TWI751636B - 面板檢測裝置 - Google Patents
面板檢測裝置 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI751636B TWI751636B TW109126198A TW109126198A TWI751636B TW I751636 B TWI751636 B TW I751636B TW 109126198 A TW109126198 A TW 109126198A TW 109126198 A TW109126198 A TW 109126198A TW I751636 B TWI751636 B TW I751636B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- seat
- panel
- base
- probe
- tested
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
本發明係關於一種可用以裝設一待測面板之一面板檢測裝置,包含一基座、二軸桿、一固定座、一活動座、二軸承、二彈簧、一把手以及一探針座;該待測面板設在該基座,該二軸桿設在該基座上,該固定座固設該二軸桿,該二軸承各別固接該活動座之二軸孔;該把手樞設該固定座且抵靠於該活動座,該探針座設置於該活動座,該活動座藉由該二軸承沿著該二軸桿朝該基座的方向運動,使該探針座朝該待測面板的方向接近並讓探針座之探針電性導接於該待測面板;藉由本發明所揭露之該面板檢測裝置即可對該待測面板進行電性檢測。
Description
本發明係與電子產品檢測技術相關,特別是指一種用來檢測面板之面板檢測裝置。
因應目前用於面板檢測裝置或模組種類繁多,例如中華民國新型專利公告號第TWM344479U號乙案中(以下標號係引用於前述專利案實施例中所列的標號)所揭露的「面板檢測治具之夾具構造」,其包括有一夾具蓋1、一夾具滑塊2、一壓頭3、二軸桿4以及二彈簧6。該夾具蓋1係為一板狀體且固設於該檢測治具之軸桿4的端部,且該夾具蓋1的表面上係具有一貫穿的槽孔11;該夾具滑塊2係為一相對應於該夾具蓋1的板狀體,且該夾具滑塊2係軸接於該二軸桿4,並於該夾具滑塊2與該二軸桿4的軸接處係各別設有一軸承5,使該夾具滑塊2可在該二軸桿4上更為順暢的滑動;該二彈簧6係各別套設於該二軸桿4;該壓頭3係具有一凸塊31以及連接於該凸塊31的一壓板32,使該壓頭3藉由該凸塊31之一壓頭軸心313樞設於該夾具蓋1之槽孔11內,並讓該壓板32位於該夾具蓋1之上,且相對應於該夾具滑塊2的位置。
當欲藉由前述所揭露的該檢測治具之夾具構造對於待測面板進行檢測時,可操控該壓頭3,因為該凸塊31之壓頭軸心313樞設於該夾具蓋1之槽孔11內的關係,使該壓板32逐漸地朝該夾具蓋1之槽孔
11的方向靠近,此時,該夾具滑塊2因受到該壓頭3之凸塊31的一軸承311推抵的關係,並沿著該二軸桿4而逐漸地朝遠離該夾具蓋1的方向產生運動,直至該壓頭3之壓板32嵌設於該夾具蓋1之槽孔11處為止。
雖然在該夾具滑塊2的端部可裝設探針或檢測導電膠等,並藉由該夾具滑塊2與該壓頭3二者之間相對運動的關係,使該夾具滑塊2之端部的探針或檢測導電膠對待測面板進行電性測試的功效。不過,卻也因為當該壓頭3之壓板32嵌設於該夾具蓋1之槽孔11處時的方向,與該夾具滑塊2之端部裝設有探針或檢測導電膠的方向為同方向,實際上會讓操作者在操作該壓頭3之壓板32時不慎誤觸到裝設於夾具滑塊2之端部的探針或檢測導電膠,進而影響到待測面板進行電性測試時的精準度與良率。因此,要如何讓面板檢測裝置及其組合構件能克服前述的技術缺陷,實為本發明之目的。
本發明之目的在於提供一種面板檢測裝置,透過該面板檢測裝置的操作把手與待測面板位於不同方向結構特徵,將有效改善如先前技術所提之不慎誤觸的現象發生,而提升電性檢測精準度與良率。
為了達成上述目的,前述該面板檢測裝置係包含一基座、二軸桿、一固定座、一活動座、二軸承、二彈簧、一把手以及一探針座。
該基座具有一承載部;該二軸桿係設置於該基座上且靠近該承載部;該固定座係固設於該二軸桿的末端,自該固定座之上表面
朝下表面的方向貫穿形成連通外界的一鏤空部,其中,該鏤空部連通外界的開口方向為遠離該基座之承載部的方向;該活動座係穿設有二軸孔,該二軸承係各別固接於該活動座之該二軸孔,使該活動座藉由該二軸承各別套接於該二軸桿並於該二軸桿上往復運動;該二彈簧係各別套接於該二軸桿,且任一該彈簧的二端係各別頂抵於該軸承與該基座;該把手係樞設於該固定座之鏤空部的周壁處,且該把手具有一推抵部以及連接於該推抵部的一桿部,該推抵部係抵靠於該活動座;該探針座設於該活動座的一側,該探針座係具有一組設部且靠近該基座之承載部的位置,其中,該組設部係裝設有複數探針。
當扳動該把手之桿部並讓該推抵部產生樞轉,使該活動座藉由該二軸承沿著該二軸桿朝該基座的方向運動時,該二彈簧因受到該活動座之該二軸承的推抵壓縮而產生形變,此時,該探針座之組設部上的複數探針即可精準地電性接設於該待測面板,進而對於該待測面板進行電性檢測。
較佳地,該固定座之鏤空部與該基座之承載部係各別位於該活動座的相對兩側。
有關本發明的詳細構造、特點、組裝或使用方式,將於後續的實施方式詳細說明中予以描述。然而,在本發明領域中具有通常知識者應能瞭解,該等詳細說明以及實施本發明所列舉的特定實施例,僅係用於說明本發明,並非用以限制本發明之專利申請範圍。
