TW202036069A - 攝像機模組製造裝置以及攝像機模組製造方法 - Google Patents

攝像機模組製造裝置以及攝像機模組製造方法 Download PDF

Info

Publication number
TW202036069A
TW202036069A TW109108529A TW109108529A TW202036069A TW 202036069 A TW202036069 A TW 202036069A TW 109108529 A TW109108529 A TW 109108529A TW 109108529 A TW109108529 A TW 109108529A TW 202036069 A TW202036069 A TW 202036069A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
lens
central
peripheral
image
sensor substrate
Prior art date
Application number
TW109108529A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI732484B (zh
Inventor
山本典
浅野富士夫
三宅秀穂
今川幸司
高垣拓樹
名取真吾
Original Assignee
日商Ｐｆａ股份有限公司
日商泰志達股份有限公司
日商中日諏訪光電股份有限公司
日商新川股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商Ｐｆａ股份有限公司, 日商泰志達股份有限公司, 日商中日諏訪光電股份有限公司, 日商新川股份有限公司 filed Critical 日商Ｐｆａ股份有限公司
Publication of TW202036069A publication Critical patent/TW202036069A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI732484B publication Critical patent/TWI732484B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
    • G02B7/365—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals by analysis of the spatial frequency components of the image
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50—Constructional details
    • H04N23/55—Optical parts specially adapted for electronic image sensors; Mounting thereof
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00—Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/22—Telecentric objectives or lens systems
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/04—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B43/00—Testing correct operation of photographic apparatus or parts thereof
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50—Constructional details
    • H04N23/54—Mounting of pick-up tubes, electronic image sensors, deviation or focusing coils
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/57—Mechanical or electrical details of cameras or camera modules specially adapted for being embedded in other devices
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60—Control of cameras or camera modules
    • H04N23/68—Control of cameras or camera modules for stable pick-up of the scene, e.g. compensating for camera body vibrations
    • H04N23/682—Vibration or motion blur correction
    • H04N23/685—Vibration or motion blur correction performed by mechanical compensation
    • H04N23/687—Vibration or motion blur correction performed by mechanical compensation by shifting the lens or sensor position
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/002—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Abstract

本發明提供一種攝像機模組製造裝置以及攝像機模組製造方法。一種攝像機模組製造裝置（100），其將裝入有攝影透鏡（41）的透鏡單元（40）與安裝有攝像元件（52）的傳感器基板（51）予以接合，其中，所述攝像機模組製造裝置（100）包括光學單元（10），所述光學單元（10）包含準直透鏡（31、33）與測定圖（32、34），使測定圖（32、34）的像通過攝影透鏡（41）而在攝像元件（52）上成像，基於攝像元件（52）對通過光學單元（10）而在攝像元件（52）上成像的測定圖（32、34）的像進行轉換所得的圖像信號，來調整透鏡單元（40）與傳感器基板（51）的相對位置，測定圖（32、34）相對於與準直透鏡（31、33）的光軸（31a、33a）垂直的面而傾斜地配置。

Description

攝像機模組製造裝置以及攝像機模組製造方法
本發明是有關於一種將透鏡單元（lens unit）與安裝有攝像元件的傳感器基板予以接合的攝像機模組（camera module）製造裝置以及攝像機模組製造方法。
已知有一種攝像機模組，其是將裝入有攝影透鏡的透鏡單元、與安裝有電荷耦合器件（Charge Coupled Device，CCD）或互補金屬氧化物半導體（Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS）等攝像元件的傳感器基板一體化而成。此種攝像機模組中，進行傳感器基板相對於透鏡單元的位置調整，以使攝像元件的攝像面與透鏡單元的成像面大致一致，在完成位置調整的狀態下，通過紫外線固化樹脂來將傳感器基板黏合至透鏡單元（例如參照專利文獻1、2）。 現有技術文獻 專利文獻
專利文獻1：日本專利第5460406號說明書 專利文獻2：日本專利第4960308號說明書
[發明所要解決的問題] 專利文獻1、2所記載的以往技術的攝像機模組製造裝置中，一邊使傳感器基板相對於透鏡單元的位置移動，一邊拍攝測定圖（chart）的圖像，對圖像的聚焦評估值相對於傳感器基板的位置的變化進行檢測，根據聚焦評估值的變化來調整傳感器基板的位置。因此，必須在傳感器基板的多個不同位置獲取測定圖的圖像，因而存在位置調整耗費時間的問題。
因此，本發明的目的在於，在攝像機模組製造裝置中，以短時間來進行透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整，實現生產性的提高。 [解決問題的技術手段]
本發明的攝像機模組製造裝置調整透鏡單元與傳感器基板的相對位置，在調整好相對位置的狀態下將透鏡單元與傳感器基板予以接合，所述透鏡單元裝入有攝影透鏡，所述傳感器基板安裝有將攝影透鏡所成的像轉換成圖像信號的攝像元件，所述攝像機模組製造裝置的特徵在於包括：光學單元，包含準直透鏡與測定圖，使測定圖的像通過準直透鏡與攝影透鏡而在攝像元件上成像，基於攝像元件對通過光學單元而在攝像元件上成像的測定圖的像進行轉換所得的圖像信號，來調整透鏡單元與傳感器基板的相對位置，測定圖相對於與準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜地配置。
這樣，測定圖相對於與準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜地配置，因此攝影透鏡對測定圖的成像面的高度相對於從攝影透鏡的光軸計起的與光軸正交的方向的距離，而發生變化。因此，能夠通過一次攝像來獲取攝影透鏡的成像面的高度不同的多個測定圖的像，利用一次攝像，便能夠獲取相對於攝影透鏡的成像面與攝像元件的攝像面的高度偏離的、空間頻率響應等聚焦評估值的變化特性，從而進行透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整。由此，能夠以短時間進行透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整，從而能夠提高生產性。
