TW201525786A - 運用於軟性顯示面板的撓曲感測器及相關感測方法與系統 - Google Patents

Abstract

一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測器，包含：複數個偵測電極，配置於一觸控顯示面板上，且該觸控顯示面板搭配於該軟性顯示面板，其中，該些偵測電極根據一電場或一磁場的變化對應地產生複數個偵測訊號；以及一控制電路，接收該些偵測訊號，並據以判斷該軟性顯示面板的一撓曲狀態。

Description

運用於軟性顯示面板的撓曲感測器及相關感測方法與系統

本揭露係有關於一種感測裝置與感測方法，且特別是有關於一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測器及相關感測系統與方法。

由於資訊科技的進步，當重量輕、體積小且攜帶方便的智慧型手機以及平板電腦問世後，消費者逐漸捨棄重量與體積相對較大的筆記型電腦來上網瀏覽資料。如今，隨處可以看到使用者利用智慧型手機或者平板電腦來上網瀏覽資料、觀賞影像資料、執行軟體程式、或者通話。然而，受限於智慧型手機以及平板電腦的先天條件，尺寸越小的智慧型手機或者平板電腦，其顯示面板尺寸也會越小。因此，顯示面板上可同時呈現的資訊就會越少。

由於具有軟性顯示面板的智慧型手機或者平板電腦的問世，軟性顯示面板不再受限於傳統顯示面板的剛性特性。因此，當軟性面板的智慧型手機或者平板電腦在展開其顯示面板後，可於顯示面板上同時呈現更多的資訊。因此，具有軟性顯示面板的電子裝置之優勢在於，具備體積小、大顯示尺寸之特點。

然而，對於軟性顯示面板而言，其摺疊處是使用最頻繁的，並且容易造成軟性顯示面板畫質的偏差，造成使用者體 驗的觀感不佳。

為了要獲得軟性顯示面板上摺疊處的狀況，可透過摺疊曲率與摺疊頻率等參數來估算。而上述之摺疊曲率與摺疊頻率之參數可透過各種類型的撓曲偵測器來獲得。

一般來說，現今的撓曲偵測器係配置於軟性顯示面板背面，撓曲感測器的種類包括：光纖傳導的撓曲感測器，紅外線的撓曲感測器，力回饋型的撓曲感測器、或者壓電式撓曲感測器。若以成本與實用性考量，最常用的是壓電式撓曲感測器。

然而，壓電式撓曲感測器係根據自身所受到的應力大小改變自身的電阻值，並據以決定軟性顯示面板的彎曲程度。一般來說，由於壓電式撓曲感測器本身之貼合應力不一，且無方向性、不透明等特性，易引發潛在之整合風險，以及侷限顯示裝置之使用模式。

故此，提出一種全新架構的撓曲感測器及其感測方法即為本揭露最主要的目的。

本揭露的目的在於提出一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測器與撓曲感測方法。透過軟性顯示面板在撓曲(bending)之過程所造成的電場或磁場之變化，進而感應其撓曲狀態，並且決定軟性顯示面板的撓曲方向以及撓曲角度。

本揭露提出一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測器，包含：複數個偵測電極，配置於一觸控顯示面板上，且該觸控顯示面板搭配於該軟性顯示面板，其中，該些偵測電極根據一電場或一磁場的變化對應地產生複數個偵測訊號；以及一控制電路，接收該些偵測訊號，並據以判斷該軟性顯示面板的一撓曲狀態。

本揭露提出一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測方法，該軟性顯示面板搭配一觸控式面板，且該觸控式面板上具有 多個偵測電極，可因應一電場或一磁場改變產生複數個偵測訊號，該撓曲感測方法包含下列步驟：(a)根據該些偵測訊號產生一狀態變化事件；(b)判斷該些偵測訊號之間的關係以決定為一撓曲事件；以及(c)進行對應的一控制動作。

一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測系統，包含：一觸控顯示面板，搭配於該軟性顯示面板，其中，該觸控顯示面板上包括複數個偵測電極，該些偵測電極根據一電場或一磁場的變化對應地產生複數個偵測訊號；以及一控制電路，接收該些偵測訊號，並根據該些偵測訊號產生一狀態變化事件；其中，於產生該狀態變化事件時，該控制電路根據該些偵測訊號之間的關係，決定為一撓曲事件。

