TW202022520A - 電子元件移料機構及其應用之作業設備 - Google Patents
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Abstract
一種電子元件移料機構,其包含驅動單元、拾取單元及偵控單元,該驅動單元係設有至少一驅動器,以帶動拾取單元及偵控單元位移,該拾取單元係設有取放電子元件之拾取件,拾取件於承壓時作第一方向位移,該偵控單元係於驅動單元設置第一部件,並於拾取單元之外部相對應第一部件之位置設有第二部件,另於第一部件及第二部件設有相互配合之擋部及抽氣道,抽氣道並連接一感知氣壓值之感測器,藉以利用偵控單元之擋部及抽氣道的間距變化而改變抽氣道之氣壓值,以迅速獲知拾取單元之狀態是否異常,達到提升移料作業效能之實用效益。
Description
本發明係提供一種利用偵控單元之擋部及抽氣道的間距變化而改變抽氣道之氣壓值,以迅速獲知拾取單元之狀態是否異常,進而提升移料作業效能之移料機構。
在現今,作業設備係以移料機構之拾取件於不同裝置間移載電子元件,而部分裝置(如熱壓合裝置之熱壓合器)於移料機構取出電子元件之取料方式,係會接觸且壓抵電子元件,再將電子元件移載至下一作業位置;請參閱第1圖,該移料機構係以移動臂11帶動拾取器12位移,該拾取器12係設有吸嘴121吸附且移載一為晶片13之電子元件,一熱壓合裝置之熱壓合器14作第一方向(如Z方向)向下位移,並以容置部141接觸且壓抵該吸嘴121所移載之晶片13,再利用容置部141頂面之吸孔142吸附晶片13,使移料機構之拾取器12與熱壓合裝置之熱壓合器14進行交換料作業,熱壓合裝置之熱壓合器14再將晶片13移載至下一作業位置。
然,由於熱壓合器14係會接觸且壓抵拾取器12所移載之晶片13,若熱壓合器14因作動誤差而過當下壓晶片13時,易使晶片13受到壓損,但拾取器12並無法得知熱壓合器14已壓損晶片13,導致熱壓合器14會移載已受損之晶片13進行後續熱壓合作業,不僅影響作業品質,亦耗費無謂之後續製程作業。
再者,若熱壓合器14因作動誤差而未接觸拾取器12上之晶片13時,即導致晶片13殘留在拾取器12,由於拾取器12並無法得知殘料,以致影響拾取器12進行下一晶片13之移料作業,甚至發生殘留之晶片13由拾取器12上掉落損壞之形況,造成增加成本及影響後續作業之問題。
本發明之目的一,係提供一種電子元件移料機構,其包含驅動單元、拾取單元及偵控單元,該驅動單元係設有至少一驅動器,以帶動拾取單元及偵控單元位移,該拾取單元係設有取放電子元件之拾取件,拾取件於承壓時作第一方向位移,該偵控單元係於驅動單元設置第一部件,並於拾取單元之外部相對應第一部件之位置設有第二部件,另於第一部件及第二部件設有相互配合之擋部及抽氣道,抽氣道並連接一感知氣壓值之感測器,藉以利用偵控單元之擋部及抽氣道的間距變化而改變抽氣道之氣壓值,以迅速獲知拾取單元之狀態是否異常,達到提升移料作業效能之實用效益。
本發明之目的二,係提供一種電子元件移料機構,其中,該偵控單元係於驅動單元設置至少一承感器,該承感器之作動件並承置拾取單元,而可經由作動件之位移量是否符合預設值,以輔助判別拾取單元是否發生異常,達到提升偵控準確性之實用效益。
本發明之目的三,係提供一種應用電子元件移料機構之作業設備,其包含機台、供料裝置、作業裝置、具本發明移料機構之輸送裝置及中央控制裝置,該供料裝置係配置於機台,並設有至少一供料承置器,以承置待作業之電子元件;該作業裝置係配置於機台,並設有至少一作業器,以對電子元件執行預設作業;該輸送裝置係配置於機台,並設有至少一本發明之移料機構 ,該移料機構包含驅動單元、拾取單元及偵控單元,以移載電子元件,並偵控拾取單元之使用狀態;該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動,以執行自動化作業,達到提升作業效能之實用效益。
