丙烯酸苯氧酯、(甲基)丙烯酸聚氧基伸乙基壬基苯基醚酯、(甲基)丙烯酸異
Figure 110122384-A0101-12-01
酯、(甲基)丙烯酸1-金剛酯、(甲基)丙烯酸2-甲基-2-金剛酯、(甲基)丙烯酸2-乙基-2-金剛酯、(甲基)丙烯酸
Figure 110122384-A0101-12-01
酯、(甲基)丙烯酸三環癸酯、(甲基)丙烯酸二環戊酯、(甲基)丙烯酸二環戊烯酯、(甲基)丙烯酸環己酯、(甲基)丙烯酸4-丁基環己酯、丙烯醯基嗎福林、(甲基)丙烯酸2-羥基乙酯、(甲基)丙烯酸2-羥基丙酯、(甲基)丙烯酸2-羥基丁酯、(甲基)丙烯酸甲酯、(甲基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸丙酯、(甲基)丙烯酸異丙酯、(甲基)丙烯酸丁酯、(甲基)丙烯酸戊酯、(甲基)丙烯酸異丁酯、(甲基)丙烯酸第三丁酯、(甲基)丙烯酸戊酯、(甲基)丙烯酸異戊酯、(甲基)丙烯酸己酯、(甲基)丙烯酸庚酯、(甲基)丙烯酸辛酯、(甲基)丙烯酸異辛酯、(甲基)丙烯酸2-乙基己酯、(甲基)丙烯酸壬酯、(甲基)丙烯酸癸酯、(甲基)丙烯酸異癸酯、(甲基)丙烯酸十一酯、(甲基)丙烯酸十二酯、(甲基)丙烯酸月桂酯、(甲基)丙烯酸硬脂酯、(甲基)丙烯酸異硬脂酯、(甲基)丙烯酸苄酯、(甲基)丙烯酸四氫呋喃酯、(甲基)丙烯酸丁氧基乙酯、(甲基)丙烯酸乙氧基二乙二醇酯、單(甲基)丙烯酸聚乙二醇酯、單(甲基)丙烯酸多丙二醇酯、(甲基)丙烯酸甲氧基乙二醇酯、(甲基)丙烯酸乙氧基乙酯、(甲基)丙烯酸甲氧基聚乙二醇酯、(甲基)丙烯酸甲氧基多丙二醇酯、二丙酮(甲基)丙烯醯胺、異丁氧基甲基(甲基)丙烯醯胺、N,N-二甲基(甲基)丙烯醯胺、第三辛基(甲基)丙烯醯胺、(甲基)丙烯酸二甲基胺基乙酯、(甲基)丙烯酸二乙基胺基乙酯丙烯醯胺、(甲基)丙烯酸7-胺基-3,7-二甲基辛酯、N,N-二乙基(甲基)丙烯醯胺、N,N-二己基胺基丙基(甲基)丙烯醯胺、及類似者。
該單官能的(甲基)丙烯酸系化合物之市售產品包括但不限於:Aronix (註冊商標) M101、M102、M110、M111、M113、M117、M5700、TO-1317、M120、M150、及M156(彼等係藉由TOAGOSEI CO., LTD.所製造);MEDOL10、MIBDOL10、CHDOL10、MMDOL30、MEDOL30、MIBDOL30、CHDOL30、LA、IBXA、2-MTA、HPA、及Viscoat#150、#155、#158、#190、#192、#193、#220、#2000、#2100、及#2150(彼等係藉由OSAKA ORGANIC CHEMICAL INDUSTRY LTD.所製造);LIGHT ACRYLATE BO-A、EC-A、DMP-A、THF-A、HOP-A、HOA-MPE、HOA-MPL、PO-A、P-200A、NP-4EA、及NP-8EA及EPOXY ESTER M-600A(彼等係藉由Kyoeisha Chemical Co., Ltd.所製造);KAYARAD(註冊商標) TC110S、R-564、及R-128H(彼等係藉由Nippon Kayaku Co., Ltd.所製造);NK酯AMP-10G及AMP-20G(其係藉由Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.所製造);FA-511、512A、及513A(其係藉由Hitachi Chemical Co., Ltd.所製造);PHE、CEA、PHE-2、PHE-4、BR-31、BR-31M、及BR-32(其係藉由DAI-ICHI KOGYO SEIYAKU CO., LTD所製造);VP(其係藉由BASF所製造);ACMO、DMAA、及DMAPAA (其係藉由KOHJIN所製造);及類似者。
具有二或更多個丙烯醯基或甲基丙烯醯基之多官能的(甲基)丙烯酸系化合物的實例包括但不限於三(羥甲基)丙烷二(甲基)丙烯酸酯、三(羥甲基)丙烷三(甲基)丙烯酸酯、經EO改質之三(羥甲基)丙烷三(甲基)丙烯酸酯、經PO改質之三(羥甲基)丙烷三(甲基)丙烯酸酯、經EP、PO改質之三(羥甲基)丙烷三(甲基)丙烯酸酯、二(甲基)丙烯酸二(羥甲基)三環癸烷酯、三(甲基)丙烯酸新戊四醇酯、四(甲基)丙烯酸新戊四醇酯、二(甲基)丙烯酸乙二醇酯、二(甲基)丙烯酸四乙二醇酯、二(甲基)丙烯酸聚乙二醇酯、二(甲基)丙烯酸多丙二醇酯、二(甲基)丙烯酸1,4-丁二醇酯、二(甲基)丙烯酸1,6-己二醇酯、二(甲基)丙烯酸新戊二醇酯、二(甲基)丙烯酸1,9-壬二醇酯、二(甲基)丙烯酸1,10-癸二醇酯、二(甲基)丙烯酸1,3-金剛烷二甲醇酯、三(2-羥基乙基)三聚異氰酸三(甲基)丙烯酸酯、三聚異氰酸三(丙烯醯基氧基)酯、雙(羥基甲基)三環癸烷二(甲基)丙烯酸酯、五(甲基)丙烯酸二新戊四醇酯、六(甲基)丙烯酸二新戊四醇酯、經EO改質之2,2-雙(4-((甲基)丙烯氧基)苯基)丙烷、經PO改質之2,2-雙(4-((甲基)丙烯氧基)苯基)丙烷、經EO、PO改質之2,2-雙(4-((甲基)丙烯氧基)苯基)丙烷、及類似者。
該多官能的(甲基)丙烯酸系化合物之市售產品包括但不限於:Yupimer (註冊商標) UV SA1002及SA2007(彼等係藉由Mitsubishi Chemical Corporation所製造);Viscoat#195、#230、#215、#260、#335HP、#295、#300、#360、#700、GPT、及3PA(彼等係藉由OSAKA ORGANIC CHEMICAL INDUSTRY LTD.所製造);LIGHT ACRYLATE 4EG-A、9EG-A、NP-A、DCP-A、BP-4EA、BP-4PA、TMP-A、PE-3A、PE-4A、及DPE-6A(其係藉由Kyoeisha Chemical Co., Ltd.所製造);KAYARAD(註冊商標)PET-30、TMPTA、R-604、DPHA、DPCA-20、-30、-60、及-120、HX-620、D-310、及D-330(彼等係藉由Nippon Kayaku Co., Ltd.所製造);Aronix(註冊商標) M208、M210、M215、M220、M240、M305、M309、M310、M315、M325、及M400(彼等係藉由TOAGOSEI CO., LTD.所製造);Ripoxy(註冊商標) VR-77、VR-60、及VR-90(彼等係藉由Showa High Polymer Co., Ltd.所製造);及類似者。
要注意:在該化合物中之該(甲基)丙烯酸酯意指丙烯酸酯或甲基丙烯酸酯,其具有與其等當量之醇殘基。(甲基)丙烯醯基是指丙烯醯基或甲基丙烯醯基,其具有與其等當量之醇殘基。EO指明環氧乙烷,且經EO改質之化合物A是指一種化合物,其中該化合物A之(甲基)丙烯酸殘基和醇殘基透過環氧乙烷基團之嵌段結構彼此鍵結。並且,PO指明環氧丙烷,且經PO改質之化合物B是指一種化合物,其中該化合物B之(甲基)丙烯酸殘基和醇殘基透過環氧丙烷基團之嵌段結構彼此鍵結。
<成分(b):光聚合起始劑> 該等成分(b1)和(b2)是光聚合起始劑。在以下,將該等成分(b1)和(b2)總稱為成分(b)。
在此說明中,光聚合起始劑是一種藉由感測預定波長之光以產生上述聚合因子(自由基)的化合物。特別地,光聚合起始劑是一種利用光(一種輻射諸如紅外光、可見光、紫外光、遠紫外光、X光、或帶電荷之粒子束,包括電子射線)產生自由基之聚合起始劑(自由基產生劑)。
該成分(b)可以由一類光聚合起始劑或由多類光聚合起始劑所製成。
