TW201722817A - 具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置 - Google Patents

Abstract

揭示一種具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，包含一基座、一蓋板以及一靜電吸附裝置。基座之一側邊具有一導料缺口。蓋板連接於基座並結合有複數個模組導條，模組導條包含一導入導條、複數個外圈導條以及一排出導條。靜電吸附裝置固設於基座並具有一輔助待測元件排列導出之吸附條，其位於導料缺口之下方。當蓋板為蓋合狀態時，吸附條對準於排出導條，以使待測元件依靠排出導條之一整列側面的方式逐一載入至一測試轉盤，藉以改善待測被動元件在載入至測試轉盤時的震動位移現象，以解決待測元件在測試轉盤上排列不整齊之問題。

Description

具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置

本發明係有關於被動元件的入料排列供給裝置，特別係有關於一種具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置。

習知被動元件與微小化電子元件應先進行外觀檢測，方可以接合到電路板。而為了加速測試效率，有人提出待測被動元件可以整列排列在一測試轉盤上，利用測試轉盤的轉動，進行多道測試與分類工序。而待測被動元件的整列排列係藉由入料排列供給裝置的轉載。然而，隨著元件微小化發展趨勢，待測被動元件更容易受到轉載的震動位移，如何將待測被動元件精準且快速地整列排列在測試轉盤上變成一個嚴肅的課題。

傳統的被動元件的入料排列供給裝置主要區別為兩種，分別為直軌震動整列式與雙轉盤整列式。一種習知直軌震動整列式入料排列供給裝置已揭示於本國發明專利公告編號I433804揭示一種「工件供給裝置」，其係具有工件環繞路和工件輸送路的輸送碗，以及使輸送碗繞軸線進行往復震動的旋轉震動機。工件環繞路係構成為繞軸線閉合的圓環狀且在外周緣具備工件保持面，工件輸送路係構成為從工件環繞路的規定位置朝向外 周側向繞所述軸線的規定方向傾斜地分支並且繞軸線逐漸上昇。通過輸送碗的繞軸線的往復震動，工件在工件環繞路及工件輸送路上朝向所述規定方向移動。當向工件環繞路導入工件時，利用激震體所產生的激震作用，輸送體繞軸線進行往復震動，由此導入的工件在閉合的圓環狀工件環繞路上受到離心力，其被壓抵於外周側的工件保持面且同時沿著規定方向進行環繞。另外，關於雙轉盤整列式入料排列供給裝置，已揭示於本國新型專利公告編號M506133之「元件入料排列供給裝置」與本國發明公開專利201332866之「自動排列供給之外觀檢測機」，將成堆散亂的被動元件經由分散轉盤與蓋板之導條進行分散整理並有次序地轉載導入到測試轉盤上，以供進行被動元件的外觀檢測作業。

為了解決上述之問題，本發明之主要目的係在於提供一種具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，應用於雙轉盤整列式，用以改善待測被動元件在載入至測試轉盤時的震動位移現象，以解決待測元件在測試轉盤上排列不整齊之問題。

本發明的目的及解決其技術問題是採用以下技術方案來實現的。本發明係揭示一種具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，用以裝設於一元件外觀檢測機中而位於一測試轉盤之一側。該元件入料排列供給裝置係包含一基座、一蓋板以及一靜電吸附裝置。該基座上係設有一分料轉盤，該基座之一第一側邊係具有一導料缺口，以使該分料轉盤局部重疊於該測試轉盤 上。該蓋板係連接於該基座，用以蓋合於該分料轉盤上，該蓋板係利用複數個緊迫件結合有複數個模組導條，以使該些模組導條為可拆卸式緊貼於該蓋板之一內表面，其中該些模組導條係包含一導入導條、複數個螺紋狀斷續排列之外圈導條以及一排出導條。該靜電吸附裝置係固設於該基座，該靜電吸附裝置係具有一輔助待測元件排列導出之吸附條，其係位於該導料缺口之下方。其中，當該蓋板為蓋合狀態，該吸附條係對準於該排出導條，以使待測元件依靠該排出導條之一整列側面的方式由該分料轉盤逐一載入至該測試轉盤。

