TW201447227A - 檢測治具及其檢測方法 - Google Patents
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Abstract
一種檢測治具包含治具主體、仿面板件、指示裝置及探針檢測裝置。待測面板背框可拆卸地設置於治具主體上。仿面板件設置於治具主體上。探針檢測裝置設置於仿面板件內且包含探針及導電件。探針穿設於仿面板件中以於初始與觸發位置之間上下移動,當探針位於初始位置時,探針相對於仿面板件向上伸出以抵接於待測面板背框。導電件設置於探針下且與探針分別耦接於指示裝置,當待測面板背框相對於仿面板件內凹至接觸到仿面板件之位置以驅動探針下移至觸發位置時,探針接觸導電件以導通指示裝置。
Description
本發明係關於一種檢測治具及其檢測方法,尤指一種用來檢測待測面板背框之內凹變形程度的檢測治具及其檢測方法。
隨著現今金屬成型製程的進步,外殼由金屬材質所組成之設計係已廣泛地應用在可攜式電子設備(如筆記型電腦等)上,藉以進一步地提升可攜式電子設備之外觀質感,舉例來說,筆記型電腦之液晶面板顯示裝置的背框採用金屬(如鋁皮)接合製程成型即為最常見的應用之一。
然而,在金屬背框的成型過程中,常會因為施加於其上之表面處理製程而在金屬背框中產生殘留應力,例如鋁皮背框中通常會存在有經過商標衝壓成型以及表面銑平處理後所產生的殘留應力,因此,當使用者按壓到鋁皮背框上經過表面處理製程的位置(如商標形成位置)時,分佈於鋁皮背框中之殘留應力就會使鋁皮背框產生表面向內凹陷並發出類似打鼓聲音的現象,而若是將具有過大殘留應力之鋁皮背框組裝至可攜式電子設備上,殘留應力往往就會導致鋁皮背框在受按壓時出現嚴重內凹現象而碰撞到液晶面板並造成液晶面板損壞問題,從而產生顯示不良情況(如水波紋、白斑等)而大大地影響到液晶面板顯示裝置之顯示品質。
本發明之目的之一在於提供一種用來檢測待測面板背框之內凹變形程度的檢測治具及其檢測方法,以解決上述之問題。
本發明之申請專利範圍係揭露一種檢測治具,用來檢測一待測面板背框之內凹變形程度,該檢測治具包含一治具主體、一仿面板件、一指示
裝置,以及一探針檢測裝置。該待測面板背框可拆卸地設置於該治具主體上。該仿面板件設置於該治具主體上以於該待測面板背框設置於該治具主體上時容置於該治具主體以及該待測面板背框之間。該指示裝置設置於該治具主體上。該探針檢測裝置設置於該仿面板件內,該探針檢測裝置包含一探針以及一導電件。該探針穿設於該仿面板件中且可彈性地相對該仿面板件於一初始位置與一觸發位置之間上下移動,當該探針位於該初始位置時,該探針相對於該仿面板件向上伸出以抵接於該待測面板背框。該導電件設置於該探針下且與該探針分別耦接於該指示裝置,當該待測面板背框相對於該仿面板件內凹至接觸到該仿面板件之位置以驅動該探針向下移動至該觸發位置時,該探針接觸該導電件以導通該指示裝置。
本發明之申請專利範圍另揭露該探針上突出形成有一限位塊,該探針檢測裝置另包含一第一彈性件,其套設於該探針上且設置於該限位塊以及該導電件之間,用來提供彈力以驅動該探針移動至該初始位置。
本發明之申請專利範圍另揭露該探針檢測裝置另包含一絕緣件,其套設於該探針上,該第一彈性件之兩端分別與該限位塊以及該絕緣件抵接。
本發明之申請專利範圍另揭露該檢測治具另包含至少一滑塊以及至少一扣勾。該至少一滑塊可活動地設置於該治具主體內以於一釋放位置以及一扣接位置間移動。該至少一扣勾設置於該至少一滑塊上,用來於該待測面板背框設置於該治具主體上且該至少一滑塊移動至該扣接位置時扣接住該待測面板背框以將該待測面板背框定位於該治具主體上,以及用來於該至少一滑塊移動至該釋放位置時與該待測面板背框分離。
本發明之申請專利範圍另揭露該待測面板背框具有至少一卡槽,該至少一扣勾設置於該至少一滑塊對應該至少一卡槽之位置上,當該待測面板背框設置於該治具主體上且該至少一滑塊移動至該扣接位置時,該至少一扣勾扣接住該至少一卡槽以將該待測面板背框定位於該治具主體上,當該至少一滑塊移動至該釋放位置時,該至少一扣勾與該至少一卡槽分離。
