TW201530419A - 觸控面板之控制系統及控制方法 - Google Patents

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Abstract

一種觸控面板之控制系統及控制方法。觸控面板之控制方法包括以下步驟。提供一觸控面板之一感應參數。以觸控面板接收一感應訊號。判斷感應訊號是否為一觸控訊號。若感應訊號不為觸控訊號,則判斷觸控面板的物理特性是否改變。若觸控的物理特性改變,則針對感應訊號受改變所對應之一感應區域,調校對應感應區域之感應參數。

Description

觸控面板之控制系統及控制方法
本發明是有關於一種觸控面板之控制系統及控制方法。
近年來觸控面板是一種新興的資訊輸入設備,因其原理為疊合在螢幕上操作,可實現攜帶方便與功能操作人性化之優點。在各式觸控面板中,可撓式或翻折式顯示器因具備可彎摺的特性而有便於收納及攜帶之優點,而成為顯示科技之研究的重點之一。然而,因為使用者在使用過程中反覆地彎摺顯示器,容易使得可撓式顯示器彎摺處產生雜訊,造成許多不必要的誤報點。
本案係有關於一種觸控面板之控制系統及控制方法,其利用判斷觸控面板所接收到的感應訊號是否為一觸控訊號及觸控面板是否彎曲,以決定是否需針對感應訊號受改變所對應之感應區域調校對應感應區域之感應參數。藉此濾除可撓式面板因彎曲而造成的雜訊,並且增進使用者對於觸控面板操作的精確度。
根據本案之第一方面,提出一種觸控面板之控制系統及控制方法。觸控面板之控制方法包括以下步驟。提供一觸控面板之一感應參數。以觸控面板接收一感應訊號。判斷感應訊號是否為一觸控訊號。若感應訊號不為觸控訊號,則判斷觸控面板的物理特性是否改變。若觸控的物理特性改變,則針對感應訊號受改變所對應之一感應區域,調校對應感應區域之感應參數。
根據本案之一第二方面,提出一種觸控面板之控制系統。觸控面板之控制系統包括一儲存單元、一感應單元、一第一判斷單元、一第二判斷單元及一調校單元。儲存單元用以儲存一觸控面板之一感應參數。感應單元用以接收一感應訊號。第一判斷單元用以判斷感應訊號是否為一觸控訊號。當感應訊號不為觸控訊號時,第二判斷單元用以判斷觸控面板的物理特性是否改變。當感應訊號不為觸控訊號且觸控面板的物理特性改變時,調校單元針對感應訊號受改變所對應之一感應區域,調校對應感應區域之感應參數。
為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下:
1000、5000‧‧‧觸控面板之控制系統
100、500、600‧‧‧觸控模組
110‧‧‧感應單元
120‧‧‧彎曲感測器
130‧‧‧觸控面板
140、540‧‧‧第一判斷單元
150、550‧‧‧第二判斷單元
160‧‧‧儲存單元
170‧‧‧調校單元
180‧‧‧報點單元
123‧‧‧溫度感測器
125‧‧‧壓力感測器
128‧‧‧計數器
590‧‧‧處理單元
A、B‧‧‧面板區域
θ‧‧‧兩彎摺區域間之夾角
S1-S5、S21、S22‧‧‧感應訊號發生區域
L‧‧‧面板摺線
第1A~1B圖繪示第一實施例之觸控面板之控制系統之方塊圖。
第2圖繪示第一實施例之觸控面板之控制方法的流程圖。
第3圖繪示第一實施例之步驟S230之細部流程圖。
第4A~4E圖繪示第一實施例之觸控面板之物理特性改變的示意圖。
第5圖繪示第二實施例之觸控面板之控制系統之方塊圖。
第6圖繪示繪示第三實施例之觸控面板之彎曲使用方式的示意圖。
第7圖繪示第四實施例之觸控面板之控制方法的流程圖。
第一實施例
請參照第1A~1B圖,其繪示第一實施例之觸控面板之控制系統1000之方塊圖。如第1A圖所示,觸控面板之控制系統1000包括一觸控模組100及一彎曲感測器120。彎曲感測器120用以判斷觸控面板130是否彎曲。