本發明的目的及解決其技術問題還可採用以下技術措施進一步實現。

在前述元件入料排列供給裝置中，該吸附條係可位於該分料轉盤與該測試轉盤之重疊區域之下方且不超出該排出導條之該整列側面。因此，當進行待測元件從該分料轉盤逐一載入至該測試轉盤時，該靜電吸附裝置產生之輔助靜電可藉由該吸附條之所在位置進行指定位置之靜電吸附，並協助待測元件整齊地排列。

在前述元件入料排列供給裝置中，該元件入料排列供給裝置係可另包含一入料裝置，而該蓋板係可更具有一入料口，並在該蓋板之一外表面上結合有一連通該入料口之料斗，以供該入料裝置入料待測元件至該分料轉盤。藉此，可藉由待測被動元件入料至該入料裝置，並經由該入料口之料斗入料至該分料 轉盤。

在前述元件入料排列供給裝置中，該些模組導條係可更包含複數個回流導條，其係可位於該些外圈導條之內側。藉此，可協助剔除排序不良之待測被動元件。

在前述元件入料排列供給裝置中，該蓋板之一第二側邊係可設有一把手。故可藉由該把手可便利地掀翻該蓋板。

在前述元件入料排列供給裝置中，該蓋板係可更具有一裝置孔，並且該蓋板上係可更設置有一入料偵測裝置與一入料分散裝置，該入料分散裝置之一吹散噴嘴係設置對準於該裝置孔中。藉此，可吹散載入轉盤之待測被動元件。

在前述元件入料排列供給裝置中，該蓋板上係可更設置有一第一元件排列不良剔除裝置。藉此，可剔除排序不良之元件。

在前述元件入料排列供給裝置中，該基座係可設置有一第二元件排列不良剔除裝置，其係鄰近於該導料缺口。藉此，可剔除排序不良之元件。

在前述元件入料排列供給裝置中，該分料轉盤係可為一導電薄膜，該測試轉盤係可為一玻璃片。藉此，該分料轉盤係可為具有高導電功能之轉盤且該測試轉盤係可為具有低導電功能之轉盤。

在前述元件入料排列供給裝置中，較佳地該排出導條係連接有一抽氣管，其係導通至一位在該排出導條之底面之吸 附孔，以使待測元件在導出該分料轉盤之過程中更能依靠於該排出導條之該整列側面。

藉由上述的技術手段，本發明可以藉由吸附條之靜電輔助排列待測被動元件，使待測被動元件整齊排列，用以改善待測被動元件在載入至測試轉盤時的震動位移現象，以解決待測元件在測試轉盤上排列不整齊之問題。

10‧‧‧元件外觀檢測機

11‧‧‧測試轉盤

100‧‧‧元件入料排列供給裝置

110‧‧‧基座

111‧‧‧第一側邊

112‧‧‧導料缺口

120‧‧‧蓋板

121‧‧‧內表面

122‧‧‧外表面

123‧‧‧緊迫件

124‧‧‧入料口

125‧‧‧料斗

126‧‧‧第二側邊

127‧‧‧把手

128‧‧‧裝置孔

129‧‧‧結合孔

130‧‧‧分料轉盤

131‧‧‧重疊區域

140‧‧‧模組導條

141‧‧‧導入導條

142‧‧‧外圈導條

143‧‧‧排出導條

144‧‧‧整列側面

145‧‧‧回流導條

146‧‧‧剔除導條

147‧‧‧抽氣管

148‧‧‧吸附孔

150‧‧‧靜電吸附裝置

151‧‧‧吸附條

152‧‧‧固定件

160‧‧‧入料裝置

161‧‧‧送料軌道

162‧‧‧旋轉台

163‧‧‧集料漏斗

170‧‧‧入料偵測裝置

180‧‧‧入料分散裝置

181‧‧‧吹散噴嘴

191‧‧‧第一元件排列不良剔除裝置

192‧‧‧第二元件排列不良剔除裝置

193‧‧‧元件排列偵測裝置

第1圖：依據本發明之一具體實施例，一種具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置裝設於一元件外觀檢測機之立體示意圖。

