TW200537469A - Method and device for track counting in optical recording media - Google Patents

Description

200537469 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本备明係關於光學儲存媒體存取裝 掃描器的掃描光絲計衣置之&制尤和光子 別。 尤束矛先予儲存媒體磁軌間相對運動方向之識 【先前技術】 DVWlC)M ¥_胃RQM舰或其未來後 古田1? /二予儲存媒體’或CD_R/RW、DVD+R/RW等所 二减加媒严其後代之*已職寵上，掃描光束點和 資料對運財向，可藉雜誤差峨之評估以及 加以檢測。為此目的，磁執較越訊號以 父越訊號，係由比較器形成。按照第6圖，由磁執 ^ ’虎ΤΕ與零比較，發生磁執零交越訊號Tzc。磁執誤 a ^號TE本身可以各種方式形成，諸如利用所謂推挽法、 微分推挽法或三光束法。磁執零交越訊號TZC顯示到達資料 載波的資訊磁軌中心（亦稱凹溝），或二磁執間區域中心（亦 稱凸部）時之變化或邊緣。 先前技術方法往往與凹部和凸部間有對比差之事實息息 相關。此外，許多原先已知的解決方案係基於事實上，不是 光學儲存媒體業已預錄，便是掃描系統以三個掃描光束作 業0 一種形成鏡像零交越訊號MZC之方法，可用事實上利 用攜帶資訊降低（亦稱凹部）調變資料訊號，在磁軌中心最 大，而資料訊號之較低波封，按照低反射因數·*，在此顯示低 值。另方面，於二磁軌間之中心，利用凹部調變小，而按照 較兩反射因數，較低波封在此有較高值。按照第6和π圖， 為檢測此事’由全部光檢波器訊號合計形成的DC耦合資料 訊號HF，利用峯值檢測形成較低波封HFE。波封訊號HFE 可直接或於通過低通濾波器之後，饋送至比較器2103 ,把該 200537469 訊號與臨限值vc加以比 =。=之訊號圖表示諸二生- MZC，以及狀態邏輯 TZC和 做為假設均勻跨越磁㈣時間函數 第18圖所示）， 儲存資訊之高頻以抑制 性在書口和，平均， s 號。 ，上限值加以比較，因而發生鏡像零交越訊 峨=動方向’於磁軌零交越 光學儲麵縣面光束絲點相對於 邏輯2102之狀態圖，藉^向^ ^不，18圖所示狀態 束的運動方向。從和^測定掃描光 假設初期狀態C3進行，接°著Tzc / ^Ζ<>1界定的任意 C卜或耵叫y之狀態 過渡第”8表r描先束相對=二向 之

亦可利用2 能變化例，即訊號TZC和MZC 向依賴方式，Ui:器調= 訊號峨起見，賴—定有資料 儲存媒體必鮮健、先^解姑案，即基於事實上光學 寫先學健存媒雜情未H或式的-寫或多 訊號，亦不反射凹部和凸域 200537469 =越訊號之方法，和基於此方法之方定 内均不能採用。 * ，了在未寫區域_定方向，擬議的方法基於使用 一柃描光束以上之掃描系統。 【發明内容】 一本發明根據之目的是，得以方向依賴性磁軌計數，使得 為此目的只f唯—掃描光束，另方面，掃描光束相 軌之魏方向，即使在未寫的光學齡媒體區域 ，照本發明測定擺頻訊號’記述磁軌誤差訊號利用磁軌 ，動，之的組份4錢是事實上該擺敏狀賴在磁執 =大’在二磁執間之區域内最小。因此在磁執誤差訊號 同!方’即有在掃描位置上林假設其最大值和最小值 存在（類似絲已知方法的规0訊號）。擺頻訊號相 夕、二f執誤差訊號之所得相移，即表示掃描光束相對於磁軌 動方向。為此目的，不是發生訊號，相當於鏡像零交越 =丄便是方向訊號，指示掃描光束相對於被其所掃描磁執 Μ #4·方向。本發明應用之先決條件是，光學儲存媒體的磁 執相對於其假想中心擺動。

