TW201301458A - 靜電電容方式之觸控面板及顯示裝置 - Google Patents

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Abstract

本發明之目的在於提供一種靜電電容方式之觸控面板及顯示裝置，其無須使探針直接接觸X電極與Y電極之另一方之端部，即可檢出X電極與Y電極之另一方之端部之斷線不良。本發明之靜電電容方式之觸控面板係具有：基板；複數之X電極，其係在上述基板上向第2方向延伸存在，且併設於與上述第2方向交叉之第1方向上；複數之Y電極，其係在上述基板上與上述各X電極交叉並向上述第1方向延伸存在，且併設於上述第2方向上；及抽出配線，其連接於上述複數之Y電極之一方之端部；且上述各抽出配線連接於形成在上述基板之一邊的與各抽出配線對應之端子；將上述複數之Y電極中鄰接之2根Y電極作為第1Y電極與第2Y電極時，具有使上述第1Y電極之另一方之端部、與上述第2Y電極之另一方之端部交流地耦合之耦合電容。

Description

靜電電容方式之觸控面板及顯示裝置
本發明係關於一種靜電電容方式之觸控面板及顯示裝置，特別係關於一種在檢測X電極或Y電極斷線時有效之技術。
具備使用者用手指或筆等在顯示畫面上進行觸控操作(接觸按壓操作，以下簡稱觸控)來輸入資訊之裝置(以下亦稱為觸控式感測器或觸控面板)的顯示裝置，係已被用於PDA及攜帶式終端等移動用電子機器、各種家電製品、自動提款機(Automated Teller Machine)等中。
作為如上述之觸控面板，已知有檢測經觸控部份之電阻值變化之電阻膜方式、或檢測電容變化之靜電電容方式、又或檢測光量變化之光感測器方式等。
作為靜電電容方式之觸控面板，例如有如下述專利文獻1所揭示之方式。在該揭示之方式中，設置配置成縱橫二維矩陣狀之檢測用縱向電極(以下稱為X電極。)與檢測用橫向電極(以下稱為Y電極。)，並以輸入處理部檢測各電極之電容。於手指等導體接觸觸控面板之表面的情況下，因各電極之電容增加，故以輸入處理部檢知該增加，並以各電極所檢知之電容變化之訊號為基礎，計算輸入座標。
[先行技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2008-310550號公報
根據上述專利文獻1所示之靜電電容方式之觸控面板，其係藉由將X電極與Y電極之一方之端部連接於配線(以下稱為抽出配線。)，並將該抽出配線連接於與可撓性配線基板連接之端子，而自Y電極之一側供給驅動電壓。以下，將如此方式稱為單側供電方式之觸控面板。
於該單側供電方式之觸控面板，例如自Y電極施加交流訊號，從各X電極檢出交流訊號，並基於該檢出之交流訊號，來檢出X電極之斷線、Y電極之斷線、及X電極與Y電極間之短路。
然而，上述方法中，理論上無法發現X電極與Y電極之另一方之端部(未連接於抽出配線之端部)之斷線不良。
因此，為發現X電極與Y電極之另一方之端部之斷線不良，設想使探針直接接觸X電極與Y電極之另一方之端部來進行檢測之方法，但在製造線步驟內，有產生新的不良之虞。
本發明係為解決上述先前技術之問題點而完成者，本發明之目的係在於提供一種在單側供電方式之靜電電容方式之觸控面板中，無須使探針直接接觸X電極與Y電極之另一方之端部，亦可檢出X電極與Y電極之另一方之端部之斷線不良之技術。
本發明之上述及其他目的與新穎特徵，可藉由本說明書之記述及附圖而明確。
本申請案所揭示之發明中，若要簡單說明具代表性者之概要，則如下所述：