本發明之申請專利範圍另揭露該檢測治具另包含至少一第二彈性件,其設置於該至少一滑塊以及該治具主體之間,用來提供彈力以驅動該至少一滑塊移動至該扣接位置。
本發明之申請專利範圍另揭露該檢測治具另包含一驅動裝置,其設置於該治具主體內且連接於該至少一滑塊,用來驅動該至少一滑塊移動至該釋放位置。
本發明之申請專利範圍另揭露該驅動裝置包含至少一氣壓驅動桿件以及一控制開關。該至少一氣壓驅動桿件連接於該至少一滑塊。該控制開關設置於該至少一氣壓驅動桿件上,用來控制該至少一氣壓驅動桿件驅動該至少一滑塊移動至該釋放位置。
本發明之申請專利範圍更揭露一種利用一檢測治具檢測一待測面板背框之內凹變形程度的檢測方法,該檢測治具包含一治具主體、一仿面板件、一指示裝置,以及一探針檢測裝置,該仿面板件設置於該治具主體上,該探針檢測裝置包含一探針以及一導電件,該探針可相對該仿面板件上下移動且與該導電件分別耦接於該指示裝置,該檢測方法包含將該待測面板背框設置於該治具主體上以與該探針抵接、按壓該面板背框以使該待測面板背框相對於該仿面板件內凹,以驅動該探針相對於該仿面板件向下移動,以及根據該探針是否向下移動至接觸該導電件之位置以導通該指示裝置之一檢測結果,判斷出該待測面板背框是否內凹至接觸到該仿面板件之位置。
本發明之申請專利範圍另揭露該檢測治具另包含至少一扣勾,將該待測面板背框設置於該治具主體上以與該探針抵接之步驟包含以該扣勾可分離地扣接住該待測面板背框之方式將該待測面板背框定位於該治具主體上。
本發明之申請專利範圍另揭露以該扣勾可分離地扣接住該待測面板背框之方式將該待測面板背框定位於該治具主體上之步驟包含以氣壓驅動方式驅動該扣勾與該待測面板背框分離。
本發明之申請專利範圍更揭露該指示裝置係為一指示燈,當該探針與該導電件導通該指示裝置時,該指示裝置發光以指示出該待測面板背框已內凹至接觸到該仿面板件之位置。
綜上所述,本發明所提供之檢測治具係利用探針被向內凹陷之待測面板背框驅動以導通指示裝置與否的檢測方法,以協助使用者判斷出受到殘留應力影響而內凹之待測面板背框是否會碰撞到液晶面板。如此一來,透過上述使用檢測治具檢測待測面板背框之檢測方法,使用者即可準確地得知待測面板背框是否具有破壞面板風險,以作為後續是否針對待測面板背框進行工件改善流程(如結構補強或消除殘留應力等)或是直接使用待測面板背框進行後續組裝流程的參考依據,藉以有效地解決先前技術中所提及之將具有過大殘留應力之面板背框組裝至可攜式電子設備上時所產生的面板損壞問題以及避免因面板背框所導致之顯示不良情況(如水波紋、白斑等),從而提升液晶面板顯示裝置之顯示品質。
關於本發明之優點與精神可以藉由以下的實施方式及所附圖式得到進一步的瞭解。
10‧‧‧檢測治具
12‧‧‧待測面板背框
13‧‧‧卡槽
14‧‧‧治具主體
16‧‧‧仿面板件
18‧‧‧指示裝置
20‧‧‧探針檢測裝置
22‧‧‧滑塊
24‧‧‧扣勾
26、34‧‧‧彈性件
28‧‧‧驅動裝置
29、31‧‧‧電線
30‧‧‧探針
32‧‧‧導電件
33‧‧‧限位塊
36‧‧‧絕緣件
38‧‧‧氣壓驅動桿件
40‧‧‧控制開關
第1圖為根據本發明一實施例所提出之檢測治具設置有待測面板背框之立體示意圖。
第2圖為第1圖之檢測治具之爆炸示意圖。
第3圖為第2圖之探針檢測裝置之部分放大示意圖。
第4圖為第2圖之滑塊、彈性件、扣勾,以及驅動裝置之部分放大示意圖。
第5圖為本發明利用第1圖之檢測治具檢測待測面板背框之檢測方法的流程圖。
第6圖為第1圖之檢測治具沿剖面線A-A’之部分剖面示意圖。
第7圖為第1圖之檢測治具沿剖面線B-B’之部分剖面示意圖。
第8圖為第6圖之探針移動至觸發位置之部分剖面示意圖。
第9圖為第7圖之滑塊移動至釋放位置之部分剖面示意圖。