按照本發明，為驅動光學記錄媒體用掃描單位内之磁執 置’由已經用第一截止頻率高通濾波過的磁執誤差訊 ^ 1封和上波封間之差異，決定擺頻訊號；執道零交越訊 ，疋由已經用第二截止解低賴波過的魏誤差訊號決 ，頻訊號和磁軌零交越訊號則聯合評估，·以確定在此等 之—的符號變化時，另—訊號究竟是正值或負值；而 號絲驅動循序邏輯（亦稱為「有限狀態機」或「有 义自動化」）’因為磁軌計數是由聯合評估結果來決定。 本^明驅動磁執計數裝置用的驅動訊號之測定裝置，包 括具有第-截止頻率之Sit濾波H，在其輸人展雜執誤差 200537469 ;號差^出。峨並聯饋送至上、下波封用之二波封整流 此.且有^成=立/玄上、下波封整流器的輸出訊號饋送至 茗二有苐—截頻率之低"1濾波器，在其輸入展示磁執項

心器===輸=由T 化時，連捧=ΐί ί：成亚在其輸入訊號之-的符號變 提供驅輸人訊號究竟是球或貞值，並由此 月配置和方法可在具有擺動磁軌的光學儲 越凹、、塞ΐίΓ移時，鑑識磁執跳移之瞬間方向，以及剛好交 種具有凹溝/凸部識別的方向 束時，可=磁磁軌跳移’以及在磁執跳移結 明書和申物值、擺動或_化，詳見說 聯合笏:=二:暫零擾交動= 从時間上整合加以聯合評估的=巧抑制。 制並影響其波封的咖，可對擺頻訊號抑 減計_點是增 巧-訊號（在掃描光束正好越過磁 變且^弟―訊號（在掃描光束正好越過相鄰磁Li面 計數==_時’ __取:== 若評估機構含乘積形成機構，其輪入訊號是由差值形成 200537469 ^口^通濾、波器機構之輪出訊號所 構2積f成機構之輸出訊號饋送至此；則其 efl5虎的短暫擾動受到抑制。 、、、疋驅動 波器機構含有相移機構；而評估機構含乘_ 優送於此），則其 形成機構的二輸錢之極性，即可測定乘積 @ 明開發中’設有資料訊號形成機構、ro檢波機 • 波器訊號之和值，形成‘號=檢 數ΐίίΐίϊί。此優點是同樣功能性單位可用於 電。心亲媒體之書寫和未書寫部份，降低硬體費用和耗 :心之號^，若上波封之波封整流機構失 頻率定含有_、波，讀抑制很低 值。 ㈣干触酿差訊助之DC偏設 【實施方式】 茲參見附圖所示本發明具體例，詳述如下。 高頻示f員訊號TW是藉評估磁軌誤差訊號TE之 ίϊ+侧訊號，彼此相減。圖示光檢波器奶有四 ^ΐ==Γ=1()5Β，^ 獅，另外得二 ，〜·、、差汛唬。/、有一光敏性面積的光檢波器（分 200537469 成左半和右半），即足夠獲得擺頻訊號Tw。在 積光檢波器1。5情況下，係藉添加相當 ;a和 105D，以及105B和1〇5C的訊號為之。 積105A和 軌★周fit輯f綱喊tw之絲醉，應有超過磁 30二iirf 譜社之D高位準值。擺頻宜位在 ί ’錄雜制之干擾_光譜可_適當濾'波 加以抑制。再者，擺動磁軌之調變至少數值 : 磁軌交越，則摄頻波幅以魏誤差“