此外,觸控模組100包括一觸控面板130、一感應單元110、一第一判斷單元140、一第二判斷單元150、一儲存單元160、一調校單元170及一報點單元180。觸控面板130用以接收使用者之一觸控訊號,例如是由觸控線路所組成之一電容式觸控面板、一電阻式觸控面板、一聲波式觸控面板或一光學式觸控面板,且觸控面板130耦接於感應單元110。感應單元110、第一判斷單元140、第二判斷單元150、儲存單元160、調校單元170及報點單元180例如是耦接於觸控面板130之軟性電路板及印刷電路板。感應單元110耦接於觸控面板130,以接收觸控面板130輸出之訊號。第一判斷單元140及第二判斷單元150用以進行各種判斷程序,且第一判斷單元140耦接於感應單元110、第二判斷單元150、調校單元170及報點單元180,而第二判斷 單元150耦接於調校單元170及報點單元180,亦可選擇性地耦接彎曲感測器120。儲存單元160用以儲存各項資訊,例如是一記憶體、一硬碟、一記憶卡等可用以儲存各項資訊之裝置,也可為一遠端連線之存取裝置,儲存單元160耦接於調校單元170、感應單元110及第一判斷單元140。調校單元170用以調校觸控面板130。報點單元180用以進行一觸控報點程序,觸控報點程序可以是於觸控面板130上顯示報點、利用報點訊號進行運算或傳送一報點訊號等,在此不加以限制。其中,感應單元110、第一判斷單元140、第二判斷單元150、調校單元170及報點單元180例如是一微處理晶片、一韌體電路或儲存複數組程式碼之一儲存媒體。
請參照第2圖,其繪示第一實施例之觸控面板之控制方法的流程圖。為了清楚說明上述各項元件的運作以及本實施例觸控面板之控制方法,以下係搭配一流程圖詳細說明如下。然而,本案所屬技術領域中具有通常知識者均可瞭解,本實施例之觸控面板之控制方法並不侷限應用於第1A~1B圖之觸控模組100,也不侷限於流程圖之各項步驟順序。
首先,請同時參照第1A圖及第4A-4E圖,第4A-4E圖繪示第一實施例之觸控模組100之物理特性改變的示意圖。於本實施例中,觸控面板130可以為一可摺式觸控面板(foldable touch panel)。在步驟S210中,觸控面板130讀取儲存單元160中所儲存之一初始感應參數。
接著,於S220中,感測單元110接收一感應訊號。感應訊號可為使用者觸控訊號,也可能是面板被彎曲而產生之雜訊訊號。
在步驟S230中,第一判斷單元140判斷感應訊號是否為一觸控訊號。若感測訊號不是觸控訊號,則進行步驟S240。若判斷感測訊號是觸控訊號,則進行步驟S250。
此外,請參照第3圖,其繪示第一實施例之步驟S230之細部流程圖。本實施例之步驟S230包括步驟S231-S234,各步驟由以下敘述之。
在步驟S231中,第一判斷單元140統計感應訊號受改變之感應區域S1面積,並判斷感應區域S1之面積是否大於一門檻值,若感應區域S1之面積大於門檻值,則判斷感應訊號不為觸控訊號,若感應區域之面積不大於門檻值,則判斷感應訊號為觸控訊號。
例如第4A圖所示,例如當第一判斷單元140統計感應訊號受改變之感應區域S1面積後,第一判斷單元140判斷感應區域S1之面積是否大於一門檻值,於此例中,感應區域S1之面積不大於門檻值,則進入步驟S233。於步驟S233中,第一判斷單元140判斷感應訊號為觸控訊號,並執行步驟S250以利用報點單元180進行一觸控報點程序。反之,例如當第一判斷單元140統計感應訊號受改變之感應區域S2面積後,第一判斷單元140判斷感應區域S2之面積大於門檻值,則進入步驟S234, 其中感應區域S2可能是大面積觸碰、手掌觸碰或因為面板物理特性改變所造成之現象。於步驟S234中,第一判斷單元140判斷感應訊號不為觸控訊號,並執行步驟S240。
如此一來,由於使用者通常係以手指或觸控筆接觸觸控面板130,因此使用者輸入的觸控訊號具有觸碰面積小的特性;相反地,較大面積的感應訊號可能為面板凹摺部位所造成之雜訊,例如第4A圖所示之感應區域S2之較大面積可能係因為觸控模組100延著虛線被凹摺或擠壓所造成的。因此,上述步驟係藉由觸控訊號面積大小的特性,以判斷感應訊號是否為一觸控訊號。
接著,在步驟S240中,當感應訊號不為觸控訊號時,第二判斷單元150用以判斷觸控面板130的物理特性是否改變,若觸控面板130的物理特性改變,則進入步驟S260,若觸控面板130的物理特性未改變,則進入步驟S250。
其中,觸控面板130的物理特性係指觸控面板130之面板形態改變(例如彎曲、凹摺)或所處環境的溫度、濕度或壓力改變或面板老化所導致的本質特性改變,例如第4B圖所示之感應區域S21之較大面積係為觸控模組100之潮濕區域,係因為環境過於潮濕而導致的本質特性改變,又例如第4C圖所示之感應區域S22之較大面積表示為觸控模組100之日照高溫區域,其係因日照而導致的本質特性改變。此外,如第1B圖所示,第二判斷單元150可進一步耦接至一物理特性感測器,物理特性感測 器例如是彎曲感測器120、溫度感測器123、壓力感測器125、計數器128以測得環境資訊或使用時間,並將環境資訊傳送至第二判斷單元。
