TW201032934A - Substrate processing equipment - Google Patents
Substrate processing equipment Download PDFInfo
- Publication number
- TW201032934A TW201032934A TW098145094A TW98145094A TW201032934A TW 201032934 A TW201032934 A TW 201032934A TW 098145094 A TW098145094 A TW 098145094A TW 98145094 A TW98145094 A TW 98145094A TW 201032934 A TW201032934 A TW 201032934A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- glass substrate
- substrate
- laser
- head
- processing
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67155—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
- H01L21/67161—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
- H01L21/67167—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers surrounding a central transfer chamber
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
201032934 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是關於基板處理裝置(substrate processing equipment)。更詳細為關於藉由使基板與處理頭相對地移 動’對基板施以一維或二維的規定的處理之裝置。 【先前技術】 〇 製造薄膜太陽電池板(th i n f i 1 m so 1 ar ce 11 pane 1)的 製程之一有雷射圖案形成(laserpatterning)製程。在雷射 圖案形成製程中藉由以規定強度的雷射光掃描成膜有電路 形成用材料的玻璃基板,形成響應目的的電路圖案(circuit pattern)之刻劃線(scribe line)。這種雷射圖案形成一般 疋使用專用的雷射刻劃裝置(laser scribing apparatus) 而進行°具體上雷射刻劃裝置是可相對移動雷射照射頭與玻 璃基板於平行於玻璃基板的表面的方向而構成(例如下述專 ⑩利文獻1)。針對這種雷射刻劃裝置的一例參照圖16說明。 囷16是顯示習知的雷射刻劃裝置1〇〇之構成概要圖。 此外’因藉由雷射刻劃裝置丨〇〇形成的刻劃線l(li、L2、 L3…)的圖案與藉由在後述的本發明的實施形態記載的雷射 刻劃裝置1形成的圖案相同,故也參照圖8。 " 雷射刻劃裝置100如圖16所示包含:夹持器 、(gripper)53A、線性馬達(1 inear motor)52YA、雷射照射頭 73A、線性馬達74XA及控制裝置9A等。夾持器53A可藉由 201032934 握持玻璃基板κ的一邊懸臂支撐玻璃基板κ,並且可在該狀 :態下藉由線性馬達52 ΥΑ驅動於Υ方向。雷射照射頭73 Α包 t 含可朝玻璃基板K的表面照射刻劃(s c r i b e)用的雷射光b 之雷射照射窗735A,並且可藉由線性馬達74XA驅動於χ方 向。控制裝置9A是如下而構成:控制夾持器53A及雷射照射 頭73A的動作’俾雷射刻劃裝置1 〇〇進行一連串的刻劃動作。 利用雷射刻劃裝置1 〇 〇進行的刻劃動作是如下進行。亦 即’首先線性馬達52ya使握持玻璃基板κ的各夾持器53A ❹朝+Y方向前進間距(pj tch)Q並使其停止。接著,線性馬達 74XA驅動雷射照射頭73Ακχ方向,雷射掃描(雷射光的移 動)玻璃基板K的面。 藉由重複以上的動作,如圖8所示對玻璃基板κ(此外, 在該玻璃基板Κ的單面成膜有電路形成用材料Kj)形成平行 於X方向且在Y方向成間距Q的複數條刻劃線L卜L2、L3...。 [專利文獻1]日本國特開2〇〇卜111〇78號公報 參【發明内容】 如上述’在雷射刻劃裝置100中藉由使雷射光對玻璃基 板K筆直地移動於χ方向形成刻劃線。因此,線性馬達74χΑ 的疋位精度及真直度(straightness)、偏搖(yawing)、橫搖 (ro 111 ng )等照樣影響刻劃線的精度。而且,由於也進行朝 ‘ Y方向的直線驅動’故針對線性馬達52YA的定位精度等也 '•可以說-樣。因此’在雷射刻劃裝f i 〇 〇中為了提高刻劃線 的加工精度,各線性馬達74ΧΑ、52γΑ使用極高精度者。而 4 201032934 且’支撐各線性馬達74XA、52YA等的機台使用剛性高且熱 ^ 膨服性低的例如花岗岩(gran i te)等的高價物。而且,使用 • 平面度(flat ness)也被加工成極高精度者。而且,藉由各 可動部使用空氣滑件(a i r s丨i der),減少動作時的摩擦阻 力,實現均勻的可動。據此,在雷射刻劃裝置1〇〇中有裝 置成本提咼的問題。而且,即使施以如上述的對策,即使是 點點也會發生偏搖及橫搖,很難實現±5//ιη以下的加工精 度。 φ 這種問題除了雷射刻劃裝置外,一般也適用於例如對 成膜於玻璃基板上的膜進行曝光(exp〇sure)或檢查的裝 置、對玻璃基板進行標記(marking)或切割(cutting)或檢 査等的裝置等’藉由使基板與處理頭相對地移動而對基板 施以一維或二維的規定的處理的裝置。本發明是鑒於這種 情況所進行的創作,目的為提供一種能以低成本的裝置構 成謀求處理精度的提高之基板處理裝置。 上述目的是藉由下述的本發明達成。此外,在本欄([發 ®明内容])中附加於各構成要素的加括號的符號是表示與在 後述的實施形態記載的具體的手段(means)對應的關係。 申請專利範圍第1項的發明是一種基板處理裝置 (1),包含:對基板(K)的面中的任意處施以規定的處理之處 理頭03);使基板(K)與處理頭(73)相對地移動之驅動手段 J (5、74X、7 4Y)’藉由使基板(K)與處理頭(73)相對地移動, . 對基板(K)施以一維或二維的規定的處理,其特徵包含:記 憶為了使前述驅動手段(5、74X、74Y)具有外觀上的玉直進 5 201032934 性的控制資料(D3、D6X、D6Y)之記憶手段(92),伴隨基板 (K)與處理頭(73)的相對的移動,根據前述控制資料(D3、 D6X、D6Y)補正驅動驅動手段(5、7 4X、7 4Y)而構成。 依照申請專利範圍第1項的發明,控制資料(D 3、D 6 X、 D6Y)是為了使驅動手段(5、74X、74Y)具有外觀上的正直進 性的資料,根據該控制資料(D3、D6X、D6Y)補正驅動驅動 手段(5、74X、74Y)。亦即’使用軟體處理補正驅動手段(5、 74X、74Y)之硬體的誤差。據此,驅動手段(5、74X、74Y) _就基板(K)與處理頭(73)的相對移動可具有外觀上的正直 進性。因此’驅動手段(5、74X、74Y)自身不使用精度極高 者’或者支樓驅動手段(5、74X、74Y)的機台不使用剛性高 且熱膨脹性低的例如花崗岩等的高價物,能以低成本的裝 置構成謀求處理精度的提高。 申請專利範圍第2項的發明是包含:具有為了規定基 板00與處理頭(73)的相對的移動的基準方向的基準線 (XL。