TWM478823U - 探針式檢測裝置之訊號轉接構造 - Google Patents
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Description
本創作係為一種應用在探針式檢測裝置的訊號轉接構造,用以將檢測裝置所測得之電路訊號透過訊號轉接構造傳輸至電腦機台分析。
一般印刷電路板、半導體封裝元件、晶圓等產品製成後,需透過專用的探針式檢測裝置予以檢測,藉此確認產品的良率和阻抗,維持產品品質。探針式檢測裝置主要是利用緊密排列的細密探針與產品內電路板上的導電電路分別接觸後,透過一電腦機台測得每一探針所傳遞的電氣特性,藉以判讀電路板上電路的電氣特性是否符合規範。
由於現今的可攜式電子產品例如智慧型手機,在強調容易攜帶的同時,其功能也日益強大,使得該等可攜式電子產品電路板的電路布局往往細密地必須使用放大鏡才能逐一檢視;如此一來,也造成了探針式檢測裝置在製造上的困難。
如第一圖所示,習知探針式檢測裝置包含一檢測台1,該檢測台上設置有呈緊密排列的細密探針2,每一探針2凸出於檢測台1上端面,並與待測試電路板3電路布局相對應,且探針2底部分別連接一訊號線4,所有的訊號線皆分別電連接至一訊號轉接盤5上同樣呈細密排列的轉接端子6後,再藉由訊號轉接盤5上的各個轉接端子6將測試訊號傳輸至電腦機台7以供判讀。
在精密訊號傳輸的要求下,一般訊號轉接盤本體大約為100X100mm,排列於轉接盤上的轉接端子數量通常是4096個,在10公分見方的面積裡排置4096根轉接端子已屬不易,而習知技術欲將前述訊號線分
別與各轉接端子電連接時,還必須採取人工焊接的方式,逐一將每一訊號線與轉接端子連接,不但具有加工困難、組裝工時冗長、製造速度緩慢、成本提高的問題,而且人工焊接也容易有傷害眼力而造成誤判的重大缺失,影響檢測的準確性,在結構設計上實有改良之必要。
有鑑於此,本創作人乃累積多年相關領域的研究以及實務經驗,特創作出一種訊號轉接構造,以解決習知訊號轉接盤上的轉接端子與訊號線互相焊接困難的缺失。
本創作之目的在於提供一種應用在探針式檢測裝置上的訊號轉接構造,該訊號轉接構造之轉接端子與訊號線是以中空狀端子和插針的方式互相插接固定,且插針呈彎折狀而產生彈性,能迅速且穩固地插入中空狀端子中完成電連接作業,解決習知轉接端子與訊號線之間焊接困難、組裝工時冗長的缺點。
為達成上述目的,本創作探針式檢測裝置之訊號轉接構造係設置在檢測裝置之檢測台與電腦機台之間,使檢測裝置所測得之電路訊號得以透過訊號轉接構造傳輸至電腦機台以供分析;該訊號轉接構造係於一轉接盤上設置細密排列的定位穿孔,各定位穿孔內可分別供一呈中空狀的轉接端子固定;所述轉接端子兩端分別突伸於的轉接盤上、下端面,其中一端為接觸端以供接觸及傳輸訊號至電腦機台,另一端為連通於其空心內部的插接端,以供一訊號線插接;所述訊號線其中一端電連接於檢測台,另一端為外徑小於轉接端子內徑之插針,且該插針呈彎折狀而得以由插接端插入轉接端子後,藉由其彎折所產生的彈性而迅速且穩固地完成插接。
由於上述轉接端子呈中空狀,讓訊號線之插針可以直接插入轉接端子而完成電連接,因此可以克服習知技術必須逐一焊接方能使訊號線與轉接端子連接的重大缺失。此外,插針呈彎折狀而具備彈性,能迅速地插入轉接端子中完成電連接作業,也讓插針不易從轉接端子中鬆脫。
以下進一步說明各元件之實施方式:實施時,該轉接端子為一金屬片捲繞成型,其外緣至少設有一大於或等於定位穿孔內徑之卡持凸環,使轉接端子能夠通過卡持凸環牢固地卡持在定位穿孔中,讓轉接端子不易從穿孔中鬆脫。
