TW201013323A - Peripheral exposure device and peripheral exposure method - Google Patents

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TW201013323A
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exposure
unit
peripheral
substrate
exposure unit
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TW097148162A
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Shimizu Masaki
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Orc Mfg Co Ltd
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Description

201013323 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 _ 本發明有關在基板的圖案區域的周邊區域照射含有紫 外線的光來進行周邊曝光的周邊曝光裝置。 【先前技術】 利用曝光裝置對大型基板的圖案進行曝光處理之後, 需要預先對存在於圖案區域周邊的周邊區域上的不需要的 光阻劑墨液(以下稱光阻劑)進行曝光,使其不會成為其 後工序的障礙《在專利文獻!(曰本特許第3211〇79號公 報)中,使可調節照射光的開口部的光源裝置在基板周圍 -旋轉來進行周邊曝光。該周邊曝光裝置不旋轉基板,而是 -通過光源裝置在基板周圍旋轉並調節照射光的開口部來均 勻地對周邊進行曝光。 疋見有的周邊曝光裝置存在如下所示的問題點。 ❸s有的周邊曝光裝置利用觀察裝置將形成在基板上的識別 。己號作為標>^而進行識別,並根據該標記的資訊而對準基 板來進行周邊曝光的準備。具體地,為了獲取正確的基板 位置資訊’觀察裝置對整個基板進行掃描,並對整個基板 的旋轉方向、以及χ、γ方向的位置進行修整。因此,隨著 基板的大型化,辟埋丨、7 Τ Η0 β« sr . 使仵以下問碭更加顯者:觀察裝置對基板 整體的掃#田時間、承載著基板的台座的整合動作時間等的 對準工序所需的時間變長,整個周邊曝光工序的處理時間
2244-10206-PF 201013323 , 另外’圖案區域和周邊區域的界限是被嚴格規定的, 且該界限為imm以下。周邊曝光裝置需要確保該界限來防 止圖案區域的二次曝光。在以G8系列用的液晶基板為物件 的曝光裝置中’基板的典型尺寸為21 6 0麗><2 400mm,厚度 為〇_ 7mm,且正在向大尺寸發展。該基板將長邊中的一邊 作為第1基準邊,用作從玻璃製作到形成各圖案後分離到 各面板上為止的基準,且將正交於該基準邊的邊作為第2 φ 基準邊。雖然可以確保該第1基準邊及第2基準邊的直線 性,但是無法確保與這些基準邊對向的邊的直線性。從而, 現有的周邊曝光裝置還存在進行對向邊的周邊曝光處理時 •不能確保界限的問題。即,現有的周邊曝光裝置還存在如 . 下問題:由於基板的移動和曝光用光源的移動不是根據一 _個資訊源、’因Λ基板的基準邊的周料光區域不平行於第 2列以後的周邊曝光區域,並且在極端的情況下周邊曝光 的光線會侵入圖案區域。從而,需要確保基準邊的周邊曝 © *區域平行於第2列以後的周邊曝光區域。 【發明内容】 本發明是鐾於上述問題點而進行,提供簡化對準工 序,且能夠正確地確保平行於基準邊的周邊曝光區域的周 邊曝光裝置及周邊曝光方法。 作為解決課題的手段,第 用紫外光對形成於回路圖案區 光的周邊曝光裝置,該回路圖 1觀點的周邊曝光裝置是利 域的周圍的周邊區域進行曝 案區域形成在矩形基板上。