100:面板檢測裝置
1:待測面板
2:檢測區
10:基座
11:承載部
20:軸桿
30:固定座
31:鏤空部
40:活動座
41:軸孔
50:軸承
60:彈簧
70:把手
71:推抵部
73:桿部
75:樞轉件
80:探針座
81:固定件
83:組設部
85:探針
圖1為本發明較佳實施例之可用以裝設一待測面板之一面板檢測裝置並位於一第一位置的立體示意圖。
圖2為沿著圖1之割面線2-2的剖視示意圖。
圖3為依據圖2經第一作動後的剖視示意圖。
圖4為依據圖1經第二作動後並位於一第二位置的立體示意圖。
圖5為依據圖4經第二作動後的顯示部分構件暨剖視示意圖。
圖6類同於圖1,主要顯示一探針座之長側邊僅向內凹設形成一個組設部。
圖7為沿著圖6之割面線7-7的剖視示意圖。
申請人首先在此說明,於整篇說明書中,包括以下介紹的實施例以及申請專利範圍的請求項中,有關方向性的名詞皆以圖式中的方向為基準。其次,在以下將要介紹之實施例以及圖式中,相同之元件標號,代表相同或近似之元件或其結構特徵。
請先參閱圖1至圖5,為本發明較佳實施例所揭露之一種面板檢測裝置100,包括:一個基座10、二個軸桿20、一個固定座30、一個活動座40、二個軸承50、二個彈簧60、一個把手70及一個探針座80。
該基座10係呈長板狀,且該基座10的上表面具有一個承載部11,該基座10之承載部11係用以承載一待測面板1,使該待測面板1的一檢測區2靠近該基座10的其中一個短側邊。
該二軸桿20係各別裝設於該基座10的同一短側邊,且靠近於該基座10之承載部11的位置。
該固定座30係呈板形體且固定地設置在該二軸桿20的末端處;自該固定座30之上表面朝下表面的方向貫穿且連通該固定座30的後側面形成一鏤空部31。值得一提的是,該鏤空部31係呈長孔狀且可連通於外界,但沒有連通該固定座30的前側面,該承載部11是位在該固定座30的前側面的前方,該固定座30之鏤空部31連通於外界的開口方向為遠離該基座10之承載部11的方向,開口方向是朝向該固定座30的後方,後方與該後側面同方向。
該活動座40係相對應於該固定座30亦呈板形體,且介於該固定座30與該基座10二者之間;該活動座40係穿設有二軸孔41,該二軸承50各別固接於該活動座40之該二軸孔41處,並藉由該二軸承50套接於該二軸桿20上的關係,而讓該活動座40可在該二軸桿20上往復運動。值得一提的是,本實施例中,該固定座30之鏤空部31與該基座10之承載部11係各別位於該活動座40相對兩側。
該二彈簧60係各別套接於該二軸桿20,且任一該彈簧60的二端各別抵靠於該軸承50與該基座10;其中,當該活動座40沿著該二軸桿20朝該基座10的方向運動時,該二彈簧60因受到該活動座40之該二軸承50的推抵壓縮而產生形變。
該把手70係具有一個推抵部71以及一體連接於該推抵部71的一個桿部73;該推抵部71係呈偏心凸輪狀,並藉由一樞轉件75樞設於該固定座30之鏤空部31的周壁處,使該推抵部71的外周面抵靠於該活動座40。
該探針座80係藉由一個固定件81固設在該活動座40的一側,並可隨著該活動座40沿著該二軸桿20往復運動;該探針座80具有一個長側邊,自該探針座80之長側邊向內凹設而形成二個間隔設置的組設部83,該二組設部83係穿設有複數探針85,使該等複數探針85係對應於該待測面板1之檢測區2的位置。值得一提的是,如圖6及圖7所示,該探針座80之長側邊僅向內凹設形成一個組設部83。又值得一提的是,該探針座80嵌設有一檢測電路板(圖中未示),並可電性導接於該等複數探針85,其中,該檢測電路板係可藉由一PCB板、一FFC(Flexible Flat Cable,軟體扁平排線)或一FPC(Flex Printed Circuit,軟性印刷電路板)電性導接於該等複數探針85。
以上為本發明較佳實施例所揭露之面板檢測裝置100各個構件的技術特徵,以下將介紹作動方式。
請再一併參閱圖1及圖2,欲藉由該面板檢測裝置100對該待測面板1進行電性檢測時,首先,先將該待測面板1裝設在該基座10上表面的承載部11,讓該待測面板1之檢測區2靠近該基座10的其中一個短側邊,讓被組接於該活動座40上的該探針座80之該等複數探針85對應於該待測面板1之檢測區2的位置。請再一併參閱圖2至圖5,再經扳動該把手70之桿部73帶動呈偏心凸輪狀的該推抵部71產生樞轉運動,透過該
推抵部71推抵壓制該活動座40的關係,使該活動座40自一第一位置(即如圖2所示,係定義該第一位置為該活動座40較靠近於該固定座30的位置)沿著該二軸桿20朝著該基座10的方向位移至一第二位置(即如圖5所示,係定義該第二位置為該活動座40遠離該固定座30且較靠近該基座10的位置),該二彈簧60因受到該活動座40之該二軸承50的推抵壓縮而產生形變,該把手70之桿部73係限位於該固定座30之鏤空部31;較佳地,該把手70之桿部73的外表面與該固定座30之上表面呈一平面,且該把手70之桿部73係朝該固定座30之鏤空部31連通於外界的方向凸伸。此時,該探針座80之組設部83上的複數探針85即可精準地電性接設於該待測面板1之檢測區2的位置,進而對該待測面板1進行電性檢測。
