CN109545270A - 一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽 - Google Patents
一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽，其中，所述存储器测试治具，包括多个负载卡和多个排线跳帽，所述排线跳帽通过插接的方式将所述负载卡两两连接在一起，所述排线跳帽之间通过插接的方式两两互联，使所述多个负载卡上对应的信号连接在一起。本发明实施例将负载卡的连接方式由连接排线连接，变更为排线跳帽连接，提高了操作的简便性，简化了拆卸安装操作，延长了治具使用寿命，也提高了测试准确度。
Description
技术领域
本发明涉及测试治具领域，尤指一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽。
背景技术
服务器板卡在开发过程中，需要进行详细而严格的测试验证。存储器(Memory)部分作为板卡的重要组成部分，是测试时需要重点关注的部分。Intel官方也对其测试内容做出了详细而严格的规定。
为了完成这些精密的测试，Intel同时还推出了官方测试治具。使用这些测试治具，可以大大提高测试的准确性，同时也让很多本来很难测试到的信号，可以在治具上很方便的量测到。
由于服务器需求多种多样，对应的服务器板卡在设计时，也不尽相同。通常情况下，Memory部分的设计会是4根内存设计，或者6根内存设计。与之对应的，主板上就会有4根内存条卡槽，或者6根内存条卡槽。
Intel官方发布的Memory测试治具，包括6个负载卡，连接排线，及其他配件。其中负载卡是模拟内存条，直接插在内存条卡槽上。
这样很多信号可以直接在负载卡上的对应量测点量测到。如果板卡设计是4根内存条卡槽设计时，只需要使用4个负载卡即可。连接排线是安装在负载卡上的，其作用是将多个负载卡的相关信号连接在一起。
由于官方发布的治具是按6个负载卡设计的，这导致在测试时，需要根据板卡设计的具体情况，进行4负载卡和6负载卡之间的切换，反复拆卸安装负载卡和连接排线。由于排线起到隔离负载卡间距，连接负载卡信号的作用，因此，两者间必须安装牢固，接触充分。这样就造成在拆装排线和负载卡时比较麻烦。而且，由于经常拆卸安装负载卡与排线，排线接口处比较容松动，可能影响测试准确度。同时排线也容易出现耗损断裂的情况。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种存储器测试治具、使用方法及排线跳帽。
为了达到本发明目的，本发明提供了一种存储器测试治具，包括多个负载卡，还包括多个排线跳帽，所述排线跳帽通过插接的方式将所述负载卡两两连接在一起，所述排线跳帽之间通过插接的方式两两互联，使所述多个负载卡上对应的信号连接在一起。
可选地，所述排线跳帽，包括多个并排的跳帽单元，每个跳帽单元包括两个通过信号连接线连接的插头单元。
可选地，所述插头单元包括相连的排线跳帽延长针和排线跳帽插头。
可选地，所述负载卡为六个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡、第四负载卡、第五负载卡和第六负载卡，所述排线跳帽为五个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽、第三排线跳帽、第四排线跳帽和第五排线跳帽；其中，所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，所述第五排线跳帽插接在所述第五负载卡和第六负载卡上，所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上，所述第四排线跳帽插接在所述第三排线跳帽和第五排线跳帽上。
可选地，所述负载卡为四个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡和第四负载卡，所述排线跳帽为三个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽和第三排线跳帽；其中，所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上。
本发明还提供一种存储器测试治具的使用方法，包括：
在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽；
在每两个相邻的排线跳帽上插接一个排线跳帽。
可选地，所述负载卡为六个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡、第四负载卡、第五负载卡和第六负载卡，所述排线跳帽为五个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽、第三排线跳帽、第四排线跳帽和第五排线跳帽；
所述在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽，包括：将所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，将所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，将所述第五排线跳帽插接在所述第五负载卡和第六负载卡上；
所述在每两个相邻的排线跳帽上插接一个排线跳帽，包括：将所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上，将所述第四排线跳帽插接在所述第三排线跳帽和第五排线跳帽上。
可选地，所述负载卡为四个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡和第四负载卡，所述排线跳帽为三个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽和第三排线跳帽；
所述在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽，包括：将所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，将所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上；
所述在每两个相邻的排线跳帽上插接一个排线跳帽，包括：将所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上。
本发明还提供一种排线跳帽，包括：多个并排的跳帽单元，每个跳帽单元包括两个通过信号连接线连接的插头单元。
可选地，所述插头单元包括相连的排线跳帽延长针和排线跳帽插头。