、YL。)之長條塊體(30X、30Y); —體地配設於處理頭 ® (73),拍攝前述基準線(xl。、yl〇)之攝影手段(77),前述 控制資料(D6X、D6Y)是伴隨長條塊體(30X、30Y)與處理頭 (73)的相對的移動’根據以攝影手段(77)拍攝的前述基準 線(XL。、yl。)的影像資料(image data)求出。 依照申請專利範圍第2項的發明,因控制資料(D6X、 4 D6Y)是伴隨長條塊體(30X、30Y)與處理頭(73)的相對的移 . 動’根據以攝影手段(77)拍攝的前述基準線(xl〇、YL。)的 影像資料(D5X、D5Y)求出,故可節省例如藉由人手計測驅 6 201032934 動手段(7 4X、7 4Y)的機械精度誤差的勞力時間。 申請專利範圍第3項的發明是比較以攝影手段(77)拍 攝的前述基準線(XL〇、YL〇)的影像資料,與透過基板(Κ)與 處理頭(73)的相對移動,處理頭(73)所追蹤的軌跡線 (XJi、Yh)的影像資料,補正驅動驅動手段(74X、74Y), 俾兩者的不一致被消除。 在申請專利範圍第3項的發明中,因實際的驅動手段 (74Χ、74Υ)包含彎曲或偏角,故[透過基板(Κ)與處理頭(73) 參的相對移動,處理頭(73)所追蹤的軌跡線(XJl、YJi)]成為 包含彎曲或偏角。該彎曲或偏角是以基準線(XL 、 0、H〇)為 基準。在申請專利範圍第3項的發明中,藉由比較基準 (XL。、YL。)的影像資料與軌跡線(xl、YJi)的影 線 除,使 正驅動駆動手段(74X、74Y),俾兩者的不一致被、肖 補 驅動手段(7 4X、7 4Y)具有外觀上的正直進性。 【發明的功效】 •一依照本發明’能以低成本的裝置構成謀求 提高之基板處理裝置被提供β 精度的 【實施方式】 以下-邊參照添附圖面,一邊針對本發明 明。圖1是與本發明有關的雷射刻劃裝置^ I施形態說 圖2是顯示雷射刻劃裝置}的主要 之外觀斜視圖, - 〇刀之俯視圖,圖3 201032934 射單元7之斜視圖。在該等各圖中以正交座標系的3轴& X、Y、Z,以玻璃基板K的移送方向為Y方向,以在水平面 正交於Υ方向的方向為X方向,以鉛直方向為Ζ方向,、 繞鉛直軸的旋轉方向為0方向。而且,設圖1的紙面 眼前侧為上游,紙面裏頭側為下游。亦即,在圖 2、圖2 中朝紙面左侧成上游,右侧成下游。而且,需更進—步t 別XY各方向的方向成左右或前後而說明的情形有在最十 頭附加[+ ]或[-]的符號而表示。例如將玻璃基板κ的移送 ❿方向的Υ方向之中刻劃線的形成動作中的移送方向記為 [+Υ方向],將刻劃線的形成動作後的移送方向記為[_γ方 向]等。 而且,圖5是顯示雷射刻劃裝置丨中的控制裝置9與各 種構成部的連接之連接圖’圖6是為了說明本發明的主要 部分之圖,圖7是顯示頭驅動部74及夾持器群驅動部52 的驅動方向的關係之圖,圖8是顯示藉由雷射刻劃裝置i 參 形成有刻劃線的玻璃基板K之三面圖,a圖為俯視圖,b圖 為側視圖,C圖為前視圖。 雷射刻劃裝置1是如下而構成:藉由以規定強度的雷射 光掃描在單面成膜有電路形成用材料Kj(圖8)的玻璃基板 K’形成響應目的的電路圖案之刻劃線。特別是該雷射刻劃 裝置!是在使玻璃基板K中的電路形成用材料旧成膜面 朝下的狀態下進行刻t綠的形成之_。而且 氣 浮起支撐玻璃基板K的狀態下—邊使盆 您便具移動於+Y方向,一 邊形成刻劃線而構成。 201032934 具體上雷射刻劃裝置1如圖1所示,包含:機台2、浮 起平台3、升降機單元(1“1:61_1111丨1:)4、移送單元5、基板 定位裝置6、雷射單元7、集塵單元8及控制裝置9等。而
且,在雷射刻劃裝置1的上游外侧設置有進行坡璃基板K 之搬進搬出浮起平台3的搬進搬出機械手臂(⑶^“叫 ιη/out robot) 1〇。以下針對雷射刻劃裝置i的各構成要素 說明。 、 機台2為支撐雷射刻劃裝置丨的主構成部之支撐體,包 ❹含台座部21及門型框架22。台座部21支撐浮起平台3及 移送單元5等,門型框架22支撐雷射單元7中的雷射照射 頭73及頭驅動部74等。習知的機台2為了確保充分的剛 性及平面精度且最小限度地抑制伴隨溫度變化的變形,以 花崗岩等的石材較佳,惟在本形態中為了謀求裝置成本的 降低’以不銹鋼等的金屬為材質。 自配設有一台。該配置是在上游與下游的各主平台31間用 以保持規定的空間。
等的鼓風機單元(blower unit)33, 浮起平台3是藉由由其表面噴出的空氣浮起支撐成為 刻劃對象的玻璃基板κ之構件,包含主平台31及副平台 © 32。主平台31是在雷射刻劃裝置i内的上游側與下游側^ 連接於具備Μ縮空氣泵 朝上噴出由鼓風機單元 j 201032934 33供給的t定壓力的空氣,藉㈣空氣、浮起支撐玻璃基板 κ喷出的二氣的壓力被設定為成為浮起對象的玻璃基板κ 不會彎曲且被維持穩定的狀態的壓力。在上游側的主平台 31中的一部分的浮起單元311間配設有γ方向塊3〇^ γ 方向塊3 0Y是為了規定γ方向的基準方向的長條塊體,成
長度方向平行於Υ方向而被配設。在其表面中央部,顯示 朝Υ方向的基準方向的直線溝是沿著長度方向形成β γ 方向塊30Y的材質為與不銹鋼比較,熱膨脹係數為一半以 下。例如以精密陶瓷(fine ceramics)等構成較佳。據此, 可減少熱變形造成的直線溝YL。的變形,且可提高基準方 向的可靠度(re liability )。如此,Y方向塊3〇γ是當作針 對Υ方向的高精度的直尺而發揮功能。 副平台32被以在上游與下游的主平台31間,於γ方 向空出規定間隔的狀態下配設2台在又方 起單元-的構成製作。形成於2台的浮起單元 空間部分是當作藉由位於其上方的雷射照射頭73進行刻 劃加工時落下的微粒(particle)(電路形成用材料U的刻 劃屑)的回收孔而發揮功能。針對浮起單元321也與浮起單 元311 —樣,在表面穿設有多數個空氣噴出孔321匕,該等 空氣喷出孔321h朝上喷出由鼓風機單元33供給的規定壓 力的空氣。副平台32如後述般是為了使如下的動作平順且 確實而被配設:藉由玻璃基板K朝+¥方向移動,由利用上 游侧的主平台 平台31進行的 31進行的浮起支撐移動至利用下游側的主 浮起支撐時的動作,以及與其相反,藉由玻 10 201032934 璃基板K朝-γ方向移動,由利用下游侧的主平台31進行 的浮起支撐移動至利用上游侧的主平台31進行的浮起支 撑時的動作。在上游側的主平台3丨中的浮起單元311與上 游側的副平台32中的浮起單元312之間配設有X方向塊 30Χ°Χ方向塊3〇χ是為了規定X方向的基準方向的長條塊 體’成長度方向平行於X方向而被配設。在其表面中央部, 顯示針對X方向的基準方向的直線溝XL。是沿著長度方向 形成。X方向塊30X的材質與Y方向塊30Y —樣例如以精 ⑩密陶瓷等構成較佳。據此,可減少熱變形造成的直線溝XLo 的變形,且可提高基準方向的可靠度。如此,X方向塊30χ 是當作針對X方向的高精度的直尺而發揮功能。 升降機單元4為進行成為刻劃對象的玻璃基板Κ的接 受以及刻劃完了的玻璃基板Κ的傳遞之裝置,包含銷框架 (pin frame)41及框架驅動部42。 銷框架41為依照成為接受及傳遞的對象的玻璃基板κ 的大小之略[日]的字形的框體,如圖2所示包含:平面視各 ⑩自為略[口]的字形的周圍框41a與略[一]的字形的中央框 41b°在周圍框41a複數根頂出銷(liftpin)43彼此各自相 鄰空出規定間隔而被立設。頂出銷4 3為以其尖端部抵接玻 璃基板K中的額緣部Kf(參照圖8)的底面並可支撐該玻璃基 板K之銷構件。該額緣部Kf為在玻璃基板K的外側周圍具 - 有規定寬而形成的區域,為未成膜有電路形成用材料Kj或 . 者即使成膜有電路形成用材料K j,在頂出銷43的尖端部 抵接的情形下也不影響最終製品的區域。 