2244-10206-PF 201013323 ==裝置包!··保持矩形基板的曝光台;設置在矩 單元上方’從照射口向周邊區域照射紫外光的曝光 在曝光1方向驅動曝光台和曝光單元的驅動部;配置 =二檢測矩形基板的—邊的邊緣而算出基板與第 的算出4 2的傾斜度算出元件;基於傾斜度算出元件 == 矩形基板正交的垂線方向為基準旋轉基 參 ❷ 邊巴域门^後’由傾斜度算出元件檢測出邊緣而特定周 =:同時利用驅動部相對驅動曝光台和曝光單元,並 吏兔外先與邊緣平行地從曝光單元照射的控制部。 行,可控制向第一方向移動的一邊相對于基板成平 :從而由曝光單元照射的紫外光可以 適當的照射範圍。 Τ订也”、、射 f 2觀點的周邊曝光裝置的曝光單^裝在托架上, 仲/托架在曝光台的上方沿著與第i方向交又的第2方向延 中’且曝光單70可以在托架上沿第2方向移動。 第3觀點的周邊曝光裝置的傾斜度算出元件具有在第 1方向互相隔開的第i位置檢測器及第2位置檢測器。 曝光點的周邊曝光裝置’在第3觀點所記載的周邊 曝=置中,曝光單元包含配置在第2方向的第】曝光單 ==單元。第1曝光單元上安裝有第1位置檢測 =第2位置檢測m曝光單元和第2曝光單元基於 第1位置檢測器的檢測結果而照射紫外光。 第5觀點的周邊曝光方法是斧有照射紫外光的曝光單 凡’且利用紫外光對形成於回路圖案區域的周圍的周邊區
2244-10206-PF 7 201013323 •域進行曝光的周邊曝光方法,該回路圖案區域形成在矩形 • 基板上。該方法包含:將矩形基板保持在曝光臺上的保持 工序,利用设置在曝光單元上的位置檢測器檢測矩形基板 的邊的邊緣而算出基板自第1方向的傾斜度的傾斜度算 出工序,基於傾斜度算出結果而旋轉基板或曝光單元的旋 轉工序;向第1方向相對地驅動曝光單元和曝光台的驅動 工序,利用傾斜度算出元件檢測邊緣而特定周邊區域,同 φ 時與邊緣平行地從曝光單元照射紫外光的照射工序。 第6觀點的周邊曝光方法,曝光單元包含第丨曝光單 元和第2曝光單元,且第!曝光單元及第2曝光單元安裝 在托架上,該托架在曝光台的上方沿著與第1方向交叉的 第2方向延伸。在保持工序之後,第1曝光單元及第2曝 光單元移動至矩形基板的周邊曝光區域上。 第7觀點的周邊曝光方法,在第5觀點及第6觀點所 記載的周邊曝光方法中’位置檢測器由在帛i方向上互相 參隔開的第1位置檢測器及第2位置檢測器構成,且根據第 1位置檢測器及第2位置檢測器檢測矩形基板的一邊的邊 緣。 第8觀點的周邊曝光方法,在第7觀點所記載的周邊 曝光方法中,驅動工序由第丨位置檢測器或第2位置檢測 器確認矩形基板的邊緣之後,相對驅動曝光單元和曝光台。 第9觀點的周邊曝光方法,在第5觀點至第8觀點所 記載的周邊曝光方法中,驅動工程向第1方向相對驅動曝 光單元和曝光台之後,旋轉矩形基板或曝光單元,再向第
2244- 10206-PF 8 201013323 1方向驅動曝光單元和曝光台。 【實施方式】 〈周邊曝光裝置100的構成〉
以下,參照附圖對有關本發明的周邊曝光裝置1 0 0的 實施例進行說明。圖1A及圖1B表示本發明的周邊曝光裝 置1〇〇的整體形狀。圖1A是周邊曝光裝置1〇〇的俯視圖; 圖1B是其側視圖。 周邊曝光装置100主要由框體11及門型托架21構 成°框體11的上面設置有旋轉台14及曝光台15,在曝光 台1 5上承載並吸附固定基板sw。門型托架21上設置有照 射紫外光的曝光單元31,在本實施例中設置有3個第1曝 光單元31a、第2曝光單元31b及第3曝光單元31c。另外, 在周邊曝光裝置1〇〇上設置用於控制裝置的主控制部9〇, 根據來自各部分的資訊來控制各個裝置,從而進行正確的 周邊曝光處理。