TW201827832A - 多轉塔式測試設備 - Google Patents

Abstract

一種多轉塔式測試設備，適於對複數個電子元件進行測試，包括一主轉塔以及一測試轉塔。主轉塔包括複數個吸嘴。測試轉塔包括複數個傳送架以及一測試單元。該等吸嘴適於各自將該等電子元件置於該等傳送架之中。測試單元包括複數個測試頭以及複數個測試座，其中，該等傳送架於一第一位置以及一第二位置之間移動，當該等傳送架位於該第一位置時，該等吸嘴各自對該等傳送架取放該等電子元件，當該等傳送架位於該第二位置時，該等傳送架各自對應該等測試座，該等測試頭各自插入該等傳送架以及該等測試座之中以對該等電子元件進行測試。

Description

多轉塔式測試設備

本發明係有關於一種多轉塔式測試設備，特別係有關於一種可提高測試效率之多轉塔式測試設備。

習知之轉塔機台基於空間限制，無法有效增加電子元件測試數量。在習知概念中，若轉塔直徑加大以容納更多吸嘴，便可增加電子元件測試數量。然而，更多吸嘴亦代表重量增加，慣性太大不利高速旋轉。若因為吸嘴數量增加而降低轉速，則增加索引時間(Index Time)，非但增加了測試過程所需要的時間，也使得測試成本增加。

本發明係為了欲解決習知技術之問題而提供之一種多轉塔式測試設備，適於對複數個電子元件進行測試，包括一主轉塔以及一測試轉塔。主轉塔包括複數個吸嘴。測試轉塔包括複數個傳送架以及一測試單元。測試單元包括複數個測試頭以及複數個測試座，其中，該等傳送架於一第一位置以及一第二位置之間移動，當該等傳送架位於該第一位置時，該等吸嘴各自對該等傳送架取放該等電子元件，當該等傳送架位於該第二位置時，該等傳送架各自對應該等測試座，該等測試頭各自插入該等傳送架以及該等測試座之中以對該等電子元件進行測試。

在一實施例中，該測試轉塔更包括一主控單元，其中，該等測試座耦接該主控單元，該主控單元透過該等測試座對該等電子元件進行測試。

在一實施例中，該測試轉塔更包括一傳送轉盤，其中，該等傳送架設於該傳送轉盤之上，並隨該傳送轉盤轉動。

在一實施例中，該主轉塔更包括主轉盤，該等吸嘴設於該主轉盤之上，並隨該主轉盤轉動。

在一實施例中，該主轉盤以及該傳送轉盤在一投影平面上形成一交集區域，當該等傳送架位於該第一位置時，其中之一該傳送架位於該交集區域之中，並對應其中之一該吸嘴，該吸嘴於該交集區域中對該傳送架取放該電子元件。

在一實施例中，該傳送轉盤包括複數個輸送皮帶，該等輸送皮帶帶動該等傳送架於該第一位置以及該第二位置之間移動。

在一實施例中，該傳送轉盤更包括複數個第一傳送輪以及複數個第二傳送輪，該輸送皮帶由該第一傳送輪以及該第二傳送輪所帶動，該第一傳送輪被轉動以帶動該輸送皮帶，該傳送架被夾設於相鄰且平行設置之該等輸送皮帶之間。

在一實施例中，該測試轉塔更包括一旋轉軸，該旋轉軸之一端連接該傳送轉盤，該傳送轉盤適於相對該旋轉軸在一第一高度以及一第二高度之間移動，該旋轉軸包括複數個齒條，該齒條嚙合該第一傳送輪，以帶動該第一傳送輪轉動。

在一實施例中，該傳送轉盤包括複數個齒軌以及複數個致動器，該致動器連接該傳送架，該致動器嚙合該齒 軌，該致動器沿該齒軌移動，以將該等傳送架於該第一位置以及該第二位置之間移動。

