TW201936294A - 防止因模腔部偏移所導致之不良之方法 - Google Patents

Abstract

提供一種測量圖案載體（托板）與砂箱之偏移以及上下砂箱之偏移，來防止因模腔部偏移所導致之不良之方法。於使用與上砂箱用托板（130）加以組合之上砂箱（110）以及與下砂箱用托板（140）加以組合之下砂箱（120）的帶砂箱之鑄模之造模中，防止因模腔部偏移所導致之不良之方法具備：測量上砂箱用托板（130）與上砂箱（110）之偏移的步驟；測量下砂箱用托板（140）與下砂箱（120）之偏移的步驟；測量合箱之上砂箱（110）與下砂箱（120）之偏移的步驟；以及根據上砂箱用托板（130）與上砂箱（110）之偏移、下砂箱用托板（140）與下砂箱（120）之偏移以及合箱之上砂箱（110）與下砂箱（120）之偏移，求出模腔部之偏移來判定是否為容許範圍內的步驟。

Description

防止因模腔部偏移所導致之不良之方法

本發明係關於一種防止因鑄件之製作中之模腔部偏移所導致之不良之方法。尤其關於推定模腔部之偏移而防止因偏移所導致之不良之方法。

鑄件工廠中，於製造鑄模之造模線、尤其是帶砂箱之鑄模之造模線上，將載置圖案之圖案載體（托板）、及砂箱分別組合於上砂箱用途及下砂箱用途，與由砂箱、托板及壓擠板所形成之造模空間中填充鑄砂而將上鑄模與下鑄模分別造模後，將上砂箱與下砂箱合箱。然後，藉由於上下鑄模中澆鑄而製造鑄件。

若於將圖案載體與砂箱組合時產生位置偏移，則相對於砂箱，澆鑄而製造鑄件之空間即模腔部之位置偏移，結果當將上下砂箱合箱時，於上鑄模之模腔部與下鑄模之模腔部產生偏移。此外，本說明書中稱「模腔部偏移」之情形時，只要無特別說明，則係指上鑄模之模腔部與下鑄模之模腔部之間之偏移。又，若於將上下砂箱合箱時於上下砂箱之間產生位置偏移，則即便上下鑄模中之各個模腔部位於既定之位置，亦因上下砂箱之偏移而於上下鑄模中產生偏移，結果於模腔部中產生偏移。若模腔部存在偏移，則成為不良之鑄件製品。因此，已知採取如下對策：藉由於圖案載體及砂箱中設置銷及襯套，將銷嵌合於襯套中，來防止圖案載體與砂箱以及上下之砂箱之偏移。

但是，由於圖案載體或砂箱多次再利用，故而銷或襯套會磨損，因此存在容易產生偏移之情形。因此提出：為對造模資訊加以分析，而檢測砂箱之銷及襯套之磨損量，經由網路而傳送，來監測造模線之運轉時所檢測出之磨損量（參照專利文獻1）。

但是，砂箱之銷或襯套之磨損不見得會均勻地產生，若磨損，則不見得必定於模腔部產生偏移。

因此，本發明之課題在於提供一種測量圖案載體與砂箱之偏移以及上下砂箱之偏移，來防止因模腔部偏移所導致之不良之方法。
[先前技術文獻]
[專利文獻]

專利文獻1：日本專利特開2001-321927號公報

為解決上述課題，本發明之第1態樣之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法係如例如圖2、3、9、12所示，於使用與上砂箱用托板130加以組合之上砂箱110以及與下砂箱用托板140加以組合之下砂箱120的帶砂箱之鑄模之造模中防止因模腔部偏移所導致之不良之方法，其具備：測量上砂箱用托板130與上砂箱110之偏移的步驟；測量下砂箱用托板140與下砂箱120之偏移的步驟；測量合箱之上砂箱110與下砂箱120之偏移的步驟；以及根據上砂箱用托板130與上砂箱110之偏移、下砂箱用托板140與下砂箱120之偏移以及合箱之上砂箱110與下砂箱120之偏移，求出模腔部100之偏移來判定是否為容許範圍內的步驟。

若以上述方式構成，則基於上下砂箱用托板與上下砂箱之偏移之測量、以及合箱之上下砂箱之偏移之測量，求出模腔部之偏移來判定是否為容許範圍內，因此可防止因模腔部偏移所導致之不良。

本發明之第2態樣之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法中，亦可如例如圖2、3、9、12所示，上砂箱用托板130與上砂箱110係利用陽定位夾具112及陰定位夾具132而相互定位，下砂箱用托板140與下砂箱120係利用陽定位夾具142及陰定位夾具122而相互定位，上砂箱110與下砂箱120之合箱係利用陽定位夾具112及陰定位夾具122而相互定位。若以上述方式構成，則上下砂箱與上下砂箱用托板以及上下砂箱之定位，係使用陽定位夾具及陰定位夾具而定位，因此難以產生偏移，可防止因模腔部偏移所導致之不良。