以下,進行詳細說明。 本實施例中使用的基板sw的尺寸為例 216〇隨2400随的矩形,厚度為〇·7μ。將該基板別的 1A左側的γ軸方向(第] 弟1方向)的一邊規定為第丨基準 SN! ’將圖1A下側的χ軸方向(第2方向)垂直於第^ 準邊SN1的一邊規定為第2 、 及笛9 Α淮“ $第2基準邊SN2。第!基準邊Sj 及第2基準邊SN2在破璃的制、止、風 十ί一 磲的製&過程中作為基準而製作 在進行液晶曝光時從來ί 而“ 回路圖案之後分離到多個液 面板為止制作基準,且精密地形成。. £
2244-10206-PF 9 201013323 設置在框體11上面的旋轉台14可以沿0方向旋轉基 板SW,且可以進行基板sw朝向Θ方向旋轉的微調及基板 SW的90度旋轉。在此,本實施例中由於基板Μ是沿著規 定的通道進人到周邊曝光裝£ 1GG内,因此沒有搭載使曝 先台15向Z方向移動的台座,但也可以在框體u或者旋 轉台14的上面設置修正基板別的z方向的位置的移動台 座。 φ 在旋轉台14的上面設置有承載基板SW的曝光台15。 在該曝光台15的上面豎立設置有多個支推基板的圓柱 (未圖示)。基板SW承載在該多個圓柱的頂上,且利用吸 •附元件(未圖示)吸附固定。由此,可以防止基板sw的塗 布有感光材料的-面與感光材料之外的物質接觸。另外, _可以防止基板SW的搬運元件(未圖示)的把手與曝光台座 1 5的幹擾。 搭載3個曝光單元31的門型托架21以跨立基板別的 ❹形狀被設置’且門型托架21可以在基板sw的上面沿U 方向(第-方向)移動。門型托架21和框體U由托架移 動機構22被連接’門魏架21可以通過運行托架移動機 構22的驅動裝置而在基板抑上面沿第i方向移動。在此, 驅動裝置可使用由例如線性移動裝置或滾珠螺杆、滑道、 螺杆驅動用電機等構成的移動裝置,只要是可以正確地控 制位置及移動速度的裝置即可。 .另外’在門型托架21的中央前面的3處設置有在叉軸 方向(第2方向)並列的滑動機構犯。在上述設置於3處
2244-102D6-PF 10 201013323 二滑動機構32a、,2滑動機構32b及第3滑動機構 C刀別連接第1曝光單元3la、第2曝光單元训及 3曝光單元31c。在滑動裝置 上叹置有未圖不的驅動裝 置,通過運行驅動裝置可以使各個曝光單元3ι移動至第2 方向的規定位置上。在此,驅動梦 動衷置與托条移動機構22相 问,只要是可以正確地控制位置 件都可。 置的裝置,採取任何移動元 在本實施例中,門型托架21上搭載了 3個曝光單元 這種配置在基…—面形成2列圖案的情況時有 效。即,適合於存在3列周邊曝光區域的製造線。因此, 在基板別的一面形成3列以上圖案的情況存在以下方法: 增加移動門型托架21的通過次數的 方法’或者增加搭載在 托架21上的曝光單元31的數 1扪数重的方法。通過使用這 些方法周邊曝光裝置1〇〇可以適合 曝光。 、口於各種圖案尺寸的周邊 參 雖然3個曝光單元31為相同的構成,但在第!曝光單 -3^上設置有位置檢測器5卜由於其他的第2曝光單元 31b及第3曝光單元仏上無需設置位置檢測器5卜以下 作為代表對搭載了位置檢測器51的第丨曝光單元…的構 成進行說明。 圖2A、圖2β及圖沈是表示第1曝光單元3U的構成 的圖,圖^是表示從-γ方向所觀察的第1曝光單元31a 的構成的側視圖。圖2B是袅亍你士 & 疋表不從+X方向所觀察的第1曝 …3“的構成的正視圖。圖%是表示從照射口側
