CN108362914B - 多转塔式测试设备 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种多转塔式测试设备，适于对多个电子元件进行测试，包括一主转塔以及一测试转塔，主转塔包括多个吸嘴，测试转塔包括多个传送架以及一测试单元，该多个吸嘴适于各自将该多个电子元件置于该多个传送架之中，测试单元包括多个测试头以及多个测试座，其中，该多个传送架于一第一位置以及一第二位置之间移动，当该多个传送架位于该第一位置时，该多个吸嘴各自对该多个传送架取放该多个电子元件，当该多个传送架位于该第二位置时，该多个传送架各自对应该多个测试座，该多个测试头各自插入该多个传送架以及该多个测试座之中以对该多个电子元件进行测试。通过本发明可大幅增加电子元件测试数量，提高测试效率，降低测试成本。

Description

多转塔式测试设备
技术领域
本发明为有关于一种多转塔式测试设备，特别是有关于一种可提高测试效率的多转塔式测试设备。
背景技术
已知的转塔机台基于空间限制，无法有效增加电子元件测试数量。在已知概念中，若转塔直径加大以容纳更多吸嘴，便可增加电子元件测试数量。然而，更多吸嘴亦代表重量增加，惯性太大不利高速旋转。若因为吸嘴数量增加而降低转速，则增加索引时间(IndexTime)，非但增加了测试过程所需要的时间，也使得测试成本增加。
发明内容
本发明为了解决已知技术的问题而提供的一种多转塔式测试设备，适于对多个电子元件进行测试，包括一主转塔以及一测试转塔。主转塔包括多个吸嘴。测试转塔包括多个传送架以及一测试单元。测试单元包括多个测试头以及多个测试座，其中，该多个传送架于一第一位置以及一第二位置之间移动，当该多个传送架位于该第一位置时，该多个吸嘴各自对该多个传送架取放该多个电子元件，当该多个传送架位于该第二位置时，该多个传送架各自对应该多个测试座，该多个测试头各自插入该多个传送架以及该多个测试座之中以对该多个电子元件进行测试。
在一实施例中，该测试转塔更包括一主控单元，其中，该多个测试座耦接该主控单元，该主控单元通过该多个测试座对该多个电子元件进行测试。
在一实施例中，该测试转塔更包括一传送转盘，其中，该多个传送架设于该传送转盘之上，并随该传送转盘转动。
在一实施例中，该主转塔更包括主转盘，该多个吸嘴设于该主转盘之上，并随该主转盘转动。
在一实施例中，该主转盘以及该传送转盘在一投影平面上形成一交集区域，当该多个传送架位于该第一位置时，其中的一该传送架位于该交集区域之中，并对应其中的一该吸嘴，该吸嘴于该交集区域中对该传送架取放该电子元件。
在一实施例中，该传送转盘包括多个输送皮带，该多个输送皮带带动该多个传送架于该第一位置以及该第二位置之间移动。
在一实施例中，该传送转盘更包括多个第一传送轮以及多个第二传送轮，该输送皮带由该第一传送轮以及该第二传送轮所带动，该第一传送轮被转动以带动该输送皮带，该传送架被夹设于相邻且平行设置的该多个输送皮带之间。
在一实施例中，该测试转塔更包括一旋转轴，该旋转轴的一端连接该传送转盘，该传送转盘适于相对该旋转轴在一第一高度以及一第二高度之间移动，该旋转轴包括多个齿条，该齿条啮合该第一传送轮，以带动该第一传送轮转动。
在一实施例中，该传送转盘包括多个齿轨以及多个致动器，该致动器连接该传送架，该致动器啮合该齿轨，该致动器沿该齿轨移动，以将该多个传送架于该第一位置以及该第二位置之间移动。
在一实施例中，该多转塔式测试设备更包括一正印检查转盘，该正印检查转盘位于该主转塔以及该测试转塔之间，该正印检查转盘包括多个置放部，该多个吸嘴将该多个电子元件置于该多个置放部以进行检查，再从该多个置放部取起该多个电子元件以移送至该多个传送架。
应用本发明实施例的多转塔式测试设备，由于测试的工作由测试转塔负责，因此电子元件测试数量与吸嘴数量无关，不会有因为吸嘴数量造成重量增加，不利高速旋转的问题。测试单元的测试头以及测试座是不会转动的，其数量可视需要增加，不会有惯性的问题。而传送架的重量轻，因此传送架的数量增加不会发生不利高速旋转的问题。本发明实施例的多转塔式测试设备，可大幅增加电子元件测试数量，提高测试效率，降低测试成本。此外，在不同的实施例中，单一个主转塔可搭配多个测试转塔运作，藉此可更进一步提升测试效率。
附图说明
图1A为显示本发明实施例的多转塔式测试设备的截面示意图，其中，电子元件欲被置入传送架。
图1B为显示本发明实施例的多转塔式测试设备的截面示意图，其中，电子元件被测试单元测试。
图1C为显示本发明实施例的多转塔式测试设备的截面示意图，其中，电子元件被吸嘴取出。
图2为显示本发明实施例的测试单元的系统方块图。
