CN106546183B - 投影测量治具及测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种投影测量治具及测量方法，投影测量治具包括：透明基板，所述透明基板用于承载待测量工件且布设有多个通孔；固定板，与所述透明基板的侧边抵持，用于固定所述透明基板；多个定位销，分别插接于所述多个通孔，用于将所述待测量工件固定于所述透明基板。上述投影测量治具，由于透明基板设置有通孔及定位销，使得可以在透明基板上对不同尺寸规格的产品进行投影测量，整体结构简单、操作便捷，测量效率高，成本低，能适应对不同产品进行快速测量的要求，通用性高。

Description

投影测量治具及测量方法

技术领域

本发明涉及测量工装领域，特别是涉及一种投影通用测量治具及测量方法。

背景技术

传统的投影测量仪上配备有工作台，工作台上设置有工位，对产品进行投影测量时，将工件卡在工位进行测量，随着3C产品需求的日益增长，对各类3C产品的开发周期越来越短，测量任务重，而各类3C产品规格不一，其外壳形状也不一，需要使用不同的治具对其测量，导致测量效率低，成本也增加，传统的投影测量治具难以满足对产品的测量需求。

发明内容

基于此，有必要提供一种成本低、测量效率高且通用性高的投影测量治具及测量方法。

一种投影测量治具，包括：

透明基板，所述透明基板用于承载待测量工件且布设有多个通孔；

固定板，与所述透明基板的侧边抵持，用于固定所述透明基板；

多个定位销，分别插接于所述多个通孔，用于将所述待测量工件固定于所述透明基板。

在其中一个实施例中，所述定位销包括第一定位销和第二定位销，所述第一定位销与所述待测量工件的底面抵持接触，用于支撑所述待测量工件，所述第二定位销与所述待测量工件的侧壁抵持接触。

在其中一个实施例中，其还包括设置在所述透明基板顶面的定位块，所述定位块沿高度方向开设有适配于所述第二定位销的长孔，所述第二定位销插接于所述长孔内并伸入所述通孔，所述定位块的侧壁与所述待测量工件的侧壁抵持。

在其中一个实施例中，所述定位块包括第一定位块和第二定位块，所述第一定位块、第二定位块皆呈L型，所述第一定位块、第二定位块的内侧壁分别与所述待测量工件的两个边角的邻接的两个侧壁抵持。

在其中一个实施例中，所述第一定位块、第二定位块与所述待测量工件相对的两个侧壁分别凸出设置有定位凸台，所述定位凸台与所述待测量工件的侧壁抵持。

在其中一个实施例中，所述通孔包括呈矩阵布设的多个第一通孔、并排布设于靠近所述透明基板侧边及两排所述第一通孔之间的多个第二通孔，所述第一定位销插设于所述第一通孔，所述第二定位销插设于所述第二通孔。

在其中一个实施例中，所述第一定位销包括同轴设置的直杆部和头部，所述直杆部和头部皆呈圆柱状，所述直杆部的直径小于所述头部的直径。

在其中一个实施例中，所述透明基板呈矩形，所述固定板包括分别抵靠在所述透明基板相邻的两个侧边的第一固定板、第二固定板，所述第二固定板的一端与所述第一固定板抵持。

一种利用上述投影测量治具的测量方法，步骤包括：

提供待测量工件，所述待测量工件的底面为平面；

将所述第二定位销穿过所述第一定位块的长孔及对应的第一通孔，使所述第一定位块固定于所述透明基板；

将所述待测量工件放置于所述透明基板的顶面并使所述待测量工件的一个边角的邻接的两个侧壁与所述第一定位块的两个定位凸台抵持；

将所述第二定位块放置于所述透明基板的顶面并使所述第二定位块的两个定位凸台于所述待测量工件的另一个边角的邻接的两个侧壁抵持，将所述第二定位销穿过所述第二定位块的长孔及对应的第一通孔，使所述待测量工件固定于所述透明基板；

开启投影仪，对所述透明基板上的待测量工件进行测量，获得待测量工件的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。