於此步驟中,第二判斷單元150用以判斷觸控面板130之物理特性是否改變,例如判斷觸控面板130是否彎曲,若觸控面板130之物理特性改變,例如觸控面板130彎曲,則進入步驟S260。若觸控面板130沒有物理特性改變,例如觸控面板130沒有彎曲,則進入步驟S250。
進一步舉例,如第4D圖所示,若將觸控模組100沿著摺線L彎摺後,使其側面如第4E圖所示,觸控模組100之面板區域A與面板區域B具有一夾角θ。在此例中,第二判斷單元150可依據彎曲感測器120判斷觸控面板130係為彎曲,意即其物理特性改變,則進入步驟S260。另外,於另一實施例中,第二判斷單元150係依據感應單元110所接收之感應訊號之內容,以判斷觸控面板130是否彎曲,藉此方式可使觸控面板130之控制系統1000不需設置彎曲感測器120,亦可判斷出觸控面板130是否彎曲。
由於前述步驟S230-S240已判斷感應訊號不為觸控訊號且觸控面板130物理特性改變,因此,在步驟S260中,調校單元170針對感應訊號受改變所對應之一感應區域,調校對應感應區域之感應參數,以獲得一新感應參數值。藉此,當觸控面板130之感應單元110再次擷取到一新感應參數值後,又再次獲 得一新感應訊號,則可藉由上述方法反覆進行判別,直到判斷出接收到的感應訊號為觸控訊號,才由報點單元180計算出觸控座標。此外,調校單元170於步驟S260中,調校觸控面板130之一掃描頻率、一增益值、一驅動電壓、一感應震盪電壓上下限、一震盪次數、一充放電電流或一充放電時間等其中至少一參數或其他有相同功效之參數。
例如第4D圖所示,感應訊號S3可由前述步驟S230-S240所述之方法判斷出其不為觸控訊號且觸控面板130物理特性改變,因此在步驟S260中,調校單元170進一步針對感應訊號受改變所對應之感應區域S3,利用調校觸控面板130之一掃描頻率配置、一增益配置或一驅動電壓配置,以調校對應感應區域S3之感應參數,以獲得一新感應參數值。因此,透過上述步驟,觸控面板130可藉由第一判斷單元140利用接收到的感應訊號之面積之大小,以判斷是否感應訊號為觸控訊號,並利用第二判斷單元150依據感應訊號內容以判斷觸控面板130是否物理特性改變,當感應訊號不為觸控訊號且觸控面板130物理特性改變時,再進一步利用調校單元170調校針對應感應區域之感應參數,以獲得一新感應參數值,而無需將觸控面板130整面作調校。
上述步驟可使偵測到觸控面板130物理特性改變(例如:彎曲事件)之區域,能達到利用動態調整此區域之感應參數,使得此區域與物理特性未改變(例如:未彎曲)區域之感應參數一致之功效。例如,由於觸控面板130可能因為彎曲多次後, 即使在攤平狀態時,彎曲處的結構仍造成變異,例如將觸控面板130攤平後,觸控面板130仍有彎曲不平的情況。此外,觸控面板130可能因為在攤平狀態時,受到環境溫度或濕度改變所導致其電性特性的變動。再者,觸控面板130在本身製作時,其部份區域即有電性特性不均之物理現象。因此,藉由上述步驟更能避免觸控面板130因物理特性改變而產生誤觸訊號,進而改善使用者對於觸控面板130操控之準確度。此外,若重複執行上述步驟,則可藉由調校針對應感應區域之初始感應參數,而獲得一新感應參數值,接著,當觸控面板130再次由使用者輸入或由物體觸碰而接收到一新感應訊號時,則可藉由上述方法反覆進行判別,直到判斷出接收到的新感應訊號為觸控訊號,才以報點單元180計算出觸控座標並進行報點操作,以增進系統判別接收到之感應訊號是否為觸控訊號的準確度。
第二實施例
請參照第5圖,繪示第二實施例之觸控面板之控制系統之方塊圖。本實施例之觸控面板之控制系統5000與第一實施例之觸控面板之控制系統1000不同之處在於本實施例之觸控面板之控制系統5000之元件安排。在本實施例中,第一判斷單元540及第二判斷單元550係配置於觸控模組500以外的一處理單元590內,處理單元590例如是一微處理晶片、一韌體電路或儲存複數組程式碼之一儲存媒體。此外,觸控模組500包括觸控 面板130、儲存單元160、感應單元110、調校單元170及報點單元180。