請參閱第1圖以及第2圖,第1圖為根據本發明一實施例所提出之一檢測治具10設置有一待測面板背框12之立體示意圖,第2圖為第1圖之檢測治具10之爆炸示意圖,檢測治具10係用來檢測一待測面板背框12之內凹變形程度,以協助檢測人員能夠據以檢測出具有破壞面板風險之面板背框,其中待測面板背框12係可為用來與面板前框(bezel)接合以容置液晶面板之背框。如第1圖以及第2圖所示,檢測治具10包含一治具主體14、一仿面板件16、一指示裝置18、一探針檢測裝置20、至少一滑塊22、至少一扣勾24、至少一彈性件26,以及一驅動裝置28。待測面板背框12係可拆卸地設置於治具主體14上。仿面板件16係可為與待測面板背框12所適用之液晶面板尺寸相同的面板仿製工件且設置於治具主體14上,以於待測面板背框12設置於治具主體14上時,容置於治具主體14以及待測面板背框12之間。指示裝置18係設置於治具主體14上,在此實施例中,指示裝置18係可較佳地為一指示燈(如發光二極體等)以藉由發光指示方式使檢測人員得知檢測治具10之檢測結果,但不受此限,其亦可改為其他常見指示用設備,舉例來說,在另一實施例中,指示裝置18係可為一喇叭以藉由發聲指示方式使檢測人員得知檢測治具10之檢測結果。
接著,請參閱第2圖以及第3圖,第3圖為第2圖之探針檢測裝置20之部分放大示意圖,由第2圖以及第3圖可知,探針檢測裝置20係設置於仿面板件16內且包含一探針30以及一導電件32,探針30係穿設於仿面板件16中且可彈性地相對於仿面板件16上下移動,導電件32係可較佳地為一導電片(如銅片等)而設置於探針30下且與探針30分別經由如第2圖所示之電線29以及電線31耦接至指示裝置18,也就是說,在探針30尚未接觸到導電件32前(如第3圖所示),探針30以及導電件32會導致指示裝
置18呈開路狀態而無法發光,反之,在探針30接觸到導電件32後,探針30以及導電件32就會導致指示裝置18呈閉路導通狀態而發光,藉此,探針30是否有接觸到導電件32即可透過指示裝置18發光與否之方式而判斷出。至於探針30之彈性移動設計以及探針30與導電件32之間的絕緣設計,在此實施例中,如第3圖所示,探針30上可突出形成有一限位塊33,探針檢測裝置20可另包含一彈性件34以及一絕緣件36,其中彈性件34可較佳地為一彈簧。彈性件34以及絕緣件36係分別套設於探針30上,彈性件34之兩端係分別抵接於限位塊33以及絕緣件36以用來提供彈力驅動探針30回位,而透過絕緣件36設置於探針30以及導電件32之間的配置,檢測治具10即可更進一步地避免探針30不慎接觸到導電件32的情況發生。需注意的是,探針30之彈性移動設計係可不限於上述實施例,其亦可改採用其他常見於先前技術中之彈性移動設計,例如設置彈片於探針30以及導電件32之間等,換句話說,只要是使探針能夠彈性地相對仿面板件於初始位置與觸發位置之間上下移動之設計,其均可為本發明所採用之。
此外,在此實施例中,檢測治具10係較佳地採用扣勾可活動地扣接住待測面板背框12或與待測面板背框12分離之設計(但不受此限,其亦可改採用其他結構定位設計,例如孔柱定位設計等)以達到待測面板背框12可拆卸地設置於治具主體14上之目的。舉例來說,在此實施例中,檢測治具10可包含四滑塊22,而每一滑塊22上設置有至少四扣勾24以及三彈性件26(如第2圖以及第4圖所示),但不受此限,也就是說,滑塊22之配置數量以及設置於其上之扣勾24以及彈性件26的配置數量係可根據檢測治具10之實際設計需求而有所變化。除此之外,驅動裝置28係設置於治具主體14內且連接於每一滑塊22,更詳細地說,在此實施例中,驅動裝置28係較佳地採用氣壓驅動設計,如第2圖以及第4圖所示,驅動裝置28可包含至少一氣壓驅動桿件38(於第2圖中顯示四個,但不受此限)以及一控制開關40,每一氣壓驅動桿件38係連接於相對應之滑塊22,而控制開關40則是設置於