DVD+R/RW ： 本發1最簡單例，如第i圖所示，分別評估磁軌誤差訊 ί頻組份和低頻訊號組份。磁軌誤差訊號的高頻二 η—、 °卩伤由磁執擺動所造成。在低頻訊號組份之下訊辦途 哿，’磁軌誤差訊號ΤΕ先通過低通遽波器102，隨即利用°比 ί器二進化，結果發生訊號TZC。為抑制擾動Dc偏設 值’宜在比較器1〇7上游進行ac麵合1〇6。 利用高通濾波器101，從磁執誤差訊號TE分離擺 頂。高通驗器輸出訊號之上、下波封 ^ ^ 器1〇3,刚測定，而在減法器、1〇8 _定的二波 值’展示擺頻訊號TW的瞬間波幅TWENV。 瞬間波幅TWENV在磁執中心為最大值，而在二磁執間 的區域内為最小值。利用比較器1〇9二進化，即得訊號 ENV^C，相對於磁執誤差訊號，與mzc訊號相較，具有相 位關係。D型正反器11〇可從訊號TZC和ENVZC發生方向 訊號>DIR，此方向訊號可藉增減計數器m用於方向依賴性 磁執計數。另外，訊號TZC和ENVZC可按照第7圖之狀熊 圖，利用狀態邏輯112評估。 〜 ，8圖舉例表示第丨圖具體例之訊號圖。8A所示部份簡 略表示跨越光學儲存媒體掃描位置X的凹溝G和凸部L之配 200537469 描值=從左到右或從右到左所 右運動，而”_χ”指定=箭頭 而言，、只特”…，二於f左5朝右運動時的訊號側描 號側= 所，翻。對具有訊

*T^ ^G J JL 〇 n A 、收对，顯不在凹溝G各 ^訊號 Tzc 和 ENVZC。 “ 時，移動_90。，或在朝左運動右運動 圖且H *表不另類具體例’使用增減計數器2G4，與第1 在，計數之際，具有加倍解像度。各 ΐΪΐΐίί,塊，與第1圖相當。擺頻訊號TWENV的

舰號T7P，號觀*二輸入接至磁執零交 ί ϋΐϊ ° f過的波幅值’利用抽樣和保有（_)方 :=ίΪ、产號TZC的正和負邊緣加以控制。為此目的 赠tzc有姐，㈣生脈波。 s&=方塊202的輸出訊號ADIR利用比較器2〇3二進化，表

2(H第/^5與第2圖關聯之訊號圖，顯示同步整流器 =、邊緣檢波器施和S&H方塊202之功能。以9A至9E i ^ 1相當於第8圖内8A至犯指定之訊號。卯指同步 τ^；ν:的輸出訊號SRENV。若TZC「高」，輸入訊號 TWENV柯’若TZC「低」’在各情況下均反^由 200537469 不r指定之s&h控制脈波咖， t束從左向右運動，按M 9G指定的訊號側 ^則在各情況下，於訊號SRENV向上跳移之前，發生抽

