TW201403415A - 用於觸控面板之透明體及製造用於觸控螢幕面板之透明體的方法與系統 - Google Patents

用於觸控面板之透明體及製造用於觸控螢幕面板之透明體的方法與系統 Download PDF

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Abstract

提供一種製造用於觸控螢幕面板的透明體的製程。此製程包括：沉積一第一透明層堆疊(12)於一透明基板(14)之上，其中所述第一透明層堆疊(12)包括至少具有一第一折射率的一第一介電膜(16)，和具有不同於第一折射率之一第二折射率的一第二介電膜(18)，提供一結構化的透明導電膜(22)，使得第一透明層堆疊(12)和透明導電膜(22)係依此順序配置在基板(14)之上，且其中結構化的透明導電膜具有每平方100歐姆或更低的一片電阻，以及沉積一第二透明層堆疊在透明導電膜之上，其中所述第二透明層堆疊包括至少具有一第三折射率的一第三介電膜，和具有不同於第三折射率之一第四折射率的一第四介電膜，其中第一透明層堆疊、結構化的透明導電膜和第二透明層堆疊依此順序提供。

Description

用於觸控面板之透明體及製造用於觸控螢幕面板之透明體 的方法與系統
本發明關於製造用於觸控面板之透明體的製程與系統，以及根據這些製程製造的透明體。
觸控面板(touch panel)為電子視覺顯示器(electronic visual display)之一個特別的種類，其能夠在一顯示區域內偵測且定位觸碰(touch)。一般來說，觸控面板包括配置在螢幕上用以感測(sense)觸碰的一透明體(transparent body)。這樣的物體是實質上透明的，使得螢幕發出之可見光譜範圍中的光可從中通過。至少一些已知的觸控面板包括由一阻障層(barrier)和一透明導體組成之一透明體，阻障層和透明導體依此順序形成在基板上。在這種面板之顯示區域內的一個觸碰，通常在透明體的區域中產生一個可量測到的電容變化。電容的變化可用不同的技術來量測，使得碰觸的位置能夠被決定。
用於觸控面板中的透明體需符合一些特定的要求。 尤其，一個關鍵的要求是透明體對螢幕上多次接觸的承受和嚴苛的環境係足夠穩定，如此觸控螢幕的可靠度才不會向時間妥協。然而，觸控面板中至少某些已知的透明體，因例如形成透明體之複數層的厚度、組成和結構，被視為是從中通過的光線的適當傳遞的強力干擾。此外，製造這樣一個具有高品質的穩定的透明體，例如是有均勻且無缺陷(defect-free)的阻障層，是有挑戰性的。
另外，也考慮到用於觸控面板有不同類型的透明體。光學性質的特別考量，例如呈現給使用者的外觀，需要被納入對透明體的考量，其中用來量測電容變化的導電層是一結構化的導電層。
要考慮的另一方面是顯示器尺寸穩定地持續增加，其中除了上述的光學性質以外，對電學性質的興趣也逐漸提升。因此，期望一種隱形薄膜基底平板顯示器和觸控螢幕技術的設計，此種設計提供一隱形(invisible)物體，該物體依據導電性被圖案化(例如是一觸碰感測結構)且相較於傳統結構能展現出更優異的光學和電學性質表現。
於是，預期用於形成用在觸控面板中的高品質透明體的一種製程和一種裝置，以一種使得透明體係穩定地形成在基板上，不妥協於可見光譜範圍中的光的適當穿透，和改善的電學性質的方式，形成此種透明體。
有鑑於上述，係提供根據獨立項第1項的一種製 程、根據獨立項第8項的一種裝置和根據獨立項第18項的一種設備。本發明之其他方面、優點和特徵係由附屬項、說明書和所附圖式來表明。
根據一實施例，係提供製造用於觸控面板之一透明體的一種製程。此製程包括選擇性地沉積一第一透明層堆疊(layer stack)於一透明基板之上，其中所述第一透明層堆疊包括至少一第一介電膜和一第二介電膜，第一介電膜具有一第一折射率，第二介電膜具有一第二折射率，第二折射率不同於第一折射率。此製程包括沉積一結構化(structured)的透明導電膜在第一透明層堆疊之上，其中結構化的透明導電膜對應到每平方100歐姆(100Ohm/sq)或更低的一片電阻；沉積一第二透明層堆疊在透明導電膜之上，其中所述第二透明層堆疊包括至少一第三介電膜和一第四介電膜，第三介電膜具有一第三折射率，第四介電膜具有不同於第三折射率的一第四折射率，其中若提供第一透明層堆疊，結構化的透明導電膜和第二透明層堆疊依此順序被提供。根據一替代性之實施例，一具有不同於第三折射率的一第四折射率的透明黏著層(transparent adhesive)，可以被提供來替代第四介電膜。
根據另一實施例，係提供適用於觸控面板中之一透明體。透明體包括一透明基板、和選擇性的一第一透明層堆疊，第一透明層堆疊沉積在透明基板之上，其中所述透明層堆疊包括至少一第一介電膜和一第二介電膜，第一介電膜具有一第一折射 率，第二介電膜具有不同於第一折射率之一第二折射率。層堆疊包括一透明導電膜和一第二透明層堆疊，透明導電膜沉積在第一透明層堆疊之上，其中結構化的透明導電膜具有100Ohm/sq或更低的一片電阻值，第二透明層堆疊沉積在透明導電膜之上，其中所述第二透明層堆疊包括至少一第三介電膜和一第四介電膜，第三介電膜具有一第三折射率，第四介電膜具有不同於第三折射率之一第四折射率。根據一替代性之實施例，具有不同於第三折射率之一第四折射率的一透明黏著層，可以被提供來替代第四介電膜。
根據另一實施例，係提供製造用於觸控面板中之一透明體的一種沉積設備。沉積設備包括一第一沉積組件、一第二沉積組件以及一第三沉積組件，第一沉積組件用以沉積一第一透明層堆疊在一基板之上，所述第一透明層堆疊包括至少一第一介電膜和一第二介電膜，第一介電膜具有一第一折射率，第二介電膜具有不同於第一折射率之一第二折射率，第二沉積組件用以沉積一透明導電膜，第三沉積組件用以沉積一第二透明層堆疊在透明導電膜之上，所述第二透明層堆疊包括至少一第三介電膜和一第四介電膜，第三介電膜具有一第一折射率，第四介電膜具有不同於第三第一折射率之一第二折射率，其中所述第一沉積組件、所述第二沉積組件和第三沉積組件係排列成使得第一透明層堆疊、透明導電膜和第二透明層堆疊被依此順序配置在基板之上，且其中第一沉積組件、第二沉積組件和第三沉積組件之至少一者 包括一濺鍍系統，濺鍍系統運作上耦接至(operatively coupled to)一靶材，所述濺鍍系統係用以藉由靶材之濺鍍來沉積第一介電膜、第二介電膜、第三介電膜、第四介電膜和透明導電膜之至少一者。
