TW202133694A - 線路板 - Google Patents

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Abstract

本發明揭露一種線路板，其包含一基板及一線路層，該線路層形成於該基板之表面，該線路層具有至少一測試線路，該測試線路具有一主線段及一支線段，該支線段連接該主線段，用以供一測試裝置接觸以進行電性測試，因此可避免該主線段於測試過程中發生斷線。

Description

線路板
本發明關於一種線路板，特別是一種具有測試線路之線路板。
線路板藉由線路上的測試墊進行電性測試，為了協助人員目視判斷測試墊位置，測試墊線寬明顯大於線路的線寬，當確認測試墊位置後，人員操作測試裝置將探針移動至測試墊上方，使探針接觸測試墊以進行電性測試，然而測試墊與線路間的線寬差異容易造成斷線，而導致線路失效。
本發明之目的在於提供一種具有測試線路的線路板，測試線路以支線段接觸測試裝置，可避免測試線路之主線段發生斷線。
本發明之一種線路板包含一基板及一線路層，該基板具有一表面，該線路層形成於該表面且具有至少一測試線路，該測試線路具有一主線段及一支線段，該主線段具有一第一端及一第二端，該支線段連接該主線段且位於該第一端及該第二端之間，該支線段用以供一測試裝置接觸以進行電性測試。
本發明之該支線段用以供該測試裝置接觸，該測試裝置不會接觸到該主線段，因此可有效避免該主線段於測試過程中斷線的情形發生，且即使該支線段於製造、運送或測試過程中斷線，該主線段仍可電性連接其他電子裝置，不會因該支線段斷線而失效。
請參閱第1圖，本發明揭露一種線路板A，其包含一基板100及一線路層200，該基板100具有一表面110，該線路層200形成於該表面110，該基板100可由聚醯亞胺(polyimide, PI)、聚對苯二甲酸乙二酯(polyethylene terephthalate, PET)、玻璃、陶瓷、金屬或其他材料所製成，該線路層200之材質為銅、鎳、金或其他金屬或合金，在本實施例中，該線路板A為具有精細圖案之可撓性銅箔基板(flexible copper clad laminate, FCCL)。
請參閱第1圖，該基板100之該表面110定義有一外接合區111及一內接合區112，較佳地，該表面110定義有兩個外接合區111，分別位於該表面110之兩側，該內接合區112位於該些外接合區111之間。
請參閱第1及2圖，該線路層200具有至少一測試線路210，該測試線路210具有一主線段211及一支線段212，該主線段211之一第一端211a及一第二端211b別位於該外接合區111及該內接合區112，該第一端211a用以接合一電子裝置(圖未繪出)，該第二端211b用以接合一晶片(圖未繪出)，該支線段212連接該主線段211且位於該第一端211a及該第二端211b之間，該支線段212未連接該第一端211a或該第二端211b，其用以供一測試裝置(圖未繪出)接觸以進行電性測試，該測試裝置可為探針裝置或其他電性測試裝置。
由於該測試裝置於測試過程中不會接觸到該主線段211，因此可避免人員不當操作該測試裝置而導致該主線段211斷線，且即使該支線段212因不當外力而斷線，該主線段211仍可透過該第一端211a及該第二端211b電性連接該電子裝置及該晶片，不會因該支線段212斷線而導致該主線段211失效。
請參閱第3至5圖，該支線段212具有一連接部212a及一測試部212b，該連接部212a之兩端分別連接該主線段211及該測試部212b，該測試部212b位於該支線段212之自由端，用以供該測試裝置接觸，較佳地，該測試部212b之線寬大於該連接部212a之線寬及該主線段211之線寬，以利人員進行目視判斷該測試部212b位置，由於線寬變化處容易發生斷線，較佳地，該連接部212a及該測試部212b之間的連接處係設計為彎曲狀，藉此增加該支線段212之延展性，以降低斷線發生率，因此該支線段212為非直線線路。
該測試線路210係根據不同需求進行設計，請參閱第1及3圖，該線路層200另具有至少一導接線路220，該導接線路220之兩端分別延伸至該外接合區111及該內接合區112，該導接線路220與該測試線路210之該主線段211相同，係用以接合該電子裝置及該晶片，但該導接線路220不具有支線段，請參閱第3圖，該支線段212之該測試部212b位於該主線段211及該導接線路220之間，不同於第3圖，第4圖所示之該測試部212b係位於該主線段211及另一測試線路210之間，而第5圖所示之該測試部212b係位於該主線段211及該連接部212a之間，本發明不限制該測試線路210及該導接線路220之配置，亦不限制該支線段212之長度、圖案及相對於該主線段211之位置。
請參閱第5圖，較佳地，該線路層200具有複數個測試線路210及複數個導接線路220，該些導接線路220至少包含一第一導接線路221及一第二導接線路222，該第一導接線路221位於相鄰兩個該測試線路210之間，而其中之一該測試線路210位於該第一導接線路221及該第二導接線路222之間，在本實施例中，該第一導接線路221具有一第一延伸段221a及一第一讓位段221b，該第一延伸段221a連接該第一讓位段221b，且自該第一讓位段221b之一端向外延伸，該第二導接線路222具有一第二延伸段222a及一第二讓位段222b，該第二延伸段222a連接該第二讓位段222b，且自該第二讓位段222b之一端向外延伸，該第一延伸段221a對應該第二延伸段222a，該第一讓位段221b對應該第二讓位段222b，該第一延伸段221a及該第二延伸段222a之間的一間距D1小於該第一讓位段221b及該第二讓位段222b之間的一間距D2，該測試線路210之該支線段212位於該第一讓位段221b及該第二讓位段222b之間的空間。
較佳地，該第一導接線路221具有兩個第一延伸段221a，該第一讓位段221b之兩端分別連接該些第一延伸段221a，該第二導接線路222具有兩個第二延伸段222a，該第二讓位段222b之兩端分別連接該些第二延伸段222a。
請參閱第1圖，較佳地，該線路板A另具有一防焊層300，該防焊層300覆蓋該些測試線路210及該些導接線路220，但未覆蓋位於該外接合區111及該內接合區112之線路，其中覆蓋該測試部212a之該防焊層300可被移除，顯露的該測試部212a用以供該測試裝置接觸以進行電性測試。
於測試過程中，該測試裝置不會接觸該主線段211，僅會接觸該支線段212，因此可避免因人員不當操作該測試裝置而導致該主線段211斷線的情形，且即使該支線段212於製造、運送或測試過程中發生斷線，該主線段211仍可電性連接該電子裝置及該晶片，不會因該支線段212斷線而失效。
本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準，任何熟知此項技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內所作之任何變化與修改，均屬於本發明之保護範圍。
100:基板 110:表面 111:外接合區 112:內接合區 200:線路層 210:測試線路 211:主線段 211a:第一端 211b:第二端 212:支線段 212a:連接部 212b:測試部 220:導接線路 221:第一導接線路 221a:第一延伸段 221b:第一讓位段 222:第二導接線路 222a:第二延伸段 222b:第二讓位段 300:防焊層 A:線路板 D1:間距 D2:間距
第1圖：依據本發明之一實施例，一種線路板之上視圖。 第2圖：依據本發明之一實施例，一測試線路之示意圖。 第3圖：依據本發明之一實施例，一測試線路之示意圖。 第4圖：依據本發明之一實施例，一測試線路之示意圖。 第5圖：依據本發明之一實施例，一測試線路之示意圖。
100:基板
110:表面
111:外接合區
112:內接合區
200:線路層
210:測試線路
220:導接線路
300:防焊層
A:線路板