一种利用上述投影测量治具的测量方法，步骤包括：

提供待测量工件，所述待测量工件的正、反面分别具有凹凸部；

根据所述待测量工件反面凹凸部的分布，在所述透明基板上插设多个所述第一定位销；

将多个所述第二定位销分别插设于多个所述第二通孔；

将所述待测量工件放置于所述透明基板的顶面，所述第一定位销与所述待测量工件反面未设置有凹凸部的部位抵持，同时使所述待测量工件的一个侧壁与多个所述第二定位销抵靠；

开启投影仪，对所述透明基板上的待测量工件进行测量，获得待测量工件的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。

上述投影测量治具，由于透明基板设置有通孔及定位销，使得可以在透明基板上对不同尺寸规格的产品进行投影测量，整体结构简单、操作便捷，测量效率高，成本低，能适应对不同产品进行快速测量的要求，通用性高。

附图说明

图1为本发明投影测量治具实施例的立体结构示意图；

图2为本发明投影测量治具实施例的俯视结构示意图；

图3为本发明投影测量治具另一实施例的立体结构示意图；

图4为本发明投影测量治具另一实施例的俯视结构示意图；

图5为正反面具有凹凸部的待测量工件的立体结构示意图；

图6为第一定位销支撑待测量工件的仰视结构示意图；

图7为第一定位销的侧视结构示意图；

图8为同时对不同类型的待测量工具进行装夹的俯视结构示意图；

图9为本发明投影测量治具的测量方法实施例的流程框图；

图10为本发明投影测量治具的测量方法另一实施例的流程框图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。

需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1、图2，本发明提供的投影测量治具，包括透明基板100、固定板200及多个定位销，透明基板100用于承载待测量工件，透明基板100上布设有多个通孔110，待测量工件和透明基板100的顶面贴合，待测量工件可以但不限于是3C类产品，如手机、平板电脑、导航仪、电子书的外壳；固定板200和透明基板100的侧边抵持，用以固定透明基板100；多个定位销分别插接于透明基板100上的多个通孔110，用于对待测量工件进行定位并且将待测量工件固定于透明基板100。操作时，透明基板100及固定板200放置于工作台600上，透明基板100的侧边与工作台的侧边平行。由于设置有通孔110及定位销，使得可以在透明基板100上对不同尺寸规格的产品进行投影测量，整体结构简单、操作便捷，测量效率高，成本低，能适应对不同产品进行快速测量的要求。

如图1、图2及图6、图7所示，在一实施例中，定位销包括第一定位销330和第二定位销300，第一定位销330与待测量工件的底面抵持接触，用以支撑待测量工件，第二定位销300与待测量工件的侧壁抵持接触，用于对待测量工件进行定位。透明基板100上的通孔110可以设置为圆孔，第一定位销330、第二定位销300适配插接于圆孔。

如图1至图3所示，对简单的待测量工件，例如底面为平整或大部分平整的待测量工件，可以在透明基板100上增加定位块，用于对待测量工件进行定位。定位块沿高度方向开设有适配于第二定位销300的长孔411，第二定位销300插设于长孔411并伸入透明基板100的通孔110内(图1中未示出)，定位块400的内侧壁与待测量工件的侧壁抵持。

更为详细的，定位块400包括第一定位块410、第二定位块420，两个定位块的尺寸大小轮廓可以设置成相同的。第一定位块410、第二定位块420可以都设置呈L型，L型定位块具有相互垂直的两个定位边，其中的一个定位边可以开设有长孔411，投影测量时，第一定位块410、第二定位块420的内侧壁分被与待测量工件的两个边角的邻接的两个侧壁抵持。定位块的高度可以设置为大于待测量工件的高度。

另外，可以在L型定位块400的两个定位边的内侧壁凸出设置有凸台412，例如分别凸出设置有两个凸台412，该定位凸台412与待测量工件的侧壁抵持。

如图1、图2所示，通孔110包括多个第一通孔110和多个第二通孔120，多个第一通孔110呈矩阵布设，多个第二通孔110至少设置有两排，例如布设有两排，第一排靠近透明基板100的一个侧边、第二排布设于两排第一通孔110之间，较好的，第二排的布设方向与第一排的布设方向垂直。可以将第二排第二通孔110设置在位于中间的两排第一通孔110之间。