為了對本揭露之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

Dt‧‧‧觸控偵測區域

Df‧‧‧撓曲偵測區域

Rx‧‧‧接收層

Tx‧‧‧傳輸層

Sd‧‧‧遮蔽層

x‧‧‧偵測電極x

y‧‧‧偵測電極y

Sx‧‧‧第x位置偵測訊號

Sy‧‧‧第y位置偵測訊號

e1‧‧‧第一偵測電極

e2‧‧‧第二偵測電極

e3‧‧‧第三偵測電極

e4‧‧‧第四偵測電極

e5‧‧‧第五偵測電極

Se1‧‧‧第一偵測訊號

Se2‧‧‧第二偵測訊號

Se3‧‧‧第三偵測訊號

Se4‧‧‧第四偵測訊號

Se5‧‧‧第五偵測訊號

210、610‧‧‧控制電路

505‧‧‧參考模型

515‧‧‧控制單元

525‧‧‧參數調整器

535‧‧‧摺積單元

810‧‧‧記憶模組

820‧‧‧控制處理模組

830‧‧‧訊號處理模組

840‧‧‧判斷模組

S410~S438、S910~S928‧‧‧步驟流程

第1A圖與第1B圖所繪示為電容式觸控式面板即其相關訊號示意圖。

第2圖所繪示為本揭露觸控式面板第一實施例示意圖。

第3A圖至第3E圖為本揭露第一實施例的各種使用情況及其相關訊號示意圖。

第4A圖至第4C圖所繪示為本揭露運用於軟性顯示面板的撓曲感測方法。

第5A圖所繪示為方向/角度對照表示意圖。

第5B圖所繪示系統閉迴路電路示意圖。

第6A圖至第6D圖所繪示為本揭露觸控式面板之第二實施例以及相關偵測訊號示意圖。

第7A圖至第7D圖所繪示為本揭露觸控式面板之其他偵測電極配置示意圖。

第8圖為本揭露控制電路之示意圖。

第9圖為依據本揭露第7D圖搭配第8圖控制電路而運用於軟性顯示面板的撓曲感測方法。

請參照第1A圖與第1B圖，其所繪示為電容式觸控式面板及其相關訊號示意圖。觸控式面板包括接收層(Rx)、傳輸層(Tx)、以及遮蔽層(shielding layer，Sd)連接至接地電壓(GND)。其中，接收層(Rx)上的觸控偵測區域(Dt)包括複數個偵測電極(detecting electrode)，其材料可為透明的銦錫氧化膜(ITO film)。當使用者在面板上的觸控偵測區域(Dt)產生觸控點時，觸控點位置所在的偵測電極及其周圍的電場或磁場會改變，進而改變該偵測電極的互容值(mutual capacitance)以及對應的偵測訊號(detecting signal)。當然，除了銦錫氧化膜之外，偵測電極的材料也可為銅箔、奈米銀線、或者矽材料之半導體材料。

如第1B圖所示，假設觸控點在偵測電極x上，則會造成偵測電極x附近的電場或磁場改變。由於偵測電極x的互容值改變，所以偵測電極x所對應的第x位置偵測訊號Sx的強度(Intensity)也會改變。因此，當傳輸層(Tx)將所有偵測電極之偵測訊號傳遞至後端的控制電路(未繪示)時，控制電路即可判斷所有的偵測訊號來得知第x位置偵測訊號Sx的強度變化，並確定觸控點位在偵測電極x處。一般來說，偵測訊號的強度變化，可為電壓振幅的變化或者電場強度或者磁場強度的變化。

本揭露於上述觸控式面板上更增加多個偵測電極作為撓曲感測器並運用於軟性顯示面板。於軟性顯示面板在撓曲之過程，根據偵測電極附近的電場或磁場變化，進而產生偵測訊號。再者，後端的控制電路(未繪示)會接收偵測訊號，據以決定使用者係產生觸控事件(touch event)或者撓曲事件(bending event)。以下的說明係在軟性顯示面板上搭配觸控式面板，亦即 當軟性顯示面板撓曲時，觸控式面板也會被撓曲。再者，於觸控式面板上配置的偵測電極可同時用於觸控偵測及撓曲偵測。為了簡化說明，觸控式面板係以接收層(Rx)為例來進行說明。