本發明之第3態樣之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法中，亦可如例如圖5～7所示，更具備測量上砂箱用托板130、上砂箱110、下砂箱用托板140及下砂箱120之陽定位夾具112、142或陰定位夾具122、132之磨損量的步驟。若以上述方式構成，則測量陽定位夾具或陰定位夾具之磨損量，因此可知偏移是否係因磨損而產生。

本發明之第4態樣之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法中，亦可如例如圖5～7所示，於測量磨損量之步驟中，亦可測量陽定位夾具112、142之外周或者陰定位夾具122、132之內周。若以上述方式構成，則測量陽定位夾具之外周或陰定位夾具之內周而測量磨損量，因此即便偏磨損，亦可準確地測量磨損量。

本發明之第5態樣之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法中，亦可如例如圖12所示，更具備當陽定位夾具112、142或者陰定位夾具122、132之磨損量不在容許範圍內時發出警告之步驟。若以上述方式構成，則於陽定位夾具或者陰定位夾具之磨損量超出容許範圍之情形時發出警告，因此可掌握磨損量大之狀態。

本發明之第6態樣之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法中，亦可如例如圖12所示，為了可掌握於帶砂箱之鑄模之造模線之維護時成為陽定位夾具112或陰定位夾具122之更換對象的砂箱，而更具備如下步驟：將陽定位夾具112或者陰定位夾具122之磨損量與具有該陽定位夾具112或陰定位夾具122之上砂箱110或下砂箱120相關聯。若以上述方式構成，則可容易掌握陽定位夾具或陰定位夾具磨損之上下砂箱，因此可高效率地進行更換、點檢作業。

本發明之第7態樣之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法中，亦可如例如圖12所示，更具備如下步驟：將基於所測量之陽定位夾具112、142之外周以及陰定位夾具122、132之內周之值而掌握之各自之形狀，與所測量之上砂箱用托板130與上砂箱110之偏移、下砂箱用托板140與下砂箱120之偏移、或者合箱之上砂箱110與下砂箱120之偏移中之至少一者進行比較。若以上述方式構成，則可根據陽定位夾具及陰定位夾具之形狀與偏移之比較，來判斷偏移之測量結果之妥當性。

依據本發明，由於具備：測量上砂箱用托板與上砂箱之偏移的步驟；測量下砂箱用托板與下砂箱之偏移的步驟；測量合箱之上砂箱與下砂箱之偏移的步驟；以及根據上砂箱用托板與上砂箱之偏移、下砂箱用托板與下砂箱之偏移以及合箱之上砂箱與下砂箱之偏移，求出模腔部之偏移來判定是否為容許範圍內的步驟；因此可基於上下砂箱與托板之偏移之測量、以及合箱之上下砂箱之偏移之測量，求出模腔部之偏移來判定是否為容許範圍內，來防止因模腔部偏移所導致之不良。

本申請案係基於2018年2月23日於日本提出申請之日本專利特願2018-030258號，其內容作為本申請案之內容而形成其一部分。
又，本發明可藉由以下之詳細說明而進一步完全理解。然而，詳細說明以及特定之實施例係本發明之理想之實施形態，僅出於說明之目的而記載。其原因在於，根據該詳細說明，本領域之具有通常知識者瞭解各種變更、改變。
申請人並非試圖將所記載之實施形態之任一者均呈獻給公眾，於所揭示之改變、代替案中，於專利申請之範圍內語義上可能未包含者亦為等效理論下之發明之一部分。
本說明書或申請範圍之記載中，名詞及同樣之指示語之使用只要未特別指示，或者只要未由文脈所明確否定，則應解釋為包含單數及複數之兩種。本說明書中所欲提供之任一例示或者例示性用語（例如「等」）之使用亦僅僅為容易對本發明加以說明之意圖，只要未特別記載於申請範圍內，則並非對本發明之範圍加以限制者。

以下，參照圖式，對本發明之實施形態進行說明。此外，各圖中，對彼此相同或相當之裝置標註同一符號，省略重複之說明。首先參照圖1，對製造鑄模之造模線之一例進行說明。例示之造模線1係交替地製造帶砂箱之上下鑄模。圖中，中空箭頭表示鑄模或砂箱之搬送方向。此外，於其他圖中亦同樣。

於造模線1上配置有：由鑄砂來製造鑄模之造模機10；於鑄模中澆鑄溶湯之澆鑄機30；以及溶湯冷卻固化而成為鑄件後，使鑄模崩解而將鑄件與鑄砂分離之打箱裝置40。於各裝置10、30、40間，鑄模藉由未圖示之滾子輸送機，或載置於平板台車50上而搬送。平板台車50係複數個地排列於平行配置之軌道（未圖示）上。排列為一行之平板台車50藉由利用配置於擠出側端部之推動器52來擠壓，而將排列之一行平板台車50、即上下鑄模100搬送相當於一個鑄模之距離。此外，於排列為一行之平板台車50之搬出側端部，具備隨著推動器52之擠出而收縮之緩衝墊54，若將所搬送之一行平板台車50從兩側夾持，則搬送中之平板台車50穩定，因此較佳。

