TW201802444A - 在共同的幫浦軸上具有渦輪分子幫浦和升壓幫浦的質譜檢漏器 - Google Patents
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Abstract
質譜檢漏器包含一多級渦輪分子幫浦(12)、連接多級渦輪分子幫浦(12)的抽吸側的一質量光譜儀(17)、連接多級渦輪分子幫浦(17)的加壓側的一後段幫浦(18)以及一升壓幫浦級(24)。升壓幫浦級(24)的抽吸側具有一待測試的測試對象的一連接器 (28)，加壓側透過一氣體連通路徑(22)連接至多級渦輪分子幫浦(12)的加壓側以及後段幫浦(18)的抽吸側。質譜檢漏器的特徵在於多級渦輪分子幫浦(12)的多個幫浦級(30, 32)和升壓幫浦級排列在一共同的幫浦軸上以及共享一共同的傳動裝置(34)，一分隔物(36)阻斷適於連接至測試對象的升壓幫浦級的加壓側與多級渦輪分子幫浦級(12)連接至質量光譜儀(17)的幫浦級的抽吸側之間的氣體連通路徑。
Description
本發明係關於一種具有一多級渦輪分子幫浦和一升壓幫浦的質譜檢漏器。
一般來說，在一質譜檢漏器中，會利用多級渦輪分子幫浦對一測試對象或環繞測試對象的一測試腔進行抽真空，並且會供應氣流至一質量光譜儀，以分析擷取出的氣體。在此情況下，所有擷取出的氣體中只有部分的氣體會被供應至質量光譜儀。例如在德國申請專利DE19735250A1就有對這樣的質譜檢漏器進行論述。一般來說，會使用氦氣作為測試氣體來進行洩漏偵測。
更進一步地得知提供一升壓幫浦至這樣的質譜檢漏器連接至測試對象或測試腔的氣體連通路徑，以實現對測試對象或測試腔進行快速的抽真空、更高的靈敏度以及更快速的反應時間。美國申請專利US20060280615A1中針對這樣的質譜檢漏器進行描述。質量光譜儀藉由一兩級式的渦輪分子幫浦連接至一後段幫浦，兩級式的渦輪分子幫浦的幫浦級排列在同一個幫浦軸上。在氣體連通路徑中設置一升壓幫浦，而此氣體連通路徑適於連接至測試對象。此時，升壓幫浦的抽吸側連接至測試對象，而升壓幫浦的加壓側連接至多級渦輪分子幫浦的兩個幫浦級之間的一中間氣體入口，甚至連接至多級渦輪分子幫浦與後段幫浦之間的氣體連通路徑。每一個氣體連通路徑具有一對應的閥門。
在傳統具有升壓幫浦的質譜檢漏器中，特別重要的是，升壓幫浦自備傳動裝置且這個傳動裝置一般設置在升壓幫浦的加壓側。因此，升壓幫浦的傳動裝置會透過多級渦輪分子幫浦的中間氣體入口連接至質量光譜儀以級量測路徑，以進行氣體分析。升壓幫浦的傳動裝置會解此影響量測路徑，並且影響質量光譜儀的分析。例如，氦氣會累積在升壓幫浦的傳動裝置，並且藉由量測路徑進入質量光譜儀，因而影響量測結果。
再者，例如從歐盟專利EP0344345A1可知，質譜洩漏偵測裝置設置有排列在同一個幫浦軸上的多個幫浦級。這些幫浦級的傳動裝置則是排列在幫浦軸的低壓端上，因此在質量光譜儀側。這可類推至幫浦軸的軸承。此外，累積在幫浦傳動裝置或幫浦軸的軸承中的氦氣會藉由量測中的幫浦軸進入質量光譜儀中，進而影響了量測結果。
本發明的其中一個目的在於，提供一改良型質譜檢漏器，此質譜檢漏器具有一多級渦輪分子幫浦(TMP)以及一升壓幫浦，在質譜檢漏器中，由於多級渦輪分子幫浦的傳動裝置有可能會被氦氣影響，因此盡可能地與質量光譜儀實際隔開。