氣壓驅動桿件38上,藉以用來控制每一氣壓驅動桿件38驅動相對應之滑塊22移動至使相對應之扣勾24與待測面板背框12分離之位置。
於此係針對檢測治具10之檢測操作進行詳細之描述,請參閱第5圖、第6圖、第7圖、第8圖,以及第9圖,第5圖為本發明利用第1圖之檢測治具10檢測待測面板背框12之檢測方法的流程圖,第6圖為第1圖之檢測治具10沿剖面線A-A’之部分剖面示意圖,第7圖為第1圖之檢測治具10沿剖面線B-B’之部分剖面示意圖,第8圖為第6圖之探針30移動至觸發位置之部分剖面示意圖,第9圖為第7圖之滑塊22移動至釋放位置之部分剖面示意圖。本發明之檢測方法包含下列步驟。
步驟500:將待測面板背框12設置於治具主體14上以與探針30抵接;步驟502:按壓待測面板背框12以使待測面板背框12相對於仿面板件16內凹,以驅動探針30相對於仿面板件16向下移動;步驟504:根據探針30是否向下移動至接觸到導電件32之位置以導通指示裝置18的檢測結果,判斷待測面板背框12是否內凹至接觸到仿面板件16之位置。
於此係針對上述步驟進行說明。首先,如步驟500所述,使用者係可將待測面板背框12設置於治具主體14上,更詳細地說,使用者係可直接將待測面板背框12放置於治具主體14上,並接著下壓待測面板背框12之周圍,以使扣勾24可受壓而扣接於待測面板背框12相對應之一卡槽13內(如第7圖所示),其中扣勾24係可設置於滑塊22對應卡槽13之位置上,而卡槽13係可為待測面板背框12上之用來接合於面板前框的卡合結構或是其他可與扣勾24相互扣合之卡合結構。如此一來,待測面板背框12即可穩固地接合於治具主體14上,此時,如第6圖所示,待測面板背框12係與探針30抵接。
在將待測面板背框12設置於治具主體14上後,使用者即可按壓
待測面板背框12(步驟502),此時,分佈於待測面板背框12經過表面處理製程(如表面銑平處理等)之位置(如商標形成位置等)上之殘留應力就會使待測面板背框12產生表面向內凹陷並發出類似打鼓聲音的情況,此時,使用者即可根據探針30是否向下移動之接觸導電件32之位置以導通指示裝置18的檢測結果,判斷待測面板背框12是否內凹至接觸到仿面板件16之位置(步驟504)。
舉例來說,若是待測面板背框12具有過大殘留應力而會在被按壓時出現內凹接觸到仿面板件16的情況,則向內凹陷之待測面板背框12就會驅動抵接於待測面板背框12之探針30相對於仿面板件16從如第6圖所示之初始位置向下移動至如第8圖所示之觸發位置而接觸到導電件32,從而導通指示裝置18,如此一來,指示裝置18即可相對應地呈閉路導通狀態而發光,以讓使用者可清楚地得知待測面板背框12已內凹至接觸到仿面板件16之位置,也就是說,使用者即可據以判斷出待測面板背框12會在出現因殘留應力所導致的向內凹陷現象時碰撞到液晶面板並造成液晶面板損壞的問題而得知待測面板背框12具有破壞面板風險,以作為後續是否針對待測面板背框12進行工件改善流程(如結構補強或消除殘留應力等)的參考依據,如此一來,檢測治具10即可有效地解決先前技術中所提及之將具有過大殘留應力之面板背框組裝至可攜式電子設備上時所產生的面板損壞問題以及避免因面板背框所導致之顯示不良情況(如水波紋、白斑等),從而提升液晶面板顯示裝置之顯示品質。
另一方面,若是分佈於待測面板背框12中之殘留應力不足以使待測面板背框12驅動探針30向下移動至如第8圖所示之觸發位置而接觸到導電件32,則指示裝置18就會維持開路狀態而無法發光,以讓使用者可清楚地得知待測面板背框12不會發生內凹至接觸到仿面板件16之位置的問題,也就是說,使用者即可據以得知即使待測面板背框12在出現向內凹陷現象的情況下仍然不會碰撞到仿面板件16,以作為可直接使用待測面板背框12進
行後續組裝流程的參考依據。