2244-10206-PF 11 201013323 軸方向)所觀察的第1曝光單元31a的構成的仰視圖。 第1曝光單元31a由橢圓反射鏡35、水銀燈36、第j 投影透鏡37、第2投影透鏡38、快門機構39、遮光機構 40以及位置檢測器51構成。作為第i曝光單元31&的光 學系的橢圓反射鏡35、水銀燈36、第i投影透鏡37以及 第2投影透鏡38收放在箱型的盒子中,在圖2A及圖⑼中 以虛線表示。 φ 水銀燈36的光線在橢圓反射鏡35上反射,朝照射口 侧(-z轴方向)改變方向,通過第i投影透鏡37而矯正 為平行光,其次通過第2投影透鏡38而限制成具體的周邊 曝光光EL的形狀。在第】投影透鏡37和第2投影透鏡” 之間安裝有遮斷光線的快門機構39。快門機構39由遮斷 光線的感光板39P以及開閉感光板39p的電機等的驅動元 件39m構成。快門機構39通過在期望的時機開放快門來控 制光線照射的時機。 ❹ 通過第1曝光單元31a的第2投影透鏡38的光線通過 照射口 33,向盒子外射出。通過照射口 33的光線由遮光 機構40根據需要進行調整。遮光機構4〇由遮光板4〇p和 驅動電機40m構成,可以通過運行驅動電機4〇m來進行遮 光板40p的插入及退避。 例如,遮光機構4 0可以根據需要遮蔽從照射口 3 3射 出的平行光線來對應於要求從基板的邊緣到圖案區域小於 7〇咖的基板》W,這裏平行光線由第2投影透鏡38形成最 大尺寸,具體為70mmx70nm。另外,同樣還可以對應於不 2244-10206-PF 12 201013323 僅是從基板的邊緣而是將圖案和圖案的距離設計成7〇jnm 以下的基板sw。 在第1曝光單元31a的下方的照射口 33的近旁設置有 一對第1位置檢測器51 a及第2位置檢測器51 b。由於第1 位置檢測器51a及第2位置檢測器51b為相同的結構,沒 有特別指定的情況以位置檢測器51進行說明。
第1位置檢測器51 a和第2位置檢測器51 b將照射口 33夾在中間,且在γ軸方向相隔規定的間隔kd而設置。 例如,本實施例的周邊曝光裝置1〇〇的照射區域的寬度為 70mm ’第1位置檢測器51a和第2位置檢測器分別設 置在距該照射區域140mm的規定間隔的位置上。 圖3是表示位置檢測器51的側視圖的圖,圖示了其内 部構成。位置檢測3 51由紅外線光源52、控制光學系53 及感測器54構成,在U字型的框架的前端上對面地設置紅 外線光源52和感測器54。位置檢測器51可以利用控制光 學系53使從紅外線光源52射出的紅外線成為平行的紅外 線光線IL,並通過基板SW的邊緣遮蔽紅外線光線il來利 用感測器54測量基板SW的邊緣位置。在此,感測器“只 要能夠將其被遮蔽的敎值快速且準確地傳達到主控制部 90即可,例如,可以使用線性感測器及CCD感測器等。 周邊曝光裝f1〇〇的主控制部9〇通過帛i位置檢測器 ^和第2位置檢測器51b檢測出基板別的邊緣位置來測 :二板sw的傾斜度,從而旋轉台座14向補正傾斜度的方 轉。以下,對主控制部的基板位置控制系的控制方 2244-l〇2〇6_pp 13 201013323 法進行說明。 〈基板位置控制系的控制方法〉 圖4疋主控制部9 〇的基板位置控制系的控制方塊圖。 主控制部90由演算部91、驅動控制部92及單元控制部93 構成。 演算部91根據第1位置檢測器51a和第2位置檢測器 51b輸出的位置資訊而演算基板的傾斜度W0。其演算結果 ❹傳至驅動控制部92。驅動控制部92驅動旋轉台14,使基 板SW的傾斜度W6»成為。 圖5是表示演算部91處理的基板傾斜度的算出方 法的圖。基板SW沿+Y方向移動的情況,首先檢測到基板 sw的第1基準邊SN1的第i位置檢測器51&獲得距基準線 (Y軸)的間隔距離a。其次,第2位置檢測器51b獲得第 1基準邊SN1和基準線(γ轴)的間隔距離b。第i位置檢 測器51a和第2位置檢測器51b的間隔設計成間隔距離c。 ©决算部91可以由以上的值㈣數學式丨來算出基板別的 傾斜度㈣。由此,驅動控制部92通過使旋轉台14向基 板sw的傾斜度we的反方向旋轉,使第〗基準邊SN1與基 準線(Y軸)平行,可以不與圖案重疊地安全地進行基板 SW的周邊曝光。在這裏為了易於說明,沿+γ方向移動了基 板SW ’但也可以沿-Υ方向移動門型托架21。