本發明的攝像機模組製造裝置中，也可包括：傳感器基板保持部，保持傳感器基板；透鏡單元保持部，配置在傳感器基板保持部的其中一側，保持透鏡單元；移動機構，使透鏡單元保持部或傳感器基板保持部中的其中任一者或兩者相對於另一者而相對地移動；以及控制部，通過移動機構來調整透鏡單元與傳感器基板的相對位置，光學單元配置在透鏡單元保持部的其中一側，透鏡單元保持部以光學單元的準直透鏡的焦點位置重合於透鏡單元的攝影透鏡的入射光瞳的位置的方式，來保持透鏡單元，準直透鏡使測定圖的像通過攝影透鏡的入射光瞳而在由傳感器基板保持部所保持的傳感器基板的攝像元件上成像。
這樣，通過以光學單元的準直透鏡的焦點位置重合於透鏡單元的攝影透鏡的入射光瞳的位置的方式來保持透鏡單元，從而由準直透鏡與攝影透鏡構成測定圖側遠心（telecentric）光學系統，準直透鏡使測定圖的像通過攝影透鏡的入射光瞳而在攝像元件上成像，因此，即使因將測定圖相對於與準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜地配置，使得準直透鏡與測定圖之間的光軸方向的距離根據從準直透鏡的光軸計起的與光軸正交的方向的距離而變化，也能夠避免在攝像元件的攝像面上成像的測定圖的像的大小發生變化。因此，能夠減少誤差因素而提高精度，從而能夠精度良好地進行空間頻率響應等聚焦評估值的計算。由此，能夠提高透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整精度而以短時間進行調整，從而能夠提高生產性。
本發明的攝像機模組製造裝置中，光學單元也可包括：中央光學系統，包含中央準直透鏡與中央測定圖，使中央測定圖的像通過中央準直透鏡與攝影透鏡而在攝像元件的中央部成像；以及至少兩個周邊光學系統，包含周邊準直透鏡與周邊測定圖，使周邊測定圖的像通過周邊準直透鏡與攝影透鏡而在攝像元件的不同的周邊部分別成像，透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整是基於中央圖像信號與各周邊圖像信號來進行，所述中央圖像信號是由攝像元件對通過中央光學系統而在攝像元件的中央部成像的中央測定圖的像進行轉換所得，所述各周邊圖像信號是由攝像元件對通過多個周邊光學系統而在攝像元件的不同的周邊部分別成像的周邊測定圖的像進行轉換所得，中央測定圖相對於與中央準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜地配置，各周邊測定圖相對於與各周邊準直透鏡的光軸垂直的面而分別傾斜地配置。
這樣，利用中央準直透鏡與攝影透鏡來使中央測定圖的像在攝像元件的攝像面的中央部成像，利用多個周邊準直透鏡與攝影透鏡來使周邊測定圖的像在攝像元件的攝像面的不同的周邊部成像，因此在攝像元件的中央部與多個周邊部，能夠通過一次攝像來獲取攝影透鏡的成像面的高度不同的測定圖的多個像，利用一次攝像，便能夠在攝像元件的中央部與多個周邊部獲取相對於攝影透鏡的成像面與攝像元件的攝像面的高度偏離的、空間頻率響應等聚焦評估值的變化特性。而且，基於所獲取的空間頻率響應等聚焦評估值的變化特性，能夠同時進行透鏡單元與傳感器基板的高度方向、及傾斜方向的調整，能夠更短時間地進行透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整，從而能夠進一步提高生產性。
本發明的攝像機模組製造裝置中，也可包括：傳感器基板保持部，保持傳感器基板；透鏡單元保持部，配置在傳感器基板保持部的其中一側，保持透鏡單元；移動機構，使透鏡單元保持部或傳感器基板保持部中的其中任一者或兩者相對於另一者而相對地移動；以及控制部，通過移動機構來調整透鏡單元與傳感器基板的相對位置，光學單元配置在透鏡單元保持部的其中一側，各周邊準直透鏡是配置成，各光軸相對於中央準直透鏡的光軸而傾斜，且各周邊準直透鏡的各焦點位置與中央準直透鏡的焦點位置處於同一位置，透鏡單元保持部以中央準直透鏡的焦點位置與各周邊準直透鏡的各焦點位置重合於攝影透鏡的入射光瞳的位置的方式，來保持透鏡單元，中央光學系統的中央準直透鏡使中央測定圖的像通過攝影透鏡的入射光瞳而在攝像元件的中央部成像，周邊光學系統的各周邊準直透鏡使各周邊測定圖的像通過攝影透鏡的入射光瞳而在攝像元件的不同的周邊部分別成像。而且，透鏡單元保持部也可以下述方式來保持透鏡單元，即，攝影透鏡的光軸與中央準直透鏡的光軸成為同一軸，且中央準直透鏡的焦點位置與各周邊準直透鏡的各焦點位置重合於攝影透鏡的入射光瞳的中心位置。
這樣，通過以中央準直透鏡的焦點位置與各周邊準直透鏡的各焦點位置重合於攝影透鏡的入射光瞳的位置的方式來保持透鏡單元，從而由中央準直透鏡與攝影透鏡構成中央測定圖側遠心光學系統，由各周邊準直透鏡與攝影透鏡分別構成周邊測定圖側遠心光學系統。並且，中央準直透鏡使中央測定圖的像通過攝影透鏡的入射光瞳而在攝像元件的攝像面上成像，因此即使因將中央測定圖相對於與中央準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜地配置，使得中央準直透鏡與中央測定圖之間的光軸方向的距離根據從中央準直透鏡的光軸計起的與光軸正交的方向的距離而變化，也能夠避免在攝像元件的攝像面上成像的中央測定圖的像的大小發生變化。同樣地，周邊準直透鏡使周邊測定圖的像通過攝影透鏡的入射光瞳而在攝像元件的攝像面上成像，因此即使因將周邊測定圖相對於與周邊準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜地配置，使得周邊準直透鏡與周邊測定圖之間的光軸方向的距離根據從周邊準直透鏡的光軸計起的與光軸正交的方向的距離而變化，也能夠避免在攝像元件的攝像面上成像的周邊測定圖的像的大小發生變化。因此，能夠減少誤差因素而提高精度，從而能夠精度良好地進行空間頻率響應等聚焦評估值的計算。由此，能夠提高透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整精度而以更短時間進行調整，從而能夠進一步提高生產性。
本發明的攝像機模組製造裝置中，光學單元也可包括平板狀的底座，中央準直透鏡以光軸相對於底座的表面而垂直的方式，安裝於底座的中央部的另一側，多個周邊準直透鏡以光軸相對於底座的表面而傾斜，且各焦點位置與中央準直透鏡的焦點位置成為同一位置的方式，安裝於底座的周邊部的另一側。
這樣，通過以中央準直透鏡的焦點位置與各周邊準直透鏡的各焦點位置處於同一位置的方式而安裝於共用的底座，從而能夠使光學單元變得緊湊。
本發明的攝像機模組製造裝置中，中央測定圖也可以相對於底座的表面而傾斜的方式，配置在底座的其中一側的中央部，各周邊測定圖是與底座的表面平行地安裝於底座的周邊部。
由此，能夠使光學單元的結構變得簡便。
本發明的攝像機模組製造裝置中，中央測定圖也可具有中央邊緣（edge），所述中央邊緣通過中央準直透鏡的光軸且沿傾斜方向延伸，周邊測定圖具有第一邊緣與第二邊緣，所述第一邊緣通過周邊準直透鏡的光軸且從底座的中央部朝向底座的周邊部延伸，所述第二邊緣沿與第一邊緣交叉的方向延伸。
由此，利用一次攝像，便能夠在攝像元件的中央部與多個周邊部，精度良好地獲取相對於攝影透鏡的成像面與攝像元件的攝像面的高度偏離的、空間頻率響應等聚焦評估值的變化特性，能夠以更短時間進行透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整，從而能夠進一步提高生產性。
本發明的攝像機模組製造裝置中，也可包括：罩，被安裝於底座的其中一側，覆蓋底座的其中一側；以及光源，被安裝於底座的其中一側，中央測定圖與周邊測定圖包含光透過的透光部與遮擋光的遮光部，罩的內面反射來自光源的光而使其入射至中央測定圖與周邊測定圖。而且，光源也可為環（ring）狀，且以中心軸與中央準直透鏡的光軸成為同軸的方式而配置。
由此，能夠使光學單元變得緊湊，並且能夠均等地對中央測定圖、周邊測定圖進行照明，能夠使各測定圖的良好的像在攝像元件的攝像面上成像。
本發明的攝像機模組製造方法是調整透鏡單元與傳感器基板的相對位置，在調整好相對位置的狀態下將透鏡單元與傳感器基板予以接合，所述透鏡單元裝入有攝影透鏡，所述傳感器基板安裝有將攝影透鏡所成的像轉換成圖像信號的攝像元件，所述攝像機模組製造方法的特徵在於包括：準備步驟，準備包含準直透鏡與測定圖的光學單元；以及位置調整步驟，借助光學單元來使測定圖的像通過準直透鏡與攝影透鏡而在攝像元件上成像，基於攝像元件對在攝像元件上成像的測定圖的像進行轉換所得的圖像信號，來調整透鏡單元與傳感器基板的相對位置，位置調整步驟是將測定圖配置成相對於與準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜，從而予以執行。
這樣，通過使測定圖相對於與準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜，能夠使攝影透鏡對測定圖的成像面的高度相對於從攝影透鏡的光軸計起的與光軸正交的方向的距離而發生變化。因此，能夠利用一次攝像來獲取攝影透鏡的成像面的高度不同的多個測定圖的像，利用一次攝像，便能夠獲得相對於攝影透鏡的成像面與攝像元件的攝像面的高度偏離的、空間頻率響應等聚焦評估值的變化特性，從而進行透鏡單元與傳感器基板的位置調整。由此，能夠以短時間來進行透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整，從而能夠提高生產性。