為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解,茲舉一較佳實施例,並配合圖式,詳述如后:
請參閱第2、3、4圖,本發明電子元件移料機構20包含驅動單元、拾取單元及偵控單元,該驅動單元係設有至少一驅動器,以帶動拾取單元及偵控單元作至少一方向位移,於本實施例中,驅動單元包含第一驅動器 、第二驅動器及第三驅動器,該第一驅動器係包含第一驅動源211及第一承架212,第一驅動源211係呈第二方向(如X方向)配置,並驅動第一承架212作X方向位移,該第二驅動器係裝配於第一承架212,並包含第二驅動源213及第二承架214,第二驅動源213係呈第一方向(如Z方向 )配置,並驅動第二承架214作Z方向位移,第二承架214與第一承架212間設有呈Z方向配置之第一滑軌組215,以輔助第二承架214位移,該第三驅動器係裝配於第二承架214,並包含第三驅動源216及第三承架217,第三驅動源216係呈第三方向(如Y方向)配置,並驅動第三承架217作角度旋轉。
然該驅動單元之第一驅動源211及第二驅動源213可為線性馬達、壓缸,或包含馬達及傳動組,該傳動組可為螺桿螺座組或皮帶輪組,而第三驅動源216則可為旋轉馬達或旋轉缸等,第一驅動源211、第二驅動源213及第三驅動源216之型式及配置依作業需求而有不同,並不以本發明所揭露之型態為限。
該拾取單元係裝配於驅動單元,並設有取放電子元件之拾取件 ,拾取件於承壓時作第一方向位移;於本實施例中,該拾取單元係於驅動單元之第三承架217設有一本體221,本體221與第三承架217間設有呈Z方向配置之第二滑軌組222,以輔助本體221作第一方向位移,本體221之內部設有通氣道223,通氣道223之第一端係以第一抽氣管224連接一抽氣設備(圖未示出),而第二端則連通一設於本體221頂面之拾取件225,該拾取件225係為吸嘴,以吸放電子元件;另於本體221之下半段設有跨置部226。
該偵控單元係於驅動單元設有至少一第一部件231,於本實施例中,係於驅動單元之第三承架217開設有穿孔2171,供裝配一呈Y方向配置之第一部件231,偵控單元並於拾取單元之外部且相對第一部件231之位置設有第二部件232,更進一步,第二部件232可依作業需求而位於第一部件231之上方或下方,於本實施例中,係於本體221外部之側面凸設一塊體作為第二部件232,第二部件232並位於第一部件232之下方;又偵控單元係於第一部件231及第二部件232設有相互配合之擋部及抽氣道,抽氣道並連結一感知氣壓值之感測器,例如於第一部件231設置抽氣道,並於第二部件232相對抽氣道之抽氣口位置設有擋部,該擋部可貼合或距離抽氣口一間距,利用抽氣口與擋部之間距變化,而改變抽氣道之氣壓值,並以感測器感測氣壓值,藉以判斷氣壓值是否符合預設值,若不符合,則拾取單元發生異常;換言之,當第二部件232設置抽氣道,並於第一部件231相對抽氣道之抽氣口位置設有擋部,亦可利用抽氣口與擋部之間距變化,經感測器感測氣壓值,而判斷拾取單元是否發生異常;再者,該偵控單元之第一部件231、第二部件232、抽氣口及擋部均配置於拾取單元之外部,不僅設計簡易而易於組裝,並可便於維護,進而提升組裝修護之便利性;於本實施例中,偵控單元係於第一部件231設置抽氣道233,抽氣道233之第一端係以第二抽氣管234連接一抽氣設備(圖未示出),而第二端之抽氣口2331則相通至外部,且朝向第二部件232,由於抽氣道233設置於第一部件231,而裝配於驅動單元之第三承架217,使得抽氣道233並未相通本體221之通氣道223;偵控單元係以第二部件232之頂面作為擋部2321,該擋部2321並貼合封閉抽氣道233之抽氣口2331,使抽氣道233形成負壓狀態;該第二抽氣管234係連結感測器(圖未示出) ,感測器係感知抽氣道233之氣壓值變化,並將感知資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出),由中央控制裝置判別拾取單元之使用狀態;再者,該偵控單元係於拾取單元之下方設置至少一承感器,該承感器之作動件係承置拾取單元 ,更進一步,該承感器可為音圈馬達或壓缸,於本實施例中,該承感器係為音圈馬達235,音圈馬達235之可升降位移的轉軸並作為一作動件2351 ,作動件2351供本體221之跨置部226跨置組裝,使本體221可下壓作動件2351位移,作動件2351並將位移量資料則傳輸至中央控制裝置(圖未示出),由中央控制裝置判別拾取單元之狀態,亦可輔助獲知拾取單元是否發生異常;當拾取單元之拾取件225及音圈馬達235之作動件2351未受壓時,作動件2351則帶動拾取單元復位,達到提升感知準確性之實用效益。
請參閱第4、5、6圖,該移料機構20係以第一驅動源211經第一承架212帶動拾取單元及偵控單元同步作X方向位移,將拾取單元載送至一承載台31上方,該承載台31係承置可為晶片32之電子元件,由於拾取單元之拾取件225係朝向上方,移料機構20即以第三驅動源216經第三承架217帶動拾取單元及偵控單元同步作角度旋轉,使拾取單元之拾取件225轉換朝向下方,並對應於承載台31上之晶片32,接著移料機構20以第二驅動源213經第二承架214帶動拾取單元及偵控單元同步作Z方向向下位移,拾取單元利用第一抽氣管224對通氣道223抽氣,使拾取件225於承載台31取出晶片32;於取料後,移料機構20之第二驅動源213經第二承架214帶動拾取單元之拾取件225及晶片32作Z方向向上位移,並以第三驅動源216經第三承架217帶動拾取件225及晶片32作反向角度旋轉,使拾取件225及晶片32轉換朝向上方,再以第一驅動源211經第一承架212帶動拾取件225及晶片32作X方向反向位移,將拾取件225及晶片32載送至換料位置。
請參閱第6、7圖,一熱壓合器33係位移至換料位置,並位於移料機構20之拾取件225上方,熱壓合器33即作Z方向向下位移而接觸且壓抵拾取件225上之晶片32,該拾取件225承受熱壓合器33之下壓力時,即帶動本體221及第二部件232同步作Z方向向下位移,並令第二部件232之擋部2321脫離第一部件231之抽氣道233的抽氣口2331,若熱壓合器33以正常下壓力壓抵晶片32及拾取件225,第二部件232之擋部2321即位移至正常位置A,並與第一部件231之抽氣口2331的間距係符合預設間距,使抽氣道233處於微量破真空狀態,換言之,感測器(圖未示出)經由第二抽氣管234感測抽氣道233的氣壓值會保持在預設氣壓值範圍內,並將感測資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出),中央控制裝置即判別拾取單元為正常使用狀態,亦即該熱壓合器33並無壓損晶片32,且吸附晶片32,使得熱壓合器33可移載晶片32進行下一熱壓合作業;再者,由於本體221作Z方向向下位移時,係會下壓音圈馬達235之作動件2351位移,該作動件2351即會作正常之位移,並將正常位移量資料傳輸至中央控制裝置,以供輔助判別拾取單元為正常使用狀態。
請參閱第3、8圖,若熱壓合器33以過當之下壓力壓抵晶片32及拾取件225時,拾取件225因承受熱壓合器33之過當下壓力,即帶動本體221及第二部件232同步作較大位移量之Z方向向下位移,並令第二部件232之擋部2321脫離第一部件231之抽氣道233的抽氣口2331,由於本體221承受過當之下壓力而會作異常位移,使得第二部件232之擋部2321位移至過壓位置B,此時,第二部件232之擋部2321與第一部件231之抽氣口2331二者的間距即超出預設間距,使抽氣道233處於過當破真空狀態,換言之,感測器(圖未示出)經由第二抽氣管234感測到抽氣道233的氣壓值亦會發生變化,即此一氣壓值會低於預設氣壓值範圍,感測器並將感測資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出),中央控制裝置即判斷拾取單元為過壓異常使用狀態,亦即判斷熱壓合器33已壓損晶片32,則必須進一步排除異常,進而提升作業品質;再者,由於本體221作Z方向向下位移時,係會下壓音圈馬達235之作動件2351位移,該作動件2351即會作過當之位移,並將過當位移量資料傳輸至中央控制裝置,以供輔助判別拾取單元為過壓異常使用狀態。
