201105579 六、發明說明： 【發明戶斤屬之技術領域1 技術領域 本發明與矽製造裝置及矽製造方法相關，特別是關於 在反應器或其内管形成矽析出區域之矽製造裝置及矽製造 方法。 L先前技術3 背景技術 西門子法作為一般的高純度矽製造方法而為人知曉， 其係以使粗製矽與氣化氫反應而得之三氣矽烷等矽烷化合 物作為原料，藉由化學汽相沉積法來製造矽。依照西門子 法雖可獲得極高純度的矽，但矽生成反應的速度極為緩 慢，而且產率低，因此為了獲得一定程度的製造能力除需 要大規模的設備外，製造所需之耗電量亦需要每高純度矽 lkg左右350kWh之高電力。亦即，以西門子法製造之高純 度矽雖然適用於需要純度llN(nine)以上之高附加價值的高 積體化電子元件，但作為今後市場急速擴大之太陽電池用 的石夕，則為南成本且品質過尚。 另一方面，以四氯化矽作為原料，在高溫藉由金屬鋅 將四氣化矽還原之辞還原法，雖然在1950年代已得到原理 上的實證，但難以獲得匹敵西門子法之高純度矽。然而， 近年來，狀況為以純度6N左右的矽即足夠作為太陽電池用 的矽，而不需要高積體化電子元件用之高純度者，而且， 為回應市場的急速擴大，鋅還原法作為設備小巧且消耗能 201105579 =小’以低成本獲得發之製造方法，再度被重新評估节 度被綺檢討。當然，以間子法製造的_ 料人規格外品可以挪用至太陽電池用途， :=!與=成本方面有-定的限度，可利用低成本 罐保之鋅還原法的開發為當務之急。 —在上述狀況下，有-種被提案之辞還原法之構造，係 體=面由鋅氣體導人°將辞氣體朝橫向供給，並由較鋅氣 入卩下方之四氣切氣體導人口將四氣化錢體朝橫 、、給’隨著由辞氣體導入口及四氯化錢體導入 向進展而產切(參考專利文獻工)。 κ 二’有-種被提案之辞還原法之構造，係使業經加熱 之四乳化魏體與鋅氣體接觸，使固體讀itj至四氣化石夕 氣體供給配管的嘴出口（參考專利文獻2)。 、 先行技術文獻 專利文獻 [專利文獻丨]特開2004-196642號公報 [專利文獻2]特開2007-145 663號公報 【發明内容】 [發明欲解決之課題] 然而，依據本發明人的檢討，專利文獻丨所提案之構造 雖然似乎可由鋅氣體導入口及四氣化石夕氣體導入α朝橫向 進展而產生矽，但並未揭示具體的構造，如何實用化並不 清楚。 又’由於專利文獻2所提案之構造僅將固體矽限定在四 4 201105579 氣化矽氣體供給配管的喷出口而析出’因此矽的產生區域 狹小’其產量本身有界限’難以實現維持低成本而確保矽 的製造量。 有鑑於此，本發明之目的在於提供—種矽製造裝置及 矽製造方法，前述矽製造裝置及矽製造方法係可利用低成 本而產率佳地產生多結晶矽，且巧速續並有效率地回收多 結晶矽，或為具有可實現該構造之擴充性者。 [用以解決課題之手段] 為了達成上述目的，本發明第1佈局之矽製造裝置包 含：反應器，係直立地設於垂直方向者；四氯化矽氣體供 給管，係聯繫至前述反應器而具有四氣化矽氣體供給口， 並由前述四氣化矽氣體供給口將四氯化矽氣體供給至前述 反應器内者；鋅氣體供給管，係聯繫至前述反應器而具有 鋅氣體供給口，並由前述鋅氣體供給口將鋅氣體供給至前 述反應器内者；及加熱器，係加熱前述反應器者；前述鋅 氣體供給口在前述垂直方向較前述四氣化矽氣體供給口位 於上方，前述矽製造裝置以前述加熱器將前述反應器的一 部分溫度設定為矽的析出溫度範圍，由前述四氣化矽氣體 供給口將四氣化矽氣體供給至前述反應器内，並由前述辞 氣體供給口將鋅氣體供給至前述反應器内，在前述反應器 内以鋅將四氣化矽還原’且於前述反應器内，在與設定為 前述石夕的析出溫度範圍之區域相對應的壁部，形成供石夕析 出之矽析出區域。 又，本發明第2佈局如前述第1佈局，且前述矽析出區 201105579 域係與設定為前述矽的析出溫度範圍之區域相對應的前述 反應器之内壁面。 又，本發明第3佈局如前述第1佈局，且具有可裝卸自 如地插入前述反應器的内側之内管，前述矽析出區域係與 設定為前述矽的析出溫度範圍之區域相對應的前述反應器 内之前述内管之内壁面。 又，本發明第4佈局如前述第3佈局，且前述四氣化矽 氣體供給口及前述鋅氣體供給口在前述垂直方向較前述内 管的上端位於下方。 又，本發明第5佈局如前述第1至第4佈局中的任一者， 且包含聯繫至前述反應器而具有衝擊氣體供給口，並由前 述衝擊氣體供·給口將衝擊氣體供給至前述反應器内之衝擊 氣體供給管；前述矽製造裝置可由前述衝擊氣體供給口將 衝擊氣體供給至前述反應器内，以令析出於前述矽析出區 域之矽剝離。 又，本發明第6佈局如前述第5佈局，且前述衝擊氣體 供給口在前述垂直方向較前述四氣化矽氣體供給口位於下 方。 又，本發明第7佈局如前述第5或第6佈局，且包含矽回 收槽，該矽回收槽係聯繫至前述反應器在前述垂直方向的 下方；由前述矽析出區域剝離之矽係被回收至前述矽回收 槽。 又，本發明第8佈局如前述第7佈局，且包含在前述反 應器與前述矽回收槽之間可自由阻斷前述反應器的内部與 201105579 外部之閥；由前述矽析出區域剝離之矽係堆積至前述問上 之後’藉由開啟前述閥而被回收至前述矽回收槽。 又’本發明第9佈局如前述第1至第8佈局中的任—者， 且前述加熱器具有：將前述反應器在前述垂直方向上由前 述四氣化石夕氣體供給口起上方的區域加熱至超過前述石夕的 析出溫度範圍之溫度之加熱部、及將前述反應器之在前述 垂直方向較前述四氯化矽氣體供給口下方的區域加熱至前 述石夕的析出溫度範圍之溫度之加熱部。 又’本發明第10佈局如前述第1至第9佈局中的彳壬_ 者’且包含與前述四氣化矽氣體供給管同軸地聯繫至前述 反應器而具有惰性氣體供給口，並由前述惰性氣體供給口 將惰性氣體供給至前述反應器内之惰性氣體供給管；前述 惰性氣體供給口在前述垂直方向較前述四氣化矽氣體供給 口位於上方。 又，本發明第11佈局如前述第1至第10佈局中的任一 者，且前述鋅氣體供給管係由前述反應器之縱壁及上蓋之 至少其中一者聯繫至前述反應器。 又，本發明第12佈局如前述第1至第1〇佈局中的任一 者，且前述反應器為圓筒狀，前述鋅氣體供給管係透過前 述反應器之上蓋而與前述反應器之内部聯繫，與在前述垂 直方向之前述反應器之中心軸同軸地延伸存在。 又，本發明其他佈局之矽製造方法，係使用石夕製造裝 置而製造矽之矽製造方法’前述矽製造裝置包含有：反應 器，係直立地設於垂直方向者；四氯化矽氣體供給管，係 201105579 聯繫至前述反應器而具有四氣化矽氣體供給口，並由前述 四氣化矽氣體供給口將四氣化矽氣體供給至前述反應器内 者；鋅氣體供給管’係聯繫至前述反應器而具有鋅氣體供 給口，並由前述鋅氣體供給口將鋅氣體供給至前述反應器 内者；及加熱器’係加熱前述反應器者；且前述鋅氣體供 給口在前述垂直方向較前述四氣化矽氣體供給口位於上 方，前述矽製造方法以前述加熱器將前述反應器的一部分 溫度设定為矽的析出溫度範圍，由前述四氯化矽氣體供給 口將四氣化矽氣體供給至前述反應器内，並由前述鋅氣體 供給口將鋅氣體供給至前述反應器内，在前述反應器内以 鋅將四氣化矽還原，且於前述反應器内，將矽析出至與設 定為則述石夕的析出溫度範圍之區域相對應的壁部。 [發明的效果] 依據本發明第1佈局之矽製造裝置，鋅氣體供給口在垂 直方向較四氣化矽氣體供給口位於上方，石夕製造裝置以加 熱器將反應器的一部分溫度設定為矽的析出溫度範圍由 四氣化矽氣體供給口將四氣化矽氣體供給至反應器内並 由辞氣體供給口將辞氣體供給至反應器内，在反應器内以 鋅將四氣化矽還原，且於反應器内，在與設定為矽的析出 溫度範圍之區域相對應的壁部，形成供矽析出之矽析出區 域，因此，可實現利用低成本而產率佳地產生多結晶砂 且具有用以連續並有效率地回收多結晶矽之擴充性之構 這。又，在本發明之其他佈局之矽製造方法中亦同樣可得 到上述效果。 8 201105579 依據本發明第2佈局之構成，由於 .^ ^ 一 夕析出區域為反應器 的内土面，故可確實地增加石夕的產量。 依據本發明第3佈局之構成，由於外出區域為裝卸自 如地插入於反應器的内管之内壁面，故可增加石夕的產量， 並且’由於可簡便地更換内壁面已劣化之内管，故可不更 換反應器本身而持續地製造矽。 依據本發明第4佈局之構成，四氣化石夕氣體供給口及辞 :體供給口在垂直方向較内管的上端位於下方，藉此，四 氣化石夕氣體及鋅氣體會—面混合—面擴散，可有效地抑制 在反應器的縱内壁與内管的縱外壁之間的不必要之侵入， 可更有效率地實行以辞將四氣切還原之還原反藉 此’產率佳地產生多結晶石夕。 