201032934 框架驅動部42為升降驅動鎖框架41於2方向而構成, 例如藉由安農於中央框41b的旋轉滾珠螺桿(γ— _ screw)機構等實現。藉由框架驅動部42驅動銷框架ο使頂 出銷43可選擇地配置於圖3所示的上限位置ρι與下限位 置P2。上限位置?1為在自搬進搬出機械手臂⑽受成為 刻劃加工的對象的玻璃基板κ時,或者將刻劃加工完了的玻 璃基板Κ傳遞至搬進搬出機械手臂1〇時被配置的位置,為 頂出銷43的央端部遠高於浮起平台3的表面的位置。下限 ❺位置Ρ2為在玻璃基板Κ的搬進搬出以外時,例如在刻劃線 的形成時等不使用頂㈣43日夺,使該等頂出銷43退避的 位置,為頂出銷43的尖端部低於浮起平台3的表面的位置。 頂出銷43在接受玻璃基板κ後下降,此時的下降速度 如下般被設定。亦即,設頂出銷43由上限位置ρι移到浮 起面上方位置P3(於下述)時的下降速度為ui,設由浮起面 上方位置P3移到浮起面位置P4 (同樣地於下述)時的下降 速度為U2時,有U2CU1的關係。更佳為u2<U1/2。此外, ❹浮起面上方位置P3為頂出銷43的尖端部比浮起面位置p4 高一些且比上限位置P1低的位置。浮起面位置p4為藉由 自浮起平台3中的空氣噴出口 311]1、32111喷出的空氣使玻 璃基板K被浮起支撐時的高度位置。 移送單元5為在懸臂支撐玻璃基板κ的狀態下可使玻 .璃基板Κ移動於Υ方向而構成的裝置,包含失持器群 • (griPPer group)51與失持器群驅動部52。 夾持器群51為合計4個的夾持器53沿著γ方向各自空 12 201032934 出規定間隔-體地配置成一列狀而成,各夾持器53抓住玻 璃基板κ巾的額緣部Kf 邊並可懸臂支撐該玻璃基板κ 而構成。具體上各夾持器53具有上下—對的可動爪。該可 動爪為根據由控制裝置9傳輸的信號’可在上下方向藉由壓 縮空氣作用等被同步驅動而構成,據此可開閉自如。打開可 動爪是即將抓住玻璃基板Κ中的額緣部Kf的一邊。關閉可 動爪是抓住玻璃基板K中的額緣部Kf的一邊時,或者使各 夾持器53退避時。即將抓住玻璃基板κ以外為了防止手指 鲁的夾入等的安全性確保,基本上可動爪是在關閉的狀態下被 運用。 而且’夾持器群51藉由伺服馬達(serv〇肋·^^)等的驅 動裝置被驅動於X方向,可選擇地配置於圖2所示的保持位 置P5與回避位置P6。保持位置p5為藉由頂出銷43支撐的 玻璃基板K中的額緣部Kf的一邊進入夾持器53的開口區域 的位置《回避位置P6為對上述保持位置P5位於-X方向側, 在不抓住玻璃基板κ時被配置的位置。而且,各夾持器 ®各自獨立並且也可藉由伺服馬達等的驅動裝置被驅動於 z、0各方向。Z方向的驅動主要是在夾持器53的高度補正 時被進行。6>方向的驅動主要是在夾持器53的0方向的 安裝角度補正時被進行。該等補正驅動是在後述的刻劃步驟 S3 〇〇中’夾持器群51在玻璃基板κ被驅動於+Y方向時(步 -驟S310)被使用。 • 夾持器群驅動部52為使上述夾持器群51朝γ方向滑動 驅動自如的裝置,具體上是以在台座部21的一方側沿著γ 201032934 方向s己設的線性 馬達52Y為主要構成。藉由
動作,凌牲38 稚田綠性馬達5 2 Y J 、為群51可選擇地配置於圖2、 位置P7輿往、w 圖3所不的接受 . 、、避位置P8。接受位置p7主户丄 手臂10搬、#& 置P7為在由搬進搬出機械 予臂10搬進的破璃基板W x方向範 含有所有的夾固内(紐邊範圍内)包 待器5 3的位置’位於浮起平a 而且,拣硪& τ〜卞α c{的上游侧。 、避位置Ρ8為為了安全性確俘佶 m m 文玍茳碩保使所有的夾持器53 待避用的位置,位於浮么 其下游側。進行移送玻璃 丞板K的動作時以外為 止于贅的夾入等的安全性確 © 基本上4個夾持器群51被配置於待避位置p8。 土板定位裝置6配設於浮起平台3的上游側中的X方 向兩側,包含··可各自按壓玻璃基板κ中的兩個短邊側的端 面之按壓滾子61 ;驅動按壓滚子61於X方向之氣缸(air cylinder)62。該基板定位裝置6藉由在定位時同時使兩方 的氣缸62伸長,藉由按壓滚子61夾入玻璃基板K中的兩 個短邊側的端面,以進行玻璃基板K的定位。然後定位結束 的話,藉由同時使兩方的氣缸62縮短,使玻璃基板κ離開 φ各按壓滾子61。 雷射單元7為透過對藉由夾持器群51及浮起平台3支 撐且被移送於+Υ方向的玻璃基板Κ由其上方照射、掃描雷 射光b’刻劃成膜於玻璃基板κ的底面的電路形成用材料 K j並形成規定的刻劃線而構成。具體上如圖1、圖4所示包 . 含:雷射振盪器(laser oscillator)71、照射光學系統72、 雷射照射頭73及頭驅動部74等。 雷射振盪器71是發出為了刻劃成膜於玻璃基板κ的電 14 201032934 路形成用材料Kj的雷射光b之光源裝置,例如可使用振盪
波長(oscillation wavelength)355nm〜1064nm、輸出 1〜20W 左右的 Nd-YAG(y ttr i um aluminum gar net:紀銘石權石)雷 射或 Nd-YV〇4(yttrium orthovanadate:飢酸紀)雷射等。 照射光學系統72是將由雷射振盪器71發出的雷射光b 導引到雷射照射頭73而構成,包含:反射鏡722a~722h、擴 束器(beam expander)723 及衰減器(attenuator)724 等。 上述雷射光b藉由配設於由雷射振盪器ή射出的雷射光b ❹的光轴上的機械式快門(mechan i ca 1 shut ter) 721開閉,使 至雷射照射頭73的導光的開關(0n/0ff)被切換。機械式快 門721的開閉是根據由控制裝置9傳輸的信號進行。而且, 上述反射鏡722f〜722h在被收容於盒子(box)76的狀態下, 可藉由線性馬達76X與雷射照射頭73同步被驅動於X方 向’形成光程長補正部。透過藉由這種可動的盒子76將光 學系統的一部分由雷射照射頭73分開’藉由減少如下所示 的雷射照射頭73内的收容物,且減輕其重量,減少成為驅 ❿動源的頭驅動部74的負載。與此同時,可使動作的追蹤性 及響應性良好,使精密的微調整為可能。 雷射照射頭73為將透過照射光學系統72導引的來自雷 盈器?!的雷射光b以垂直光束(vert i ca 1 beam)照射至 玻璃基板1(的®而拔+ θ . 而構成。具體上是由具備成為雷射光b的照 - 射口的雷射照鼾& 7 Q c ^ , 、、射® 735的光學盒體構成,在其内部收容返回 鏡 731 、聚隹沒: • |焦透鏡(focus lens) 732 及聚光鏡 (condenser)733。雷射照射頭73藉由下述的頭驅動部74 201032934 "T在X方向及γ方向各自獨立自在地驅動(行走、停止)。而 且,在雷射照射頭73的側壁安裝有攝影機77。攝影機77 -為具有CCD(Charge Coupled Device:電荷耦合元件)等的攝 影疋件,如圖6所示,可將藉由攝影取得的影像資料D5X、 D5Y輸出到控制裝置9而構成。攝影機77的安裝被設置成 使其攝影方向朝下方的狀態。據此,攝影機77 一邊移動於 X方向,一邊拍攝形成於x方向塊30X的直線溝XL。,將此 時取得的影像資料D5X傳送至控制裝置9。而且,攝影機U ❿一邊移動於Y方向,—邊拍攝形成於γ方向塊術的直線溝 YL° ’將此時取得的影像資料D5Y傳送至控制裝置9。在控制 裝置9中根據影像資料D5X進行補正量資料的算出、記 憶處理。同樣地,根據影像資料D5Y進行補正量資料DM 的算出、記憶處理。其詳細於後述。 頭驅動7 4是以線性馬達7 4 X及線性馬達7 4 Y為主構 成。具體上線性馬達74Χ是在門型框架22的上部沿著其長 度方向(X方向)被安裝。該線性馬達74Χ具有被驅動於χ方 _向的可動台子(未圖示)。