TW201144196A - Module IC handler and loading method in module IC handler - Google Patents

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Description

201144196 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明涉及模組積體電路(Module 1C )等,具體地講 涉及用於檢測模組1(3是否裝載到載體(carrier)的技術。 【先前技術】 模組積體電路(Module 1C,或者又稱爲「模組隨機存取 器(Module RAM)」)是將多個積體電路(IC)和其他元 件固定到在電路板的一面或兩面而構成的獨立的電路,是電 腦裝置的運行所必需的重要部件並且價格高昂。 因此,在產品製造之後並在出廠之前,必需執行嚴格的 性能測試。 爲了這種模組1C的測試,除測試器之外,還需要將模組 1C與測試器電性連接的模組Ic分選機(handier)。 模組1〇分選機執行如下的操作,即,通過拾取(pickup) 裝置將模組1C裝載到位於上載位置處的載體,通過移送裝 置將裝載有模組IC的載體移送到測試搶(_心⑽…來 對裝载到載體的模組IC進行測試,並通過另一移送裝置將 裝载有完成測試的模組1°的載體料到分類(sorting)位置 之後,將模組IC從載體㈣的同時根據測試結果進行分類, 而卸載了模組1C的空恭辦p 妁二載體通過另一移送裝置從分類位 移送到上載位置·。
然而,如果载體以在分類位置處沒有完全清空模組IC 201144196 的狀態被移送到上载位置, 另外,如要# 、 ^裝載操作產生不良影響。 另外如果其他因素對裝載拯#ώ ^ θ§ „ 哀戟刼作産生不良影響,則產生 每種問碭’即’在裝载位 狀態被移送到測試搶。另外一載體〜有裝滿模組IC的 . 飞聡另外,韓國授權專利3554之2號(發 明名稱.半導體裝置實驗驻罢、』_ 裝置)揭示具有能夠感測測試盤 (test tray )是否裝載了本 丰導體70件的1C檢測感測器的技術 (以下,稱作「現有技術」 根據現有技術,1C檢測感測器佈置於安裝位置與卸載位 置之間1包括位於上側的光源和位於下側的收光器。因 此現有技術形成爲,在知载位置處清空半導體元件的測試 盤向安裝位置移送的程序中根據收光^否感測到光,來確 認測試盤是否裝載有半導體元件。 但是,難以將所述現有技術直接應用於模組1C分選機。 原因在於’對於支援半導體元件的測試的測試分選機, 由圖la可知,裝載到測試盤的半導體元件D具有較寬的水 平面積,所以可通過在上下側形成光源〇和收光器I來進行 較準確的檢測。然而,對於支援模組1C的測試的模組1C分 選機,由圖1 b可知’模組ic Μ以垂直的狀態立起的同時被 裝載到載體’所以小的水平面積導致難以通過現有技術進行 準確的檢測。 此外,現有技術是關於在測試盤從卸載位置移送到上載 位置的途中檢測測試盤是否完全清空了半導體元件的技 術,所以在上載位置處難以檢測測試盤是否裝滿了半導體元 201144196 此外,通過參照圖2a可知,對於模組IC M,偏向—側 形成有用於將電性連接端子恰當地連接到被連接對像並辨 識連接端子的正確方向的方向槽DS。因此,當模組ic Μ以 如圖2b所示的狀態裝載到載體時,必然會引起測試不良。 因此,對於模組1C分選機,也需要在安裝操作程序中自 動地確認模組1C是否從載體完全清空,進一步地,需要確 認模組1C是否裝載到載體或者模組IC是否以正確的方向裝 載到載體’但是由於上述的原因,難以將現有技術應用於模 組1C分選機。 【發明内容】 本發明的第一目的在於提供在模組1C分選機中也能夠 確認模組1C是否裝載到載體的技術。 另外本發明的第二目的在於提供能夠確認模組IC是否 以正確的方向裝載到載體的技術。 爲了達到上述的目的,根據本發明,一種模組積體電路 刀選機括.載體,用以裝載及搬運模組積體電路;操作裝 置操作所述載體,以能夠在所述載體上裝載模組積體電 路;及’裝載檢測裝置,用於檢測所述載體上是否裝載有模 ’且積體電路’其中所述裝載檢測裝置搭載於所述操作裝置。 