TW201409034A - 可調式量測治具 - Google Patents

Abstract

一種可調式量測治具，包括一外殼、一設置於外殼的第一端處的正極接觸塊、一可在外殼內滑動的負極接觸塊及兩分別與正極接觸塊與負極接觸塊電性連接的金屬導線。當負極接觸塊移動到外殼的第一端時，該負極接觸塊不與正極接觸塊接觸。該負極接觸塊中設置有一穿孔，其中一測試設備的探針可通過負極接觸塊內的穿孔以使得探針的針部與正極接觸塊電性連接、探針的管體與負極接觸塊電性連接，該探針的針部與管體相互絕緣。

Description

可調式量測治具

本發明涉及一種量測治具，特別涉及一種可調式量測治具。

在量測高頻電子元件的切換波形或漣波電壓時，有兩種精確量測工具可供使用，一種是高壓主動式探棒，另一種是一般被動式探棒。其中高壓主動式探棒可以實現最短路徑量測，獲得最真實的波形，然，由於價格昂貴，所以並不經常被使用。更多的情況下是使用一般被動式探棒，此時需要先在探棒上繞線，之後將探棒的尖端與繞線分別與電子元件的兩端焊接，如此具有諸多不便，比如繞線不易製作且易丟失等等。

鑒於以上內容，有必要提供一種方便使用的可調式量測治具。

一種可調式量測治具，包括：

一外殼；

一正極接觸塊，設置於外殼的第一端；

一可在外殼內滑動的負極接觸塊，且當負極接觸塊移動到外殼的第一端時，該負極接觸塊不與正極接觸塊接觸，該負極接觸塊中設置有一穿孔，其中一測試設備的探針可通過負極接觸塊內的穿孔以使得探針的針體與正極接觸塊電性連接、探針的管體與負極接觸塊電性連接，該探針的針體與管體相互絕緣；以及

兩金屬導線，分別與正極接觸塊與負極接觸塊電性連接。

上述可調式量測治具先調節負極接觸塊的位置，之後再將與正極接觸塊及負極接觸塊電連接的金屬導線焊接至待測電子元件的兩待測引腳，使用方便，且兩金屬導線不易丟失。

請參考圖1及圖2，本發明可調式量測治具的較佳實施方式包括一塑膠外殼10、一正極接觸塊12、一負極接觸塊15、兩金屬導線18及一導軌20。本實施方式中，該塑膠外殼10為一C形管，該導軌20沿塑膠外殼10的長度方向設置於塑膠外殼10內，負極接觸塊15置於外殼10內且可在導軌20上沿塑膠外殼10的長度方向滑動。該塑膠外殼10的第一端沿塑膠外殼10的長度方向延伸出一支架32，且該塑膠外殼10的第一端還設置有一帶有通孔35的端蓋30。

該正極接觸塊12設置於支架32上，兩金屬導線18分別與正極接觸塊12及負極接觸塊15電性連接。該塑膠外殼10的第二端用於插接測試設備（如示波器）的探針。該探針包括管體80、設置於管體頭部的針體81以及設置於管體80與針體81之間的絕緣部82，其中該針體81與管體80均導電，且針體81與示波器的正訊號接收端電連接，管體80與示波器的負訊號接收端電連接。

該負極接觸塊15中開設有一通孔16，且該通孔16的直徑等於或者略大於管體80的直徑以使該管體80能穿過該通孔16並與該負極接觸塊15良好接觸。

使用時，根據待測電子元件1的兩待測引腳5及6的位置調節負極接觸塊15與正極接觸塊12之間的距離。具體而言，由於該正極接觸塊12固定不動，因此透過滑動負極接觸塊15即可調節正極接觸塊12與負極接觸塊15之間的距離。

當正極接觸塊12與負極接觸塊15之間的距離與待測電子元件1的兩待測引腳5及6之間的距離相當時，將分別與正極接觸塊12及負極接觸塊15相連的金屬導線18焊接於待測電子元件1的兩待測引腳5及6上。之後，將示波器的探針從塑膠外殼10的第二端插入，且使得探針穿過負極接觸塊15中的通孔16，以將探針的針體81穿過端蓋30上的通孔35並與正極接觸塊12電性連接，探針的管體80則與負極接觸塊15電性連接。

