CN205246703U - 转塔测试机台及其安装座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及转塔测试机台及其安装座。根据本实用新型的一实施例，该安装座包括：本体，其包括相对的第一侧与第二侧及相对的第一表面与第二表面；以及多个固定槽，位于该本体的第一表面上；其中多个固定槽中的每一者具有在所述第一表面上延伸的长度以提供适用于不同规格测试座的不同固定位置。相较于现有技术，根据本实用新型实施例的安装座可匹配不同规格测试座，具有广泛的通用性；因而既提高了使用便利性，也提高了测试效率，进而降低生产成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体测试领域。更具体地，本实用新型涉及转塔测试机台(tapereelhandler)及其安装座(mountbase)。
背景技术
在半导体制备的后续阶段，需要将已经制备好的集成电路芯片进行测试。其中在使用转塔测试机台进行测试时，需借助安装座将用于放置待测集成电路芯片的测试座(socket)安装到转塔测试机台的转接板(loadboard)上进行测试。由于测试座的种类繁多，而每一种规格的测试座需要一种对应规格的安装座与其匹配，由此造成安装座的种类也多。这不仅增加了制作安装座的成本也增加了安装座的管理负担。
因此，现有技术中需要一种能够匹配不同测试座的安装座来提升安装座的通用性，并降低成本。
实用新型内容
本实用新型的目的之一在于提供转塔测试机台及其安装座，其可适用于多种规格的测试座。
根据本实用新型的一实施例，该安装座包括：本体，其包括相对的第一侧与第二侧及相对的第一表面与第二表面；以及多个固定槽，位于该本体的该第一表面上。其中该多个固定槽中的每一者具有在该第一表面上延伸的长度以提供适用于不同规格测试座的不同固定位置。
根据本实用新型的另一实施例，该安装座进一步包括：多个第一固定孔，相对于该多个固定槽位于该本体的第一侧；以及多个第二固定孔，相对于该多个固定槽位于该本体的第二侧。该安装座进一步包含自该本体的该第一表面凸伸的凸台，该多个第一固定孔位于该凸台上。该多个固定槽的槽壁及该多个第二固定孔的孔壁是凸伸于该第一表面上，且凸伸高度与该凸台的高度相同。该固定槽为自该第一表面贯穿至该第二表面的贯穿槽。该固定槽包括至少两个第一固定槽及至少两个第二固定槽，该第一固定槽与该第二固定槽分别相对于本体的长度方向轴线呈对称排列。该固定槽为自远离该本体的长度方向轴线延伸。
本实用新型的又一实施例还提供一使用前述安装座的转塔测试机台。该转塔测试机台包括：支架；安装座，该安装座安置在该支架上；转接板，该转接板安置在安装座上；测试座，该测试座安置在该转接板上。
相较于现有技术，根据本实用新型实施例的安装座可匹配不同规格测试座，具有广泛的通用性；因而既提高了使用便利性，也提高了测试效率，进而降低生产成本。
附图说明
图1示出了根据本实用新型一个实施例的转塔测试机台的安装座的俯视示意图。
图2示出了图1所示的转塔测试机台的安装座的侧视示意图。
图3示出了包括图1所示的安装座的转塔测试机台的分解示意图。
图4示出了图3所示的转塔测试机台的立体示意图。
具体实施方式
如下，结合附图及优选实施例对根据本实用新型实施例的转塔测试机台及其安装座做更详细地描述。
图1示出了根据本实用新型一个实施例的转塔测试机台的安装座的俯视示意图。图2示出了图1所示的转塔测试机台的安装座的侧视示意图。
如图1、2所示，该安装座10包括本体100、多个固定槽200、多个第一固定孔300和多个第二固定孔400。
更具体地，本体100包括相对的第一侧101与第二侧102，及相对的第一表面103与第二表面104。
多个固定槽200位于该本体100的该第一表面103上。其中该多个固定槽200中的每一者具有在该第一表面103上延伸的长度以提供适用于不同规格测试座40(参见图3、4)的不同固定位置。
多个第一固定孔300相对于该多个固定槽200位于该本体的第一侧101，多个第二固定孔400相对于该多个固定槽200位于该本体100的第二侧102。其中，该多个第一固定孔300为贯穿孔，适于匹配不同规格的转接板且用于通过其将转接板固定至转塔测试机台。多个第二固定孔400是适用于不同规格转接板的固定位置，本实施例中第二固定孔400同样可设置为贯穿孔。
进一步地，该多个固定槽200包括靠近该多个第一固定孔300布置的两个第一固定槽200a和靠近该多个第二固定孔400布置的两个第二固定槽200b。该两个第一固定槽200a分别布置为相对于该本体100的纵向轴线y呈对称排列，而该两个第二固定槽200b同样分别布置为相对于本体100的长度方向轴线y呈对称排列。优选地，固定槽200为自远离本体100的长度方向轴线y延伸。更具体地，该第一固定槽200a的靠近该第一固定孔300的末端相对于其靠近该第二固定孔400的末端更远离该纵向轴线y，而该第二固定槽200b的靠近该第二固定孔400的末端相对于其靠近该第一固定孔300的末端更远离该纵向轴线y。更优选地，该第一固定槽200a和该第二固定槽200b分别相对于该纵向轴线倾斜呈45度角。进一步地，第一固定槽200a和第二固定槽200b优选地被构造为条形，以利于插入固定件，例如螺栓，并通过使其可在固定槽200内滑动来提供不同的固定位置。在一实施例中，包括第一固定槽200a和第二固定槽200b在内的多个固定槽200可以是贯穿本体100的第一表面103与第二表面104的贯穿槽。
在一实施例中，该安装座10可进一步包含自该本体100的第一表面103凸伸的凸台500，该多个第一固定孔300位于该凸台500上且进一步贯穿该凸台500延伸至本体100的第二表面104而为贯穿孔。该多个固定槽200的槽壁及该多个第二固定孔400的孔壁可同样凸伸于该本体100的第一表面103上，且凸伸高度与该凸台500的高度相同，从而确保测试座400可固定于一水平面上。