線性馬達74Υ是在該可動台子上 沿著γ方向被配設。據此,雷射照射頭73可同時且獨立地 被驅動於X方向纟Υ方向。雷射照射頭73的可動範圍如圖 所示被3又置於_Υ方向的界限位置的初始位置Ρ9與+ γ方 向的界限位置的終端位置Ρ10之間。因雷射照射頭73如上 -述般非常輕量地被製作,故其停止、起動所需的負載小。因 -此,頭驅動部74無須高輸出的驅動源及制動力強的剎車 (brake),可謀求裝置的成本降低。而且,停止、起動時來 16 201032934 自驅動源的發熱少。因此,由於因該發熱的影響使裂置細部 膨脹’發生位置精度的經時變化’成為精度不良的原 少 。 集塵單元8如圖丨所示為回收在藉由位於其上方的雷 射照射頭73進行刻劃加卫時由玻璃基板κ的底面落下的微 粒(電路形成用材料Kj_的刻劃屑)而構成,具體上包含托盤 81及真空室(vacuum chamber)83。托盤81配設於雷射照射 頭73移動於X方向的範圍的下方,透過配管82連接於真空 e室83。藉由這種構成’由於雷射刻劃落下到托盤8i的微粒 透過真空吸引被回收至真空室83内。刻劃動作中為真空室 83基本上一直進行吸引動作。 控制裝置9如圖5所示為各種命令及條件的輸入、響應 該等輸入的運算處理以及根據該運算處理結果之適當的控 制信號輸出至各驅動系統等為可能,俾雷射刻劃裝置丨進行 一連串的刻劃動作而構成。具體上如圖6所示由如下的構件 構成:觸控面板(t〇UCh panei )等的輸入/輸出裝置91;以記 籲憶艎裝置為主體的記憶部92 ;以微處理器為主體的運算處 理部93,與雷射刻劃裝置1中的各驅動系統及搬進搬出機 械手臂ίο進行資料通訊之適當的介面電路(interface circuit)96’包含為了使該等硬體動作的電腦程式之硬碟裝 置95等。運算處理部93如圖6(A)所示,根據藉由攝影機 ‘ 77取入的直線溝YL。的影像資料D5Y算出補正量資料D6Y, 使其記憶於s己憶部92而構成。而且,根據藉由攝影機77 取入的直線溝XL°的影像資料D5X算出補正量資料D6X,使 201032934 其記憶於憶部g 9 而構成。
此處,補JE_ I 重資料D6Y是為了使線性馬達74Y具者AL 觀上的正直進性的仏 有外 的控制資料,亦即’是為了使朝γ方向 雷射照射頭73的叙 义别ϊ力句的 作具有正直進性的控制資料。具體 在雷射照射頭73歛* 竹丹瓶上為 移動於Y方向時其雷射照射窗735所追跑 的軌跡線與直線滏ντ 炎峨 |深屢YL。保持等距離且具有與直線溝YLfl a 貝升更具體為藉由線性馬達74X在X方向每 人極夕量地補正驅動藉由線性馬彡74Y的驅動移動於γ
向的雷射照射頭73的資料。據此,在雷射照射頭73移動 於Υ方向時盆雷私Α 部 τ八由射照射窗735所追蹤的軌跡線變成與亩給 溝仏平行’線性馬達74γ具有外觀上的正直進性。、 而且,補正量資料D6X是為了使線性馬達74χ具有外 觀上的正直進性的控制資料,亦即,是為了使朝X方向的 雷射照射頭73的動作具有正直進性的控制資料。具體上為 在雷射照射頭73移動於X方向時其雷射照射窗735所追蹤 的軌跡線與直線溝XL。保持等距離且具有與直線溝XL。同等 的直進性的資料。更具體為藉由線性馬達74Y在γ方向每 次極少量地補正驅動藉由線性馬達74χ的驅動移動於X方 向的雷射照射頭73的資料。據此,在雷射照射頭73移動 於X方向時其雷射照射窗735所追蹤的軌跡線變成與直線 溝XL。平行’線性馬達74Χ具有外觀上的正直進性。 Φ 補正量資料D6X、D6Y是各自根據基本上藉由攝影機7? 取入的直線溝XL。、YL。的座標值作成。然後被記憶於記憶部 9 2〇 201032934 而且,記憶部92預先記憶如下所示的補正量資料D3。 補正量資料D3是為了使線性馬達52Y具有外觀上的正直進 性的控制資料。具體上為在以夾持器群5丨抓住的玻璃基扳 K移動於Y方向時追蹤的軌跡線與預先定義的γ方向基準 線(實質上與直線溝YL。平行)保持等距離,且具有與該γ 方向基準線同等的直進性的資料。更具體為在χ、Ζ、0各 方向每次極少量地補正驅動藉由線性馬達52γ的驅動移動 於Υ方向的各夾持器53的資料《補正量資料D3是根據如 ⑩下所示的誤差累計資料作成。亦即,誤差累計資料是藉由 人手事刚以雷射測長器或電動比測儀(m u _ c h e c k e r)計測線 性馬達52Y的動作誤差量(位置誤差量、偏搖、橫搖量等), 累計該等的誤差量的資料。根據該補正量資料D3,各夾持 器53被補正驅動’俾玻璃基板κ的移動方向(亦即+γ方向) 成筆直方向。 搬進搬出機械手臂10被以進行玻璃基板Κ對浮起平台 3的搬進搬出的構成製作,如圖1所示包含:吸附手u、臂 ❹(arm)12、真空泵(vacuum pump)13、馬達14及操作板 吸附手11包含在框體15排列成二維狀的複數個吸引墊 16»該等吸引墊16為令各個吸附面在同一平面,據此可在 複數處同時吸附平面體之玻璃基板κ的頂面(非成膜面各 吸引墊16藉由真空泵13的動作而產生吸引壓。然後,吸附 .手11依照來自操作板1 7的命令使馬達丨4被驅動,透過臂 -12在ΧΥΖΘ各方向移動自如地構成。 其次’針對雷射刻劃裝置i的動作說明。 19 201032934 為了製造薄膜太陽電池板的雷射圖案形成製程一般可 大大地分成4個製程。第一製程為刻劃成膜於玻璃基板κ 之上的 TC0 膜(Transparent Conducting Oxide:氧化物透明 導電膜)之製程。第二製程為選擇性地僅刻劃成膜於TC〇膜 之上的非晶矽(amorphous silicon)膜之製程。第三製程為 選擇性地僅刻劃非晶矽膜與成膜於非晶矽膜之上的金屬膜 之製程。第四製程為同時刻劃TC〇膜、非晶矽膜、金屬膜的 全部之製程。在第一製程與第二製程之間,非晶矽的成膜製 ❿程是以別的製程存在,在第二製程與第三製程之間,金屬骐 的成膜製程疋以別的製程存在。此外,關於上述雷射刻劃裝 置1的動作形態,針對第一製程到第四製程的任一個因基本 上疋以共同的動作形態進行刻劃加工,故在以下的說明中是 假叹對應4個製程之中的任一個。亦即成膜於玻璃基板κ 的電路形成用材料Kj·為上述的4個圖案的任一個都可以。 圖9是顯示雷射刻劃裝置1的基本動作的概要及補正 量資料取得步驟S50的動作程序之流程圖,圖1〇是顯示破 鲁璃基板搬進步驟100的動作程序之流程圖,圖11是顯示刻 劃步驟30 0的動作程序之流程圖,圖12是顯示玻璃基板搬 出步驟500的動作程序之流程圖,目i 3是顯示雷射刻劃裝 的基本動作之時序圖(timechart),圖14是顯示刻劃 動作之時序圖。此外’在圖9中A圖是顯示雷射刻劃裝置1 ,的基本動作的概要,3圖是顯示補正量資料取得步驟的動作 '程序而且,在W 13巾針對未意識到動作速度的可變的麵 (可動部)’僅成為開關(〇n/〇ff)的表記,加減速則未表記。 20 201032934 頂出銷43在動作途中動作速度為可變。 如圖9所示,雷射刻劃裝置〗从* 的基本動作县w @ 資料取得步驟S50、玻璃基板搬谁 補正量 掀進步驟S1 〇 〇、刻劏本 S300、玻璃基板搬出步驟S500的順皮4 步綠 各步驟的動作内容隨後說明順序。 ’針對 此外’在以下的說明中雷射刻劃裝置i的初 (initialstate)是設為如下所示(參照圖U的各圖表中二 時間轴的左方)。亦即,由浮起平A q ^ 的 <3 —直吹出浮起空 m 狀態。頂出銷43位於上限位置P1。夾 m 位置(Shunting l〇cati〇n)P8。各夾持器53關閉。基板〜 位裝置6為引入的狀態。成為刻劃對象的玻璃基板κ是= 成膜面朝下承載於台車或托板(pallet)的狀雖。 [S50取得補正量資料] 首先,參照圖6(A)及圖9(B)針對補正量資料取得步驟 S50說明。此處,假設攝影機77與γ方向塊3〇γ的初始對 準(initial alignment)被進行而進行說明。