第2圖：依據本發明之一具體實施例，該元件入料排列供給裝置之立體示意圖。

第3圖：依據本發明之一具體實施例，該元件入料排列供給裝置與對應測試轉盤在俯視角度之透視示意圖。

第4圖：依據本發明之一具體實施例，該元件入料排列供給裝置在掀翻蓋板狀態及其對應測試轉盤之立體示意圖。

第5圖：依據本發明之一具體實施例，該元件入料排列供給裝置在其排出導條處之局部側視圖。

第6圖：依據本發明之一具體實施例，繪示該元件入料排列供給裝置之一靜電吸附裝置裝設位置之局部放大立體圖。

以下將配合所附圖示詳細說明本發明之實施例，然應注意的是，該些圖示均為簡化之示意圖，僅以示意方法來說明本發明之基本架構或實施方法，故僅顯示與本案有關之元件與組合關係，圖中所顯示之元件並非以實際實施之數目、形狀、尺寸做等比例繪製，某些尺寸比例與其他相關尺寸比例或已誇張或是簡化處理，以提供更清楚的描述。實際實施之數目、形狀及尺寸比例為一種選置性之設計，詳細之元件佈局可能更為複雜。

依據本發明之一具體實施例，如第1圖所示，一種具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置100可裝設於一元件外觀檢測機10，而位於一測試轉盤11之一側，該元件外觀檢測機10係更包含複數個檢測站與至少一分類匣，其係排列在該測試轉盤11之周邊(圖中未繪出)，該測試轉盤11係用以承載整列排列的待測被動元件進行測試。該元件入料排列供給裝置100舉例說明於第2圖之立體示意圖，該元件入料排列供給裝置100係包含一基座110、一蓋板120以及一靜電吸附裝置150。第3圖係為該元件入料排列供給裝置100與對應測試轉盤11在俯視角度之透視示意圖，第4圖係為該元件入料排列供給裝置100在掀翻該蓋板120之狀態及其對應測試轉盤11之立體示意圖。第5圖係為該元件入料排列供給裝置100在其排出導條143處之局部側視圖，第6圖係繪示該元件入料排列供給裝置100之該靜電吸附裝置150裝設位置之局部放大立體圖。

請參閱第1至4圖，該基座110上係設有一分料轉盤 130，其係利用一轉軸帶動旋轉。該基座110係具有一第一側邊111，其係供待測被動元件由該分料轉盤130轉載到該元件外觀檢測機10之一測試轉盤11的側邊。該第一側邊111係具有一導料缺口112，以使該分料轉盤130局部重疊於該元件外觀檢測機10之該測試轉盤11上。複數個待測被動元件係可在該分料轉盤130上旋轉並進行分散整列排列。該分料轉盤130在該導料缺口112處係局部重疊在該測試轉盤11，使得排列好的待測被動元件可轉載至該測試轉盤11，以進行外觀檢測。而該測試轉盤11之周邊係另可裝設一入料感應機構在該些檢測站與元件載入區之間。在本實施例中，該分料轉盤130係可為一導電薄膜，該測試轉盤11係可為一玻璃片。藉此，該分料轉盤130係可為具有高導電功能之軟轉盤且該測試轉盤11係可為具有低導電功能之硬轉盤，使得該分料轉盤130可局部疊壓於該測試轉盤11，以降低元件轉載的高度差。該分料轉盤130之平均厚度係可為1.7毫米且該測試轉盤11之平均厚度係可大於該分料轉盤130之平均厚度。