φ 9F指定之訊號SRENV各情況下均在箭頭識別之 二，並保有直到TZC之次一邊緣。S&H方塊ADIR相 對，之輸出訊號由91指定，假設負值-V，對於從左向右運動 而石，相當於「低」。由9F所指定訊號側描的頂部箭頭，相 對應指出從右往左相對運動時S&H方塊2〇2的抽樣位置。因 此，「f 9J指定的S&H方塊202之輸出訊號ADIR，呈現相當 於「高」的正值+Vc+V和-V值分別視訊號TWENV的波 幅，因而視擺頻訊號TW的二波封間之差異而定。訊號DIR 可利用比較器203由訊號ADIR獲得。磁軌計數器2〇4係按 照DIR特定的方向，增減訊號pLSTZC之各脈波。 第3圖表示二變化具體例3A和3B，具有改進配置，以 评估擺頻訊號之波幅變化，供形成方向訊號DIR。尤其在 DVD+R/RW媒體情況下，擺頻訊號的波幅較小，而凹溝和 凸部的波幅間之差異同樣很小。與第2圖比較時，同步整流 器301在其下游連接又一 S&H方塊302，還有減法器3〇9， 決定同步整流訊號TWENV在PLSTZC二脈波間之波封差 異0 第3B圖表示的變化例中，比較器306直接接到減法器 309下游，該比較器的輸出訊號係利用D型正反器307抽 樣。D型正反器307即形成方向訊號DIR。 第10圖表示與第3A圖關聯之訊號圖。由圖可見，10D 所指定訊號TWENV之可能偏設值，或10C所指定擺頻訊號 TW的波封變化，不會影響方向識別。此事之達成是，第一 S&H方塊302在TZC訊號之各邊，採取10F所指定同步整 流訊5虎SRENV抽樣’然則，於間距内形成瞬間值和抽樣間 12 200537469 之差異，直至TZC訊號之次一邊緣，造成wo和i〇h為二 運動方向指定的訊號側描内所示訊號S/H1。顯然在抽樣時 刻，減法裔輸出處差異為零，而按照10G，在朝右運動日十: 形成的電壓形悲10H朝負值變化，朝左運動時，呈現正值。 在tzc訊號的次一邊緣發生時，以分別由1〇1和1〇J指定 抽樣脈波PLSTZC所控制之方式，利用第二S&H方塊删 抽樣此等電壓形態之最後值，並保持到次一抽樣脈波。 抽樣訊號ADIR以10K或i〇L指定方式表示，視運動方 向而定。方向訊號DIR可利用比較器，由電壓之極性（+v 或-v)，以簡單方式測定。二訊號DIR和PLSTZC可用 制增減計數器308，如第3A圖所示。 卫 第10圖之11A至11N部份表示與第3B圖關聯之電壓形 態；在此情況下，11A至11J相當於ι〇Α至1〇J。分別由UG 和11H指定之電壓形態，呈現在比較器306的輸入·。由於圖 示具體例中之電壓形態具有正、負值，視發生UI和UJ所指 脈波PLSTZC時，掃描光束的運動方向而定，朝右運動 丄在此等位置的比較器306輸出即「低」，而朝左運動時為 「，」。比較器306的二進輸出訊號利用D型正反器3〇7之 接叉點，在11M和11N指定的訊號形態内以直立箭頭表示， D型正反器307之輸出則得以陳述掃描光束之運動方向，並 可做為方向訊號DIR饋送至增減計數器308。 第4A和4B圖表示本發明具體例之又二變化例。此處新 力:引進90。相移器401和積分器402。使用積分器4〇2的優點 疋θ重疊於擺頻遽TW上的瞬間干擾，-及對盆波封 TWENV的影像’可利用在磁執誤差訊號半週期的積合加以 =均。二新方塊401，402的功能可參見第11圖所示訊號形態 y月如下。相移器401把磁執誤差訊號TE變換成延遲g 訊號TE卜用來形成與波封差值TWENV之乘積。 第4B圖表示具體例之變化例，類似第3B圖，比較器 13 200537469 4〇3 C正反-器撕接在積分器術下游。 12F指定的圖Λ示與第4八圖關聯之電麗形態。分別由12E和 #於磁執誤差訊號TE 12B相移9〇。。由 言相圖4巧到左閱讀，在此情況下， 90。。波ί 當於訊號形態TE1 12F朝左移動 τεμενΪ，、Λ?ρ NV和相移磁軌誤差訊號之乘積 和12G對：運财__所示。在 點，可心重置；^^積分器4〇2具有重置輸入的特殊特

的脈波零值。重置功能利用邊緣檢波器406 贫ifίίί，其脈波在相移磁執誤差訊號TE1的訊 =2 ίί Γ STZC以⑵和12K指定。所得積分器 402的輸出峨膽，顯* 12Η或⑵指定之行為 。以重置脈波的各下降邊緣，把積分器4G2重置， 並開始新的積合週期。積合的形態係由12F和12 T^NV之符號和面積積分值決定。在積分器‘重 S&H 407 ° 的上升邊緣毛生抽樣。抽樣值如UL和 。抽樣位置以直立箭頭表示。利用比較器彻評估 抽樣§fl號之極性，產生方向訊號DIR。 經、第Γ圖之1M至130部份，表示第4B圖所示變化例之 ^形悲；在此情況下，13A至13K相當於12A至12K。比 較器403之輸出訊號是在脈波訊號pLs丁zc的上升邊緣，利