於排列為一行之平板台車50之最前頭與最末尾之位置，配置有用以將平板台車50移送至平行之相鄰軌道（未圖示）上之移車台56。到達一行之最末尾之平板台車50係藉由移車台56而移送至鄰接之軌道側之最前頭之位置。

於造模線1上配置有翻轉機82，其將由造模機10所造模之鑄模（於此時間點，為上鑄模與下鑄模之兩者）之上下翻轉（以推箱方向為旋轉軸而翻轉）而使模腔部朝向上方。於造模線1上更配置有鬆砂機84，其將上鑄模以及下鑄模之反模腔面之多餘之砂去除。此外，鬆砂機84亦可僅對下鑄模進行處理。於造模線1上更配置有澆口成形機86，其於上鑄模上形成澆口。於造模線1上，為使上鑄模以模腔部向下之方式重疊於下鑄模上，故而配置有將上鑄模進行再翻轉（以推箱方向為旋轉軸而翻轉）之上砂箱再翻轉機88。進而於造模線1上配置有合箱裝置20，將下鑄模載置於平板台車50上，將利用上砂箱再翻轉機88而再翻轉之上鑄模重疊於下鑄模上，從而形成上下鑄模100。

由澆鑄機30對造模線1上所搬送之上下鑄模100中澆鑄。經澆鑄之上下鑄模100搬送一定之距離，於耗費一定之時間而搬送之期間，所澆鑄之溶湯冷卻固化而成為鑄件。溶湯冷卻固化之上下鑄模100係利用打箱裝置40而從上砂箱及下砂箱（亦合併稱為「砂箱」）中抽出，使其崩解而取出鑄件，並且將鑄砂送至砂處理裝置（未圖示）中。砂箱係於砂箱分離裝置42中，將上砂箱與下砂箱交替排列，再次送至造模機10中。

其次，參照圖2及圖3，對造模機10中之鑄模之造模進行說明。圖2係表示於造模機10內形成有上砂箱110之造模空間之處的部分剖面圖。固定有上砂箱用圖案134之上砂箱用圖案板136固定於上砂箱用托板130上。於其上重疊上砂箱110。此外，本實施形態中，上砂箱用托板130具備框狀之上砂箱用調平框138，其包圍圖案板136之周圍且上下滑動。於上砂箱用調平框138之下部連結有複數個導銷139，導銷139係以可上下滑動之方式插入上砂箱用托板130之本體中。上砂箱用調平框138係經由導銷139而隨著未圖示之升降氣缸來升降。作為上砂箱用托板130之陰定位夾具的上砂箱用托板襯套132安裝於上砂箱用調平框138上。藉由在上砂箱用托板襯套132中插入作為上砂箱110之陽定位夾具的上砂箱銷112，來防止上砂箱用托板130與上砂箱110之位置偏移。但是，隨著反覆使用，上砂箱銷112、上砂箱用托板襯套132會磨損而產生偏移。

典型而言，上砂箱用托板襯套132為圓形剖面之孔，上砂箱銷112係越向前端行進，直徑變得越小之圓形剖面之軸。較上砂箱銷112插入上砂箱用托板襯套132中而言，較佳為上砂箱銷112之既定部分以不會產生鬆動之方式嵌入至上砂箱用托板襯套132中。但，上砂箱用托板襯套132及上砂箱銷112之形狀並不限定於該等，剖面可為橢圓、矩形、多角形等任意形狀，於上砂箱用托板襯套132中插入上砂箱銷112，若以不產生鬆動之方式嵌入即可。又，上砂箱用托板襯套132亦可安裝於從上砂箱用托板130上突出之部分。此外，此處所述之上砂箱用托板襯套132及上砂箱銷112之形狀亦適用於其他的陰定位夾具（襯套）以及陽定位夾具（銷）。

上砂箱110之上部重疊支框18，且於支框18之內部插入壓擠板16。於壓擠板16中形成填砂注口14，可將壓擠板16上方之填砂料斗19內之鑄砂（未圖示）供給至上砂箱110之造模空間中。若於上砂箱110之造模空間中供給鑄砂，則壓擠板16下降，在與上砂箱用圖案板136之間壓擠鑄砂而製造鑄模。此時，上砂箱用圖案134之部分成為空隙，形成將上砂箱110與下砂箱120合箱時成為製品之部分（上鑄模之模腔部），藉由在該部分中澆鑄溶湯而製造鑄件。此外具有如下優點：壓擠時，隨著上砂箱用調平框138下降，鑄砂亦從上砂箱用圖案板136側壓擠。

圖3係表示於造模機10內形成有下砂箱120之造模空間之處的部分剖面圖。固定有下砂箱用圖案144之下砂箱用圖案板146固定於下砂箱用托板140上。於其上重疊下砂箱120。與上砂箱用托板130同樣，下砂箱用托板140具備框狀之下砂箱用調平框148，從而連結複數個導銷149而升降。作為下砂箱用托板140之陽定位夾具的下砂箱用托板銷142固定於下砂箱用調平框148上。藉由下砂箱用托板銷142插入作為下砂箱120之陰定位夾具的下砂箱襯套122中，來防止下砂箱用托板140與下砂箱120之位置偏移，但有時如上所述產生偏移。