其中,第一判斷單元540耦接於第二判斷單元550,觸控面板130耦接於感應單元110,第一判斷單元540耦接於儲存單元160、感應單元110、調校單元170、報點單元180及第二判斷單元550,第二判斷單元550耦接於調校單元170及報點單元180,第二判斷單元550亦可選擇性地耦接彎曲感測器120。
如第5圖所示,觸控面板之控制系統5000包括一觸控模組500、一彎曲感測器120及一處理單元590。
其中,處理單元590更包括一第一判斷單元540及一第二判斷單元550。而觸控模組550包括一觸控面板130、一感應單元110、一儲存單元160、一調校單元170及一報點單元180。藉此,當觸控面板130接收到的感應訊號之資料量較龐大時,可進一步將感應訊號傳送至處理單元590,使處理單元590協助觸控模組500進行運算。
此外,由於本實施例各個元件所對應之功能及其步驟與第一實施例相同,因此相同之處不再重述。
第三實施例
請參照第6圖,其繪示第三實施例之觸控面板之彎曲方式的示意圖。本實施例之觸控面板之彎曲方式與第一實施例之觸控面板之彎曲方式不同之處在於本實施例之觸控模組600為 一可撓性觸控面板(flexible touch panel),其餘部份皆與第一實施例相同,此處不再重覆敘述。
如第6圖所示,由於觸控模組600具有可撓性,因此當使用者手持觸控模組600時,容易因為使用者的施力使觸控模組600局部扭曲。因此,藉由第一實施例之觸控面板之控制方法,可調校被誤觸之感應區域S5的感應參數,而避免誤觸之感應區域S5影響使用者真正欲觸控之感應區域S4之訊號感測。
第四實施例
請同時參照第1A圖及第7圖,第7圖繪示第四實施例之觸控面板之控制方法的流程圖。在本實施例與第一實施例不同之處在於本實施例可於第一實施例之步驟S240之後,係透過例如以下步驟,以進一步判斷是否需對觸控面板130進行感應參數之全面調校,或僅需針對觸控面板130進行局部調校。
於步驟S240中,當第二判斷單元150判斷觸控面板130物理特性改變時,進行步驟S720。當第二判斷單元150判斷觸控面板130物理特性未改變時,則進入步驟S760,以進行報點程序。
於步驟S720中,第二判斷單元150更用以計算觸控面板130之一物理特性變化速度,物理特性變化速度例如為一彎曲變化頻率、一凹摺觸控面板速度或一凹摺觸控面板次數。彎曲變化頻率例如是一單位時間內凹摺觸控面板130的次數。
接著,進行步驟S730,第二判斷單元150判斷物理特性變化速度是否大於一報點頻率,若物理特性變化速度大於報點頻率,則進入步驟S740,若物理特性變化速度不大於報點頻率,則進入步驟S750。例如第二判斷單元150判斷彎曲變化頻率是否大於一報點頻率。其中,報點頻率則例如是一單位時間內報點單元180進行報點的次數。若彎曲變化頻率大於報點頻率,則進入步驟S740,使調校單元170局部調教觸控面板130之感應參數後,才進入步驟S760,以進行報點程序。
另一方面,若物物理特性變化速度不大於報點頻率,例如彎曲變化頻率不大於報點頻率,則進入步驟S750,使調校單元170全面調教觸控面板130之感應參數後,才進入步驟S760,以進行報點程序。
舉例而言,當使用者閱讀觸控面板130所顯示之資訊時,以快速開闔觸控面板130的方式進行翻頁操作,藉此搜尋其中某一頁時,則於每快速開闔觸控面板130一次,即需進行報點一次,使得報點頻率跟不上使用者彎曲觸控面板130的頻率,故此時觸控面板130彎曲變化頻率大於報點頻率;在此情況下,調校單元170僅須先局部調校觸控面板130之感應參數,例如先調校顯示之頁碼部份,使被調校的頁碼部分得以在較高的彎曲變化頻率下,正常地被使用者閱讀。相反地,若使用者仔細閱讀每一頁的文字時,可能久久才翻一頁,於此情況下,彎曲變化頻率不大於報點頻率,故調校單元170可全面調教觸控面板130之感 應參數,以給予使用者較良好的閱讀品質。
此外,步驟S740-S750可等同於第一實施例之步驟S260之細部流程。因此藉由上述判斷彎曲變化頻率是否大於報點頻率之步驟,更可以節省運算之資料量,並即時顯示出調校後的畫面,以利使用者閱讀。