本发明实施例的存储器测试治具，包括多个负载卡，还包括多个排线跳帽，所述排线跳帽通过插接的方式将所述负载卡两两连接在一起，所述排线跳帽之间通过插接的方式两两互联，使所述多个负载卡上对应的信号连接在一起。本发明实施例将负载卡的连接方式由连接排线连接，变更为排线跳帽连接，提高了操作的简便性，简化了拆卸安装操作，延长了治具使用寿命，也提高了测试准确度。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
图1为负载卡的示意图；
图2为本发明实施例的排线跳帽的组成示意图；
图3为本发明实施例的跳帽单元的组成示意图；
图4为本发明实施例的插头单元的组成示意图；
图5为本发明实施例的排线跳帽一端的示意图；
图6为本发明实施例的存储器测试治具的使用示意图；
图7为本发明实施例的存储器测试治具的使用方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
如图1所示，为负载卡示意图。排线的作用就是将多个负载卡上相同信号的插针连接起来，同时又起到间隔相邻负载卡的作用。
因此，只需要找到一种方法，来满足这两点，同时又克服排线的缺点，即可解决问题。为此，本发明实施例提出了排线跳帽的设计方法。
本发明实施例的存储器测试治具，包括多个负载卡和多个排线跳帽，所述排线跳帽通过插接的方式将所述负载卡两两连接在一起，所述排线跳帽之间通过插接的方式两两互联，使所述多个负载卡上对应的信号连接在一起。
本发明实施例中，多个负载卡之间通过排线跳帽完成连接，提升了操作的简便性，提升了治具使用寿命；使用排线跳帽连接，避免了接口松动的问题，提升了测试准确度。
如图2～图5所示，本发明实施例的排线跳帽，包括多个并排的跳帽单元10，每个跳帽单元包括两个通过信号连接线12连接的插头单元11。
所述插头单元11包括相连的排线跳帽延长针111和排线跳帽插头112。
排线跳帽延长针111用于将负载卡对应信号延长引出来。排线跳帽插头112可用于插在负载卡排针上，也可以用于插在其它排线跳帽中的排线跳帽延长针上。
本发明实施例中，排线跳帽采用排线跳帽延长针的设计，可以轻松实现相邻排线跳帽之间的连接，保证了负载卡信号的整体性。
排线跳帽包含的跳帽单元10的个数与负载卡上的排针个数相关，如图2所示，在一实施例中，负载卡上的排针个数为四个，所以排线跳帽包括四个并排的跳帽单元10。
参照图2，可以看出，排线跳帽整体包括两端，可以分别插在两个相邻负载卡上的排针上，排线跳帽内部中间的信号连接线将两个负载卡上对应的信号连接在一起。
需要说明的是，图2～图5为本发明实施例的排线跳帽的内部结构示意图，其外部可以设置有外壳进行保护，例如采用接口常用的塑料外壳，仅留出排线跳帽延长针111和排线跳帽插头112的接口孔即可。
如图6所示，在一实施例中，所述负载卡为六个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡、第四负载卡、第五负载卡和第六负载卡，所述排线跳帽为五个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽、第三排线跳帽、第四排线跳帽和第五排线跳帽；其中，所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，所述第五排线跳帽插接在所述第五负载卡和第六负载卡上，所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上，所述第四排线跳帽插接在所述第三排线跳帽和第五排线跳帽上。
其中，第二排线跳帽利用第一排线跳帽和第三排线跳帽中的排线跳帽延长针将第二负载卡和第三负载卡连接在一起，第四排线跳帽利用第三排线跳帽和第五排线跳帽中的排线跳帽延长针将第四负载卡和第五负载卡连接在一起。同时，跳线跳帽本身中间的固有宽度，恰好起到隔离相邻两个负载卡的作用。
在一实施例中，所述负载卡为四个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡和第四负载卡，所述排线跳帽为三个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽和第三排线跳帽；其中，所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上。
也就是说，在负载卡从六个变为四个时，省去第四排线跳帽和第五排线跳帽。
如图7所示，本发明实施例的存储器测试治具的使用方法，包括：
步骤201，在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽；
步骤202，在每两个相邻的排线跳帽上插接一个排线跳帽。
在一实施例中，所述负载卡为四个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡和第四负载卡，所述排线跳帽为三个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽和第三排线跳帽；
所述在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽，包括：将所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，将所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上；
所述在每两个相邻的排线跳帽上插接一个排线跳帽，包括：将所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上。
在一实施例中，所述负载卡为六个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡、第四负载卡、第五负载卡和第六负载卡，所述排线跳帽为五个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽、第三排线跳帽、第四排线跳帽和第五排线跳帽；
所述在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽，包括：将所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，将所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，将所述第五排线跳帽插接在所述第五负载卡和第六负载卡上；
所述在每两个相邻的排线跳帽上插接一个排线跳帽，包括：将所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上，将所述第四排线跳帽插接在所述第三排线跳帽和第五排线跳帽上。
例如，在一应用实例中，以负载卡为六个为例，存储器测试治具的使用过程可包括如下步骤：
步骤301，如图1所示，多个负载卡并排插在主板的内存条插槽中。
步骤302，如图6所示，将第一排线跳帽插在第一负载卡和第二负载卡的排针(如图1所示)上。将第三排线跳帽插在第三负载卡和第四负载卡的排针上。将第五排线跳帽插在第五负载卡和第六负载卡的排针上.