本發明的質譜檢漏器是以請求項1的特徵定義。
根據上述，多級渦輪分子幫浦的幫浦級與升壓幫浦可排列在一共同的幫浦軸上並且共享一共同的傳動裝置。這裡的升壓幫浦可為一多級真空幫浦的其中一個幫浦級，多級真空幫浦也包含多級渦輪分子幫浦的幫浦級。在升壓幫浦級的抽吸側上，提供用以連接測試對象的一連接器。在此情況下，連接測試對象的連接器也是指容納測試對象的一測試腔的連接器。升壓幫浦級的加壓側透過一氣體連通路徑連接至多級渦輪分子幫浦的加壓側以及後段幫浦的抽吸側。
為了避免提供給多級渦輪分子幫浦的幫浦級與升壓幫浦的幫浦軸的傳動裝置影響質量光譜儀的量測路徑，位於升壓幫浦的加壓側與多級渦輪分子幫浦的幫浦級連接至質量光譜儀的抽吸側之間的氣體連通路徑是以設置一分隔物的方式阻斷。如此一來，來自傳動裝置所累積的氣體或其他汙染物就不會跑進質量光譜儀內。
所述的分隔物可為一密封物，此密封物會封閉對應的氣體連通路徑。由於氣體連通路徑是透過幫浦軸從升壓幫浦級引導到質量光譜儀，因此位於幫浦軸上的此密封物必須能讓幫浦軸的扭轉力穿越。此目的可例如藉由一磁性流體密封物來達成，磁性流體密封物會透過一封閉牆形成一氣體密封物，並且透過此封閉牆，幫浦軸的扭轉力便可靠磁性傳遞。在封閉牆的兩側會有含鐵粒子的液體。有被驅動的幫浦軸的牆邊上的鐵粒子會被此幫浦軸帶動而旋轉。旋轉中的鐵粒子的磁力會透過封閉牆作用在封閉牆另一側的液體內的鐵粒子上，使其旋轉，藉此在封閉牆在那一側的幫浦軸段也會跟著轉動。沒有氣體會沿著幫浦軸從封閉牆的一側穿越至另一側。
另一種類型的分隔物也可藉由一分隔幫浦級來實現，此分隔幫浦級的抽吸側連接至質量光譜儀，而加壓側則連接至升壓幫浦級的加壓側以及多級渦輪分子幫浦中連接至質量光譜儀的幫浦級的加壓側。因此，分隔幫浦級如同升壓幫浦級與連接至質量光譜儀的幫浦級之間的其他幫浦級一樣是設置在相同的幫浦軸上。分隔幫浦級可例如根據Holweck或Gaede原理設計成一分子幫浦級，或者也可設計成一渦輪分子幫浦級。在這點上，一分子幫浦級可實現相當高的壓縮率。
尤其是多級渦輪分子幫浦可由一雙級式設計來形成。跟多級渦輪分子幫浦的兩個幫浦級一樣位於相同幫浦軸上的升壓幫浦會與這兩個幫浦級一起形成一三級式真空幫浦。就一分隔幫浦級設置在相同幫浦軸上的升壓幫浦級與多級渦輪分子幫浦之間的例子而言，大體上會形成一四級式真空幫浦，並且每一個幫浦級會藉由相同的幫浦軸被相同的傳動裝置帶動。
所述共同的幫浦傳動裝置較佳地是設置在坐落在多級渦輪分子幫浦的幫浦級與後段幫浦之間多級渦輪分子幫浦的末端，也就是在多級渦輪分子幫浦的加壓側上。
在多級渦輪分子幫浦的壓力側末端的幫浦級可為一分子幫浦級或一Holweck級。多級渦輪分子幫浦有至少一個渦輪分子幫浦級。有利的是，升壓幫浦級可設計成一渦輪分子幫浦級，以達到針對氦氣的高抽吸能力的目的。
本發明是基於提供一質譜檢漏器的構思，此質譜檢漏器具有一多級渦輪分子幫浦和一升壓幫浦級。在質譜檢漏器內，所有的幫浦級只設置在同一個幫浦軸上，並且只由同一個傳動裝置帶動。因此，所述質譜檢漏器的結構可更具經濟效益，並且在技術上簡化。為了防止如此的多級幫浦配置的傳動裝置影響質量光譜儀，而導致量測結果受影響，可以在升壓幫浦級與連接至質量光譜儀的幫浦級之間的氣體連通路徑上設置一分隔物。