爲了檢測裝載到所述載體的模組積體電路,優選地還可 包括搭載到所述操作裝置的方向檢測裝置。 此外,爲了達到上述目的,根據本發明,一種模組積體 201144196 電路分選機包括··載體,用以裝載及搬運模組積體電路;操 作裝置,操作所述载體,以能夠在所述载體上裝载模組積體 電路’·及,方向檢測裝置,用於檢測裝載到所述載體的模組 積體電路的方向,其中所述方向檢測裝置搭載於所述操作裝 置。 所述方向檢測裝置包括固定於所述操作裝置的固定部件 和結合到所述固定部件的方向檢測器。所述固定部件具有凸 出於裝載到所述載體的模組積體電路之間的凸出部分。所述 凸出部分具有通過槽,所述通過槽位於與形成於正確的裝載 到所述載體的模組積體電路的方向槽處於同一直線的位 置。所述方向檢測n包括結合於所述固定部件的—側面並發 出通過所述方向槽和所述通過槽的光的發光元件和結合於 所述固;t部件的另-側,並用於辨識來自所述發光元件的光 的辨識元件。 此外,爲了達到上述目的,根據本發明,一種模組積體 電路分選機的上載方法自社.a 戟万沄匕括·§載體移動到上載位置時,使
用知作裝置對在載體纟隹pI 進订刼作,以將模組積體電路裝載到載 體的操作步驟;將模组穑俨番 …且積體電路裝載到載體的裝載步驟;當 在載體上裝滿模組積體電路_ . 路時在載體被操作爲在載體上能 夠裝載模組積體電路的北能π 〜下’檢測是否裝載有模組積體電 路的上載檢測步驟;冬給 *檢測到在載體上裝滿模組積體電路 時’解除載體的操作狀態的解除步驟。 在斤述細作步驟與裝載步驟之間,優選地還可包括:在 麵作爲在載體上能夠裝載模組積體電路的狀態下,檢測載體 201144196 是否清空模組積體電路的卸載檢測步驟。 在所述解除步驟之後,優選地還可包括檢測裝載到載體 的模組積體電路的裝載方向的方向檢測步驟。 根據如上的本發明,在操作載體,以能夠在載體上裝載 模組ic裝的操作裝置上搭載裝載檢測裝置及/或方向檢測裝 置,具有如下的效果。 首先,在模組1C分選機也可以正確地確認載體是否完全 清空模組1C。 其次’還可確認載體是否裝滿模組1C。 最後,可確認模組1C是否以正確的方向裝載到載體。 【實施方式】 以下,將參照附圖說明如上的根據本發明的優選實施 例’爲了說明的簡潔,盡可能地省略或壓縮重複的說明。 〈對於載體的示你丨> 圖3是根據本發明實施例的載體3〇〇的立體圖,圖4是 圖3的載體300的局部分解立體圖。 由圖3和圖4的參照可知,載體3〇〇形成爲包括框架 310、一對結合台 32 卜 322、2x16 個插頭 331a 至 33 lp、332a 至332p、2x16個彈簧341a至341p、342a至342p和一對防 止脫離桿351、352等。 框架310是四角框架形狀,直接或間接地支撐所述一對 201144196 結合桿321、322、所述2x16個插頭331a至331p、332a至 332p、所述2x16個彈簧341a至341p、342a至342p和所述 一對防止脫離桿351、352 一對結合桿321、322固定於框架310,並沿相互面對的 方向(以下,稱作「内側方向」)對稱地佈置。這種一對結 合桿321、322中的每一個形成有能夠插入插頭331a至 33 lp、3 32a至332p的朝内側方向開口的16個插頭插入槽IG。 2x 1 6個插頭33 1 a至33 1 p、332a至332p沿與内側方向 相反的方向(以下,稱作「外側方向」)能夠移動預定間隔 地分別設置到一對結合桿3 2 1、3 2 2,其中16個插頭設置到 一側的結合桿32 1,剩餘1 6個設置到另一側的結合桿322。 這種插頭33la至33lp、332a至33邙是爲了夹持模組1C而 設置的,由圖5的參照圖可知,相互面對的一對插頭33 la、 3 32a將夾持一個模組IC M的兩端。而且,插頭331a至331p、 332a至33 2p中的每一個在其底面具有用於引導插頭3313至 33 1p、332a至332p的位置的引導槽gg。 2x16個彈簧34U至341p、342a至342p中的每一個佈 置爲彈性支撐結合桿321、322與插頭331a至331p、33 2a 至332p之間,並設置爲用於向插頭331&至33ip、332&至 332p施加内側方向的彈性力的彈性部件。 