於下砂箱120之上部重疊支框18，於支框18之內部插入壓擠板16。於壓擠板16中形成填砂注口14，可將壓擠板16上方之填砂料斗19內之鑄砂（未圖示）供給至下砂箱120之造模空間中。若於下砂箱120之造模空間中供給鑄砂，則壓擠板16下降，在與下砂箱用圖案板146之間壓擠鑄砂而製造鑄模。此時，下砂箱用圖案144之部分成為空隙，形成將上砂箱110與下砂箱120合箱時成為製品之部分（下鑄模之模腔部），藉由於該部分中澆鑄溶湯而製造鑄件。此外具有如下優點：壓擠時，隨著下砂箱用調平框148下降，鑄砂亦從下砂箱用圖案板146側壓擠。造模機10中，交替地製造上鑄模及下鑄模。

於造模機10中配置有感測器12，其用以偵測上砂箱用托板130與上砂箱110、或者下砂箱用托板140與下砂箱120之偏移。用作感測器12之感測器可為雷射位移感測器、紅外線位移感測器、接觸式位移感測器等公知之位移感測器。由於圖案之位置之測定困難，故而測定托板與砂箱之位置，來作為圖案與砂箱之偏移。上砂箱用托板130與上砂箱110、或者下砂箱用托板140與下砂箱120之偏移之偵測通常於造模前進行，但亦可於壓擠後偵測偏移。亦存在藉由壓擠而托板與砂箱偏移之可能性。若於壓擠之前後測定偏移，則可知上下砂箱用托板襯套132及銷142、上下砂箱之銷112及襯套122之任一者或兩者磨損。

如圖4之俯視圖所示，感測器12於砂箱用途中配置3台。同樣地，於托板用途中亦配置3台。此外，3台感測器亦可上下移動來測定砂箱與托板之兩者。藉由各配置有3台感測器12，可測定至砂箱或托板為止之3點之距離。此處，由於3個位移感測器12之座標為已知，故而獲得砂箱之3點之座標與托板之3點之座標。由於砂箱與托板之形狀分別已知，故而若獲得3點之座標，則可推算各自之中心位置與水平方向之旋轉角。可根據所推算之中心位置與水平方向之旋轉角之偏移、或由中心位置與水平方向之旋轉角來推算之砂箱與托板之隅點之座標之偏移，來判定砂箱與托板之偏移。而且，由於砂箱之形狀及托板之形狀為已知，故而可正確地測量砂箱與托板之偏移。

砂箱與托板係藉由上砂箱銷112插入上砂箱用托板襯套132中，又，藉由下砂箱用托板銷142插入下砂箱襯套122中，來防止偏移產生。但是，隨著反覆使用，上砂箱銷112、上砂箱用托板襯套132、下砂箱用托板銷142、下砂箱襯套122會磨損而產生偏移。

因此，測量銷或襯套之磨損。圖5及圖6係表示利用銷磨損量測量裝置60來測量上砂箱銷112之磨損量的側視圖。上砂箱銷112通常於上砂箱110中具備2根，故而此處，利用2台之銷磨損量測量裝置60來測量2根之上砂箱銷112之磨損量，但銷之數量並不限定為2根，銷磨損量測量裝置60之數量亦不限定為2台。銷磨損量測量裝置60中，例如於上部開放之感測器保持具64內坐落有上砂箱銷112。上砂箱銷112與感測器保持具64較佳為位於同心。於感測器保持具64之既定高度，設置測量上砂箱銷112之表面之座標的感測器62。此處，所謂既定之高度，係對上砂箱銷112與上砂箱用托板襯套132或下砂箱襯套122嵌合之部分進行測量之高度。圖6中，於1個感測器保持具64上示出2個感測器62，但感測器62之數量亦可為1個，亦可為3個以上。用作感測器62之感測器可為雷射位移感測器、紅外線位移感測器、接觸式位移感測器等公知之位移感測器。感測器保持具64支持於旋轉致動器66上，以上砂箱銷112為中心而旋轉。旋轉致動器66係由測量裝置保持具68所固定。

利用銷磨損量測量裝置60，藉由感測器保持具64以上砂箱銷112為中心而旋轉，可利用感測器62來測定上砂箱銷112外表面之全周之座標。即，可測定上砂箱銷112之全周之磨損量。因此，例如可將最大磨損量作為上砂箱銷112之磨損量。或者，亦可使用所測定之磨損量之平均值或者任意位置之磨損量。所測量之磨損量較佳為與上砂箱110相關聯而存儲。