本發明的攝像機模組製造方法中，光學單元也可包括：中央光學系統，包含中央準直透鏡與中央測定圖，使中央測定圖的像通過中央準直透鏡與攝影透鏡而在攝像元件的中央部成像；以及至少兩個周邊光學系統，包含周邊準直透鏡與周邊測定圖，使周邊測定圖的像通過周邊準直透鏡與攝影透鏡而在攝像元件的不同的周邊部分別成像，位置調整步驟是基於中央圖像信號與各周邊圖像信號來進行透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整，中央圖像信號是由攝像元件對通過中央光學系統而在攝像元件的中央部成像的中央測定圖的像進行轉換所得，各周邊圖像信號是由攝像元件對通過多個周邊光學系統而在攝像元件的不同的周邊部分別成像的周邊測定圖的像進行轉換所得，位置調整步驟是將中央測定圖配置成相對於與中央準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜，且將各周邊測定圖配置成相對於與各周邊準直透鏡的光軸垂直的面而分別傾斜，從而予以執行。
這樣，使中央測定圖的像通過中央準直透鏡與攝影透鏡而在攝像元件的中央部成像，使周邊測定圖的像通過多個周邊準直透鏡與攝影透鏡而在攝像元件的不同的周邊部成像，以執行位置調整步驟，因此在攝像元件的中央部與多個周邊部，能夠通過一次攝像來獲取攝影透鏡的成像面的高度不同的多個測定圖的像，利用一次攝像，便能夠在攝像元件的中央部與多個周邊部獲取相對於攝影透鏡的成像面與攝像元件的攝像面的高度偏離的、空間頻率響應等聚焦評估值的變化特性。而且，基於所獲取的空間頻率響應等聚焦評估值的變化特性，能夠同時進行透鏡單元與傳感器基板的高度方向、及傾斜方向的調整，能夠更短時間地進行透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整，從而能夠進一步提高生產性。 [發明的效果]
本發明能夠在攝像機模組製造裝置中，以短時間來進行透鏡單元與傳感器基板的相對位置的調整，實現生產性的提高。
以下，一邊參照附圖，一邊說明實施方式的攝像機模組製造裝置100。首先，一邊參照圖1至圖6，一邊說明攝像機模組製造裝置100的結構。
如圖1所示，攝像機模組製造裝置100是將裝入有攝影透鏡41的透鏡單元40、與安裝有攝像元件52的傳感器基板51予以接合以製造攝像機模組50者。攝像機模組製造裝置100包括：光學單元10；機械臂（robot arm）45，保持透鏡單元40；載台（stage）55，在上表面保持傳感器基板51；六軸致動器（actuator）56，使載台55的位置沿六軸方向移動；以及控制部57，控制六軸致動器56。此處，機械臂45構成透鏡單元保持部，載台55構成傳感器基板保持部，六軸致動器56構成移動機構。以下的說明中，將光學單元10的中央測定圖32的傾斜方向設為X方向，將在水平面上與X方向正交的方向設為Y方向，將垂直方向設為Z方向，將Z方向+側設為上側，將Z方向-側設為下側而進行說明。上側對應於其中一側，下側對應於另一側。
光學單元10包含：底座11；中心單元20，被安裝於底座11；環狀的光源36，被安裝於底座11的上表面13；以及罩37，被安裝於底座11上。
如圖2所示，底座11為四方平板狀構件，在中央部設有安裝中心單元20的貫穿孔12。而且，在底座11的中央部與各角部之間的各周邊部17，分別設有凹部15。如圖1所示，在凹部15的下側，設有貫穿凹部15的底面與底座11的下表面14的貫穿孔16。在各凹部15的上表面，分別安裝有後文說明的周邊測定圖34。
如圖1、圖2所示，中心單元20包含上側的圓筒部21與下側的透鏡安裝塊26。圓筒部21是上表面呈傾斜的傾斜面23的圓筒形狀。在傾斜的傾斜面23上，通過緩衝（cushion）構件24、安裝金屬件25而組裝有後文說明的中央測定圖32。
透鏡安裝塊26是外徑比圓筒部21大的大致圓柱狀的塊體。在透鏡安裝塊26的中央，設有孔22，所述孔22的中心軸沿垂直方向延伸且與圓筒部21的內徑連通。而且，在透鏡安裝塊26，設有四個孔28，所述四個孔28的中心軸沿相對於孔22的中心軸而傾斜的方向延伸。
在孔22中安裝有中央準直透鏡31，在孔28中分別安裝有周邊準直透鏡33。如圖3所示，中央準直透鏡31與周邊準直透鏡33是以下述方式而安裝於孔22、28，即，中央準直透鏡31的光軸31a與各周邊準直透鏡33的各光軸33a在一點29處交叉，且中央準直透鏡31與周邊準直透鏡33的各焦點31f、33f位於一點29。因而，中央準直透鏡31與周邊準直透鏡33以各焦點31f、33f成為同一位置的方式而安裝於透鏡安裝塊26。
如圖1所示，當以將圓筒部21嵌入至底座11中央部的貫穿孔12，且透鏡安裝塊26的上端面27接觸至底座11的下表面14的方式而將中心單元20安裝於底座11時，中央準直透鏡31以光軸31a相對於底座11的下側表面即下表面14而垂直的方式被安裝於底座11的中央部的下側，各周邊準直透鏡33以各光軸33a相對於底座11的下表面14而傾斜的方式被安裝於底座11的下側。
由於中央測定圖32的下表面32a被安裝於中心單元20的圓筒部21的傾斜的傾斜面23上，因此中央測定圖32如圖3所示，相對於底座11的下表面14而傾斜地配置。另一方面，中央準直透鏡31以光軸31a相對於底座11的下表面14而垂直的方式被安裝於底座11。因而，中央測定圖32相對於與中央準直透鏡31的光軸31a垂直的面而傾斜地配置。
而且，周邊測定圖34以下表面34a與底座11的下表面14成平行的方式被安裝於底座11的凹部15。另一方面，周邊準直透鏡33以光軸33a相對於底座11的下表面14而傾斜的方式被安裝於底座11。因而，周邊測定圖34相對於與周邊準直透鏡33的光軸33a垂直的面而傾斜地配置。
如圖3所示，中央準直透鏡31與中央測定圖32構成中央光學系統30，四個周邊準直透鏡33與周邊測定圖34構成四個周邊光學系統35。另外，以下的說明中，將沿著周邊準直透鏡33的光軸33a而在周邊測定圖34的表面從底座11的中央部朝向周邊部17延伸的方向設為R1～R4，將在周邊測定圖34的表面與R1～R4正交的方向設為S1～S4。
圖4是表示中央測定圖32的圖案的平面圖。中央測定圖32是在光透過的透明玻璃板的表面設有遮擋光的遮光部32s者。中央測定圖32的Y方向的+側一半成為光透過的透光部32t，Y方向的-側的一半成為光不會透過的遮光部32s。遮光部32s例如既可通過黑色的鉻蝕刻（chrome etching）而構成，也可通過塗布黑色的塗料而構成。在透光部32t與遮光部32s之間，構成沿X方向延伸的中央邊緣（edge）32e。
如圖3所示，中央測定圖32以下述方式安裝於圓筒部21的傾斜面23，即，中央準直透鏡31的光軸31a通過X方向中央的中心位置32i，遠端32f成為傾斜方向上側，近端32n成為傾斜方向下側。因而，當中央測定圖32被安裝於中心單元20時，如圖4所示，中央邊緣32e成為通過中央準直透鏡31的光軸31a且朝向傾斜方向延伸的邊緣。
如圖5所示，周邊測定圖34被配置成，使三角形的透光部34t與三角形的遮光部34s在R1～R4方向、及正交的S1～S4方向上交替地鄰接。遮光部34s例如既可通過黑色的鉻蝕刻而構成，也可通過塗布黑色的塗料而構成。在R1～R4軸的兩側鄰接地配置的三角形的遮光部34s與透光部34t之間，形成有沿R1～R4方向延伸的第一邊緣34e1。而且，在三角形的遮光部34s與在R1～R4方向上鄰接的三角形的透光部34t之間，形成有沿S1～S4方向延伸的第二邊緣34e2。而且，在三角形的透光部34t的相對於R1～R4而傾斜45度的方向上，形成有第三邊緣34e3。
如圖3所示，各周邊測定圖34以下述方式而分別安裝於底座11的各周邊部17，即，各周邊準直透鏡33的各光軸33a通過R1～R4方向中央的各中心位置34i，R1～R4的各+側端成為遠離底座11的中央部的側，R1～R4的各-側端成為靠近底座11的中央部的側。當各周邊測定圖34被安裝於底座11的各周邊部17時，遠離底座11的中央部的R1～R4的+側端成為從周邊準直透鏡33計起的沿著光軸33a的距離遠的遠端34f，靠近底座11的中央部的R1～R4的-側端成為從周邊準直透鏡33計起的沿著光軸33a的距離近的近端34n。
因而，當周邊測定圖34被安裝於底座11時，如圖5所示，第一邊緣34e1成為通過周邊準直透鏡33的光軸33a且從底座11的中央部朝向底座11的周邊部17延伸的邊緣，第二邊緣34e2與第三邊緣34e3成為沿與第一邊緣34e1交叉的方向延伸的邊緣。
如圖1、圖2所示，在底座11的上表面13安裝有光源36。光源36為環狀，且以中心軸與中央準直透鏡31的光軸31a呈同軸的方式而安裝於底座11。光源36例如也可為將多個發光二極管（Light Emitting Diode，LED）配置成環狀者。而且，光源36也可構成為六邊環狀體或八邊環狀體。
在底座11的上表面13的上側，安裝有罩37，所述罩37覆蓋底座11的上表面13、及從底座11的上表面13朝上方向突出的中心單元20的圓筒部21。罩37的內面成為白色的反射面，反射從光源36朝上方向放射的光而使光從上側入射至中央測定圖32。而且，罩37的內側面使經反射的光入射至各周邊測定圖34。由此，能夠均等地對中央測定圖32、四個周邊測定圖34進行照明。
如圖6所示，攝像機模組50是將裝入有攝影透鏡41的透鏡單元40、與安裝有攝像元件52的傳感器基板51利用紫外線固化型黏合劑接合而成。
被裝入透鏡單元40中的攝影透鏡41上表面的入射光瞳42是供來自中央準直透鏡31與各周邊準直透鏡33的光入射的區域。
攝像元件52將攝影透鏡41在攝像面53上形成的像轉換成電性圖像信號。在傳感器基板51上，安裝有輸出來自攝像元件52的圖像信號的輸出端子54。輸出端子54連接於控制部57，攝像元件52所輸出的圖像信號被輸入至控制部57。