图3为显示本发明实施例的多转塔式测试设备的俯视示意图。
图4A为显示本发明一实施例的传送转盘的俯视示意图，其中，传送架位于第一位置。
图4B为显示本发明一实施例的传送转盘的俯视示意图，其中，传送架位于第二位置。
图4C为显示本发明一实施例的传送转盘的侧视示意图，其中，传送架位于第一位置。
图4D为显示本发明一实施例的传送转盘的侧视示意图，其中，传送架位于第二位置。
图5为显示本发明另一实施例的传送转盘的俯视示意图。
附图标号
T 多转塔式测试设备
C 电子元件
P1 第一位置
P2 第二位置
IA 交集区域
1 主转塔
11 吸嘴
12 主转盘
2 测试转塔
21 传送架
22 传送转盘
23 输送皮带
241 第一传送轮
242 第二传送轮
25 旋转轴
251 齿条
26 齿轨
27 致动器
3 测试单元
31 测试头
32 测试座
4 正印检查转盘
41 置放部
具体实施方式
图1A～图1C为显示本发明实施例的多转塔式测试设备T的截面示意图。参照图1A～图1C，本发明实施例的多转塔式测试设备T，适于对多个电子元件C进行测试，包括一主转塔1以及一测试转塔2。主转塔1包括多个吸嘴11。测试转塔2包括多个传送架21以及一测试单元3。测试单元3包括多个测试头31以及多个测试座32，其中，该多个传送架21于一第一位置P1(图1A、图1C)以及一第二位置P2(图1B)之间移动，当该多个传送架21位于该第一位置P1时，该多个吸嘴11各自对该多个传送架21取放该多个电子元件C，当该多个传送架21位于该第二位置P2时，该多个传送架21各自对应该多个测试座32，该多个测试头31各自插入该多个传送架21以及该多个测试座32之中以对该多个电子元件C进行测试。
就细部步骤而言，参照图1A，首先该多个传送架21位于该第一位置P1，该多个吸嘴11依序将该多个电子元件C置于该多个传送架21。接着，参照图1B，该多个传送架21被移至该第二位置P2以供该测试单元3进行检测。检测完毕后，参照图1C，该多个传送架21移至该第一位置P1，该多个吸嘴11依序将该多个电子元件C从该多个传送架21取出。
参照图2，在一实施例中，该测试转塔更包括一主控单元33，其中，该多个测试座32耦接该主控单元33，该主控单元33通过该多个测试座32对该多个电子元件C进行测试。一般而言，该多个测试座32由于耦接主控单元33，因此其位置不会相对主控单元33而移动。然，上述揭露并未限制本发明。在一实施例中，该多个测试座32与该主控单元33之间通过电缆线连接，相较于已知技术，电缆的长度可缩短。
再参照图1A～图1C，在一实施例中，该测试转塔2更包括一传送转盘22，其中，该多个传送架21设于该传送转盘22之上，并随该传送转盘22转动。该主转塔1更包括主转盘12，该多个吸嘴11设于该主转盘12之上，并随该主转盘12转动。
参照图1A～图1C、图3、在一实施例中，该主转盘12以及该传送转盘22在一投影平面上形成一交集区域IA，当该多个传送架21位于该第一位置P1时，其中的一该传送架21位于该交集区域IA之中，并对应其中的一该吸嘴11，该吸嘴11于该交集区域IA中对该传送架21取放该电子元件C。
参照图4A～图4D，在一实施例中，该传送转盘22包括多个输送皮带23，该多个输送皮带23带动该多个传送架21于该第一位置P1以及该第二位置P2之间移动。在一实施例中，该传送转盘22更包括多个第一传送轮241以及多个第二传送轮242，该输送皮带23由该第一传送轮241以及该第二传送轮242所带动，该第一传送轮241被转动以带动该输送皮带23，该传送架21被夹设于相邻且平行设置的该多个输送皮带23之间。
在一实施例中，该多个输送皮带23可以为齿形皮带，该多个输送皮带23啮合该第一传送轮241以及该第二传送轮242，藉此可为传送架21提供更准确的定位效果。然，上述揭露并未限制本创作，例如，该多个传送架21的定位亦可以由止挡结构所提供。
参照图4A～图4D，在一实施例中，该测试转塔2更包括一旋转轴25，该旋转轴25的一端连接该传送转盘22，该传送转盘22适于相对该旋转轴25在一第一高度(图4C)以及一第二高度(图4D)之间移动，该旋转轴25包括多个齿条251，该齿条251啮合该第一传送轮241，以带动该第一传送轮241。
参照图5，在另一实施例中，该传送转盘22包括多个齿轨26以及多个致动器27，该致动器27连接该传送架21，该致动器27通过齿轮啮合该齿轨26，该致动器27沿该齿轨26移动，以将该多个传送架21于该第一位置P1以及该第二位置P2之间移动。该致动器27可以为电动电机。