如图7所示，在一实施例中，为便于待测量工件的定位，第一定位销330为变径设置，具体的，第一定位销330包括直杆部331和头部332，直杆部331和头部332都呈圆柱形，直杆部331的直径小于头部332的直径，直杆部331的至少一部分插接于透明基板100的通孔110。

如图2、图4所示，在一实施例中，透明基板100整体呈矩形，固定板200设置有两块，包括第一固定板210和第二固定板220，第一固定板210、第二固定板220分别抵靠在透明基板100相邻的两个侧边，两个固定板200相互垂直，第二固定板220的一端与第一固定板210抵触接触。当然的，固定板200也可以是一体设置的，即采用L型固定板200，L型固定板200的两个定位边相互垂直。

还可以在两个固定板200的与透明基板100相对的一侧分别凸出设置有多个定位凸台211，该定位凸台211的侧壁与透明基板100的侧壁抵持接触，用于对透明基板100进行定位。

如图1、图2及图9所示，本发明还提供利用上述投影测量治具的测量方法，步骤包括：

S10、提供待测量工件510，待测量工件的底面为平面，将透明基板100放置于工作台600上。

S20、将第二定位销300穿过第一定位块410的长孔411及对应的第一通孔110，使第一定位块410固定于透明基板100，此时，第一定位块410的凸台与待测量工件510抵持接触。

S30、将待测量工件510放置于透明基板100的顶面并使待测量工件510的一个边角的邻接的两个侧壁与第一定位块410的两个定位凸台211抵持。

S40、将第二定位块420放置于透明基板100的顶面，并使第二定位块420的两个定位凸台211于待测量工件510的另一个边角的邻接的两个侧壁抵持，将第二定位销300穿过第二定位块420的长孔411及对应的第一通孔110，使待测量工件510固定于透明基板100。也就是说，两个定位块是可以调节位置的，针对不同尺寸规格的待测量工件，先将其中一个定位块固定，另一定位块放置至与待测量工件510抵靠，再将其固定在透明基板100上，如此，完成定位操作。

S50、开启投影仪，对透明基板100上的待测量工件510进行测量，获得待测量工件510的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。

如图3至图6及图10所示，本发明还提供另一种利用上述投影测量治具的测量方法，步骤包括：

S11、提供待测量工件520，待测量工件520的正、反面分别具有凹凸部，将透明基板100放置于工作台600上。

S21、根据待测量工件520反面凹凸部的分布，在透明基板100上插设多个第一定位销330。使得第一定位销330能避开待测量工件520的凹凸部。

S31、将多个第二定位销300分别插设于多个第二通孔110。例如，插设第二定位销300后，在透明基板100上形成两排第二定位销300，第一排第二定位销310靠近透明基板100的一侧边，第二排第二定位销320位于两排第一通孔110之间且与靠近侧边的那排第二定位销300垂直布设。

S41、将待测量工件520放置于透明基板100的顶面，此时，第一定位销330与待测量工件520反面未设置有凹凸部的部位抵持，如图8所示，同时使待测量工件520的两个侧壁分别与两排第二定位销300抵靠，如此，完成定位操作。

S51、开启投影仪，对透明基板100上的待测量工件520进行测量，获得待测量工件520的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。

如图8所示，当然的，也可以在透明基板100上同时对不同的规格和类型的待测量工件进行投影测量，例如，要对两个待测量工件进行投影测量，一个待测量工件510的底部为平面，另一待测量工件520的正反面具有凹凸部，具体操作时，可按上述步骤同时将两个待测量工件定位于透明基板100上，然后开启投影仪，对两个待测量工件进行测量。

上述投影测量治具，由于透明基板设置有通孔及定位销，使得可以在透明基板上对不同尺寸规格的产品进行投影测量，整体结构简单、操作便捷，测量效率高，成本低，能适应对不同产品进行快速测量的要求，通用性高。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种投影测量治具，其特征在于，包括：