用D型正反器404抽樣，可用做增減計數器4〇9的方向訊號 DIR。 v JU 第5A和5B圖表示又一具體例。與第4A和犯 塊410相對地，於此例之比較器5〇1 (把相移磁 二進化），配置在乘法器502輸入的上游。g此，如 和第3B圖所示（後者有同步整流器的功用）實際上可以比 第4圖所示類比乘法器405更簡單方式實施。 $ 200537469 第12圖表示關於第5A圖在其14A至14P指定部份之電 壓形悲’以及關於第5B圖在其15A至15R指定部份之電壓 形悲。所用訊號名稱與上述圖内相當。圖上14D部份所示 AC柄合差異訊號TWENV，若比較器501於14F和14H部 份分別所示輸出訊號TZC1為「高」時，經由同步整流器5〇2 切換’若TZC1為「低」時，則加以反相。 第14圖表示又一特優具體例，兼備上述具體例之優良性 能。儘管在擺頻訊號TW内可能發生干擾、偏設值或波幅變 異，仍可識別運動方向。達成此舉是使用二個S&H方塊 1701，1702以及可重置之積分器1703。訊號TWENV利用同 步整流器502變換成訊號SRENV。同步整流器502利用移動 90°的磁軌交越訊號TZC1控制。同步整流器5〇2的輸出訊號 SRENV利用第一 S&H方塊17〇1抽樣，後者利用抽樣脈波 PLSTZC力口以控帝J 〇 訊號SRENV的瞬間值和在訊號PLSTZC的二邊緣之間 距當中保有樣本，利用減法器17〇4彼此相減，得訊號 S/H1。接到減法器下游的積分器17〇3，在此情況下把 PLSTZC巧二脈波間距抽樣用訊號加以積分。儘管擺頻訊號 内可能展示干擾，但積分最後值可藉其極性明確指示相對運 動方向。積分最後值利用以PLSTZC脈波控制的第二S&H 方塊1702加以抽樣。比較器1705識別抽樣訊號的極性，形 成汛號DIR，用來控制增減計數器409，以供磁軌計數。前 述具體例所示D型正反器之變化例，在此亦屬可行，惟圖上 未示。 … 第13圖表示與第14關聯之訊號圖。16C部份還是表示 擺頻訊號TW，在此情況下，兼具有Dc偏設值，以及 的波幅變異。所得在16D部份所示波封差異TWENV，即 示此情況。161和16J部份表示訊號srenv在二運動方 情況，而16F和16H部份表示分別關聯的磁軌交越訊號 15 200537469 TZC1移動90。圖上16M和16N部份表示控制第—s& 塊之抽樣脈波PLSTZC，而16K和亂部份表示訊號議方 =16Κ，16L部份可見，在抽樣時刻，減法 零，而隨即形成的電壓形態，在· 16Κ戶斤示朝二； 顯不負半週期’而16L呈現的朝左運動情況 】 t週期。積分器Π03把16K * 16L部份的陰影面“ 分，而160和16P部份表示在積分器17〇3輸之、 === 絲示利用 第16圖表示又一具體例之方塊圖。干擾、Dc偏設值 波幅變異該重疊的賴訊號Tw之波異twenv% 用第- S&H方塊1901抽樣’抽樣時機利用訊號pLSTz 定’也是利帛比較器1902J903相移90。的磁軌誤差訊號TE 衍生:訊號TWENV的瞬間值，以及訊號pLSTZC的 間距當中保有樣本’利用減法器19()4彼此相減。由且 體例内不設同步整流器，在減法器簡輸出之半週期，可^ 正或負極性。然而’按助對運動，在各情況下的半週期從 0值開始，因為在抽樣時刻，抽樣和瞬間值一致。 器下”積分器，在各情況下，對PLSTZC二 = 間距，把TWENV的最後抽樣及其瞬間值間的差異加以^ 分。積分器1905有重置輸入，確保各積分從〇值開始。在各 情況下，第二S&H方塊1906於新積分開始之前，對積分的 最後值抽樣。第二S&H方塊1906所抽樣訊號即對發生二脈 波PLSTZC間之各間距，表示減法器19〇4輸出之訊號極性。 下游比較II 19G7把積分器訊號二進化，因而形成械於tzc 訊號相移+90°或-90。之訊號ENVZC。如前就已知技術所述， 訊號TZC和ENVZC特別有利於按照第7圖利用狀態邏 以評估。 第15圖表示第16圖具體例之上述訊號。部份表示 200537469 磁軌誤差訊號TE。181和18J部份表示減法器i9〇4二運動方 向的輸出處訊號S/H1，其訊號是在18D所示波封差值訊垆 TWENV歸㈣成差錢喊。抽 1903形成之訊號PLSTZC加以控制，在各情況下於訊號 TZC1邊緣有脈波延遲9〇。，PLSTZC亦控制積分器19〇5之 重置’其輸出訊號ΙΝΤ是在箭頭識另位置，以第二s&h方 塊1906抽樣，因而得18〇和18P部份所示訊號S/H2。丨⑽ 部伤内所示訊號ENVZC是利用比較器1907二進化所形成。 ENVZC相移+90°或-90。，視掃描光束相對於18R部份内所示 sfU虎TZC之相對運動而定，訊號Tzc是利用磁軌誤差訊號 TE ^一進化所形成。 第Π圖表示一種配置，前述方塊圖内所述方塊亦可藉此 用來在業已書寫的光學儲存媒體區域，由資料訊號HF形成 MZC訊號。為此目的，開關2〇〇1接在波封檢波器 =1，103，104的上游，並用來選擇磁轨誤差訊號TE或資料訊 號TF，以供咼通濾、波和隨後處理。選擇是利用hf檢波器 2002為之，控制開關2〇〇1之更換觸點。在資料訊號HF展示 情況下1於磁執計數。否則，選擇磁執由= 生擺頻δΚ就，以便在非預錄區上得以進行方向依賴性計數。 上波封檢波器103可在資料訊號P!F選擇之際，隨需%刀 掉。 為了也可以從資料訊號HF獲得MZC訊號，按照上述具 體例之檢測，可提供比第18圖所示先前技術更大的檢測可靠 性，或對干擾之不敏感性。 … 17 200537469 【圖式簡單說明】 第1圖為第一具體例之方塊圖； 第2圖為第二具體例之方塊圖； 第3A圖為第三具體例之方塊圖； 第3B圖為第三具體例之變化例方塊圖； 第4A圖為第四具體例之方塊圖； 第4B圖為第四具體例之變化例方塊圖； 第5A圖為第五具體例之方塊圖； 第5B圖為第五具體例之變化例方塊圖；