如圖1所示，在光學單元10的下側，設有：六軸致動器56，被安裝於基台110上；載台55，被安裝於六軸致動器56的上側，且在上表面保持傳感器基板51；以及機械臂45，配置在載台55的上側與光學單元10的下側之間，以保持透鏡單元40。另外，光學單元10經由未圖示的框架而安裝於基台110。
六軸致動器56在內部具備六個步進馬達（stepping motor），驅動各步進馬達來使安裝於上側的載台55沿X方向、Y方向、Z方向及繞X軸、繞Y軸、繞Z軸這六個方向移動。六軸致動器56連接於控制部57，各步進馬達根據來自控制部57的指令而運行。另外，並不限於步進馬達，也可通過伺服馬達（servo motor）來進行載台55的驅動。
載台55在上表面具備保持傳感器基板51的未圖示的支架（holder），在上表面保持傳感器基板51。另外，載台55也可在上表面真空吸附傳感器基板51。
機械臂45在前端具備包夾保持透鏡單元40的夾盤（chuck）46。機械臂45與夾盤46一同通過未圖示的驅動裝置而沿X、Y、Z方向移動。機械臂45在透鏡單元40的貯存庫（storage）中使前端的夾盤46運行，以包夾拾取（pick up）透鏡單元40，並移動至被保持於載台55上的傳感器基板51的上方，將透鏡單元40保持在傳感器基板51上側的位置。
控制部57是在內部具有中央處理器（Central Processing Unit，CPU）58與存儲器（memory）59的計算機（computer），所述CPU58進行資訊處理，所述存儲器59保存動作程序或數據等。六軸致動器56、機械臂45、光源36連接於控制部57，根據控制部57的指令來運行。而且，攝像元件52連接於控制部57，攝像元件52所輸出的圖像信號被輸入至控制部57。
控制部57通過機械臂45來將透鏡單元40保持在傳感器基板51上側的規定位置，通過六軸致動器56來調整載台55的上表面在X方向、Y方向、Z方向及繞X軸、繞Y軸、繞Z軸的位置，以調整透鏡單元40與傳感器基板51在X方向、Y方向、Z方向及繞X軸、繞Y軸、繞Z軸的相對位置。
接下來，一邊參照圖7～圖16，一邊說明以上述方式構成的攝像機模組製造裝置100的動作。
如圖7所示，首先將傳感器基板51載置於載台55的上表面，使傳感器基板51保持於載台55的上表面。在傳感器基板51的與透鏡單元40的接合部塗布紫外線固化型黏合劑。
控制部57通過機械臂45在貯存庫中拾取透鏡單元40，並使其移動至被保持於載台55上表面的傳感器基板51的上方。控制部57利用機械臂45來保持透鏡單元40，以使攝影透鏡41的光軸41a與中央準直透鏡31的光軸31a呈同一軸，且中央準直透鏡31的焦點31f與各周邊準直透鏡33的各焦點33f所處的一點29重合於攝影透鏡41的入射光瞳42的中心位置。
接下來，控制部57使六軸致動器56運行，以將攝像元件52的攝像面53的位置設定為規定的初始位置。規定的初始位置例如也可為設計尺寸的位置。
接下來，控制部57使光源36發光。當從光源36的上側的面放射光時，如圖7中的箭頭38所示，光被罩37的內面反射而入射至中央測定圖32、各周邊測定圖34。入射至中央光學系統30的中央測定圖32的光通過中央準直透鏡31而從入射光瞳42入射至攝影透鏡41，並到達攝像元件52的中央部分，如圖8所示，在攝像元件52的攝像面53中央部分形成中央測定圖32的像81。像81包含：透過中央測定圖32的透光部32t的白的半圓的像82；光被遮光部32s遮擋的黑的像83；以及白的半圓的像82與黑的像83的邊界線的像84。像84是中央測定圖的中央邊緣32e的圖像。
而且，入射至四個周邊光學系統35的各周邊準直透鏡33的光通過各周邊準直透鏡33而從入射光瞳42入射至攝影透鏡41，並到達攝像元件52的四個周邊部分，如圖8所示，在攝像元件52的攝像面53的四個周邊部分形成周邊測定圖34的像91。像91包含：透過周邊測定圖34的透光部34t的白的三角形的像92；光被遮光部34s遮擋的黑的像93；以及白的像92與黑的像93的邊界線的像94～96。像94～96是周邊測定圖34的第一邊緣34e1～第三邊緣34e3的圖像。
此處，對中央光學系統30的詳細、以及通過中央光學系統30而在攝像面53的中央部成像的像81的詳細進行說明。
如圖9的（a）所示，中央準直透鏡31的焦點31f位於攝影透鏡41側。透鏡單元40以中央準直透鏡31的焦點31f重合於攝影透鏡41的入射光瞳42的中心位置的方式受到保持。由此，中央準直透鏡31與攝影透鏡41構成中央測定圖側遠心光學系統。並且，透過中央測定圖32的主光線利用中央準直透鏡31而朝向焦點31f收聚，並從攝影透鏡41的入射光瞳42入射至攝影透鏡41，從而如圖9的（b）所示，中央測定圖32的圖案在成像面65上成像。
透過中央準直透鏡31的光軸31a所通過的中央測定圖32的中心位置32i的光線如圖9的（a）、圖9的（b）中以實線所示的光路61那樣前進，中心位置32i的圖案在基準成像面65i的光軸31a附近的中心部成像。
另一方面，由於中央測定圖32是相對於與中央準直透鏡31的光軸31a正交的面而傾斜地配置，因此透過中央測定圖32的遠端32f的光線如圖9的（a）、圖9的（b）中以虛線所示的光路62那樣前進，遠端32f的圖案在較基準成像面65i為上側的上端成像面65n上，在從光軸31a沿與光軸31a正交的X方向偏離-△X的位置處成像。
而且，透過中央測定圖32的近端32n的光線如圖9的（a）、圖9的（b）中以一點鏈線所示的光路63那樣前進，近端32n的圖案在較基準成像面65i為下側的下端成像面65f上，在從光軸31a沿與光軸31a正交的X方向偏離+△X的位置處成像。
因而，在通過六軸致動器56而調整了傳感器基板51的高度，以使攝像面53處於基準成像面65i的高度的情況下，如圖10的中央部那樣，中央測定圖32的中心位置32i的中央邊緣32e作為無模糊的清晰（sharp）的像84i而在攝像面53上成像，遠端32f與近端32n的中央邊緣32e作為模糊的像84f、84n而在攝像面53上成像。
如圖10所示，在攝像面53上成像的中央測定圖32的像81由攝像元件52轉換為中央圖像信號並被輸入至控制部57。控制部57如圖10所示，沿著X方向而以規定的間隔來對中央邊緣32e的部分的像設定測量點85。並且，控制部57算出對在各測量點85是否聚焦進行評估的聚焦評估值。本實施方式中，設使用空間頻率響應來作為聚焦評估值而進行說明，但並不限於此，例如也可使用對比度（contrast）等其他的聚焦評估值。
控制部57使用所算出的各測量點85的空間頻率響應，如圖11所示，生成包含線a的中央部離焦圖（through-focus graph），所述線a表示空間頻率響應相對於攝像面53的中央部的測量點85的X方向位置的變化。
這樣，中央光學系統30中，由於中央測定圖32相對於與中央準直透鏡31的光軸31a垂直的面而傾斜地配置，因此攝影透鏡41的中央測定圖32的成像面65的高度相對於從攝影透鏡41的光軸41a計起的與光軸41a正交的方向的距離，而如上端成像面65n、基準成像面65i、下端成像面65f那樣變化。因此，利用一次攝像便能夠獲取攝影透鏡41的成像面65的高度不同的多個中央測定圖32的像81，通過一次攝像，便能夠生成圖11所示那樣的中央部離焦圖。
接下來，對周邊光學系統35的詳細、以及通過周邊光學系統35而在攝像面53的周邊部成像的像91的詳細進行說明。
與中央光學系統30同樣，周邊光學系統35的周邊準直透鏡33的焦點33f位於攝影透鏡41側，周邊準直透鏡33的焦點33f重合於攝影透鏡41的入射光瞳42的中心位置，周邊準直透鏡33與攝影透鏡41構成周邊測定圖側遠心光學系統。如圖12的（a）所示，透過周邊測定圖34的主光線利用周邊準直透鏡33而朝向焦點33f收聚，並從攝影透鏡41的入射光瞳42入射至攝影透鏡41，周邊測定圖34的圖案如圖12的（b）所示，在成像面75上成像。
透過周邊準直透鏡33的光軸33a所通過的周邊測定圖34的中心位置34i的光線如圖12的（a）、圖12的（b）中以實線所示的光路71那樣前進，中心位置34i的圖案在基準成像面75i上成像。
另一方面，由於周邊測定圖34是相對於與周邊準直透鏡33的光軸33a正交的面而傾斜地配置，因此透過周邊測定圖34的遠端34f的光線如12的（a）、圖12的（b）中以虛線所示的光路72那樣前進，遠端32f的圖案在較基準成像面75i為上側的上端成像面75n上，在較中心位置34i的圖案所成像的位置而朝向周邊部偏離+△R的位置處成像。
而且，透過周邊測定圖34的近端34n的光線如圖12的（a）、圖12的（b）中以一點鏈線所示的光路73那樣前進，近端34n的圖案在較基準成像面75i為下側的下端成像面75f上，在較中心位置34i的圖案所成像的位置而朝向中央部側偏離-△R的位置處成像。
因而，在通過六軸致動器56而調整了傳感器基板51的高度，以使攝像面53處於基準成像面75i的高度的情況下，如圖13所示，中心位置34i附近的第一邊緣34e1作為無模糊的清晰的像94i而在周邊部的攝像面53上成像，遠端32f與近端32n的第一邊緣34e1作為模糊的像94f、94n而在攝像面53上成像。
控制部57如圖13所示，沿著R1的方向而以規定的間隔來對第一邊緣34e1～第三邊緣34e3的部分的像94～96分別設定測量點97。並且，控制部57在各測量點97處算出空間頻率響應，如圖14所示，生成線b1，所述線b1表示空間頻率響應相對於攝像面53的周邊部的測量點97的R1方向位置的變化。同樣地，控制部57對於沿R2～R4的各方向延伸的各周邊部，也生成同樣的離焦圖。並且，使關於R1～R4的各方向的各線b1～b4重合，生成圖14所示的周邊部離焦圖。
與中央光學系統30同樣，在周邊光學系統35中，各周邊測定圖34也是相對於與各周邊準直透鏡33的各光軸33a垂直的面而傾斜地配置，因此攝影透鏡41的各周邊測定圖34的成像面75的高度相對於從攝影透鏡41的光軸41a計起的與光軸41a正交的方向的距離，而如上端成像面75n、基準成像面75i、下端成像面75f那樣變化。因此，利用一次攝像，便能夠獲取攝影透鏡41的成像面75的高度不同的多個周邊測定圖34的像91，通過一次攝像，便能夠生成圖14所示的周邊部離焦圖。