图3示出了包括图1所示的安装座10的转塔测试机台60的分解示意图。图4示出了图3所示的转塔测试机台60的立体示意图。如图3和4所示，根据本实用新型一实施例的转塔测试机台60包括：支架20；如前参照附图1和2所述的安装座10，该安装座10安置在该支架20上；转接板30，该转接板30安置在安装座10上；测试座40，该测试座40安置在该转接板30上。
在使用时，将测试座40的固定孔(通常为四个)和转接板30的固定孔分别与安装座10的固定槽200上的相应固定位置对准，进而利用紧固件，如螺丝等穿过测试座40的固定孔、转接板30的固定孔和安装座30的固定槽200上的固定位置而将三者固定在一起而形成一组合件。转接板30上可提供与安装座30上第二固定孔400对应的其它固定孔，通过紧固件穿过第二固定孔400及转接板30上对应的固定孔实现测试座40与转接板30之间的进一步固定。通过安装座10的第一固定孔300与支架20上的相应固定孔对应，可通过紧固件穿过第一固定孔300与支架20上的相应固定孔而将上述组合件固定至支架20，从而将测试座40安装到转塔测试机台60。
尽管已经阐明和描述了本揭示的不同实施例，本揭示并不限于这些实施例。仅在某些权利要求或实施例中出现的技术特征并不意味着不能与其他权利要求或实施例中的其他特征相结合以实现有益的新的技术方案。在不背离如权利要求书所描述的本揭示的精神和范围的情况下，许多修改、改变、变形、替代以及等同对于本领域技术人员而言是明显的。
Claims (10)
1.一种转塔测试机台的安装座，其特征在于，所述安装座包括：
本体，其包括相对的第一侧与第二侧及相对的第一表面与第二表面；以及
多个固定槽，位于所述本体的所述第一表面上；
其中所述多个固定槽中的每一者具有在所述第一表面上延伸的长度以提供适用于不同规格测试座的不同固定位置。
2.根据权利要求1所述的安装座，其特征在于，所述安装座进一步包括：
多个第一固定孔，相对于所述多个固定槽位于所述本体的第一侧；以及
多个第二固定孔，相对于所述多个固定槽位于所述本体的第二侧。
3.根据权利要求2所述的安装座，其特征在于，所述安装座进一步包含自所述本体的所述第一表面凸伸的凸台，所述多个第一固定孔位于所述凸台上。
4.根据权利要求3所述的安装座，其特征在于，所述多个固定槽的槽壁及所述多个第二固定孔的孔壁是凸伸于所述第一表面上，且凸伸高度与所述凸台的高度相同。
5.根据权利要求1所述的安装座，其特征在于，所述固定槽为自所述第一表面贯穿至所述第二表面的贯穿槽。
6.根据权利要求1所述的安装座，其特征在于，所述固定槽包括至少两个第一固定槽及至少两个第二固定槽，所述第一固定槽与所述第二固定槽分别相对于所述本体的长度方向轴线呈对称排列。
7.根据权利要求1所述的安装座，其特征在于，所述固定槽为自远离所述本体的长度方向轴线延伸。
8.一种转塔测试机台，包括：
支架；
安装座，所述安装座安置在所述支架上；
转接板，所述转接板安置在安装座上；
测试座，所述测试座安置在所述转接板上；
其特征在于所述安装座包括：
本体，其包括相对的第一侧与第二侧及相对的第一表面与第二表面；以及
多个固定槽，位于所述本体的所述第一表面上；其中所述多个固定槽中的每一者具有在所述第一表面上延伸的长度以提供不同的固定位置，所述固定位置中的至少一者适于固定所述测试座。
9.根据权利要求8所述的转塔测试机台，其特征在于，所述固定槽包括至少两个第一固定槽及至少两个第二固定槽，所述第一固定槽与所述第二固定槽分别相对于所述本体的长度方向轴线呈对称排列。
10.根据权利要求8所述的转塔测试机台，其特征在于，所述固定槽为自远离所述本体的长度方向轴线延伸。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520925467.7U CN205246703U (zh) | 2015-11-19 | 2015-11-19 | 转塔测试机台及其安装座 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520925467.7U CN205246703U (zh) | 2015-11-19 | 2015-11-19 | 转塔测试机台及其安装座 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN205246703U true CN205246703U (zh) | 2016-05-18 |
Family
ID=55945778
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201520925467.7U Active CN205246703U (zh) | 2015-11-19 | 2015-11-19 | 转塔测试机台及其安装座 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN205246703U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI604199B (zh) * | 2017-01-26 | 2017-11-01 | 華邦電子股份有限公司 | 多轉塔式測試設備 |
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2015
- 2015-11-19 CN CN201520925467.7U patent/CN205246703U/zh active Active
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| TWI604199B (zh) * | 2017-01-26 | 2017-11-01 | 華邦電子股份有限公司 | 多轉塔式測試設備 |
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