在一實施例中，該多轉塔式測試設備更包括一正印檢查轉盤，該正印檢查轉盤位於該主轉塔以及該測試轉塔之間，該正印檢查轉盤包括複數個置放部，該等吸嘴將該等電子元件置於該等置放部以進行檢查，再從該等置放部取起該等電子元件以移送至該等傳送架。

應用本發明實施例之多轉塔式測試設備，由於測試的工作由測試轉塔負責，因此電子元件測試數量與吸嘴數量無關，不會有因為吸嘴數量造成重量增加，不利高速旋轉的問題。測試單元的測試頭以及測試座是不會轉動的，其數量可視需要增加，不會有慣性的問題。而傳送架的重量輕，因此傳送架的數量增加不會發生不利高速旋轉的問題。本發明實施例之多轉塔式測試設備，可大幅增加電子元件測試數量，提高測試效率，降低測試成本。此外，在不同的實施例中，單一個主轉塔可搭配多個測試轉塔運作，藉此可更進一步提升測試效率。

T‧‧‧多轉塔式測試設備

C‧‧‧電子元件

P1‧‧‧第一位置

P2‧‧‧第二位置

IA‧‧‧交集區域

1‧‧‧主轉塔

11‧‧‧吸嘴

12‧‧‧主轉盤

2‧‧‧測試轉塔

21‧‧‧傳送架

22‧‧‧傳送轉盤

23‧‧‧輸送皮帶

241‧‧‧第一傳送輪

242‧‧‧第二傳送輪

25‧‧‧旋轉軸

251‧‧‧齒條

26‧‧‧齒軌

27‧‧‧致動器

3‧‧‧測試單元

31‧‧‧測試頭

32‧‧‧測試座

4‧‧‧正印檢查轉盤

41‧‧‧置放部

第1A圖係顯示本發明實施例之多轉塔式測試設備的截面示意圖，其中，電子元件欲被置入傳送架。

第1B圖係顯示本發明實施例之多轉塔式測試設備的截面示意圖，其中，電子元件被測試單元測試。

第1C圖係顯示本發明實施例之多轉塔式測試設備的截面示意圖，其中，電子元件被吸嘴取出。

第2圖係顯示本發明實施例之測試單元的系統方塊圖。

第3圖係顯示本發明實施例之多轉塔式測試設備的俯視示意圖。

第4A圖係顯示本發明一實施例之傳送轉盤的俯視示意圖，其中，傳送架位於第一位置。

第4B圖係顯示本發明一實施例之傳送轉盤的俯視示意圖，其中，傳送架位於第二位置。

第4C圖係顯示本發明一實施例之傳送轉盤的側視示意圖，其中，傳送架位於第一位置。

第4D圖係顯示本發明一實施例之傳送轉盤的側視示意圖，其中，傳送架位於第二位置。

第5圖係顯示本發明另一實施例之傳送轉盤的俯視示意圖。

第1A~1C圖係顯示本發明實施例之多轉塔式測試設備T的截面示意圖。參照第1A~1C圖，本發明實施例之多轉塔式測試設備T，適於對複數個電子元件C進行測試，包括一主轉塔1以及一測試轉塔2。主轉塔1包括複數個吸嘴11。測試轉塔2包括複數個傳送架21以及一測試單元3。測試單元3包括複數個測試頭31以及複數個測試座32，其中，該等傳送架21於一第一位置P1(第1A、1C圖)以及一第二位置P2(第1B圖)之間移動，當該等傳送架21位於該第一位置P1時，該等吸嘴11各自對該等傳送架21取放該等電子元件C，當該等傳送架21位於該第二位置P2時，該等傳送架21各自對應該等測試座32，該等測試 頭31各自插入該等傳送架21以及該等測試座32之中以對該等電子元件C進行測試。

就細部步驟而言，參照第1A圖，首先該等傳送架21位於該第一位置P1，該等吸嘴11依序將該等電子元件C置於該等傳送架21。接著，參照第1B圖，該等傳送架21被移至該第二位置P2以供該測試單元3進行檢測。檢測完畢後，參照第1C圖，該等傳送架21移至該第一位置P1，該等吸嘴11依序將該等電子元件C從該等傳送架21取出。