請參照第2圖，其所繪示為本揭露觸控式面板第一實施例示意圖，該觸控式面板係搭配於軟性顯示面板上。該觸控式面板上包括一觸控偵測區域(Dt)以及一撓曲偵測區域(Df)。其中，觸控偵測區域(Dt)位在觸控式面板的中央區域，撓曲偵測區域(Df)位在觸控式面板的外圍區域。再者，觸控偵測區域(Dt)中包括複數個偵測電極，而撓曲偵測區域(Df)中包括四個偵測電極e1~e4，偵測電極的材料可為透明的銦錫氧化膜(ITO film)。其中，撓曲偵測區域中之該些偵測電極係作為撓曲感測器，並且該觸控式面板可搭配軟性顯示面板，以A1-A2方向為軸心進行撓曲，或者以B1-B2方向為軸心進行撓曲。

當使用者在面板上的觸控偵測區域(Dt)產生觸控點時，觸控點位置所在的偵測電極及其周圍的電場或磁場會改變，進而改變該偵測電極的互容值以及對應的偵測訊號。當然，使用者產生觸控點時，由於偵測電極周圍的電場或磁場改變，也會一併造成撓曲偵測區域(Df)中四個偵測電極e1~e4的偵測訊號改變。而本揭露即利用後端的控制電路210接收所有的偵測訊號，並據以決定使用者係產生觸控事件或者撓曲事件。

以下第3A圖至第3E圖為本揭露第一實施例的各種使用情況及其相關訊號示意圖。如第3A圖所示，當面板未產生觸控點且未撓曲。觸控偵測區域(Dt)以及撓曲偵測區域(Df)中的偵測電極並未感受到電場或磁場的變化，因此觸控偵測區域(Dt)的偵測訊號以及撓曲偵測區域(Df)的偵測訊號Se1~Se4的強度很小。

如第3B圖所示，當面板做為觸控用途。且假設觸控點在偵測電極x上，則會造成偵測電極x附近的電場或磁場改變。所以偵測電極x所對應的第x位置偵測訊號Sx的強度會改 變。同時，由於觸控點位置接近第二偵測電極e2且遠離第一偵測電極e1，所以第二偵測訊號Se2的強度會大於第一偵測訊號Se1的強度。再者，觸控點與第三偵測電極e3的距離，觸控點與第四偵測電極e4的距離約略相等，所以第三偵測訊號Se3與第四偵測訊號Se4的強度幾乎相等。

如第3C圖所示，當面板做為觸控用途。且假設觸控點在偵測電極y上，則會造成偵測電極y附近的電場或磁場改變。所以偵測電極y所對應的第y位置偵測訊號Sy的強度會改變。同時，由於觸控點位置接近第二偵測電極e2以及第三偵測電極e3，所以第二偵測訊號Se2與第三偵測訊號Se3的強度會較大。再者，第一偵測訊號Se1與第四偵測訊號Se4的強度較小。

由以上之說明可知，當使用者在觸控偵測區域(Dt)上產生觸控點，對應的觸控位置上之偵測訊號強度較大，並且根據觸控點的位置會造成偵測訊號Se1~Se4的強度不相同，此時，撓曲偵測區域(Df)中之偵測電極e1~e3可作為定位觸控點之輔助。

如第3D圖所示，當面板沿著A1-A2之方向為軸心撓曲且曲率半徑較大時。由於沒有觸控點產生，觸控偵測區域(Dt)中所有的偵測訊號的強度會較小且約略相等。同時，由於曲率半徑較大，面板彎曲不嚴重，而電場或磁場強度的改變所造成偵測訊號的強度變化量亦較小。如圖所示，由於第一偵測電極e1與第二偵測電極e2經撓曲後，電極之間的相對距離並無顯著改變，所以第一偵測訊號Se1與第二偵測訊號Se2的強度改變較小且約略相等。同理，由於第三偵測電極e3與第四偵測電極e4經撓曲後，第三偵測電極e3與第四偵測電極e4的相對距離變小，所以第三偵測訊號Se3與第四偵測訊號Se4的強度會增強且因撓曲位置為中央線，故第三偵測訊號Se3與第四偵測訊號Se4強度約略相等。因此，第一偵測訊號Se1及第二偵測訊號Se2的強度小於第三偵測訊號Se3及第四偵測訊號Se4的強度。

如第3E圖所示，當面板沿著A1-A2之方向為軸心 撓曲且曲率半徑較小時。由於沒有觸控點產生，觸控偵測區域(Dt)中所有的偵測訊號的強度會較小且約略相等。同時，由於曲率半徑較小，面板彎曲嚴重，第三偵測電極e3與第四偵測電極e4相對距離相較第3D圖更近，因此電場或磁場強度的改變所造成偵測訊號的強度變化量較大。如圖所示，由於第一偵測電極e1與第二偵測電極e2和其他偵測電極彼此的相對距離無顯著改變，所以第一偵測訊號Se1與第二偵測訊號Se2的強度約略相等。同理，由於第三偵測電極e3與第四偵測電極e4的相對距離變小，所以第三偵測訊號Se3與第四偵測訊號Se4的強度會增強且因撓曲位置為中央線，故第三偵測訊號Se3與第四偵測訊號Se4強度約略相等。