雖然上述實施例係分為第一實施例-第四實施例為例作說明,然而第一實施例-第四實施例可視情況結合其中複數個實施例同時實施於同一觸控面板之控制系統上。舉例而言,當觸控面板130為可撓性觸控面板,且接收的感應訊號資料量龐大時,則可使用第二實施例所述之系統架構,使用處理單元以增加運算效能,並進一步結合第三實施例所述之可撓性觸控面板之觸控面板控制方法,以調校觸控面板凹摺處之感應參數,使系統同時具有良好效能及避免凹摺所造成之誤觸訊號。
因此,本發明上述實施例所揭露之觸控面板之控制系統及其控制方法,可即時偵測感應訊號是否為觸控訊號以及面板是否有彎摺,以進一步判斷觸控面板是否具有彎曲誤報點事件,藉此不需使用整面重新校正基準,僅需針對彎摺處進行感應參數之調校,即可達到校正觸控面板之功效。
綜上所述,雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾。因此,本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者 為準。
S210~S260‧‧‧流程步驟

Claims (24)

  1. 一種觸控面板之控制系統,包括:一儲存單元,用以儲存一觸控面板之一感應參數;一感應單元,用以接收一感應訊號;一第一判斷單元,用以判斷該感應訊號是否為一觸控訊號;一第二判斷單元,當該感應訊號不為該觸控訊號時,該第二判斷單元用以判斷該觸控面板的一物理特性是否改變;以及一調校單元,當該感應訊號不為該觸控訊號且該觸控面板的該物理特性改變時,該調校單元針對該感應訊號受變化所對應之一感應區域,調校對應該感應區域之該感應參數。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,更包括:一報點單元,該感應訊號係為該觸控訊號時,則該報點單元用以進行一觸控報點程序。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,更包括:一報點單元,當該感應訊號不為該觸控訊號,且該觸控面板的該物理特性未改變,則該報點單元用以進行一觸控報點程序。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,其中該第一判斷單元統計該感應訊號受變化之該感應區域,並判斷該感應區域之面積是否大於一門檻值,若該感應區域之面積大於該門檻值,則判斷該感應訊號不為該觸控訊號;若該感應區域之面積不大於該門檻值,則判斷該感應訊號為該觸控訊號。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,其中該第 二判斷單元更用以計算該觸控面板之一物理特性變化速度,並判斷該物理特性變化速度是否大於一報點頻率,若該物理特性變化速度大於該報點頻率,則該調校單元局部調教該觸控面板之該感應參數,若該物理特性變化速度不大於該報點頻率,則該調校單元全面調校該觸控面板之該感應參數。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,其中該第二判斷單元係依據該感應訊號之內容判斷該觸控面板之該物理特性是否改變。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,其中該第二判斷單元係依據一彎曲感測器以判斷該觸控面板是否彎曲而導致該物理特性被改變。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,其中該第二判斷單元係依據一物理特性感測器用以判斷該觸控面板之該物理特性是否改變。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,其中該調校單元係調校該觸控面板之一掃描頻率、一增益值、一驅動電壓、一感應震盪電壓上下限、一震盪次數、一充放電電流或一充放電時間。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,其中該觸控面板的物理特性係指該觸控面板之面板形態改變或所處環境的一溫度、一濕度或一壓力改變或一面板老化所導致的本質特性改變。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,其中該觸控面板係為一電容式觸控面板、一電阻式觸控面板、一聲波式觸控面板或一光學式觸控面板。