以上之關於本揭露內容之說明及以下之實施方式之說明係用以示範與解釋本發明之精神與原理，並且提供本發明之專利申請範圍更進一步之解釋。
以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點，但非以任何觀點限制本發明之範疇。
圖1為現有技術的質譜檢漏器的示意圖。質譜檢漏器具有一多級渦輪分子幫浦12。多級渦輪分子幫浦12的抽吸側透過一氣體連通路徑14連接至一質量光譜儀17，多級渦輪分子幫浦12的加壓側透過一氣體連通路徑16連接至一後段幫浦18的抽吸側。多級渦輪分子幫浦12具有一中間氣體連接器20，中間氣體連接器20透過另一氣體連通路徑22連接至一升壓幫浦24的加壓側。在抽吸側，也是作為渦輪分子幫浦的升壓幫浦24會透過一氣體連通路徑26連接到一待測試的測試對象的一連接器28或者連接到容納此測試對象的一測試腔(測試腔)。多級渦輪分子幫浦12為雙級式設計，具有一渦輪分子幫浦級30和一分子幫浦級32。多級渦輪分子幫浦級30和分子幫浦級32坐落在相同的一幫浦軸(未繪示在圖1中)上，並且被相同的一幫浦傳動裝置34帶動。幫浦傳動裝置34設置在多級渦輪分子幫浦12的加壓側，亦即位於分子幫浦級32的加壓側與後段幫浦18的抽吸側之間。中間氣體連接器20將升壓幫浦24的加壓側連接至多級渦輪分子幫浦級30的加壓側以及分子幫浦級32的抽吸側。升壓幫浦24的傳動裝置35直接位於來自測試對象28的連接線22和26的量測路徑上，藉此在抽吸的過程中，空氣中氦氣會累積在傳動裝置35內，使得在達到低壓條件後累積的氦氣會緩慢地溢出，而在量測過程中進入質量光譜儀中。
圖2呈現一實施例以描繪本發明的基本原理。本發明的基本構思是要將升壓幫浦24設計成多級渦輪分子幫浦12的另一幫浦級。在此情況下，升壓幫浦級24會設置在相同的幫浦軸上，作為多級渦輪分子幫浦12的多級渦輪分子幫浦級30和分子幫浦級32。升壓幫浦級24跟這兩個幫浦級30和32一樣被預真空範圍內的幫浦傳動裝置24帶動。
為了盡可能地確保能盡速預備好量測，質量光譜儀17內的壓力必須低於測試對象內的壓力。然而，由於升壓幫浦24會朝向其出口側對測試對象施加壓力，因此在多級渦輪分子幫浦級30的抽吸側與升壓幫浦級24的加壓側之間可設置所述氣體連通路徑的一分隔物36，以阻斷兩者間的氣體連通路徑。分隔物36可為如圖2所示的兩個呈波形的連接線，並且也可透過其他不同的方式獲得。
未繪示於圖示中的第一變形實施態樣是涉及一氣體密封物，此氣體密封物在升壓幫浦級24與多級渦輪分子幫浦級30之間環繞幫浦軸，並且可讓扭轉力沿著幫浦軸從傳動裝置34傳遞至升壓幫浦級24。這個目的可例如利用一磁性流體密封物來實現。在磁性流體密封物中，藉由使懸浮在液體內的鐵粒子旋轉，使扭轉力藉由磁力穿越一封閉牆。
或者，分隔物36也可利用如圖3和圖4所示的分隔幫浦級38來實現。在此情況下，分隔幫浦級38的抽吸側連接至氣體連通路徑14，氣體連通路徑14將質量光譜儀17連接至多級渦輪分子幫浦級30的抽吸側。分隔幫浦級38的加壓側連接至氣體連通路徑22，氣體連通路徑22將升壓幫浦級24的加壓側連接至位於兩個幫浦級30和32之間多級渦輪分子幫浦的中間氣體入口20。