We=tan1{^^\ ^ C (1) 在此,也可以僅由第1位置檢測器51a或第2位置檢
2244^10206-PF 14 201013323 測器5 1 b复4r A5 土、丨+ 择得距某Γ 0。具體地’第1位置檢測器… …移動線(YW的間隔距離”其次’通過使門型托 L距離隔距離c而使第1位置檢測器51a也僅移動 轴)的Hi因此,第1位置檢測器…獲得距基準線Π :的。由此,可以利用數學式1來算出基板 SW的傾斜度w 0。 參 再i欠回到圖4,在第i基準邊SN1與基準線(Υ轴)平 ^單讀制部93根據距基準線的間隔距離移動第W 单凡la、第2曝光單元31b及第3曝光軍元3ic。此時, =相對於最初檢測第i基準邊SN1 (圖5)的位置檢測器 51而調整曝光單元3…置,從而進行與基準線平行的 =方型托架21Γ:Υ方向(在圖5中是基板 °移動的If況,單兀控制部93根據第】位置 檢測器…的檢測結果調整曝光單元31的配置,而門型托 架心+Y方向(在圖5中是基板別沿―γ方向)移動的情 :’早兀控制部93根據第2位置檢測器训的檢測結果調 曝先單几31的配置。這樣,單元控制部93切換位置檢 測器5!而調整3處的曝光單元31的配置,使曝光單元μ 成為最優的配置。 〈主控制部9 0的流程圖〉
圖6是用於進行周邊曝光處理的主控制部90的流程 圖。流程圖表示插入基板卯後的步驟,從各台座、控制元 件在原點待機的狀態開始進行說明。光源的點亮及總滅的 控制不在此流程圖表示m㈣圖示圖6的流輕圖 2244-10206-PF 15 201013323 •的步驟,表示周邊曝光裝置100的運行狀況。 在步驟SU中,基板sw被搬運進來,且由主控制部 90控制使基板SW被吸附固定在曝光台15上。通常,基板 SW的搬運由機器人或傳送帶等從插入口 16 (參照圖1A) 插入,承載在賢立有圓柱的曝光台15上。已搬運進來的基 sw在圓柱的頂端被真空吸附或靜電吸附而被吸附固 定。基板SW的第1基準邊SN1位於第】曝光單元3ia側, Ο第2基準邊別2位於插入口 16的相反面。參照圖7A(a)。 在步驟S12 t,主控制部90開始將門型托架21向4 向移動J:至第1位置檢測器5 J a和第2位置檢測器训 檢測完基板sw的第i基準邊SN1為止。參照圖7川)。 、在步驟S13中’主控制部9〇的演算部91由第i位置 檢測器51a和第2位置檢測器51b的感測器54的值算出基 板SW的傾斜度W 0。 在步驟S14中,主控制部90的驅動控制部根據基 板SW的傾斜度的算出結果,通過使旋轉台14沿著傾 斜度Μ 0反方向旋轉來修正旋轉方向的偏差。主控 90在修正旋轉方向的偏差的 炷 偈差的同時進仃控制,使得如圖7Α (〇的箭頭所示地再次使門型托架21向插入〇 夫昭 圖1Α)侧移動。在此,在該時刻基板別的第i基準邊= 與基準線平行,第2基準邊SN2垂直於基準線。在此 使在該門型托架21向插人σ 16移動期間,也可
位置檢測器51a和第2位置檢測器51b獲取傾斜度J 1 訊而進行反饋處理。參照圖7A (c)。 資 2244-10206-PF 16 201013323 . 在步驟S15中,主控制部9 0使第1位置檢測器5丨a獲 取基板sw的端面的位置資訊,另外使門型托架21移動至 田第1位置檢測器51 a距基板Sf的端面相隔規定距離SD 後停止。在本實施例中規定距離SD為140mm,這是門型托 呆21加速而達到一定速度所必要的距離。參照圖7 a ( d )。 在步驟S16中,主控制部90準備第!基準邊SN1的周 邊曝光。由帛1基準邊SN1的位置資訊將設置於3處的曝 ❹光單元31移動至規定的位置以及對照射區域進行調整。在 也可以採取曝光單元31的位置及照射區域的調整在步 驟S15階段進行,在步驟S16中進行微調或反饋處理的方 法。