出乎意料地，根據本揭露書之實施例沉積的介電膜組合，相較於用於觸控面板中至少一些已知的透明體具有額外的介電膜，與第二透明層堆疊的介電膜組合有一折射率性質的組合，且其中至少一層的膜係藉由靶材之濺鍍來沉積，有利於製造不僅是產生光的適當穿透也隨著時間有穩定的表現的高品質透明體。更進一步地，相較於用於觸控面板之已存在的「隱形」層堆疊或透明體，電阻能夠被降低，那是，舉例來說，對大面積觸控面板是有用的。
實施例也與用於實現所揭露製程之設備與包括進行所述製程步驟之設備部分的設備相關。此外，實施例也與藉由所述設備運作之方法或所述設備藉以製造之方法相關。方法可包括用來實現裝置功能或製造部分設備的方法步驟。方法步驟可藉由硬體元件、韌體(firmware)、軟體、以適當軟體編程的電腦、任何上述之組合或以其他方式被執行。
10‧‧‧透明體
12、112、512‧‧‧層堆疊
14‧‧‧基板
16、18、116、118、416‧‧‧介電膜
22、322、522‧‧‧導電膜
24‧‧‧層
32‧‧‧彩色濾光片
34‧‧‧顯示器
600‧‧‧設備
602‧‧‧腔室
604‧‧‧閥室
605‧‧‧閥單元
610‧‧‧滾輪
614‧‧‧承載部
622、624、625‧‧‧沉積組件
623、626‧‧‧電源
638‧‧‧量測系統
700‧‧‧流程表
702、704、706‧‧‧步驟
1‧‧‧方向
第1A圖為根據此處之實施例之用於觸控面板之一個範例的透明體的代表示意圖。
第1B圖為根據此處之實施例之用於觸控面板之一個範例的 透明體的代表示意圖。
第2圖為根據此處之實施例之用於觸控面板之另一個範例的透明體及透明體所結合至之一光電裝置的代表示意圖。
第3A圖至第3D圖為根據此處之實施例之用於觸控面板之一個範例的透明體之製造的代表示意圖。
第4圖和第5圖為根據此處之實施例之用於觸控面板之其他範例的透明體的代表示意圖。
第6圖為根據此處之實施例之用以沉積用於觸控面板之一個範例的透明體之裝置的一部分的代表示意圖。
第7圖為根據此處之實施例之用於觸控面板之透明體的製造方法的流程圖。
在以下說明書中，配合所附圖式，將更精確地對於本發明所屬技術領域中具有通常知識者進行一完整且能據以實施的揭露，包括其較佳實施例。
以下將對不同的實施例作詳細說明，其一或多個範例繪示於所附圖式中。每個範例係以解釋的方式來提供，且並非用來限定本發明。可以被理解的是，在一實施例中的元件，可在不被特別引述的情況下有利地使用在其他實施例中。
根據此處的實施例，一第一透明層堆疊12，如第1A圖所示，係沉積在一基板14之上。此處所使用的用語「基板」應囊括不可撓性基板和可撓性基板二者，不可撓性基板例如晶 圓、藍寶石或其他類似物之透明晶體的切片、或玻璃板，可撓性基板例如卷(web)或箔(foil)。此處所使用的用語「透明」應特別包括一種結構之以相對低的散射使光穿透的能力，使得，舉例來說，光從中穿透時可實質上清楚地被看見。在可撓性基板基板的例子中，典型地，基板14具有一硬塗層(hard coat)24形成於其上。
根據典型實施例，一個層堆疊是由數個一層在另一層上方形成(例如藉由沉積)的膜所組成。特別地，此處的實施例包括沉積一第一透明層堆疊，此一第一透明層堆疊可由多個介電膜組成，介電膜即是實質上不會導電的膜。特別地，第一透明層堆疊12可包括一第一介電膜16和一第二介電膜18，如第1A圖中所示範性地示出的。因此，第一透明層堆疊可包括一阻障層以用於觸控面板中。
如第1A圖所示，一結構化的透明導電氧化物(Transparent Conductive Oxide,TCO)膜22係提供在透明層堆疊之上。根據典型實施例，為了提供一結構化的TCO層，可藉由沉積一TCO層和圖案化該TCO層來提供結構化的TCO層。選擇性地，光罩和/或光阻可被用以沉積結構化的TCO層。
根據可與此處所述其他實施例結合之典型實施例，透明導電氧化物層可以是銦錫氧化物(Indium Tin Oxide,ITO)層、摻雜之ITO層、不純物摻雜之氧化鋅(ZnO)、三氧化二銦(In2O3)、二氧化錫(SnO2)和氧化鎘(CdO)、錫摻雜三氧化二 銦(ITO,In2O3：Sn)、鋁摻雜氧化鋅(AZO,ZnO：Al)、銦摻雜氧化鋅(IZO,ZnO：In)、鎵摻雜氧化鋅(GZO,ZnO：Ga)、多組成氧化物包括或由ZnO、In2O3和SnO2的組合組成、有至少一ITO層和一金屬層的層堆疊，例如ITO/金屬/ITO之堆疊或金屬/ITO/金屬之堆疊。
用於觸控面板之傳統層堆疊或透明體可造就一種功能性的螢幕(像是觸控螢幕)。然而，經常會得到較差的日光下的可讀性(sunlight readability)，螢幕的色彩顯露(反射光)和關於下方顯示器產生的圖片的色彩變化，以及在功能性螢幕中或多或少可被看到之結構化的核心層圖案(例如圖案化之透明導電氧化物TCO)。此外，對於大面積觸控面板導電性可能不足夠，大面積觸控面板例如是對角線尺寸為7英吋或更大之觸控面板，特別是對角線尺寸高於20英吋的觸控螢幕。
由於透明層堆疊之結構，有利的是導電膜不會妨礙從透明層堆疊穿透的光的最佳傳遞。特別地，根據此處之實施例的透明層堆疊有利於導電膜，甚至是結構化的導電膜，不影響反射光色彩之中性(neutrality)，如以下進一步探討者。
根據可與此處所述其他實施例結合之典型實施例，結構化TCO層的片電阻為100Ohm/sq和更低，例如是10至15Ohm/sq。典型地，片電阻為本文中所提及的物理量，即使此數值與具有足夠大面積，亦即沒有太小的圖案的層的電阻值有關。結構化的TCO圖案，例如是線，對應到以歐姆表示之線電阻。然而， 片電阻為相關參數(relevant parameter)，且可藉由沉積測試區域來決定或可基於圖案化結構和幾何結構的電阻來決定或計算。於是，即使結構層之片電阻不能直接的(但間接地)被決定，且更與無結構層之片電阻有關，本發明所屬技術領域中具有通常知識者會將片電阻相關對應到結構化的層之值。
根據不同之實施例，TCO膜，例如是ITO，可以在相對的高溫下被沉積或替代性地在較低溫下被沉積，其中在後者狀況中，為了達成想要的層特徵如片電阻，沉積後的退火(annealing)步驟可以被提供。
因此，舉例來說，可以使用20奈米(nm)及之上的TCO層厚度，例如是50奈米至150奈米。額外地或替代性地，可以使用具有比以不同製程方法生產之ITO的典型電阻範圍低之比電阻(specific resistance)，亦即極佳的電學性質，但具有較差的光學性質的透明導電氧化物，對於大塊(bulk)ITO，典型電阻範圍為130至450微歐姆-公分(μΩcm)。降低的片電阻和/或增加的TCO層厚度帶來對層堆疊之進一步的改善的期待，因例如較厚之結構化TCO層有更容易被看見的傾向。
