TW201618932A - 共擠製機、單層擠製機和改裝套組以及用於層厚測定的方法、用於製造塑膠膜層的方法以及用於擠製機改裝的方法 - Google Patents

Abstract

本發明係有關於一種共擠製機、一種單層擠製機、一種改裝套組以及一種用於層厚測定的方法、用於製造塑膠膜層的方法以及用於擠製機改裝的方法。 先前技術中已揭露過，在擠出機上將形式為螢光顆粒之偵測劑送入起始材料，以便測定膜層複合體中之用該起始材料製成之層的層厚。 本發明提出，在擠出機之相對側方饋入偵測劑。此舉大幅縮短偵測劑穿過設備的時間，從而更快地測定生產參數的變化。

Description

共擠製機、單層擠製機和改裝套組以及用於層厚測定的方法、用於製造塑膠膜層的方法以及用於擠製機改裝的方法 發明領域

本發明係有關於一種共擠製機、一種單層擠製機和一種改裝套組以及一種用於層厚測定的方法、用於製造塑膠膜層的方法以及用於擠製機改裝的方法。

發明背景

塑膠膜層之擠製係常見工藝且久經考驗。利用擠出機來對起始材料(通常為塑膠顆粒)進行塑化處理，即進行輸送、熔化、攪拌及施壓。透過一輸送裝置將所產生之塑膠熔體自擠出機輸送至擠製塊，最後在該擠製塊中，在採用吹塑膜層法時通常實施為寬縫噴嘴或圓形噴嘴之擠製工具自該塑膠熔體來成型一膜層。透過持續拉伸，該熔體狀膜層進入一冷卻區域，並可在例如一冷卻輥(實踐中常被稱作Chill Roll)上，或者採用吹塑膜層法藉由若干冷卻裝置(如空氣冷卻環)，而凝固。

該起始材料(熱塑性塑膠)通常除用來製造單層膜層外，亦用來製造多層式膜層複合體。

通常使用共擠接頭來製造層。EP 2 332 714 A1 揭露過此種共擠接頭。

為測定所製成之複合體中的層厚，US 7,858,953 B2提出，對螢光奈米粒子與其餘起始材料(如塑膠顆粒)一起進行塑化處理。隨後可藉由一白光干涉儀來測定此類粒子，以便算出層厚。

發明概要

本發明之目的在於，提供一種針對先前技術之替代方案或者改進方案。

根據本發明的第一態樣，本發明用以達成上述目的之解決方案為一種共擠製機，用於製造一包含多個各具一定層厚之層的塑膠膜層複合體，該共擠製機包含若干擠出機、一共擠塊及一自該等擠出機至該共擠塊的輸送裝置，其中設有一用於對一第一起始材料進行塑化處理的第一擠出機以及一用於對一第二起始材料進行塑化處理的第二擠出機，其中設有一偵測劑添加裝置，其備設成，添加一偵測劑以便將其送入一層，且其中在該共擠塊中及/或在該共擠塊之沿機器方向相對側上設有一偵測裝置，其備設成，藉由所偵測之偵測劑來測定層厚，其中該共擠製機之特徵在於，該偵測劑添加裝置沿機器方向設置在該等擠出機之相對側上。

下面對相關的術語進行闡述：“共擠製機”係指製造塑膠膜層複合體所需之設備的一部分或者整個設備。亦即，設備亦可包含更多工位， 如研光機或繞線器。而就最低程度而言，該共擠製機僅包含通向共擠塊之輸送裝置以及該共擠塊本身，因為在此種設備部分已具有擠出機的情況下，其亦能出售給顧客。

特定言之，該塑膠膜層複合體在脫離該擠製工具時可實施為平面膜層或膜層管。

擠出機已久為人知，本文不再贅述。

“共擠塊”通常由一共擠接頭及該最終之鑄造工具構成。共擠接頭用來將通常源於相應多個擠出機的多個熱塑性材料聚集在一起。在此過程中，在該共擠接頭中將該等熱塑性材料作為熱塑性熔體以期望之層結構相疊導引，再輸入該擠製工具，以便製造該多層式複合體。通常設有一針對中央層的中央通道，經由該等共擠通道輸入之熱塑性材料透過其餘通道而外側佈置。