在完成待測面板背框12之檢測步驟後,使用者即可按壓控制開關20以控制氣壓驅動桿件38驅動滑塊22克服彈性件26所提供之彈力,而從如第7圖所示之扣接位置移動至如第9圖所示之使扣勾24與待測面板背框12之卡槽13分離的釋放位置,此時,由於待測面板背框12之卡槽13已不再被扣勾24所扣住,因此,使用者即可順利地將待測面板背框12從治具主體14上取下。
需注意的是,在使用者將待測面板背框12從治具主體14上取下並按壓控制開關20以關閉氣壓驅動桿件38對滑塊22之氣壓驅動後,彈性件26所提供之彈力即可驅動滑塊22從如第9圖所示之釋放位置回位至如第7圖所示之扣接位置,於此同時,彈性件34所提供之彈力也會驅動探針30從如第8圖所示之觸發位置回位至如第6圖所示之初始位置而伸出仿面板件16之外,以便使用者可繼續進行下一次的面板背框檢測流程。此外,驅動裝置28所採用之驅動方式係可不限於上述實施例之氣壓驅動方式,其亦可改採用其他常見之驅動設計,舉例來說,在其他實施例中,驅動裝置28係可改以機械驅動(如使用齒輪驅動等)或液壓驅動方式驅動每一滑塊22移動至如第9圖所示之釋放位置,至於其相關驅動原理及設計,其係常見於先前技術中,故於此不再贅述。
綜上所述,本發明所提供之檢測治具係利用探針被向內凹陷之待測面板背框驅動以導通指示裝置與否的檢測方法,以協助使用者判斷出受到殘留應力影響而內凹之待測面板背框是否會碰撞到液晶面板。如此一來,透過上述使用檢測治具檢測待測面板背框之檢測方法,使用者即可準確地得知待測面板背框是否具有破壞面板風險,以作為後續是否針對待測面板背框進行工件改善流程(如結構補強或消除殘留應力等)或是直接使用待測面板背框進行後續組裝流程的參考依據,藉以有效地解決先前技術中所提及之將具有過大殘留應力之面板背框組裝至可攜式電子設備上時所產生的面板損壞問
題以及避免因面板背框所導致之顯示不良情況(如水波紋、白斑等),從而提升液晶面板顯示裝置之顯示品質。
以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。
10‧‧‧檢測治具
12‧‧‧待測面板背框
16‧‧‧仿面板件
20‧‧‧探針檢測裝置
30‧‧‧探針
32‧‧‧導電件
33‧‧‧限位塊
34‧‧‧彈性件
36‧‧‧絕緣件
38‧‧‧氣壓驅動桿件
Claims (18)
- 一種檢測治具,用來檢測一待測面板背框之內凹變形程度,該檢測治具包含:一治具主體,該待測面板背框可拆卸地設置於該治具主體上;一仿面板件,其設置於該治具主體上以於該待測面板背框設置於該治具主體上時容置於該治具主體以及該待測面板背框之間;一指示裝置,其設置於該治具主體上;以及一探針檢測裝置,其設置於該仿面板件內,該探針檢測裝置包含:一探針,其穿設於該仿面板件中且可彈性地相對該仿面板件於一初始位置與一觸發位置之間上下移動,當該探針位於該初始位置時,該探針相對於該仿面板件向上伸出以抵接於該待測面板背框;以及一導電件,其設置於該探針下且與該探針分別耦接於該指示裝置,當該待測面板背框相對於該仿面板件內凹至接觸到該仿面板件之位置以驅動該探針向下移動至該觸發位置時,該探針接觸該導電件以導通該指示裝置。
- 如請求項1所述之檢測治具,其中該探針上突出形成有一限位塊,該探針檢測裝置另包含:一第一彈性件,其套設於該探針上且設置於該限位塊以及該導電件之間,用來提供彈力以驅動該探針移動至該初始位置。
- 如請求項2所述之檢測治具,其中該探針檢測裝置另包含:一絕緣件,其套設於該探針上,該第一彈性件之兩端分別與該限位塊以及該絕緣件抵接。
- 如請求項3所述之檢測治具,其另包含:至少一滑塊,其可活動地設置於該治具主體內以於一釋放位置以及一扣接位置間移動;以及 至少一扣勾,其設置於該至少一滑塊上,用來於該待測面板背框設置於該治具主體上且該至少一滑塊移動至該扣接位置時扣接住該待測面板背框以將該待測面板背框定位於該治具主體上,以及用來於該至少一滑塊移動至該釋放位置時與該待測面板背框分離。