當該面板檢測裝置100對該待測面板1電性檢測完成後,即可再扳動該把手70之桿部73並帶動呈偏心凸輪狀的該推抵部71再次產生樞轉運動,使原本壓制該活動座40的壓制現象得以解除,並藉由該二彈簧60的彈性復歸力對該活動座40產生向上的推力,此時,該把手70之桿部73自該固定座30之鏤空部31遠離,該探針座80之該等複數探針85亦自該待測面板1之檢測區2的位置脫離,並讓該活動座40再次沿著該二軸桿20朝著該固定座30的方向復歸至初始的第一位置(即如圖2所示,該活動座40再次復歸至較靠近於該固定座30的位置)。
綜上,以上為本發明較佳實施例所揭露之面板檢測裝置100的作動方式,而其功效如下所列:
其一,藉由扳動該把手70,使該把手70之桿部73限位於該固定座30之鏤空部31,並使該探針座80之組設部83上的複數探針85
精準地電性接設位在該基座10上的該待測面板1之檢測區2的結構特徵,讓操作者能明確地知悉此時已完成精準下針的功效。
其二,透過該固定座30之鏤空部31連通於外界的開口方向為遠離該基座10之承載部11方向的結構特徵,使操作者在扳動該把手70時可有效避免不慎誤觸該探針座80之複數探針85或者該待測面板1的現象發生,進而提升電性檢測精準度與良率的功效。
100:面板檢測裝置
1:待測面板
2:檢測區
10:基座
11:承載部
20:軸桿
30:固定座
31:鏤空部
40:活動座
50:軸承
60:彈簧
70:把手
80:探針座
Claims (7)
- 一種面板檢測裝置,其包含:一基座、二軸桿、一固定座、一活動座、二軸承、二彈簧、一把手以及一探針座;該基座具有一承載部;該二軸桿係設置於該基座上且靠近該承載部;該固定座固設於該二軸桿的末端,自該固定座之上表面朝下表面的方向貫穿且連通該固定座的後側面的一鏤空部,其中,該承載部位在該固定座的前側面的前方,該鏤空部沒有連通該固定座的前側面;該活動座穿設有二軸孔,該二軸承各別固接於該活動座之該二軸孔,使該活動座藉由該二軸承各別套接於該二軸桿並於該二軸桿上往復運動;該二彈簧係各別套接於該二軸桿,任一該彈簧的二端係各別抵靠該軸承與該基座;該把手係樞設於該固定座之鏤空部的周壁處,且該把手具有一推抵部以及連接於該推抵部的一桿部,該推抵部係抵靠於該活動座;該探針座設於該活動座的一側,該探針座係具有一組設部且靠近該基座之承載部的位置,其中,該組設部係裝設有複數探針。
- 如請求項1所述之面板檢測裝置,其中,該活動座藉由該二軸承沿著該二軸桿自一第一位置位移至一第二位置,該把手之桿部係限位於該固定座之鏤空部。
- 如請求項2所述之面板檢測裝置,其中,該探針座具有一長側邊,該探針座之組設部係位於該長側邊。
- 如請求項3所述之面板檢測裝置,其中,該基座之承載部係用以承載一待測面板,該待測面板設有一檢測區,該探針座之組設部的複數探針係對應於該待測面板之檢測區。
- 如請求項1所述之面板檢測裝置,其中,該探針座具有一長側邊,而該探針座之組設部係位於該長側邊。
- 如請求項5所述之面板檢測裝置,其中,該基座之承載部係用以承載一待測面板,該待測面板設有一檢測區,該探針座之組設部的複數探針係對應於該待測面板之檢測區。
- 如請求項1至6其中任何一項所述之面板檢測裝置,其中,該固定座之鏤空部與該基座之承載部各別位於該活動座的相對兩側。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW109126198A TWI751636B (zh) | 2020-08-03 | 2020-08-03 | 面板檢測裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW109126198A TWI751636B (zh) | 2020-08-03 | 2020-08-03 | 面板檢測裝置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWI751636B true TWI751636B (zh) | 2022-01-01 |
TW202206829A TW202206829A (zh) | 2022-02-16 |
Family
ID=80809987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW109126198A TWI751636B (zh) | 2020-08-03 | 2020-08-03 | 面板檢測裝置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI751636B (zh) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWM344479U (en) * | 2008-03-27 | 2008-11-11 | En Diamond Technology Co Ltd | Clamping structure of panel detection jig |
US20160320429A1 (en) * | 2009-04-21 | 2016-11-03 | Johnstech International Corporation | Electrically Conductive Kelvin Contacts For Microcircuit Tester |
CN108572470A (zh) * | 2018-04-24 | 2018-09-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种电测治具及其控制方法 |