自由基產生劑之實例包括但不限於:可具有取代基之2,4,5-三芳基咪唑二聚體諸如2-(o-氯苯基)-4,5-二苯基咪唑二聚體、2-(o-氯苯基)-4,5-二(甲氧基苯基)咪唑二聚體、2-(o-氟苯基)-4,5-二苯基咪唑二聚體、及2-(o-或p-甲氧基苯基)-4,5-二苯基咪唑二聚體;二苯甲酮及二苯甲酮衍生物諸如N,N’-四甲基-4,4’-二胺基二苯甲酮(Michler酮)、N,N’-四乙基-4,4’-二胺基二苯甲酮、4-甲氧基-4’-二甲基胺基二苯甲酮、4-氯二苯甲酮、4,4’-二甲氧基二苯甲酮、及4,4’-二胺基二苯甲酮;α-胺基芳香族酮衍生物諸如2-苄基-2-二甲基胺基-1-(4-N-嗎福林基苯基)-丁酮-1及2-甲基-1-[4-(甲基硫基)苯基]-2-N-嗎福林基-丙烷-1-酮;醌類諸如2-乙基蒽醌、菲醌、2-第三丁基蒽醌、八甲基蒽醌、1,2-苯並蒽醌、2,3-苯並蒽醌、2-苯基蒽醌、2,3-二苯基蒽醌、1-氯蒽醌、2-甲基蒽醌、1,4-萘醌、9,10-菲醌、2-甲基-1,4-萘醌、及2,3-二甲基蒽醌;苯偶因醚衍生物諸如苯偶因甲基醚、苯偶因乙基醚、及苯偶因苯基醚;苯偶因及苯偶因衍生物諸如甲基苯偶因、乙基苯偶因、及丙基苯偶因;苄基衍生物諸如苄基二甲基縮酮;吖啶衍生物諸如9-苯基吖啶及1,7-雙(9,9’-吖啶基)庚烷;N-苯基甘胺酸衍生物諸如N-苯基甘胺酸;苯乙酮和苯乙酮衍生物諸如3-甲基苯乙酮、苯乙酮苄基縮酮、1-羥基環己基苯基酮、及2,2-二甲氧基-2-苯基苯乙酮;硫葱酮(thioxanthone)及硫葱酮衍生物諸如二乙基硫葱酮、2-異丙基硫葱酮、以及2-氯硫葱酮;醯基膦氧化物衍生物諸如2,4,6-三甲基苯醯基二苯基膦氧化物、雙(2,4,6-三甲基苯醯基)苯基膦氧化物、及雙-(2,6-二甲氧基苯醯基)-2,4,4-三甲基戊基膦氧化物;肟酯衍生物諸如1,2-辛二酮、1-[4-(苯硫基)苯基]-、2-(O-苯醯基肟)(品名:Irgacure OXE01)、乙酮、1-[9-乙基-6-(2-甲基苯醯基)-9H-咔唑-3-基]-、及1-(O-乙醯基肟)(品名:Irgacure OXE02);氧葱酮;茀酮(fluorenone);苯醛;茀;蒽醌;三苯胺;咔唑;1-(4-異丙基苯基)-2-羥基-2-甲基丙-1-酮;2-羥基-2-甲基-1-苯基丙-1-酮;及類似者。
該自由基產生劑之市售產品包括但不限於Irgacure 184、369、651、500、819、907、784、及2959、CGI-1700、-1750、及-1850、以及CG24-61、Darocur 1116及1173、Lucirin(註冊商標) TPO、LR8893、及LR8970(彼等係藉由BASF所製造)、Ubecryl P36(彼係藉由UCB所製造)、及類似者。
較佳是:該成分(b)為其中之醯基膦氧化物系聚合起始劑。要注意:在該等實例之間,該醯基膦氧化物系聚合起始劑是醯基膦氧化物化合物諸如2,4,6-三甲基苯醯基二苯基膦氧化物、雙(2,4,6-三甲基苯醯基)苯基膦氧化物、及雙-(2,6-二甲氧基苯醯基)-2,4,4-三甲基戊基膦氧化物。
有利地,在該等液態可固化組成物(A1)和(A2)中該成分(b)(其為光聚合起始劑)的摻混比率以該等成分(a)、該成分(b)、及下述成分(c)之全部計,亦即以不包括該溶劑成分(d)之所有成分的總重量計,為0.1wt%或更高及50wt%或更低。再者,該摻混比率較佳是0.1wt%或更高及20wt%或更低,且更佳地,高於10wt%及20wt%或更低。
藉由將以該成分(a)、成分(b)、及成分(c)之全部計之該成分(b)之摻混比率設定在0.1wt%或更高,該組成物之固化速率是高的,而能有良好反應效率。並且,藉由將以該成分(a)、該成分(b)、及該成分(c)之全部計之該成分(b)之摻混比率設定在50wt%或更低,所得之經固化膜能為具有某種程度之機械強度的經固化膜。
<成分(c):不可聚合化合物> 該等成分(c1)和(c2)是不可聚合化合物。在以下,將該等成分(c1)和(c2)總稱為成分(c)。
除了上述成分(a)和成分(b)之外,根據本具體例之該液態可固化組成物(A1)和(A2)還能根據不同目的,含有不可聚合之化合物作為該成分(c),其含量是在不破壞本發明之效果的範圍內。此一成分(c)包括既不具有可聚合官能基(諸如(甲基)丙烯醯基)也不具有藉由感測預定波長之光以產生上述聚合因子(自由基)的能力的化合物。實例包括敏化劑、氫給予體、內部脫離劑、介面活性劑、抗氧化劑、聚合物成分、其他添加劑等等。該成分(c)可含有該等化合物之二或多者。
該敏化劑是一種視需要被添加以供促進該聚合反應且改良該聚合轉化之目的的化合物。該敏化劑之實例包括敏化染料及類似者。
該敏化染料是一種藉由吸收特別波長之光而經激發且與該光聚合起始劑(其為成分(b))交互作用的化合物。要注意:在此所提及之交互作用是從激發態之該敏化染料至該光聚合起始劑(其為該成分(b))的能量轉移、電子轉移、或類似者。
該敏化染料之特定實例包括但不限於蒽衍生物、蒽醌衍生物、芘衍生物、苝衍生物、咔唑衍生物、二苯甲酮衍生物、硫葱酮(thioxanthone)衍生物、氧葱酮(xanthone)衍生物、香豆素衍生物、酚噻嗪衍生物、樟腦醌衍生物、吖啶系衍生物、硫吡林(thiopyrylium)鹽系染料、部花青系染料、喹啉系染料、苯乙烯基喹啉系染料、酮基香豆素系染料、硫
Figure 110122384-A0101-12-02
Figure 110122384-A0101-12-03
系染料、
Figure 110122384-A0101-12-02
Figure 110122384-A0101-12-03
系染料、側氧醇(oxonol)系染料、花青系染料、玫紅系染料、吡林(pyrylium)鹽系染料、及類似者。
可以單獨使用一類敏化劑或可以使用二或更多類敏化劑之混合物。
該氫給予體是一種化合物,其與由該成分(b)(其為該光聚合起始劑)所產生之起始自由基反應或與聚合成長端之自由基反應以產生更具反應性的自由基。該氫給予體較佳在該成分(b)(其係該光聚合起始劑)為光自由基時被添加。
此一氫給予體之特定實例包括但不限於:胺化合物諸如正丁胺、二-正丁胺、三-正丁基膦、烯丙基硫脲、對-甲苯亞磺酸第二苄基異硫脲、三乙胺、甲基丙烯酸二乙胺基乙酯、三伸乙基四胺、4,4’-雙(二烷胺基)二苯甲酮、N,N-二甲胺基苯甲酸乙酯、N,N-二甲胺基苯甲酸異戊酯、4-二甲胺基苯甲酸戊酯、三乙醇胺、及N-苯基甘胺酸;巰基化合物諸如2-巰基-N-苯基苯並咪唑及巰基丙酸酯;及類似者。
可以單獨使用一類該氫給予體或可以使用其二或更多類的混合物。並且,該氫給予體可具有敏化劑功能。
除了該等成分之外,可將內部脫離劑添加至該液態可固化組成物以供降低模具與阻劑之間的界面鍵的強度,亦即降低在下述脫離步驟中的脫離力。在此說明中,該內部添加類型是指:在配置該液態可固化組成物步驟之前,該脫模劑預先被添加至該液態可固化組成物。
作為該內部脫離劑,界面活性劑諸如聚矽氧系界面活性劑、氟系界面活性劑、及烴系界面活性劑、及類似者是可使用的。要注意:在本發明中,該內部脫離劑是不可聚合的。
該氟系界面活性劑包括:具有全氟烷基之醇的聚環氧烷(諸如聚環氧乙烷或聚環氧丙烷)加成物、全氟聚醚之聚環氧烷(諸如聚環氧乙烷或聚環氧丙烷)加成物、及類似者。要注意:該氟系界面活性劑在其分子結構之部分(例如端基)上,可具有羥基、烷氧基、烷基、胺基、硫醇基、或類似者。
可以使用市售產品作為該氟系界面活性劑。該市售產品之實例包括:MEGAFACE (註冊商標) F-444、TF-2066、TF-2067、及TF-2068(彼等係藉由DIC Corporation所製造);Fluorad FC-430及FC-431(彼等係藉由Sumitomo 3M Limited所製造);SURFLON(註冊商標) S-382(彼係藉由AGC所製造);EFTOP EF-122A、122B、和122C、EF-121、EF-126、EF-127、及MF-100(彼等係藉由Tohkem Products Corporation所製造);PF-636、PF-6320、PF-656、及PF-6520(彼係藉由OMNOVA Solutions Inc.所製造);UNIDYNE(註冊商標) DS-401、DS-403、及DS-451(彼係藉由DAIKIN INDUSTRIES, LTD所製造);FTERGENT(註冊商標) 250、251、222F、及208G(彼係藉由NEOS COMPANY LIMITED所製造);及類似者。