同理，當面板沿著B1-B2之方向為軸心撓曲時，由於B1-B2位於面板中央，所以相對應的偵測訊號也會相等。再者，當面板沿著B1-B2之方向為軸心撓曲時，第一偵測訊號Se1的強度會大於第三偵測訊號Se3的強度。

由上述的說明可知，在第一實施例中，當面板做為觸控用途並且未撓曲且產生觸控點時，觸控偵測區域(Dt)中會有特定位置上之偵測訊號的強度變化量增加，且撓曲偵測區域(Df)中的偵測訊號Se1~Se4未具備成對對稱之訊號關係。再者，當面板未做為觸控用途並而被撓曲時，觸控偵測區域(Dt)中的所有偵測訊號的強度較小，而撓曲偵測區域(Df)中的偵測訊號Se1~Se4會具備成對對稱之訊號關係。

請參照第4A圖至第4C圖，其所繪示為本揭露運用於軟性顯示面板的撓曲感測方法。此撓曲感測方法可運用於本揭露第2圖之觸控式面板，並且此方法係由控制電路210根據偵測訊號來據以決定使用者係產生觸控事件或者撓曲事件。如第4A圖所示，控制電路210根據據偵測訊號產生一狀態變化事件(步驟S410)。接著，控制電路210判斷偵測訊號之間的關係為一觸控事件或者一撓曲事件(步驟S420)，接著，控制電路210即可進行對 應之控制動作(步驟S430)，之後回到步驟S410繼續進行偵測與判斷步驟。

請參照第4C圖，在步驟S430中，更包括當控制電路210判斷為觸控事件(步驟432)時，即觸發觸控事件(步驟434)，例如根據該些偵測訊號的強度決定一觸控點位置。當控制電路210判斷為撓曲事件(步驟432)時，控制電路210觸發撓曲事件(步驟S436)，並得知軟性顯示面板的撓曲狀態，進一步將一撓曲計數器(bending counter)的數值加1(步驟438)。其中，該撓曲計數器可內建於控制電路210中，或者控制電路210之外的一個獨立的計數器。

控制電路210為動態偵測面板狀態，在步驟S410中，將偵測訊號進行歸一化(Normalized)(步驟S412)。接著，判斷是否產生狀態變化事件(S414)。當未產生狀態變化事件時，回到步驟S414；反之，產生狀態變化事件(步驟S416)。其中，上述歸一化即是將偵測信號進行初始化或者正規化的意思。

於上述步驟S420與步驟S430中，控制電路210可以根據第3A圖至第3E圖中所揭露之偵測訊號之間的關係來判斷觸控式面板發生觸控事件或者撓曲事件。當然，控制電路210也可以僅利用撓曲偵測區域(Df)之偵測訊號之間的關係來判斷觸控式面板的撓曲狀態，此處不再贅述。

舉例來說，當觸控偵測區域(Dt)中的第x位置偵測訊號Sx的強度變化量增加，且撓曲偵測區域(Df)中的偵測訊號Se1~Se4未具備成對對稱之訊號關係時，控制電路210判定發生觸控事件，並根據所有的偵測訊號獲得觸控點位置在觸控偵測區域(Dt)中的偵測電極x。或者，當觸控偵測區域(Dt)中的所有偵測訊號的強度皆小於一第一臨限值，而撓曲偵測區域(Df)中的偵測訊號Se1~Se4皆大於一第二臨限值且具備成對對稱之訊號關係時，可控制電路210判定發生撓曲事件。因此，控制電路210將撓曲計數器的數值加1用以統計軟性顯示面板的撓曲次數。當 然，當觸控偵測區域(Dt)中所有偵測訊號的強度皆小於第一臨限值，且撓曲偵測區域(Df)中的偵測訊號Se1~Se4皆小於第二臨限值時，則判斷面板未產生觸控點且未撓曲。

當然，控制電路210更可以根據二對偵測訊號Se1、Se2以及Se3、Se4之間的關係來決定軟性顯示面板的撓曲方向。例如，當第一偵測訊號Se1的強度小於第三偵測訊號Se3的強度時，控制電路210判斷軟性顯示面板沿著A1-A2之方向為軸心撓曲。當第一偵測訊號Se1的強度會大於第三偵測訊號Se3的強度時，控制電路210判斷軟性顯示面板沿著B1-B2之方向為軸心撓曲。