CN209118736U (zh) * | 2018-10-15 | 2019-07-16 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种下压高度可调式显示面板导通压接结构 |
WO2019147724A1 (en) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | Anderson Dennis M | Analysis of porous material using laboratory calibrated test apparatus and sample data |
-
2020
- 2020-08-03 TW TW109126198A patent/TWI751636B/zh active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWM344479U (en) * | 2008-03-27 | 2008-11-11 | En Diamond Technology Co Ltd | Clamping structure of panel detection jig |
US20160320429A1 (en) * | 2009-04-21 | 2016-11-03 | Johnstech International Corporation | Electrically Conductive Kelvin Contacts For Microcircuit Tester |
WO2019147724A1 (en) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | Anderson Dennis M | Analysis of porous material using laboratory calibrated test apparatus and sample data |
CN108572470A (zh) * | 2018-04-24 | 2018-09-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种电测治具及其控制方法 |
CN209118736U (zh) * | 2018-10-15 | 2019-07-16 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 一种下压高度可调式显示面板导通压接结构 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202206829A (zh) | 2022-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10718788B2 (en) | Electronic product test jig | |
CN207036553U (zh) | 芯片测试头与芯片测试装置 | |
JP4570930B2 (ja) | パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置 | |
TW201418720A (zh) | 探針單元、基板檢查裝置及探針單元製造方法 | |
TWI751636B (zh) | 面板檢測裝置 | |
CN108760539A (zh) | 印刷电路板形变测试设备 | |
TW201629432A (zh) | 測量裝置 | |
TWI727373B (zh) | 測試治具及測試機台 | |
US20100311264A1 (en) | Burn-in socket | |
JP2018004341A (ja) | 打点試験装置及び打点試験方法 | |
TWI794985B (zh) | 壓接機構、測試裝置及作業機 | |
CN106526453B (zh) | 一种小间距微型排针光模块测试装置 | |
CN215813200U (zh) | 芯片测试装置及芯片测试设备 | |
CN108072832A (zh) | 一种具有邮票孔的pcb板的测试夹具 | |
JPS63302377A (ja) | 回路基板検査装置 | |
CN213090827U (zh) | 笔记本电脑触摸板的测试设备 | |
JP2007155735A (ja) | 被験電気部品を検査するための電気的接触装置および電気的検査装置 | |
CN110695739B (zh) | 一种斜压固定结构及含有固定结构的定位夹具 | |
CN213780224U (zh) | 一种测试治具及显示面板老化测试装置 | |
JP3610919B2 (ja) | 回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法 | |
JP6065725B2 (ja) | コンタクト装置及びコンタクト方法 | |
JP2008309608A (ja) | 検査装置 | |
JP4948646B2 (ja) | 電子部品、特にicを心出しするセンタリング装置 | |
JP4212489B2 (ja) | 回路基板検査用プロービング装置および回路基板検査装置 | |
TWI741747B (zh) | 作業裝置之壓接機構 |