根據此處所述之實施例，係提供一種更優異的結構和製造此種隱形物體如觸碰感測器(touch sensor)之方法，以超越圖案化TCO之厚度和其導電性的限制。提供在顯示器或其相似物之上的層堆疊或透明體，如同此處所描述的，當置於空氣(折射率為1)的氣氛下時，在有和沒有TCO層的區域之間具有非常 小的光學外觀差異，被視為是隱形的，TCO層例如是ITO(「隱形」之ITO)。根據可與此處所述其他實施例結合之一些實施例，用於隱形之物體的不同堆疊和安裝(mounting)方法，例如是以被整合在顯示器內或被安裝在顯示器上之方式，即在物體至少一邊之相鄰介質具有不同於1，例如是1.3至1.7的折射率。藉由這個方式，隱形之堆疊可支持20Ohm/sq或更低的一片電阻，即相較於先前的概念在不妥協於光學表現下有10倍的改善。
如同第1A圖中所示，一第二透明層堆疊112係提供在TCO層22之上。根據典型實施例，一個第二層堆疊係由數個一層形成(例如藉由沉積)在另一層上方的膜所組成。特別地，此處之實施例包括沉積一第二透明層堆疊，第二透明層堆疊可由多個介電膜組成，介電膜即實質上不會導電的膜。特別地，第二透明層堆疊112可包括第一三介電膜116和一第四介電膜118，如第1A圖中所示範性地示出的。因此，改善的折射率匹配(index matching)可被提供。此外，可提供在TCO層下方的一保護層(passivation)。此外，可提供相較於未塗佈(uncoated)之基板的整體的穿透率。
根據可與此處所述其他實施例結合之此處所述的典型實施例，第一透明層堆疊12的第一介電膜16，亦即基板上之第一個透明介電膜係一高折射率的膜，例如是具有1.8或更高的一折射率。根據進一步的替代或額外的調整，透明導電氧化物層係提供在介於，例如直接介於低折射率(1.5或更低)介電膜和 高折射率(1.8或更高)介電膜之間。此外，額外地或替代性地，基板上最後的介電膜可為低折射率介電膜。因此，最後的介電膜被視為是觸控面板透明體之最後的介電膜，亦即在透明黏著層或空氣間隙(air gap)被提供在結合至一彩色濾光片、一第二基板或一光電裝置(opto-electronic device)之的結合介面之前的最後的介電膜。
相較於觸控面板的先前設計，特別是對於有提供空氣間隙的具有較厚TCO層之層堆疊或透明體的先前設計，此處所述之實施例提供一層堆疊或透明體，此一層堆疊或透明體具有至少一第一折射率匹配層堆疊、一TCO層以及一第二折射率匹配層堆疊，第一折射率匹配層堆疊例如是一或多個介電膜，TCO層位在折射率匹配層堆疊之上，其中TCO層具有100Ohm/sq或更低的一片電阻。一透明黏著層可被提供在透明體之上，即與根據此處所述之實施例的透明體有接觸。即使如此，可使用空氣間隙來固定此處所述之實施例之透明體至一光電裝置上，也可使用光學透明膠(Optical Clear Adhesive,OCA)。實施例因此提供一種「隱形」觸控面板結構，「隱形」觸控面板結構也為了低的電阻而提供。第二透明層堆疊用以將TCO夾在兩個透明層堆疊之間，也用以獲得一個低電阻「隱形」TCO圖案的解決辦法，此一解決辦法與一種在結構被以一透明黏著層結合(例如光學結合)至觸控面板螢幕中的相鄰元件上之前，具有位在上方的TCO層的結構有關。藉由使用第二透明層堆疊，可以達成TCO圖案之最終圖案的「隱 形性」。
根據此處之實施例，一第一透明層堆疊12，如第1B圖中所示，係沉積在一基板14之上。在可撓性基板的例子中，典型地，基板14具有一硬塗層24形成於其上。
根據典型實施例，層堆疊12和結構化的透明導電膜22可依照與第1A圖有關之實施例描述的類似方法被提供。
如第1B圖所示，一第二透明層堆疊112係提供在TCO層22之上。根據典型實施例，一個第二層堆疊是由數個一層形成(例如藉由沉積)在另一層上方的膜或層所組成。特別地，第二透明層堆疊112可包括一第三介電膜116和一透明黏著層24，透明黏著層24具有不同於第三介電膜的一折射率，如此提供一折射率匹配。
根據可與此處所述其他實施例結合之此處所述的典型實施例，第一透明層堆疊12的第一介電膜16，亦即基板上第一層透明介電膜，為一高折射率膜，例如具有1.8或更高的一折射率。根據進一步的替代或額外的調整，透明導電氧化物層係提供在介於，例如直接介於低折射率(1.5或更低)介電膜與高折射率(1.8或更高)介電膜之間。
相較於觸控面板的先前設計，特別是對於有提供空氣間隙的具有較厚TCO層之層堆疊或透明體的先前設計，此處敘述之實施例提供一層堆疊或透明體，此一層堆疊或透明體具有至少一第一折射率匹配層堆疊、一TCO層以及一第二折射率匹配層 堆疊，第一折射率匹配層堆疊例如是一或多個介電膜，TCO層位在折射率匹配層堆疊之上，其中TCO層具有100Ohm/sq或更低的一片電阻。一透明黏著層可被提供在透明體之上，即與根據此處所述之實施例的透明體有接觸。如參照第1A圖和第1B圖所示，透明黏著層可為第二折射率匹配層堆疊之一部分，或可主要是為了結合目的被提供，例如是藉由具有一第四介電膜。
即使如此，可使用空氣間隙來固定此處所述之此處之實施例之透明體至一光電裝置上，也可使用光學透明膠。實施例因此提供一種「隱形」觸控面板結構，「隱形」觸控面板結構也為了低的電阻而提供。第二透明層堆疊用以將TCO夾在兩個透明層堆疊之間，也用以獲得一個低電阻「隱形」TCO圖案的解決辦法，此一解決辦法與一種在結構被以一透明黏著層結合(例如光學結合)至觸控面板螢幕中的相鄰元件上之前，具有位在上方的TCO層的結構有關。藉由使用第二透明層堆疊，可以達成TCO圖案之最終圖案的「隱形性」。
如第2圖所示，一透明黏著層24係提供以結合觸控面板層堆疊或透明體至一顯示器，透明體具有例如一基板14、一層堆疊12、一結構化TCO層22和一第二層堆疊112。第2圖中，顯示器由一彩色濾光片32和一畫素陣列或顯示器34作範例的表示。因此，相較於第1A圖，透明體10係倒置地被表示。於是，基板14可以為，舉例來說，觸控面板中的保護鏡片(cover lens)。用語保護鏡片係典型地被用作是觸控面板最上方的玻璃。根據可 與此處所述其他實施例結合之進一步實施例，透明體10可以以透明黏著層結合至彩色濾光片玻璃、顯示器結構的偏光片或液晶顯示器結構本身，透明黏著層例如是OCA。
根據本發明之實施例相關於包括一基板如保護玻璃的一層堆疊或透明體，和由透明黏著層固定在顯示器的上方，亦即不具有空氣間隙之一多個層的層堆疊。第一和第二層堆疊包括具有高和低的折射率的透明絕緣材料(例如：矽氧化物(SiOx)、鈦氧化物(TiOx)、鈮氧化物(NbOx)、矽氮化物(SiNx)、矽氮氧化物(SiOxNy)、鋁氮氧化物(AlOxNy)、二氟化鎂(MgF2)、鉭氧化物(TaOx))及透明導電材料，像是透明導電氧化物，例如是ITO。根據實施方案，層塗佈或層沉積的方法可以是化學或物理氣相沉積。