圖4描繪本發明所實現的由分隔幫浦級38引起的分隔物36與圖1所示的現有技術的配置之間的差異。
圖3描繪對應圖2所示配置的圖4的實施例，在圖2的配置中，圖2中的分隔物36是由圖4的分隔幫浦級38來實現。幫浦級24係為具有高抽吸能力的純渦輪(turbo)幫浦級。幫浦級38和30設計成可提供至少10、最大100的中等程度的壓縮(針對水蒸氣)。這兩個幫浦級38和30的其中一個也可設計成具有極高壓縮能力的一分子幫浦級；由於幫浦級38只用來形成分隔物36，因此較佳地是將幫浦級38設計成分子幫浦級，而另一個幫浦級30則是為了達到逆流功能(counter current function)而使用。
氣體連通路徑22為旁通連接線(bypass line)，此旁通連接線將幫浦級24的出口連接至幫浦級32的入口。幫浦級32可設計成純螺桿幫浦級或在入口有一或多個渦輪幫浦級的螺桿幫浦級，以盡可能地將質量光譜儀17與傳動裝置34隔開。測試對象28的一額外連接器39可設置在圖3所示的幫浦級32中，或者也可設置在幫浦級30和32之間。這取決於幫浦級32的抽吸能力以及幫浦級38和30的耐壓程度。
關於圖3的實施例，圖5的實施例補充了閥門V1~V6，以操作質譜檢漏器。
首先，後段幫浦18透過閥門V5對連接到連接器28的測試對象抽真空至約15毫巴(millibar，mbar)。此後，用來偵測大量洩漏的閥門V4會打開，以進行洩漏偵測。測試氣體的原子靠幫浦級32、38和30的壓縮到達質量光譜儀17，並且這些原子會在幫浦級32、38和30所在處被偵測。當連接器28上的測試對象以小於2毫巴的壓力值p2排空時，閥門V3會切換至更靈敏的入口，而閥門V3所切換到的更靈敏的入口會通向幫浦級32。在幫浦級32的中間入口設置閥門V3。作為替代或此外，幫浦級32和38可設置另外的中間連接器，以便於在適當的壓力條件下繞過部分的個別幫浦級，藉此提高靈敏度。
如果壓力值掉到0.1毫巴的壓力值p1以下，則可透過閥門V1切換至更靈敏的操作模式，同時關閉閥門V5。現在，高抽吸能力的升壓幫浦24可作用在入口28上，對訊號反應時間有正面的效應，同時幫浦級24的壓縮動作會使氦氣分壓疊積在連接線22，進而使質量光譜儀17的訊號上升。現在，對質譜檢漏器的偵測限制來說，幫浦級32的抽吸能力和幫浦級38和30的壓縮動作是個關鍵。
雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內，所為之更動與潤飾，均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。
12‧‧‧多級渦輪分子幫浦
14‧‧‧氣體連通路徑
16‧‧‧氣體連通路徑
17‧‧‧質量光譜儀
18‧‧‧後段幫浦
20‧‧‧中間氣體連接器
22‧‧‧氣體連通路徑
24‧‧‧升壓幫浦級
26‧‧‧氣體連通路徑
28‧‧‧連接器
30、32‧‧‧幫浦級
34‧‧‧傳動裝置
35‧‧‧傳動裝置
36‧‧‧分隔物
38‧‧‧分隔幫浦級
39‧‧‧額外連接器
p1‧‧‧壓力值