當然，除了上述方式，判斷步驟S430也可以利用其他方式來實現，例如直接利對照表(look up table)來進行撓曲方向以及撓曲角度θ之判斷。請參照第5A圖，其所繪示為方向/角度對照表示意圖。其中，訊號Sdt可為觸控偵測區域(Dt)中的任何一個偵測訊號的強度，或者控偵測區域(Dt)中偵測訊號的平均強度。換句話說，根據照表中所提供的對應關係，即可據以將該些偵測訊號對應至該撓曲方向或者該撓曲角度。

根據本揭露的實施例，於控制電路210中預先建立一方向/角度對照表，供控制電路210判斷軟性顯示面板的撓曲方向以及撓曲角度。如第5A圖所示，當第一偵測訊號Se1、第二偵測訊號Se2、第三偵測訊號Se3、第四偵測訊號Se4與偵測訊號Sdt的強度為I(0,0)、I(0,1)、I(0,2)、I(0,3)、I(0,4)時，判斷顯示面板的撓曲方向為D1方向且撓曲角度為θ 0。再者，當第一偵測訊號Se1、第二偵測訊號Se2、第三偵測訊號Se3、第四偵測訊號Se4與偵測訊號Sdt的強度為I(12,0)、I(12,1)、I(12,2)、I(12,3)、I(12,4)時，判斷顯示面板的撓曲方向為D2方向且撓曲角度為θ2。當然，其他的撓曲方向以及撓曲角度的判斷相同於上述之方式，此處不再贅述。

換句話說，控制控制電路210可根據方向/角度對照 表所提供的對應關係，由觸控偵測區域(Dt)中的偵測訊號強度以及撓曲偵測區域(Df)中偵測訊號Se1~Se4的強度直接決定軟性顯示面板的撓曲方向以及撓曲角度。

除了第5A圖之對照表之外，也可以利用於系統閉迴路電路來取代對照表，並獲得軟性顯示面板的撓曲方向以及撓曲角度。請參照第5B圖，其所繪示系統閉迴路電路示意圖。其包括：一參考模型(reference model)505、一控制單元(control unit)515、一參數調整器(parameter tuning device)525、摺積單元(convolution unit)535。其中，參考模型505用來規劃系統閉迴路的性能，以達到理想輸出的響應元件，其將系統的撓曲特徵全部規劃在參考模型505內，並利用匹配事先規劃好的撓曲特徵，來進行回授控制。再者，控制單元515為具有可調控制參數的回授控制元件。再者，參數調整器525是根據系統輸出與參考模型之間的追蹤誤差來調整控制器中的控制參數，使系統參數即使在未知情況下，仍能收斂到零。

如第5B圖所示，偵測電極的所有偵測信號I輸入參考模型505以產生參考模型輸出信號Ym，並且輸入控制單元515以產生控制單元輸出信號Yn。摺積單元535接收參考模型輸出信號Ym與控制單元輸出信號Yn後即產生決定信號f(I,θ)以及回授信號f(I,θ,e)。再者，參數調整器525根據回授信號f(I,θ,e)來調整控制單元515中的控制參數，並更新控制單元輸出信號Yn。因此，系統閉迴路電路所輸出的決定信號f(I,θ)即可代表軟性顯示面板的撓曲方向以及撓曲角度。

當然，除了第2圖中二個方向撓曲的觸控式面板之外，本揭露也可以有更多方向撓曲的觸控式面板。請參照第6A圖至第6D圖，其所繪示為本揭露觸控式面板之第二實施例以及相關偵測訊號示意圖，該觸控式面板係搭配於軟性顯示面板。如第6A圖所示，該觸控式面板上包括多個偵測電極e1~e5，偵測電極的材料可為透明的銦錫氧化膜(ITO film)。其中，第一偵測電極 e1至第四偵測電極e4相同於第一實施例，差異在於增加一個第五偵測電極e5，其為對角線的配置。

再者，第二實施例之觸控式面板除了以A1-A2方向或以B1-B2方向為軸心進行撓曲之外，更可以C1-C2方向或以D1-D2方向為軸心進行撓曲。換句話說，本揭露的第二實施例可以偵測對角線的撓曲。而以下僅說明以C1-C2方向為軸心進行撓曲以及以D1-D2方向為軸心進行撓曲時，相關偵測訊號的變化，其他方向的撓曲則不再贅述。