參照圖7A ( e)。 在步驟S17中,主控制部90開始將門型托架21向、 方向移動,當由第1位置檢測器51 a檢測出基板SW的端 面,則開始對第1基準邊SN1進行周邊曝光。預先將規定 距離SD設定為14〇mm,因此在第j位置檢測器51&到達基 •板sw的端面的階段,門型托架21已到達曝光所必要的規 定速度。主控制部90起動配置在3處的曝光單元31的快 門機構39的驅動元件39ffl,並開放感光板39p而開始進行 將第1基準邊SN1作為基準的周邊曝光。在曝光處理中, 主控制部90可以通過每隔規定間隔或一直由第1位置檢測 盗51a對第1基準邊SN1進行檢測,且對曝光單元31位置 和照射區域進行調整而形成平行於第〗基準邊SN1的3個 曝光區域EA。參照圖7A ( f )。 另外’主控制部90根據第1基準邊SN1的位置資訊,
2244-10206-PF 17 201013323 調整遮光機構40照射周邊曝光光EL,使第1曝光單元31a • 的曝光區域從第1基準邊SN1的位置向外偏離約〇 5min(沒 有基板的空間)。圖8是表示利用遮光機構4〇調整了周邊 曝光光EL的狀態的圖。主控制部90利用遮光機構4〇的遮 光板40p對從照射口 33射出的控制成平行光的周邊曝光光 EL進行控制,使周邊曝光光EL到達從第i基準邊的 位置資訊向外〇· 5min的位置。即,由於周邊曝光光el照射 φ 基板SW的第1基準邊SN1的上面u及端面s,使得附著在 端面s上的不需要的光阻劑曝光,在此,由於遮光機構4〇 能夠精密地控制作為平行光的周邊曝光光EL的照射範 圍’因此可以將圖案界限控制在以下而進行曝光。 再次回到圖6,在步驟S18中,主控制部9〇在第2位 置檢測器51b確認第2基準邊SN2的時刻停止周邊曝光。 主控制部90起動配置在3處的曝光單元31的快門機構⑽ 的驅動元件39m,且鎖閉感光板39p而停止基板別的曝光。 • 3外’主控制部90從第2位置檢測器51b檢測的第2基準 邊SN2的終端開始逐漸使門型托架21的移動速度變慢。然 後門型托架21停止在距第2基準邊SN2規定距離SD的 位置上。參照圖7B ( g)。
在步驟S19卜主控制部90使基板別沿順時針方向 旋轉90度,根據第2基準邊SN2的位置資訊向規定的位置 移動配置在3處的曝光單元31並調整照射區域。由於第2 基準邊SN2的位置資訊是在步驟S18中獲得的因此可以 得知從旋轉台u的旋轉中心沿順時針方向旋轉9()度的位 2244-10206-PF 1R 201013323 置。參照圖7B ( h)。 在步驟S20中主控制部90開始第2基準邊SN2的周邊 曝光。由於第2位置檢測器51b到達第1基準邊SN1的階 段,門型托架21已達到曝光所需的規定速度,因此主控制 部90起動快門機構39的驅動元件39m,開放感光板39p 開始進行將第2基準邊SN2作為基準的曝光(成為第2基 準邊SN2的周邊曝光的起始點)。在曝光處理中,主控制 φ 部90每隔規定間隔或一直由第2位置檢測器51b對第2基 準邊SN2進行檢測。然後,主控制部9 〇通過調整曝光單元 31的位置和照射區域,能夠對基板進行平行於第2基 準邊SN2的周邊曝光。參照圖7B (丨)。 在此,在步驟S20中與步驟S17相同地,主控制部9〇 根據第2基準邊SN2的位置資訊,調整遮光機構4〇照射周 邊曝光光EL,使第1曝光單元31a的曝光區域從第2基準 邊SN2的位置向外偏離約〇. 5随在步驟S21中,主控制部 Φ 90在第1位置檢測器51a確認第i基準邊SN1的時刻停止 周邊曝光。主控制部9〇起動快門機構39的驅動元件39爪, 且鎖閉感光板39p而停止基板sw的曝光。另外,主控制部 9〇從第1位置檢測器51a檢測的第2基準邊SN2的終端開 始逐漸使門型托架21的移動速度變慢而停止在規定位置 上。參照圖7B ( j )。 以上利用周邊曝光裝置100的周邊曝光處理已結 束,.基板SW由機恶又—& 裔人或傳送帶取出並搬運到下一工序。此