(1)本發明係一種觸控面板，其特徵在於具有：基板；複數之X電極，其係在上述基板上向第2方向延伸存在，且併設於與上述第2方向交叉之第1方向上；複數之Y電極，其係在上述基板上與上述各X電極交叉並向上述第1方向延伸存在，且併設於上述第2方向上；及抽出配線，其連接於上述複數之Y電極之一方之端部；且其係上述各抽出配線連接於與各抽出配線對應之端子之靜電電容方式者，該等端子係形成於上述基板之一邊；將上述複數之Y電極中鄰接之2根Y電極作為第1Y電極與第2Y電極時，具有使上述第1Y電極之另一方之端部、與上述第2Y電極之另一方之端部交流地耦合之耦合電容。或者，其特徵在於將上述複數之X電極中鄰接之2根X電極作為第1X電極與第2X電極時，具有使上述第1X電極之另一方之端部、與上述第2X電極之另一方之端部交流地耦合之耦合電容。
(2)此外，本發明係一種顯示裝置，其具備：顯示面板；及配置於上述顯示面板之觀察者側之上述靜電電容方式之觸控面板。
若要簡單說明藉由本申請案所揭示之發明中具代表性者而可獲得之效果，則如下所述：根據本發明，在單側供給方式之靜電電容方式之觸控面 板中，無須用探針直接接觸X電極與Y電極之另一方之端部，亦可檢出X電極與Y電極之另一方之端部之斷線不良。
以下，參照圖式詳細說明本發明之實施例。
另，在用於說明實施例之全圖中，具有同一功能者係附註同一符號，且省略其重複之說明。又，本發明之專利請求之範圍之解釋並不受限於以下之實施例。
[本發明之前提之觸控面板1]
圖1係用於說明本發明之前提之靜電電容方式之觸控面板之電極形狀之圖。
如圖1所示，本發明之前提之觸控面板係具有：複數之X電極(X1~X5)，其係向第2方向(Y方向)延伸存在，且以特定之排列間距併設於與第2方向交叉之第1方向(X方向)上；及複數之Y電極(Y1~Y6)，其係與上述X電極交叉並向第1方向延伸存在，且以特定之排列間距併設於第2方向。另，圖1中以點線框表示之部份係有效觸控區域(ART)。
複數之X電極(X1~X5)之一方之端部，係分別連接於抽出配線(LX1~LX5)，且各抽出配線(LX1~LX5)係與形成於基板11之一邊之端子(TX1~TX5)連接。
同樣地，複數之Y電極(Y1~Y6)之一方之端部，係分別連接於抽出配線(LY1~LY6)，且各抽出配線(LY1~LY6)係與形成於基板11之一邊上之端子(TY1~TY6)連接。
複數之X電極(X1~X5)係分別具有將細線部1a與較該細 線部1a寬度寬之焊墊部1b於第2方向上交互地複數配置而成之電極圖案。
複數之Y電極(Y1~Y6)係分別具有將細線部2a與較該細線部2a寬度寬之焊墊部2b於第1方向上交互地複數配置而成之電極圖案。
圖2、圖3係用於說明本發明之前提之靜電電容方式觸控面板1之主要部分剖面圖。
圖2係顯示沿圖1之II-II線之剖面構造之主要部分剖面圖；圖3係顯示沿圖1之III-III線之剖面構造之主要部分剖面圖。
在本發明之前提之觸控面板1中，如圖2、圖3所示，複數之X電極(X1~X5)係配置於絕緣膜12上，且被形成於其上層之保護膜13所覆蓋。
如上所述，複數之X電極(X1~X5)係分別具有將細線部1a與較該細線部1a寬度寬之焊墊部1b於第2方向上交互地複數配置而成之電極圖案。此外，複數之Y電極(Y1~Y6)係分別具有將細線部2a與較該細線部2a寬度寬之焊墊部2b於第1方向上交互地複數配置而成之電極圖案。
在平面觀察之情形下，各X電極之焊墊部1b與各Y電極之焊墊部2b係未重疊地配置。
又，如圖2、圖3所示，複數之Y電極(Y1~Y6)各者之細線部2a係配置於基板11上，且與X電極之細線部1a平面地交叉。
複數之Y電極(Y1~Y6)各者之焊墊部2b，係與X電極之細 線部1a與焊墊部1b相同地配置於絕緣膜12上，且與X電極之焊墊部1b分離而形成。複數之Y電極(Y1~Y6)各者之焊墊部2b係與X電極相同地被保護膜13所覆蓋。
形成於基板11上之Y電極之細線部2a，係經由形成於絕緣膜12上之接觸孔12a，分別電性連接於包夾細線部2a且相鄰之2個焊墊部2b。又，作為基板11係使用例如玻璃等透明絕緣性基板。又，X電極與Y電極係以具有高透過性之材料，例如ITO(Indium Tin Oxide氧化銦錫)等透明性導電材料而形成。
[本發明之前提之觸控面板2]
圖4、圖5係用於說明本發明之前提之靜電電容方式觸控面板2之主要部分剖面圖。