以下第6B圖至第6D圖為本揭露第二實施例的相關訊號示意圖。如第6B圖所示，當面板未產生觸控點且未撓曲時，偵測電極e1~e5並未感受到電場或磁場的變化，因此偵測訊號Se1~Se5的強度很小。

如第6C圖所示，當面板沿著D1-D2之方向為軸心撓曲時，第一偵測電極e1接近第三偵測電極e3，且第二偵測電極e2接近與第四偵測電極e4，因此第一偵測訊號Se1至第四偵測訊號Se4的強度約略相等。再者，第五偵測電極e5在撓曲的過程，受到電場或磁場的影響較大，會產生強度較大的第五偵測訊號Se5。

如第6D圖所示，當面板沿著C1-C2之方向為軸心撓曲時，第一偵測電極e1接近第四偵測電極e4，且第二偵測電極e2接近與第三偵測電極e3，因此第一偵測訊號Se1至第四偵測訊號Se4的強度約略相等。再者，第五偵測電極e5在撓曲的過程，受到電場或磁場的影響較小，會產生強度較小的第五偵測訊號Se5。

由以上的說明可知，第二實施例之觸控式面板於撓曲的過程中，可以根據五個偵測訊號Se1-Se5的關係來判斷觸控式面板是否發生一撓曲事件，並且判斷出觸控式面板的撓曲方向。當然，第二實施例的觸控式面板也可以利用第5A圖對照表所提供的對應關係來進行撓曲方向以及撓曲角度θ之判斷，或者 第5B圖之系統閉迴路電路來進行撓曲方向以及撓曲角度θ之判斷。其實現方式相同於第一實施例，此處不再贅述。

除了前述兩個實施例之偵測電極配置方式外，本揭露也可以有更多方向撓曲的觸控式面板，請參照第7A圖至第7D圖，其所繪示為本揭露觸控式面板之其他偵測電極配置示意圖。

如第7A圖所示，偵測電極可僅配置於撓曲面板轉軸附近的區域，當面板沿A1-A2方向撓曲時，偵測電極e3及e4會受到較大的電場或磁場變化，而產生較強的偵測訊號Se3、Se4。其作動與判斷機制如前所述，在此不再贅述。

此外，中央區域之偵測電極的配置除了如第7A圖所示之棋盤格外，亦可如第7B圖所示之菱格狀，或可僅以偵測電極e1~e4作為撓曲感測器，本揭露並不以此為限。同理，如前述第一實施例，其中央區域之偵測電極之配置亦可如第7C圖所示，為菱格狀之配置。

再者，撓曲式顯示面板(foldable display panel)係具有固定可撓曲之軸心，而軟性顯示面板(flexible display panel)係整面皆可隨意撓曲，為提高判斷撓曲之方向與角度的精準度，本揭露更提出另一種偵測電極配置，如第7D圖所示。請參照第7D圖，偵測電極係佈滿整個軟性顯示面板區域，於本實施例中，一組偵測電極的區域範圍係大於一個畫素區域，此配置可視系統所需判斷精準度來配置，本揭露並不以為限。

第8圖為本揭露控制電路210之示意圖，控制電路210中包括一記憶模組810、一控制處理模組820、一訊號處理模組830、與一判斷模組840。該控制電路210可以運用於第4A圖至第4C圖之撓曲感測方法。當然，控制電路210更可以運用於本揭露的軟性顯示面板及其撓曲感測方法。

第9圖為依據本揭露第7D圖搭配第8圖控制電路而運用於軟性顯示面板的撓曲感測方法。首先，系統啟動後，控制電路210執行校正對照表之程序(步驟S910)，對照表係儲存於 記憶模組810中，對照表可先離線測試後儲存於記憶模組810中，並於軟性顯示面板啟動時，進行校正動作，以去除環境雜訊影響，然而此步驟亦可略過，直接採用原存於記憶模組810中之對照表。

接著，控制處理模組820根據偵測訊號產生狀態變化事件(步驟S912)，經由訊號處理模組830處理由偵測電極接收到之偵測訊號，例如將偵測電極接收到的類比訊號轉為數位訊號，並將訊號做歸一化處理。

接著，判斷模組820判斷偵測訊號之間的關係(步驟S914)。在此步驟中，係將處理後之偵測訊號與對照表比對，以決定偵測訊號之間的關係為撓曲事件或觸控事件(步驟S916)。