根據一範例，一層堆疊或透明體可如後述般的被製造，其中可提供最終觸控螢幕面板(Touch Screen Panel,TSP)/顯示器產品中視覺上隱形性及顏色固定性的改善，以及降低的電阻。複數層係依沉積在基板上的順序來編號，基板例如是一保護鏡片，例如一玻璃，具有0.1公釐(mm)或更厚的厚度，例如是0.5公釐：層1：5-200奈米(nm)厚之五氧化二鈮(Nb2O5)，例如是8奈米。層2：20-150奈米厚之二氧化矽(SiO2)，例如厚度為35奈米。層3：20-200奈米厚之ITO，例如150奈米厚，其中係進行沉積後的圖案化。典型地，ITO層可例如在基板溫度為300℃時，藉由自一可旋轉的靶材的濺鍍來沉積。層4：5-200奈米厚之Nb2O5，例如是100奈米。層5：20-150奈米之SiO2，例 如是87或90奈米。舉例來說，用於觸碰感測器之ITO厚度是用來提供15Ohm/sq或更低之非常低的一片電阻。塗佈基板的反射率係低於5%，且在具有和不具有ITO的區域之間反射率差異係低於0.2%。視覺上穿透率TY是在92%之上。在具有和不具有ITO的區域之間的光學顏色差異dE*ab係低於0.9。層堆疊或透明體包括在具有和不具有ITO的區域間之反射和透射具有中性色(neutral color)的基板，例如是|a*|和|b*|皆小於1.0的基板。
根據可與此處所述其他實施例結合之典型實施例，沉積在基板上的第一介電膜可典型的是一高折射率層，例如具有至少為1.8的一折射率。舉例來說，一含有鈮氧化物的膜可作為第一介電膜沉積在基板上。
根據可與此處所述其他實施例結合之進一步實施例，低於145奈米，例如20nm至130nm，如75nm的TCO厚度，相較於上面所描述之數值可帶來甚至更佳之隱形性性質。
根據又一不同的範例，一層堆疊或透明體可如後述般的被製造，其中可提供最終TSP/顯示器產品中視覺上隱形性及顏色固定性的改善，以及降低的電阻。複數層係依沉積在基板上的順序來編號，基板例如是一保護鏡片，例如一玻璃，具有0.1公釐或更厚的厚度，例如是0.5公釐：層1：5-200奈米厚之Nb2O5，例如是8奈米。層2：20-150奈米厚之SiO2，例如31奈米厚。層3：30-70奈米厚之ITO，例如40奈米厚，其中係進行沉積後的圖案化。典型地，ITO層可例如在基板溫度為300℃時，藉由 自一可旋轉的靶材的濺鍍來沉積。層4：5-200奈米厚之Nb2O5，例如是98奈米。層5：20-150奈米之SiO2，例如是87或90奈米。舉例來說，用於觸碰感測器之ITO厚度是用來提供50Ohm/sq或更低之非常低的一片電阻。塗佈基板之反射率係低於5%，且在具有和不具有ITO的區域之間反射率差異係低於0.4%。視覺上穿透率TY係在94%之上。在具有和不具有ITO的區域之間的光學顏色差異dE*ab係低於1.3。層堆疊或透明體包括在具有和不具有ITO的區域間之反射和透射具有中性色(neutral color)的基板，例如是|a*|和|b*|皆小於1.0的基板。
根據另一不同的範例，一層堆疊或透明體可如後述般的被製造，其中可提供最終TSP/顯示器產品中視覺上隱形性及顏色固定性的改善，以及降低的電阻。複數層係依沉積在基板上的順序來編號，基板例如是一保護鏡片，例如一玻璃，具有0.1公釐或更厚的厚度，例如是0.5公釐：層1：5-200奈米厚之Nb2O5，例如是9奈米。層2：20-150奈米厚之SiO2，例如28奈米厚。層3：40-80奈米厚之ITO，例如60奈米厚，其中係進行沉積後的圖案化。典型地，ITO層可例如在基板溫度為300℃時，藉由自一可旋轉的靶材的濺鍍來沉積。層4：5-200奈米厚之Nb2O5，例如是98奈米。層5：20-150奈米之SiO2，例如是89奈米。舉例來說，用於觸碰感測器之ITO厚度是用來提供30Ohm/sq或更低之非常低的一片電阻。類似於上述的數值係可由更進一步之範例提供。
根據另一不同的範例，一層堆疊或透明體可如後述般的被製造，其中可提供最終TSP/顯示器產品中視覺上隱形性及顏色固定性的改善，以及降低的電阻。複數層係依沉積在基板上的順序來編號，基板例如是一保護鏡片，例如一玻璃，具有0.1公釐或更厚的厚度，例如是0.5公釐：層1：5-200奈米厚之Nb2O5，例如是7奈米。層2：20-150奈米厚之SiO2，例如23奈米厚。層3：20-80奈米厚之ITO，例如45奈米厚，其中係進行沉積後的圖案化。典型地，ITO層可例如在基板溫度為300℃時，藉由自一可旋轉的靶材的濺鍍來沉積。層4：20-150奈米厚之SiO2，例如是23奈米。層5：5-50奈米厚之Nb2O5，例如是7奈米。類似於上述的數值係可由更進一步之範例提供。
於是，按照前述，根據可與此處所述其他實施例結合之一些實施例，第四折射率，例如上述之層5的第四折射率，可以高於第三折射率，例如上述之層4的第三折射率。
根據又另外的典型實施例，介電膜16、18、116和118可為包括氧化物、氮化物或氮氧化物的層，其中氧化物、氮化物或氮氧化物分別包括至少70%重量比，典型地至少90%重量比的氧化物化合物、氮化物化合物或氮氧化物化合物。因此，可以提供如同以下所述之高透明性的層結構或具有改善之穿透性質的層結構的任一者。
更精確地說，根據此處之實施例，第二、選擇性的一第四介電膜、或其他介電膜可以是具有比第一介電膜低的折射 率的一層膜，此一層膜例如是由SiO2組成，第一介電膜例如是由Nb2O5、Si3N4或其類似物組成。根據此處之實施例製造之透明體的第一透明層堆疊，例如是一種兩層形式之堆疊，及第二透明層堆疊，例如是一種兩層形式之堆疊，在相較於用於觸控面板之至少一些已知的透明體額外的介電膜，及具有不同折射率之複數膜的性質組合的觀點上，提供一阻隔層，此一阻隔層有利於由透明體穿透的光的適當傳遞。根據可與此處所述其他實施例結合之典型實施例，具有較低折射率的介電膜與具有較高折射率之介電膜係以交替的方式提供，具有較低折射率的介電膜，折射率例如是低於1.50，或更精確地是低於1.47，或甚至更精確地是低於1.45，具有較高折射率之介電膜，折射率例如是至少為1.80，或更精確地至少為2.10，或甚至更精確地至少為2.40。因此，具有較低折射率的膜可以由包含SiOx、MgF、SiOxNy或類似物的膜來提供。舉例來說，具有較高折射率之膜可以由包含NbOx、SiNx、SiOxNy、TiOx、AlOx、AlOxNy、TaOx或類似物的膜來提供。