時,也可以旋轉旋輕A ° 4 ’使基板SW回到與插入時相同
2244-10206-PF 19 201013323 的方向另外,也可以不旋轉旋轉台14而解除基板sw的 固疋’以與插入時正交的方向取出基板SW。此時,由於門 ^•托架21可月^會成為取出基板μ時的障礙,因此在旋轉 基板SW後或者取出之前使門型托架21從基板SW的取出通 道退避。 在此,已由周邊曝光裝置1〇〇進行周邊曝光處理的基 板SW可以在其後的顯像工序中,除去成為基板搬運工序的 障礙的光阻劑等的異物。 根據以上所述,由於周邊曝光裝置100將第i基準邊 SN1及第2基準邊SN2作為基準位置而對曝光單元31的位 置進行控制,因此可以與第1基準邊SN1及第2基準邊SN2 平行地進行曝光處理。另外,由於周邊曝光裝置利用 位置檢測器51對第1基準邊SN1僅測量一次即可進行基板 的對準,因此對準所需的時間短,可以縮短周邊曝光工序 的時間。 在此’本實施例所示的周邊曝光裝置100使承載基板 SW的曝光台沿61方向移動,使承載照射紫外線的曝光單 元31的門型托架21向γ方向(第i方向)移動,由此進 行周邊曝光處理。但是,由於這些移動只要是相對運行即 可,因此也可以使曝光台—併具有γ軸方向及0方向的移 動功能。另外,同樣地也可以使門型托架21 一併具有γ轴 方向及0方向的移動功能。 【圖式簡單說明】 ’
2244-10206-PF 20 201013323 圖iA是周邊曝光裝置 固1D 直J〇〇的俯視圖。 圖1β是圈1A的側视圖。 圖2Α是表示從_γ方 構成的側視圖。 觀察的第】曝光單元313的 圖2Β是表示從+χ方向 構成的正視圖。 所觀察的第1曝光單元…的 圖2C是表示從照射口側( ❹置〜 傾"Ζ軸方向)所觀察的第1 曝先早TO 31a的構成的仰視圖。 圖3是表示位置檢測器51的侧視圖的圖。 是主控制部90的基板位置控制系的控制方塊圖。 是表示演算部91處理的基板傾斜度的算出方 法的圖。 圖6是主控制部90的流程圖。 圖?A(a)〜(f)是圖示圖6的流程圖的步驟的圖。 ❹ 圖 圖 圖7B(gMj)是圖示圖6的流程圖的步驟的圖。 圖8是表示利用遮光機構40調整了周邊曝光光乩的 狀態的圖。 【主要元件符號說明】 11 一框體, 14— 旋轉台, 15— 曝光台, 1 6—插入口, • 21一門型托架,
2244-10206-PF 21 201013323 22—托架移動機構, 31— 曝光單元(31a—第1曝光單元、31b—第2曝光 ' 單元、31c—第3曝光單元), 32— 滑動機構(32a—第1滑動機構、32b—第2滑動 機構、32c—第3滑動機構), 33— 照射口, 35—橢圓反射鏡, 36一水銀燈, 參 37— 投影透鏡, 38— 投影透鏡, 39 —快門機構(39m —驅動元件、39p —感光板), 40 —遮光機構(40m —驅動電機、40p —遮光板), 51 —位置檢測器(51a—第1位置檢測器、51b—第2 位置檢測器), 52 —紅外線光源, φ 53—控制光學系, 5 4—感測器, 90—主控制部, 91 一演算部, 92— 驅動控制部, 93— 單元控制部, 100—周邊曝光裝置, E A—曝光區域, EL—周邊曝光光, 2244-10206-PF 22 201013323 IL一紅外線光線, KD—間隔' s—端面 , u—上面 、 SD—規定距離, SN1—第1基準邊, SN2—第2基準邊, SW—基板。
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Claims (1)