可選擇地,該內部脫離劑可以是烴系界面活性劑。
該烴系界面活性劑包括藉由將具有2至4個碳原子之環氧烷加成至具有1至50個碳原子之烷醇所得之烷醇聚環氧烷加成物、及類似者。
該烷醇聚環氧烷加成物包括甲醇環氧乙烷加成物、癸醇環氧乙烷加成物、月桂醇環氧乙烷加成物、鯨蠟醇環氧乙烷加成物、硬脂醇環氧乙烷加成物、硬脂醇環氧乙烷/環氧丙烷加成物、及類似者。要注意:該烷醇聚環氧烷加成物之端基不限於能藉由簡單地將聚環氧烷加成至烷醇所產生之羥基。該羥基可經另一取代基(例如極性官能基諸如羧基、胺基、吡啶基、硫醇基、或矽醇基或經疏水性官能基諸如烷基或烷氧基)所取代。
可以使用市售產品作為該烷醇聚環氧烷加成物。該市售產品的實例包括:藉由AOKI OIL INDUSTRIAL Co., Ltd所製造之聚氧伸乙基甲基醚類(甲醇環氧乙烷加成物)(BALUNON MP-400、MP-550、及MP-1000);藉由AOKI OIL INDUSTRIAL Co., Ltd所製造之聚氧伸乙基癸基醚類(癸醇環氧乙烷加成物)(FINESURF D-1303、D-1305、D-1307、及D-1310);藉由AOKI OIL INDUSTRIAL Co., Ltd所製造之聚氧伸乙基月桂基醚類(月桂醇環氧乙烷加成物)(BLAUNON EL-1505);藉由AOKI OIL INDUSTRIAL Co., Ltd所製造之聚氧伸乙基鯨蠟基醚類(鯨蠟醇環氧乙烷加成物)(BLAUNON CH-305及CH-310);藉由AOKI OIL INDUSTRIAL Co., Ltd所製造之聚氧伸乙基硬脂基醚類(硬脂醇環氧乙烷加成物)(BLAUNON SR-705、SR-707、SR-715、SR-720、;SR-730、及SR-750);藉由AOKI OIL INDUSTRIAL Co., Ltd所製造之無規聚合型聚氧伸乙基聚氧伸丙基硬脂基醚類(BLAUNON SA-50/50 1000R及SA-30/70 2000R);藉由BASF所製造之聚氧伸乙基甲基醚(Pluriol(註冊商標) A760E);藉由Kao Corporation所製造之聚氧伸乙基烷基醚(EMULGEN系列)及類似者。
在這些烴系界面活性劑之間,該內部脫離劑較佳是烷醇聚環氧烷加成物且更佳是長鏈烷醇聚環氧烷加成物。
可以單獨使用一類的該內部脫離劑,或可以使用其二或更多類的混合物。
有利地,在該液態可固化組成物中,該成分(c)(其為非可聚合之化合物)的摻混比率,以該成分(a)、該成分(b)、及下述之成分(c)之全部計,亦即以不包括該溶劑之所有成分的總重量計,係0wt%或更高及50wt%或更低。再者,該摻混比率較佳是0.1wt%或更高及50wt%或更低,且更佳是0.1wt%或更高及20wt%或更低。
藉由將以該成分(a)、該成分(b)、及下述之成分(c)之全部計之該成分(a)的摻混比率設定在50wt%或更低,所得之經固化膜能為一種具有特定程度之機械強度的經固化膜。
<成分(d):溶劑> 該等成分(d1)和(d2)是溶劑。在以下,將該等成分(d1)和(d2)總稱為成分(d)。
根據本具體例之液態可固化組成物(A1)含有該溶劑成分(d1)。這是因為旋轉塗覆方法是較佳之將該液態可固化組成物(A1)塗覆在基材上的方法,其將在以下描述。因這理由,該溶劑成分(d1)之含量較佳是90wt%或更高及99.99wt%或更低,且特佳是99wt%或更高及99.9wt%或更低。作為該液態可固化組成物(A1)之該溶劑成分(d1),使用一種溶劑,其中溶解該成分(a1)、該成分(b1)、及該成分(c1)且其具有比該成分(a1)、該成分(b1)、及該成分(c1)之混合物低之表面張力。該溶劑成分(d1)之表面張力愈低,則藉由旋轉塗覆方法所得之膜將更平坦。更佳溶劑是一種在常壓下具有80℃或更高及200℃或更低之沸點的溶劑。更佳地,該溶劑是一種具有酯結構、酮結構、羥基、及醚結構之至少一者的溶劑。特別地,該溶劑是一種選自丙二醇單甲基醚乙酸酯、丙二醇單甲基醚、環己酮、2-庚酮、γ-丁內酯、及乳酸乙酯的單一溶劑、或彼等之混合溶劑。
根據本具體例之液態可固化組成物(A2)可含有作為該成分(d2)之溶劑。待添加至該液態可固化組成物(A2)之該成分(d2)不特別受限制,只要彼為將該成分(a2)、該成分(b2)、及該成分(c2)溶於其中的溶劑。更佳之溶劑是一種在常壓下具有80℃或更高及200℃或更低之沸點的溶劑。更佳地,該溶劑是一種具有酯結構、酮結構、羥基、及醚結構之至少一者的溶劑。特別地,該溶劑是一種選自丙二醇單甲基醚乙酸酯、丙二醇單甲基醚、環己酮、2-庚酮、γ-丁內酯、及乳酸乙酯的單一溶劑、或彼等之混合溶劑。
<在摻合可固化組成物期間之溫度> 當製備根據本具體例之液態可固化組成物(A1)和(A2)時,至少該成分(a)和該成分(b)在預定溫度條件下混合並溶解。特別地,該製備係在0℃或更高至100℃或更低之範圍進行。這也適用於含有該成分(c)和該成分(d)的情況。
<可固化組成物之黏度> 較佳是:在不含該溶劑(該成分(d))之狀態下,根據本具體例之液態可固化組成物(A1)和(A2)分別是液態的。在以下將被描述的,這是因為該混合液態可固化組成物或該液態可固化組成物(A2)之液態膜表面從該配置步驟之後至等待步驟或從該配置步驟之後至模製步驟,將更快地變平滑。
在25℃下,根據該具體例之不包括該溶劑(成分(d))的液態可固化組成物(A1)之成分的混合物的黏度較佳是1mPa∙s或更高及1,000mPa∙s或更低。並且,該黏度更佳是1mPa∙s或更高及500mPa∙s或更低,且還較佳是1mPa∙s或更高及100mPa∙s或更低。
在25℃下,根據該具體例之不包括該溶劑(若成分(d2)被包含)的液態可固化組成物(A2)之成分的混合物的黏度較佳是1mPa∙s或更高及100mPa∙s或更低。並且,該黏度更佳是1mPa∙s或更高及50mPa∙s或更低,且還較佳是1mPa∙s或更高及30mPa∙s或更低。藉由將該黏度設定在100mPa∙s或更低,例如1微微升(pLP)的小液滴能藉由下述噴墨方法被滴在基材表面上。
該液態可固化組成物(A1)和(A2)之黏度愈低,則該混合的液態可固化組成物之液態膜表面更快變平滑。
並且,當將該可固化組成物(A1)和(A2)塗覆在基材上時,藉由將該黏度設定在1mPa∙s或更高,不可能發生不平坦的塗覆。
<液態可固化組成物之表面張力> 根據本具體例之液態可固化組成物(A1)和(A2)較佳是使得在23℃下具有不包括該溶劑(成分(d))之該等成分的組成物的表面張力是5mN/m或更高及70mN/m或更低。並且,該表面張力更佳是20mN/m或更高及50mN/m或更低,且還較佳是20mN/m或更高及40mN/m或更低。在此,該表面張力愈高,則液態膜之表面將愈快變平滑。
並且,藉由將該表面張力設定在70mN/m或更低,藉由固化該液態可固化組成物所得之經固化膜會是具有平滑表面之經固化膜。
在此具體例中,在要進行模製步驟以供加速該平坦化的情況下,較佳是:不含其溶劑(成分(d1))之該液態可固化組成物(A1)之表面張力高於不含其溶劑(成分(d))之該液態可固化組成物(A2)之表面張力。這是因為在將該液態可固化組成物(A2)之液滴滴在該液態可固化組成物(A1)上的配置步驟之後,該液態可固化組成物(A2)藉由下述馬蘭哥尼(Marangoni)效應,加速散布(該等液滴散布在較大區域上),從而縮短下述等待步驟之時間。這也是因為在加壓模具的情況下,在該模製步驟後之填充時間被縮短。
