TW200823466A - Testing machine and method adapted for electronic elements - Google Patents

Description

200823466 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明尤指其提供—種糊檢概 作業的同時，進行待洌/完測電子 而可於執 自動为類裝置進行供、收料作辈 ，換作業，並配合 電子元件檢測機及其檢測方法1' 達到大幅提升檢測產能之 【先如技術】 由雪，今科技在不斷研發與創新下，以往許多之工作P —入 由電子70件所取代，由於電子元 =^之1作已元王 工程序，因此為了確保產品品質者匕中:J過多道的加 壞，進而檢測出不良品。牛於衣作過程中，是否遭受損 試板1〇上伟μ有數個I Ί 一個取置於測試板10上，該測 測試柄t 有測试座101以供承置電子元件11，另 輸至=機，==〇 2 (如金手指),以將測試訊號傳 件11後，====〇完成承置電子元 機13處，再以人卫作孝 於，車12上’並移載至檢測 機1 3内，Ji 的將各測試板1 0裝入檢測 之連接頭]3 ίίΐ1ί之連結件1〇 2插入於檢測機13 機1 3 2 if測试板1 0之測試訊號可傳輸至測試主 業的方ί將itrf測作業，於完成檢測作業後，以人工作 推移推測;13並置於推車12上，再 業；由於夂制 二類钱以進仃待測/完測電子元件之交換作 數量之測之裝卸料時間較為冗長，且必須等待相當 此測試完成裝卸料後，再—併移送至檢測機13，因 置板1 0裝卸料時係為待機狀態，而造成等待閒 程中並無檢測Ϊ業的時間亦_冗長，於檢測作業的過 “、、/ ’十ί某一測試板1 〇進行交換料，而必須於所有測試. 200823466 的需求 板10完成檢測作業後，才能一併作交換料作業，因此在各種限 制因素下’無法大幅提升檢測產能；再者，自動分類機雖可將電 子元件自動取放於測試板1 〇上，但在移載於檢測機時，卻仍需 仰賴人工作業的方式一一將各測試板1〇裝入檢測機13内，因 此仍無法完、全達到自動化作業的目的，而不足以應付目前高產能 一有鑑於此\本發明人遂以其多年從事相關行業的研發與製作 ，驗，針對目前所面臨之問題深入研究，經過長期努力之研究與 試t終究研創出一種可充分運用交換料之等待時間，而使檢^ ΐ有升測試的產能，並辆完全自動化健，以大幅改善習 式之缺弊，此即為本發明之設計宗旨。 【發明内容】 ，盆目的係提供—種電子元件檢測機及其檢測方法 署^ ‘私\ t類裝置之各裝卸區機台τ方位置對應裝設檢測農 執行檢測作業的狀態下，進行交換料 置之多層式層置架，即可於執行檢 2门1此，利用檢測裝 測;子元件之交換料作業；===等 避免檢测奘罟炷拖明》^ ^ .又間’有效 壯署试板之取放料後，可先行將該測試板移置於 =ί if，檢測作業，後續之測試板再依序= 姑檢·測作#之測試板並可在不影響其他測試板 ;免檢測灯賴财咖齡f， ，其=3類ί檢測機及其檢測方法 置’而以數個檢測裝置於巧檢測裝 提升檢測產能之目的。 才運仃檢測作業，達到大幅 本發明之另-目的係提供-_子元件檢職及其檢測方法 6 200823466 ’其係於自動分類裝置之各裝卸區機 置與檢測裝置間設有移載^ 測作業待測電子元件的檢 元件之分類料，_裝卸1，以騎完測電子 升檢測產能/、達到完全自動化的交換料作業，而大幅提 【實施方式】 實施明作更進-步之瞭解，茲舉-較佳 、4、5圖，本發明之檢測機係包括有自動分類 ^ 、杈測裝置4 〇及移載裝置5 0 ;該自動分類穿置？ Ω =於機台21前端分別設有承置待測電子元件之 轉運機12有兩組轉運機構2 7、2 8 ’該兩 輸送機構2 9進行電子=件-^送==電子元件之取放料作業== ϊίί if 2 向時，則可先利用該細_ 1將電^ t角二轉向’右電子兀件之角位相同於測試板6 〇之承置方 以轉Γ鱗31;測試板6 ◦係設有數個測試座 t i’另測試板6 Q—端設有連結件6 2 (如 將電子疋件之測試訊號傳輸至測試主機；本發明之自 動为類裝置2 0於進行供、收料作業時，係先 X構 2 8上轉運麟2 7、2 8再將待測電子元件移送至穿練 端’再_第二輸送機構3 〇將轉運 7 200823466 之待測電子元件移送至裝卸區2 6上之各測試板6 0， ，試板6 0的置料作業’此外，兩轉運機構2 7、2 8及第一: ^輪送機構2 9、3⑽設置，雜合檢測作業較佳化的時容 t卜;^可以兩轉運機構2 7、2 8及第-、二輸送機構2 9、女 接將ϊΐίϊ待f電子元件，#鮮亦可以第—輸送機構2 9直 裝卸區26之各測試板60上，成 叙八、6圖，本發明之檢測裝置40係對應設置於自 卸區2 6之機台21下方位置，各檢測裝置^ 試板60插置之層置架41 ’且層置架41内各 ;至、w二，接頭4 2 ’各連接頭4 2並連結於可將測試訊號傳 主機t傳輸器4 3，使得各測試板6 〇移載至層置架 6 連接頭4 2時，即可將各測試板 f置U圖，本發明之移載裝置5 0係設於自動分類 2 1後端’其係為可作第-、二、三方向移動之 =Γί:可利用其失持器5 1將装卸區2 6之測試板6 0下 、、=:tt 2 1下方之層置架4 1内，以使測試板6 0上之待 或：置架内41完成檢測之測試板 此外，特細電子元叙分類作業， 測試板進移動’以對其他裝卸區2 6或層置架41之 升檢測產到完全自動化的交換料作業，而大幅提 ^ 2 6 6 〇 ^,tTi# 1 ^2 ° …、移餅業财會影響先制試板6 Q制作業的進 8 200823466 行，因此測試裝置4 〇可避免待機閒置的時間，且先前測試板 6 0於完成檢測作業後，亦可在不影響後續測試板63檢測作業 的進行下，以移載裝置5 〇之夾持器5 i先行將測試板6 〇移出 層置架41，並移載至裝卸區2 β上，以供自動分類裝置2 〇將 測試板6 0上之完測電子元件分類取放於良品收料匣2 3或不良 品收料匣2 4内，進而本發明之檢測裝置4 〇即可於執行檢測^ ，的，日寺’進行另—測試板之交換料作業，以充分運用交換料之 2待時間；此外本發明係於自動分類裝置20之各裝卸區26機 台21下方位置對應裝設檢測裝置4 0，而以數個檢測裝置4 〇 於檢測機上同時進行檢測作業，達到大幅提升檢測產能之目的。 請參閱第8圖，本發明之檢測裝置4〇，其層置架41係 3可2:動關閉之門體44，而使較架41形成可封閉之 G之ίίί，41内裝設加熱114 5或連接可通人低溫冷卻 乳體=導官4 6，而於屬置架4 1内進行崩應的檢測作業。 且配僅可充分交換料之時間執行檢測作業， 專利相同之產品及刊物公開，從而允符發明 寻扪甲明要件，羑依法提出申請。 【圖式簡單說明】 第1圖 第2圖 第3圖 第4圖 第5圖 弟6圖 第7圖 第8圖 習式測試板之示意圖。 習式檢測作業之示意圖。 本發明之架構示意圖。 本發明測試板之示意圖。 本發明檢測裝置之示意圖。 巧廳於機台之示意 本發明檢測裝置之另一實施例圖。 