控制部57使用圖11所示的中央部離焦圖以及圖9的（b）所示的成像面65的高度與X方向距離的關係，將圖11的線a轉換成圖15的（a）所示的線c。此處，線c是表示空間頻率響應相對於中央部的攝影透鏡41的成像面65與攝像元件52的攝像面53的高度偏離△H的變化的線。而且，同樣地，將圖14所示的線b1～b4由圖15的（a）所示的線d1轉換成線d4。此處線d1～線d4是表示空間頻率響應相對於各周邊部的攝影透鏡41的成像面75與攝像元件52的攝像面53的高度偏離△H的變化的線。
參照圖15的（a）可判斷為：線c在高度偏離△H1處，空間頻率響應達到最大值，由於△H1為負（minus），因此如圖15的（b）所示，攝像面53的中央部相對於攝影透鏡41的成像面65而低△H1。而且可判斷為：線d1、d3也是在高度偏離△H1處，空間頻率響應達到最大值，因此在R1、R3方向的周邊部，攝像面53相對於攝影透鏡41的成像面75而低△H1。同樣可判斷為：線d2、d4分別在高度偏離△H3、△H2處，空間頻率響應達到最大，因此在R2、R4方向的周邊部，攝像面53相對於攝影透鏡41的成像面75而分別低△H3、△H2。
此處，由於攝影透鏡41的成像面65、75為同一面，且如圖15的（b）所示，△H3的絕對值>△H1的絕對值>△H2的絕對值，因此如圖15的（b）所示那樣可知的是，攝像面53相對於攝影透鏡41的成像面65、75而在中央部低了高度△H1，在R2-R4方向上，以R2側變低的方式而傾斜。
控制部57基於圖15的（a）、圖15的（b）所示的數據來使六軸致動器56運行，以使攝像面53稍許上升，並且消除R2-R4方向的傾斜。
通過此動作，如圖16的（b）所示，在攝像面53與攝影透鏡41的成像面65、75呈大致同一面的情況下，如圖16的（a）所示，線c、d1～d4全部在高度偏離△H為零的位置處達到最大值。
這樣，待攝像元件52的攝像面53與攝影透鏡41的成像面65、75成為大致同一面後，保持此狀態，控制部57通過未圖示的紫外線發光裝置來朝向黏合劑照射紫外線，使黏合劑固化而將透鏡單元40與傳感器基板51予以接合，以完成攝像機模組50的裝配。
如以上所說明的，本實施方式的攝像機模組製造裝置100中，控制部57利用一次攝像，分別從攝像元件52導入攝影透鏡41的成像面65、75的高度不同的中央測定圖32的像81與多個周邊測定圖34的像91，以作為中央圖像信號、周邊圖像信號。並且，能夠進行圖11所示的中央部離焦圖與圖14所示的周邊部離焦圖的生成、圖15所示的曲線的生成，並能夠進行攝像面53的高度與傾斜的調整，所述曲線表示空間頻率響應相對於攝影透鏡41的成像面65、75與攝像元件52的攝像面53的高度偏離△H的變化。這樣，本實施方式的攝像機模組製造裝置100通過一次攝像，便能夠在攝像元件52的中央部與多個周邊部，獲取空間頻率響應相對於攝影透鏡41的成像面65、75與攝像元件52的攝像面53的高度偏離△H的變化特性，能夠同時進行透鏡單元40與傳感器基板51的高度方向及傾斜方向的調整。由此，能夠更短時間地進行透鏡單元40與傳感器基板51的相對位置的調整，從而能夠進一步提高生產性。
而且，本實施方式的攝像機模組製造裝置100中，以中央準直透鏡31的焦點31f的位置與周邊準直透鏡33的焦點33f的位置重合於攝影透鏡41的入射光瞳42的中心位置的方式來保持透鏡單元40，由此，由中央準直透鏡31與攝影透鏡41構成中央測定圖側遠心光學系統，由周邊準直透鏡33與攝影透鏡41構成周邊測定圖側遠心光學系統。並且，採用了下述結構：中央準直透鏡31、周邊準直透鏡33使中央測定圖32、周邊測定圖34的像通過攝影透鏡41的入射光瞳42而在攝像元件52的中央部、周邊部成像。因此，即使將中央測定圖32、周邊測定圖34相對於與光軸31a、33a垂直的面而分別傾斜地配置，在攝像元件52的攝像面53上成像的中央測定圖32的像81、周邊測定圖34的像91的大小也不會發生變化。因此，能夠減少誤差因素而提高精度，從而能夠精度良好地進行空間頻率響應的計算。
而且，本實施方式中，將中央準直透鏡31與四個周邊準直透鏡33安裝於共同的中心單元20，並且將四個周邊測定圖34安裝於組裝有中心單元20的底座11的各周邊部17，因此能夠使光學單元10變得緊湊。
另外，圖9的（a）所示的、中央測定圖32的遠端32f與近端32n之間的沿著中央準直透鏡31的光軸31a的高度差A1跟上端成像面65n與下端成像面65f之間的高度差A2的比率（A1/A2）、與中央準直透鏡31的焦距f1與攝影透鏡41的焦距f2的比率成為下述式（1）那樣的關係。 A1/A2=（f1/f2）2 …（1）
同樣，圖12的（a）所示的周邊測定圖34的遠端34f與近端34n之間的沿著周邊準直透鏡33的光軸33a的距離差B1跟上端成像面75n與下端成像面75f之間的高度差B2的比率（B1/B2）、與周邊準直透鏡33的焦距91與攝影透鏡41的局部焦距f3的比率成為下述式（2）那樣的關係。 B1/B2=（g1/f3）2 …（2） 此處，局部焦距f3例如是將相對於光軸41a的視場角設為θ而以f3=f2/cos（θ）來表示的局部性的焦距。
此處，上端成像面65n、75n與下端成像面65f、75f之間的高度差A2、B2是傳感器基板51的高度調整範圍。因而，基於攝影透鏡41的焦距f2、局部焦距f3來使中央測定圖32、周邊測定圖34的相對於與光軸31a、33a垂直的面的角度和長度發生變化，由此來調整高度差A2、B2，從而能夠配合攝影透鏡41來調整傳感器基板51的高度調整範圍。
而且，本實施方式的攝像機模組製造裝置100中，設為下述情況進行說明，即，控制部57以攝影透鏡41的光軸41a與中央準直透鏡31的光軸31a為同一軸、且中央準直透鏡31的焦點31f的位置與各周邊準直透鏡33的各焦點33f的位置重合於攝影透鏡41的入射光瞳42的中心位置的方式，來保持透鏡單元40，但並不限於此。只要各焦點31f、33f的位置重合於入射光瞳42的中心位置，則攝影透鏡41的光軸41a也從與中央準直透鏡31的光軸31a為同一軸偏離。而且，並不限於攝影透鏡41的入射光瞳42的中心位置，也可以中央準直透鏡31的焦點31f的位置與各周邊準直透鏡33的各焦點33f的位置重合於入射光瞳42的區域的範圍的方式，來保持透鏡單元40。
而且，本實施方式的攝像機模組製造裝置100中，設為下述情況進行了說明，即，通過六軸致動器56來調整載台55的X方向、Y方向、Z方向、繞X軸、繞Y軸、繞Z軸這六方向的位置，以調整傳感器基板51相對於透鏡單元40的相對位置，但並不限於此。只要能夠基於攝像元件52對通過中央光學系統30而在攝像元件52的中央部成像的中央測定圖32的像進行轉換所得的中央圖像信號、與攝像元件52對通過多個周邊光學系統35而在攝像元件52的不同的周邊部分別成像的周邊測定圖34的像進行轉換所得的各周邊圖像信號，來進行透鏡單元40與傳感器基板51的相對位置的調整，則也可使機械臂45沿六軸方向移動以調整透鏡單元40相對於傳感器基板51的相對位置。此時，並不限於攝影透鏡41的入射光瞳42的中心位置，機械臂45以中央準直透鏡31的焦點31f的位置與各周邊準直透鏡33的各焦點33f的位置重合於入射光瞳42的領域的範圍的方式來保持透鏡單元40，以調整透鏡單元40相對於傳感器基板51的相對位置。另外，在攝影透鏡41的入射光瞳42的中心位置與中央準直透鏡31的焦點31f的位置和各周邊準直透鏡33的各焦點33f的位置的偏離變得大於規定閾值的情況下，也可中止相對位置的調整。
此時，機械臂45的驅動機構構成移動機構。而且，也可使機械臂45與載台55協調地沿六軸方向移動，以調整透鏡單元40與傳感器基板51的相對位置。此時，機械臂45的驅動機構與六軸致動器56構成移動機構。這樣，移動機構只要是使機械臂45或載台55的其中任一者或兩者相對於另一者而相對地移動的機構即可。
而且，在執行使用本實施方式的攝像機模組製造裝置100來進行攝像機模組50的製造的攝像機模組製造方法的情況下，將本實施方式的攝像機模組製造裝置100的光學單元10設為可運轉狀態的操作，構成準備光學單元10的準備步驟。而且，控制部57通過攝像來導入中央測定圖32的像81與四個周邊測定圖34的四個像91，並進行中央部離焦圖與周邊部離焦圖的生成、和表示空間頻率響應相對於攝影透鏡41的成像面65、75與攝像元件52的攝像面53的高度偏離△H的變化的曲線的生成，進行攝像面53的高度和傾斜的調整的操作，構成進行透鏡單元40與傳感器基板51的相對位置調整的位置調整步驟。
並且，位置調整步驟是將中央測定圖32配置成相對於與中央準直透鏡31的光軸31a垂直的面而傾斜，且將各周邊測定圖34配置成相對於與各周邊準直透鏡33的光軸33a垂直的面而分別傾斜來執行。
接下來，一邊參照圖17、圖18，一邊說明其他實施方式的攝像機模組製造裝置200。如圖18所示，本實施方式的攝像機模組製造裝置200包含：中央光學單元130，在圓筒狀的殼體中安裝有光源136、中央測定圖132及中央準直透鏡131；以及四個周邊光學單元135，在圓筒狀的殼體中安裝有周邊測定圖134及周邊準直透鏡133。中央光學單元130是以中央準直透鏡131的光軸131a垂直地配置的方式而安裝於未圖示的框體內。而且，四個周邊光學單元135分別以下述方式而安裝於框體，即，在周邊準直透鏡133的光軸133a從垂直方向傾斜的方向上，各光軸133a在中央準直透鏡131的光軸131a上的一點29處交叉，且中央準直透鏡131、周邊準直透鏡133的各焦點位於一點29處。
機械臂45、載台55、六軸致動器56、控制部57的結構與先前說明的攝像機模組製造裝置100同樣。