步骤303，如图6所示，将第二排线跳帽插在第一排线跳帽和第三排线跳帽的排线跳帽延长针(如图2～图5所示)上，将第四排线跳帽插在第三排线跳帽和第五排线跳帽的排线跳帽延长针上。
这样五个排线跳帽保证了六个负载卡的连接，同时又利用排线跳帽自身宽度保证了相邻负载卡间的间距。
如果是四个负载卡的设计，则省去第四排线跳帽和第五排线跳帽部分即可。
综上所述，本发明实施例将负载卡的连接方式由连接排线连接，变更为排线跳帽连接。提高了操作的简便性，简化了拆卸安装操作，延长了治具使用寿命，也提高了测试准确度。排线跳帽采用排线跳帽延长针的设计，可以轻松实现相邻排线跳帽之间的连接，保证了负载卡信号的整体性。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
Claims (10)
1.一种存储器测试治具，包括多个负载卡，其特征在于，还包括多个排线跳帽，所述排线跳帽通过插接的方式将所述负载卡两两连接在一起，所述排线跳帽之间通过插接的方式两两互联，使所述多个负载卡上对应的信号连接在一起。
2.根据权利要求1所述的存储器测试治具，其特征在于，所述排线跳帽，包括多个并排的跳帽单元，每个跳帽单元包括两个通过信号连接线连接的插头单元。
3.根据权利要求2所述的存储器测试治具，其特征在于，所述插头单元包括相连的排线跳帽延长针和排线跳帽插头。
4.根据权利要求1所述的存储器测试治具，其特征在于，所述负载卡为六个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡、第四负载卡、第五负载卡和第六负载卡，所述排线跳帽为五个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽、第三排线跳帽、第四排线跳帽和第五排线跳帽；其中，所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，所述第五排线跳帽插接在所述第五负载卡和第六负载卡上，所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上，所述第四排线跳帽插接在所述第三排线跳帽和第五排线跳帽上。
5.根据权利要求1所述的存储器测试治具，其特征在于，所述负载卡为四个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡和第四负载卡，所述排线跳帽为三个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽和第三排线跳帽；其中，所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上。
6.一种存储器测试治具的使用方法，包括：
在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽；
在每两个相邻的排线跳帽上插接一个排线跳帽。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述负载卡为六个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡、第四负载卡、第五负载卡和第六负载卡，所述排线跳帽为五个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽、第三排线跳帽、第四排线跳帽和第五排线跳帽；
所述在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽，包括：将所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，将所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上，将所述第五排线跳帽插接在所述第五负载卡和第六负载卡上；
所述在每两个相邻的排线跳帽上插接一个排线跳帽，包括：将所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上，将所述第四排线跳帽插接在所述第三排线跳帽和第五排线跳帽上。
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述负载卡为四个，包括第一负载卡、第二负载卡、第三负载卡和第四负载卡，所述排线跳帽为三个，包括第一排线跳帽、第二排线跳帽和第三排线跳帽；
所述在每两个相邻的负载卡上插接一个排线跳帽，包括：将所述第一排线跳帽插接在所述第一负载卡和第二负载卡上，将所述第三排线跳帽插接在所述第三负载卡和第四负载卡上；
所述在每两个相邻的排线跳帽上插接一个排线跳帽，包括：将所述第二排线跳帽插接在所述第一排线跳帽和第三排线跳帽上。
9.一种排线跳帽，其特征在于，包括：多个并排的跳帽单元，每个跳帽单元包括两个通过信号连接线连接的插头单元。
10.根据权利要求9所述的排线跳帽，其特征在于，所述插头单元包括相连的排线跳帽延长针和排线跳帽插头。
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| CN2862369Y (zh) * | 2005-11-14 | 2007-01-24 | 北京邮电大学 | 一种电路实验用节点连接耦件 |
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