依據本發明第5佈局之構成，由衝擊氣體供給口將衝擊 氣體供給至反應器内，藉此，可不直接接觸反應器與内管 的内壁面’而令已析出於讀出區域切剝離。 依據本發㈣6佈局之駭，衝擊氡體供給口在垂直方 向較四氣化石夕氣體供給口位於下方，因此，可使衝擊氣體 確實地觸及讀出區域，而確實地令已析出於魏出區域 之矽剝離。 依據本發明第7佈局之構成，由妙析出區域剝離之石夕會 因自身重量而落下至胡回收槽’因此’可確實地將石夕回收 至石夕回收槽。 依據本發明第8佈局之構成，由發析出區域剝離之石夕會 因自身重量而落下堆積於閥上，因此’藉由開啟前述閥， 201105579 可使石夕因自身重量落下至石夕回收槽而被回收。此時，由於 在反應時藉賴來阻斷反應器的内部與外部，故可在維持 南溫之反應環境下穩定地_反應H若藉由衝擊而 於閥上堆積了預定量的碎，則將閥開啟使⑪落下至常溫 之石夕回收槽内後將閥關閉’回收石夕回收槽内的石夕，因此， 可使反應n内不遭受不必要之污染地回㈣而進入下—次 的反應，可肢且確實地進行奴之連續作動。 依據本發明第9佈局之構成’加熱器一方面將反應器在 垂直方向上由四氣化矽氣體供給口起上方的區域加熱至超 過石夕的析出溫度範圍之溫度、一方面將反應器之在垂直方 向車父四氣化石夕氣體供給口下方的區域加熱至矽的析出溫度 範圍之溫度’藉此’可選擇性且確實地將反應器的内壁面 或内管的内壁面作為矽析出區域。 依據本發明第10佈局之構成，包含惰性氣體供給管， 該惰性氣體供給管與四氣化矽氣體供給管同軸地聯繫至反 應器’具有在垂直方向較四氣化矽氣體供給口位於上方之 惰性氣體供給口 ’並由惰性氣體供給口將惰性氣體供給至 反應器内’藉此’能以小巧的構造而確實地將因應需求之 惰性氣體供至給反應器内。 依據本發明第11佈局之構成，鋅氣體供給管係由反應 器之縱壁及上蓋之至少其中一者來聯繫至反應器，因此， 可一面與其他構成要件的配置取得平衡，一面實現所要求 之鋅氣體擴散狀態。 依據本發明第12佈局之構成，反應器為圓筒狀，鋅氣 201105579 體供給管係透過反應器之上蓋而與反應器之内部聯繫，與 在垂直方向之反應器之中心軸同軸地延伸存在，藉此，可 一面使裝置全體的構造更為小巧，一面使由沸點相對地較 高之鋅所構成而需維持在高溫，且通常需要大量氣體之鋅 氣體，確實地集中地導入至反應器内之徑向的中央部，並 可將四氣化矽氣體分散地導入至其周圍，更有效率地實行 以鋅將四氣化矽還原之還原反應，藉此，可產率佳地產生 多結晶矽。 第1圖係本發明第1實施型態之矽製造裝置之示意縱剖 面圖。 第2圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖，且 相當於第1圖之A —A剖面圖。 第3A圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之變形例的示 意縱剖面圖。 第3B圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之其他變形例 的示意縱剖面圖。 第3C圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之其他變形例 的示意縱剖面圖。 第4A圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之其他變形例 的示意縱剖面圖。 第4B圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之其他變形例 的示意縱剖面圖。 第4C圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之其他變形例 的示意縱剖面圖。 11 201105579 第5圖係本發明第2實施型態之矽製造裝置之示意縱剖 面圖。 第6圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖，且 相當於第5圖之B — B剖面圖。 第7圖係本發明第3實施型態之矽製造裝置之示意縱剖 面圖。 第8圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖，且 相當於第7圖之C-C剖面圖。 第9圖係本發明第4實施型態之矽製造裝置之示意縱剖 面圖。 第10圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖， 且相當於第9圖之D — D剖面圖。 第11A圖係本實施型態之矽製造裝置之辞氣體供給管 之示意擴大橫剖面圖，且相當於第9圖之E — E剖面圖。 第11B圖係本實施型態之矽製造裝置之四氣化矽氣體 供給管之示意擴大橫剖面圖，且相當於第9圖之F — F剖面 圖。 I：實施方式3 [用以實施發明之較佳型態] 以下，適當地參考圖式，就本發明之各實施型態之矽 製造裝置及方法進行詳細說明。又，在圖式中，X轴、y轴、 Z軸構成3軸正交座標系，z軸表示作為縱方向之垂直方向， 以z軸的負方向為下方作為下游側。 (第1實施型態） 12 201105579 首先，參考第1圖及第2圖，就本發明之第1實施型態之 矽製造裝置及方法進行詳細說明。 第1圖係本發明第1實施型態之矽製造裝置之示意縱剖 面圖。第2圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖， 且相當於第1圖之A —A剖面圖。 如第1圖及第2圖所示，矽製造裝置1具有反應器10，該 反應器10係與平行於z軸之中心軸C同軸而朝垂直方向延伸 存在且典型上為圓筒狀，在其内部發生以鋅將四氯化矽還 原之還原反應。前述反應器10為石英製，其縱壁形成有插 通孔10a及較插通孔10a位於下方之插通孔l〇b。又，反應器 10之上方開放端係以固設於其之石英製且典型上為圓板狀 之上蓋12所關閉，反應器10之下方開放端係以相對於其可 裝卸自如之石英製且典型上為圓板狀之底板13所關閉。 在此’於矽製造裝置1中，反應器1〇係具有尺寸為對上 蓋12之相對面與對底板π之相對面間的長度l較其直徑D 長之縱型反應器，且於反應器1〇之内部，一面在較四氣化 矽氣體更上方處（上游側）供給鋅氣體，適當地設定反應器1〇 之溫度，一面發生還原反應，將析出矽之析出區域劃分在 較供給四氣化矽氣體之部位下方處（下游側），可從反應器1〇 之更下方處（更下游側）回收矽者。 具體而言，於關閉反應器1〇之上方開放端之上蓋12， 形成與中心軸c同軸之插通孔12a。於前述插通孔12a插通固 疋m®示之惰性氣體供給源聯繫之石英製的惰性氣 體供e 14，惰性氣體供給管14侵人反應器灣内部，與 13 201105579 中心軸c同軸而朝垂直下方延伸存在。又，惰性氣體供給管 14的内部配設有與省略圖示之四氣化矽氣體供給源聯繫之 石英製的四氣化矽氣體供給管16，四氣化矽氣體供給管16 侵入反應器10的内部，與中心軸C同軸而朝垂直下方延伸存 在。 又，惰性氣體供給管14在位於反應器10的内部之端 部，具有可自由吐出惰性氣體之惰性氣體供給口 14a，四氯 化矽氣體供給管16在反應器10的内部之端部，具有可自由 吐出四氣化矽氣體之四氣化矽氣體供給口 16a。另外，四氯 化矽氣體供給管16可因應需求，而與省略圖示之惰性氣體 供給源聯繫。 在此，惰性氣體供給口 14a係在與反應器10之對上蓋12 之相對面相距長度L1之位置，朝反應器10的内部開口。又， 四氣化矽氣體供給口 16a係在與反應器10之對上蓋12之相 對面相距長度L2(L2>L1)之位置，朝反應器10的内部開 口。亦即，惰性氣體供給口 14a的開口位置較四氯化矽氣體 供給口 16a的開口位置位於更上方。 另一方面，在設於反應器10之縱壁之插通孔10a，插通 有與省略圖示之辞氣體供給源聯繫之石英製之鋅氣體供給 管18。具體而言，辞氣體供給管18除具有沿著反應器1〇而 朝垂直方向延伸存在之部分，還具有朝與中心軸C正交之方 向延伸存在之聯繫部18a，前述聯繫部18a係插通固定於反 應器10之插通孔10a。另外，在反應器10的直徑D大，而上 蓋12的直徑可設定成較大的情況下，鋅氣體供給管18亦可 14 201105579 透過上蓋丨2來聯繫至反應器10的内部。 當然’鋅氣體供給源可相對於鋅氣體供給管18之沿著 反應器10而朝垂直方向延伸存在之部分，設置作為獨立之 辞氣體供給裝置，且亦可採用如下構成：於前述鋅氣體供 給管18之朝垂直方向延伸存在之部分導入鋅線，以細節後 述之加熱器將鋅線加熱至沸點以上而氣化。