根據此處之實施例，透明體10包括一透明導電膜22，例如但不限定為ITO，特別是，具有100Ohm/sq或更低的片電阻的結晶ITO或ITO。根據可與此處所述之其他實施例結合之不同實施例，，典型地，可以使用具有組成為97% In2O3和3% SnO2之結晶ITO，和/或組成為90% In2O3和10% SnO2之非晶ITO的ITO。
第3A至3D圖繪示例如可使用在觸控面板顯示器之 透明層堆疊或透明體的製造。如同第3A圖所示，層堆疊12係提供在透明基板14之上。根據不同實施例，透明基板可為一可撓性基板或一剛性基板、一有機基板或一有機基板，可為一玻璃或一箔，且可具有其他像是線性或圓偏光、λ/4延遲膜(lambda quarter retarder)或無偏光的性質。典型地，透明基板在380奈米至780奈米之可見光範圍內可具有高度的穿透性。
根據又另外的範例，透明基板14可包括玻璃(可撓性或剛性)、塑膠(可撓性或剛性)、線性或圓的偏光材料或λ/4延遲膜，塑膠可進一步地已經被薄膜層或硬塗層所覆蓋。特別是對於玻璃基板，相較於塑膠基板，可在更高溫下提供玻璃基板上的沉積製程和製造方法。舉例來說，可使用150℃或更高的溫度，或甚至200℃或更高的溫度，例如是300℃，在玻璃基板上製造用於觸控面板之透明體。
根據可與此處所述其他實施例結合之又另外的實施例，層堆疊12典型地為具有至少一第一和一第二介電膜的折射率匹配之層堆疊，其中第一折射率係由第一介電膜提供，第二折射率係由第二介電膜提供，且其中第二折射率係低於第一折射率。根據可與此處所述之其他實施例結合之一示範性的實施方案，可沉積一第一介電膜、一第二介電膜和多個其他介電膜，使得在透明層堆疊12中折射率產生連續性或類連續性(例如有小階梯之梯狀)的改變。根據典型的實施方案，介電膜可藉由化學氣相沉積或物理氣相沉積來製造，物理氣相沉積例如是濺鍍或蒸 鍍。典型的範例可為具有高和低折射率之絕緣材料，例如是SiOx、MgF、TiOx、NbOx、SiNx、SiOxNy、AlOx、AlOxNy、TaOx及其組合。
如同第3A圖所示，一透明導電氧化物層322係沉積在層堆疊12之上。根據此處所述之實施例，透明導電層堆疊藉由提供一增加的層厚度或一減少的層的材料之比電阻值，具有增加的導電性。因此，舉例來說，可使用40奈米和之上的TCO層厚度，例如是50奈米至150奈米。
根據可與此處所述其他實施例結合之又另外的實施例，透明導電氧化物膜也可以被提供作為具有一或多個透明導電氧化物膜之一透明導電氧化物層堆疊。在製造過程當中，透明導電氧化物膜或透明導電膜堆疊可以在沉積過程之中或之後被加熱，例如是藉由熱力(thermal)加熱或快速熱處理閃光燈(RTP flashlights)。典型地，透明導電氧化物可被加熱至80℃或之上的溫度。透明導電氧化物膜的製造可藉由化學氣相沉積或物理氣相沉積來提供，物理氣相沉積例如是濺鍍或蒸鍍。為了提供高製造產率，可提供例如自一可旋轉之靶材的透明導電氧化物膜的直流(DC)濺鍍。透明導電氧化物或透明導電氧化物層堆疊之典型範例可為ITO、摻雜之ITO、不純物摻雜之ZnO、In2O3、SnO2和CdO、ITO(In2O3：Sn)、AZO(ZnO：Al)、IZO(ZnO：In)、GZO(ZnO：Ga)、多組成氧化物包括或由ZnO、In2O3和SnO2的組合組成、有至少一ITO層和一金屬層之一層堆疊，例如是ITO/金屬/ITO之堆疊或金屬/ITO/金屬之堆疊。
如第3B圖所示，透明導電氧化物層322(參照第3A圖)係結構化以提供一結構化的透明導電氧化物層22。為了提供結構化的TCO層，可藉由沉積一TCO層和圖案化該TCO層來提供結構化的TCO層。此外，光罩和/或光阻可以被提供用來沉積結構化的TCO層。
第3C圖中繪示一第二透明層堆疊112在結構化的TCO層22之上的沉積。根據可與此處所述之其他實施例結合之又另外的實施例，典型地，層堆疊112為一折射率匹配的層堆疊，具有至少第二透明層堆疊之一第一介電膜和第二透明層堆疊之一第二介電膜，其中第一折射率係由第一介電膜提供，第二折射率係由第二介電膜提供，且其中第二折射率係低於第一折射率。根據可與此處所述之其他實施例結合之一示範性的實施方案，一第一介電膜、一第二介電膜和多個其他介電膜可被沉積在透明層堆疊12中，使得可在第二透明層堆疊內產生折射率之連續性或類連續性(例如有小階梯之梯狀)的改變。根據典型的實施方案，介電膜可藉由化學氣相沉積或物理氣相沉積來製造，物理氣相沉積例如濺鍍或蒸鍍。典型的範例可為具有高和低的折射率的絕緣材料，例如SiOx、TiOx、NbOx、SiNx、SiOxNy、AlOx、TaOx和其組合。
第3D圖繪示一透明黏著層24，例如是為了將透明體結合至顯示器34的一光學透明膠。根據不同實施例，透明黏著層可以是具有接近於第二基板或偏光片，即顯示器34之基板或偏光片之一折射率的光學透明黏著層疊(laminate)或液態光 學透明黏著膠。舉例來說，折射率可以接近於玻璃的折射率(1.48)或聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)的折射率(1.6)，舉例來說，在介於1.48和1.6的範圍之間。根據更進一步之實施例，透明黏著層可具有95%或更高、97%或更高、或甚至99%或更高的視覺穿透率。
根據此處所述之實施例，係提供一結構TCO層如一ITO層、兩個折射率匹配層和用以結合至顯示器、彩色濾光片、光電裝置或其類似物之一透明黏著層，使得在TCO層兩側之兩個折射率匹配層提供TCO結構層之根本的隱形性。於是，層堆疊，例如是觸控面板層堆疊或透明體，可以結合至或整合至具有改善的視覺和電學性質的顯示器裝置。如同此處所述，這與層堆疊或透明體有關。能夠理解的是這些用語係在此作為同義詞使用，例如，一透明體係藉由層或膜的堆疊來提供，即透明體也是一層堆疊。
第4圖繪示可與此處所述之其他實施例結合之又另外的實施例。如同第4圖所示，係提供舉例來說可用於觸控面板中的透明體的基板。基板可例如是，在透明體結合至光電裝置例如是顯示器或類似物之後的保護鏡片。對應第4圖敘述之實施例包括四層介電層16、18、20和416，其形成一透明層堆疊。在透明層堆疊上方，係提供結構化的透明導電膜22。根據可與此處所述其他實施例結合之典型實施例，透明導電氧化物膜可為TCO層，其係自一可旋轉的靶材以DC濺鍍來沉積。然而，同樣的也 能應用其他的技術方式。自一可旋轉之靶材的濺鍍係對例如是大面積裝置的製造是有用的。