實施時,所述轉接端子之接觸端的端部呈封閉的圓帽狀,並突伸於的轉接盤下端面,以和電腦機台電連接讓訊號傳輸至電腦機台。
實施時,所述轉接盤上細密排列的定位穿孔呈矩陣排列,該轉接盤約為100X100mm,穿孔數量約4000~4200個。
實施時,所述之訊號線電連接於檢測台的一端為一伸縮探針,該伸縮探針通過一導線電連接於所述之插針,使檢測裝置測得的訊號經訊號線之伸縮探針、導線、插針、轉接盤上的轉接端子傳輸至電腦機台供作業人員判讀。
實施時,該伸縮探針包含一電連接於導線的限位筒、一設置在限位筒內的彈性元件、以及一設置在限位筒中受彈性元件彈性頂持恆常凸出限位筒的頂針,該伸縮針頂端可供檢測裝置之探針接觸以傳輸訊號。組裝時,伸縮探針亦能提供一彈性頂持力使探針恆常突出檢測台上端面,讓探針便於和待測電路板的電路布局相接觸,在待測電路板置放於檢測台上後,待測電路板的重量會讓探針和伸縮探針之頂針向下位移,使彈性元件向下壓縮,避免探針受到電路板重量擠壓而變形。
相較於習知技術,本創作具有以下優點:
1.轉接盤上的轉接端子呈中空狀,讓訊號線之插針可以插入轉接端子中,克服習知技術必須逐一焊接方能使訊號線與轉接端子連接的缺失。
2.插針呈彎折狀而具有彈性,能迅速地插入轉接端子中完成電連接作業,也讓插針不易從轉接端子中鬆脫。
3.訊號線之伸縮探針亦能提供一彈性頂持力使探針恆常突出檢測台上端面,讓探針便於和待測電路板的電路布局相接觸。
以下依據本創作之技術手段,列舉出適於本創作之實施方式,並配合圖式說明如後:
1‧‧‧訊號轉接構造
2‧‧‧檢測台
3‧‧‧電腦機台
4‧‧‧探針
5‧‧‧電路板
10‧‧‧轉接盤
11‧‧‧定位穿孔
20‧‧‧轉接端子
21‧‧‧接觸端
22‧‧‧插接端
23‧‧‧卡持凸環
30‧‧‧訊號線
31‧‧‧插針
32‧‧‧伸縮探針
321‧‧‧限位筒
322‧‧‧彈性元件
323‧‧‧頂針
33‧‧‧導線
第一圖:習知探針式檢測裝置結構示意圖。
第二圖:本創作之訊號轉接構造設置位置示意圖。
第三圖:本創作之轉接盤的立體外觀圖。
第四圖:本創作之訊號轉接構造立體外觀圖。
第五圖:本創作之訊號轉接構造結構示意圖。
如第二圖所示,本創作一種探針式檢測裝置之訊號轉接構造1,係設置在檢測裝置之檢測台2與電腦機台3之間,使檢測裝置所測得之電路訊號得以透過訊號轉接構造1傳輸至電腦機台3以供分析。所述檢測台2上設置有呈緊密排列的細密探針4,每一探針4凸出於檢測台2上端面,並與待測試電路板5電路布局相對應,圖示中僅以二探針做為範例。
如第二圖所示,該訊號轉接構造1係於一轉接盤10上設置細密排列的定位穿孔11,各定位穿孔11內可分別供一呈中空狀的轉接端子20固定。如第三圖所示,該轉接盤10上細密排列的定位穿孔11呈矩陣排列,該轉接盤10約為100X100mm,穿孔11數量約4000~4200個。
如第二至第五圖所示,組裝時,所述轉接端子20兩端分別突伸於的轉接盤10上、下端面,其中一端為接觸端21以供接觸及傳輸訊號至電腦機台3,另一端為連通於其空心內部的插接端22,以供一訊號線30插接。
所述訊號線30其中一端為插針31、另一端為伸縮探針32,該插針31外徑小於轉接端子20內徑,且呈彎折狀而得以由插接端22插入轉接端子20後,藉由其彎折所產生的彈性而迅速且穩固地完成插接,克服習知技術必須逐一焊接方能使訊號線與轉接端子連接的重大缺失。
所述訊號線30之伸縮探針32電連接於檢測台上的探針4,該伸縮探針32通過一導線33電連接於所述之插針31,使檢測裝置測得的訊號經訊號線30之伸縮探針32、導線33、插針31、轉接盤10上的轉接端