亦即,攝影機 春77被配置於可拍攝γ方向塊30Y中的直線溝YL。的一端的 位置。 線性馬達7 4 Y根據由控制裝置9傳輸的信號驅動雷射照 射頭73於+Y方向(圖9(B)的S53)。據此,被安裝於雷射照 射頭73的側部的攝影機77移動於+ Y方向。攝影機77伴隨 該移動拍攝直線溝YL。,將該影像資料D5Y(參照圖6(A))傳 送到控制裝置9(圖9(B)的S55)。在控制裝置9中運算處理 部93根據傳送的影像資料D5Y算出補正量資料D6Y,使其 201032934 記憶於記憶部92(圖9(B)的S57)。 補正量資料D6Y的真出、記憶一結束,就進行攝影機 77與X方向塊3〇χ的初始對準。亦即,攝影機77被配置於 可拍攝X方向塊30Χ中的直線溝XLfl的一端的位置(圖9(β) 的 S61)。 攝影機77與X方向塊30Χ的初始對準一結束,線性馬 達74Χ就根據由控制裝置9傳輸的信號驅動雷射照射頭 於+Χ方向(圖9(B)的S6 3)。據此,被安裝於雷射照射頭73 ©的側部的攝影機77移動於+Χ方向。攝影機77伴隨該移動 拍攝直線溝XL。’將該影像資料D5X(參照圖6(Α))傳送到控 制裝置9(圖9(B)的S65)。在控制裝置9中運算處理部93 根據傳送的影像資料D5X算出補正量資料D6X,使其記憶於 記憶部92(圖9(B)的S67)。 如以上,記憶於記憶部92的補正量資料D6X在後述的 划畫j步驟S3 0 0被讀丨,在刻劃動作時於雷射照射頭73移 動於X方向時其雷射照射窗735所追蹤的軌跡線Xh與直線 溝XLc成平灯,當作補正驅動雷射照射頭的控制資料被 用與此樣,補正量資料D6Y在後述的刻劃步驟S3〇〇 破讀出’在刻劃動作時於雷射照射頭73移動於γ方向時其 :射照射窗735所追蹤的軌跡線YJi與直線溝YL。成平行, 虽作補正驅動雷射照射頭73的控制資料被使用。 Λ [S1 〇〇搬進玻璃基板] - 其次,參照圖10、圖13針對破璃基板搬進步驟sl〇〇 22 201032934 [s 1〗〇接受玻璃基板(圖1 3的t卜12 ) J 操作者操作搬進搬出機械手臂10並將玻璃基板κ搬進 雷射刻劃裝置1。具體上使用操作板17如下般移動臂12。 首先,使吸附手11來到承載於台車或托板的玻璃基板欠的 上方1接著,使該吸附手1〗下降到玻璃基板“的非成膜 面的高度。接著,藉由吸附手u中的吸附墊16吸附破螭 基板K中的非成膜面的複數處。接著,移動臂12將吸 11吸附保持的玻璃基板κ拿到浮起平台3的上游側位置。 ❹接著,解除利用吸附手心行的吸附保持,沿著附在銷桓 架η的導件(guide)(未圖示),藉由手動將玻璃基板 緣部Π的底面承載於頂出銷43的尖端部。 [S120使夾持器群朝接受位置移動(圖13的t3)] 玻璃基板K -藉由頂出銷43的尖端部支撐,夾持器 “就由待避位置?8朝接受位置P7移動。具體上線性馬: 根據由控制裝置9傳輸的信號驅動夾持器群心 向據此’為了安全確保而待避至待避位置Μ的夾 ❹51被配置於接受位置p7。 ▽两砰 [S130打開夾持器(圖13的t4)] 失持器群51 —祐西? w i丄* t 根據由控制裝置9傳:二 Μ,各炎持器53就 傳輸的彳§號打開關閉的可動爪。 [s“〇使夾持器群朝保持位置移動(圖13的 若各夹持器53在接受位置P7 回避位置P6移到保持位置I具體上夾持器=51由 控制裝置9傳輸的_ % # 、 1根據由 °號破驅動於+X方向’據此,被由回避 23 201032934 位置P6配置於保持位置p5。此時,各夾持器53成為玻璃 基板K中的額緣部Kf的一邊進入各自的上下的可動爪間的 空間的狀態。 [S150使頂出銷下降(圖 打開可動爪的夾持器群51 —被配置於保持位置P5,頂 出銷43就下降。據此,玻璃基板κ 一邊藉由浮起平台3空 氣支撐’一邊下降到浮起面位置P4。具體上框架驅動部42 根據由控制裝置9傳輸的信號下降驅動銷框架41。該下降 φ 驅動是如下進行。亦即,首先頂出銷43在支撐玻璃基板K 的狀態下以速度U1由上限位置P1下降到浮起面上方位置 P3(圖13的t6~t7)。在玻璃基板K以速度U1下降到浮起面 上方位置P3後是以速度U2(<U1)下降到浮起面位置P4(圖 13的t7~t8)。如此,在使玻璃基板κ下降時使用兩階段的 速度,如U2<U1般在浮起面位置P4的附近以低速是為了防 止因在浮起平台3的正上方的急遽的下降,使浮起平台3 與玻璃基板K接觸。頂出銷43以速度U2下降後成為浮起 φ 面位置P4,若玻璃基板K在浮起面位置P4被浮起支樓, 則頂出銷43 —時停止(圖13的t8〜tl2)。在該階段玻璃基 板K藉由頂出銷43與由浮起平台3噴出的空氣支撐。 [S160玻璃基板的定位(圖13的t9)] 透過玻璃基板K 一藉由頂出銷43與空氣支撲,基板定 . 位裝置6就根據由控制裝置9傳輸的信號使氣缸6 2伸長, . 按壓滾子61按壓玻璃基板K的兩端面,使玻璃基板κ被配 置於預先決定的位置。 24 201032934 [S170關閉夾持器(圖13的tlO)] 玻璃基板K的定位一被進行’根據由控制裝置9傳輸 的信號各夾持器53就關閉,抓住玻璃基板κ中的額緣部Kf 的一邊。在該階段玻璃基板K藉由夾持器53與頂出銷43 與空氣支撐。 [S180使基板定位裝置後退(圖丨3的u 1)] 夾持器53 —抓住玻璃基板κ中的額緣部Kf的一邊,基 板定位裝置6就根據由控制裝置9傳輸的信號使氣缸62縮 短’使按壓滾子61後退。 φ [S190使頂出銷更下降(圖13的U2、U3)] 基板定位裝置6 —後退,框架驅動部42就根捸由栌制 裝置9傳輸的信號更下降驅動銷框架41。此時,破瑪基板κ 藉由空氣支撐。頂出銷43離開玻璃基板κ,下降到下限位 置P2·»在該階段玻璃基板κ為額緣部的一邊藉由夹持器 53保持,成膜面的全面藉由空氣浮起支撐。如以上,破璃 基板K被搬進,形成刻劃線的準備齊全。 参 [S300刻劃] 接著,參照圖6(B)、圖7、圖u、圖14針對刻劃步 踢S300說明。此外,假設雷射照射頭73中的雷射照射窗 735與第一個刻劃開始端LS1的對準被進行而說明。 [S310〜S345第一條刻劃線的形成(圖“的 線性馬達52Y根據由控制袋置9傳輸的信號,成為νι 的一定速度而驅動夾持器群51於+¥方向(圖u的S31〇、圖 14的wi、w4)。此時,各夾持器53根據記憶於控制裝 25 201032934 中的記憶部92的補正量資料D3被補正驅動,俾玻璃基板κ 的移動方向(亦即+γ方向)成筆直方向。據此,玻璃基板κ 在+ Υ方向以VI的一定速度行走於筆直方向。線性馬達74Υ 根據由控制裝置9傳輸的信號,成為VI的一定速度而驅動 雷射照射頭73於+ Υ方向(圖11的S320、圖1 4的w2、w5)。 據此,玻璃基板K與雷射照射頭73的相對速度變成〇,雷 射照射頭73為對玻璃基板K外觀上靜止。與此同時,藉由 線性馬達74X根據記憶於控制裝置9中的記憶部92的補正 ❸量資料D6Y ’在X方向每次極少量地補正驅動雷射照射頭 73,確保就Y方向的雷射照射頭73的正直進性。機械式快 門7 21根據由控制裝置9傳輪的信號而打開(圖11的 S325)。線性馬達74X根據由控制裝置9傳輸的信號,成為 V2的一定速度而驅動雷射照射頭73於+χ方向(圖u的 S330、圖14的w3、w6)。與此同時,藉由線性馬達74γ根 據記憶於控制裝置9中的記憶部92的補正量資料D6X,在γ 方向每次極少量地補正驅動雷射照射頭73,確保就X方向 參的雷射照射頭73的正直進性。該驅動是由雷射照射窗735 照射的雷射光b從第一刻劃開始端Ls丨(參照圖8)移動到第 —刻劃結束端LE1而進行(圖n的S33〇、圖14的w5—讲7)。 藉由以上的動作,由雷射照射窗735照射的雷射光b 為一邊維持玻璃基板K移動於+γ方向的狀態,一邊從第一 .刻劃開始端LS1到第-刻劃結束端⑴移動於玻璃基板κ '上俾成平行於直線溝XL°(圖6(B)、圖11的S330、圖14 的w6、W8)。亦即,雷射光b所追縱的軌跡變成平行於直線 26 201032934 溝XL。。藉由該雷射光b透過玻璃基板κ的透明玻璃(圖 8),刻劃成膜於底面的電路形成用材料Kj,形成平行於直 線溝XLn的第一條刻劃線L1。此時所產生的微粒落下到托盤 81,藉由真空吸引被回收到真空室83内。在形成有第一條 刻劃線L1的時間點,機械式快門721根據由控制裝置9傳 輸的信號而關閉(圖11的S345)。 [S350使雷射照射頭返回初始位置(圖14的W7ii2)] 機械式快門721關閉,並且線性馬達74γ根據由控制裝 ❹置9傳輸的信Μ*,透過如下的要領驅動雷射照射帛73於—γ 方向(圖14的w7〜w12)。亦即,第一條刻劃線U的形成結 束後到t = Q/Vl的時間經過為止,使雷射照射頭73返回原來