圖4係顯示沿與圖2相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖；圖5係顯示沿與圖3相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
本發明之前提之觸控面板2，係在複數之X電極(X1~X5)、與複數之Y電極(Y1~Y6)各者之焊墊部2b係形成於基板11之點上，與本發明之前提之觸控面板1不同。
在本發明之前提之觸控面板2中，如圖4、圖5所示，複數之X電極(X1~X5)係配置於基板11上。
平面觀察之情形，各X電極之焊墊部1b與各Y電極之焊墊部2b係未重疊地配置；並且，各X電極之細線部1a與各Y電極之細線部2a交叉。
如圖4、圖5所示，複數之Y電極(Y1~Y6)各者之焊墊部 2b係在基板11上，與X電極之焊墊部1b分離而形成。
複數之Y電極(Y1~Y6)各者之細線部2a，係配置於絕緣膜12上，並被保護膜13覆蓋。Y電極之細線部2a係經由形成於絕緣膜12上之接觸孔12a，分別電性連接於包夾細線部2a且相鄰之2個焊墊部2b。
[本發明之前提之靜電電容方式之觸控面板1、2之問題點]
於本發明之前提之觸控面板1、2中，例如，自Y電極施加交流訊號，從各X電極檢出交流訊號，基於該檢出之交流訊號，來檢出複數之X電極(X1~X5)之斷線、複數之Y電極(Y1~Y6)之斷線、及複數之X電極(X1~X5)與複數之Y電極(Y1~Y6)間之短路。
然而，上述方法中，理論上無法發現X電極與Y電極之另一方之端部(未連接於抽出配線之端部)之斷線不良。
例如，如圖6所示，即使Y電極(Y6)之端部上存在斷線部(DSE)，以上述方法並無法發現該斷線部(DSE)。結果造成無法檢出在該部份之觸控。此情形即使是X電極之端部亦相同。
因此，為發現X電極與Y電極之另一方之端部之斷線不良，設想使探針直接接觸X電極與Y電極之另一方之端部來進行檢測之方法，但在製造線步驟內，有產生新的不良之虞。
另，圖6係用於說明本發明之前提之靜電電容方式之觸控面板1、2之問題點之圖。
[實施例1]
圖7係用於說明本發明之實施例1之靜電電容方式之觸控面板之電極形狀之圖。另，該圖7係僅圖示X1與X2之X電極、跟Y6與Y5之Y電極之交叉部份。
圖8係顯示沿圖7之VIII-VIII線之剖面構造之主要部分剖面圖。
本實施例之特徵係在於其設置有：導電層16，其係用於使複數之X電極(X1~X5)之另一方之端部(未連接於抽出配線之端部)交流地耦合；及導電層17，其係用於使複數之X電極(X1~X5)之另一方之端部交流地耦合。
即，如圖7所示，其特徵在於設置有：X電極(X1)之端部之焊墊部(X1-bE)；X電極(X2)之端部之焊墊部(X2-bE)；在有效觸控區域外之區域重疊之導電層16；Y電極(Y5)之端部之焊墊部(Y5-bE)；Y電極(Y6)之另一方之焊墊部(Y6-bE)；及在有效觸控區域外之區域重疊之導電層17。
如圖8所示，本實施例之觸控面板之構造係與使用圖4、圖5說明過之觸控面板2為相同之構成，導電層(16，17)係形成於絕緣膜12上。雖然導電層(16，17)係以金屬層、或ITO形成，但利用與Y電極之細線部(2a)相同之材料來形成，可在與Y電極之細線部(2a)相同之步驟中製成。
本實施例中，藉由自Y6之Y電極輸入交流訊號，且經由以Y電極(Y5)端部之焊墊部(Y5-bE)與導電層17所形成之耦合電容、及以Y電極(Y6)之另一端之焊墊部(Y6-bE)與導電層17所形成之耦合電容，自Y5之Y電極檢出該交流訊號，從而可檢出Y電極(Y5)之端部之斷線、Y電極(Y6)之端部之 斷線、及Y電極(Y5)之端部與Y電極(Y6)之端部之間之短路。
同樣地，藉由自X1之X電極輸入交流訊號，且經由以X電極(X1)端部之焊墊部(X1-bE)與導電層16所形成之耦合電容、與以X電極(X2)之另一端之焊墊部(X2-bE)與導電層16所形成之耦合電容，自X2之X電極檢出該交流訊號，從而可檢測X電極(X1)之端部之斷線、X電極(X2)之端部之斷線、及X電極(X1)之端部與X電極(X2)之端部之間之短路。