該馬蘭哥尼效應是指液體之自由表面係藉由表面張力之局部差異(NPL-1)而移動的現象。具有較低表面張力之液體利用表面張力(亦即表面能量)差異做為驅動力而散布以覆蓋較大表面。亦即,藉由以具有較高表面張力之該液態可固化組成物(A1)塗覆整個基材表面,然後將具有較低表面張力之液態可固化組成物(A2)滴下,將加速該液態可固化組成物(A2)散布。該液態可固化組成物(A1)之膜較佳比該液態可固化組成物(A2)高1mN/m或更多。
<液態可固化組成物之接觸角度> 當根據本具體例之液態可固化組成物(A1)和(A2)是不包括該溶劑(成分(d))而具有該等成分之組成物時,彼等與基材表面之接觸角度較佳是0˚或更大及90˚或更小且特佳是0˚或更大及30˚或更小。若該接觸角度大於90˚,則對基材表面之潤濕性如此低以致不能獲得平滑的液態膜。
<在液態可固化組成物中所包括之雜質> 較佳是:根據本具體例之液態可固化組成物(A1)及(A2)含有盡可能少的雜質。在此所述之雜質是指上述成分(a)、成分(b)、成分(c)、及成分(d)以外的物質。
因此較佳是:根據本具體例之該液態可固化組成物係透過純化步驟獲得。此一純化步驟較佳是使用過濾器或類似者的過濾作用。
特別地,在使用過濾器進行過濾的情況下,較佳視需要混合待添加之上述成分(a)和成分(b)和添加劑成分且然後透過具有例如0.001μm或更大及5.0μm或更小之孔隙直徑的過濾器過濾該混合物。在使用過濾器進行過濾之情況下,更佳在很多階段中進行該過濾或重複該過濾多次。並且,經過濾之液體可再次被過濾。可以使用具有不同孔隙直徑之多個過濾器進行過濾。作為在該過濾中所用的過濾器,可以使用由聚乙烯樹脂、聚丙烯樹脂、氟樹脂、尼龍樹脂、或類似者所製成之過濾器,但該過濾器不特別受限。
經由此一純化步驟,可能移除在該液態可固化組成物中所包括之雜質諸如粒子。因此,可能防止由於雜質諸如粒子(其在固化該液態可固化組成物後所得之經固化膜上非故意地形成不平坦性)所致之圖案缺陷的產生。
要注意:在使用根據本具體例之液態可固化組成物以製造半導體積體電路的情況下,較佳要盡可能地避免將含有金屬原子之雜質(金屬雜質)包括在該液態可固化組成物中,為要不破壞產物之操作。在此情況下,在該液態可固化組成物中所含之該金屬雜質的濃度較佳是10ppm或更低且更佳是100ppb或更低。
[平坦化方法] 其次,根據本具體例之平坦化方法將使用圖1A至1F(以及圖2E至2G)之概略橫剖面視圖來描述。在這些視圖中,為簡化之故,基材被繪製成具有平滑表面。
根據本具體例之平坦化方法包括: 將液態可固化組成物配置在不平坦之基材表面上的配置步驟; 等待直至該液態可固化組成物之層表面變平滑的等待步驟;及 施加光以固化該液態可固化組成物之層的曝光步驟。
藉由根據本具體例之平坦化方法所形成之平滑膜的厚度,亦即藉由固化該液態可固化組成物所得之經固化膜的厚度,在該基材上之凹面處較佳是1至10,000nm。由於該平坦化,該經固化膜在該基材上之凸面處的厚度小於該經固化膜在該基材上之凹面處的厚度,且該厚度差異等於在基材上之該凹面與該凸面的最大高度差異。
<第一配置步驟[1]> 在此步驟(第一配置步驟[1])中,如在圖1A和1B中所描繪的,將根據上述本具體例之液態可固化組成物(A1)102配置(塗覆)在基材101上以形成經塗覆之膜。要注意:若該液態可固化組成物(A2)能在下述第二配置步驟[2]及等待步驟[3]中充分地散布且因此能獲得平滑的液態膜表面,則能省略此步驟(第一配置步驟[1])。
作為該標的之該基材101(其上配置有該液態可固化組成物(A1)102)是待處理之基材,且經常使用矽晶圓。可將待處理之層形成在該基材101上。可將另一層進一步形成在該基材101與該待處理之層之間。
要注意:在本發明中,該基材101不限於矽晶圓或石英基材。該基材101也能視需要選自那些已知為半導體裝置基材者,其由鋁、鈦-鎢合金、鋁-矽合金、鋁-銅-矽合金、氧化矽、氮化矽、或類似者所製成。
在該待處理之基材上,在本發明所用之步驟之前有源自基材處理步驟的不平坦性。凹面與凸面的高度差異約例如1至1,000nm。
要注意:待使用之基材101(待處理之基材)或待經該液態可固化組成物(A1)和(A2)處理之層的表面的黏合性可藉由表面處理諸如矽烷偶合處理、矽氮烷處理、或有機薄膜形成而預先改良。該基材之表面是固態表面,其不與該液態可固化組成物(A1)或該液態可光固化組成物(A2)混合。
在該具體例中,例如能使用噴墨方法、浸漬塗覆(dip coating)方法、空氣刀(air knife)塗覆方法、幕式塗覆方法、線棒(wire-bar)塗覆方法、凹版印刷(gravure)塗覆方法、擠出塗覆方法、旋轉塗覆方法、狹縫掃描方法、或類似者作為將該液態可固化組成物(A1)102配置在該基材101或該待處理之層上的方法。在本發明中,旋轉塗覆方法是特佳的。
在將該液態可固化組成物(A1)102配置在該基材101或該待處理之層上之前,採取一步驟使得在該可固化組成物(A1)102膜中該溶劑成分(d1)的含量會是10wt%或更低。為達成此,較佳視需要進行烘烤步驟以使該溶劑成分(d1)揮發。要注意:該成分(a)、該成分(b)、及該成分(c)之揮發性較佳是低的,以致彼等在該烘烤步驟中不會揮發。
能使用已知裝置諸如爐或熱板於該烘烤步驟。該烘烤條件能在如30至200℃及1至600秒之條件下進行。較佳合適地設定該條件以揮發該溶劑成分(d1)且使該成分(a)、該成分(b)、及該成分(c)不揮發。
要注意:該可固化組成物(A1)102之平均膜厚度是例如0.1nm或更大及1,000或更小,較佳是1nm或更大及50nm或更小,且特佳是1nm或更大及10nm或更小,其取決於應用而變化。
<第二配置步驟[2]> 在此步驟(第二配置步驟)中,如在圖1C中描繪的,液態可固化組成物(A2)103之液滴藉由將彼等離散地滴下而被配置在上述液態可固化組成物(A1)之層上。噴墨方法特佳作為配置方法以離散地滴下液滴。待滴下之一液滴的體積是0.1微微升(pL)或更大及1,000pL或更小,較佳是0.1pL或更大及100pL,且特佳是0.6pL或更大及10pL。當液滴之總體積相同時,平均液滴體積愈小且該液滴配置密度愈高,則配置液滴之間隔愈小,以致該等液滴彼此快速結合,且在下述等待步驟中使該混合的液態可固化組成物之液態膜的表面變平滑所花的時間愈短。
該液態可固化組成物(A2)之膜厚度被定義為藉由將該液態可固化組成物(A2)之液滴的總體積除以該平坦化區域之面積所得的值。這定義也適用於將該液態可固化組成物(A2)與在該第一配置步驟中所配置之該液態可固化組成物(A1)混合的情況。根據此定義,該經混合的液態可固化組成物的膜厚度是基於該定義之該液態可固化組成物(A1)之膜厚度與該液態可固化組成物(A2)之膜厚度的和。
該液態可固化組成物(A2)之膜厚度是例如10nm或更大及1,000nm或更小,較佳地110nm或更大及500nm或更小,且特佳地150nm或更大及250nm或更小。該膜厚度愈大,則從該基材表面所接收之流體阻力愈小,且因此在下述等待步驟中該平坦化愈快。該膜厚度之上限值取決於根據本發明之平坦化方法後的步驟而變化。
該液態可固化組成物(A2)103之液滴被密集地配置在該基材上之有密集凹面的區域上,且被稀疏地配置在有稀疏凹面的區域上。藉由此舉,該經混合的液態可固化組成物厚厚地形成在該基材上之凹面上且薄薄地形成在該基材上之凸面上,以致該經混合的液態可固化組成物膜之表面的不平坦性小於該基材表面之不平坦性。
在本發明中,如上述,由於馬蘭哥尼效應,使用表面自由能之差異(表面張力)作為驅動力,在該步驟(第二配置步驟[2])中所配置之該液態可固化組成物(A2)103的液滴在箭頭104之方向上快速散佈,同時與(A1)混合(圖1D)。