子20傳輸至電腦機台3供作業人員判讀。
該伸縮探針32包含一電連接於導線33的限位筒321、一設置在限位筒321內的彈性元件322、以及一設置在限位筒321中受彈性元件322彈性頂持恆常凸出限位筒321的頂針323,該伸縮針頂端可供檢測台2上之探針4接觸以傳輸訊號。
如第四圖所示,該轉接端子20為一金屬片捲繞成型,其外緣至少設有一大於或等於定位穿孔11內徑之卡持凸環23,接觸端21的端部呈封閉的圓帽狀;該轉接端子20能夠通過卡持凸環23卡持在定位穿孔11中,讓轉接端子20不易從穿孔11中鬆脫。
藉由上述構造,轉接端子20呈中空狀,讓訊號線30之插針31可以插入轉接端子20中,克服習知技術必須逐一焊接方能使訊號線30與轉接端子連接的重大缺失。此外,插針31呈彎折狀而具有彈性,能迅速地插入轉接端子20中完成電連接作業,也讓插針31不易從轉接端子20中鬆脫。
此外如第二圖所示,組裝時,伸縮探針32亦能提供一彈性頂持力使探針4恆常突出檢測台2上端面,讓探針4便於和待測電路板5的電路布局相接觸,在待測電路板5置放於檢測台2上後,待測電路板5的重量會讓探針4和伸縮探針32之頂針323向下位移,使彈性元件322向下壓縮,避免探針4受到電路板5重量擠壓而變形。
惟,以上之實施說明及圖式所示,係舉例說明本創作之較佳實施例者,並非以此侷限本創作。是以,舉凡與本創作之構造、裝置、特徵等近似或相雷同者,均應屬本創作之創設目的及申請專利範圍之內。
1‧‧‧訊號轉接構造
10‧‧‧轉接盤
11‧‧‧定位穿孔
20‧‧‧轉接端子
21‧‧‧接觸端
22‧‧‧插接端
30‧‧‧訊號線
31‧‧‧插針
32‧‧‧伸縮探針
321‧‧‧限位筒
322‧‧‧彈性元件
323‧‧‧頂針
33‧‧‧導線
Claims (6)
- 一種探針式檢測裝置之訊號轉接構造,該訊號轉接構造設置在檢測裝置之檢測台與電腦機台之間,使檢測裝置所測得之電路訊號得以透過訊號轉接構造傳輸至電腦機台以供分析;其中:該訊號轉接構造係於一轉接盤上設置細密排列的定位穿孔,各定位穿孔內可分別供一呈中空狀的轉接端子固定;所述的轉接端子兩端分別突伸於的轉接盤上、下端面,其中一端為接觸端以供接觸及傳輸訊號至電腦機台,另一端為連通於其空心內部的插接端,以供一訊號線插接;所述訊號線其中一端電連接於檢測台,另一端為外徑小於轉接端子內徑之插針,且該插針呈彎折狀而得以由插接端插入轉接端子後,藉由其彎折所產生的彈性而迅速且穩固地插接。
- 如申請專利範圍第1項所述探針式檢測裝置之訊號轉接構造,其中,該轉接端子為一金屬片捲繞成型,其外緣至少設有一大於或等於定位穿孔內徑之卡持凸環,使轉接端子能夠通過卡持凸環牢固地卡持在定位穿孔中。
- 如申請專利範圍第2項所述探針式檢測裝置之訊號轉接構造,其中,該轉接端子之接觸端的端部呈封閉的圓帽狀。
- 如申請專利範圍第1項所述探針式檢測裝置之訊號轉接構造,其中,所述轉接盤上細密排列的定位穿孔呈矩陣排列。
- 如申請專利範圍第1至4項中任一項所述探針式檢測裝置之訊號轉接構造,其中,該訊號線電連接於檢測台的一端為一伸縮探針,該伸縮探針通過一導線電連接於所述之插針。
- 如申請專利範圍第5項所述探針式檢測裝置之訊號轉接構造,其中,該伸縮探針包含一電連接於導線的限位筒、一設置在限位筒內的彈性元件、以及一設置在限位筒中受彈性元件彈性頂持恆常凸出限位筒的頂針,該伸縮針頂端可供檢測裝置之探針接觸以傳輸訊號。
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