當判斷模組820確定為撓曲事件時，將觸發撓曲事件並傳送至控制處理模組820(步驟S918)，此時判斷模組840同時將撓曲方向及角度等資訊傳送給控制處理模組820，供控制處理模組820做後續相關動作。

反之，當判斷模組820確定為觸控事件時，將觸發觸控事件訊號傳送至控制處理模組820(步驟S920)，此時判斷模組840同時將觸控點位置相關資訊傳送給控制處理模組820，供控制處理模組820做後續相關動作。

接著，控制處理模組820將目前之偵測訊號更新為參考訊號(步驟S922)並儲存於記憶模組810

接著，控制處理模組820繼續接收偵測訊號(步驟S924)，而判斷模組840持續判斷參考訊號與偵測訊號是否相同(步驟926)。當參考訊號與偵測訊號相同時，回到步驟S924並持續進行動態偵測；反之，當參考訊號與偵測訊號不相同時，則產生狀態變化事件(步驟S928)，並且回到步驟S914。

本揭露的特點在於提出一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測器與撓曲感測方法。於觸控式面板上設計多個偵測電極作為撓曲感測器。當觸控式面板搭配軟性顯示面板並進行撓曲的 過程時，將造成成觸控式面板上的電場或磁場變化，使得多個偵測電極產生多個偵測訊號。而根據多個偵測訊號，後端控制電路即可據以決定軟性顯示面板的撓曲狀態。此撓曲狀態可為撓曲方向或者撓曲角度。

綜上所述，雖然本揭露已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本揭露。本揭露所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本揭露之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

Dt‧‧‧觸控偵測區域

Df‧‧‧撓曲偵測區域

e1‧‧‧第一偵測電極

e2‧‧‧第二偵測電極

e3‧‧‧第三偵測電極

e4‧‧‧第四偵測電極

210‧‧‧控制電路

Claims (31)