<等候步驟[3]> 在已經進行該第一配置步驟的情況下,該液態可固化組成物(A2)之液滴散佈,同時與該液態可固化組成物(A1)混合,且與鄰近的液滴組合,且該經混合的液態可固化組成物之液態膜的表面藉由該表面張力變平滑。使該經混合的液態可固化物組成物等候直至其平面達到所需之平坦化程度(圖1E)。
在已經省略該第一配置步驟的情況下,該液態可固化組成物(A2)在利用其本身的表面張力下散佈且與鄰近的液滴組合,且該液態可固化組成物(A2)之液態膜的表面藉由該表面張力變平滑。
在省略該第一配置步驟且要進行下述模製步驟的情況下,使該液態可固化組成物(A2)等候直至其覆蓋該平坦化區域之99%或更大的面積。若該經覆蓋之區域小於99%,則氣體將留在該基材、該液態可固化組成物(A2)、及在下述模製步驟中的下述模具之間的間隙中且因此將產生空隙缺陷。
所需之平坦化程度取決於待進行以作為在根據本發明之平坦化方法後之步驟的微影步驟變化。例如,在該極紫外光曝光技術(EUV)中,在會形成經投射之影像的焦點深度是約4nm,且因此在該液態膜表面上之不平坦度的高度差異較佳約4nm或更小。該液態膜之表面的平坦化可能需要約0.1秒至3600秒之時間,雖然該時間取決於該液體之物理性質及該膜厚度的條件而變化。
在該等候步驟之期間,可以視需要進行加熱步驟、震動施加步驟、基材旋轉步驟、或類似者以作為使該平坦化加速的步驟。
在該等候期間,在該基材周圍的環境可以是空氣,或可以是惰性氣體的環境諸如氮、二氧化碳、氦、或氬。
同時,有利的是:在相同條件下,針對經配置在樣本基材上之該液態可固化組成物之流動行為進行時間序列的測量,直至該液態可固化組成物便平滑,且測定所需之等候時間。以此方式,能預先獲得該平坦化所需之預定的等候時間。要注意:該經混合的液態可固化組成物之液態膜在待進行下述之模製步驟的情況下不必須是平滑的。
<模製步驟[3+]> 在本發明之一具體例中,可以進行模製步驟,為使該平坦化加速(圖2E)。該步驟使用模具106,其具要與經混合的液態可固化組成物膜105接觸之平滑表面。雖然該等候步驟可在該模製步驟進行之前被進行,該經混合的液態可固化組成物之液態膜在該模製步驟之前不必須是平滑的。
作為該模具106,在考量下一步驟(曝光步驟)下,有利地使用由光學透射性材料所製之模具106。作為該模具106之材料,特別地,玻璃、石英、光學透明的樹脂諸如PMMA或聚碳酸酯樹脂、透明之金屬蒸氣沉積膜、聚二甲基矽氧烷之軟膜或類似者、光可固化膜、金屬膜、或類似者是較佳的。要注意:在使用光學透明樹脂作為該模具106之材料的情況下,需要選擇於該液態光可固化組成物(A1)和(A2)之成分中不被溶解的樹脂。
在此步驟之前,可以在該模具106上進行表面處理以改良該經混合的液態可固化組成物膜105及該模具106之表面彼此的脫離性。用於該表面處理之方法包括其中將脫離劑塗覆在該模具106之表面上以形成脫離劑層之方法。在此,待塗覆在該模具106之表面上的該脫離劑包括聚矽氧系脫離劑、氟系脫離劑、烴系脫離劑、聚乙烯系脫離劑、聚丙烯系脫離劑、石蠟系脫離劑、褐煤蠟系脫離劑、卡瑙巴系(carnauba-based)脫離劑、及類似者。例如,較佳能使用市售之塗料類型的脫離劑諸如DAIKIN INDUSTRIES, LTD製造之OPTOOL DSX。可以單獨使用一類的該脫離劑,或可以組合使用其二或更多類。其等中,該氟系及烴系脫離劑是特佳的。
當在此步驟(模製步驟)中,使該模具106與該經混合的液態光可固化組成物105彼此接觸時,較佳將該模具106壓向該經混合的液態光可固化組成物105。藉由該模具106而待對該經混合的液態光可固化組成物105施加的壓力不特別限制。有利地,此壓力是0MPa或更高及100MPa或更低。並且,此壓力較佳是0MPa或更高及50MPa或更低,更佳是0MPa或更高及30MPa或更低,且還更佳是0MPa或更高及20MPa或更低。
再者,在此步驟中,對於使該模具106與該經混合的液態光可固化組成物105接觸之時間不特別限制。有利地,此時間是0.1秒或更長及600秒或更短。並且,此時間較佳是0.1秒或更長及300秒或更短,更佳是0.1秒或更長及180秒或更短,且特佳是0.1秒或更長及120秒或更短。
雖然此步驟能在空氣環境、低壓環境、惰性氣體環境之條件的任一者下進行,該低壓環境或該惰性氣體環境是較佳的,因為能防止氧和水氣影響該固化反應。在惰性氣體環境下進行此步驟的情況下可用之該惰性氣體的特定實例包括氮、二氧化碳、氦、氬、各種氯氟碳氣體、及類似者、及其經混合氣體。在特定氣體環境(包括該空氣環境)下進行此步驟的情況下,較佳壓力是0.0001大氣壓或更高及10大氣壓或更低。
<曝光步驟[4]> 之後,在圖1F中所描繪的,將光施加至該經混合的液態可固化組成物105,其為該液態可固化組成物(A1)與該液態可固化組成物(A2)之混合物。在已經進行該模製步驟的情況下,透過該模具施加光(圖2F)。結果,該經混合的液態可固化組成物變成具有比該基材表面更平滑之表面的經固化膜108。
在此,待施加至該經混合的液態可固化組成物之光107係根據該液態可固化組成物(A1)和(A2)對其敏感之波長來選擇。特別地,在合適狀況下,較佳選擇且使用紫外光(其具有150nm或更長及400nm或更短之波長)、X光、電子射線、或類似者。
其等中,該紫外光特佳作為所施加之光107。這是因為市售的固化輔劑(光聚合起始劑)中很多是對紫外光具有敏感性的化合物。在此,發射該紫外光之光源的實例包括高壓汞蒸氣燈、超高壓汞蒸氣燈、低壓汞蒸氣燈、深UV燈、碳電弧燈、化學燈、金屬鹵化物燈、氙燈、KrF準分子雷射、ArF準分子雷射、F2 準分子雷射等,且該超高壓汞蒸氣燈是特佳的。並且,待使用之光源的數目可以是一個或是二或更多個。再者,該經混合的液態可固化組成物之整個表面可被照射或僅部分區域可被照射。
當該液態可固化組成物(A1)和(A2)中至少一者是自由基可聚合時,在該光施加期間,在該基材周圍的環境較佳是惰性氣體(諸如氮、二氧化碳、氦、氬、各種氯氟碳化合物中任一者、其之經混合氣體)的環境以壓抑氧之抑制作用。
並且,可間歇地將該光多次施加在該基材的整個區域上或連續地施加在該整個區域上。再者,可在第一施加步驟中將該光施加至部分區域A且在第二施加步驟中施加至與該區域A不同的區域B。
<脫離步驟[5]> 在本發明之一具體例中,在意欲使該平坦化加速之模製步驟已經進行的情況下,使該模具脫開的脫離步驟是需要的(圖2G)。在此情況下,具有平滑表面之該經固化膜108已經形成在該基材101上。
使該經固化膜108與該模具106彼此脫開的方法不特別限制,只要在該脫開時不物理性地破壞該經固化膜108的任何部分,且對各種條件和類似者也不限制。例如,該基材101(待處理之基材)可被固定,且該模具106可從待脫離之該基材101移開。可選擇地,該模具106可被固定,且該基材101可從待脫離之該模具移開。還可選擇地,其二者可往相反方向拉動以彼此脫離。
利用包括上述步驟[1]至步驟[4]或[5]之一系列步驟(製造方法),能使該經混合的液態可固化組成物的平滑的經固化膜形成在不平坦的基材表面上。
若該經固化膜太厚,該經固化膜之表面可藉由已知蝕刻技術諸如乾式蝕刻或臭氧灰化而均勻地蝕刻。
在根據本具體例之平坦化方法中,該液態可固化組成物(A1)能在步驟[1]中立刻被配置在該基材之大部分表面上,且包括該步驟[2]至步驟[4]或[5]之重複單元(進程)重複地能在該基材上進行多次。可選擇地,該步驟[1]至步驟[4]或[5]可在該相同基材上重複多次。藉由使包括該步驟[1]至步驟[4]或[5]或該步驟[2]至步驟[4]或[5]之重複單元(進程)重複多次,可能在待處理之基材的所需位置上獲得該經混合的液態可固化組成物之平滑的經固化膜。可選擇地,該步驟[1]至步驟[4]或[5]之每一者可立刻在整個基材表面上進行。