該“偵測劑添加裝置”必須能夠以與該“偵測裝置”進行共同作用的方式送入一適合的“偵測劑”。為此，通常需要使得該偵測劑充分地分佈在塑膠中，即達到儘可能均勻的效果。“機器方向”係指起始材料及其熔體穿過該設備直至形成鑄成之膜層的流動方向。

本文所提出之佈置方案“擠出機之相對側”表示，將偵測劑送入流出擠出機之該經塑化處理的熔體時的位置。流出擠出機與進入共擠塊(即進入該共擠塊之共擠接頭)之間的整個區域稱作“輸送裝置”。該輸送裝置中通常設有若干固定式通道。

儘管本文所提出之佈置方案看上去有些過於繁 瑣：偵測劑已在料斗中與顆粒一起被送入擠出機，故其自動非常均勻地分佈在熔體中。而採用本文所提出之在未來進行送入後，通常需要增設一攪拌裝置。但該佈置方案實現了一項顯著優點：在即將進入擠製工具前送入偵測劑，從而縮短了偵測劑自送入點流至鑄成之膜層所需的時間。藉此便能在生產參數發生變化時更快地實施測定。

無論如何，例如在將起始材料送入或注入擠出機之相關情況發生變化時，該方法尤為有利。因為若需進行非連續式測定，即定期或不定期地送入偵測劑，則必須自一第一時間點(也就是尚不具足夠之膜層層厚的時間點，即與該膜層層厚相關之生產參數發生變化時)起，進行等待，直至灌入擠出機之偵測劑在該膜層中自該噴嘴離開該工具。在整個中間間隔期間所生產的皆為廢品。

而採用本發明後，便能(例如)在該工具中實施加熱，或者(例如)對共擠塊中的一對層厚施加影響的機械執行元件進行控制，且能在擠出之膜層中發現厚度狀況發生變化前，儘可能縮短偵測劑穿過輸送裝置到達擠製噴嘴的時間。

較佳地，該自該第二擠出機至該共擠塊的輸送裝置具有一分配裝置，其備設成，將源於該擠出機之熔體分配至兩個分離之通道，以便產生兩個由該第二起始材料構成之層。

此處需要指出，本專利申請案中的不定冠詞及數字，如“一...”、“兩個...”等等，一般情況下皆指最小值，即 表示“至少一...”、“至少兩個...”等等，除非上下文或相應措辭註明僅表示“正好一個...”、“正好兩個...”等等。

舉例而言，本發明明確指出，在該共擠製機中存在多個擠出機，如兩個、三個、四個或四個以上擠出機。此外，一(即至少一)擠出機之流動係分配至兩個分離之通道，即分配至至少兩個分離之通道。簡而言之，對至少一擠出機之流動進行分配，使得該共擠工具自單個擠出機之起始材料最終製成多個層。

本發明在此類設備上尤為有利：先前技術無法對源於一擠出機的多種-經分配的-層進行分離式測定。例如在簡單情形下，若需製造具有兩個對稱之外層之中央層，其中該二外層藉由同一起始材料製成因而需要自唯一一個擠出機饋送，則迄今為止無法分別用非接觸式量測裝置對該二外層進行測定。確切言之，先前技術中之干涉儀總是對該二外層之和進行測定並將其反饋。而本發明之主要優點在於，在擠出機後方饋入偵測劑，如此便能在分配至分離之通道後再實施饋入。採用上述方案後，藉由在時間或材料技術方面有所不同的方式將偵測劑送入分開的通道，如此便能對源於同一起始材料乃至同一擠出機之層進行測定。

採用此種配置方案的情況下，即將源於一擠出機之熔體分配至至少兩個分離之通道的情況下，本發明提出，該偵測劑添加裝置設置在該等分離之通道中的一個上且備設成，將該偵測劑加入該通向正好一個層的輸送裝置。