本實施方式的攝像機模組製造裝置200起到與先前說明的攝像機模組製造裝置100同樣的作用、效果。而且，本實施方式的攝像機模組製造裝置200是將多個周邊光學單元135與中央光學單元130予以組合而構成，因此能夠根據所需的精度、處理速度來增減周邊光學單元135的數量。例如，在以低成本為目標的情況下，也可將中央光學單元130與兩個周邊光學單元135予以組合而構成攝像機模組製造裝置200，在要求高精度的情況下，例如也可將中央光學單元130與八個周邊光學單元135予以組合而構成攝像機模組製造裝置200。
以上說明的各實施方式中，設為中央準直透鏡31、131的光軸31a、131a沿垂直方向配置的情況進行了說明，但並不限於此，也可以中央準直透鏡31、131的光軸31a、131a成為水平方向的方式而配置。
10:光學單元 11:底座 12,16:貫穿孔 13:上表面 14,32a,34a:下表面 15:凹部 17:周邊部 20:中心單元 21:圓筒部 22,28:孔 23:傾斜面 24:緩衝構件 25:安裝金屬件 26:透鏡安裝塊 27:上端面 29:一點 30:中央光學系統 31,131:中央準直透鏡 31a,33a,41a,131a,133a:光軸 31f,33f:焦點 32,132:中央測定圖 32e:中央邊緣 32f,34f:遠端 32i,34i:中心位置 32n,34n:近端 32s,34s:遮光部 32t,34t:透光部 33:周邊準直透鏡 34,134:周邊測定圖 34e1:第一邊緣 34e2:第二邊緣 34e3:第三邊緣 35:周邊光學系統 36,136:光源 37:罩 38:箭頭 40:透鏡單元 41:攝影透鏡 42:入射光瞳 45:機械臂 46:夾盤 50:攝像機模組 51:傳感器基板 52:攝像元件 53:攝像面 54:輸出端子 55:載台 56:六軸致動器 57:控制部 58:CPU 59:存儲器 61~63,71~73:光路 65,75:成像面 65f,75f:下端成像面 65i,75i:基準成像面 65n,75n:上端成像面 81~84,91~96,84f,84i,84n,94f,94i,94n:像 85,97:測量點 100,200:攝像機模組製造裝置 110:基台 130:中央光學單元 133:周邊準直透鏡 135:周邊光學單元 A1,A2,B2:高度差 B1:距離差 a,b1~b4,c,d1~d4:線 R1~R4,S1~S4,X,Y,Z:方向 △H1,△H2,△H3:高度偏離
圖1是實施方式的攝像機模組製造裝置的側面圖。 圖2是表示實施方式的攝像機模組製造裝置的光學單元的拆除了罩與光源的狀態的底座與中心單元（center unit）的立體圖。 圖3是表示實施方式的攝像機模組製造裝置的光學單元的中央光學系統與周邊光學系統的結構的立體圖。 圖4是表示中央測定圖的圖案的平面圖。 圖5是表示周邊測定圖的圖案的平面圖。 圖6是表示通過實施方式的攝像機模組製造裝置而裝配的攝像機模組的立體圖。 圖7是圖2所示的A-A剖面圖，是表示實施方式的攝像機模組製造裝置的動作的圖。 圖8是表示在攝像元件的攝像面上成像的中央測定圖的像與周邊測定圖的像的平面圖。 圖9的（a）是實施方式的攝像機模組製造裝置的中央光學系統的整體光路圖，圖9的（b）是攝像面附近的局部詳細光路圖。 圖10是圖8所示的中央測定圖的像的放大平面圖。 圖11是表示空間頻率響應相對於圖10所示的中央測定圖的測量點位置的變化的圖表。 圖12的（a）是實施方式的攝像機模組製造裝置的周邊光學系統的整體光路圖，圖12的（b）是攝像面附近的局部詳細光路圖。 圖13是圖8所示的周邊測定圖的像的放大平面圖。 圖14是表示空間頻率響應相對於圖13所示的周邊測定圖的測量點位置的變化的圖表。 圖15的（a）及圖15的（b）是表示攝影透鏡的成像面與攝像元件的攝像面之間存在高度偏離和傾斜時的、空間頻率響應相對於攝像元件的中央部和周邊部的攝影透鏡的成像面與攝像元件的攝像面的高度偏離△H的變化的圖表。 圖16的（a）及圖16的（b）是表示攝影透鏡的成像面與攝像元件的攝像面被調整為大致同一面時的、空間頻率響應相對於攝像元件的中央部和周邊部的攝影透鏡的成像面與攝像元件的攝像面的高度偏離△H的變化的圖表。 圖17是表示另一實施方式的攝像機模組製造裝置的概略結構的立體圖。 圖18是表示圖17所示的攝像機模組製造裝置中所用的中央光學單元、周邊光學單元的結構的立體圖。
10:光學單元
11:底座
12,16:貫穿孔
13:上表面
14,32a,34a:下表面
15:凹部
17:周邊部
20:中心單元
21:圓筒部
22,28:孔
24:緩衝構件
26:透鏡安裝塊
27:上端面
29:一點
31:中央準直透鏡
31a,33a,41a:光軸
32:中央測定圖
33:周邊準直透鏡
34:周邊測定圖
36:光源
37:罩
40:透鏡單元
41:攝影透鏡
42:入射光瞳
45:機械臂
46:夾盤
50:攝像機模組
51:傳感器基板
52:攝像元件
55:載台
56:六軸致動器
57:控制部
58:CPU
59:存儲器
100:攝像機模組製造裝置
110:基台

Claims (15)

  1. 一種攝像機模組製造裝置，其調整透鏡單元與傳感器基板的相對位置，在調整好相對位置的狀態下將所述透鏡單元與所述傳感器基板予以接合，所述透鏡單元裝入有攝影透鏡，所述傳感器基板安裝有將所述攝影透鏡所成的像轉換成圖像信號的攝像元件，所述攝像機模組製造裝置的特徵在於包括： 光學單元，包含準直透鏡與測定圖，使所述測定圖的像通過所述準直透鏡與所述攝影透鏡而在所述攝像元件上成像， 基於所述攝像元件對通過所述光學單元而在所述攝像元件上成像的所述測定圖的像進行轉換所得的圖像信號，來調整所述透鏡單元與所述傳感器基板的相對位置， 所述測定圖相對於與所述準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜地配置。
  2. 如請求項1所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於包括： 傳感器基板保持部，保持所述傳感器基板； 透鏡單元保持部，配置在所述傳感器基板保持部的其中一側，保持所述透鏡單元； 移動機構，使所述透鏡單元保持部或所述傳感器基板保持部中的其中任一者或兩者相對於另一者而相對地移動；以及 控制部，通過所述移動機構來調整所述透鏡單元與所述傳感器基板的相對位置， 所述光學單元配置在所述透鏡單元保持部的其中一側， 所述透鏡單元保持部以所述光學單元的所述準直透鏡的焦點位置重合於所述透鏡單元的所述攝影透鏡的入射光瞳的位置的方式，來保持所述透鏡單元， 所述準直透鏡使所述測定圖的像通過所述攝影透鏡的所述入射光瞳而在由所述傳感器基板保持部所保持的所述傳感器基板的所述攝像元件上成像。
  3. 如請求項1所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於， 所述光學單元包括： 中央光學系統，包含中央準直透鏡與中央測定圖，使所述中央測定圖的像通過所述中央準直透鏡與所述攝影透鏡而在所述攝像元件的中央部成像；以及 至少兩個周邊光學系統，包含周邊準直透鏡與周邊測定圖，使所述周邊測定圖的像通過所述周邊準直透鏡與所述攝影透鏡而在所述攝像元件的不同的周邊部分別成像， 所述透鏡單元與所述傳感器基板的相對位置的調整是基於中央圖像信號與各周邊圖像信號來進行，所述中央圖像信號是由所述攝像元件對通過所述中央光學系統而在所述攝像元件的中央部成像的所述中央測定圖的像進行轉換所得，所述各周邊圖像信號是由所述攝像元件對通過多個所述周邊光學系統而在所述攝像元件的不同的周邊部分別成像的所述周邊測定圖的像進行轉換所得， 所述中央測定圖相對於與所述中央準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜地配置， 各所述周邊測定圖相對於與各所述周邊準直透鏡的光軸垂直的面而分別傾斜地配置。
  4. 如請求項3所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於包括： 傳感器基板保持部，保持所述傳感器基板； 透鏡單元保持部，配置在所述傳感器基板保持部的其中一側，保持所述透鏡單元； 移動機構，使所述透鏡單元保持部或所述傳感器基板保持部中的其中任一者或兩者相對於另一者而相對地移動；以及 控制部，通過所述移動機構來調整所述透鏡單元與所述傳感器基板的相對位置， 所述光學單元配置在所述透鏡單元保持部的其中一側， 各所述周邊準直透鏡是配置成，各光軸相對於所述中央準直透鏡的光軸而傾斜，且各所述周邊準直透鏡的各焦點位置與所述中央準直透鏡的焦點位置處於同一位置， 所述透鏡單元保持部以所述中央準直透鏡的焦點位置與各所述周邊準直透鏡的各焦點位置重合於所述攝影透鏡的入射光瞳的位置的方式，來保持所述透鏡單元， 所述中央光學系統的所述中央準直透鏡使所述中央測定圖的像通過所述攝影透鏡的所述入射光瞳而在所述攝像元件的中央部成像， 所述周邊光學系統的各所述周邊準直透鏡使各所述周邊測定圖的像通過所述攝影透鏡的所述入射光瞳而在所述攝像元件的不同的周邊部分別成像。
  5. 如請求項4所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於， 所述透鏡單元保持部以下述方式來保持所述透鏡單元，即，所述攝影透鏡的光軸與所述中央準直透鏡的光軸成為同一軸，且所述中央準直透鏡的焦點位置與各所述周邊準直透鏡的各焦點位置重合於所述攝影透鏡的所述入射光瞳的中心位置。
  6. 如請求項4所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於， 所述光學單元包括平板狀的底座， 所述中央準直透鏡以光軸相對於所述底座的表面而垂直的方式，安裝於所述底座的中央部的另一側， 多個所述周邊準直透鏡以光軸相對於所述底座的所述表面而傾斜，且各焦點位置與所述中央準直透鏡的焦點位置成為同一位置的方式，安裝於所述底座的周邊部的另一側。