又，鋅氣體供 給管18亦可因應需求，而從省略圖示之惰性氣體源混入惰 性氣體。 考慮到耐久性，前述辞氣體供給管18宜在反應器[〇之 插通孔10a進行熔接，而構造成與反應器10成為一體。又， 鋅氣體供給管18之反應器10側之端部，亦即聯繫部i8a之端 部，具有與反應器10之縱壁之内壁面無段差地開口而可自 由吐出鋅氣體之鋅氣體供給口 18b，鋅氣體供給管18係聯繫 至反應器10的内部。 在此，鋅氣體供給口 18b的開口位置，亦即鋅氣體供給 口 18b之垂直方向之中心位置，係在與反應器1〇之對上蓋12 之相對面相距長度L3(L3<L2)之位置。 亦即，鋅氣體供給口 18b的開口位置較四氣化矽氣體供 給口 16a的開口位置位於上方。另外，只要鋅氣體供給口 18b 的開口位置較四氣化矽氣體供給口 16a的開口位置位於上 方，則四/氯化矽氣體供給管16與辞氣體供給管18之對反應 器10的聯繫，可適當地對應反應器10之縱壁與上蓋12等而 設定。 又，設於反應器10之縱壁之插通孔10b，插通有與省略 15 201105579 圖示之排氣氣體處理裝置聯繫之石英製的排氣管2〇。考慮 到耐久性，前述排氣管20宜在反應器10之插通孔1〇b進行接 合，而構造成與反應器10成為一體。又，排氣管2〇之反應 器10側之端部具有與反應器10之縱壁之内壁面無段差地開 口之排氣導入口 20a。 再者，反應器10之縱壁係從其外部被加熱器22包圍。 則述加熱器22係與中心軸c同軸之典型上為圓筒狀之電 爐，朝垂直下方依序具有第1加熱部22a、第2加熱部22b、 及第3加熱部22c ,第3加熱部22c設有讓排氣管20貫通之貫 通孔22d。 更詳細而言，第1加熱部22a係可加熱至呈現超過析出 矽之析出溫度之溫度（例如，1200。〇且予以維持之加熱部， 將具有惰性氣體供給口 14a之惰性氣體供給管14、具有四氣 化矽氣體供給口 16a之四氣化矽氣體供給管16、及具有鋅氣 體供給口 18b之鋅氣體供給管18之聯繫部丨如所配置之反應 器ίο之縱壁及其内部、以及鋅氣體供給管18之朝垂直方向 延伸存在之部分的一部分包圍，將前述區域加熱至超過析 出碎之析出溫度之溫度並予以維持。 在此’就析出矽之析出溫度範圍而言，95〇°c以上U00 C以下之範圍可評價為適宜之溫度範圍。這是因為，考量 到當反應器10之縱壁及其内部的溫度未滿950〇c時，以鋅將 四氣化矽還原之還原反應的反應速度會變遲缓，而當反應 器10之縱壁及其内部的溫度超過lioot時，矽作為四氯化 矽之化合物氣體而存在會較作為固體而存在穩定，故還原 201105579 反應本身並不會發生。又，由於鋅的沸點為910°C，因此前 述析出矽之析出溫度範圍本身係超過鋅的沸點之溫度範 圍。 又，第2加熱部22b及於其垂直下方連續而設之第3加熱 部22c，係可加熱至呈現矽之析出溫度範圍之溫度且予以維 持之加熱部，將未配置有惰性氣體供給管14、四氣化矽氣 體供給管16、及鋅氣體供給管18之反應器10之縱壁及其内 部的下部，上下地予以連續覆蓋，將前述區域加熱至析出 矽之析出溫度並予以維持。 在此，第2加熱部22b係能以析出矽之析出溫度範圍内 之溫度（例如110 0 °C )將反應器10之下部之縱壁及其内部加 熱之加熱部’第3加熱部22c係能以析出矽之析出溫度範圍 内之較第2加熱部22b加熱溫度低之溫度（例如i〇〇(Tc )將反 應器10之較第2加熱部22b所加熱部分更下方之縱壁及其内 部加熱之加熱部。 前述第2加熱部22b係能呈現連接第丨加熱部22a的加熱 溫度與第3加熱部22c的加熱溫度之中間加熱溫度者，但可 隨著需求而予以省略，無論如何，只要是在以超過析出矽 之析出溫度之溫度對具有四氣化矽氣體供給口 l6a之四氣 化矽氣體供給管16及具有鋅氣體供給口 18b之鋅氣體供給 管U之聯繫部18a所配置之部分之反應器1〇之縱壁及其内 部等進行加熱之第1加熱部22a之垂直下方，設置以析出矽 之析出溫度範圍對未配置有前述四氣化矽氣體供給管16及 鋅氣體供給管18之聯繫部]也之部分之反應器1〇之縱壁及 17 201105579 其内部進行加熱之加熱部即可。另外，第2加熱部22b亦具 有進行調整以使第1加熱部22a之加熱溫度與第3加熱部22c 之加熱溫度的差不致過大之機能，可抑制反應器1〇之壁面 等的溫度變化過大。 另外，加熱器22之第1加熱部22a、第2加熱部22b、及 第3加熱部22c之加熱溫度中的任一者，皆超過鋅的沸點91〇 t。 接著，就使用以上構造之矽製造裝置丨來製造多結晶矽 之矽製造方法，進行詳細的說明。另外，前述矽製造方法 之一連串步驟，能以參考來自各種感測器之檢測資料並具 有各種資料庫等之控制器來進行自動控制，亦可一部分或 全部以手動進行。 首先，於反應器10的下端安裝底板13，在已阻斷反應 器10之内部與外部之狀態下，對反應器10之内部，由惰性 氣體供給口 14a供給預定時間之惰性氣體，以準備反應器 内部之反應環境氣體。此時，可因應需求，從四氣化矽氣 體供給口 16a及鋅氣體供給口 18b亦供給預定時間之惰性氣 體。 接著，藉由加熱器22之第1加熱部22a，將具有惰性氣 體供給口 14a之惰性氣體供給管μ、具有四氣化石夕氣體供給 口 16a之四氣化矽氣體供給管16、及具有鋅氣體供給口 Ub 之鋅氣體供給管18之聯繫部18a所配置之反應器1〇之縱壁 之上部、以及鋅氣體供給管18之朝垂直方向延伸存在之部 分的一部分加熱，將前述反應器1〇之縱壁之上部及其内部 18 201105579 或鋅氣體供給管18之朝垂直方向延伸存在之部分加熱至超 過石夕的析出溫度之溫度並予以維持。同時，藉由加熱器22 之第2加熱部22b及第3加熱部22c，將未配置有惰性氣體供 給官14、四氯化矽氣體供給管16、及鋅氣體供給管18之反 應器10之縱壁之下部加熱，將前述反應器1〇之縱壁之下部 及其内部加熱至矽的析出溫度範圍並予以維持。 接著，維持前述溫度條件，實施還原反應步驟。具體 而3，對反應器10之内部，由四氯化矽氣體供給口 16a供給 四氣化矽氣體，且由鋅氣體供給口 18b供給鋅氣體。此時， 亦可因應需求從惰性氣體供給口 14a供給惰性氣體。 如此，在反應器10之内部，可產生以鋅將四氣化矽還 原之還原反應。然而，在此，由於四氣化矽氣體之比重係 鋅氣體之比重的約2.6倍，為相對較重之氣體，因此實質上 無法擴散至位於較四氣化矽氣體供給口 16a之開口位置更 上方之鋅氣體供給口 18b ’而會在反應器1〇之内部之四氣化 矽氣體供給口 16a的附近或較其下方之區域，發生還原反 應’產生固體矽與氣化鋅氣體。 又，在此，由於未配置有惰性氣體供給管14、四氣化 氣體供給管16、及辞氣體供給管18之反應器1〇之縱壁之 下。卩，係藉由第2加熱部22b及第3加熱部22c加熱至呈現矽 之柯出溫度範圍之溫度並維持，因此，藉由還原反應而產 生之分係在析出區域s作為針狀結晶而析出，該析出區域s 為則述反應H1G之下部之縱壁，亦即在反應㈣之内壁面 之較四氣化矽氣體供給口 16a下方且較排氣導入 口 20a上方 19 201105579 之區域。此時，於四氯化矽氣體供給口 16a與辞氣體供給口 18b不會析出矽且前述供給口不會被矽堵塞。 又如此般地，由於在反應器10之内壁面下部之析出 區域s會依序析出針狀結晶之矽，並以該析出之矽作為種結 B曰曰進行石夕之結晶成長，因此，可堆積充分厚度之多結晶矽。 在此’將如此之析出過程及與其相關之結晶成長過程通稱 為析出。 接著’在前述還原反應持續預定時間後，停止供給作 為反應原料之四氣化矽氣體與鋅氣體，並停止加熱器22之 通電’在僅供給惰性氣體之狀態下，一面由排氣管2〇對剩 餘之四氣化矽氣體、鋅氣體、及作為副產物而產生之氣化 鋅氣體進行排氣，一面冷卻至常溫。 然後，卸下反應器10之底板13，使剝離構件由反應器 10之下方開放端侵入，對業已堆積於反應器10之内壁面下 部之析出區域S的多結晶矽進行機械式剝離以回收，結束本 次矽製造方法的一連串步驟。另外’前述多結晶矽亦可藉 由施加振動來剝離而回收。 以上構造之矽製造裝置1之鋅氣體供給管之構造，還可 考量到由反應器10之縱壁侵入其内部、或透過上蓋12而聯 繫至反應器1〇等多種變形例。於是’接著亦參考第3圖及第 4圖，就前述鋅氣體供給管之變形例進行詳細說明。