如此便能測定該二層中的一個之厚度。

作為替代方案，亦可有兩個偵測劑添加裝置設置在該等分離之通道中的兩個上且皆備設成，將偵測劑加入該通向正好一個層的輸送裝置。

此處可指同一偵測劑，即使在涉及的是通向兩個或兩個以上源於同一擠出機或者(在任何情況下)源於同一起始材料的兩個或兩個以上輸送裝置時，亦是如此。因為可將該偵測劑以在時間上錯開的方式輸入該等分離之通道，以便交替測定該等層之相應的厚度。

例如在以不同之規定區間或節律將該偵測劑送入不同通道的情況下，亦能實現準連續式測定。該測定儀(如干涉儀)可與一控制器連接，該控制器藉由該測定值之節律來識別哪些值對應於哪個層。如此便能在一種非常簡單的情形下，在某個指定之測定週期內為其中一個分離式通道持續地添加偵測劑，而其他通道則總是僅添加十秒鐘，再休息十秒鐘。在此情況下，測定結果在持續饋入偵測劑之輸送裝置的厚度值與該二層之和之間，進行跳躍，從而將該求和值與該持續值之差計算為該間歇饋入之層的層厚。

在此需要明確指出，特別是就具有三個以上覆層之膜層而言，一般而言毋需僅設有兩個擠出機，亦可設有兩個以上擠出機。因此，一分配裝置可將源於一擠出機之熔體分配至兩個或兩個以上通道。根據替代及補充方案，一分配裝置可設置在一或多個擠出機之輸送裝置中。在實 踐中，通常設有一被正好一個擠出機饋送的中央通道，其他擠出機饋送該膜層複合體的外層，其中在涉及一對稱之膜層複合體時，一般而言用自正好一個擠出機至正好兩個外層的熔體輸送裝置的正好一個分配裝置來實施該中央層以外的層。

根據一種更為簡單的測定法，將不同的偵測劑送入一擠出機之輸送裝置的該等分離之通道。如此便能(甚至)在同時測定多個層厚時為每個層分配其自有的厚度。

較佳地，該共擠製機如此地備設成，使得該擠製工具製成同一起始材料之多個厚度相等的層，特別是一膜層複合體之外層。

在理想情況下，該整個製成之塑膠膜層複合體呈對稱。

該偵測裝置應具有一非接觸式測定器件，以免該尚具一定溫度之膜層受損。

在技術方面，本文特別提出白光干涉儀。

例如可用螢光偵測劑，如螢光粒子，來實現非接觸式測定。可參閱US 2005/0037231 A1。該案亦描述過厚度測定方式。前述之US 7,858,953 B2或者EP 1 180 660 A2亦描述過對塑膠膜層複合體進行層厚測定。

如前所述，該共擠製機較佳具有一共擠接頭，其為實現可變之層厚測定而具有一調節元件。在設有調節元件的情況下，一控制器便能在該設備上利用對該調節元件的控制，來針對性地鑄造較迄今為止之製造工藝更厚或更 薄的層。

有鑒於此，根據一種特別有利的實施方式，設有一控制器，其與該偵測裝置資料連接且作用性連接為一層厚影響元件，其中該控制器備設成，針對一層厚之額定值而藉由該層厚影響元件實施調整。

該層厚影響元件例如可為該共擠接頭中之該用於實現可變之層厚測定的調節元件。該層厚影響元件亦可例如為加熱元件、泵、擠出機驅動裝置、用於添加至起始材料或熔體之添加劑的控制裝置以及/或者其他元件。