由於探針的針體81與管體80之間通過絕緣部82來相互絕緣，且由於端蓋30的存在，故即使負極接觸塊15滑動至塑膠外殼10上最靠近第一端的位置，該負極接觸塊15仍然不會與正極接觸塊12電性連接，如此即可將待測電子元件1的兩待測引腳5及6的訊號傳輸至示波器。

其他實施方式中，該塑膠外殼10亦可為一兩端開口的圓筒，該圓筒的外壁上可開設兩滑槽，該負極接觸塊15上則增設一滑動柄，該滑動柄可穿過其中一滑槽並露出滑槽，如此用戶可透過操作滑動柄來使得負極接觸塊15在導軌20上移動。與負極接觸塊15電連接的金屬導線18則穿過另一滑槽進而伸出塑膠外殼10之外部。

另，該端蓋30亦可省略，如稍微延長支架32的長度，以使得正極接觸塊12安裝於支架32上的時候可與外殼10的第一端間隔一定的距離，如此同樣可使得正極接觸塊12不與負極接觸塊15接觸。再者，本實施方式中導軌20的目的在於使得負極接觸塊15可在外殼10內移動，因此，其他實施方式中亦可用其他具有類似功能的元件來代替，甚至於刪除導軌20，該負極接觸塊15直接與外殼10過盈配合進而可在外殼10內移動。

上述可調式量測治具先調節負極接觸塊15的位置，之後再將與正極接觸塊12及負極接觸塊15電連接的金屬導線18焊接至待測電子元件的兩待測引腳，使用方便，且兩金屬導線18不易丟失。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士，在爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。

10．．．外殼

12．．．正極接觸塊

15．．．負極接觸塊

18．．．金屬導線

20．．．導軌

30．．．端蓋

32．．．支架

80．．．管體

81．．．針體

82．．．絕緣部

16、35．．．通孔

1．．．待測電子元件

5、6．．．待測引腳

圖1是本發明可調式量測治具的較佳實施方式的示意圖。

圖2為圖1中可調式量測治具使用時的示意圖。

10．．．外殼

12．．．正極接觸塊

15．．．負極接觸塊

18．．．金屬導線

30．．．端蓋

32．．．支架

16、35．．．通孔

20．．．導軌

Claims (6)

1. 一種可調式量測治具，包括：
   一外殼；
   一正極接觸塊，設置於外殼的第一端；
   一可在外殼內滑動的負極接觸塊，該負極接觸塊中設置有一穿孔，其中一測試設備的探針可通過負極接觸塊內的穿孔以使得探針的針體與正極接觸塊電性連接、探針的管體與負極接觸塊電性連接，該探針的針體與管體相互絕緣；以及
   兩金屬導線，分別與正極接觸塊與負極接觸塊電性連接。
2. 如申請專利範圍第1項所述之可調式量測治具，其中該外殼為C形管體，該外殼的第一端設有一帶有通孔的端蓋，該外殼的第一端還沿外殼的長度方向延伸出一支架，該正極接觸塊設置於支架上。
3. 如申請專利範圍第1項所述之可調式量測治具，其中該外殼為兩端開口的圓筒，其外壁上開設一滑槽，該負極接觸塊上設有一滑動柄，該滑動柄穿過滑槽並露出滑槽，透過操作滑動柄以使得負極接觸塊在外殼內移動。
4. 如申請專利範圍第1項所述之可調式量測治具，其中該外殼的第一端沿外殼的長度方向延伸出一支架，該正極接觸塊設置於支架上且與外殼的第一端之間有間隔，以使得當負極接觸塊移動至外殼的第一端時，正極接觸塊不與負極接觸塊相接觸。
5. 如申請專利範圍第1項所述之可調式量測治具，其中該外殼為塑膠外殼。
6. 如申請專利範圍第1項所述之可調式量測治具，還包括一設置於外殼內部的滑軌，該負極接觸塊可沿該滑軌在外殼內部滑動。