另外’ 相對於矽製造裝置1，各變形例之主要不同點在於鋅氣體供 給管之構造不同，其餘之構造則為相同。因此，在各變形 例中，將著重在說明前述不同點，對於相同之構造係賦予 20 201105579 相同之符號並適當地簡化或省略說明。 由第3八圖至第4C圖係顯示本實施型態之梦製造裝置 之各種變形例的示意縱剖面圖，在位置上對應第1圖。 具體而5，在第3a圖所示之矽製造裝置la的構造中， 鋅氣體供給管18G之聯替部⑽朝反應器⑺之内部突出’且 在朝反應器10之内部侵入之位置開口有辞氣體供給口 180b。又’在第3Bg|所示之⑦製造裝置⑽構造中，鋅氣 體供給官181之聯繋部丨81&不僅是朝反應器1〇之内部突出 還往垂直下方彎曲’且鋅H體供給σ 18關反應器1〇之内 部之垂直下方開口。另一方面，在第3C圖所示之矽製造裝 置lc的構造中’鋅氣體供給管182之聯繫部1823不僅是朝反 應器10之内部突出還往垂直上方彎曲，且辞氣體供給口 182b朝反應益10之内部之垂直上方開口。 以上變形例中’可適當地設定鋅氣體之吐出位置或吐 出方向’可獲得反應器10内部之辞氣體期望擴散狀態，並 實現設計自由度高之鋅氣體供給管之構造。 接著，在第4A圖所示之矽製造裝置id的構造中，反應 器100之縱壁未形成有插通孔l〇a，且，在封住反應器之 上方開放端之石英製的上蓋120形成有情性氣體供給管14 可插通之插通孔12a，並形成有與其鄰接之插通孔i2b。亦 即，鋅氣體供給管183並非插通於反應器1〇〇之縱壁，而是 插通固定於在上蓋120中與惰性氣體供給管14所插通之插 通孔12a鄰接之插通孔12b，且鋅氣體供給口 183b在朝反應 器100之内部突出之端部開口。又，在第4B圖所示之矽製造 21 201105579 裝置le的構造中，鋅氣體供給管184不僅是朝反應器ι〇〇之 内部突出還往徑方向之内側彎曲’且鋅氣體供給口 184b朝 反應器100之内部之徑方向之内側開口。另一方面，在第4C 圖所示之矽製造裝置If的構造中，鋅氣體供給管185不僅是 朝反應器100之内部突出而往徑方向之内側彎曲，還往垂直 上方彎曲，且鋅氣體供給口 185b朝反應器100之内部之垂直 上方開口。另外，在第4A圖所示之構造中，鋅氣體供給管 183雖然係朝反應器1〇〇之内部突出，但亦可不如此地突 出’而是設定成鋅氣體供給口 183b與上蓋120之下面無段 差。 在以上之變形例’還考量到反應器與加熱爐之間隔狹 窄時之鋅氣體供給管的設置性、以及使鋅氣體供給管與反 應器一體化時之繁雜性，而可實現設計自由度高之鋅氣體 供給管之構造。另外，當然亦可以將以上各變形例之構造 適當地組合而予以採用。 依據包含以上變形例之本實施型態的構造，鋅氣體供 給口在垂直方向較四氣化矽氣體供給口位於上方，且以加 熱器將反應器的一部分溫度設定為矽的析出溫度範圍，由 四氣化石夕氣體供給口將四氣化矽氣體供給至反應器内，並 由鋅氣體供給口將鋅氣體供給至反應器内，在反應器内以 鋅對四氣化矽進行還原，於反應器内，在與設定為矽的析 出溫度範圍之區域相對應的壁部，形成析出矽之矽析出區 域’藉此，可實現利用低成本而產率佳地產生多結晶矽， 且具有可連續並有效率地回收多結晶矽之擴充性之構造。 22 201105579 又，由於矽析出區域為反應器的内壁面，故可確實地 增加砍的產量。 又，加熱器一方面將反應器在垂直方向由四氣化石夕氣 體供給口起上方的區域加熱至超過矽的析出溫度範圍之溫 度、一方面將反應器在垂直方向較四氣化矽氣體供給口下 方的區域加熱至矽的析出溫度範圍之溫度，藉此，可選擇 性且確實地將反應器的内壁面或内管的内壁面作為矽析出 區域。 又，包含惰性氣體供給管，該惰性氣體供給管與四氣 化矽氣體供給管同軸地聯繫至反應器，且具有在垂直方向 較四氣化矽氣體供給口位於上方之惰性氣體供給口，並由 惰性氣體供給口將惰性氣體供給至反應器内，藉此，能以 小巧的構造而確實地將因應需求之惰性氣體供至給反應器 内。 又，鋅氣體供給管係由反應器之縱壁及上蓋之至少其 中一者來聯繫至反應器，因此，可一面與其他構成要件的 配置取得平衡，一面實現期望之鋅氣體擴散狀態。 (第2實施型態） 接著，亦參考第5圖及第6圖，就本發明之第2實施型態 之矽製造裝置及方法進行詳細說明。 第5圖係本實施型態之矽製造裝置之示意縱剖面 圖。又，第6圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面 圖’且相當於第5圖之B — B剖面圖。 在本實施型態之矽製造裝置2中，相對於第1實施型態 23 201105579 之石夕製造裝置1，主要不同點在於附加衝擊氣體供給管，且 δ又有其之砂回收槽，其餘之構造則為相同。因此，在本實 施型態中，將著重在說明前述不同點，對於相同之構造係 賦予相同之符號以適當地簡化或省略說明。 如第5圖及第6圖所示，在矽製造裝置2中，相對於第1 實施型態之矽製造裝置1之構造，在封住反應器1〇之上方開 放端之石英製的圓板狀上蓋13〇中更形成有惰性氣體供給 管14可插通之插通孔12a，並形成有與其鄰接之插通孔 12c。於前述插通孔12c插通固定有與省略圖示之高壓惰性 氣體供給源聯繫之石英製的衝擊氣體供給管2〇〇。上述衝擊 氣體供給管200侵入反應器1〇的内部，沿著反應器1〇之内壁 面朝垂直下方延伸存在。又，衝擊氣體供給管2〇〇在位於反 應器10的内部之端部’具有衝擊氣體供給口 2〇〇a。 在此’衝擊氣體供給管200係用以由衝擊氣體供給口 200a使高壓之惰性氣體觸及堆積於反應器10之内壁面下部 之析出區域S的多結晶碎，以令前述多結晶碎剝離者。 因此，衝擊氣體供給管200宜在反應器10的内部中沿著 其内壁面配設成複數個（在第6圖中為4個）’使衝擊氣體供給 管200相對中心軸C呈軸對稱。在前述情形，於上蓋13〇形成 有對應之複數個（在第6圖中為4個）插通孔12c。又，衝擊氣 體供給口 200a係在與反應器1〇之對上蓋13〇之相對面相距 長度L4的位置’朝反應器10的内部開口者，但由於必須由 衝擊氣體供給口 200a對反應器10之内壁面下部的析出區域 S吐出高壓之惰性氣體，前述衝擊氣體供給口 200a的開口位 24 201105579 置宜在接近析出區域s且較其上方之位置，如此一來，典塑 上宜在較四氯化矽氣體供給口 16a的開口位置更下方（L4> L2)且較析出區域S更上方之位置。另外，雖然衝擊氣體供 給管200的設置會變複雜，但亦可使衝擊氣體供給口 20〇a的 開口位置位在較析出區域S更下方處，而朝上方吐出高壓之 惰性氣體。 又，衝擊的條件可列舉如由衝擊氣體供給口 200a吐出 之惰性氣體的壓力及吹氣時間。當前述壓力過低時，無法 將析出於析出區域S之矽充分地剝離，另一方面，當前述壓 力過高時，反應器10之縱壁與衝擊氣體供給管200會有破損 的傾向，因此，前述壓力宜在O.IMPa以上l.OMPa以下的範 圍，在實用上更宜在0.3MPa以上0.6MPa以下的範圍。當吹 氣時間過短時，無法將析出於析出區域S之矽充分地剝離， 另一方面，當吹氣時間過長時，衝擊用惰性氣體的導入曰 將變多’會有反應器10的溫度下降，或剝離之妙隨著卜 氣體一同被排出而無法回收之傾向，因此，吹氣時門 、 0.1秒以上3.0秒以下的範圍，又，亦可將前述吹_ 足在 人礼時間的衝 擎以預定間隔週期性地反覆進行複數次。另外， 考量 應器10的直徑與衝擊的壓力等，適當地設定衝擊5 味. 氧體供故 管200與衝擊氣體供給口 2〇〇a的直徑。 、° 又’在矽製造裝置2中，當由衝擊氣體供给〇 z〇〇a使高 壓之惰性氣體觸及反應器1 〇之内壁面下部的扣1 °