圖7及圖8係表示利用襯套磨損量測量裝置70來測量下砂箱120之下砂箱襯套122之磨損量之處的側視圖。此處，下砂箱襯套122係根據上砂箱銷112而具備2個，襯套磨損量測量裝置70亦具備2台，但襯套之數量並不限定為2個，襯套磨損量測量裝置70之數量亦不限定為2台。襯套磨損量測量裝置70中，為了測量下砂箱襯套122之內表面而相向之感測器72係支持於感測器保持部74上。用作感測器72之感測器可為雷射位移感測器、紅外線位移感測器、接觸式位移感測器等公知之位移感測器。藉由使用位移感測器，配置於下砂箱襯套122之斜下方的感測器72測量斜上方之下砂箱襯套122之內表面。感測器保持部74係支持於旋轉致動器76上，以下砂箱襯套122為中心而旋轉。即，旋轉致動器76係藉由測量裝置保持具78而固定於下砂箱襯套122之正下方。

利用襯套磨損量測量裝置70，藉由感測器保持具74以下砂箱襯套122為中心而旋轉，可利用感測器72來測定下砂箱襯套122內表面之全周之座標。即，可測定下砂箱襯套122之全周之磨損量。因此，例如將最大磨損量作為下砂箱襯套122之磨損量。或者，亦可使用所測定之磨損量之平均值或者任意位置之磨損量。所測量的磨損量較佳為與下砂箱120相關聯而存儲。

上砂箱銷112之磨損量或下砂箱襯套122之磨損量之測量較佳為於圖1所示之砂箱之位置P1及P2進行。即，銷磨損量測量裝置60以及襯套磨損量測量裝置70較佳為配置於造模機10之上游側。

關於下砂箱用托板140，利用與使用圖5及圖6來說明之上砂箱銷112相同之方法來測量下砂箱用托板銷142之磨損量。又，關於上砂箱用托板130，利用與使用圖7及圖8來說明之下砂箱襯套122相同之方法來測量上砂箱用托板襯套132之磨損量。下砂箱用托板銷142以及上砂箱用托板襯套132之磨損量之測量較佳為於圖1所示之鑄模之流程之外（造模機10之外），即，於將上砂箱用托板130及下砂箱用托板140搬入造模機10中之前進行。所測量之磨損量較佳為與下砂箱用托板140或上砂箱用托板130相關聯而存儲。

圖9及圖10中示出於合箱裝置20中將上砂箱與下砂箱進行合箱。於造模機10中交替造模之上砂箱及下砂箱由翻轉機82、鬆砂機84、澆口成形機86及上砂箱再翻轉機88進行處理後，於合箱裝置20中進行合箱。於合箱裝置20中，利用升降夾鉗22，於載置於移車台56上之平板台車50上，載置使模腔部朝向上方之內藏有下鑄模之下砂箱120。其次，利用升降夾鉗22，將利用上砂箱再翻轉機88而使模腔部朝向下方之內藏有上鑄模之上砂箱110重疊於下砂箱120上。藉由作為上砂箱110之陽定位夾具的上砂箱銷112插入作為下砂箱120之陰定位夾具的下砂箱襯套122中，來防止上砂箱110與下砂箱120之位置偏移。但是，隨著反覆使用，上砂箱銷112或下砂箱襯套122會磨損而產生偏移。

因此，合箱裝置20中，配置有用以偵測上砂箱110與下砂箱120之偏移的感測器26。用作感測器26之感測器可為雷射位移感測器、紅外線位移感測器、接觸式位移感測器等公知之位移感測器。感測器26係以上下2段而保持於感測器保持具28上。感測器保持具28支持於架台24上。但是，亦可藉由1段之感測器26上下升降，來對上砂箱110與下砂箱120進行測定。於該情形時，只要將感測器保持具28構成為相對於架台24而升降即可。

如圖11之俯視圖所示，感測器26於上砂箱110用途中配置3台。同樣，於下砂箱120用途中亦配置3台。此外，3台感測器上下移動，亦可對上砂箱110與下砂箱120之兩者進行測定。藉由感測器26各配置3台，可測定至上砂箱110或下砂箱120為止之3點之距離。此處，由於3個位移感測器26之座標為已知，故而獲得上砂箱110之3點之座標及下砂箱120之3點之座標。由於上砂箱110及下砂箱120之形狀分別為已知，故而若獲得3點之座標，則可推算各自之中心位置與水平方向之旋轉角。可根據所推算之中心位置與水平方向之旋轉角之偏移、或者由中心位置與水平方向之旋轉角來推算之上砂箱110與下砂箱120之隅點之座標之偏移，來判定上砂箱110與下砂箱120之偏移。而且，由於上砂箱110及下砂箱120之形狀為已知，故而可正確地測量上砂箱110與下砂箱120之偏移。

其次，參照圖12之流程圖，對模腔部之偏移之推定以及因偏移所導致之不良之防止方法進行說明。此外，將一個流程圖分割為（a）～（c）之3塊，將連接之點以由圓所包圍之數字來表示。首先，如使用圖5～8所說明，測量上砂箱銷112、下砂箱襯套122、上砂箱用托板襯套132以及下砂箱用托板銷142之磨損量（S11）。所測量之磨損量係與上砂箱110、下砂箱120、上砂箱用托板130以及下砂箱用托板140相關聯而存儲。例如，存儲於造模線用之控制裝置（未圖示）中。