請參閱第3、9圖,若熱壓合器33作Z方向位移卻因機構作動誤差而未接觸到晶片32時,由於拾取件225未承受熱壓合器33之下壓力,並無帶動本體221及第二部件232位移,第二部件232之擋部2321仍會保持貼合封閉第一部件231之抽氣道233的抽氣口2331,在本體221並無位移的情況下,第二部件232之擋部2321則位於殘料位置C,使抽氣道233處於保持真空狀態,由於擋部2321與抽氣口2331二者的間距異於正常預設間距,換言之,感測器(圖未示出)經由第二抽氣管234感測抽氣道233的氣壓值亦會發生變化,即此一氣壓值會高於預設氣壓值範圍,感測器將感測資料傳輸至中央控制裝置(圖未示出),中央控制裝置即判別拾取單元為殘料異常使用狀態,亦即判斷該熱壓合器33未拾取晶片32,則必須進一步排除異常,進而提升作業品質;再者,由於本體221並無作Z方向向下位移而下壓音圈馬達235之作動件2351,該作動件2351即無位移,並將零位移量資料傳輸至中央控制裝置,以供輔助判斷拾取單元為殘料異常使用狀態。
請參閱第2、3、4、10圖,係本發明移料機構20應用於電子元件作業設備,電子元件作業設備包含具本發明移料機構20之輸送裝置60、機台40、供料裝置50、作業裝置及中央控制裝置(圖未示出),於本實施例中,電子元件作業設備係為熱壓合作業設備,該作業裝置係為熱壓合裝置70,另包含取像裝置80;該供料裝置50係配置於機台40,並設有至少一供料承置器51,以承置待作業之電子元件,於本實施例中,供料承置器51係承置至少一載框模組91,該載框模組91承置至少一為晶片92之待壓合電子元件;該輸送裝置60係配置於機台40,並設有至少一本發明之移料機構20,該移料機構包含驅動單元、拾取單元及偵控單元,以移載電子元件,並偵控拾取單元之使用狀態,於本實施例中,輸送裝置60係以移框器61於供料裝置50之供料承置器51取出一具有晶片92之載框模組91,並將載框模組91載送至一承載台62,本發明之移料機構20包含驅動單元 、拾取單元及偵控單元,以移載電子元件,並檢知拾取單元之使用狀態,輸送裝置60係以移料機構20之驅動單元驅動拾取單元於承載台62上之載框模組91取出待壓合之晶片92,驅動單元並旋轉拾取單元及晶片92,再將拾取單元及晶片92移載至換料位置;該作業裝置係配置於機台40,並設有至少一作業器,以對電子元件執行預設作業,於本實施例中,該作業裝置係為熱壓合裝置70,熱壓合裝置70係以熱壓合器71於移料機構20之拾取件225取出待壓合之晶片92,並將晶片92移載至熱壓合位置,輸送裝置60係以輸送器63輸送另一為軟性電路板93之電子元件至熱壓合位置,該取像裝置80係裝配於機台40,並設置至少一取像器,以取像電子元件,於本實施例中,取像裝置80係以一作雙向取像之取像器81取像晶片92及軟性電路板93,並將取像資料傳輸至中央控制裝置,接著熱壓合器71作Z方向位移將晶片92熱壓固設於軟性電路板93,於完成熱壓合作業後,輸送裝置60之輸送器63輸出具晶片92之軟性電路板93;該中央控制裝置係用以控制及整合各裝置作動,以執行自動化作業,達到提升作業效能之實用效益。
[習知]
11:移動臂
12:拾取器
121:吸嘴
13:晶片
14:熱壓合器
141:容置部
142:吸孔
[本發明]
20:移料機構
211:第一驅動源
212:第一承架
213:第二驅動源
214:第二承架
215:第一滑軌組
216:第三驅動源
217:第三承架
2171:穿孔
221:本體
222:第二滑軌組
223:通氣道
224:第一抽氣管
225:拾取件
226:跨置部
231:第一部件
232:第二部件
2321:擋部
233:抽氣道
2331:抽氣口
234:第二抽氣管
235:音圈馬達