f出區域S 時’堆積於該處之多結晶矽將剝離而因自身重督 别下方落 下，因此，於反應器10之下方依序設置連結構件21〇、 聯繫 25 201105579 管220、閥裝置230、及矽回收槽240。 具體而言’在矽製造裝置2中，取代第1實施型態之矽 製造裝置1的底板13 ’設有連結反應器1〇的下部與聯繫管 220之連結構件21〇，並在聯繫管220與矽回收槽240之間設 有閥裝置230。 前述閥裝置230具有可自由阻斷反應器1〇之内部環境 與外部環境之閥230a。在為了阻斷反應器1〇之内部與矽回 收槽240之連通而關閉閥230a之狀態下，可將藉著使來自衡 擊氣體供給口 200a之高壓惰性氣體觸及析出區域S而剝離 且因自身重量而落下之多結晶矽，自由堆積於閥230a上。 另一方面，在閥230a開啟之狀態下，反應器10之内部與矽 回收槽240連通，可使堆積於閥230a上之多結晶矽因自身重 量落下於矽回收槽240而自由回收。 又，前述矽回收槽240係設置在加熱器22之加熱區域外 的常溫氣體環境中，相對於矽製造裝置2可裝卸自如。 接著，就使用以上構造之矽製造裝置2來製造多結晶矽 之矽製造方法，進行詳細說明。在此，本實施型態之矽製 造方法與第1實施型態之製造方法的主要不同點在於’採用 藉著由衝擊氣體供給口 200a供給衝擊氣體使業已堆積於析 出區域S之矽剝離以進行回收的步驟，來取代以下步驟：卸 下反應器10之底板13，使剝離構件由反應器10之下方開放 端侵入，對業已堆積於反應器10之内壁面下部之析出區域S 的多結晶矽進行機械式剝離以回收。由於在使析出於析出 區域S之多結晶矽剝離之步驟以後之步驟為實質上不同 26 201105579 者，因此，將著重在前述不同點而進行說明。 具體而言’在為了阻斷反應器10之内部與外部而使闊 裝置230之__請之狀態下，朝反應㈣之内部供給惰 性氣體後，-面以加熱器22進行加熱—面在反應器1〇的内 部持續預定«之以鋅將四氣切還原之還原反應，並在 反應器10之内壁面下部的析出區域s業已堆積充分厚度之 多結晶料，停止供給四氣化錢體及辞氣體。然後由 惰性氣體供給管14之惰性氣體供給口 14a等將惰性氣體供 給至反應器10的内部，以惰性氣體替換反應器1〇内部之環 境氣體。 接著以預定之壓力、時間、及週期實施由衝擊氣體供 給口 2術使高壓之惰性氣體觸及反應㈣内之析出區域§ 之衝擊步驟，使業已堆積於析出區域s之多結晶妙剝離而因 自身重量朝下方落下。此時，由於閥篇為了阻斷反應器 10之内部與外部而處於關閉狀態，故落下之矽會堆積於閥 230a 上。 然後，如前述衝擊步驟已結束，則開啟閥23〇a使業已 堆積於閥230a上之多結晶石夕因自身重量而朝石夕回收槽24〇 落下後，一方面為了阻斷反應器1〇之内部與外部而再次關 閉閥230a，一方面取出矽回收槽24〇内之多結晶矽並回收， 結束本次矽製造方法的—連串步驟，並可因應需求而不中 斷地進入下一次矽製造方法的一連串步驟。在此，由於矽 回收槽240相對於矽製造裝置2為裝卸自如，因此當矽之落 下結束，關閉閥230a後，可將矽回收槽240自矽製造裝置2 27 201105579 卸下而移動至狀㈣管場所，以取一贼槽内部之 夕結晶*^。 依據以上之本實她型態之構造，藉著由衝擊氣體供給 :將衝擊氣體供給至反應器内，可不直接接觸反應器與内 官之内壁面，而令析出於矽析出區域之矽剝離。 又，由於衝擊氣體供給口在垂直方向較四氣化石夕氣體 供給口位於下方’因此可確實地使衝擊氣韻絲析出區 域，而可確實地使析出於矽析出區域之矽剝離。 又，由於自矽析出區域剝離之矽會因自身重量而落下 至矽回收槽，因此可確實地將矽回收至矽回收槽。 又，由於自矽析出區域剝離之矽係因自身重量而落下 堆積於閥上，因此，藉由開啟前述閥，可使矽因自身重量 落下至石夕回收槽而被回收。此時，由於在反應時藉由閥而 阻斷反應器之内部與外部，故可在維持高溫之反應環境下 安定地繼續反應。接著，若藉由衝擊而於閥上堆積了預定 量的矽，則將閥開啟，使矽落下至常溫之矽回收槽内後將 .閥關閉’回收矽回收槽内的矽，因此，可使反應器内不遭 受不必要之污染地回收矽而進入下一次反應，可簡便且確 實地進行安定之連續作動。 (第3實施型態） 接著，亦參考第7圖及第8圖，就本發明之第3實施型態 之矽製造裝置及方法進行詳細說明。 第7圖係本實施型態之矽製造裝置之示意縱剖面圖。 又，第8圖係本貫施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖，且 28 201105579 相當於第7圖之C〜C剖面圖。 &本實施型態之妙製造裝置3中，相對於第2實施裂態 之_製造裝置2 ’主要不同點為於反應器觸内部附加内管 250且内f 250之内壁面成為析出多結晶石夕之析出區域§， 其餘之構造則為相同。因此，在本實施型態中，將著重在 *兒明刚述不同點，對於相同之構造係職予相同之符號並適 當地簡化或省略說明。 如第7圖及第8圖所示，於砂製造裝置3巾，相對於第2 實施型悲之石夕t造裝置2之構造，更插入有與中心軸c同軸 而沿著反應器10的内壁延伸存在之典型上為圓筒狀之内管 250。刖述内官250係石英製，且相對於反應器1〇可裝卸自 如。 具體而言’内管250之上端2池係開放端，且在與反應 器10之對上蓋13 0之相對面相距長度L 5之位置，該位置較鋅 氣體供給管18之鋅氣體供給口 18b位於下方，且較四氣化矽 氣體供給管16之四氣化矽氣體供給口 16a與衝擊氣體供給 管200之衝擊氣體供給口 2〇〇a位於上方（L3 < L5〈 L2〈 L4)。由於刖述上端250a的位置係四氣化矽氣體供給口 16a 的下方區域而具有析出矽之可能性，因此，於内管25〇的内 壁面會確實地劃分析出區域S，而且，考量到避免矽析出於 内管250a與反應器10的間隙’前述上端25〇a宜較四氣化矽 氣體供給口 16a位於上方，且宜較鋅氣體供給口丨此位於下 方’以避免不必要地堵住鋅氣體供給口 18b。 又，由於内官250係其下端以連結構件21〇支撐會較為 29 201105579 安定，因此，可在朝下方延伸存在而超過排氣管20後，在 對應於反應器10之插通孔10b之位置具有插通孔250b，以避 免不必要地堵住排氣管20之排氣導入口 20a。亦即，排氣管 20係插通固定於反應器10之縱壁所設置之插通孔丨〇b及内 管250之縱壁所設置之插通孔250b。 又’由於内管250藉由加熱器22之第2加熱部22b及第3 加熱部22c而加熱至i〇〇〇°c以上1100°C以下溫度之高溫並 予以維持，因此，若其外壁面接觸到反應器1〇之内壁面， 會有著互相固定接着而無法取下的可能性，考量到此，内 管250係隔著預定間隙而與反應器1〇並設。另外，為了安定 地維持前述間隙，宜設置石英製之間隔器。 使用以上構造之矽製造裝置3來製造多結晶矽之矽製 造方法，係以還原反應步驟使多結晶矽堆積在劃分於内管 250之内壁面之析出區域s後，以衝擊步驟使析出區域s之多 結晶石夕剝離而堆積於閥裝置230之閥230a上，開啟閥230a使 如此堆積之矽落下至矽回收槽240以回收。 在此’反覆進行數次前述矽製造方法之一連串步驟 後，内管250之内壁面會逐漸劣化，因此，可將反覆進行之 次數超過規定次數之内管250從反應器1〇卸下，而更換新的 内管250。 依據以上之本實施型態之構造，由於砂析出區域為裝 卸自如地插入了反應器内側之内管，故可增加矽的產量， 並且’由於可簡便地更換内壁面已劣化之内管故可不更 換反應器本身而持續地製造矽。 30 201105579 另外’第3實施型態之内管25〇亦可適用於設有底板13 之第1實施型態之構造，前述情形係將内管250的下端載置 於底板13上並予以固定，可藉由將底板13從反應器10卸 下，而使内管250亦從反應器1〇卸下。 (第4實施型態） 接著，亦參考第9圖至第11B圖，就本發明之第4實施型 態之石夕製造裝置進行詳細說明。 第9圖係本實施型態之矽製造裝置之示意縱剖面圖。 又’第10圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖， 且相當於第9圖之D — D剖面圖。第11A圖係本實施型態之矽 製造裝置之鋅氣體供給管之示意擴大橫剖面圖，且相當於 第9圖之E — E剖面圖。又，第11B圖係本實施型態之矽製造 裝置之四氯化矽氣體供給管之示意擴大橫剖面圖，且相當 於第9圖之F — F剖面圖。 在本實施型態之矽製造裝置4中，相對於第3實施型態 之矽製造裝置3 ’主要不同點在於反應器1〇〇的縱壁未形成 有插通孔10a，並且，對於堵住反應器1〇〇之上方開放端之 石英製圓板狀的上蓋140，於其中央插通有鋅氣體供給管 280，且鄰接於鋅氣體供給管28〇而配設有内部包含四氣化 矽氣體供給管160之惰性氣體供給管14及衝擊氣體供給管 200，其餘之構造則為相同。因此，在本實施型態中，將著 重在說明前述不同點’對於相同之構造係賦予相同之符號 並適當地簡化或省略說明。 如第9圖及第10圖所示，石英製之反應器1〇〇與第4八圖 31 201105579 至第4C圖所示之第1實施型態之變形例中的相同，係具有將 由第1圖及第2圖所示之反應器10的縱壁插通鋅供給管is之 插通孔18a刪除之構造，亦即未形成有插通孔18a之構造。 