  7. 如請求項5所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於， 所述光學單元包括平板狀的底座， 所述中央準直透鏡以光軸相對於所述底座的表面而垂直的方式，安裝於所述底座的中央部的另一側， 多個所述周邊準直透鏡以光軸相對於所述底座的所述表面而傾斜，且各焦點位置與所述中央準直透鏡的焦點位置成為同一位置的方式，安裝於所述底座的周邊部的另一側。
  8. 如請求項6所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於， 所述中央測定圖以相對於所述底座的所述表面而傾斜的方式，配置在所述底座的其中一側的中央部， 各所述周邊測定圖是與所述底座的所述表面平行地安裝於所述底座的周邊部。
  9. 如請求項7所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於， 所述中央測定圖以相對於所述底座的所述表面而傾斜的方式，配置在所述底座的其中一側的中央部， 各所述周邊測定圖是與所述底座的所述表面平行地安裝於所述底座的周邊部。
  10. 如請求項8所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於， 所述中央測定圖具有中央邊緣，所述中央邊緣通過所述中央準直透鏡的光軸且沿傾斜方向延伸， 所述周邊測定圖具有第一邊緣與第二邊緣，所述第一邊緣通過所述周邊準直透鏡的光軸且從所述底座的中央部朝向所述底座的周邊部延伸，所述第二邊緣沿與所述第一邊緣交叉的方向延伸。
  11. 如請求項9所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於， 所述中央測定圖具有中央邊緣，所述中央邊緣通過所述中央準直透鏡的光軸且沿傾斜方向延伸， 所述周邊測定圖具有第一邊緣與第二邊緣，所述第一邊緣通過所述周邊準直透鏡的光軸且從所述底座的中央部朝向所述底座的周邊部延伸，所述第二邊緣沿與所述第一邊緣交叉的方向延伸。
  12. 如請求項6至請求項11中任一項所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於包括： 罩，被安裝於所述底座的其中一側，覆蓋所述底座的其中一側；以及 光源，被安裝於所述底座的其中一側， 所述中央測定圖與所述周邊測定圖包含光透過的透光部與遮擋光的遮光部， 所述罩的內面反射來自所述光源的光而使其入射至所述中央測定圖與所述周邊測定圖。
  13. 如請求項12所述的攝像機模組製造裝置，其特徵在於， 所述光源為環狀， 且以中心軸與所述中央準直透鏡的光軸成為同軸的方式而配置。
  14. 一種攝像機模組製造方法，其是調整透鏡單元與傳感器基板的相對位置，在調整好相對位置的狀態下將所述透鏡單元與所述傳感器基板予以接合，所述透鏡單元裝入有攝影透鏡，所述傳感器基板安裝有將所述攝影透鏡所成的像轉換成圖像信號的攝像元件，所述攝像機模組製造方法的特徵在於包括： 準備步驟，準備包含準直透鏡與測定圖的光學單元；以及 位置調整步驟，借助所述光學單元來使所述測定圖的像通過所述準直透鏡與所述攝影透鏡而在所述攝像元件上成像，基於所述攝像元件對在所述攝像元件上成像的所述測定圖的像進行轉換所得的圖像信號，來調整所述透鏡單元與所述傳感器基板的相對位置， 所述位置調整步驟是將所述測定圖配置成相對於與所述準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜，從而予以執行。
  15. 如請求項14所述的攝像機模組製造方法，其特徵在於， 所述光學單元包括： 中央光學系統，包含中央準直透鏡與中央測定圖，使所述中央測定圖的像通過所述中央準直透鏡與所述攝影透鏡而在所述攝像元件的中央部成像；以及 至少兩個周邊光學系統，包含周邊準直透鏡與周邊測定圖，使所述周邊測定圖的像通過所述周邊準直透鏡與所述攝影透鏡而在所述攝像元件的不同的周邊部分別成像， 所述位置調整步驟是基於中央圖像信號與各周邊圖像信號來進行所述透鏡單元與所述傳感器基板的相對位置的調整，所述中央圖像信號是由所述攝像元件對通過所述中央光學系統而在所述攝像元件的中央部成像的所述中央測定圖的像進行轉換所得，所述各周邊圖像信號是由所述攝像元件對通過多個所述周邊光學系統而在所述攝像元件的不同的周邊部分別成像的所述周邊測定圖的像進行轉換所得， 所述位置調整步驟是將所述中央測定圖配置成相對於與所述中央準直透鏡的光軸垂直的面而傾斜，且將各所述周邊測定圖配置成相對於與各所述周邊準直透鏡的光軸垂直的面而分別傾斜，從而予以執行。
TW109108529A 2019-03-19 2020-03-16 攝像機模組製造裝置以及攝像機模組製造方法 TWI732484B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
WOPCT/JP2019/011523 2019-03-19
PCT/JP2019/011523 WO2020188761A1 (ja) 2019-03-19 2019-03-19 カメラモジュール製造装置及びカメラモジュール製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202036069A true TW202036069A (zh) 2020-10-01
TWI732484B TWI732484B (zh) 2021-07-01

Family

ID=71892261

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW109108529A TWI732484B (zh) 2019-03-19 2020-03-16 攝像機模組製造裝置以及攝像機模組製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11159706B2 (zh)
JP (1) JP6733895B1 (zh)
KR (1) KR102345791B1 (zh)
CN (1) CN111971950B (zh)
TW (1) TWI732484B (zh)
WO (1) WO2020188761A1 (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11508090B2 (en) 2021-03-22 2022-11-22 Microsoft Technology Licensing, Llc Methods for calibrating offset of optical center using kinematic mount
US11778294B2 (en) * 2021-10-11 2023-10-03 Zebra Technologies Corporation Methods and apparatus for aligning a lens holder in a small-height scan engine
JP2023110418A (ja) * 2022-01-28 2023-08-09 Ｃｃｔｅｃｈ Ｊａｐａｎ株式会社 テストチャートおよびカメラ製造装置

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5322722B2 (zh) 1973-03-30 1978-07-11
JP2899553B2 (ja) 1994-11-28 1999-06-02 松下電器産業株式会社 固体撮像素子の位置調整方法
US5805218A (en) 1995-06-20 1998-09-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for adjusting a position of a solid-state image detector in a given image-forming optical system
US6590670B1 (en) * 1997-03-13 2003-07-08 Tsukuba Seiko Ltd. Method and apparatus for measuring heights of test parts of object to be measured
JP3644309B2 (ja) * 1999-06-07 2005-04-27 セイコーエプソン株式会社 投写レンズ検査装置および投写レンズ検査方法
JP4500097B2 (ja) 2003-08-20 2010-07-14 サンクス株式会社 光学測定装置及び光学測定装置における距離算出方法
JP4860378B2 (ja) 2006-07-06 2012-01-25 富士フイルム株式会社 レンズの偏芯調整方法及び装置
JP2008041166A (ja) * 2006-08-04 2008-02-21 Sony Corp 光ピックアップ及び光ディスク装置
TWI412810B (zh) * 2006-09-01 2013-10-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 調焦系統及調焦方法
JP5198295B2 (ja) * 2008-01-15 2013-05-15 富士フイルム株式会社 撮像素子の位置調整方法、カメラモジュール製造方法及び装置、カメラモジュール
JP4960308B2 (ja) 2008-06-12 2012-06-27 富士フイルム株式会社 撮像素子の位置調整方法、カメラモジュール製造方法及び装置