參照第2圖，在一實施例中，該測試轉塔更包括一主控單元33，其中，該等測試座32耦接該主控單元33，該主控單元33透過該等測試座32對該等電子元件C進行測試。一般而言，該等測試座32由於耦接主控單元33，因此其位置不會相對主控單元33而移動。然，上述揭露並未限制本發明。在一實施例中，該等測試座32與該主控單元33之間透過電纜線連接，相較於習知技術，電纜的長度可縮短。

再參照第1A~1C圖，在一實施例中，該測試轉塔2更包括一傳送轉盤22，其中，該等傳送架21設於該傳送轉盤22之上，並隨該傳送轉盤22轉動。該主轉塔1更包括主轉盤12，該等吸嘴11設於該主轉盤12之上，並隨該主轉盤12轉動。

參照第1A~1C、3圖、在一實施例中，該主轉盤12以及該傳送轉盤22在一投影平面上形成一交集區域IA，當該等傳送架21位於該第一位置P1時，其中之一該傳送架21位於該交集區域IA之中，並對應其中之一該吸嘴11，該吸嘴11於該交集區域IA中對該傳送架21取放該電子元件C。

參照第4A~4D圖，在一實施例中，該傳送轉盤22包括複數個輸送皮帶23，該等輸送皮帶23帶動該等傳送架21於該第一位置P1以及該第二位置P2之間移動。在一實施例中，該傳送轉盤22更包括複數個第一傳送輪241以及複數個第二傳送輪242，該輸送皮帶23由該第一傳送輪241以及該第二傳送輪242所帶動，該第一傳送輪241被轉動以帶動該輸送皮帶23，該傳送架21被夾設於相鄰且平行設置之該等輸送皮帶23之間。

在一實施例中，該等輸送皮帶23可以為齒形皮帶，該等輸送皮帶23嚙合該第一傳送輪241以及該第二傳送輪242，藉此可為傳送架21提供更準確的定位效果。然，上述揭露並未限制本創作，例如，該等傳送架21的定位亦可以由止擋結構所提供。

參照第4A~4D圖，在一實施例中，該測試轉塔2更包括一旋轉軸25，該旋轉軸25之一端連接該傳送轉盤22，該傳送轉盤22適於相對該旋轉軸25在一第一高度(第4C圖)以及一第二高度(第4D圖)之間移動，該旋轉軸25包括複數個齒條251，該齒條251嚙合該第一傳送輪241，以帶動該第一傳送輪241。

參照第5圖，在另一實施例中，該傳送轉盤22包括複數個齒軌26以及複數個致動器27，該致動器27連接該傳送架21，該致動器27透過齒輪嚙合該齒軌26，該致動器27沿該齒軌26移動，以將該等傳送架21於該第一位置P1以及該第二位置P2之間移動。該致動器27可以為電動馬達。

在本發明之實施例中，雖已揭露兩種不同之傳送 架的移動手段，然而，上述揭露並未限制本發明，傳送架亦可能以其他手段進行移動。

再參照第3圖，在一實施例中，該多轉塔式測試設備T更包括一正印檢查轉盤4，該正印檢查轉盤4位於該主轉塔1以及該測試轉塔2之間，該正印檢查轉盤4包括複數個置放部41，該等吸嘴11將該等電子元件C置於該等置放部41以進行檢查，再從該等置放部41取起該等電子元件C以移送至該等傳送架21。

應用本發明實施例之多轉塔式測試設備，由於測試的工作由測試轉塔負責，因此電子元件測試數量與吸嘴數量無關，不會有因為吸嘴數量造成重量增加，不利高速旋轉的問題。測試單元的測試頭以及測試座是不會轉動的，其數量可視需要增加，不會有慣性的問題。而傳送架的重量輕，因此傳送架的數量增加不會發生不利高速旋轉的問題。本發明實施例之多轉塔式測試設備，可大幅增加電子元件測試數量，提高測試效率，降低測試成本。此外，在不同的實施例中，單一個主轉塔可搭配多個測試轉塔運作，藉此可更進一步提升測試效率。