於關閉反應器100之上方開放端之石英製上蓋140，形 成有與中心軸C同軸之1個插通孔12d、以及分別與其鄰接之 複數個插通孔12e及複數個12f。 1個插通孔12d插通固定有與省略圖示之鋅氣體供給源 聯繫之石英製的1根鋅氣體供給管280。前述辞氣體供給管 280侵入反應器1 〇〇的内部’與中心軸c同軸而朝垂直下方延 伸存在，具有朝其縱壁下端開口之辞氣體供給口 28〇a，且 其垂直方向之前端關閉。 複數之插通孔12e在典型上係與中心轴c等距離而於上 蓋140的周圍方向以120°之等間隔設置3個。前述各插通孔 12e插通固定有與省略圖示之惰性氣體供給源聯繫之石英 製的1根惰性氣體供給管14。又，在惰性氣體供給管14的内 部配設有與省略圖示之四氣化矽氣體供給源聯繫之石英製 的1根四氣化矽氣體供給管160，四氣化矽氣體供給管侵 入反應器100的内部，與中心軸C同軸而朝垂直下方延伸存 在。前述四氣化矽氣體供給管160具有朝其縱壁下端開口之 四氯化矽氣體供給口 160a，且其垂直方向之前端關閉。 複數之插通孔12f在典型上係與中心軸c等距離而於上 蓋140的周圍方向以120°之等間隔且夾有對應之插通孔12e 的方式設置3個。前述各插通孔12f插通固定有與省略圖示 之高壓惰性氣體供給源聯繫之石英製的丨根衝擊氣體供給 32 201105579 管 200。 採用如此般地於上蓋140的中央插通丨根鋅氣體供給管 280而朝反應器1〇〇内延伸存在，並於其周圍配設有複數之 内部包含惰性氣體供給管14之四氣化矽氣體供給管16〇之 構造的理由，是因為考量到沸點為910〇c之鋅氣體必須以加 熱成較/弗點為59 C之四氣化梦氣體更高溫之狀態而導入至 反應器100 ’因此雖然反應器1〇〇與上蓋的直徑有稍微增 大之傾向，但裝置整體之構造可更為小巧，且具有可使相 對地維持成較高溫之鋅氣體確實地集中地導入反應器1〇〇 内之徑向之中央部，並使四氯化矽氣體分散地導入其周圍 之方便性。另外’在反應器1 〇〇與上蓋140的直徑可更大型 化的情形下，亦可設置複數個鋅氣體供給管280。 在此’惰性氣體供給管14之惰性氣體供給口 14a、四氣 化矽氣體供給管160之四氣化矽氣體供給口 160a、鋅氣體供 給管280之鋅氣體供給口 280a、及衝擊氣體供給管200之衝 擊氣體供給口 200a，分別在與反應器1〇〇之對上蓋140之相 對面相距長度LI、L2、L3、及L4之位置開口，且内管250 之上端250a係在與反應器1〇〇之對上蓋140之相對面相距長 度L5之位置，此等長度間的關係具有L1<L5<L3<L2<L4 之關係。 亦即，惰性氣體供給管14之惰性氣體供給口 14a的開口 位置較内管250之上端250a更位於上方，四氣化矽氣體供給 管160之四氯化矽氣體供給口 160a、鋅氣體供給管280之鋅 氣體供給口 280a、及衝擊氣體供給管200之衝擊氣體供給口 33 201105579 200a的各開口位置較内管250之上端25〇a更位於下方。又， 鋅氣體供給口 280a的開口位置較四氣化矽氣體供給口 16如 之開口位置更位於上方。 如此般地將四氣化矽氣體供給管16〇之四氣化矽氣體 供給口 16 0 a的開口位置及鋅氣體供給管2 8 〇之辞氣體供給 口 280a的開口位置設定在較内管25〇之上端25如更位於下 方，是因為考量到採用在上蓋140的中央插通鋅氣體供給管 280而朝反應器100内延伸存在之構造，不但不需於内管25〇 之縱壁設置插通孔，而可用簡便構造將鋅氣體供給口 28〇a 配置於下方，並可使四氣化矽氣體及鋅氣體皆在内管25〇的 内部吐出，藉此確實地抑制前述氣體在反應器1〇〇的縱内壁 與内管250的縱外壁之間隙不必要地擴散侵入之現象。 又，如第11A圖所示，鋅氣體供給管28〇之鋅氣體供給 口 2 8 0a宜具備有複數個，在典型上宜為朝中心軸c軸對稱地 以120之等間隔，在其縱壁之下端開口 3個。這是為了使鋅 氣體在水平方向朝反應器1〇〇的内部吐出而確實地均等地 擴散，以使鋅氣體與四氣化矽氣體的混合性進行得更良 好。另外，理所當然地，在鋅氣體與四氣化矽氣體良好地 混合之情形下，鋅氣體供給管280之鋅氣體供給口 28〇a可只 設置1個，且亦可開放鋅氣體供給管280之垂直方向之前端 而設置。 又，如第11B圖所示，四氣化矽氣體供給管16〇之四氣 化石夕氣體供給口 160a只要在其縱壁之下端中以任意位置及 任意個數而開口即可(在圖式中的_個例子，是顯示與内管 34 201105579 250的内壁相對向而僅丨個開口者）。這是因為，從鋅氣體與 四氣化石夕氣體的混合性之觀點來看，四氣化矽氣體只要係 朝水平方向吐出者即可。 使用以上構造之矽製造裝置4來製造多結晶矽之矽製 造方法’係以還原反應步驟在劃分於内管25〇之内壁面之析 出區域S堆積多結晶矽後，以衝擊步驟使析出區域s之多結 晶矽剝離而堆積於閥裝置23〇之閥23〇&上，開啟閥23〇3使如 此堆積之矽落下至矽回收槽240以回收。然後，反覆進行數 次則述石夕製造方法之—連串步驟，將該反覆進行之次數超 過規定次數之内管250從反應器1〇〇卸下，而更換為新的内 管 250。 依據以上之本實施型態之構造，反應器為圓筒狀，鋅 乳體供給管係透過反應器之上蓋而與反應器之内部聯繫， 與在垂直方向之反絲之巾叫同軸地延伸存在，藉此， °面使裝置王體的構造更為小巧，一面使由濟點相對地 車乂间之鋅所構成而需維持在高溫，且通常需要大量氣體之 辞氣體’確實地集中地導人至反應H内之徑向的中央部， 並可將讀化残體分散地導人至其關，更有效率地實 行:鋅將四氣切還原之還原反應，藉此，可產率佳地產 生多結晶句7。 又’四氣切氣體供給〇及辞氣 體供給口在垂直方而 ㈣f於下方，藉此，四氣化魏體及辞氣體會 〜面Ί面擴散，可有效地抑制在反應器的縱内壁 官的縱外壁之間的不必要之侵入，可更有效率地實行;鋅 35 201105579 將氣化石夕還原之還原反應，藉此，產率佳地產生多結晶 石夕。 另外，第4實施型態之鋅氣體供給管28〇及内部包含四 氣切_供給觀錄氣體供給扣的配i構造當 然可適用於第i實施型態之構造與第2實施型態之構造。 =，在以上各實施型態中，作為反應器、上蓋、底板、 惰性氣體供給管、四氣化石夕氣體供給管、鋅氣體供給管、 排氣衝擊氣體供給管、及内管等各構成要素的材質者， 必須是在9 5 G °C以上之高溫中可承受作為原料之四氣化石夕 氣體與鋅氣體、及作為副產物而產生之氣化鋅氣體等之材 質，因此，雖然可列舉出石英、碳化矽、氮化矽等，但是 由避免碳及氮混入析出之矽中的看法，則石英為最佳者（具 體而言為石英玻璃）。 又，在以上各貫把型態中，作為惰性氣體者雖然可列 舉出氦氣體、氖氣體、£氣體、歧體、a氣體、氡氣體 等豨有氣體與氮氣體等，但是由避免氮混入析出之矽中的 看法’則稀有氣體為較佳者’其中又以低價之氬氣體為最 佳。 以下’就對應各貫》型態之貫驗例，進行詳細說明。 (實驗例1) 本貫驗例係使用第1貫施型態之石夕製造裝置1來製造多 結晶矽。 具體而言’在矽製造裝置1中，石英製的反應器10設定 成外徑D為56_(厚2mm、内徑52mm)及長度L為2〇5〇_， 36 201105579 石英製的惰性氣體供給管14設定成外徑為16mm(厚lmm、 内徑14mm)，惰性氣體供給口 14a的開口位置（惰性氣體供給 管14於反應器10内的端部位置）設定成與反應器10之對上 蓋12之相對面相距的長度L1為10mm，石英製的四氣化矽氣 體供給管16設定成外徑為9mm(厚1mm、内徑7mm)，四氣化 矽氣體供給口 16a的開口位置（四氯化矽氣體供給管16於反 應器10内之端部位置）設定成與反應器10之對上蓋12之相 對面相距的長度L2為750mm，石英製的鋅氣體供給管18設 定成外徑為20mm(厚2mm、内徑16mm)，鋅氣體供給口 18b 的開口位置（鋅氣體供給管18於反應器10内之端部位置）設 定成與反應器10之對上蓋12之相對面相距的長度L3為 550mm，石英製的排氣管20具有與反應器10的下部聯繫之 排氣導入口 20a ’其外徑設定成56mm(厚2mm、内徑52mm) 〇 在以上具體構造中，首先，由惰性氣體供給管14之惰 性氣體供給口 14a朝反應器1 〇的内部吐出1.56SLM流量之氬 氣體，由四氯化矽氣體供給管16之四氣化矽氣體供給口 16a 朝反應器10的内部吐出0.50SLM流量之氬氣體，並由鋅氣 體供給管18之鋅氣體供給口 18b朝反應器10的内部吐出 2.04SLM流量之氬氣體(合計41〇SLM流量之氬氣體）。 