根據一些實施例，大面積基板或分別的載板，可具有一至少為0.174平方公尺(m2)之尺寸，其中載板具有多個基板。典型地，此一尺寸可為約0.67平方公尺(0.73公尺x0.92公尺-第4.5代)至約8平方公尺，更典型地為約2平方公尺至約9平方公尺或甚至到12平方公尺。典型地，根據此處敘述之實施例提供之用於結構、裝置如陰極組件之基板或載板，係如同此處所描述之大面積基板。舉例來說，大面積基板或載板可以是對應到約0.67平方公尺(0.73公尺x0.92公尺)之基板的第4.5代，對應到之約1.4平方公尺(1.1公尺x1.3公尺)之基板的第5代，對應到之約4.29平方公尺(1.95公尺x2.2公尺)之基板的第7.5代，對應到之約5.7平方公尺(2.2公尺x2.5公尺)之基板的第8.5代，對應到之約為8.7平方公尺(2.85公尺x3.05公尺)之基板的第10代。甚至更高的世代，例如是第11代和第12代，及對應到之基板面積，可類似地被實施。
折射率匹配層堆疊12，如第4圖所示，與具有介電層116和118之第二透明層堆疊一起帶來改善的光學性質。對於這類裝置的使用者來說，由於兩個透明層堆疊，TCO層結構根本上是隱形的。根據此處敘述之實施例，這可被提供於具有100Ohm/sq或更低的一片電阻的透明導電膜，舉例來說是20奈米或之上，或甚至是100nm或之上的透明導電氧化物層。根據可與此 處所述其他實施例結合之不同實施例，兩個或更多個介電層可被提供於透明層堆疊12中。
根據又另外的實施例，這兩個或更多個層可以是多個介電層或膜，舉例來說，使得在層堆疊中提供折射率的一梯度(gradient)。舉例來說，第一介電膜可被提供予一第一折射率，且此折射率可以在透明層堆疊更進一步的沉積過程中被改變。這個改變可以為連續性的或階梯式的。依此，係可提供另外的介電膜(16-20；416)，其中在透明層堆疊中可得到一折射率。因此，舉例來說SiOxNy可以被沉積，其中氧和氮的數量係為連續性或階梯式的從y=1至y=0及從x=0至x=2變化，或反之亦然。
根據可與此處所述其他實施例結合之又另外的實施例，透明層堆疊12和透明導電膜之組合可以被重複兩次、三次或甚至四次。第5圖繪示沉積在基板14之上的一透明層堆疊12。結構化的透明導電膜22係提供在透明層堆疊12之上。其後係沉積一第二透明層堆疊112和另一透明導電膜522。其中，不同的折射率係提供給相鄰的膜。第二透明導電膜522係提供在透明層堆疊112之上。第5圖繪示之截面中沒有顯示第二透明導電膜522的結構化。然而，此結構化可以被施加在與相較於紙的水平面不同的方向。另一透明層512包括，例如是另外兩個介電膜，係沉積在第二TCO層522之上。透明黏著層24係提供在另一透明層堆疊51上，且係用以結合透明體至光電裝置如顯示器或類似物。
根據某些實施例，係以使得製造的透明體之a*和b* 值係低於1.5，或特別是低於1，或更精確地低於0.7，或甚至更精確地低於0.2的方式，沉積第一透明層堆疊、透明導電膜和第二透明層堆疊112。特別地，根據此處之實施例，僅僅由第一透明層堆疊、透明導電膜和透明黏著層所形成，且置於一實質上透明的基板上的結構，其a*和b*值可採用這些數值。
第6圖繪示一沉積設備600。作為範例地，係繪示用於在其中沉積層的一真空腔室602。如第6圖所示，另外的腔室可以被提供在相鄰於真空腔室602處。真空腔室602可以藉著一個閥(valve)與相鄰腔室分開，閥具有閥室(valve housing)604和閥單元(valve unit)605。因此，在其上具有基板14之載板614如箭頭1所示地插入至真空腔室602之後，閥單元605可以被關上。因此，真空腔室中的氣氛(atmosphere)可以藉由產生技術上的真空，舉例來說用真空幫浦連接至腔室602，和/或藉由灌入處理氣體至腔室的沉積區域中，而被個別地控制。
根據典型實施例，處理氣體可包括惰性氣體和/或反應性氣體，惰性氣體例如氬氣，反應性氣體例如氧氣、氮氣、氫氣和氨氣(NH3)、臭氧(O3)，或活化氣體或其類似物。在腔室602中，係提供滾輪610以運送具有基板14於其上之載板614進入和退出腔室602。
在腔室602中，兩個不同群組的沉積來源622和624係繪示於第6圖中。如同以下更精確地描述者，在不同沉積製程係由沉積來源的群組提供的情況下，沉積來源的群組可典型地被 提供在不同腔室中。
沉積來源舉例來說可為具有要被沉積到基板上的材料的靶材的可旋轉的陰極。典型地，陰極可為其中具有一磁控管(magnetron)之可旋轉的陰極。因此，磁控濺鍍可被用在層的沉積。陰極622係連接至一交流(AC)電源供應器623，使得陰極可用一交替的方式來偏壓。
此處所使用之「磁控濺鍍」與使用一磁鐵組件來進行之濺鍍有關，磁鐵組件是能夠產生磁場的一單元。典型地，此種磁鐵組件由永久磁鐵組成。永久磁鐵典型地係放置在一可旋轉的靶材中或耦接到一平面靶材，使得在生成於可旋轉靶材表面之下之產生的磁場內的自由電子可以被捕捉(trapped)。此種磁鐵組件也可被排列耦接至一平面陰極。
因此，磁控濺鍍可藉由雙磁鐵陰極來實現，雙磁鐵陰極即陰極622，例如但不限於是一TwinMagTM陰極組件。特別地，對於從一矽靶材之中頻(MF)濺鍍，可應用包括雙陰極的靶材組件。根據典型實施例，沉積腔室中的陰極可以為可更換的。因此，靶材在矽被消耗掉之後是換掉的。
根據典型實施例，介電層可藉由自具有AC電源供應的可旋轉的陰極的濺鍍來沉積，例如是磁控濺鍍。典型地，MF濺鍍可以被應用於沉積介電層。因此，根據典型實施例，從一矽靶材之濺鍍係由MF濺鍍進行，矽靶材例如是一噴塗矽靶材，MF濺鍍也就是中頻濺鍍。根據此處之實施例，中頻是在5千赫茲 (kHz)至100kHz，舉例來說是10kHz至50kHz之範圍的頻率。
從一靶材來濺鍍透明導電氧化物膜係典型地以DC濺鍍進行。在濺鍍過程中，陰極624係連接至DC電源供應626與陽極625一起收集電子。因此，根據可與此處所述之其他實施例結合之另外的實施例，透明導電氧化物層，例如是ITO層，可以藉由DC濺鍍，亦即一具有陰極624之組件進行濺鍍。
為了簡化，陰極622和624係繪示成提供於一真空腔室602中。典型地，用以沉積不同層之陰極係提供在不同真空腔室中，舉例來說，腔室602和相鄰於真空腔室602之真空腔室，相鄰於真空腔室602之真空腔室如同第6圖中在較低處的陰極622所示出者。這特別適用於當介電層如此處所述地可為氧化物層、氮化物層或氮氧化物層，可藉由一反應性沉積製程來沉積的情況，作為介電層這是特別適合的，如本文所述，這特別適用於當介電層如此處所述，可以是藉由反應性沉積製程來沉積，可以是氧化物層、氮化物層或氮氧化物層的情況，反應性沉積製程中，在材料從靶材被釋出之後，靶材材料會與氧氣和/或氮氣反應。藉由提供陰極的群組在不同腔室內，可以在各個沉積區域提供具有適當處理氣體的氣氛和/或適當的技術上的真空的程度。