一對防止脫離桿35丨、352分別固定設置於一對結合桿 32卜3 22’並用於防止插頭331a至331卩、332&至朝上 方向脫離。 201144196 作裝詈的示办丨> 如上所述,爲了在載體上裝載模組IC,通過對插頭 MU至331口、3323至332p施加額外的外力來增加相互面對 的成對的插頭331以仏至331p_332p之間的間距並爲了 執行這種功能而設置如Η 6所示料門的操作裝置6〇〇。 如圖6所示,操作裝置6〇〇形成爲包括操作板61〇和升 降源620。 操作板610可以進行升降,並在其上面具有厶16個引導 棒 GBla 至 GBlp、GB2a 至 GB2p。2χ16 個引導棒 至 〇Β1ρ、(^2&至GB2p通過分別插入到形成於載體3〇〇的& 16個插頭331&至3311)、3323至3321)的底面的引導槽gg, 來執行作爲向2x16個插頭3313至331ρ、332&至332ρ施加 朝外側方向的外力的主體的功能。 由圖7的參照圖可知,當從平面看時,相比於插頭33u 至331p、3 32a至332p的引導槽GG的中心Cb,引導棒GBla 至GBlp、GB2a至GB2p的中心(Ca)向外偏離一定距離s。 此外,引導棒GBla至GBlp、GB2a至GB2p具有沿下方向 外徑逐漸變大的形狀。因此,如圖8的參照圖一樣,當操作 板610上升時’從引導棒GBla至GBlp、GB2a至GB2p的 較尖的端部插入到引導槽GG的邊緣部分開始,向插頭33 la 至331p、332a至332p施加朝外側方向的力。 升降源620執行作爲使操作板61〇升降移動的移動源的 作用。 在此’升降源620被構造爲,當使操作板6 1 〇下降時通 201144196 過兩個階段逐次地下降捱 卜降刼作板61〇。這種升降源62〇可由電 機或多個汽缸構成。 以下描述在具有上述結構的載體300和操作裝置6〇〇 中,操作裝置600操作载體3〇〇以將模組IC裝載到載體3〇〇 或者解除載體300的操作的動作。 當升降源620運行,使得操作板610上升時,操作板61〇 的引導棒GBia至GBlp、GB2a至GB2p插入到引導槽⑽, 並且插頭331&至3311)、3323至332p被推向外側方向;當達 到操作裝置600的操作結束的狀態時,插頭331&至μ。、 33 2a至332p變成最大限度地被推向外側的狀態,從而可在 载體300上裝載模組ic。 此外,當通過拾取裝置(未示出)在載體3〇〇上裝載全 部16個模組1C時,升降源620運行,使得操作板61〇稍微 下降一階段,據此,插頭331a至331p、332&至gup通過彈 簧341a至341p、342a至342p的作用而朝内側方向移動的同 時對裝載的模組1C的兩端進行彈性施壓,從而堅固地固定 模組1C,然後,升降源620運行,使得操作板610完全下降。 <對於裝載及方向檢測裝1的示你丨> 參照圖9可知,裝載及方向檢測裝置900形成爲包括固 定部件910、16個裝載檢測器920a至920p和方向檢測器930。 參照圖1 〇可知,固定部件9 1 0設置爲固定地搭载到操作 裝置600的操作板61 0 ’更爲詳細地講,位於以每列16個佈 置爲2列的引導棒GBla至GBlp、GB2a至GB2p的列與列 10 201144196 之間。這種固定部件9 1 0具有凸出於裝載到載體300的模組 IC Μ之間的凸出部分ρρ。此外,凸出部分ρρ具有以一列整 齊地位於與形成於模組IC Μ的方向槽DS相同的直線上的位 置的多個通過槽PS。 在此,如果後述的方向檢測器930的發光元件93 1和辨 識元件932的直進性能好,則無需製造凸出部分ρρ和凸出 部分ΡΡ的通過槽pS。但是’直進性好的檢測器的價格高, 而價格低的檢測器具有發散的性質,因此爲了在使用低價的 檢測器時阻擋發光元件的發散的部分,應具有凸出部分ρρ 以進行更準確的檢測。 16個裝載檢測器920a至920Ρ結合到凸出部分ρρ,並 具有成對的發光元件921和辨識元件922。 可選地,根據實際實施方案,代替所述16個裝載檢測器 結合到凸出部分ΡΡ,可將16個裝載檢測器92〇a至92卟與 凸出部分PP無關地直接固定設置到操作板。 發光元件921和辨識元件922中間隔著模組Ic M而在 兩側分別結合到凸出部分p p,其中所述模組j c %的下端部 插入到形成於凸出部分ΡΡ之間的的凹陷的檢測槽ss。