接著，在如此地將氬氣體供給至反應器10的内部之狀 態下，將加熱器22通電，藉由第1加熱部22a使反應器10之 對應之縱壁及其内部的區域升溫至12〇〇。〇並予以維持，藉 由第2加熱部22b使反應器1〇之對應之縱壁及其内部的區域 升溫至1100X：並予以維持’藉由第3加熱部22c使反應器1〇 37 201105579 之對應之縱壁及其内部的區域升溫至1000°c並予以維持。 接著’如此地將加熱器22通電，在第1加熱部22a、第2 加熱部22b、及第3加熱部22c對反應器10之各個對應之縱壁 及其内部的區域進行加熱並予以維持之狀態下，為了從辞 氣體供給管18供給氬氣體外亦供給鋅氣體，以 速度導入辞線使其氣體化，並由辞氣體供給口 18b朝反應器 10的内部吐出2 · 0 4 S L Μ流量之氬氣體及鋅氣體業經混合之 混合氣體。同時，一方面由惰性氣體供給管14之惰性氣體 供給口 14a朝反應器10的内部吐出1.56SLM流量之氬氣體， 一方面將四氣化矽氣體供給管16之氣體由氬氣體切換成四 氣化矽氣體’由四氣化矽氣體供給口 16a朝反應器1〇的内部 吐出0.33SLM流量之四氣化矽氣體，並使其反應15分鐘。 接著，在如此地使其反應15分鐘後，停止供給作為反 應原料之四氣化矽氣體及鋅氣體，並停止對加熱器22之通 電，在由惰性氣體供給管14之惰性氣體供給口 14a等僅供給 惰性氣體之狀態下，一面由排氣管20對剩餘之四氣化矽氣 體、鋅氣體、及作為副產物而產生之氣化鋅氣體進行排氣， 一面冷卻至常溫。 然後，卸下安裝於反應器10之底板13，觀察反應器10 之内壁面’可在從四氣化矽氣體供給口 16a的開口位置（四 氣化矽氣體供給管16於反應器10内之端部位置）下方 400mm附近至排氣導入口 2〇a正上方附近之反應器1〇之内 壁面的區域中確認到業經產生之析出層，且可藉由剝離構 件將其剝離，對剝離物進行確認後，可確認其為針狀之多 38 201105579 結晶矽。 (實驗例2) 本實驗例係使用第2實施型態之矽製造裝置2來製造多 結晶矽。 具體而言’在矽製造裝置2中，反應器10、惰性氣體供 給管14、四氯化矽氣體供給管16、鋅氣體供給管18、排氣 管20、及加熱器22之構造與實驗例1之矽製造裝置1的相 同’朝反應器10的内部供給氬氣體，且以加熱器22對反應 器10之縱壁及其内部進行加熱並予以維持後，實施以鋅對 四氣化矽進行還原之還原反應之各步驟，亦與實驗例1者相 同。但是，由於本實驗例所使用之矽製造裝置2係供給衝擊 氣體者，故與其相關之構造與步驟並不相同。 亦即，就中心軸C呈軸對稱而設置之4個石英製衝擊氣 體供給管200設定成外徑為6mm(厚lmm、内徑4mm)，衝擊 氣體供給口 2〇Oa的開口位置（衝擊氣體供給管2〇〇之於反應 器10内之端部位置）設定成與反應器1〇之對上蓋13〇之相對 面相距的長度L4為1050mm。 在以上具體構造中，在為了阻斷反應器1〇的内部與外 部而關閉閥裝置230的閥230a之狀態下，朝反應器1〇的内部 供給氬氣體’且以加熱器22對反應器1〇之縱壁及其内部進 行加熱並予以維持後’實施以鋅對四氯化矽進行還原之還 原反應，之後，在維持加熱狀態之狀態下，停止對鋅氣體 供給管18導入鋅線並停止對四氣化矽氣體供給管16供給四 氣化矽氣體。之後’再度由惰性氣體供給管14之惰性氣體 39 201105579 供給口 14a朝反應器ι〇的内部吐出i 56Slm流量之氯 並由四氣化石夕氣體供、給管i 6之四氣化石夕氣體供給口【㈣ 反應器10的内部吐出〇.5〇SLM流量之氬氣體，由辞氣體供 給管18之鋅氣體供給口 18b朝反應器1〇的内部吐出 2_04SLM、"1i量之氬氣體，以氬氣體對反應器關内部進行$ 分鐘的更換動作。 接著，在如此地以氬氣體進行更換後，由衝擊氣體供 給管200之衝擊氣體供給口 2〇〇a以高壓吐出氬氣體，進行衝 擊。此時的衝擊條件，係設定成氬氣體的壓力為〇 4MPail 次的衝擊時間為0.5秒，到下一次衝擊為止的間隔為間隔3 〇 秒，合計實行20次的衝擊者。 然後，在將以上之15分鐘的反應、以氬氣體進行之5分 鐘更換、及以氬氣體進行之20次衝擊之一連串步驟反覆進 行合計4次後，將在反應器1〇下方聯繫之閥裝置23〇之閥 230a開啟，使閥230a上的堆積物落下至矽回收槽240,對石夕 回收槽240中的回收物進行確認後，可確認其為針狀之多結 晶矽。可考量其為於反應器10的内壁面析出矽後，因衝擊 而剝離所堆積於閥裝置230之閥230a上再被回收者。又，經 測量前述針狀多結晶矽的重量可得知其為8.7g，參與反應 之四氯化^夕氣體的反應率為35°/〇。 (實驗例3) 本實驗例雖然在使用第2實施型態之矽製造裝置2來製 造多結晶矽之點與實施例2相同，但相對於實驗例2，有著 以下之不同點：使衝擊氣體供給管200變短而將衝擊氣體供 40 201105579 給口 200a的開口位置（衝擊氣體供給管200之於反應器10内 之端部位置）設定成與反應器10之對上蓋130之相對面相距 的長度L4為800mm，將由惰性氣體供給管14之惰性氣體供 給口 14a供給之氬氣體的流量設定成0.12SLM，且將反應時 間設定成30分鐘而將30分鐘的反應、以氬氣體進行之5分鐘 更換、及以氬氣體進行之20次衝擊之一連串步驟反覆進行 合計2次。 在以上之具體構造中，進行一連串步驟，使閥230a上 的堆積物落下至矽回收槽240，對矽回收槽240中的回收物 進行確認後，可確認其為針狀之多結晶矽。又，經測量前 述針狀多結晶矽的重量可得知其為ll.lg，參與反應之四氣 化矽氣體的反應率為45%。 (實驗例4) 本實驗例雖然在使用第2實施型態之矽製造裝置2來製 造多結晶矽之點與實施例3相同，但相對於實驗例3，有著 以下之不同點：不由惰性氣體供給管14之惰性氣體供給口 14a供給氩氣體，將反應時由四氣化矽氣體供給管16之四氣 化矽氣體供給口 16a供給之四氣化矽氣體之流量設定成 0.66SLM，由鋅氣體供給管18之鋅氣體供給口 18b供給之氬 氣體之流量設定成0.22SLM，為了從辞氣體供給管18供給 氬氣體外亦供給辞氣體，設定成以3.85g/min的速度導入辞 線使其氣體化，且將反應時間設定成15分鐘而將15分鐘的 反應、以氬氣體進行之5分鐘更換、及以氬氣體進行之20次 衝擊之一連串步驟反覆進行合計4次。 41 201105579 在以上具體構造中，進行-連串步驟，使闊23〇a上的 堆積物落下至矽回收槽240，對矽回收槽24〇中的回收物進 行確認後’可確認其為針狀之多結晶#。X，經測量前述 針狀多結晶矽的重量可得知其為29.7g，參與反應之四氣化 矽氣體的反應率為60%。 (實驗例5至實驗例乃 以實驗例2至實驗例4的條件，使用第3實施型態之矽製 造裝置3，進行用以製造多結晶石夕之—連串的步驟使^ 230a上的堆積物落下至矽回收槽240，對石夕回收槽24〇中的 回收物進行確認後，可確認其為針狀之多結晶矽，且該等 回收率亦與實驗例2至實驗例4對應相同。可考量其為在安 裝於反應器1 〇之内管250的内壁面析出多結晶石夕後，因衝擊 而剝離而堆積於閥裝置230之閥230a上再被回收者。 (實驗例8) 本實驗例係使用第4實施型態之石夕製造裝置4來製造多 結晶矽。 具體而言，在矽製造裝置4中，石英製的反應器1〇〇設 定成外徑D為226mm(厚3mm、内徑220mm)及長度L為 2330mm，石英製内管250設定成外徑為206mm(厚3mm、内 徑200mm)及端部250a與反應器1〇〇之對上蓋140之相對面 相距的長度L5為50mm，石英製鋅氣體供給管280設定成外 徑為42mm(厚3mm、内徑36mm)，堵住鋅氣體供給管280的 下端而僅在縱壁就中心軸C呈120°等間隔以直徑16mm設置 3個之鋅氣體供給口 280a的開口位置（開口的中心位置）設定 42 201105579 成與反應器100之對上蓋140之相對面相距的長度L3為 300mm’且石英製的排氣管2〇具有與反應器100的下部聯繫 之排氣導入口 20a，其外徑設定成56mm(厚2mm、内徑 52mm)。 又’石英製的惰性氣體供給管14及配設於其内部之石 英製的四氣化矽氣體供給管160，係與中心軸C相距85mm 的距離以120度之等間隔配設3個，石英製的衝擊氣體供給 管200係對應地夾在3個惰性氣體供給管14之間，以與中心 軸C相距85mm的距離及120。