藉由在約200至450℃之高溫下,將該透過該步驟[1]至步驟[4]或[5]所得之經混合的液態可固化組成物的平滑的經固化膜加熱約10至600秒,可能改良該經固化膜之機械強度、耐乾式蝕刻性,耐熱性、及類似者。
若該透過該步驟[1]至步驟[4]或[5]所得之經混合的液態可固化組成物的經固化膜仍不平坦,該經固化膜可藉由再次進行該步驟[1]至步驟[4]或[5]使之平滑。在再次進行該步驟[1]至步驟[4]或[5]的情況下,彼等可與先前具體例者相同或不同。該步驟[1]至步驟[4]或[5]可一再地進行。
可能藉由將光阻劑直接塗覆在該透過該步驟[1]至步驟[4]或[5]所得之經混合的液態可固化組成物的平滑的經固化膜上,進行微影步驟。可選擇地,可能藉由層合旋轉塗覆玻璃(SOG)膜或二氧化矽層且塗覆光阻劑在其上,以進行微影步驟。因此能製造要用在半導體裝置或類似者中的電路基材。並且,藉由連接該電路基材及用於該電路基材及類似者之電路控制機構,可能形成電子儀器諸如顯示器、照相機、或醫學設備。在此所述之該半導體裝置的實例包括LSI、系統LSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D-RDRAM、NAND閃光燈、及類似者。
[實例] 本發明將在以下更詳細地舉例描述。然而,本發明之技術範圍不限於將在以下描述之實例。要注意:在以下使用之「份」及「%」是以重量計,除非另外註明。
(理論計算) 以如下理論計算下述行為:其中,將該液態可固化組成物(A2)之液滴滴在基材(在其上形成有該液態可固化組成物(A1)之液態膜)上,且散佈同時混合,且進一步地使該經混合的液態可固化組成物之液態膜的表面平滑化。
用於該理論計算之模型如下。待滴下之該液態可固化組成物(A2)之所有液滴被假設為具有相同體積。藉由將待施加根據本發明之平坦化方法的全部面積除以液滴總數所得之面積被定義為單位面積。該液態可固化組成物(A1)之液態膜被形成在具有與該單位面積相等之面積的圓形基材上。該基材表面被假設為平滑的。用於該計算之座標系統是徑向有限的圓柱形座標系統,其原點在該單位圓形基材表面的中心,且具有以90度之角度與該單位圓形基材的周圍接觸的壁邊界。該液態可固化組成物(A2)之單一液滴被滴在該單位圓形基材之中心部分上,且散佈,同時與預先形成之該液態可固化組成物(A1)之液態膜混合。用於省略該液態可固化組成物(A1)之情況的計算係藉由以下方式估計:為要維持計算穩定性,與該平坦化後之該液態膜厚度相當之充分薄(1nm或更小)地配置液態膜(其具有與該液態可固化組成物(A2)相同之物理性質之值),且將該液態可固化組成物(A1)和該液態可固化組成物(A2)的表面張力固定在同一值。
利用按照在液態膜厚度方向上(A1)/(A2)之濃度比率是恆定的假設且按照雷諾(Reynolds)假設所應用之潤滑估計,如圖3和4中所描繪地,考慮該源自藉由濃度分佈所產生之表面張力梯度的馬蘭哥尼力以及該藉由在平面內之方向上的厚度分佈所產生的拉普拉斯(Laplace)厚度。
利用潤滑估計,液態膜高度h之時間演進等式使用壓力p、表面張力σ、黏度μ表示如下。
Figure 02_image001
在圖4中所描繪之軸對稱模型中,以上等式(1)能被轉換如下。
Figure 02_image003
在此,該壓力p是拉普拉斯壓力
Figure 02_image005
其考慮至第二位以供離散化。在此,第一項代表放射方向上之曲率之拉普拉斯壓力,且第二項代表幅角方向(argument direction)上之曲率之拉普拉斯壓力。
再者,利用該液態可固化組成物(A2)之液滴和該液態可固化組成物(A1)之液態膜的擴散係數D,在濃度c時之平流擴散等式能使用在該高度方向上平均之速度向量
Figure 02_image007
表示如下。
Figure 02_image009
在該軸對稱模型中,該等式4也能使用在該高度方向上被平均之在放射方向上的速度u被轉換如下。
Figure 02_image011
藉由同時解開該等式2和該等式5,可能在軸對稱模型中獲得該濃度分佈之時間演進c(r,t)及該液態膜高度分佈之時間演進h(r,t)。
針對在表1至5中所列之黏度、表面張力、膜厚度、及液滴體積的不同條件,計算液態膜高度分佈輪廓。針對該液態可固化組成物(A1)和該液態可固化組成物(A2)二者,該擴散係數D皆被假設為1×10-9 (m2 /s)。要注意:(A2)之膜厚度據了解是等於液滴體積×液滴數目/平坦化區域之面積
從所計算之液態膜高度分佈輪廓,在滴下該液滴300秒之後,在該液態膜表面上之該高度差異被測量且列在表1至5中。
Figure 02_image013
Figure 02_image015
Figure 02_image017
Figure 02_image019
Figure 02_image021
在實例8及9中分別獲得厚度160nm及260nm且平坦度<4nm的經混合的液態可固化組成物的液態膜。換言之,藉由將該液態可固化組成物(A1)之10nm厚的液態膜均勻地配置在最大高度差異為100nm之不平坦的基材上且在該凹面上高密度地並在凸面上低密度地合適配置1pL之該液態可固化組成物(A2)的液滴,可能獲得最大高度差異小於4nm的平滑液態膜表面。
在實例13和14中,省略該第一配置步驟,亦即省略該第一液態可固化組成物(A1)。在每一這些情況下,也能獲得最大高度差異小於4nm之平滑液態膜表面。因此,可能在最大高度差異為100nm之不平坦的基材上獲得最大高度差異小於4nm的平滑液態膜表面。
在實例1至7中,在該液態膜表面上之最大高度差異也為100nm或更小,這是小於在比較用實例1至3中者。即使在實例1至7之條件下,可能在最大高度差異為100nm之不平坦的基材上獲得最大高度差異為100nm或更小的液態膜表面。
(實驗) 具有7.0mPa∙s之黏度和34mN/m之表面張力的該液態可固化組成物(A2)的液滴,按照每一者1.0pL之量,以格狀配置(在X-Y方向上)用預定間隔分開地滴在平滑的矽基材上。在等候預定時間後,其藉由照射來自超高壓汞燈之紫外光而固化以形成經固化膜。該經固化膜表面之高度差異係藉由使用SURFCORDER(Kosaka Laboratory製)來測量。測量結果在表6中顯示。
Figure 02_image023
在以上所見的,實例16已證實:即使在接觸平滑模具之模製步驟被省略時,能獲得該液態可固化組成物(A2)的平滑的經固化膜。 [工業適用性]
本發明提供一種平坦化方法及光可固化組成物,其係用於使待用於製造半導體裝置之光微影步驟中的基材平滑。
雖然已引用例示具體例描述本發明,要了解:本發明不限於所揭示之例示具體例。以下申請專利範圍之範圍是要與最廣解釋一致,以致涵蓋所有此種改良及等效結構和功能。
101:基材 102:液態可固化組成物(A1) 103:液態可固化組成物(A2) 104:散佈方向 105:經混合的液態可固化組成物(膜) 106:模具 107:光 108:經固化之膜
[圖1A] 圖1A描繪根據本發明之平坦化方法的第一具體例的第一步驟。 [圖1B] 圖1B描繪根據本發明之平坦化方法的第一具體例的第二步驟。 [圖1C] 圖1C描繪根據本發明之平坦化方法的第一具體例的第三步驟。 [圖1D] 圖1D描繪根據本發明之平坦化方法的第一具體例的第四步驟。 [圖1E] 圖1E描繪根據本發明之平坦化方法的第一具體例的第五步驟。 [圖1F] 圖1F描繪根據本發明之平坦化方法的第一具體例的第六步驟。 [圖2E] 圖2E描繪根據本發明之平坦化方法的第二具體例的第五步驟。 [圖2F] 圖2F描繪根據本發明之平坦化方法的第二具體例的第六步驟。 [圖2G] 圖2G描繪根據本發明之平坦化方法的具體例的第七步驟。 [圖3] 圖3描繪馬蘭哥尼(Marangoni)力及拉普拉斯(Laplace)壓力的理論計算模型。 [圖4] 圖4描繪一種軸對稱模型,其代表將液態可固化組成物(A2)之液滴滴在基材上的狀態,在該基材上形成有液態可固化組成物(A1)的液態膜。