尤佳僅以極短之調整延時對該層厚進行調整，因為-如本發明之第一態樣之開頭所述-，偵測劑添加位置與擠出機之相對側上之偵測裝置的流動距離非常短。

該共擠製機例如可具有一寬縫工具或一吹塑頭。

該偵測劑添加裝置例如可具有一粉末料倉，以便以粉末形式保存該偵測劑。根據一種替代方案，該偵測劑添加裝置具有一流體泵及較佳一流體箱，以便噴入液態形式之偵測劑。

在該偵測劑添加裝置之相對側，較佳在每個偵測劑添加裝置之相對側，可在入口處設有一混合器，較佳一靜態混合器。為儘可能可靠地測定整個層厚，必須嘗試將偵測劑儘可能均勻地分佈在通向相應層的輸送裝置中。為此，有利者係在每個通道中各設一混合器。該輸送裝置係設置在該擠出機之相對側，因此，無法由設置在擠出機中之混合器進行攪拌。故需設置另一混合器，其中靜態混合 器成本極低且毋需維護。在簡單情形下，例如可在該通道中設置一組管件或線材。

根據本發明的第二態樣，本發明用以達成上述目的之解決方案為一種共擠製機，用於製造一包含多個各具一定層厚之層的塑膠膜層複合體，該共擠製機包含若干擠出機、一共擠塊及一自該等擠出機至該共擠塊的輸送裝置，其中設有一用於對一第一起始材料進行塑化處理的第一擠出機以及一用於對一第二起始材料進行塑化處理的第二擠出機，其中該共擠製機是備設成用於製造一包含同一起始材料之兩個層的膜層複合體，其中在該共擠塊中及/或在該共擠塊之沿機器方向相對側上設有一偵測裝置，其備設成，對一層厚進行測定，其中該共擠製機之特徵在於，該偵測裝置備設成，對多個層厚，較佳對一起始材料之多個層厚，尤佳對所有層厚，進行測定，其中另設一控制器，其與該偵測裝置資料連接且作用性連接為一層厚影響元件，其中該控制器備設成，針對一層厚之額定值而藉由該層厚影響元件實施調整。

較佳可手動地在一通向該控制器的用戶介面上輸入該額定值，亦可例如透過一資料網來遠程輸入該額定值。

根據本發明的第三態樣，本發明用以達成上述目的之解決方案為一種單層擠製機，用於製造一包含正好一個層之層厚的塑膠膜層，該單層擠製機包含一擠出機、一擠製工具及一自該擠出機至該擠製工具的輸送裝置，其中 該擠出機用於對一起始材料進行塑化處理，其中設有一偵測劑添加裝置，其備設成添加一偵測劑以便送入該塑膠膜層，且其中在該擠製工具中及/或在該擠製工具之沿機器方向相對側上設有一偵測裝置，其備設成，藉由所偵測之偵測劑來測定層厚，其中該擠製機之特徵在於，該偵測劑添加裝置沿機器方向設置在該擠出機之相對側上。

結合以上描述可看出，採用單層膜層製造法時，亦能縮短偵測劑之饋入與在鑄成之膜層之相對側進行測定之間的時間。

關於“層厚”，無論就單層製造設備還是多層製造設備而言皆需指出，該層厚在所製成之膜層的整個寬度上並非一致。確切言之，在該整個寬度上出現的是不同的層厚，舉例而言，可能存在例如與工具相關或者例如因工具中並非完全均勻之溫度分佈而產生的較厚處。

例如可將整個寬度上的平均值視為本專利申請案中的“層厚”，亦可對整個寬度上的層厚進行細網格式測定。

為將本文所提出之有利方法應用於傳統擠製機，可提供一用於共擠製機及單層擠製機的改裝套組，其中該改裝套組具有一偵測劑添加裝置及一偵測裝置。

根據本發明的第五態樣，本發明用以達成上述目的之解決方案為一種用於在擠製機上，特別是在共擠製機或單層擠製機上測定塑膠膜層之層厚的方法，包括以下步驟(i)在自該擠出機至一擠製工具的路徑上，將一偵測劑加 入經擠出之起始材料，以及(ii)藉由一偵測劑來在該擠製工具之相對側上對該層厚進行非接觸式測定。