的初始位置P9。該動作的目的如下所示。亦即,玻璃基板K 不會靜止而是以VI的—令、*亦必紅从丨 疋速度移動於+Y方向。此處,因在 玻璃基板K的短邊方向相鄰的刻劃線彼此的間距(pitch)間 隔為Q (參照圖8 ),故笛 /ic ^-1 *1 Αώ 故第一條刻劃線L1的形成結束後在 t = Q/Vl的經過後,雷鉍Μ a 雷射照射囪7 3 5位於第二個刻劃開始端 ©LS2的上方。到此為止,组山森Αι 1止’藉由使雷射照射頭73返回原來的 初始位置P9,用以確保户也』、μ ^ ’保在形成第二條刻劃線L2時(圖14的 wl6—wl8),雷射照勒5?5 Λ 、射頭73為了朝+γ方向移動的衝程 (stroke) ° [S360~S385 第-欲二 乐一條刻劃線的形成(圖14的wl4〜w21)] 玻璃基板K為以VI Μ _ ± . . 1的一疋速度行走於+Υ方向的狀態。 線性馬達7 4 Υ根據由控制駐里。h • 徑制裝置9傳輸的信號,成為V1的一 定速度而驅動雷射照射頭 項73於+Y方向(圖Η的S360、圖 27 201032934 14的wl3—wl5)。據此,與第一條刻劃線u的形成時一樣, 玻璃基板K與雷射照射頭73的相對速度變成〇,雷射照射 頭73為對玻璃基板κ外觀上靜止。與此同時,藉由線性馬 達74X根據記憶於控制裝置9中的記憶部92的補正量資料 D6Y ’在X方向每次極少量地補正驅動雷射照射頭73,確保 就Y方向的雷射照射頭73的正直進性。機械式快門?21根 據由控制裝置9傳輸的信號而打開(圖11的S365)。線性焉 達74X根據由控制裝置9傳輸的信號’成為v2的一定速度 ❿而驅動雷射照射頭73於-X方向(圖^的337〇、圖u的冒14 —wl 6)。與此同時’藉由線性馬達74Y根據記憶於控制裝置 9中的記憶部92的補正量資料D6X,在Y方向每次極少量 地補正驅動雷射照射頭73,確保就X方向的雷射照射頭73 的正直進性。以V2的一定速度的驅動是由雷射照射窗735 照射的雷射光b從第二刻劃開始端LS2移動到第二刻劃結束 端LE2而進行。 藉由以上的動作,由雷射照射窗735照射的雷射光b φ 為一邊維持玻璃基板κ移動於+γ方向的狀態,一邊從第二 刻劃開始端LS2到第二刻劃結束端LE2移動於玻璃基板κ 上’俾成平行於直線溝XL。(圖11的S370、圖14的wl6、 wl8)。藉由該雷射光b透過玻璃基板κ的透明玻璃Kt(參照 圖8),刻劃成膜於底面的電路形成用材料Kj,形成平行於 - 第一條刻劃線L1的第二條刻劃線L2。此時所產生的微粒與 . 第一條刻劃線L1的形成時一樣落下到托盤81 ’藉由真空吸 引被回收到真空室83内。在形成有第二條刻劃線L2的時間 28 201032934 7 21根據由控制裝 置9傳輸的信號而關閉(圖 點,機械式快門 11 的 S385)。 回初始位置(圖 14的 [S39"吏雷射照射頭返 wl7~w22)] 機械式快門7 2 ] μ ^ ^ , 1關閉,並且線性馬達74Y根據由控制裝 置9傳輸的信號,读、+ 思過與剛形成第一條刻劃線L1後一樣的 要領驅動雷射照射頭μ v # («3於-γ方向(圖14的w17〜w22)。 即,第二條刻劃線从,
❹ 的形成結束後到t = Q / V1的時間經過, 使雷射照射頭73返θ思七 w原來的初始位置Ρ 9。據此,可確保在 形成第三條刻劃線^時(圖“的w28),雷 73為了朝+Y方向移動的衝程。 [S 4 0 0 第三你 ,、,μ 一#以後的刻劃線以後的刻劃線的形成] 之後針對第—條以後的刻劃線也藉由與第一條或第二 條一樣的要領,一邊維持使玻璃基板Κ朝+Y方向移動的狀 態,一邊不使其靜止而使雷射光b朝+χ方向或-X方向移動 並形成刻劃線。與此同時,藉由線性馬達74Χ根據記憶於控 制裝置9中的記憶部92的補正量資料D6Y在χ方向每次 極少量地補正驅動雷射照射頭73,確保就γ方向的雷射照 射頭73的正直進性。而且’藉由線性馬達74γ根據記憶於 控制裝置9中的記憶部92的補正量資料Μχ,在γ方向每 次極少量地補正驅動雷射照射頭73,確保就χ方向的雷射 照射頭73的正直進性。此外,表示線性馬達52γ為γι輛, 表不線性馬達74Y為Y2轴,表示線性馬達74Χ為χι軸時的 各轴的位置關係及動作關係如圖7所示。 201032934 …此處,藉由破璃基板κ移動於〇方向使玻璃基板κ的 浮起支撐由上游的主平台31移到下游的主平台31時,因 二氣也由剎平台32吹出’故在回收孔部(托盤^的上方) 玻璃基板κ大大地彎曲被防止。據此破璃基板κ的行進方 向端部碰觸下游的主平台31的端部等被防止,玻璃基板Κ 之由上游的主平台31換乘到下游的主平台3"皮平順且確 實地進行。此外,在後述的步驟S51() t使玻璃基板κ移動 於-Υ方向時也具有與此相同的效果。 參 乂上不會停止玻璃基板κ而一邊使其移動於+Υ方 向,-邊形成有預定條數的刻劃線的話(在圖心㈣為 YES),線性馬達52Υ根據由控制验罢 佩田衩制裝置9傳輪的信號使夾持器 群51之驅動於+ γ方向停止(圖〇 甲止C圖11的S410、圖13的tl6、 11 7 ) 〇 依照雷射刻劃裝置1,控劍鞋 衩制裝置9比較藉由攝影機77 移動於X方向而拍攝的直線溝XL。的影像資料,與 射照射頭73實際的移動所追蹤的攝影中心線轉4 15(A))的資料,控制線性馬達 爹*、、、圖 4 Y 俾兩者的不一致被洁 除。據此,可使線性馬達1 士 w m 運具有外觀上的正直進性。 此,線性馬達74X自身不使用精 •^極阿的南價物,或者嫌 台2不使用剛性咼且熱膨脹 有機 脹性低的例如花尚岩等的高僧 物,能以低成本的裝置構成謀七老 ^價 得成謀求處理精度的提高。針對線 性馬達74Y也一樣,此情形,v 士人 町耵踝 万向的軌跡線在以攝影播 77得到的影像資料中成為γ方 僻唇機 、、 万向的攝影中心線Yh(參昭_ 15(A))。 、爹‘、、、圖 201032934 而且’補正量資料D6X、D6Y是各自根據以攝影機77