101:基材

Claims (18)

  1. 一種平坦化方法,其包含: 將液態可固化組成物配置在不平坦之基材上; 等待以使該液態可固化組成物流動且變平滑;及 在該等待之後固化該液態可固化組成物, 其中該配置該液態可固化組成物在該基材上包括 配置由含有至少一可聚合化合物(a1)之第一液態可固化組成物(A1)所製成之液態膜,及 離散地滴下含有至少一可聚合化合物(a2)之第二液態可固化組成物(A2)之液滴在該液態膜上。
  2. 一種平坦化方法,其包含: 將液態可固化組成物配置在不平坦之基材上; 等待以使該液態可固化組成物流動且變平滑;及 在該等待之後固化該液態可固化組成物, 其中該液態可固化組成物含有液態可固化組成物(A2),其含有至少一可聚合化合物(a2),且 該配置該液態可固化組成物在該基材上包括離散地滴下該第二液態可固化組成物(A2)之液滴。
  3. 一種平坦化方法,其包含: 配置第一和第二液態可固化組成物在不平坦之基材上; 使對所施加之光為透明且具有平滑表面的模具與在該基材上之該液態可固化組成物接觸; 固化該液態可固化組成物以形成經固化組成物;及 由該經固化組成物脫離該模具, 其中該配置該液態可固化組成物在該基材上包括 配置由含有至少一可聚合化合物(a1)之第一液態可固化組成物(A1)所製成之液態膜,及 離散地滴下含有至少一可聚合化合物(a2)之第二液態可固化組成物(A2)之液滴在該液態膜上。
  4. 如請求項1或3之平坦化方法,其中在不含其溶劑下之該第一液態可固化物組成物(A1)的表面張力γ1(mN/m)高於在不含其溶劑下之該第二液態可固化物組成物(A2)的表面張力γ2(mN/m)。
  5. 一種平坦化方法,其包含: 配置液態可固化組成物在不平坦之基材上; 使對所施加之光為透明且具有平滑表面的模具與在該基材之表面上之該液態可固化組成物接觸; 固化該液態可固化組成物以形成經固化組成物;及 由該經固化組成物脫離該模具, 其中該液態可固化組成物含有液態可固化組成物(A2),其含有至少一可聚合化合物(a2),且 該配置該液態可固化組成物在該基材上包括 離散地滴下該第二液態可固化組成物(A2)之液滴,且 等待直至該等液滴流動遍佈在該基材上,使得該液態可固化組成物(A2)覆蓋平坦化區域之99%或更多的面積。
  6. 如請求項2或5之平坦化方法,其中 該液態可固化組成物(A2)之該等液滴的平均體積是0.1微微升(picoliter,pL)或更大及100pL或更小,且 藉由該等液滴之總體積除以平坦化區域之面積所得之值是150nm或更小。
  7. 2、3及5中任一項之平坦化方法,其中該不平坦之基材具有測量之深度1至1,000nm及寬度1,000μm或更小且寬度大於深度的凹面。
  8. 2、3及5中任一項之平坦化方法,其中該第二液態可固化組成物(A2)之液滴被密集地滴在該基材之有密集的凹面的部分上,且稀疏地滴在該基材之有稀疏的凹面的部分上。
  9. 2、3及5中任一項之平坦化方法,其中該液態可固化組成物(A2)之液滴體積是0.1微微升(pL)或更大及100pL或更小。
  10. 2、3及5中任一項之平坦化方法,其中在固化前,在該基材之該液態可固化組成物為最薄的部分上,該液態可固化組成物之液態膜厚度是150nm或更大。
  11. 2、3及5中任一項之平坦化方法,其中該液態可固化組成物(A2)之表面張力是20mN/m或更大及40mN/m或更小。
  12. 一種平坦化方法,其包含在該基材之相同部分上進行多次如請求項1、2、3及5中任一項之平坦化方法。
  13. 一種液態可固化組成物,其為用於如請求項1、2、3及5中任一項之平坦化方法中以待離散地滴下的該液態可固化組成物(A2),其包含至少: 可聚合化合物(a2);及 光聚合起始劑(b2), 其中該液態可固化組成物在不含溶劑的狀態下具有100mPa∙s或更低之黏度。
  14. 一種液態可固化組成物,其為用於如請求項1或3之平坦化方法中以待在基材上形成液態膜的該液態可固化組成物(A1),其包含至少: 可聚合化合物(a1); 光聚合起始劑(b1);及 溶劑(d1), 其中該液態可固化組成物在不含該溶劑(d1)的狀態下具有1,000mPa∙s或更低之黏度。
  15. 一種套組,其包含: 用於如請求項1之平坦化方法中的如請求項13的液態可固化組成物(A2);及 用於如請求項1之平坦化方法中的如請求項14的液態可固化組成物(A1)。
  16. 如請求項15之套組,其中在不含其溶劑下之該液態可固化物組成物(A1)的表面張力γ1 (mN/m)高於在不含其溶劑下之該液態可固化物組成物(A2)的表面張力γ2(mN/m)。
  17. 一種套組,其包含: 用於如請求項3之平坦化方法中的如請求項13的液態可固化組成物(A2);及 用於如請求項3之平坦化方法中的如請求項14的液態可固化組成物(A1)。
  18. 如請求項17之套組,其中在不含其溶劑下之該液態可固化物組成物(A1)的表面張力γ1 (mN/m)高於在不含其溶劑下之該液態可固化物組成物(A2)的表面張力γ2(mN/m)。
TW110122384A 2020-06-19 2021-06-18 平坦化方法及可光固化組成物 TW202201132A (zh)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US202063041191P 2020-06-19 2020-06-19
US63/041,191 2020-06-19
US17/320,906 2021-05-14
US17/320,906 US11752519B2 (en) 2020-06-19 2021-05-14 Planarization method and photocurable composition

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW202201132A true TW202201132A (zh) 2022-01-01

Family

ID=79022906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW110122384A TW202201132A (zh) 2020-06-19 2021-06-18 平坦化方法及可光固化組成物

Country Status (7)

Country Link
US (2) US11752519B2 (zh)
EP (1) EP4169059A1 (zh)
JP (1) JP2023539968A (zh)
KR (1) KR20230024917A (zh)
CN (1) CN115699254A (zh)
TW (1) TW202201132A (zh)
WO (1) WO2021256327A1 (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024106268A1 (ja) * 2022-11-18 2024-05-23 キヤノン株式会社 硬化性組成物、膜形成方法、パターン形成方法、および物品製造方法
US20240191088A1 (en) * 2022-11-21 2024-06-13 Canon Kabushiki Kaisha Curable composition, film forming method and article manufacturing method

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101653195B1 (ko) 2008-06-09 2016-09-01 보드 오브 리전츠 더 유니버시티 오브 텍사스 시스템 적응적 나노토포그래피 형상제작