為實現儘可能多變的測定，本發明提出，在添加偵測劑的情況下，對自一擠出機至該擠製工具的輸送裝置中的兩個分離之通道進行不同處理。

如前所述，此種不同處理較佳適用於位於每個饋送多個層之擠出機之通向擠製工具的輸送裝置中的多個、較佳所有分離之通道。

例如可將該偵測劑僅饋入同一起始材料之兩個分離之通道中的一個。

作為替代或補充方案，可將不同之偵測劑送入不同擠出機之該等輸送裝置以及/或者送入同一起始材料之分離之通道。

作為替代或補充方案，特別是藉由接通與切斷該添加以及/或者藉由將一起始材料之輸送裝置的該等分離之通道中的一個之添加切換至另一個之添加，來改變該添加。

較佳將該偵測裝置之測定結果輸送給一控制器，以便該控制器為實現一調整而對一層厚影響元件之電子或機械式的調節元件進行作用，從而在該等測定結果高於一預設額定值時減小該層厚，在該等測定結果低於該額定值時增大該層厚。

一種製造塑膠膜層的方法，較佳包含該前述之測定方法，其中較佳藉由所獲取之測定結果來對該等層厚進 行調整。

根據本發明的第七態樣，本發明用以達成上述目的之解決方案為一種對用於塑膠膜層之擠製機進行改裝的方法，其中在該擠製機上安裝一前述之改裝套組，其中該改裝方法具有以下步驟(a)在自一擠出機至一擠製工具的一輸送裝置上形成一孔口，(b)將該偵測劑添加裝置與該孔口中的一添加器(Zugeber)連接，(c)以環繞該添加器的方式或者藉由該添加器來將該孔口密封，及(d)將該偵測裝置設置在該擠製工具之相對側上並藉其測定場對準該塑膠膜層之指定出口區域。

本發明提出，在涉及用於製造一塑膠膜層複合體的共擠機時，該塑膠膜層複合體包含多個由一起始材料構成(特別是源於一擠出機)之層，則連接多個偵測劑添加裝置及/或多個添加器。

1‧‧‧設備

2‧‧‧第一擠出機

3‧‧‧第二擠出機

4‧‧‧第三擠出機

5‧‧‧加料斗

6‧‧‧輸送裝置

7‧‧‧塑膠膜層複合體

8‧‧‧中央層

9‧‧‧其中一個內部的外層

10‧‧‧另一個內部的外層

11‧‧‧其中一個外部的外層

12‧‧‧另一個外部的外層

13‧‧‧分配裝置

14‧‧‧其中一個分離之通道

15‧‧‧另一個分離之通道

16‧‧‧機器方向及擠製方向

下面結合附圖所示的一實施例對本發明進行詳細說明。其中唯一一個附圖為用於製造形式為對稱式複合體之五層塑膠膜層的設備(即擠製機)的粗略圖，該塑膠膜層包含一中央層、兩個內部的外層及兩個外部的外層，由三個擠出機饋送。

較佳實施例之詳細說明

圖1中之設備1主要由一第一擠出機2、一第二擠出機3及一第三擠出機4構成，其各具一加料斗5(示意性繪 示)且各具一輸送裝置6，該輸送裝置通向一例如係寬縫噴嘴的擠製工具(未繪示)，其實施為共擠塊。

設備1製造一塑膠膜層複合體7。該塑膠膜層複合體7由中央層8、兩個內部的外覆層9、10以及兩個外部的外覆層11、12構成。

正好一個擠出機，即該第一擠出機2，藉由供料塊將塑膠熔體(未繪示)饋入中央層8。

第二擠出機3及第三擠出機4在其輸送裝置6中各具一分配裝置13(示意性標識)，自該分配裝置出發，源於相應擠出機之熔體經由兩個分離之通道14、15被導引至該二對應之層，亦即，源於第二擠出機3之熔體被導引至第一內部的外層9及第二內部的外層10。

若在此情況下用白光干涉儀測定所製成之膜層複合體7的層厚，則在將粒子饋入料斗5之先前技術中，僅能可靠地確定中央層8之厚度。而該二內部的外層9、10或者該二外部的外層11、12，僅能確定其總和。若該二原本對稱之層半部中的一個低於額定值，但同時另一層半部高於額定值，則所測層厚之和並非一定會發生變化。因此，自上述測定值無法得出所制膜層複合體仍呈對稱式的結論。