根據又另外的實施例，依據沉積在基板14上之介電層數量，二或多個陰極622的群組可被提供在沉積裝置600中。
根據典型實施例，沉積之進行係藉由一或多個可旋轉的靶材的濺鍍。更精確地，根據此處之實施例，上述所提及之 膜的至少一者係藉由一可旋轉靶材的濺鍍來沉積，故有利於穩定的透明體的形成和具有高品質的形成。舉例來說，根據此處之實施例，膜可被沉積成具有較高均勻性，且具有低的缺陷和汙染顆粒密度。因此，有利於不僅產生光的適當穿透也產生經歷時間穩定的表現之高品質的透明體的製造。此外，包括由一或多個可旋轉的靶材來濺鍍的製造程序可進一步促使更高的生產速率，以及相較於其他沉積方法產生較低數量之汙染顆粒。
第700圖繪示描繪如此處所述之用於製造透明體之製程的一流程圖700。步驟702中，第一透明層堆疊(例如是層堆疊12)係沉積在透明基板上。因此，層堆疊包括至少兩層介電膜，其中介電膜之折射率係互不相同，且具有較高折射率的膜和具有較低折射率的膜可以交替的方式沉積。步驟704中，結構化的透明導電膜，例如是結構化的ITO層，係沉積在透明層堆疊12之上。根據可與此處所述之其他實施方案結合之不同實施方案，結構化的透明導電膜亦可為導電膜之堆疊。舉例來說，TCO/金屬/TCO之堆疊可以提供在步驟704中。
根據可與此處所述其他實施例作結合之典型實施例，結構化的步驟可選自由：(1)雷射切割，(2)光學微影，(3)印刷吸附阻隔層圖案(例如油)之後接著TCO沉積，(4)剝離處理(光阻圖案在基板上形成，之後接著TCO沉積和由光阻溶劑剝離)，(5)使用一遮罩之膜沉積，或上述之組合所組成的群組。
根據某些實施例，一個或某些腔室可用以進行不具 有磁控管組件之濺鍍。一個或某些腔室，舉例來說是外加的腔室，可用於以其他方法進行沉積，例如但不限於是化學氣相沉積或脈衝雷射沉積。
隱形之ITO的解決辦法在光學性質(穿透和反射的顏色值)中之光學均勻性具有極高的要求。這在技術上對應到關於膜厚和光學分散特性的均勻的膜沉積。因此，此處所述的沉積裝置可進一步包括量測系統638，量測系統638在沉積過程中用以量測形成第一層堆疊或透明導電膜之至少一者的一部分的複數膜的至少一者之光學特徵。
此外，如同上述，介電膜可典型地被反應性地濺鍍。因此，第一沉積組件(622)可被用於藉由反應性濺鍍來沉積介電膜。根據典型實施例，含有Si的層或含有Al的層可以被反應性地濺鍍，且/或含有Nb的層、含有Ti的層或含有ITO的層可從一陶瓷靶材來濺鍍。
根據某些實施例，示例性的製程700可更包括基板之一加熱處理，用於在沉積之前將基板除氣(degassing)。舉例來說，根據基板速度，基板可被加熱到介於60和360℃之間的溫度。根據某些實施例，示例性的製程700可包括以介於1千或3千瓦(W)之能量進行DC和/或中頻(MF)之基板前處理。此外，示例性的製程700可包括在一氬氣和/或氧氣的氣氛下進行基板之一前處理，例如，舉例來說，一個富氧的前處理。根據此處之實施例，中頻是一個在5kHz至100Hz，舉例來說，30kHz至50kHz 之範圍的頻率。
在範例的沉積裝置中或依據此處之實施例之裝置中的濺鍍塗佈來源，可為具有平面或可旋轉的靶材(例如但不限於陶瓷ITO)之DC陰極，和平面或可旋轉的靶材(例如被摻雜之矽靶材，特別是用以沉積SiO2、或Si3N4、SiOxNy之噴塗矽靶材)或包括一材料以沉積此處揭露之其他介電層中的其中一者之靶材。
如此處所描述，透明導電膜具有100Ohm/sq或更低的一片電阻。這可藉由提供一類似厚度的透明導電層和/或使用具有低比電阻之TCO材料來提供。這將造成在一個更複雜的折射率匹配狀況達到所要求的高度光學表現，如圖案隱形性、顏色中性和高穿透水平。因此，在步驟706中，一第二透明層堆疊(例如層堆疊12)係沉積在透明基板之上。因此，層堆疊包括至少兩層介電膜，其中兩層介電膜的折射率係互不相同，且具有高折射率的膜或具有低折射率的膜可以交替的方式沉積。在另一選擇性的步驟中，係提供一透明黏著劑，舉例來說一光學透明膠，以結合透明體至一光電裝置，例如是顯示器、行動電話顯示器、觸控面板電視顯示器、觸控面板電腦顯示器或其類似物。
如同以上所描述，根據可與此處所述之其他實施例結合之一些實施例，透明體，即薄膜堆疊，係與從旋轉靶材之磁控濺鍍有關地製造。由於隱形之ITO之解決辦法在光學性質(穿透和反射的顏色值)中之光學均勻性具有極高的要求，其技術上 地對應到關於膜厚和光學分散特性的非常均勻的膜沉積。因此，可以使用較濺鍍目標長度更長之靶材。因此，從旋轉靶材的濺鍍，提供關於產量、材料之使用、機器開啟時間和最終生產花費之優勢，而平面靶材具有造成增加之顆粒產生的沉積區域，因而需要提供比旋轉靶材更長之長度以提供無顆粒和均勻的膜。
此一書面描述使用範例來揭露本發明，包括最佳之模式，並使得本發明所屬技術領域中具有通常知識者能夠製造及使用本發明。雖然本發明已以各種特定實施例進行描述，本發明所屬技術領域中具有通常知識者能夠了解本發明在不脫離申請專利範圍之精神和範圍內作潤飾使用。特別是，實施例之範例和實施例或其上述調整型式中，彼此非不相容的特徵可以互相結合。
雖然本發明已以實施例敘述如上，在不脫離本發明之基本範圍的情況下，可設計出其他和更進一步之實施例，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧透明體
12、112‧‧‧層堆疊
14‧‧‧基板
16、18、116、118‧‧‧介電膜
22‧‧‧導電膜
24‧‧‧層

Claims (19)