JP2012015324A (ja) 2010-06-30 2012-01-19 Fujifilm Corp 液体塗布装置及び液体塗布方法並びにナノインプリントシステム
JP2013232628A (ja) 2012-04-05 2013-11-14 Showa Denko Kk 研磨組成物、研磨組成物の製造方法および基板の製造方法
JP6328001B2 (ja) 2013-08-30 2018-05-23 キヤノン株式会社 インプリント用硬化性組成物、膜、膜の製造方法
JP6460672B2 (ja) 2013-09-18 2019-01-30 キヤノン株式会社 膜の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法及び電子部品の製造方法
JP2015120844A (ja) 2013-12-24 2015-07-02 旭硝子株式会社 研磨剤の製造方法、研磨方法および半導体集積回路装置の製造方法
JP6502885B2 (ja) 2015-05-18 2019-04-17 信越化学工業株式会社 レジスト下層膜材料及びパターン形成方法
US10883006B2 (en) 2016-03-31 2021-01-05 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10754245B2 (en) 2016-03-31 2020-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10829644B2 (en) 2016-03-31 2020-11-10 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10754244B2 (en) 2016-03-31 2020-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10578965B2 (en) 2016-03-31 2020-03-03 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method
US10754243B2 (en) 2016-03-31 2020-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
US10845700B2 (en) * 2016-03-31 2020-11-24 Canon Kabushiki Kaisha Pattern forming method as well as production methods for processed substrate, optical component, circuit board, electronic component and imprint mold
JP6983760B2 (ja) 2016-04-08 2021-12-17 キヤノン株式会社 硬化物パターンの形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法、およびインプリント前処理コート用材料
JP7328888B2 (ja) 2017-03-08 2023-08-17 キヤノン株式会社 硬化物パターンの製造方法、光学部品、回路基板および石英モールドレプリカの製造方法、ならびにインプリント前処理コート用材料およびその硬化物
KR102256347B1 (ko) 2017-03-08 2021-05-27 캐논 가부시끼가이샤 패턴 형성 방법, 및 가공 기판, 광학 부품 및 석영 몰드 레플리카의 제조 방법, 및 임프린트 전처리 코팅 재료 및 그와 임프린트 레지스트와의 세트
WO2018164015A1 (ja) 2017-03-08 2018-09-13 キヤノン株式会社 パターン形成方法、インプリント前処理コーティング材料、及び基板の前処理方法
KR102419881B1 (ko) 2017-08-10 2022-07-12 캐논 가부시끼가이샤 패턴 형성 방법
JP6754344B2 (ja) 2017-09-26 2020-09-09 富士フイルム株式会社 インプリント用下層膜形成用組成物、キット、積層体、積層体の製造方法、硬化物パターンの製造方法、回路基板の製造方法
CN111868920A (zh) 2018-03-15 2020-10-30 应用材料公司 用于半导体器件封装制造工艺的平坦化
JP7171394B2 (ja) 2018-11-29 2022-11-15 キヤノン株式会社 成形装置、成形方法、および物品の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US11752519B2 (en) 2023-09-12
US20210394230A1 (en) 2021-12-23
CN115699254A (zh) 2023-02-03
EP4169059A1 (en) 2023-04-26
US20230330702A1 (en) 2023-10-19
WO2021256327A1 (en) 2021-12-23
KR20230024917A (ko) 2023-02-21
JP2023539968A (ja) 2023-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6855448B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
KR102208728B1 (ko) 패턴 형성 방법, 가공 기판의 제조 방법, 광학 부품의 제조 방법, 회로 기판의 제조 방법, 전자 부품의 제조 방법, 임프린트 몰드의 제조 방법
JP6806766B2 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
KR102208977B1 (ko) 패턴 형성 방법과, 가공 기판, 광학 부품, 회로 기판, 전자 부품 및 임프린트 몰드의 제조 방법
KR102209277B1 (ko) 패턴 형성 방법, 가공 기판의 제조 방법, 광학 부품의 제조 방법, 회로 기판의 제조 방법, 전자 부품의 제조 방법, 임프린트 몰드의 제조 방법
JP7328888B2 (ja) 硬化物パターンの製造方法、光学部品、回路基板および石英モールドレプリカの製造方法、ならびにインプリント前処理コート用材料およびその硬化物
TWI667117B (zh) 圖型形成方法、壓印前處理塗覆材料及基板之前處理方法
KR102256347B1 (ko) 패턴 형성 방법, 및 가공 기판, 광학 부품 및 석영 몰드 레플리카의 제조 방법, 및 임프린트 전처리 코팅 재료 및 그와 임프린트 레지스트와의 세트
WO2017130853A1 (ja) パターン形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法、インプリントモールドの製造方法
US20230330702A1 (en) Planarization method and photocurable composition
JP2016162863A (ja) パターンの形成方法、加工基板の製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、電子部品の製造方法
CN107078025B (zh) 光固化性组合物,和使用其形成固化产物图案以及制造光学部件、电路板和压印用模具的方法