拍攝X方向塊30X、Y方向塊30Y時的影像資料D5X、D5Y 求出。如此’因直線溝XL()的資料被自動地取得,故可節 省例如藉由人手計測線性馬達74χ、74γ的機械精度誤差的 勞力時間。 針對以上的補正驅動參照圖1 5更具體地說明。設所形 成的1條刻劃線的長度為w,設形成該刻劃線所需的時間為 t’ ’則如下的關係式成立。 t’ =W/V2 。 如圖15(A)所示,在以攝影機77取入的影像資料 中’ sx直線溝XL。對攝影機77中的攝影中心線xj!在末端 具有A Y的偏移。這種狀態是在例如線性馬達74χ因機械 的安裝或熱膨脹等的因素由直線溝XL。偏移的情形下發 生。因此,藉由補正量D6X如下對線性馬達74γ進行動作 控制。亦即,一邊藉由線性馬達74Υ在γ方向進行補正, 一邊藉由線性馬達74χ以V2使其移動於X方向。具趙上由 參朝Υ方向的移動速度VlaAY/t,當作補正量減去。亦即, 朝γ方向的雷射照射頭73的速度是以僅被減去△ Pt,= △ Y.V2/W的速度當作n而移動。據此,如圖15(b)所示, 雷射光b的移動方向藉由自χ方向傾斜的補正前速度與γ 方向的補正速度被合成,變成平行於成為χ方向的基準線 的直線溝XL〇。 說明。 接著,參照圖12、圖13針對玻璃基板搬出步驟S5〇〇 201032934 [S510使玻璃基板返回接受位置(圖13的 刻劃線的形成一結束,線性馬達52γ就根據由控制裝置 9傳輸的信號驅動夾持器群51於_γ方向。據此,位於下游 的玻璃基板κ 一邊朝-γ方向移動,一邊返回接受位置μ❶ 因在玻璃基板Κ朝-Υ方向移動時,由利用下游側的主平△ 31進行的浮起支撐移動至利用上游側的主平台3ι進行S 浮起支撐時是藉由由副平台32喷出的空氣,使玻璃基板κ 被支撐,故即使是回收孔部,移動動作也平順且確實。
[S520使頂出銷上升(圖13的 抓住玻璃基板κ的夾持器群51 一返回接受位置p7, 框架驅動部42就根據由控制裝置9傳輸的信號上升驅動銷 框架41至浮起面位置P4。據此,頂出銷43由下限位置 上升,其尖端部抵接玻璃基板κ中的額緣部Kf的底面。在 該階段玻璃基板K藉由夾持器53與頂出銷43與空氣支撐。 [S530打開夾持器(圖13的t2〇)] 若頂出銷43上升’其尖端部抵接玻璃基板κ中的額緣 部Kf的底面,則各夾持器53根據由控制裝置9傳輸的信號 打開關閉的可動爪’鬆開玻璃基板K ^在該階段玻璃基板κ 藉由頂出銷43與空氣支撐。 [S540夾持器群於回避位置(圖13的t21)] 各失持器53 —鬆開玻璃基板κ,夾持器群51就根據由 控制裝置9傳輸的信號被驅動於_χ方向。據此,夾持器群 51由保持位置p 5移到回避位置p 6。 [S550僅藉由頂出銷支撐玻璃基板(圖13的t22、t23)] 32 201032934 夾持器群51 —移到回避位 避4置P6’框架驅動部42就根 據由控制裝置9傳輸的信號上升 现开艇動銷框架41。據此’頂 出銷43在其尖端部抵接玻璃農杯 、, 坂埽基板K中的額緣部Kf的底面的 狀態下由浮起面位置P4上并$ 上升至上限位置P1。在該階段玻璃 基板K變成完全由浮起面位置 、囬伹置P4升起,僅藉由頂出銷43 支撐的狀態。 [S56〇夾持器群於待避位置(圖13的t24、t25)] 玻璃基板K -成為上限位置p卜線性馬達52γ就根據 ©由控制裝置9傳輸的信號驅動夾持器群51於+丫方向。據 此,夾持器群51由接受位置Ρ7移到待避位置ρ8。然後, 各夾持器53根據由控制裝置9傳輸的信號關閉打開的可動 爪。 [S5 70傳遞玻璃基板(圖13的t26、t27)] 夾持器群51 —移到待避位置P8,操作者就操作搬進搬 出機械手臂ίο,由雷射刻劃裝置!將僅藉由頂出銷43支撐 的玻璃基板κ傳遞到台車或托板。具體上首先操作臂12, Φ配置吸附手1 1到被頂出銷43支撐的玻璃基板κ的上方。 接著,使該吸附手U下降到玻璃基板κ中的非成膜面的高 度。接著,以吸附手U吸附玻璃基板Κ中的非成膜面的複 數處。接著操作臂1 2,將吸附手11吸附保持的破璃基板κ 拿到台車或托板的位置。接著,解除利用吸附手丨丨進行的 吸附保持,以手動將玻璃基板Κ搬出到台車或托板。 以上雖然是針對本發明的實施形態進行說明,惟以上所 揭示的實施形態只不過是舉例說明’本發明的範圍不是被限 33 201032934 定於該實施的形態。本發明的範圍是藉由申請專利範圍的記 ’ 載而顯示,更企圖包含與_請專利範圍均等的意義及在範圍 .内的所有的變更。亦即’雷射刻劃裝4 !的全體或一部分 的構故、形狀、尺寸、材質、個數等可依照本發明的旨趣 進:種種的變更。而且,在本實施形態中雖然基板處理裝 置疋以雷射刻劃裝置’惟也能適用於雷射刻劃裝置以外, 幻如對成膜於破璃基板上的膜進行曝光或檢查的裝置、對 玻璃基板進行標記或切割或檢查等的裝置等。檢查裝置的 ®情形為處理頭變成檢查用的攝影機。 在上述的實施形態中針對雷射照射頭73朝χ、γ方向 移動時的補正方式’也能當作與移送單元5中的失持器Μ 朝Υ方向移動時的補正方式一樣的方式。亦即,藉由人 事前以雷射測長器或電動比測儀計測與刻劃的動作一致手 雷射照射頭73的動作誤差量(位置誤差量、偏搖、橫搖= 等)’根據該誤差累計資料進行補正,俾雷射照射 筆直方向(就Χ、γ各方向)也可以。 73成 « 【圖式簡單説明】 圖1是與本發明有關的雷射刻劃裝置之外觀斜 W視圓。 圖2是顯示雷射刻劃裝置的主要部分之俯視圖。 囷3是顯示雷射刻劃裝置的主要部分之前梘圖。 圖4是顯示雷射單元之斜視圖。 各種構成部 圖5是顯示雷射刻劃裝置中的控制裝置與 的連接之連接圖。 34 201032934 圖6是i 1 义馬了說明本發明的主要部分之圖。 囷7县as _ %顯不頭驅動部及夹持器群驅動部的驅動方向的 關係之圖。
圖 8 ·§及E 疋顯示藉由雷射刻劃裝置形成有刻劃線的玻璃基 板之三面圖。 圖 9县_ 資#示雷射刻劃裝置的基本動作的概要及補正量 貞料取得步驄 驟的動作程序之流程圖。 圖10是顯示玻璃基板搬進步 圖11异鹿,士 卞鄉的動作程序之流程圖。 是顯不刻劃步驟的動作 圖12是翻吁之流程圖。 顯不玻璃基板搬出步驟的 圖13是顯示雷射刻劃裴置 、動作程序之流程圖。 圖 圖1 4是顯示刻劃動作之時序圖動作之時序 圖15是為了說明本發明的原理i 圖16是顯示習知的雷射刻劃裝置圖。 之構成概要圖 參 主要元件符號說明】 1、Wo:雷射刻劃裝置 機台 浮起平台 升降機單元 移送單元 基板定位裝置 雷射單元 :集塵單元 35 7 201032934 9、9A:控制裝置 10:搬進搬出機械手臂 11 :吸附手 12:臂 13:真空泵 1 4 :馬達 1 5 :框體 1 6 :吸引墊 φ 1 7 :操作 2 1 :台座部 2 2 :門型框架 30X:X方向塊 30Y: Y方向塊 31 :主平台 32:副平台 3 3 :鼓風機單元 _ 41 :銷框架 41 a :周圍框 41 b :中央框 42 :框架驅動部 43:頂出銷 51 :夾持器群 > 52:夾持器群驅動部 76X:線性馬達 52Y、52YA 、74X、74XA、74Y、74YA、 36 201032934 53、53A:夾持器 61 :按壓滾子 6 2 :氣缸 71 :雷射振盪器 72:照射光學系統 73、73A:雷射照射頭 7 4 :頭驅動部 76:盒子 φ 77:攝影機 81 :托盤 82:配管 83:真空室 91:輸入/輸出裝置 9 2 :記憶部(記憶手段) 93:運算處理部(算出手段) 95:硬碟裝置 φ 96 :介面電路 311 :浮起單元 311h、321h:空氣喷出孔 321 :浮起單元 721 :機械式快門 . 722a〜722h:反射鏡 723:擴束器 7 2 4 :衰減器 37 201032934 7 31 :返回鏡 7 32·.聚焦透鏡 733 :聚光鏡 735 :雷射照射窗 b :雷射光 D1 :影像資料 D3:補正量資料 D5X、D5Y:影像資料 φ D6X、D6Y:補正量資料 K :玻璃基板 K f :玻璃基板K的額緣部 K j :電路形成用材料 L1 :第一條刻劃線 L1’ ·.刻劃線 L2 :第二條刻劃線 L3 :第三條刻劃線 _ LAI、LA2:刻劃線 P1 :上限位置 P2:下限位置 P3:浮起面上方位置 P4 :浮起面位置 P 5 :保持位置 P 6 :回避位置 P7:接受位置 38 201032934 P8 :待避位置 P 9 :初始位置 P1 0 :終端位置 XL。:直線溝(基準線) X J 1 :攝影中心線(軌跡線) YL。:直線溝(基準線) Y J!:攝影中心線(軌跡線)
39