2351:作動件
31:承載台
32:晶片
33:熱壓合器
A:正常位置
B:過壓位置
C:殘料位置
40:機台
50:供料裝置
51:供料承置器
60:輸送裝置
61:移框器
62:承載台
63:輸送器
70:熱壓合裝置
71:熱壓合器
80:取像裝置
81:取像器
91:載框模組
92:晶片
93:軟性電路板
第1圖:習知移料機構之使用示意圖。 第2圖:本發明移料機構之前視圖。 第3圖:本發明移料機構之俯視圖。 第4圖:本發明移料機構之局部示意圖。 第5圖:本發明移料機構之使用示意圖(一)。 第6圖:本發明移料機構之使用示意圖(二)。 第7圖:本發明移料機構之使用示意圖(三)。 第8圖:本發明移料機構之使用示意圖(四)。 第9圖:本發明移料機構之使用示意圖(五)。 第10圖:本發明移料機構應用於作業設備之示意圖。
217:第三承架
2171:穿孔
221:本體
222:第二滑軌組
223:通氣道
224:第一抽氣管
225:拾取件
226:跨置部
231:第一部件
232:第二部件
2321:擋部
233:抽氣道
2331:抽氣口
235:音圈馬達
2351:作動件
Claims (10)
- 一種電子元件移料機構,包含: 驅動單元:係設有至少一驅動器; 拾取單元:係裝配於該驅動單元之至少一驅動器,並設有至少一取放 電子元件之拾取件,該拾取單元並於承壓時作第一方向位 移; 偵控單元:係於該驅動單元設有第一部件,並於該拾取單元之外部設 有第二部件,另於該第一部件及該第二部件設有相對之具 抽氣口的抽氣道及擋部,該抽氣道連結感測器,該感測器 係感測該抽氣道之氣壓值。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該驅動單 元係設有第一驅動器,以驅動該拾取單元及該偵控單元作第二方向位 移。
- 依申請專利範圍第2項所述之電子元件移料機構,其中,該驅動單 元係設有第二驅動器,以驅動該拾取單元及該偵控單元作第一方向位 移。
- 依申請專利範圍第2或3項所述之電子元件移料機構,其中,該驅 動單元係設有第三驅動器,以驅動該拾取單元及該偵控單元作角度旋 轉。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該偵控單 元係於該第一部件設有該具抽氣口之抽氣道,該拾取單元係於本體設 有該拾取件,並於該本體之外側面設有該第二部件,該第二部件設有 該擋部。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該取放單 元係設有相通該拾取件之通氣道,該通氣道並未相通該抽氣道。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該取放單 元於未作動狀態,該偵控單元之擋部係封閉該抽氣道之抽氣口。
- 依申請專利範圍第1項所述之電子元件移料機構,其中,該偵控單 元係於該拾取單元之下方設置至少一承感器,該承感器之作動件承置 該拾取單元。
- 依申請專利範圍第8項所述之電子元件移料機構,其中,該偵控單 元之承感器係為音圈馬達。
- 一種應用電子元件移料機構之作業設備,包含: 機台; 供料裝置:係配置於該機台,並設有至少一供料承置器,以承置待作 業之電子元件; 作業裝置:係配置於該機台,並設有至少一作業器,以對電子元件執 行預設作業; 輸送裝置:係配置於該機台,並設有至少一依申請專利範圍第1項所 述之電子元件移料機構; 中央控制裝置:係用以控制及整合各裝置作動,以執行自動化作業。
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TW107143292A TWI677774B (zh) | 2018-12-03 | 2018-12-03 | 電子元件移料機構及其應用之作業設備 |
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