其次，如使用圖2～4所說明，於造模機10中，測量：上砂箱110與上砂箱用托板130之偏移X、Y（X、Y係於正交之水平2個方向上之偏移）；以及下砂箱120與下砂箱用托板140之偏移X'、Y'（X'、Y'係於正交之水平2個方向上之偏移）（S12）。其次，如使用圖9～11所說明，於合箱裝置20中，測量合箱之上砂箱110與下砂箱120之以下砂箱120為基準之上砂箱110之偏移x、y（x、y係於正交之水平2個方向上之偏移）（S13）。此外，例如，作為偏移X、Y、X'、Y'、x、y，可使用隅點之座標之偏移，即，4個隅點之座標之偏移之最大值、或平均值，或者4個隅點中之任意隅點之偏移。

其次，判定偏移是否在容許範圍內（S14）。因此，判定是否滿足|（X-X'）－x|≦0.3、|（Y＋Y'）－y|≦0.3。此處，右邊之0.3表示偏移之容許值即0.3 mm。但是，容許值取決於鑄件之形狀、大小、用途等，並不限定於0.3 mm。此外，（X-X'）係以下砂箱120與下砂箱用托板140之偏移X'為基準，來推算和上砂箱110與上砂箱用托板130之偏移X的差。上砂箱110（即，上砂箱用模腔部）相對於上砂箱用托板130之偏移之方向若與下砂箱120（即，下砂箱用模腔部）相對於下砂箱用托板140之偏移之方向相同，則結果，於合箱時，模腔部偏移抵消。因此，將上砂箱110與上砂箱用圖案134中產生之偏移X和下砂箱120與下砂箱用圖案144中產生之偏移X'的差作為模腔部偏移。此外，本實施形態中，由於下砂箱120不進行再翻轉，故而X'之方向（向推箱方向的上砂箱110與下砂箱120之偏移之方向）並未變化，但關於Y'之方向（向與推箱方向正交之方向的上砂箱110與下砂箱120之偏移之方向），上砂箱110與下砂箱120中偏移之方向成為反方向，因此使用上砂箱110與上砂箱用圖案134中產生之偏移Y以及下砂箱120與下砂箱用圖案144中產生之偏移Y'的和。任一者均求出上下砂箱用圖案134、144與上下砂箱110、120之偏移。而且，作為|（X-X'）－x|、|（Y＋Y'）－y|，從上下砂箱用圖案134、144之與上下砂箱110、120之偏移中減去上砂箱110與下砂箱120之偏移x、y，來求出模腔部之偏移之絕對值。判定該偏移是否在容許值0.3 mm之範圍內。

如此一來，將上下砂箱110、120與上下砂箱用圖案134、144之偏移之測量結果，和上砂箱110與下砂箱120之偏移之測量結果合併，來求出模腔部之偏移，從而可判定因模腔部偏移所導致之不良之發生。即，與僅根據合箱狀態下之上砂箱110與下砂箱120之偏移來判定之情形相比，不良之發生之判定之可靠性提高，不會於實際上未成為不良之情形時亦判定為不良而導致大量浪費。

其次參照圖12（b），對先前之判定中視為無偏移之情形之處理加以說明。由於無偏移，故而於鑄模中如通常般進行澆鑄（S20）。而且，判定上砂箱110之銷112以及下砂箱120之襯套122之磨損量是否在容許範圍內（0.3 mm以下）（S21）。於即便上下砂箱110、120中無偏移，銷112或襯套122之磨損量亦超出容許範圍之情形時，將更換指示顯示於面板等上（S22）。其次，判定托板130之襯套132以及托板140之銷142之磨損量是否在容許範圍內（0.3 mm以下）（S23）。於即便上下砂箱110、120中無偏移，襯套132或銷142之磨損量亦超出容許範圍之情形時，將更換指示顯示於面板等上（S24）。

將上砂箱110之銷112之磨損量與上砂箱110相關聯（作為上砂箱110之移位資料），將下砂箱120之襯套122之磨損量與下砂箱120相關聯（作為下砂箱120之移位資料），將上砂箱用托板130之襯套132之磨損量與上砂箱用托板130相關聯（作為上砂箱用托板130之移位資料），將下砂箱用托板140之銷142之磨損量與下砂箱用托板140相關聯（作為下砂箱用托板140之移位資料）而存儲（S25）。此外，此處所謂「移位資料」，係包含與各獨立之上砂箱、下砂箱、上砂箱用托板、下砂箱用托板相關之資料的資料，係指於各自每次移動時，其資料亦隨著移動而偏移（移位）之資料，即，與獨立之上砂箱、下砂箱、上砂箱用托板、下砂箱用托板相關聯之資料。如上所述，藉由對每個獨立之上砂箱、下砂箱、上砂箱用托板、下砂箱用托板管理磨損量，可於造模線1等之維護時迅速地更換磨損之零件。因此，可高效率地進行更換及點檢作業。然後，繼續進行下個循環，即，接下來的造模（S26）。