JP5322722B2 (ja) 2009-03-26 2013-10-23 株式会社Ｓｕｗａオプトロニクス レンズ調芯装置およびレンズ調芯装置の制御方法
JP5460406B2 (ja) * 2010-03-24 2014-04-02 富士フイルム株式会社 撮像素子の位置調整方法、カメラモジュール製造方法及び装置、カメラモジュール
JP2012058139A (ja) * 2010-09-10 2012-03-22 Fujifilm Corp レンズ検査装置及び方法
JP2012093116A (ja) 2010-10-25 2012-05-17 Fujifilm Corp レンズ検査装置及びチャート板
US8340386B2 (en) * 2011-01-10 2012-12-25 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. System and method for measuring hole orientation for SPECT collimators
US9009952B2 (en) * 2011-08-29 2015-04-21 Asm Technology Singapore Pte. Ltd. Apparatus for assembling a lens module and an image sensor to form a camera module, and a method of assembling the same
DE102013102819A1 (de) * 2013-03-19 2014-09-25 Conti Temic Microelectronic Gmbh Kameramodul sowie Verfahren zur Herstellung
JP2014190776A (ja) 2013-03-27 2014-10-06 Olympus Corp 偏心調整量測定装置、偏心調整量測定方法、および偏心調整方法
WO2015015914A1 (ja) * 2013-07-29 2015-02-05 富士フイルム株式会社 撮像モジュールの製造方法及び撮像モジュールの製造装置
US10293441B2 (en) * 2013-12-19 2019-05-21 Isolution Co., Ltd. Apparatus and method for aligning optical axes of lenses and assembling camera module
JP6262536B2 (ja) 2014-01-08 2018-01-17 新光電気工業株式会社 カメラモジュールの製造方法
JP5957621B2 (ja) * 2014-01-08 2016-07-27 富士フイルム株式会社 撮像モジュールの製造方法及び撮像モジュール製造装置
JP5990655B2 (ja) * 2014-01-09 2016-09-14 富士フイルム株式会社 撮像モジュール、撮像モジュールの製造方法、電子機器
JP5961770B2 (ja) * 2014-01-09 2016-08-02 富士フイルム株式会社 撮像モジュール、撮像モジュールの製造方法、電子機器
WO2015129120A1 (ja) * 2014-02-26 2015-09-03 富士フイルム株式会社 撮像モジュールの製造方法及び撮像モジュールの製造装置
JP2016526182A (ja) 2014-04-17 2016-09-01 エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッドＳｚ Ｄｊｉ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ｃｏ．，Ｌｔｄ レンズ装着平面性の即時調整方法及び装置
KR20160027852A (ko) * 2014-09-02 2016-03-10 삼성전기주식회사 렌즈의 틸트각 측정 및 보정 시스템 및 그 방법
JP6327123B2 (ja) * 2014-11-11 2018-05-23 株式会社デンソー カメラフォーカス調整装置
CN107003493A (zh) * 2015-01-21 2017-08-01 三菱电机株式会社 光学装置的光轴对准方法及装置以及光学装置的制造方法
PL3076148T3 (pl) * 2015-03-31 2019-10-31 Trioptics Gmbh Urządzenie i sposób pomiaru właściwości odwzorowania optycznego systemu odwzorowującego
US10187636B2 (en) * 2016-01-08 2019-01-22 Asm Technology Singapore Pte Ltd Active lens alignment system
KR101752761B1 (ko) * 2016-12-14 2017-06-30 (주)이즈미디어 테이블 틸팅 확인 장치 및 확인 방법
JP2018106051A (ja) * 2016-12-27 2018-07-05 ルネサスエレクトロニクス株式会社 カメラコントローラ、および補正レンズのキャリブレーション方法
CN108581869B (zh) 2018-03-16 2020-05-15 深圳市策维软件技术有限公司 一种摄像头模组对准方法
US11070709B2 (en) * 2019-04-12 2021-07-20 Asm Technology Singapore Pte Ltd Aligning an image sensor relative to a lens module

Also Published As

Publication number Publication date
KR20200112871A (ko) 2020-10-05
CN111971950A (zh) 2020-11-20
US11159706B2 (en) 2021-10-26
TWI732484B (zh) 2021-07-01
KR102345791B1 (ko) 2021-12-31
US20210218870A1 (en) 2021-07-15
WO2020188761A1 (ja) 2020-09-24
JP6733895B1 (ja) 2020-08-05
JPWO2020188761A1 (ja) 2021-04-01
CN111971950B (zh) 2022-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI732484B (zh) 攝像機模組製造裝置以及攝像機模組製造方法
JP6858211B2 (ja) 複数の光チャネルを備えるマルチアパーチャ光学系を画像センサに対して相対的に位置決めするためのデバイス及び方法
JP5836223B2 (ja) 貼合基板の回転ズレ量計測装置、貼合基板の回転ズレ量計測方法、及び貼合基板の製造方法
JP5549230B2 (ja) 測距装置、測距用モジュール及びこれを用いた撮像装置
WO2007083579A1 (ja) 複眼方式のカメラモジュール及びその製造方法
TWI756058B (zh) 相機模組製造裝置
US9906695B2 (en) Manufacturing method of imaging module and imaging module manufacturing apparatus
EP3248369B1 (en) Camera focus for adas
JP2013050352A (ja) ステレオカメラの取り付け調整方法及びステレオカメラ
JPWO2014073262A1 (ja) 撮像素子位置検出装置
CN100353203C (zh) 镜头一体型摄像装置、其制造方法及制造装置
JP2011151551A (ja) カメラモジュールの製造方法及び装置
EP2538172A1 (en) Method for adjusting optical displacement sensor and method for manufacturing optical displacement sensor
KR100532672B1 (ko) 본딩 장치에서의 옵셋 측정기구 및 본딩 장치에서의 옵셋측정방법
JP5004412B2 (ja) レンズ一体型撮像装置の製造方法及び製造装置
EP2538173A1 (en) Method for arranging photoreceiving lens, and optical displacement sensor
KR101618364B1 (ko) 카메라에서 렌즈계의 위치를 측정하기 위한 장치 및 방법
JP6190168B2 (ja) 合焦方法、合焦装置、露光方法、およびデバイス製造方法
CN106814547A (zh) 一种测校装置及测校方法
US10020342B2 (en) Image pickup module manufacturing method, and image pickup module manufacturing device
WO2011096239A1 (ja) 検出方法および検出装置
WO2014208371A1 (ja) 非球面レンズ、該非球面レンズを備えたレンズユニットの製造方法および該製造方法により製造されるレンズユニットならびにレンズ成形金型
JP6072511B2 (ja) 位置調整装置、および位置調整方法