另，本實施例之觸控面板中，在通常之觸控位置檢測期間，自Y電極按序輸入驅動電壓，並基於在各X電極(X1~X5)所檢出之訊號，來檢出觸控面板之觸控位置。因此，即使在檢出觸控位置之期間內，自Y電極輸入之驅動電壓，亦經由以Y電極之端部之焊墊部與導電層17所構成之耦合電容，輸入至輸入驅動電壓之Y電極以外之Y電極，並輸出至各X電極(X1~X5)。其結果，料想有錯誤識別觸控面板之觸控位置之虞。
因此，以上述Y電極之端部之焊墊部與導電層17所形成之耦合電容、及以X電極之端部之焊墊部與導電層16所形成之耦合電容，在通常之觸控位置檢測期間中，係必須為不造成觸控位置檢測誤動作之值。
[實施例2]
圖9係用於說明本發明之實施例2之靜電電容方式觸控面板之主要部分剖面圖；圖9係顯示沿與圖8相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
如圖9所示，本實施例之觸控面板之構造係與使用圖2、圖3說明過之觸控面板2為相同之構成，本實施例中，導電層17係形成於基板11上。另，上述導電層16亦形成於基板11上。
雖然導電層(16，17)係以金屬層或ITO形成，但利用與Y電極之細線部(2a)相同之材料來形成，可在與Y電極之細線部(2a)相同之步驟中製成。
又，本實施例中，如圖9所示，導電層17並非與所有Y電極之端部之焊墊部重疊，其係以每2個鄰接之Y電極，重疊於鄰接之2個Y電極之端部之方式，複數地設置。
例如，導電層17係以重疊於Y電極(Y5)之端部之焊墊部、Y電極(Y6)之另一方之焊墊部、Y電極(Y3)之端部之焊墊部、Y電極(Y4)之另一方之焊墊部、及有效觸控區域外之區域之方式，複數(圖9中為2個)地設置。
另，雖然省略了圖示，但X電極側之導電層16亦未與所有X電極之端部之焊墊部重疊，而係以每2個鄰接之X電極，重疊於鄰接之2個X電極之端部之方式，複數地設置。
此外，本實施例中，X電極側之導電層16及Y電極側之導電層17，係不限定於每2個鄰接之X電極，亦可以每2個以上之X電極才設置之方式來實施。本實施例亦可取得與上述實施例1相同之作用與效果。
[實施例3]
圖10係用於說明本發明之實施例3之靜電電容方式之觸控面板之主要部分剖面圖，圖10係顯示沿與圖8相同之切 斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
如圖10所示，本實施例之觸控面板係在如圖8所示之構造中，將導電層17電性連接於Y5之Y電極者。
本實施例中，藉由自Y6之Y電極輸入交流訊號，且經由以Y電極(Y6)端部之焊墊部(Y6-bE)與導電層17所形成之耦合電容，自Y5之Y電極檢出該交流訊號，從而可檢出Y電極(Y5)之端部之斷線、Y電極(Y6)之端部之斷線、及Y電極(Y5)之端部與Y電極(Y6)之端部之間之短路。
另，雖然省略了圖示，但X電極側之導電層16亦與圖10相同，與任意之X電極電性連接。
本實施例亦可取得與上述實施例1相同之作用與效果。
[實施例4]
圖11係用於說明本發明之實施例4之靜電電容方式之觸控面板之主要部分剖面圖，圖11係顯示沿與圖8相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
如圖11所示，本實施例之觸控面板係在如圖9所示之構造中，將2個導電層17分別電性連接於Y3之Y電極與Y5之Y電極者。
另，雖然省略了圖示，但X電極側之複數之導電層16亦與圖11相同，與任意之X電極電性連接。本實施例亦可取得與上述實施例1相同之作用與效果。
[實施例5]
圖12係用於說明本發明之實施例5之靜電電容方式之觸控面板之主要部分剖面圖，圖12係顯示沿與圖8相同之切 斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