在本发明的实施例中，虽已揭露两种不同的传送架的移动手段，然而，上述揭露并未限制本发明，传送架亦可能以其他手段进行移动。
再参照图3，在一实施例中，该多转塔式测试设备T更包括一正印检查转盘4，该正印检查转盘4位于该主转塔1以及该测试转塔2之间，该正印检查转盘4包括多个置放部41，该多个吸嘴11将该多个电子元件C置于该多个置放部41以进行检查，再从该多个置放部41取起该多个电子元件C以移送至该多个传送架21。
应用本发明实施例的多转塔式测试设备，由于测试的工作由测试转塔负责，因此电子元件测试数量与吸嘴数量无关，不会有因为吸嘴数量造成重量增加，不利高速旋转的问题。测试单元的测试头以及测试座是不会转动的，其数量可视需要增加，不会有惯性的问题。而传送架的重量轻，因此传送架的数量增加不会发生不利高速旋转的问题。本发明实施例的多转塔式测试设备，可大幅增加电子元件测试数量，提高测试效率，降低测试成本。此外，在不同的实施例中，单一个主转塔可搭配多个测试转塔运作，藉此可更进一步提升测试效率。
在一实施例中，电子元件包括多个接脚，在测试时，该测试头压在接脚的上表面，接脚穿过传送架底部开孔而接触测试座的接点。由于作用于接脚的力量上下抵销，因此接脚形状不会被改变。
在一实施例中，该测试转塔可设置于一腔体之中，该腔体内的温度可以被控制，藉此可满足于不同环境条件进行测试的需求。
虽然本发明已以具体的较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此项技术者，在不脱离本发明的精神和范围内，仍可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

Claims (8)

1.一种多转塔式测试设备，适于对多个电子元件进行测试，其特征在于，所述多转塔式测试设备包括：
一主转塔，包括多个吸嘴；以及
一测试转塔，包括：
多个传送架；以及
一测试单元，包括多个测试头以及多个测试座，其中，所述多个传送架于一第一位置以及一第二位置之间移动，当所述多个传送架位于所述第一位置时，所述多个吸嘴各自对所述多个传送架取放所述多个电子元件，当所述多个传送架位于所述第二位置时，所述多个传送架各自对应所述多个测试座，所述多个测试头各自插入所述多个传送架以及所述多个测试座之中以对所述多个电子元件进行测试；
其中，所述测试转塔更包括一主控单元，其中，所述多个测试座耦接所述主控单元，所述主控单元通过所述多个测试座对所述多个电子元件进行测试；
其中，所述测试转塔更包括一传送转盘，其中，所述多个传送架设于所述传送转盘之上，并随所述传送转盘转动。
2.根据权利要求1所述的多转塔式测试设备，其特征在于，所述主转塔更包括主转盘，所述多个吸嘴设于所述主转盘之上，并随所述主转盘转动。
3.根据权利要求2所述的多转塔式测试设备，其特征在于，所述主转盘以及所述传送转盘在一投影平面上形成一交集区域，当所述多个传送架位于所述第一位置时，其中的一所述传送架位于所述交集区域之中，并对应其中的一所述吸嘴，所述吸嘴于所述交集区域中对所述传送架取放所述电子元件。
4.根据权利要求1所述的多转塔式测试设备，其特征在于，所述传送转盘包括多个输送皮带，所述多个输送皮带带动所述多个传送架于所述第一位置以及所述第二位置之间移动。
5.根据权利要求4所述的多转塔式测试设备，其特征在于，所述传送转盘更包括多个第一传送轮以及多个第二传送轮，所述输送皮带由所述第一传送轮以及所述第二传送轮所带动，所述第一传送轮被转动以带动所述输送皮带，所述传送架被夹设于相邻且平行设置的所述多个输送皮带之间。
6.根据权利要求5所述的多转塔式测试设备，其特征在于，所述测试转塔更包括一旋转轴，所述旋转轴的一端连接所述传送转盘，所述传送转盘适于相对所述旋转轴在一第一高度以及一第二高度之间移动，所述旋转轴包括多个齿条，所述齿条啮合所述多个第一传送轮，以带动所述多个第一传送轮转动。
7.根据权利要求1所述的多转塔式测试设备，其特征在于，所述传送转盘包括多个齿轨以及多个致动器，所述致动器连接所述传送架，所述致动器啮合所述多个齿轨，所述致动器沿所述多个齿轨移动，以将所述多个传送架于所述第一位置以及所述第二位置之间移动。
8.根据权利要求1所述的多转塔式测试设备，其特征在于，所述多转塔式测试设备更包括一正印检查转盘，所述正印检查转盘位于所述主转塔以及所述测试转塔之间，所述正印检查转盘包括多个置放部，所述多个吸嘴将所述多个电子元件置于所述多个置放部，再从所述多个置放部取起所述多个电子元件以移送至所述多个传送架。
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