V1~V5‧‧‧閥門
14‧‧‧氣體連通路徑
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17‧‧‧質量光譜儀
18‧‧‧後段幫浦
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24‧‧‧升壓幫浦級
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39‧‧‧額外連接器
p1‧‧‧壓力值
V1~V5‧‧‧閥門
圖1說明現有技術中傳統的配置。 圖2呈現本發明一實施例的示意圖。 圖3呈現圖2的配置的另一實施例。 圖4呈現圖3實施例的示意圖，此示意圖相似於圖1。 圖5呈現另一實施例中利用閥門控制抽吸/量測的週期。
12‧‧‧多級渦輪分子幫浦
14‧‧‧氣體連通路徑
16‧‧‧氣體連通路徑
17‧‧‧質量光譜儀
18‧‧‧後段幫浦
20‧‧‧中間氣體連接器
22‧‧‧氣體連通路徑
24‧‧‧升壓幫浦級
26‧‧‧氣體連通路徑
28‧‧‧連接器
30、32‧‧‧幫浦級
34‧‧‧傳動裝置
36‧‧‧分隔物
38‧‧‧分隔幫浦級
39‧‧‧額外連接器
Claims (10)
- 一種質譜檢漏器，包含：一多級渦輪分子幫浦；一質量光譜儀，連接至該多級渦輪分子幫浦的抽吸側；一後段幫浦，連接至該多級渦輪分子幫浦的加壓側；以及一升壓幫浦級，該升壓幫浦級的抽吸側具有給待測試的一測試對象的一連接器，該升壓幫浦級的加壓側經由一氣體連通路徑連接至該多級渦輪分子幫浦的加壓側與該後段幫浦的抽吸側；其中，該多級渦輪分子幫浦的多個幫浦級和該升壓幫浦級排列在同一個幫浦軸上並且共享同一個傳動裝置；以及一分隔物，阻斷適於連接至該測試對象的該升壓幫浦級的加壓側與連接至該質量光譜儀的該多級渦輪分子幫浦的該些幫浦級的抽吸側之間的該氣體連通路徑。
- 如請求項1所述的質譜檢漏器，其中該多級渦輪分子幫浦由一雙級式設計製成。
- 如請求項1所述的質譜檢漏器，其中該多級渦輪分子幫浦的該些幫浦級與該升壓幫浦級共同形成一真空幫浦。
- 如請求項1所述的質譜檢漏器，其中該傳動裝置設置在該多級渦輪分子幫浦的末端，該多級渦輪分子幫浦的末端坐落在該些幫浦級與該後段幫浦之間。
- 如請求項1所述的質譜檢漏器，其中該多級渦輪分子幫浦的其中一該幫浦級為一分子幫浦級，該多級渦輪分子幫浦包含至少一渦輪分子幫浦級。
- 如請求項1所述的質譜檢漏器，其中該升壓幫浦級為一渦輪分子幫浦級。
- 如請求項1所述的質譜檢漏器，其中該分隔物是一密封物，該密封物封閉沿著該幫浦軸的該氣體連通路徑，該幫浦軸的扭轉力會穿越該密封物。
- 如請求項7所述的質譜檢漏器，其中該密封物是由一磁性流體密封物。
- 如請求項1所述的質譜檢漏器，其中該分隔物是由一分隔幫浦級形成，該分隔幫浦級的抽吸側連接至該質量光譜儀，該分隔幫浦級的加壓側連接至該升壓幫浦級的加壓側以及連接至該質量光譜儀的該多級渦輪分子幫浦的該幫浦級的加壓側。
- 如請求項9所述的質譜檢漏器，其中該分隔幫浦級為一分子幫浦級或一渦輪分子幫浦級。
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