如圖12所示，本實施例之觸控面板係在如圖8所示之構造中，將導電層17形成於基板11之背側，並以每2個鄰接之Y電極重疊於鄰接之2個Y電極之端部之方式，複數地設置。
另，雖然省略了圖示，但X電極側之複數之導電層16亦與圖12相同，形成於基板11之背側，且以每2個鄰接之X電極重疊於鄰接之2個X電極之端部之方式，複數地設置。本實施例亦可取得與上述實施例1相同之作用與效果。
另，在上述實施例1至實施例5中，根據上述動作原理，X電極側之導電層16與X電極端部之焊墊部、及Y電極側之導電層17與Y電極端部之焊墊部，係未必有在有效觸控區域外之區域重疊之必要。
[實施例6]
圖13係用於說明本發明之實施例6之靜電電容方式之觸控面板之電極形狀之圖，另，該圖13係僅圖示X1與X2之X電極、跟Y6與Y5之Y電極之交叉部分。
如圖13所示，本實施例之觸控面板係延長X2之X電極之端部之焊墊部(X2-bE)來形成延長圖案部19，且在該延長圖案部19與X1之X電極之端部之焊墊部(X1-bE)之間形成耦合電容，使X2之X電極之端部之焊墊部(X2-bE)與X1之X電極之端部之焊墊部(X1-bE)交流地耦合者。
同樣地，延長Y6之Y電極之端部之焊墊部(Y6-bE)來形成延長圖案部20，且在該延長圖案部20與Y5之Y電極之端 部之焊墊部(Y5-bE)之間形成耦合電容，使Y6之Y電極之端部之焊墊部(Y6-bE)與Y5之Y電極之端部之焊墊部(Y5-bE)交流地耦合。
圖14係用於說明本發明之實施例6之靜電電容方式之觸控面板之變形例之電極形狀之圖。另，該圖14係僅圖示X1與X2之X電極、跟Y6與Y5之Y電極之交叉部分。
圖14所示之觸控面板，係延長X1之X電極之端部之焊墊部(X1-bE)來形成延長圖案部19b，並延長X2之X電極之端部之焊墊部(X2-bE)來形成延長圖案部19a，且在該延長圖案部19a與X1之X電極之端部之焊墊部(X1-bE)之間、延長圖案部19b與X2之X電極之端部之焊墊部(X2-bE)之間、及延長圖案部19a與延長圖案部19b之間形成耦合電容，使X2之X電極之端部之焊墊部(X2-bE)與X1之X電極之端部之焊墊部(X1-bE)交流地耦合者。
同樣地，係延長Y5之Y電極之端部之焊墊部(Y5-bE)來形成延長圖案部20b，並延長Y6之Y電極之端部之焊墊部(Y6-bE)來形成延長圖案部20a，且在該延長圖案部20a與Y5之Y電極之端部之焊墊部(Y5-bE)之間、延長圖案部20b與Y6之Y電極之端部之焊墊部(Y6-bE)之間、及延長圖案部20a與延長圖案部20b之間形成耦合電容，使Y6之Y電極之端部之焊墊部(Y6-bE)與Y5之Y電極之端部之焊墊部(Y5-bE)交流地耦合者。
圖15係用於說明本發明之實施例6之靜電電容方式之觸控面板之變形例之電極形狀之圖。另，該圖15係僅顯示X1 與X2之X電極、跟Y6與Y5之Y電極之交叉部分。
圖15所示之觸控面板係以從X2之X電極之端部之焊墊部(X2-bE)突出之方式，形成延長圖案部21，且在該延長圖案部21與X1之X電極之端部之焊墊部(X1-bE)之間形成耦合電容，使X2之X電極之端部之焊墊部(X2-bE)與X1之X電極之端部之焊墊部(X1-bE)交流地耦合。
同樣地，以從Y6之Y電極之端部之焊墊部(Y6-bE)突出之方式，形成延長圖案部22，且在該延長圖案部22與Y5之Y電極之端部之焊墊部(Y5-bE)之間形成耦合電容，使Y6之Y電極之端部之焊墊部(Y6-bE)與Y5之Y電極之端部之焊墊部(Y5-bE)交流地耦合。
本實施例亦可取得與上述實施例1相同之作用與效果。
以上，雖然已對本發明者所完成之發明，基於上述實施例具體地說明，但本發明係並不限定於上述實施例，在未脫離其要旨之範圍內，當然可進行各種變更。
1‧‧‧觸控面板
1a‧‧‧細線部
1b‧‧‧焊墊部
2‧‧‧觸控面板
2a‧‧‧細線部
2b‧‧‧焊墊部