1. 一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測器，包含：複數個偵測電極，配置於一觸控顯示面板上，且該觸控顯示面板搭配於該軟性顯示面板，其中，該些偵測電極根據一電場或一磁場的變化對應地產生複數個偵測訊號；以及一控制電路，接收該些偵測訊號，並據以判斷該軟性顯示面板的一撓曲狀態。
2. 如申請專利範圍第1項所述之撓曲感測器，其中該些偵測電極的材料為銦錫氧化膜、銅箔、奈米銀線、半導體材料。
3. 如申請專利範圍第1項所述之撓曲感測器，其中該控制電路接收該些偵測訊號，進而判斷該觸控顯示面板係發生一觸控事件或者一撓曲事件。
4. 如申請專利範圍第3項所述之撓曲感測器，其中該控制電路判斷發生該觸控事件時，根據該些偵測訊號決定一觸控點位置。
5. 如申請專利範圍第3項所述之撓曲感測器，其中該控制電路判斷發生該撓曲事件時，將一撓曲計數器的數值加1。
6. 如申請專利範圍第3項所述之撓曲感測器，其中該控制電路根據該些偵測訊號，決定該軟性顯示面板的一撓曲方向或者一撓曲角度。
7. 如申請專利範圍第6項所述之撓曲感測器，其中該控制電路利用一對應關係，並據以將該些偵測訊號對應至該撓曲方向或者該撓曲角度。
8. 如申請專利範圍第7項所述之撓曲感測器，其中該對應關係由一對照表來實現。
9. 如申請專利範圍第7項所述之撓曲感測器，其中該對應關係由一系統閉迴路電路來實現。
10. 如申請專利範圍第9項所述之撓曲感測器，其中該系統閉迴路電路包括：一參考模型，接收該些偵測信號，以產生一參考模型輸出信號；一控制單元，接收該些偵測信號，以產生控制單元輸出信號Yn；一摺積單元，接收該考模型輸出信號與該控制單元輸出信號，產生一決定信號與一回授信號；以及一參數調整器，接收該回授信號來調整該控制單元中的多個控制參數，並更新該控制單元輸出信號；其中，該決定信號係表示該撓曲方向或者該撓曲角度。
11. 一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測方法，該軟性顯示面上具有多個偵測電極，可因應一電場或一磁場改變產生複數個偵測訊號，該撓曲感測方法包含下列步驟：(a)根據該些偵測訊號產生一狀態變化事件；(b)判斷該些偵測訊號之間的關係以決定為一撓曲事件；以及(c)進行對應的一控制動作。
12. 如申請專利範圍第11項所述之撓曲感測方法，其中步驟(a)更包括下列步驟：(a1)將該些偵測信號進行歸一化；(a2)判斷是否產生該狀態變化事件；以及(a3)若否，回到步驟(a2)；若是，產生該狀態變化事件。
13. 如申請專利範圍第11項所述之撓曲感測方法，其中步驟(c)更包括下列步驟：(c1)於確定為該撓曲事件時，觸發該撓曲事件；以及(c2)於確定為該觸控事件時，觸發該觸控事件。
14. 如申請專利範圍第11項所述之撓曲感測方法，其中於確定為該撓曲事件時更將一撓曲計數器的數值加1。
15. 如申請專利範圍第14項所述之撓曲感測方法，其中根據該撓曲計數器的數值更新該軟性顯示面板的一顯示參數或者一感測參數。
16. 如申請專利範圍第11項所述之撓曲感測方法，其中步驟(b)中更包括：判斷該些偵測訊號之間的關係以決定為一觸控事件，且於觸發該觸控事件時，根據該些偵測訊號決定一觸控點位置。
17. 如申請專利範圍第11項所述之撓曲感測方法，其中於觸發該撓曲事件時，根據該些偵測訊號，決定該軟性顯示面板的一撓曲方向或者一撓曲角度。
18. 如申請專利範圍第17項所述之撓曲感測方法，其中更包括：根據一對應關係，將該些偵測訊號對應至該撓曲方向或者該撓曲角度。
19. 如申請專利範圍第18項所述之撓曲感測方法，其中該對應關係由一對照表來實現。
20. 如申請專利範圍第18項所述之撓曲感測方法，其中該對 應關係由一系統閉迴路電路來實現。
21. 如申請專利範圍第20項所述之撓曲感測方法，其中該系統閉迴路電路包括：一參考模型，接收該些偵測信號，以產生一參考模型輸出信號；一控制單元，接收該些偵測信號，以產生控制單元輸出信號Yn；一摺積單元，接收該考模型輸出信號與該控制單元輸出信號，產生一決定信號與一回授信號；以及一參數調整器，接收該回授信號來調整該控制單元中的多個控制參數，並更新該控制單元輸出信號；其中，該決定信號係表示該撓曲方向或者該撓曲角度。
22. 一種運用於軟性顯示面板的撓曲感測系統，包含：一觸控顯示面板，搭配於該軟性顯示面板，其中，該觸控顯示面板上包括複數個偵測電極，該些偵測電極根據一電場或一磁場的變化對應地產生複數個偵測訊號；以及一控制電路，接收該些偵測訊號，並根據該些偵測訊號產生一狀態變化事件；其中，於產生該狀態變化事件時，該控制電路根據該些偵測訊號之間的關係，決定為一撓曲事件。
23. 如申請專利範圍第22項所述之撓曲感測系統，其中該控制電路包括一記憶模組、一控制處理模組、一訊號處理模組、以及一判斷模組。
24. 如申請專利範圍第23項所述之撓曲感測系統，其中該記憶模組中儲存一對應關係，使得該判斷模組據以將該些偵測訊號對應至該撓曲事件或一觸控事件。
25. 如申請專利範圍第24項所述之撓曲感測系統，其中該控制處理模組根據該些偵測訊號產生該狀態變化事件，並將該些偵測訊號做歸一化處理。
26. 如申請專利範圍第25項所述之撓曲感測系統，其中該控制電路於確定為該撓曲事件時，觸發該撓曲事件；以及於確定為該觸控事件時，觸發該觸控事件。
27. 如申請專利範圍第26項所述之撓曲感測系統，其中該控制電路於觸發該撓曲事件以及觸發該觸控事件後，將該些偵測信號更新為一參考訊號。
28. 如申請專利範圍第27項所述之撓曲感測系統，其中該控制電路更將該些參考訊號比對於新接收的該些偵測訊號；並且於該些參考訊號與新接收的該些偵測訊號有異時，產生該狀態變化事件。
29. 如申請專利範圍第24項所述之撓曲感測系統，其中該控制電路判斷發生該觸控事件時，根據該些偵測訊號決定一觸控點位置。
30. 如申請專利範圍第24項所述之撓曲感測系統，其中該控制電路判斷發生該撓曲事件時，將一撓曲計數器的數值加1。
31. 如申請專利範圍第24項所述之撓曲感測系統，其中該控制電路根據該些偵測訊號，決定該軟性顯示面板的一撓曲方向或者一撓曲角度。