- 如請求項4所述之檢測治具,其中該待測面板背框具有至少一卡槽,該至少一扣勾設置於該至少一滑塊對應該至少一卡槽之位置上,當該待測面板背框設置於該治具主體上且該至少一滑塊移動至該扣接位置時,該至少一扣勾扣接住該至少一卡槽以將該待測面板背框定位於該治具主體上,當該至少一滑塊移動至該釋放位置時,該至少一扣勾與該至少一卡槽分離。
- 如請求項5所述之檢測治具,其另包含:至少一第二彈性件,其設置於該至少一滑塊以及該治具主體之間,用來提供彈力以驅動該至少一滑塊移動至該扣接位置。
- 如請求項6所述之檢測治具,其另包含:一驅動裝置,其設置於該治具主體內且連接於該至少一滑塊,用來驅動該至少一滑塊移動至該釋放位置。
- 如請求項7所述之檢測治具,其中該驅動裝置包含:至少一氣壓驅動桿件,其連接於該至少一滑塊;以及一控制開關,其設置於該至少一氣壓驅動桿件上,用來控制該至少一氣壓驅動桿件驅動該至少一滑塊移動至該釋放位置。
- 如請求項1所述之檢測治具,其另包含:至少一滑塊,其可活動地設置於該治具主體內以於一釋放位置以及一扣接位置間移動;以及至少一扣勾,其設置於該至少一滑塊上,用來於該待測面板背框設置於該治具主體上且該至少一滑塊移動至該扣接位置時扣接住該待測面板背框以將該待測面板背框定位於該治具主體上,以及用來於該至少一滑塊移動至該釋放位置時與該待測面板背框分離。
- 如請求項9所述之檢測治具,其中該待測面板背框具有至少一卡槽,該至少一扣勾設置於該至少一滑塊對應該至少一卡槽之位置上,當該待測面板背框設置於該治具主體上且該至少一滑塊移動至該扣接位置時,該至少一扣勾扣接住該至少一卡槽以將該待測面板背框定位於該治具主體上,當該至少一滑塊移動至該釋放位置時,該至少一扣勾與該至少一卡槽分離。
- 如請求項9所述之檢測治具,其另包含:至少一彈性件,其設置於該至少一滑塊以及該治具主體之間,用來提供彈力以驅動該至少一滑塊移動至該扣接位置。
- 如請求項9所述之檢測治具,其另包含:一驅動裝置,其設置於該治具主體內且連接於該至少一滑塊,用來驅動該至少一滑塊移動至該釋放位置。
- 如請求項12所述之檢測治具,其中該驅動裝置包含:至少一氣壓驅動桿件,其連接於該至少一滑塊;以及一控制開關,其設置於該至少一氣壓驅動桿件上,用來控制該至少一氣壓驅動桿件驅動該至少一滑塊移動至該釋放位置。
- 如請求項1所述之檢測治具,其中該指示裝置係為一指示燈,當該探針與該導電件導通該指示裝置時,該指示裝置發光以指示出該待測面板背框已內凹至接觸到該仿面板件之位置。
- 一種利用一檢測治具檢測一待測面板背框之內凹變形程度的檢測方法,該檢測治具包含一治具主體、一仿面板件、一指示裝置,以及一探針檢測裝置,該仿面板件設置於該治具主體上,該探針檢測裝置包含一探針以及一導電件,該探針可相對該仿面板件上下移動且與該導電件分別耦接於該指示裝置,該檢測方法包含:將該待測面板背框設置於該治具主體上以與該探針抵接;按壓該面板背框以使該待測面板背框相對於該仿面板件內凹,以驅動該探針相對於該仿面板件向下移動;以及 根據該探針是否向下移動至接觸該導電件之位置以導通該指示裝置之一檢測結果,判斷出該待測面板背框是否內凹至接觸到該仿面板件之位置。
- 如請求項15所述之檢測方法,其中該檢測治具另包含至少一扣勾,將該待測面板背框設置於該治具主體上以與該探針抵接之步驟包含:以該扣勾可分離地扣接住該待測面板背框之方式將該待測面板背框定位於該治具主體上。
- 如請求項16所述之檢測方法,其中以該扣勾可分離地扣接住該待測面板背框之方式將該待測面板背框定位於該治具主體上之步驟包含:以氣壓驅動方式驅動該扣勾與該待測面板背框分離。
- 如請求項15所述之檢測方法,其中該指示裝置係為一指示燈,當該探針與該導電件導通該指示裝置時,該指示裝置發光以指示出該待測面板背框已內凹至接觸到該仿面板件之位置。
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