11‧‧‧基板
12‧‧‧絕緣膜
12a‧‧‧接觸孔
13‧‧‧保護膜
16‧‧‧導電層
17‧‧‧導電層
19‧‧‧延長圖案部
19a‧‧‧延長圖案部
19b‧‧‧延長圖案部
20‧‧‧延長圖案部
20a‧‧‧延長圖案部
20b‧‧‧延長圖案部
21‧‧‧延長圖案部
22‧‧‧延長圖案部
ART‧‧‧有效觸控區域
DSE‧‧‧斷線部
LX1‧‧‧抽出配線
LX2‧‧‧抽出配線
LX3‧‧‧抽出配線
LX4‧‧‧抽出配線
LX5‧‧‧抽出配線
LY1‧‧‧抽出配線
LY2‧‧‧抽出配線
LY3‧‧‧抽出配線
LY4‧‧‧抽出配線
LY5‧‧‧抽出配線
LY6‧‧‧抽出配線
TX1‧‧‧端子
TX2‧‧‧端子
TX3‧‧‧端子
TX4‧‧‧端子
TX5‧‧‧端子
TY1‧‧‧端子
TY2‧‧‧端子
TY3‧‧‧端子
TY4‧‧‧端子
TY5‧‧‧端子
TY6‧‧‧端子
X1‧‧‧X電極
X1-bE‧‧‧焊墊部
X2‧‧‧X電極
X2-bE‧‧‧焊墊部
X3‧‧‧X電極
X4‧‧‧X電極
X5‧‧‧X電極
Y1‧‧‧Y電極
Y2‧‧‧Y電極
Y3‧‧‧Y電極
Y4‧‧‧Y電極
Y5‧‧‧Y電極
Y5-bE‧‧‧焊墊部
Y6‧‧‧Y電極
Y6-bE‧‧‧焊墊部
圖1係用於說明本發明之前提之靜電電容方式之觸控面板之電極形狀之圖。
圖2係用於說明本發明之前提之靜電電容方式之觸控面板1之構造之主要部分剖面圖，且係顯示沿圖1之II-II線之剖面構造之主要部分剖面圖。
圖3係用於說明本發明之前提之靜電電容方式之觸控面板1之構造之主要部分剖面圖，且係顯示沿圖1之III-III線之剖面構造之主要部分剖面圖。
圖4係用於說明本發明之前提之靜電電容方式觸控面板2之構造之主要部分剖面圖，且係顯示沿與圖2相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
圖5係用於說明本發明之前提之靜電電容方式觸控面板2之構造之主要部分剖面圖，且係顯示沿與圖3相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
圖6係用於說明本發明之前提之靜電電容方式之觸控面板1、2之問題點之圖。
圖7係用於說明本發明之實施例1之靜電電容方式之觸控面板之電極形狀之圖。
圖8係顯示沿圖7之VIII-VIII線之剖面構造之主要部分剖面圖。
圖9係用於說明本發明之實施例2之靜電電容方式觸控面板之主要部分剖面圖，且係顯示沿與圖8相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
圖10係用於說明本發明之實施例3之靜電電容方式之觸控面板之主要部分剖面圖，且係顯示沿與圖8相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
圖11係用於說明本發明之實施例4之靜電電容方式之觸控面板之主要部分剖面圖，且係顯示沿與圖8相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
圖12係用於說明本發明之實施例5之靜電電容方式之觸控面板之主要部分剖面圖，且係顯示沿與圖8相同之切斷線之剖面構造之主要部分剖面圖。
圖13係用於說明本發明之實施例6之靜電電容方式之觸控面板之電極形狀之圖。
圖14係用於說明本發明之實施例6之靜電電容方式之觸控面板之變形例之電極形狀之圖。
圖15係用於本發明之實施例6之靜電電容方式之觸控面板之變形例之電極形狀之圖。
1a‧‧‧細線部
1b‧‧‧焊墊部
2a‧‧‧細線部
2b‧‧‧焊墊部
16‧‧‧導電層
17‧‧‧導電層
X1‧‧‧X電極
X1-bE‧‧‧焊墊部
X2‧‧‧X電極
X2-bE‧‧‧焊墊部
Y5‧‧‧Y電極
Y5-bE‧‧‧焊墊部
Y6‧‧‧Y電極
Y6-bE‧‧‧焊墊部

Claims (11)