  1. 201013323 十、申請專利範圍: 1· 一種周輕光t置,利用紫外光對形成於回路圖案 區域的周圍的周邊區域進行曝光,該回路圖案區域形成在 矩形基板上,其特徵在於包含: 曝光台,保持上述矩形基板; 曝光單a认置在上述矩形基板面上方從照射口向 上述周邊區域照射紫外光; ㈣部,向第1方向相對驅動上述曝光台和上述曝光 — 單元; /傾斜度算出元件,配置在上述曝光單元上檢測上述矩 形基板的—邊的邊緣而算出基板自上述第1方向的傾斜 • 度;以及 控制部,基於上述傾斜度算出元件的傾斜度算出結 果,將與上述矩形基板正交的垂線方向為基準旋轉上述基 板或上述曝光單元後,由上述傾斜度算出元件檢測出上述 • 邊緣而特定上述周邊區域,同_利用上述驅動部相對驅動 上述曝光台和上述曝光單元,並且使紫外光與上述邊緣平 行地從上述曝光單元照射。 2. 如申明專利範圍第1項所述的周邊曝光裝置,其中, 上述曝光單元安裝在托架上,該托架在上述曝光台的上方 沿著與上述第1方向交叉的第2方向延伸, 上述曝光單元可以在上述托架上沿上述第2方向移動。 3. 如申請專利範圍第1或2項所述的周邊曝光裴置, 其中,上述傾斜度算出元件具有在上述第1方向互相隔開 2244-10206-PF 24 201013323 的第1位置檢測器及第2位置檢測器β 4.如申請專利範圍第3項所述的周邊曝光裝置,其中, 上述曝光單元包含配置在上述第2方向的第1曝光單元和 第2曝光單元,且上述第1曝光單元上安裝有上述第1位 置檢測器及上述第2位置檢測器,上述第1曝光單元和上 述第2曝光單元基於上述第〗位置檢測器的檢測結果而照 射紫外光。 5. —種周邊曝光方法,具有照射紫外光的曝光單元, 且利用紫外光對形成於回路圖案區域的周圍的周邊區域進 行曝光,該回路圖案區域形成在矩形基板上,其特徵在於 具有: 、 將上述矩形基板保持在曝光臺上的保持工序; 利用設置在上述曝光單元上的位置檢測器檢測上述矩 形基板的-邊的邊緣而算出基板與第】方向的傾斜度的傾 斜度算出工序; ❹ 基於上述傾斜度算出結果而旋轉上述基板或上述曝光 單元的旋轉工序; 向上述第1方向相對地驅動上述 曝先早70和上述曝光 台的驅動工序; 利用上述傾斜度算出元件檢測硌 饱^邊緣而特定上述周邊區 域’同時與上述邊緣平行地從上述 一 gg f 义曝先早疋照射紫外光的 照射工序。 6. 如申請專利範圍第5項所诚认m * 喟所气的周邊曝光方法,豆中 上述曝光單元包含第1曝光單元 '、 Z曝光單7L,且上述 2244-10206-PF 25 201013323 第1曝光單元及上述第2曝光單元安裝在托架上,該托架 . 在上述曝光台的上方沿著與上述第1方向交叉的第2方向 延伸, 在上述保持工序之後,上述第丨曝光單元及第2曝光 單元移動至上述矩形基板的周邊曝光區域上。 7. 如申請專利範圍第5或6項所述的周邊曝光方法, 其中,上述位置檢測器由在第1方向上互相隔開的第j位 ⑩ 置檢測器及第2位置檢測器構成,且根據上述第1位置檢 測器及第2位置檢測器檢測上述矩形基板的一邊的邊緣。 8. 如申請專利範圍第7項所述的周邊曝光方法,其 中’上述驅動工序由上述第1位置檢測器或上述第2位置 檢測器確認上述矩形基板的邊緣之後,相對驅動上述曝光 單元和上述曝光台。 9. 如申請專利範圍第5、6或8項項所述的周邊曝光方 法,其中,上述驅動工程向第1方向相對驅動上述曝光單 ® 元和上述曝光台之後’旋轉上述矩形基板或上述曝光單 元,再向上述第1方向驅動上述曝光單元和上述曝光台。 10. 如申請專利範圍第7項所述的周邊曝光方法,其 中,上述驅動工程向第1方向相對驅動上述曝光單元和上 述曝光台之後,旋轉上述矩形基板或上述曝光單元,再向 上述第1方向驅動上述曝光單元和上述曝光台。 2244-10206-PF 26
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