Claims (14)

  1. 一種線路板，其包含： 一基板，具有一表面；以及 一線路層，形成於該表面，該線路層具有至少一測試線路，該測試線路具有一主線段及一支線段，該主線段具有一第一端及一第二端，該支線段連接該主線段且位於該第一端及該第二端之間，該支線段用以供一測試裝置接觸以進行電性測試。
  2. 如請求項1之線路板，其中該支線段具有一測試部，該測試部位於該支線段之自由端，用以供該測試裝置接觸。
  3. 如請求項2之線路板，其中該支線段另具有一連接部，該連接部之兩端分別連接該主線段及該測試部，該測試部之線寬大於該連接部之線寬。
  4. 如請求項3之線路板，其中該測試部位於該主線段及該連接部之間。
  5. 如請求項2之線路板，其中該測試部位於該主線段及另一測試線路之間。
  6. 如請求項2之線路板，其中該線路層另具有至少一導接線路，該測試部位於該主線段及該導接線路之間。
  7. 如請求項2之線路板，其中該測試部之線寬大於該主線段之線寬。
  8. 如請求項1之線路板，其中該支線段為非直線線路。
  9. 如請求項1之線路板，其中該表面定義有一外接合區，該主線段之該第一端位於該外接合區，用以接合一電子裝置。
  10. 如請求項1或9之線路板，其中該表面定義有一內接合區，該主線段之該第二端位於該內接合區，用以接合一晶片。
  11. 如請求項1之線路板，其中該線路層另具有一第一導接線路及一第二導接線路，該測試線路位於該第一導接線路及該第二導接線路之間。
  12. 如請求項11之線路板，其中該第一導接線路具有一第一延伸段及一第一讓位段，該第二導接線路具有一第二延伸段及一第二讓位段，該第一延伸段及該第二延伸段之間的一間距小於該第一讓位段及該第二讓位段之間的一間距，該測試線路之該支線段位於該第一讓位段及該第二讓位段之間。
  13. 如請求項1之線路板，其中該線路層具有複數個測試線路及複數個導接線路，至少一導接線路位於相鄰兩個該測試線路之間。
  14. 如請求項1之線路板，其另具有一防焊層，該防焊層覆蓋該測試線路，覆蓋該測試部之該防焊層可被移除。
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