而在本發明中，可以不同的方式，即以不同的時間、不同的數量及/或採用不同的偵測劑，將粒子或另一偵測劑送入一擠出機(即此處之該第二擠出機3，例如亦可為第三擠出機4)之輸送裝置的分離之通道14、15。如此便能 分別測定各層9、10或者11、12的層厚。

1‧‧‧設備

2‧‧‧第一擠出機

3‧‧‧第二擠出機

4‧‧‧第三擠出機

5‧‧‧加料斗

6‧‧‧輸送裝置

7‧‧‧塑膠膜層複合體

8‧‧‧中央層

9‧‧‧其中一個內部的外層

10‧‧‧另一個內部的外層

11‧‧‧其中一個外部的外層

12‧‧‧另一個外部的外層

13‧‧‧分配裝置

14‧‧‧其中一個分離之通道

15‧‧‧另一個分離之通道

16‧‧‧機器方向及擠製方向

Claims (26)

1. 一種共擠製機，用於製造一包含多個各具一定層厚之層的塑膠膜層複合體，包含若干擠出機、一共擠塊及一自該等擠出機至該共擠塊的輸送裝置，其中設有一用於對一第一起始材料進行塑化處理的第一擠出機以及一用於對一第二起始材料進行塑化處理的第二擠出機，其中設有一偵測劑添加裝置，其備設成，添加一偵測劑以便將其送入一層，且其中在該共擠塊中及/或在該共擠塊之沿機器方向相對側上設有一偵測裝置，其備設成，藉由所偵測之偵測劑來測定一層厚，其特徵在於，該偵測劑添加裝置沿機器方向設置在該等擠出機之相對側上。
2. 如請求項1之共擠製機，其特徵在於，該自該第二擠出機至該共擠塊的輸送裝置具有一分配裝置，其備設成，將源於該擠出機之熔體分配至兩個分離之通道，以便產生兩個由該第二起始材料構成之層。
3. 如請求項2之共擠製機，其特徵在於，該偵測劑添加裝置設置在該等分離之通道中的一個上且備設成，將該偵測劑加入該通向正好一個層的輸送裝置。
4. 如請求項2或3之其中一項之共擠製機，其特徵在於，兩個偵測劑添加裝置設置在該等分離之通道中的兩個上且皆備設成，將偵測劑加入該通向正好一個層的輸送裝置。
5. 如前述請求項之其中一項之共擠製機，其特徵在於，該共擠製機備設成，在該塑膠膜層複合體中產生多個在材料方面且較佳亦在厚度方面相同的層。
6. 如請求項5之共擠製機，其特徵在於，該共擠製機備設成，製造一對稱式塑膠膜層複合體。
7. 如前述請求項之其中一項之共擠製機，其特徵在於，該偵測裝置具有一非接觸式測定器件，特別是白光干涉儀。
8. 如前述請求項之其中一項之共擠製機，其特徵在於，該共擠製機具有一共擠接頭，其為實現可變之層厚測定而具有一調節元件。
9. 如前述請求項之其中一項之共擠製機，其特徵在於，設有一控制器，其與該偵測裝置資料連接且作用性連接為一層厚影響元件，其中該控制器備設成，針對一層厚之額定值而藉由該層厚影響元件實施調整。
10. 如前述請求項之其中一項之共擠製機，其特徵在於，該共擠製機具有一寬縫工具。
11. 如請求項1至9之其中一項之共擠製機，其特徵在於，該共擠製機具有一吹塑頭。
12. 如前述請求項之其中一項之共擠製機，其特徵在於，該 偵測劑添加裝置具有一粉末料倉。
13. 如前述請求項之其中一項之共擠製機，其特徵在於，該偵測劑添加裝置具有一流體泵及較佳一流體箱。
14. 如前述請求項之其中一項之共擠製機，其特徵在於，在該偵測劑添加裝置之相對側，在入口處設有一混合器，較佳一靜態混合器。