透明基板，所述透明基板用于承载待测量工件且布设有多个通孔；

固定板，与所述透明基板的侧边抵持，用于固定所述透明基板；

多个定位销，分别插接于所述多个通孔，用于将所述待测量工件固定于所述透明基板；所述通孔包括多个第一通孔和多个第二通孔，所述定位销包括第一定位销和第二定位销，所述第一定位销包括同轴设置的直杆部和头部，所述直杆部和头部皆呈圆柱状，所述直杆部的直径小于所述头部的直径，所述直杆部的至少一部分插接于透明基板的第一通孔中，还包括设置在所述透明基板顶面的定位块，所述定位块包括第一定位块和第二定位块，所述第一定位块、第二定位块的内侧壁分别与所述待测量工件的两个边角的邻接的两个侧壁抵持；所述待测量工件的底面为平面，将所述第二定位销穿过所述第一定位块的长孔及对应的第一通孔，使所述第一定位块固定于所述透明基板，所述待测量工件的正、反面分别具有凹凸部，所述第一定位销与所述待测量工件的底面抵持接触，用于支撑所述待测量工件，所述第二定位销与所述待测量工件的侧壁抵持接触，所述头部与所述待测量工件底面未设置有凹凸部的部位抵持，所述第二定位销插设于所述第二通孔。

2.根据权利要求1所述的投影测量治具，其特征在于，所述通孔为圆孔。

3.根据权利要求2所述的投影测量治具，其特征在于，所述定位块沿高度方向开设有适配于所述第二定位销的长孔，所述第二定位销插接于所述长孔内并伸入所述通孔，所述定位块的侧壁与所述待测量工件的侧壁抵持。

4.根据权利要求3所述的投影测量治具，其特征在于，所述第一定位块呈L型。

5.根据权利要求4所述的投影测量治具，其特征在于，所述第一定位块、第二定位块与所述待测量工件相对的两个侧壁分别凸出设置有定位凸台，所述定位凸台与所述待测量工件的侧壁抵持。

6.根据权利要求2所述的投影测量治具，其特征在于，所述第一通孔呈矩阵布设、所述第二通孔并排布设于靠近所述透明基板侧边及两排所述第一通孔之间。

7.根据权利要求2所述的投影测量治具，其特征在于，所述第二定位块呈L型。

8.根据权利要求1所述的投影测量治具，其特征在于，所述透明基板呈矩形，所述固定板包括分别抵靠在所述透明基板相邻的两个侧边的第一固定板、第二固定板，所述第二固定板的一端与所述第一固定板抵持。

9.一种利用如权利要求1～8任一项所述的投影测量治具的测量方法，其特征在于，步骤包括：

提供待测量工件，所述待测量工件的底面为平面；

将所述第二定位销穿过所述第一定位块的长孔及对应的第一通孔，使所述第一定位块固定于所述透明基板；

将所述待测量工件放置于所述透明基板的顶面并使所述待测量工件的一个边角的邻接的两个侧壁与所述第一定位块的两个定位凸台抵持；

将所述第二定位块放置于所述透明基板的顶面并使所述第二定位块的两个定位凸台于所述待测量工件的另一个边角的邻接的两个侧壁抵持，将所述第二定位销穿过所述第二定位块的长孔及对应的第一通孔，使所述待测量工件固定于所述透明基板；

开启投影仪，对所述透明基板上的待测量工件进行测量，获得待测量工件的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。

10.一种利用如权利要求1～8任一项所述的投影测量治具的测量方法，其特征在于，步骤包括：

提供待测量工件，所述待测量工件的正、反面分别具有凹凸部；

根据所述待测量工件反面凹凸部的分布，在所述透明基板上插设多个所述第一定位销；

将多个所述第二定位销分别插设于多个所述第二通孔；

将所述待测量工件放置于所述透明基板的顶面，所述第一定位销与所述待测量工件反面未设置有凹凸部的部位抵持，同时使所述待测量工件的两个侧壁分别与两排所述第二定位销抵靠；

开启投影仪，对所述透明基板上的待测量工件进行测量，获得待测量工件的外形轮廓数据或内部结构尺寸数据或外形轮廓数据与内部结构尺寸数据的结合。

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