  12. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,其中該觸控面板耦接於該感應單元,該第一判斷單元耦接於該第二判斷單元、該感應單元、該調校單元及該報點單元,該第二判斷單元耦接於該調校單元、該報點單元及一彎曲感測器,該儲存單元耦接於該調校單元。
  13. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板之控制系統,更包括:一處理單元,包括該第一判斷單元及該第二判斷單元,其中該第一判斷單元耦接於該第二判斷單元;以及一觸控模組,包括該觸控面板、該儲存單元、該感應單元、該調校單元及該報點單元;其中該觸控面板耦接於該感應單元,該第一判斷單元耦接於該儲存單元、該感應單元、該調校單元、該報點單元及該第二判斷單元,該第二判斷單元耦接於該調校單元、該報點單元及一彎曲感測器。
  14. 一種觸控面板之控制方法,包括:提供一觸控面板之一感應參數;以該觸控面板接收一感應訊號;判斷該感應訊號是否為一觸控訊號;若該感應訊號不為該觸控訊號,則判斷該觸控面板的一物理特性是否改變;以及若該觸控面板的該物理特性改變,則針對該感應訊號受變化所對應之一感應區域,調校對應該感應區域之該感應參數。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板之控制方法,更包括:若該感應訊號係為該觸控訊號,則進行一觸控報點程序。
  16. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板之控制方法,其中若該感應訊號不為該觸控訊號,且若該觸控面板的該物理特性未改變,則進行一觸控報點程序。
  17. 如申請專利範圍第14項所述之控面板之控制方法,其中判斷該感應訊號是否為該觸控訊號之步驟,更包括:統計該感應訊號受變化之該感應區域面積;判斷該感應區域之面積是否大於一門檻值;若該感應區域之面積大於該門檻值,則該感應訊號不為該觸控訊號;以及若該感應區域之面積不大於該門檻值,則該感應訊號係為該觸控訊號。
  18. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板之控制方法,其中在判斷該觸控面板之一物理特性是否改變之步驟之後,該控制方法更包括:計算該觸控面板之一物理特性變化速度;以及判斷該該物理特性變化速度是否大於一報點頻率;其中,若該物理特性變化速度大於該報點頻率,則在調校對應該感應區域之該感應參數之步驟中,局部調校該觸控面板之該感應參數;若該物理特性變化速度不大於該報點頻率,則在調校對應該感應區域之該感應參數之步驟中,全面調校該觸控面板之該感應參數。
  19. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板之控制方法,其中在判斷該觸控面板之一物理特性是否改變之步驟中,係依據該感應訊號判斷該觸控面板之該物理特性是否改變。
  20. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板之控制方法,其中在判斷該觸控面板的一物理特性是否改變之步驟中,係以一物理特性感測器判斷該觸控面板之該物理特性是否被改變。
  21. 如申請專利範圍第20項所述之觸控面板之控制方法,其中該物理特性感測器係為一彎曲感測器,用以判斷該觸控面板是否彎曲而導致該物理特性被改變。
  22. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板之控制方法,其中在調校對應該感應區域之該感應參數之步驟中,係調校該觸控面板之一掃描頻率、一增益值、一驅動電壓、一感應震盪電壓上下限、一震盪次數、一充放電電流或一充放電時間。
  23. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板之控制方法,其中該觸控面板的該物理特性係指該觸控面板之面板形態改變或所處環境的一溫度、一濕度或一壓力改變或一面板老化所導致的本質特性改變。
  24. 如申請專利範圍第14項所述之觸控面板之控制方法,其中該觸控面板係為一電容式觸控面板、一電阻式觸控面板、一聲波式觸控面板或一光學式觸控面板。
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