接著，參照圖12（c），對先前之判定中視為有偏移之情形之處理加以說明。首先，雖於模腔部中有偏移，但判斷是否澆鑄（S30）。視情形，存在即便偏移亦澆鑄之情形，於澆鑄之情形時，發出鑄件之精密製品檢查指示（S32），精密地檢查對於用作鑄件製品而言是否不存在問題。又，於不澆鑄之情形時，鑄模缺少一個，因此對造模機10發出追加造模指示（S31）。

判定上砂箱110之銷112及下砂箱120之襯套122之磨損量是否在容許範圍內（0.3 mm以下）（S34）。於銷112或襯套122之磨損量超出容許範圍之情形時，將更換指示顯示於面板等上（S35）。其次，判定托板130之襯套132及托板140之銷142之磨損量是否在容許範圍內（0.3 mm以下）（S36）。於銷142或襯套132之磨損量超出容許範圍之情形時，將更換指示顯示於面板等上（S37）。

其次，判定上述之銷112及襯套122之磨損量、銷142及襯套132之磨損量中之任一者是否均在容許範圍內（判定為是）（S38）。於銷112或襯套122之磨損量、以及銷142或襯套132之磨損量超出容許範圍之情形（「否」之情形）時，推定銷或襯套之磨損為模腔部偏移之原因。已經將銷或襯套之更換指示顯示於面板等上，引起作業者之必要注意。

於銷112及襯套122之磨損量以及銷142及襯套132之磨損量中之任一者或兩者在容許範圍內之情形（S38中「是」之情形）時，亦認為僅該鑄模由於特殊原因（例如偏磨損時）、或者偶然偏移。因此，判定此種現象是否於同一砂箱或同一托板上屢次產生（S39）。即，判定於同一砂箱或同一托板上通過該路徑之次數是否為例如累積10次以下。於超過10次之情形（S39中「否」之情形）時，認為係該砂箱或托板之銷或襯套中存在缺陷之情形，因此將砂箱或托板之銷及襯套之點檢或更換指示顯示於面板上（S40）。

此外，判定同一砂箱或同一托板中是否屢次產生，亦可不根據累積次數，而根據連續之次數來判定。或者，亦可為於同一砂箱或同一托板中通過該路徑之比例，例如於通過該路徑之次數超出造模次數之10%之情形時，將銷、襯套之點檢或更換指示顯示於面板上。又，累積次數10次或比例10%等為例示，亦可為其他值。

其次，以與上述相同之方式，將砂箱或托板之銷、襯套之磨損量之測量結果作為移位資料而存儲。藉此，可迅速掌握成為維護時之更換或點檢對象的砂箱或托板，可高效率地進行點檢・更換作業（S41）。然後，繼續進行下個循環，即，接下來的造模（S42）。

此外，如使用圖5～8所說明，由於測定上砂箱銷112、下砂箱襯套122、上砂箱用托板襯套132以及下砂箱用托板銷142之全周，故而可掌握銷及襯套之形狀。因此，例如，雖然銷及襯套實質上未磨損，但可判斷是否未測量到大的偏移。於此種情形時，考慮銷磨損量測量裝置60或襯套磨損量測量裝置70之異常。或者，亦考慮測量偏移之感測器12、26之安裝部之異常等。如上所述，有效的是更具備將銷及襯套之形狀與所測量之偏移加以比較之步驟。此外，至此之說明中，砂箱與托板及上下砂箱已作為由銷及襯套來防止偏移者而加以說明，但亦可利用其他公知之方法（例如凸型襯套與凹型襯套）來防止偏移。

藉由本發明之推定模腔部之偏移來防止因偏移所導致之不良之方法，可基於砂箱與上下砂箱用圖案載體之偏移、以及上砂箱與下砂箱之偏移之測量結果，求出模腔部之偏移，來判定因模腔部偏移所導致之不良之發生，因此不良之發生之判定之可靠性提高，可減少造模之浪費。進而，由於將銷及襯套之磨損量作為移位資料來管理，故而可迅速且高效率地更換磨損之零件，因此，可使造模線高效率地運轉。