第6圖為先前技術鏡像零交越訊號發生方法之訊號圖； 第7圖為狀態圖； 第8圖為第1圖具體例之訊號圖； 第9圖為第2圖具體例之訊號圖； 第10圖為第3A和3B圖具體例之訊號圖； 第11圖為第4A和4B圖具體例之訊號圖； 第12圖為第5A和5B圖具體例之訊號圖； 第13圖為第六具體例之訊號圖； 第14圖為第13圖具體例之方塊圖； 第15圖為第七具體例之訊號圖； 第16圖為第15圖具體例之方塊圖； 第17圖為又一具體例之方塊圖； 第18圖為先前技術鏡像零交越訊號發生裝置之方塊圖。 200537469

【主要元件符號說明】 101 高通濾波器 102 低通濾波器 103,104 波封檢波器 105 光檢波器 105A〜105D 光敏性面積 106 AC麵合 107，109,203， 比較器 108,205,309， 減法器 306,403,408， 1704,1904 501，1705，1902, 110,307,404， D型正反器 1903,1909,2103 2104 111，204,308， 增減計數器 112,2102 狀態邏輯 409,2101 201,301,502 同步整流器 202,302,304， S&H方塊 206,406,1903 邊緣檢波器 407,1701，1702, 401 相移器 1901,1906 402,1703,1905 積分器 405,502 乘法器 2001 更換機構 2002 HF檢測機構2003 資料訊號形 A，B，C，D 訊號 成機構 ΤΕ,ΤΕΙ 磁轨誤差訊號TW 擺頻訊號 TZCJZC1 磁軌零交越 CLK 時計訊號 訊號 DIR 方向訊號 TWENV 訊號 ENVZC 訊號 MZC 鏡像零交越 HF DC耦合資料 訊號 訊號 HFE 波封訊號 VC 臨限值 MIR 鏡像訊號 ADIR，SRENV 輸出訊號 PLSTZC 脈波訊號 X 掃描位置 TEMENV 磁執誤差訊 INT 輸出訊號 號之乘積 G 凹溝 L 凸部 S/H1 訊"5虎 19

Claims (1)

1. 200537469 十、申請專利範圍： 1·種光學圮錄媒體用掃描單位内磁執計數裝置（ιη，η2, =3=彻，测）之鶴方法，其巾㈣係儲存在磁執内，’ Ϊ越Ϊ ί向之磁轨位置調變方式，視預定方式沿磁軌位置而 疋L Τ描單位把掃描光束聚焦在記錄媒體上，並利用相鄰配置 ^數气檢波器節⑽人觀㈣⑽犯）’評估由記錄媒體 f Δ 掃描光束，又從磁軌方向左側光檢波器節的訊號 ，）和磁轨方向右側光檢波器節的訊號（B，c)間之差 異，衍生磁軌誤差訊號（TE)，其特徵為，包含下列步驟：