Claims (1)
- 201032934 七、申請專利範圍: 1 種基板處理裳置’包含.ff其搞的A丄 JL. ^ ^ ^ 對基板的面中的任意處 施乂規定的處理之處理頭;使基板 雕勣丰恐 ^ L 丹处炫項相對地移動之 驅動手段,藉由使基板與處理 -維或二維的規定的處理,對地移動,對基板施以 其特徵包含:記憶為了使該驅動手段且 直進性的控制資料之記憶手段, 觀上的正 ❺ 正驅==與處理頭的相對的移動’根據該控制資料補 正驅動驅動手段而構成。 2、如申請專利範圍第1項之基板處理装置,其中包含· 具有為了規定基板與處理頭的相對的移動 的基準線之長條塊體;以及 ,° 一體地配設於處理頭,拍攝該基準線之攝影手段, 該控制資料是伴隨長條塊體與處理頭的相對的=動 根據以攝影手段拍攝的該基準線的影像資料求出。 3、如申請專利範圍第2項之基板處理裝 Φ、比 以攝影手段拍攝的該基準線的影像資料,與 rg _g 板與處 頌的相對移動,處理頭所追蹤的軌跡線的影像資料,、 正驅動驅動手段,俾兩者的不一致被消除。 40
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009012494A JP2010167458A (ja) | 2009-01-23 | 2009-01-23 | 基板処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201032934A true TW201032934A (en) | 2010-09-16 |
Family
ID=42700082
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW098145094A TW201032934A (en) | 2009-01-23 | 2009-12-25 | Substrate processing equipment |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010167458A (zh) |
KR (1) | KR20100086944A (zh) |
TW (1) | TW201032934A (zh) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI458587B (zh) * | 2012-01-17 | 2014-11-01 | Chin Yen Wang | 位置校正裝置 |
JP5926592B2 (ja) * | 2012-03-27 | 2016-05-25 | 川崎重工業株式会社 | パターニング用レーザ加工装置 |
JP6255595B2 (ja) | 2012-10-12 | 2018-01-10 | 株式会社Ihi | 割断装置 |
JP2014124757A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd | 加工装置 |
JP6269876B2 (ja) * | 2017-03-16 | 2018-01-31 | 株式会社Ihi | 割断装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003223213A (ja) * | 2002-01-31 | 2003-08-08 | Nippei Toyama Corp | ティーチング方法及びその装置並びにティーチング装置を備えたレーザ加工機 |
JP2007034168A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Fujifilm Holdings Corp | ステージ位置変動情報取得方法および装置 |
-
2009
- 2009-01-23 JP JP2009012494A patent/JP2010167458A/ja active Pending
- 2009-12-25 TW TW098145094A patent/TW201032934A/zh unknown
-
2010
- 2010-01-20 KR KR1020100005013A patent/KR20100086944A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20100086944A (ko) | 2010-08-02 |
JP2010167458A (ja) | 2010-08-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW201032934A (en) | Substrate processing equipment | |
KR100848854B1 (ko) | 취성기판의 스크라이빙 장치 및 그 방법 | |
EP2272617A1 (en) | Beam processing apparatus, beam processing method, and beam processing substrate | |
TW201032931A (en) | Laser patterning method and laser patterning device | |
JP2010155258A (ja) | 基板処理装置 | |
CN101889199A (zh) | 玻璃基板检查装置及玻璃基板检查方法 | |
TWI619664B (zh) | 剝離起點製作裝置及方法 | |
CN101666957A (zh) | 拍摄装置中的自动焦点调整方法 | |
TWI285728B (en) | Substrate measuring apparatus | |
JP5301363B2 (ja) | 貼合装置及び貼合方法 | |
TW200927352A (en) | Laser processing apparatus and laser processing method | |
CN111721205A (zh) | 非接触式尺寸检测设备 | |
JPH097968A (ja) | レーザ光照射方法及びレーザ光照射装置 | |
JP5164363B2 (ja) | 半導体ウエーハの製造方法 | |
US9636824B2 (en) | Transfer system | |
TW200937071A (en) | Laser transfer device | |
JP4713287B2 (ja) | 電子部品の実装装置及び実装方法 | |
JP4544761B2 (ja) | プロキシミティギャップ制御方法、プロキシミティギャップ制御装置及びプロキシミティ露光装置 | |
JP2010157640A (ja) | 基板受渡し装置およびその方法 | |
CN201359599Y (zh) | 光罩检测设备 | |
JP2010282100A (ja) | カメラ設置位置検出装置及び検出方法並びにカメラ設置位置検出用治具 | |
JP2003133797A (ja) | 部品装着装置 | |
TWI322260B (en) | Image pickup apparatus equipped with a microscope and size measuring apparatus | |
JP2021138599A (ja) | レーザスクライブ装置用補間機構及び補間機構が適用されたスクライブ装置 | |
JP5473793B2 (ja) | プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置のギャップ制御方法 |