請參閱第2至4圖，該蓋板120係連接於該基座110，用以蓋合於該分料轉盤130上，可利用單側樞接關係連接該蓋板120與該基座110。在本實施例中，該蓋板120之一第二側邊126係可設有一把手127。故可藉由該把手127可便利地掀翻該蓋板120。該蓋板120係利用複數個緊迫件123以貫穿該蓋板120之複數個結合孔129之方式而結合有複數個模組導條140，該些緊迫件123係可為螺桿，其桿長係超過該蓋板120之厚度，而該些模組導 條140係具有對應螺孔或固定螺帽。因此，該些模組導條140為可拆卸式緊貼於該蓋板120之一內表面121。利用位在該蓋板120下且不接觸至該分料轉盤130之該些模組導條140，在該分料轉盤130之旋轉作用下，待測被動元件能為有次序的分散排列成列。更具體地，該些模組導條140係包含一導入導條141、複數個螺紋狀斷續排列之外圈導條142以及一排出導條143，該些模組導條140係可較佳地更包含複數個回流導條145以及一剔除導條146，該些回流導條145以及該剔除導條146係位於該些外圈導條142之內側。藉此，可協助剔除排序不良之待測被動元件。當待測被動元件進入該分料轉盤130時，該導入導條141係可協助待測被動元件在該分料轉盤130上作初步的排列，該些外圈導條142係可協助整齊排列的待測被動元件由該分料轉盤130載入該測試轉盤11，而該剔除導條146係可協助排列不良之待測被動元件剔除並使其往該分料轉盤130之內圈移動，該回流導條145係可協助在該分料轉盤130上之排列不良之待測被動元件作回流再排列。

請參閱第1至6圖，該靜電吸附裝置150係固設於該基座110，該靜電吸附裝置150係具有一輔助待測元件排列導出之吸附條151，其係位於該導料缺口112之下方。並以一單側固設於該基座110之固定件152以夾合的方式固定該吸附條151，使其不貼觸該測試轉盤11(如第5圖所示)。

請參閱第3與5圖，當該蓋板120為蓋合狀態，該吸附條151係對準於該排出導條143，以使待測元件依靠該排出導條 143之一整列側面144的方式由該分料轉盤130逐一載入至該測試轉盤11。較佳地，該吸附條151係可位於該分料轉盤130與該測試轉盤11之一重疊區域131之下方且不超出該排出導條143之該整列側面144。該重疊區域131係為兩個圓形局部重疊的梭形。較佳地，該排出導條143之外端係可超出該重疊區域131。因此，當進行待測元件從該分料轉盤130逐一載入至該測試轉盤11時，該靜電吸附裝置150產生之輔助靜電可藉由該吸附條151之所在位置進行指定位置之靜電吸附，以協助待測元件整齊地排列。

更具體地，請參閱第1至4圖，該元件入料排列供給裝置100係可另包含一入料裝置160，而該蓋板120係可更具有一入料口124(如第2圖所示)，並在該蓋板120之一外表面122上結合有一連通該入料口124之料斗125，以供該入料裝置160入料待測元件至該分料轉盤130。由該入料裝置160上之一集料漏斗163可倒入待測被動元件，利用該入料裝置160上之一旋轉台162轉動，使得該入料裝置160之一送料軌道161之送料出口對準該料斗125，待測被動元件可經由該送料軌道161送達至該料斗125。藉此，可藉由待測被動元件入料至該入料裝置160，並經由該入料口124之料斗125入料至該分料轉盤130。

請參閱第2圖，該蓋板120係可更具有一裝置孔128，並且該蓋板120上係可更設置有一入料偵測裝置170與一入料分散裝置180，該入料分散裝置180之一吹散噴嘴181係設置對準於該裝置孔128中。藉此，可吹散載入該分料轉盤130之待測被 動元件。當該分料轉盤130上待測被動元件數量不足時，將被該入料偵測裝置170偵測到不足狀態，並提供一送料啟動訊號予該入料裝置160，藉以驅動該旋轉台162之轉動以及該送料軌道161之作動。該入料分散裝置180之一吹散噴嘴181係設置對準於該裝置孔128中，該吹散噴嘴181係可為恆吹常駐之狀態。藉此，可吹散已載入該分料轉盤130且成團之待測被動元件。請參閱第2及3圖，該蓋板120之該上外表面122上係較佳地更設置有一第一元件排列不良剔除裝置191。藉此，可剔除排序不良之待測被動元件。

此外，請參閱第2至4圖，該基座110係可設置有一第二元件排列不良剔除裝置192，其係鄰近於該導料缺口112。該基座110另設置一元件排列偵測裝置193。藉由該元件排列偵測裝置193所偵測出之排序不良之待測被動元件，可令該第二元件排列不良剔除裝置192剔除排序不良之待測被動元件。