   、一由第一截止頻率高通濾波過的磁執誤差訊號（te) 下波封和上波封間差值，測定擺頻訊號（TW); 一由第二截止頻率低通濾波過的磁轨誤差訊號（TE 測定磁轨零交越訊號（TZC); 、 在一訊號之符號改變時，聯合評估擺頻訊號（tw) t磁軌零交越訊號（TZC)，以確定另—訊號究為正值或負 一由聯合評估結果，測定驅動訊號（dirclkenvz TZC)，絲驅動循序邏輯（111，112)，供磁軌計數者! vzc，

   2. 如巾請專概圍第i項之方法’其中聯合評估包含抽樣 和，有訊號（SRENV，TEMENV)，由擺頻訊號（TW)和磁軌 ，父越訊號（TZC)的乘積形成（201，301，405,502)加以測定 者。 3. 如申請專利範圍第i或2項之方法，其中磁軌零交越訊 ^測定，包含相移（4〇1)，㈣合評估包含擺頻訊號 tw)和磁軌零交越訊號（TZC)乘 (402,1703)者。 買刀 4. 如申請專利範圍帛1項之方法，其中時計訊號（CLK) 和方向訊號（DIR)係做為驅動訊號測定者。 5·如申請專利範圍帛1項之方法，其中第—訊號（TZC) 20 200537469 (準確在掃描光束越過錄中心時改 其值）越過：相鄰魏間之界面時改變 2〇4；〇^^^ (nun, 係儲存在咖，橫π 置’二，把掃描光束聚、=^^ =====5// _，_，， 先Μ彳㈣先束，又從磁執方向左側

   ίτ和磁軌方向右側光檢波器節的訊號 』B，C)間之差異’何生磁執誤差訊號（ΤΕ)，其特徵為，包 、-⑥通濾波器機構（1G1)，有第一截止頻率，在其輸入 展7F磁軌誤差訊號（TE)，而其輸出訊號並職送至上波 封用之波封整流機構（103,104); 一差值形成機構（1〇8)，上、下波封整流機構（1〇3, 104)的輸出訊號饋送至此； —低通濾波機構（103)，有第二截止頻率，在其輸入展 示磁執誤差訊號（TE); 、、一評估機構，其輸入訊號係由差值形成機構（1〇8)和 低通濾波器機構（102)的輸出訊號形成，使評估可以連續進 行，在一輸入訊號的符號改變時，可確定另一輸入訊號究是正 值或負值，並提供驅動訊號（DIR，CLK，ENVZC，TZC)者。 7·如申請專利範圍第6項之裝置，其中評估機構包含乘積 形成機構（201，301，405,502)，差值形成機構（108)和低通濾 波器機構（102)的輸出訊號饋送至此；以及抽樣和保有機構 (202,302,304,407，1701，1702，1901，1906)，乘積形成機構（201， 301，405,502)之輸出訊號饋送至此者。 8.如申請專利範圍第6或7項之裝置，其中低通濾波器機 200537469 構（102)含有相移機構（4〇1)，而評估機構包 t 5 (1〇8) 輸λ出訊號即饋送至此，還有積分機構（4〇2, 構（2Gi，3Gi，4()5,5()2)之輸出訊號即饋送 舰瞬6狀裝置，其+料訊號形成 幹出㈣加以 測機構（麗），和利用hf檢測機構的 U〇〇?) 〔Hin，hf〜目ϋ (，，，）合計’形成資料訊號 盒寫&之可用冓⑽2)檢測是否展示相當於記錄媒體 dF)，而更換機構（_)於可用資 為資^訊號（ηρΠ，把純慮波器機構⑽）的輸入更換 整流9項之裝置，財上波·之波封 ===:用資料訊號⑽)展示時失活者。 圍第6-1G 1二項之—項方法或如巾請專利範 定，包含以低於第二^頻;:磁軌，越訊號⑽之測 (106)者。 員羊之第二截止頻率加以高通濾波 22