在一實施例中，電子元件包括複數個接腳，在測試時，該測試頭壓在接腳的上表面，接腳穿過傳送架底部開孔而接觸測試座的接點。由於作用於接腳的力量上下抵銷，因此接腳形狀不會被改變。

在一實施例中，該測試轉塔可設置於一腔體之中，該腔體內的溫度可以被控制，藉此可滿足於不同環境條件進行測試的需求。

雖然本發明已以具體之較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此項技術者，在不脫離本發明之精神和範圍內，仍可作些許的更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

Claims (10)

1. 一種多轉塔式測試設備，適於對複數個電子元件進行測試，包括：一主轉塔，包括複數個吸嘴；以及一測試轉塔，包括：複數個傳送架；以及一測試單元，包括複數個測試頭以及複數個測試座，其中，該等傳送架於一第一位置以及一第二位置之間移動，當該等傳送架位於該第一位置時，該等吸嘴各自對該等傳送架取放該等電子元件，當該等傳送架位於該第二位置時，該等傳送架各自對應該等測試座，該等測試頭各自插入該等傳送架以及該等測試座之中以對該等電子元件進行測試。
2. 如申請專利範圍第1項所述之多轉塔式測試設備，其中，該測試轉塔更包括一主控單元，其中，該等測試座耦接該主控單元，該主控單元透過該等測試座對該等電子元件進行測試。
3. 如申請專利範圍第2項所述之多轉塔式測試設備，其中，該測試轉塔更包括一傳送轉盤，其中，該等傳送架設於該傳送轉盤之上，並隨該傳送轉盤轉動。
4. 如申請專利範圍第3項所述之多轉塔式測試設備，其中，該主轉塔更包括主轉盤，該等吸嘴設於該主轉盤之上，並隨該主轉盤轉動。
5. 如申請專利範圍第4項所述之多轉塔式測試設備，其中，該主轉盤以及該傳送轉盤在一投影平面上形成一交集區域， 當該等傳送架位於該第一位置時，其中之一該傳送架位於該交集區域之中，並對應其中之一該吸嘴，該吸嘴於該交集區域中對該傳送架取放該電子元件。
6. 如申請專利範圍第3項所述之多轉塔式測試設備，其中，該傳送轉盤包括複數個輸送皮帶，該等輸送皮帶帶動該等傳送架於該第一位置以及該第二位置之間移動。
7. 如申請專利範圍第6項所述之多轉塔式測試設備，其中，該傳送轉盤更包括複數個第一傳送輪以及複數個第二傳送輪，該輸送皮帶由該第一傳送輪以及該第二傳送輪所帶動，該第一傳送輪被轉動以帶動該輸送皮帶，該傳送架被夾設於相鄰且平行設置之該等輸送皮帶之間。
8. 如申請專利範圍第7項所述之多轉塔式測試設備，其中，該測試轉塔更包括一旋轉軸，該旋轉軸之一端連接該傳送轉盤，該傳送轉盤適於相對該旋轉軸在一第一高度以及一第二高度之間移動，該旋轉軸包括複數個齒條，該齒條嚙合該等第一傳送輪，以帶動該等第一傳送輪轉動。
9. 如申請專利範圍第3項所述之多轉塔式測試設備，其中，該傳送轉盤包括複數個齒軌以及複數個致動器，該致動器連接該傳送架，該致動器嚙合該等齒軌，該致動器沿該等齒軌移動，以將該等傳送架於該第一位置以及該第二位置之間移動。
10. 如申請專利範圍第3項所述之多轉塔式測試設備，其更包括一正印檢查轉盤，該正印檢查轉盤位於該主轉塔以及該測試轉塔之間，該正印檢查轉盤包括複數個置放部，該等吸 嘴將該等電子元件置於該等置放部，再從該等置放部取起該等電子元件以移送至該等傳送架。