^ 此,設置於一側的發光元件921發射光,設置於另一側的辨 識兀件922辨識來自發光元件921的光。因此,當從發光元 件921發射的光被辨識元件922辨識時,檢測爲不存在模組 IC Μ ;當從發光元件921發射的光沒有被辨識元件922辨識 時’檢測爲存在模組IC Μ。 方向檢測器930也具有成對的發光元件% i和辨識元件 201144196 93 1結合到固定部件910的一側端,辨識元 932,發光元件 件9 3 2結合到固定畔社〇 , Λ J u疋4件910的另一側端。發光元件931發射 通過方向槽DS和诵讲诚ΏΟ m過槽Ps的光,辨識元件932辨識由發光 元件931發射的杏。m 的九因此’當下端部插入到檢測槽SS的16 片模i IC Μ #方向正確地—致時,從發光元件93 i發射的 光就會被辨識元件932辨識;當在16片模組icm中,即使 有片以上的模組ZC Μ位於錯誤的方向時,從發光元件93 i 發射的光將無法被辨識元件932所辨識。 繼續地,參照圖U的流程圖來描述具有上述的結構部件 的包括載體则、操作裝置_、裝載及方向檢測裝置9〇〇 的模組1C分選機。 5對於安裝方法的示你丨> 1 .操作 <S111> δ空的載體300被移送到安裝位置時,參照圖丨2可知, 通過操作裝置600的運行來使操作板61〇上升並操作载體 3〇〇,使得載體300的相互面對的成對的插頭331&至33ρ、 332a至332ρ之間的間距加大,從而能夠將模組IC Μ裝載到 载體300。 2 .卸載檢測<S112> 在載體300通過步驟S1U被操作的狀態下,裝載檢測 器920a至920P運行並檢測是否在先前的却載作業程序中模 組IC Μ從位於當前安裝位置處的載體3〇〇全部被卸載,從 而使載體300完全清空模組IC Μ。 12 201144196 如果檢測到載體300沒有完全清空模組ic Μ,則模組ic 分選機產生中斷(JAM );如果檢測到載體3 00完全清空模 組IC Μ,則進行到下一階段。 3 ·裝載<S113> 對於清空模組IC Μ的載體300運行單獨的拾取裝置(未 示出),如圖13所示,從而裝載新的模組ic Μ。 4 .上載檢測<8114> 當拾取裝置完成作業時’在被操作爲模組IC Μ能夠裝 載載體300的狀態(即,操作板上升的狀態)下,裝載檢測 器920a至920ρ重新運行來檢測是否裝載了模組ic Μ。 如果16個裝載檢測器920a至920ρ中的任意一個沒有檢 測到模組IC Μ ’則産生中斷;如果16個裝載檢測器92〇a至 920p全部檢測到模組ic μ,則進行到下一階段。 5 ·解除 <S1 15> 备裝滿模組ICM時’如圖14所示,操作裝置6〇〇通過 運行以僅能夠解除載體300的操作狀態的程度將操作板61〇 下降一階段,從而解除載體3〇〇的操作狀態。如果將操作板 610完全下降,則無法通過結合到操作板61〇的方向檢測器 930來檢測模組IC M的裝載方向,所以僅以結合到操作板 61 〇的方向檢測器9 3 〇檢測到模組丨c M的裝載方向的程度下 降一階段。 又 6 .方向檢測<S 116> &在通過操作板610下降一階段來解除載體300的操作的 二 、L方向檢測器93〇的運行來檢測裝載到載體3 〇〇 13 201144196 的16個板組ICM的裝載方向是否正確。 如果方向檢測器930的辨識元件932沒有辨識出從發光 兀*件93 1發射的光,則產生中斷;如果方向檢測器93〇的辨 識元件932辨識出從發光元件931發射的光,則進行到下一 步驟。 當然,雖然還可以實現爲在解除載體3〇〇之前進行方向 檢測,但是如本實施例一樣,可㈣實現爲在解除載體· 的操作之後進行方向檢測。其原因在於,在解除載體之前, 模組IC g未處於正確排列並被固定於插頭的狀態,模組冗 的方向槽有可能不在同一直線上。 7 ·下降 <S1 17> 當模組IC Μ的裝載方向全部正確時,再次運行升降源 620從而完全下降操作板620。 ’、 另外’當實現爲在方向檢測之後解除載體的操作時q 進= 程中,可實現爲裝載檢測步驟和方向檢測步驟同. Μ 可實現爲方向檢測在裝載檢測之前進行。此外 根據設備結構、裝載拾 載檢心和方向檢測器的大 置’可充分地實現爲先解除 又置4 和方向檢測。先解除載體的㈣之後,進行裝載㈣ M 的私述將具有圖3的載體3GG盘圓6的择作 裝置_之間的關係的情 -圓6的細作 幻If况作爲不例進行了說明。 然而,可以理解,且右