15. 一種共擠製機，用於製造一包含多個各具一定層厚之層的塑膠膜層複合體，包含若干擠出機、一共擠塊及一自該等擠出機至該共擠塊的輸送裝置，其中設有一用於對一第一起始材料進行塑化處理的第一擠出機以及一用於對一第二起始材料進行塑化處理的第二擠出機，其中該共擠製機是備設成用於製造一包含同一起始材料之兩個層的膜層複合體，其中在該共擠塊中及/或在該共擠塊之沿機器方向相對側上設有一偵測裝置，其備設成，對一層厚進行測定，其特徵在於，該偵測裝置備設成，對多個層厚，較佳對一起始材料之多個層厚，尤佳對所有層厚，進行測定，其中設有一控制器，其與該偵測裝置資料連接且作用性連接為一層厚影響元件，其中該控制器備設成，針對一層厚之額定值而藉由該層厚影響元件實施調整。
16. 一種單層擠製機，用於製造一包含一層厚的塑膠膜層，包含一擠出機、一擠製工具及一自該擠出機至該擠製工具的輸送裝置，其中該擠出機用於對一起始材料進行塑化處理，其中設有一偵測劑添加裝置，其備設成添加一偵測劑以便送入該塑膠膜層，且其中在該擠製工具中及/或在該擠製工具之沿機器方向相對側上設有一偵測裝置，其備設成，藉由所偵測之偵測劑來測定一層厚，其特徵在於，該偵測劑添加裝置沿機器方向設置在該擠出機之相對側上。
17. 一種用於共擠製機或單層擠製機的改裝套組，其中該改裝套組具有一偵測劑添加裝置及一偵測裝置。
18. 一種用於在擠製機上，特別是在共擠製機或單層擠製機上測定塑膠膜層之層厚的方法，包括以下步驟i)在自該擠出機至一擠製工具的路徑上，將一偵測劑加入經擠出之起始材料；ii)藉由一偵測劑來在該擠製工具之相對側上對該層厚進行非接觸式測定。
19. 如請求項18之方法，其特徵在於，在添加偵測劑的情況下，對自一擠出機至該擠製工具的輸送裝置中的兩個分離之通道進行不同處理。
20. 如請求項19之方法，其特徵在於，將該偵測劑僅饋入同一起始材料之兩個分離之通道中的一個。
21. 如請求項18至20之其中一項之方法，其特徵在於，將不同之偵測劑送入不同擠出機之該等輸送裝置以及/或者送入同一起始材料之分離之通道。
22. 如請求項18至21之其中一項之方法，其特徵在於，特別是藉由接通與切斷該添加以及/或者藉由將一起始材料之輸送裝置的該等分離之通道中的一個之添加切換至另一個之添加，來改變該添加。
23. 如請求項18至22之其中一項之方法，其特徵在於，將該偵測裝置之測定結果輸送給一控制器，以便該控制器為實現一調整而對一層厚影響元件之電子或機械式的調節元件進行作用，從而在該等測定結果高於一預設額定值時減小該層厚，在該等測定結果低於該額定值時增大該層厚。
24. 一種製造塑膠膜層的方法，使用的是如請求項18至23之其中一項之方法，其中較佳藉由所獲取之測定結果來對該等層厚進行調整。
25. 一種對用於塑膠膜層之擠製機進行改裝的方法，其中在該擠製機上安裝一如請求項17之改裝套組，包括以下步驟a.在自一擠出機至一擠製工具的一輸送裝置上形成一孔口；b.將該偵測劑添加裝置與該孔口中的一添加器連 接；c.以環繞該添加器的方式或者藉由該添加器來將該孔口密封；d.將該偵測裝置設置在該擠製工具之相對側上並藉其測定場對準該塑膠膜層之指定出口區域。
26. 如請求項24之方法，其特徵在於，連接多個偵測劑添加裝置及/或多個添加器。