圖 9 200823466 【主要元件符號說明】 * 習式部分： 10:測試板 101:測試座 1 1 :電子元件 1 2 :推車 13:檢測機 131:連接頭 本發明部分: 20:自動分類裝置 2 1 :機台 2 2 :供料匣 2 4 :收料匣 2 5 :空匣 φ 2 7 :轉運機構 2 8 :轉運機構 3 0 :第二輸送機構31 :轉位機構 40 :檢測裝置 41:層置架 42:連接頭 4 4 :門體 4 5 :加熱器 5 0 :移載裝置 51 :夾持器 6 0 :測試板 61:測試座 10 2 :連結件 1 3 2 ··測試主機 2 3 :收料匣 2 6 :裝卸區 2 9 :第一輸送機構 4 3 :傳輸器 46 :導管 6 2 :連結件 6 3 :測試板

Claims (1)

1. 200823466 •、申請專利範圍： •一種電子元件檢測機，係包括有·· 自動分類裝置：係於機台上設有供料g、收料E、輸送機構 及至少一可供測試板置放裝卸電子元件之裝 卸區； & 檢測裝置··係設置於自動分類裝置之機台下方位置，其具有 可供數片測試板插置之層置架，且層置架内各層 m ·位置設有連接頭，以供連結插置各測試板；曰 2 4 5 7 辛、破置·係設於自動分類裝置之機台後端，其具有可作多 f向移動之夾持器，而可移載測試板於自動分類 ^ 裝置之裝卸區與檢測裝置之層置架間。 ^申睛專利範圍第1項所述之電子元件檢測機，其中，該自 •分^貞^置之收料11係區分有良品收舰及不良品收料®。 • 專利範圍第1項所述之電子元件檢纖，卩包含於該 自動分類裝置上設有承置空盤之空匣。 • 專利範’1酬述之電子元件檢測機，更包含於該 類裝置之供、收·及襄卸區間設有轉運機構，以將 ί 之制電子元件移送至裝卸區之前端。 =、明專利fe圍第1項所述之電子元件檢測機，其中，該自 /刀類裝置之輸送機構係包括有第一輸送機構及第二輸送機 構，以交替進行電子元件之取放料作業。 ，申凊專利fe圍第1項所述之電子元件檢測機 ，更包含於該 •分裝Ϊ設有轉位機構，以將電子元件之角位轉向。 二清f利，圍第1項所述之電子元件檢測機，其中，該測 2，係汉有複數個測試座，以供承置電子元件，並於一端設 有連結件，以插置於檢測裝置層置架之連接頭。 34專利辄圍第7項所述之電子元件檢測機，其中，該測 成板一端之連結件係為金手指。 8 200823466 9 嫩電子元件檢’其中，該檢 業。 上具有馒數個檢測裝置，以同時進行檢測作 10·依申請專利範圍證 檢測裝置之層置加，所述之電子70件檢測機，其中，該 U :^5=連接_於可將測 移載I置之失持器係子70件檢測機’其中，該 手臂。 ’、，、'、可作弟一、二、三方向移動之機械 2 3 檢測裝置之層】檢測機’其中’該 層置架形成可封閉有可感應自動關閉之Η體，而使 4 行_的檢測作業 又有加熱益，而可於層置架内進 檢。件檢測機’其中，該 管，而可於次通入低温冷卻氣體之導 5 •-種，子元件檢測機之檢測方法，係包括有： • 縣置將翻彳電托件料錄於裝卸區之測 件之測子元 c.=主麟層f架内之測試^待測電子元件執行檢測 $申ίί利15項所述之電子耕檢_之檢測方 移送錄於i卸以輸送機構將待測電子元件 200823466 法，^ =第15項所述之電子元件檢測機之檢測方 1 8 ·依申以之層置架間。 法，：a：巾1 5項所述之電子70件檢測機之檢測方 i 9 餘置係可 法，▲包:j件檢測機之檢測方 試板移载至自動;類裝‘區丄置架内，將完測之測 Ϊ申ί=115項所述之電子元件檢測機之檢測方 電子元件i行置於裝卸區之測試板上，將完測之 13