  1. 一種靜電電容方式之觸控面板，其特徵在於包含：基板；複數之X電極，其係在上述基板上向第2方向延伸存在，且併設於與上述第2方向交叉之第1方向上；複數之Y電極，其係在上述基板上與上述各X電極交叉並向上述第1方向延伸存在，且併設於上述第2方向上；及抽出配線，其連接於上述複數之Y電極之一方之端部；且上述各抽出配線係連接於形成在上述基板之一邊的與各抽出配線對應之端子；將上述複數之Y電極中鄰接之2根Y電極作為第1Y電極與第2Y電極時，具有使上述第1Y電極之另一方之端部、與上述第2Y電極之另一方之端部交流地耦合之耦合電容。
  2. 如請求項1之靜電電容方式之觸控面板，其中包含導電層，該導電層係隔著絕緣膜，形成於與上述第1Y電極之另一方之端部及上述第2Y電極之另一方之端部不同之層；且上述耦合電容係於上述第1Y電極之另一方之端部與上述導電層之間、及上述第2Y電極之另一方之端部與上述導電層之間所形成之電容。
  3. 如請求項1之靜電電容方式之觸控面板，其中包含導電 層，該導電層係隔著絕緣膜，形成於與上述第1Y電極之另一方之端部及上述第2Y電極之另一方之端部不同之層；且上述導電層係與上述第1Y電極之另一方之端部連接；上述耦合電容係於上述第2Y電極之另一方之端部與上述導電層之間所形成之電容。
  4. 如請求項2或3之靜電電容方式之觸控面板，其中在平面觀察之情形，上述第1Y電極之另一方之端部、及上述第2Y電極之另一方之端部，係在有效觸控區域以外之區域與上述導電層重疊。
  5. 如請求項1之靜電電容方式之觸控面板，其中在與形成上述第1Y電極及上述第2Y電極之面相同之面上，具有延長上述第1Y電極之另一方之端部而形成之延長圖案部；且上述耦合電容係包含於上述第2Y電極之另一方之端部與上述延長圖案部之間所形成之電容。
  6. 一種靜電電容方式之觸控面板，其特徵在於包含：基板；複數之X電極，其係在上述基板上向第2方向延伸存在，且併設於與上述第2方向交叉之第1方向上；複數之Y電極，其係在上述基板上與上述各X電極交叉並向上述第1方向延伸存在，且併設於上述第2方向；及抽出配線，其連接於上述複數之X電極之一方之端部；且上述各抽出配線係連接於形成在上述基板之一邊的與 各抽出配線對應之端子；將上述複數之X電極中鄰接之2根X電極作為第1X電極與第2X電極時，具有使上述第1X電極之另一方之端部、與上述第2X電極之另一方之端部交流地耦合之耦合電容。
  7. 如請求項6之靜電電容方式之觸控面板，其中包含導電層，該導電層係隔著絕緣膜，形成於與上述第1X電極之另一方之端部及上述第2X電極之另一方之端部不同之層；且上述耦合電容係於上述第1X電極之另一方之端部與上述導電層之間、及上述第2X電極之另一方之端部與上述導電層之間所形成之電容。
  8. 如請求項6之靜電電容方式之觸控面板，其中包含導電層，該導電層係隔著絕緣膜，形成於與上述第1X電極之另一方之端部及上述第2X電極之另一方之端部不同之層；且上述導電層係與上述第1X電極之另一方之端部連接；上述耦合電容係於上述第2X電極之另一方之端部與上述導電層之間所形成之電容。
  9. 如請求項7或8之靜電電容方式之觸控面板，其中在平面觀察之情形，上述第1X電極之另一方之端部、及上述第2X電極之另一方之端部，係在有效觸控區域以外之區域與上述導電層重疊。
  10. 如請求項6之靜電電容方式之觸控面板，其中在與形成 上述第1X電極及上述第2X電極之面相同之面上，具有延長上述第1X電極之另一方之端部而形成之延長圖案部；且上述耦合電容係包含於上述第2X電極之另一方之端部與上述延長圖案部之間所形成之電容。
  11. 一種顯示裝置，其特徵在於包含：顯示面板；及觸控面板，其係配置於上述顯示面板之觀察者側；且上述觸控面板係請求項1、2、3、5、6、7、8及10中任一項所記載之靜電電容方式之觸控面板。
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