  1. 一種製造用於一觸控螢幕面板之一透明體(10)的製程，該製程包括：沉積一第一透明層堆疊(12)於一透明基板(14)之上，其中該第一透明層堆疊(12)包括至少一第一介電膜(16)和一第二介電膜(18)，該第一介電膜(16)具有一第一折射率，該第二介電膜(18)具有一第二折射率，該第二折射率不同於該第一折射率；提供結構化的一透明導電膜(22)，使得該第一透明層堆疊(12)和該透明導電膜(22)係依此順序配置在該基板(14)之上，且其中結構化的該透明導電膜對應到每平方100歐姆(100Ohm/square)或更低的一片電阻；以及沉積一第二透明層堆疊於該透明導電膜之上，其中該第二透明層堆疊係選自由下組成的群組：一層堆疊，其中該層堆疊包括一第三介電膜，該第三介電膜具有一梯度(gradient)折射率，該梯度折射率從一第三折射率至不同於該第三折射率的一第四折射率，及一層堆疊，其中該層堆疊包括至少一第三介電膜，具有一第三折射率，及一第四介電膜或一透明黏著層，分別具有不同於該第三折射率之一第四折射率，其中結構化的該透明導電膜和該第二透明層堆疊係依此順 序提供。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之製程，其中該第一介電膜(16)、該第二介電膜(18)和該透明導電膜(22)中至少一者係藉由一靶材之濺鍍來沉積。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之製程，其中該第一介電膜(16)、該第二介電膜(18)和該透明導電膜(22)中至少一者係藉由一旋轉靶材之濺鍍來沉積。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之製程，其中提供結構化的該透明導電膜的步驟包括圖案化未結構化之沉積的一透明導電膜。
  5. 如申請專利範圍第1至4項中任一項所述之製程，其中該第一介電膜具有至少為1.8之一折射率，該第二介電膜具有1.5或更低之一折射率；且/或其中該第三介電膜具有至少為1.8之一折射率，該第四介電膜具有1.5或更低之一折射率。
  6. 如申請專利範圍第1至4項中任一項所述之製程，其中該些介電膜係以中頻濺鍍來濺鍍，典型地自一可旋轉的靶材，且該透明導電膜係以直流濺鍍法來濺鍍，典型地自一可旋轉的靶材。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之製程，其中該些介電膜係以中頻濺鍍來濺鍍，典型地自一可旋轉的靶材，且該透明導電膜係以直流濺鍍來濺鍍，典型地自一可旋轉的靶材。
  8. 一種適用於一觸控螢幕面板中之一透明體，包括：一透明基板；一第一透明層堆疊，沉積在該透明基板之上，其中該透明層 堆疊(12)包括至少一第一介電膜和一第二介電膜，該第一介電膜具有一第一折射率，該第二介電膜具有一第二折射率，該第二折射率不同於該第一折射率；一透明導電膜，沉積在折射率層堆疊之上，其中結構化的該透明導電膜對應到每平方100歐姆或更低的一片電阻；以及一第二透明層堆疊，位在該透明導電膜之上，其中該第二透明層堆疊係選自由下組成的群組：一層堆疊，其中該層堆疊包括一第三介電膜，該第三介電膜具有一梯度折射率，該梯度折射率從一第三折射率至不同於該第三折射率之一第四折射率，及一層堆疊，其中該層堆疊包括至少一第三介電膜，具有一第三折射率，及一第四介電膜或一透明黏著層，分別具有不同於該第三折射率之一第四折射率。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之透明體，其中該第一介電膜具有至少為1.8之一折射率，該第二介電膜具有1.5或更低之一折射率；且/或其中該第三介電膜具有至少為1.8之一折射率，該第四介電膜具有1.5或更低之一折射率。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之透明體，其中該透明基板係選自由：一剛性基板、一可撓性基板、一有機基板、一無機基板、一玻璃、一塑膠箔(plastic foil)、一偏光片(polarizer)材料基板和一λ/4延遲基板組成的群組。
  11. 如申請專利範圍第8項所述之透明體，其中該第一透明層堆疊和該第二透明層堆疊為折射率匹配層堆疊，且/或係選自由：矽氧化物(SiOx)、矽氮化物(SiNx)、矽氮氧化物(SiOxNy)、鋁氧化物(AlOx)、鋁氮氧化物(AlOxNy)、鈦氧化物(TiOx)、鉭氧化物(TaOx)、鎂氟化物(MgFx)和鈮氧化物(NbOx)組成的群組。
  12. 如申請專利範圍第9項所述之透明體，其中該第一透明層堆疊和該第二透明層堆疊為折射率匹配層堆疊，且/或係選自由：矽氧化物(SiOx)、矽氮化物(SiNx)、矽氮氧化物(SiOxNy)、鋁氧化物(AlOx)、鋁氮氧化物(AlOxNy)、鈦氧化物(TiOx)、鉭氧化物(TaOx)、鎂氟化物(MgFx)和鈮氧化物(NbOx)組成的群組。
  13. 如申請專利範圍第8至12項中任一項所述之透明體，其中該透明導電膜具有20奈米及更高之一厚度。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之透明體，其中該透明導電膜具有50奈米至150奈米之一厚度。
  15. 如申請專利範圍第8至12項中任一項所述之透明體，其中該透明導電膜包括銦錫氧化物(Indium Tin Oxide,ITO)。
  16. 如申請專利範圍第8至12項中任一項所述之透明體，其中該透明導電膜係提供至具有1.5或更低之一折射率的一介電膜之上，且具有1.8或更高之一折射率的一介電膜係提供至該透明導電膜之上。
  17. 如申請專利範圍第8至12項中任一項所述之透明體，其中該透明黏著層係提供用於將該層堆疊接合至該觸控螢幕面板。
  18. 一種製造用於觸控螢幕面板之一透明體(10)之沉積設備(600)，該沉積設備包括：一第一沉積組件(622)，用以沉積一第一透明層堆疊(12)在一基板(14)之上，該第一透明層堆疊包括至少一第一介電膜(16)和一第二介電膜(18)，該第一介電膜(16)具有一第一折射率，該第二介電膜(18)具有一第二折射率，該第二折射率不同於該第一折射率；一第二沉積組件(624)，用以沉積一透明導電膜(22)；以及一第三沉積組件(622)，用以沉積一第二透明層堆疊(12)在該透明導電膜(14)之上，該第二透明層堆疊(12)包括至少一第三介電膜(16)具有一第一折射率；其中該第一沉積組件(622)，該第二沉積組件(624)和該第三沉積組件係排列使得該第一透明層堆疊(12)、該透明導電膜(22)和該第二透明層堆疊被依此順序配置在該基板(14)之上，且其中該第一沉積組件(622)、該第二沉積組件、該第三沉積組件之至少一者包括一濺鍍系統運作上地耦接至一靶材，該濺鍍系統係用以藉由該靶材之濺渡來沉積該第一介電膜(16)、該第二介電膜(18)、該第三介電膜、該第四介電膜和該透明導電膜(22)之至少一者。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之裝置，其中該第一沉積組件(6222)、該第二沉積組件或該第三沉積組件係用以藉由磁控 濺鍍來沉積該第一透明層堆疊(12)、該第二透明層堆疊(112)和該透明導電膜(22)，典型地藉由自一可旋轉的靶材的磁控濺鍍。
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