因此，本發明可以藉由該吸附條151之靜電輔助排列待測被動元件，使得由該分料轉盤130導出之待測被動元件整齊排列地依靠於該排出導條143之該整列側面144，直到待測被動元件轉載至該測試轉盤11上，而該排出導條143係可懸空於該分料轉盤130，用以改善待測被動元件在載入至該測試轉盤11時的震動位移現象，以解決待測元件在該測試轉盤11上排列不整齊之問題。

較佳地，該排出導條143係連接有一抽氣管147，其係導通至一位在該排出導條143之底面之吸附孔148，以使待測元件在導出該分料轉盤130之過程中更能依靠於該排出導條143之 該整列側面144。

以上所揭露的僅為本發明較佳實施例而已，當然不能以此來限定本發明之權利範圍，因此依本發明權利要求所作的等效變化，仍屬本發明所涵蓋的範圍。

11‧‧‧測試轉盤

100‧‧‧元件入料排列供給裝置

110‧‧‧基座

111‧‧‧第一側邊

112‧‧‧導料缺口

120‧‧‧蓋板

126‧‧‧第二側邊

127‧‧‧把手

130‧‧‧分料轉盤

131‧‧‧重疊區域

140‧‧‧模組導條

141‧‧‧導入導條

142‧‧‧外圈導條

143‧‧‧排出導條

144‧‧‧整列側面

145‧‧‧回流導條

146‧‧‧剔除導條

150‧‧‧靜電吸附裝置

151‧‧‧吸附條

152‧‧‧固定件

160‧‧‧入料裝置

161‧‧‧送料軌道

162‧‧‧旋轉台

163‧‧‧集料漏斗

192‧‧‧第二元件排列不良剔除裝置

193‧‧‧元件排列偵測裝置

Claims (10)

1. 一種具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，用以裝設於一元件外觀檢測機中而位於一測試轉盤之一側，該元件入料排列供給裝置係包含：一基座，該基座上係設有一分料轉盤，該基座之一第一側邊係具有一導料缺口，以使該分料轉盤局部重疊於該測試轉盤上；一蓋板，係連接於該基座，用以蓋合於該分料轉盤上，該蓋板利用複數個緊迫件係結合有複數個模組導條，以使該些模組導條為可拆卸式緊貼於該蓋板之一內表面，其中該些模組導條係包含一導入導條、複數個螺紋狀斷續排列之外圈導條以及一排出導條；以及一靜電吸附裝置，係固設於該基座，該靜電吸附裝置係具有一輔助待測元件排列導出之吸附條，其係位於該導料缺口之下方；其中，當該蓋板為蓋合狀態，該吸附條係對準於該排出導條，以使待測元件依靠該排出導條之一整列側面的方式由該分料轉盤逐一載入至該測試轉盤。
2. 如申請專利範圍第1項所述之具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，其中該吸附條係位於該分料轉盤與該測試轉盤之重疊區域之下方且不超出該排出導條之該整列側面。
3. 如申請專利範圍第1項所述之具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，另包含一入料裝置，而該蓋板係更具有一入 料口，並在該蓋板之一外表面上結合有一連通該入料口之料斗，以供該入料裝置入料待測元件至該分料轉盤。
4. 如申請專利範圍第1項所述之具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，其中該些模組導條係更包含複數個回流導條，其係位於該些外圈導條之內側。
5. 如申請專利範圍第1項所述之具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，其中該蓋板之一第二側邊係設有一把手。
6. 依據申請專利範圍第1項所述之具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，其中該蓋板係更具有一裝置孔，並且該蓋板上係更設置有一入料偵測裝置與一入料分散裝置，該入料分散裝置之一吹散噴嘴係設置對準於該裝置孔中。
7. 依據申請專利範圍第6項所述之具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，其中該蓋板上係更設置有一第一元件排列不良剔除裝置。
8. 依據申請專利範圍第7項所述之具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，其中該基座係設置有一第二元件排列不良剔除裝置，其係鄰近於該導料缺口。
9. 依據申請專利範圍第1項所述之具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，其中該分料轉盤係為一導電薄膜，該測試轉盤係為一玻璃片。
10. 如申請專利範圍第1至9項任一項所述之具有靜電輔助排列之元件入料排列供給裝置，其中該排出導條係連接有一抽氣管，其係導通至一位在該排出導條之底面之吸附孔。