分選機,能夠應用圖”、用了操作裝置的模組1C 用圖9的裝載及方向檢測裝置900,並且還 201144196 可應用與圖1 1的流程一樣的安裝方法,其中所述載體用於 以裝載模組IC Μ的狀態進行搬運,所述操作裝置能夠以在 相關載體上裝載模組IC的狀態對該相關載體進行操作。 因此’雖然參照附圖的實施例進行了本發明的具體說 明’然而’所述實施例僅對本發明的優選實施例進行的說 明’因此本發明不應理解爲局限於上述的實施例,請求項及 其等同概念來解釋本發明的權利範圍。 【圖式簡單說明】 圖la至圖2a是用於說明背景技術的參照圖。 圖3和圖4是應用於根據本發明實施例的模組IC分選機 的載體的立體圖和局部分解立體圖。 圓5是用於說明圖2的載體上裝載有模組IC的狀態的參 照圖。 圖6疋應用於根據本發明實施例的模組IC分選機的操作 裝置的立體圖 圖7和圖8是在說明圖6的操作裝置時所需參照的參照 圖。 圖9是應用於根據本發明實施例的模組IC分選機的裝栽 及方向檢測裝置的立體圖。 圖10是用於示出圖9的裝載及方向檢測裝置搭載到圖6 的操作裝置的參照圖。 圖11是根據本發明實施例的模組1C分選機中實現 15 201144196 載方法的流程圖。 圖1 2至圖1 4是在說明參照圖11的流程圖時所要參照的 參照圖。 【主要元件符號說明】 PP 凸出部分 PS 通過槽 100載體 600操作裝置 900裝載及方向檢測裝置 9 1 0固定部件 920裝載檢測器 930方向檢測器 931發光元件 932辨識元件 16

Claims (1)

  1. 201144196 七、申請專利範圍: 1% 一種模組積體電路分選機,其中包括: 載體’用以裝載及搬運模組積體電路; 操作裝i,操作所述載體,以能夠在所述載體 組積體電路;及 、戰模 裝載檢測裝置,用於檢測所述載體上是否裝載有模組積 體電路, 其中所述裝載檢測裝置搭載於所述操作裝置 2、如請求項1 載到所述操作裝置 體的模組積體電路 所述之模組積體電路分選機,還包括:搭 的方向檢測裝置,用於檢測裝載於所述載 的方向。 、一種模組積體電路分選機,其中包括: 載體’用以裝載及搬運模組積體電路; 操作裝置,操作所述載體,以能夠在所述載體上操作爲 在所述在上能夠裝載模組積體電路;及 方向檢測裝置’用於檢測裝載到所述載體的模組積體電 路的方向, 其中所述方向檢測裝置搭載於所述操作裝置。 4、如請求項3所述之模組積體電路分選機,其中 所述方向檢測裝置包括固定於所述操作裝置的固定部件 和結合到所述固定部件的方向檢測器, 所述固疋部件具有凸出於裝載到所述載體的模組積體電 路之間的凸出部分, 17 201144196 所述凸出部分具有通過槽,所述通過槽位於與形成於正 確的裝載到所述載體的模組積體電路的方向槽處於同一直 線的位置; 所述方向檢測器包括結合於所述固定部件的一側面並發 出通過所述方向槽和所述通過槽的光的發光元件和結合於 所述固定部件的另一側,並用於辨識來自所述發光元件的光 的辨識元件。 5、一種模組積體電路的上載方法,其中包括以下步驟: 當載體移動到上載位置時,使用操作裝置對在載體進行 刼作,以將模組積體電路裝載到載體的操作步驟; 將模組積體電路裝載到載體的裝載步驟; 在載體被操作爲在載 檢測是否裝載有模組 路時,解除載體的操 當在載體上裝滿模組積體電路時, 體上能夠裝载模組積體電路的狀態下, 積體電路的上載檢測步驟; 當檢測到在載體上裝滿模組積體電 作狀態的解除步驟。 如明求項5所述之模組積體電路的安裝 所述操作步驟與裝載步驟之其中< 在載體上於热壯# 心括以下步驟:在操作J b 載模組積體電路的狀態下,檢測載體β $ 空模組積體電路的卸載檢測步驟。 ]載體… 7、如請求項5所述之槿細接μ ‘ 以下步驟:在所述解除步驟 路的女裝方法’還包為 體電路的裝裁方向=檢測裝載到载體的模組賴 戟万向的方向檢測步驟。 18
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