TW201400830A - 測試治具 - Google Patents
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Abstract
一種測試治具包括一本體，該本體的第一表面上設有兩收容孔；兩個插針，每個插針的第一端收容於一收容孔內；兩根導線，每一根導線的第一端分別與一插針的第一端電性相連，兩根導線的另一端分別用於與待測裝置的測試點及參考點焊接，每一插針的第二端用於將待測裝置的測試點及參考點的訊號導出。
Description
本發明涉及一種測試治具，特別涉及一種用於測試記憶體條電氣特性的測試治具。
現在對記憶體晶片的電氣特性進行測試時，需測試者手握著示波器的正極探棒以與一測試點相連，還需握著示波器的負極探棒以與一參考點相連。又，還需將一電壓表的正極與負極分別連接至該測試點及參考點，以獲得該測試點與參考點的電壓。然，若該測試點與參考點的距離較遠，用戶需雙手分別握著一探棒，當需要調試儀器時，用戶則無法空出手來調試，進而給測試帶來不便。另，由於一個測試點需同時與該正極探棒及該電壓表的正極相連，一個參考點需同時與該負極探棒及該電壓表的負極相連，而一般的測試點或參考點的接觸面積較小，因而有可能在測試時因無法充分接觸而導致測試結果不準確。
鑒於以上內容，有必要提供一種方便測試的測試治具。
一種測試治具包括：
一本體，該本體的第一表面上設有兩收容孔；
兩個插針，每個插針的第一端收容於一收容孔內；
兩根導線，每一根導線的第一端分別與一插針的第一端電性相連，兩根導線的另一端分別用於與待測裝置的測試點及參考點焊接，每一插針的第二端用於將待測裝置的測試點及參考點的訊號導出。
上述測試治具透過將探棒的兩探針分別與該兩插針相連，同時將電壓表的兩接線端與該兩插針相連，避免了在該接觸面積較小的測試點上同時連接探棒及電壓表的接線端而致使測試結果不準確的不足。
請參考圖1，本發明測試治具10用於對一記憶體條的電氣特性進行測試，所述測試治具10的較佳實施方式包括一本體100、一導接部108、一對卡腳102及複數導線103。
該導接部108包括兩個插針105。每一插針105的形狀均為Z形，並在插針的中央形成彎折部109，每一插針105的第一端上設有螺紋107，第二端用於與探棒相連。
該本體100由絕緣材料製成。該本體100的上表面開設有兩個圓形的收容孔104，每一收容孔104內設有中空的金屬件106，該金屬件106的內壁設有螺紋。安裝時，該插針105的螺紋與該金屬件106的螺紋107相配合將插針105安裝在該本體100上。轉動該兩插針105，可調節兩插針105之間的相對距離，進而使得該測試治具10可外接不同類型的探棒。
該本體100的下表面設有兩根導線103。該兩根導線103的一端分別與兩收容孔104內的金屬件106電性連接。該兩根導線103的另一端為自由端可分別與待測記憶體條上的一測試點及一參考點相連。
該對卡腳102設置於該本體100的下表面。
請參考圖2，測試時，將該本體100置於該記憶體條20的頂端，並使該兩卡腳102夾持該記憶體條20的板體，從而將該測試治具10與待測記憶體條20相固定。將該兩根導線103的自由端分別與該測試點及該參考點焊接，轉動該兩插針105，調節兩插針105之間的相對距離，兩探棒分別與該兩插針105的第二端相接觸，並將一電壓表的兩接線端分別與該插針105的彎折部109相接觸，即可對該記憶體條20的電氣特性進行測試。
根據不同的測試需求，如當探棒的握持部較寬時，可透過調節兩插針105的之間的相對距離，再分別與該兩插針105相連，如此使得該測試治具10可外接不同類型的探棒。
上述測試治具透過將探棒的兩探針分別與該兩插針105相接觸，同時將電壓表的兩接線端與該兩插針105相連，進而避免在該接觸面積較小的測試點上同時連接該探棒及該電壓表的接線端而致使測試結果不準確的不足。另外，透過該對卡腳102將該測試治具10固定於該記憶體條20上，而無需手動控制測試工具，進而提高了測試的便利性。同時，透過設置於該插針105的第一端的螺紋107與該收容孔104內的金屬件106的螺紋相配合，透過調節兩插針105之間的相對距離，使得該測試治具10可外接不同類型的探棒。
綜上所述，本發明確已符合發明專利的要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明的較佳實施方式，本發明的範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟悉本案技藝的人士援依本發明的精神所作的等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10．．．測試治具
100．．．本體
102．．．卡腳
103．．．導線
104．．．收容孔
105．．．插針
107．．．螺紋
106．．．金屬件
20．．．記憶體條
108．．．導接部
109．．．彎折部
圖1是本發明測試治具的較佳實施方式的結構圖。
圖2是本發明測試治具的使用狀態圖。
20．．．記憶體條
100．．．本體
102．．．卡腳
103．．．導線
105．．．插針
Claims (4)
- 一種測試治具，包括：
一本體，該本體的第一表面上設有兩收容孔；
兩個插針，每個插針的第一端收容於一收容孔內；
兩根導線，每一根導線的第一端分別與一插針的第一端電性相連，兩根導線的另一端分別用於與待測裝置的測試點及參考點焊接，每一插針的第二端用於將待測裝置的測試點及參考點的訊號導出。 - 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，其中該本體的每一收容孔內設有一中空的金屬件，該金屬件的內壁上設有螺紋，每一插針的第一端設有與該金屬件的內壁上的螺紋相配合的外螺紋。
- 如申請專利範圍第1項所述之測試治具，其中該本體的第二表面上設有一對卡腳，該對卡腳用於將該測試治具固定於該待測裝置上。
- 如申請專利範圍第1或2或3項所述之測試治具，其中每一插針呈Z形，每一插針的中央形成一彎折部。
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| TW101125594A TW201400830A (zh) | 2012-06-29 | 2012-07-16 | 測試治具 |
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2012
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