以下，將本說明書及圖式中使用之主要符號歸納示出。

1‧‧‧造模線

10‧‧‧造模機

12‧‧‧感測器

14‧‧‧填砂注口

16‧‧‧壓擠板

18‧‧‧支框

19‧‧‧填砂料斗

20‧‧‧合箱裝置

22‧‧‧升降夾鉗

24‧‧‧架台

26‧‧‧感測器

28‧‧‧感測器保持具

30‧‧‧澆鑄機

40‧‧‧打箱裝置

42‧‧‧砂箱分離裝置

50‧‧‧平板台車

52‧‧‧推動器

54‧‧‧緩衝墊

56‧‧‧移車台

60‧‧‧銷磨損量測量裝置

62‧‧‧感測器

64‧‧‧感測器保持具

66‧‧‧旋轉致動器

68‧‧‧測量裝置保持具

70‧‧‧襯套磨損量測量裝置

72‧‧‧感測器

74‧‧‧感測器保持具

76‧‧‧旋轉致動器

78‧‧‧測量裝置保持具

82‧‧‧翻轉機

84‧‧‧鬆砂機

86‧‧‧澆口成形機

88‧‧‧上砂箱再翻轉機

100‧‧‧上下鑄模

110‧‧‧上砂箱

112‧‧‧上砂箱銷（陽定位夾具）

120‧‧‧下砂箱

122‧‧‧下砂箱襯套（陰定位夾具）

130‧‧‧上砂箱用托板

132‧‧‧上砂箱用托板襯套（陰定位夾具）

134‧‧‧上砂箱用圖案

136‧‧‧上砂箱用圖案板

138‧‧‧上砂箱用調平框

139‧‧‧導銷

140‧‧‧下砂箱用托板

142‧‧‧下砂箱用托板銷（陽定位夾具）

144‧‧‧下砂箱用圖案

146‧‧‧下砂箱用圖案板

148‧‧‧下砂箱用調平框

149‧‧‧導銷

圖1係對造模線進行說明之俯視圖。

圖2係表示造模機中之形成有上砂箱之造模空間之處的部分剖面側視圖。

圖3係表示造模機中之形成有下砂箱之造模空間之處的部分剖面側視圖。

圖4係表示造模機中之測定托板與砂箱之偏移之處的部分俯視圖。

圖5係表示測定上砂箱之銷（陽定位夾具）之磨損量之處的側視圖。

圖6係表示測定上砂箱之銷（陽定位夾具）之磨損量之處的側視圖，係從與圖5正交之方向看之圖。

圖7係表示測定下砂箱之襯套（陰定位夾具）之磨損量之處的側視圖。

圖8係表示測定下砂箱之襯套（陰定位夾具）之磨損量之處的側視圖，係從與圖7正交之方向看之圖。

圖9係表示於合箱裝置中將上下砂箱合箱來測定上砂箱與下砂箱之偏移的側視圖。

圖10係表示於合箱裝置中將上下砂箱合箱來測定上砂箱與下砂箱之偏移之處的側視圖，係從與圖9正交之方向看之圖。

圖11係表示於合箱裝置中將上下砂箱合箱來測定上砂箱與下砂箱之偏移之處的俯視圖，係圖9之A-A箭視圖。

圖12係防止因模偏移所導致之不良之方法之流程圖。此外，將一個流程圖分割為（a）～（c）之3塊而示出。

Claims (7)

1. 一種防止因模腔部偏移所導致之不良之方法，其係於使用與上砂箱用托板加以組合之上砂箱以及與下砂箱用托板加以組合之下砂箱的帶砂箱之鑄模之造模中，防止因模腔部偏移所導致之不良之方法，其具備： 測量上述上砂箱用托板與上述上砂箱之偏移的步驟； 測量上述下砂箱用托板與上述下砂箱之偏移的步驟； 測量合箱之上述上砂箱與下砂箱之偏移的步驟；以及 根據上述上砂箱用托板與上述上砂箱之偏移、上述下砂箱用托板與上述下砂箱之偏移以及上述合箱之上砂箱與下砂箱之偏移，求出模腔部之偏移來判定是否為容許範圍內的步驟。
2. 如請求項1所述之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法，其中 上述上砂箱用托板與上述上砂箱，係利用陽定位夾具及陰定位夾具而相互定位， 上述下砂箱用托板與上述下砂箱，係利用陽定位夾具及陰定位夾具而相互定位，並且 上述上砂箱與上述下砂箱之合箱，係利用陽定位夾具及陰定位夾具而相互定位。
3. 如請求項2所述之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法，其更具備 測量上述上砂箱用托板、上述上砂箱、上述下砂箱用托板以及上述下砂箱之陽定位夾具或陰定位夾具之磨損量的步驟。
4. 如請求項3所述之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法，其中 於上述測量磨損量之步驟中，測量陽定位夾具之外周或陰定位夾具之內周。
5. 如請求項3或4所述之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法，其更具備 當上述陽定位夾具或陰定位夾具之磨損量不在容許範圍內時發出警告之步驟。
6. 如請求項3或4所述之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法，其中 為了可掌握於帶砂箱之鑄模之造模線之維護時成為上述陽定位夾具或陰定位夾具之更換對象的砂箱，而更具備如下步驟：使上述陽定位夾具或陰定位夾具之磨損量與具備該陽定位夾具或陰定位夾具之上述上砂箱或上述下砂箱相關聯。
7. 如請求項4所述之防止因模腔部偏移所導致之不良之方法，其中 更具備如下步驟：將基於上述所測量之陽定位夾具之外周以及陰定位夾具之內周之值而掌握之各自之形狀，與所測量之上述上砂箱用托板與上述上砂箱之偏移、上述下砂箱用托板與上述下砂箱之偏移、或者合箱之上述上砂箱與下砂箱之偏移中之至少一者進行比較。