之等間隔配設3個。 在此，各惰性氣體供給管14設定成外徑為16mm(厚 1mm、内徑14mm)，惰性氣體供給口 14a的開口位置(惰性氣 體供給管14於反應器1〇〇内的端部位置）設定成與反應器 100之對上蓋140之相對面相距的長度L1為10mm，各四氣化 矽氣體供給管160設定成外徑為9mm(厚1mm、内徑7mm)， 堵住四氣化矽氣體供給管丨60的下端而僅於縱壁以直徑 4mm與内管250的内壁對向般地設置之1個四氣化矽氣體供 給口 160a的開口位置（開口的中心位置），係設定成與反應器 100之對上蓋14〇之相對面相距的長度L2為500mm，且各衝 擊氣體供給管2〇〇設定成外徑為9mm(厚1mm、内徑7mm)， 衝擊氣體供給口 2〇〇a的開口位置（衝擊氣體供給管2〇〇於反 應器丨00内之端部位置）設定成與反應器100之對上蓋140之 相對面相距的長度L4為600mm。 在以上具體構造中，在為了阻斷反應器1〇〇的内部與外 部而關閉閥裝置230的閥230a之狀態下，首先，由惰性氣體 43 201105579 供給管14之惰性氣體供給口 14a朝反應器100的内部吐出 0.83SLM流量之氬氣體’由四氣化矽氣體供給管160之四氣 化矽氣體供給口 16〇a朝反應器100的内部吐出1.00SLM流量 之氬氣體，並由鋅氣體供給管280之鋅氣體供給口 280a朝反 應器100的内部吐出0.84SLM流量之氬氣體（合計2.67SLM 流量之氬氣體） 接著，在如此地將氬氣體供給至反應器100的内部之狀 態下，將加熱器22通電，藉由第1加熱部22a使反應器100之 對應之縱壁及其内部的區域升溫至1200°C並予以維持，藉 由第2加熱部22b使反應器100之對應之縱壁及其内部的區 域升溫至1100°C並予以維持，藉由第3加熱部22c使反應器 100之對應之縱壁及其内部的區域升溫至l〇〇〇°C並予以維 持。 接著’如此地將加熱器22通電，在第1加熱部22a、第2 加熱部22b、及第3加熱部22c對反應器1〇〇之各個對應之縱 壁及其内部的區域進行加熱並予以維持之狀態下，以 10.84SLM流量，由鋅氣體供給口 280之鋅氣體供給口 280a 朝反應器100的内部吐出混合了氬氣體及流量為10.00SLM 之辞氣體的混合氣體。同時’一方面由惰性氣體供給管14 之惰性氣體供給口 14a朝反應器1〇〇的内部吐出〇.83SLM流 量之氬氣體，一方面將四氣化矽氣體供給管丨6〇之氣體由氬 氣體切換成四氯化矽氣體，由四氯化矽氣體供給口 16〇a朝 反應器100的内部吐出5.00SLM流量之四氣化矽氣體，並使 其反應100分鐘。 44 201105579 接著，在如此地使其反應100分鐘後，在維持加熱器22 的通電之狀態下，停止供給作為反應原料之四氯化矽氣體 及鋅氣體。之後，再度分別由惰性氣體供給管14之惰性氣 體供給口 14a朝反應器1〇〇的内部吐出2.00SLM流量之氬氣 體，由四氣化矽氣體供給管160之四氣化矽氣體供給口 I60a 朝反應器100的内部吐出2.00SLM流量之氬氣體，由鋅氣體 供給管280之鋅氣體供給口 280a朝反應器100的内部吐出 2.00SLM流量之氬氣體，以氬氣體對反應器100的内部進行 5分鐘的更換動作。 接著，在如此地以氬氣體進行更換後，由衝擊氣體供 給管200之衝擊氣體供給口 200a以高壓吐出氬氣體，進行衝 擊。此時的衝擊條件，係設定成氬氣體的壓力為0.41^«>&且1 次的衝擊時間為0.5秒，到下一次衝擊為止的間隔為間隔3.0 秒，合計實行15次的衝擊者。 然後，在將以上之1〇〇分鐘的反應、以氬氣體進行之5 分鐘更換、及以氬氣體進行之15次衝擊之一連串步驟反覆 進行合計2次後，將在反應器100聯繫下方之閥裝置230之閥 23〇a開啟，使閥230a上的堆積物落下至矽回收槽240，對矽 回收槽240中的回收物進行確認後，可確認其為針狀之多結 晶矽。可考量其為於反應器100内之内管250的内壁面析出 矽後，因衝擊而剝離而堆積於閥裝置230之閥230a上再被回 收者。又，經測量前述針狀多結晶矽的重量可得知其為 619.8g，參與反應之四氯化矽氣體的反應率為50%。 由以上各實驗例，可在反應器1〇、100的内壁面或安裝 45 201105579 於反應器10、100内部之内管250的内壁面確認到矽以多結 晶的狀態析出，而在實驗例2至實驗例8則可確認到，以衝 擊來剝離已析出至反應器10、100的内壁面或安裝於反應器 ίο、1〇〇内部之内管250的内壁面的矽，可透過閥裝置23〇之 閥230a而於矽回收槽24〇回收充分之產量。 另外，於本發明中，理所當然地，構件的種類、配置、 個數等並不限定於前述實施型態，可將其構成要素適當更 換為可發揮同等作用劾果者等’在不脫離發明要旨的範圍 内可作適當地變更。 産業上之可利用性 如以上所述，本發明可提供一種石夕製造裝置及石夕製造 方法’前述發製造裝置及㈣造方法係可利用低成本而產 率佳地產生多結㈣，且可連續而有效率地產生多結晶石夕 並予以回收，或為具有可實賴構造之性者，由本發 明泛用普遍之特性，可_其可廣泛地剌於太陽電池用 矽等的製造裝置。 [圖式簡單説明] 第1圖係本發明第1實施型態切製造裝置之示意縱剖 面圖。 "第2圓料實施型態之外造裝置之示意橫剖面圖，且 相當於第1圖之A — A剔面圖。 第3 A圖係顯示本實施型能夕放在，丨a #抑 I態之矽製造裝置之變形例的示 意縱剖面圖。 第3B圖係顯示本實施型能 玉…之矽製造裝置之其他變形例 46 201105579 的示意縱剖面圖。 第3C圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之其他變形例 的示意縱剖面圖。 第4A圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之其他變形例 的示意縱剖面圖。 第4B圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之其他變形例 的示意縱剖面圖。 第4C圖係顯示本實施型態之矽製造裝置之其他變形例 的示意縱剖面圖。 第5圖係本發明第2實施型態之矽製造裝置之示意縱剖 面圖。 第6圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖，且 相當於第5圖之B — B剖面圖。 第7圖係本發明第3實施型態之矽製造裝置之示意縱剖 面圖。 第8圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖，且 相當於第7圖之C — C剖面圖。 第9圖係本發明第4實施型態之矽製造裝置之示意縱剖 面圖。 第10圖係本實施型態之矽製造裝置之示意橫剖面圖， 且相當於第9圖之D — D剖面圖。 第11A圖係本實施型態之矽製造裝置之鋅氣體供給管 之示意擴大橫剖面圖，且相當於第9圖之E — E剖面圖。 第11B圖係本實施型態之矽製造裝置之四氣化矽氣體 47 201105579 供給管之示意擴大橫剖面圖 圖。 [主要元件符號說明] 1、la、lb、lc、Id、le、lf、2、 3、4...矽製造裝置 10 ' 100...反應器 10a、10b...插通孔 12、120、130、140…上蓋 12a、12b、12c、12d、12e、12f". 插通孔 13.. .底板 14.. .惰性氣體供給管 14a...惰性氣體供給口 16、160...四氣化矽氣體供給管 16a、160a...四氣化矽氣體供給 口 18、180、18 卜 182、183、184、 185、280...鋅氣體供給管 18a、180a、181a、182a、183a、 184a、185a.··聯繫部 18b、180b、181b、182b、183b、 184b、185b、280a...鋅氣體供 給口 20.. .排氣管 ，且相當於第9圖之F — F剖面 20a...排氣導入口 22.. .加熱器 22a...第1加熱部 22b...第2加熱部 22c...第3加熱部 22d...貫通孔 200…衝擊氣體供給管 200a...衝擊氣體供給口 210…連結構件 220.. .聯繫管 230.. .閥裝置 230a...閥 240.. .矽回收槽 250.. .内管 250a...上端 250b...插通孔 C. ..中心軸 D. ..直徑 L、L1〜L5·.·長度 5.. .析出區域 48